專利名稱：繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，尤其是與一種利用升壓手段對(duì)繪圖處理器的超頻工作性能進(jìn)行檢測與分級(jí)的方法有關(guān)。
背景技術(shù)：
由于繪圖處理器(Graphic Processing Unit ；GPU)的電路構(gòu)造相當(dāng)復(fù)雜，且在繪圖處理器的制造過程常會(huì)因?yàn)樵S多不可控制的因素，如溫度、灰塵以及壓力，而導(dǎo)致制造商無法確定繪圖處理器的最終工作頻率，僅能提供繪圖處理器所對(duì)應(yīng)的一超頻檢測頻段，因此，制造商必須另外依據(jù)繪圖處理器的性能進(jìn)行分類。習(xí)知技術(shù)中，對(duì)于繪圖處理器的超頻工作性能的分類，是藉由數(shù)小時(shí)長時(shí)間對(duì)繪圖處理器進(jìn)行超頻測試，即是，提供工作電壓至繪圖處理器，并依序?qū)L圖處理器所具備的超頻檢測頻段進(jìn)行測試。而超頻檢測頻段更具有多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率，因此必須一一于每一超頻檢測頻率花費(fèi)數(shù)小時(shí)進(jìn)行檢測。由此可見，當(dāng)繪圖處理器所具備的超頻檢測頻段越大，其進(jìn)行檢測所花費(fèi)的時(shí)間越多，進(jìn)而增加制造商生產(chǎn)成本。另外，有些繪圖處理器在數(shù)小時(shí)檢測的過程中，可能正常，但是若再進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)十小時(shí)的檢測，可能會(huì)發(fā)生異常。由此可見，習(xí)知技術(shù)中，利用長時(shí)間的檢測方式并無法提供一穩(wěn)定且客觀的檢測結(jié)果，進(jìn)而影響商譽(yù)。在此前提下，本案發(fā)明人深感實(shí)有必要開發(fā)出一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法藉以同時(shí)改善上述種種問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所欲解決的技術(shù)問題與目的有鑒于習(xí)知技術(shù)中，必須花費(fèi)許多時(shí)間對(duì)繪圖處理器進(jìn)行檢測，而增加生產(chǎn)成本， 另外，即便進(jìn)行完檢測后，仍無法提供一穩(wěn)定且客觀的檢測結(jié)果，而使得無法提供高質(zhì)量的繪圖處理器，而影響商譽(yù)。因此，本發(fā)明的主要目的在于利用一高于工作電壓的升壓電壓，使繪圖處理器在更為嚴(yán)苛的工作條件下超頻運(yùn)作，藉以激發(fā)繪圖處理器快速產(chǎn)生功率耗用值的異常變化， 進(jìn)而縮短對(duì)繪圖處理器進(jìn)行檢測的時(shí)間。本發(fā)明的另一目的在于利用一高于工作電壓的升壓電壓，使繪圖處理器在更為嚴(yán)苛的工作條件下超頻運(yùn)作，并藉由繪圖處理器的功率耗用值的異常變化程度，對(duì)繪圖處理器的超頻工作性能提供更為穩(wěn)定而客觀的檢測與分級(jí)結(jié)果，藉此，可有效解決上述的種種問題。本發(fā)明解決問題的技術(shù)手段本發(fā)明為解決習(xí)知技術(shù)的問題，所采用的技術(shù)手段是提供一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，是用以檢測一繪圖處理器的超頻工作性能，并加以分級(jí)，所述繪圖處理器是具有一超頻檢測頻段，所述超頻檢測頻段是包含多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率。
首先，將一工作電壓輸入至所述繪圖處理器，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值。再將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值儲(chǔ)存為一頻率-功率耗用值信息。接著，將所述工作電壓提升至一升壓電壓，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)升壓功率耗用值，再將多個(gè)升壓功率耗用值儲(chǔ)存為一頻率-升壓功率耗用值信息。接著，在多個(gè)超頻檢測頻率中選定任二相鄰的超頻檢測頻率，藉由所述頻率-功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值的差值間的比值，并藉由所述頻率-升壓功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的升壓功率耗用值的差值間的比值最后，比對(duì)上述所求得的二個(gè)比值，據(jù)以對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)。本發(fā)明對(duì)照先前技術(shù)的功效由于在本發(fā)明所揭露的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法中，是將一高于工作電壓的升壓電壓輸入至繪圖處理器；因此，可使繪圖處理器在更為嚴(yán)苛的工作條件下超頻運(yùn)作，藉以激發(fā)繪圖處理器快速產(chǎn)生功率耗用值的異常變化，進(jìn)而縮短對(duì)繪圖處理器進(jìn)行檢測的時(shí)間，并且縮短檢測成本。此外，由于在本發(fā)明中，特別在不同的超頻檢測頻率下，對(duì)不同電壓所罩成的功率耗用值變化進(jìn)行比對(duì)，故可依據(jù)二者間的比對(duì)結(jié)果，進(jìn)一步快速地對(duì)待檢測的繪圖處理器進(jìn)行分級(jí)。換言之，本發(fā)明更可依據(jù)超頻工作性能，快速地對(duì)繪圖處理器進(jìn)行分級(jí)，藉以減少對(duì)繪圖處理器進(jìn)行分級(jí)所耗費(fèi)的人力與物力成本，進(jìn)而達(dá)到超乎預(yù)期的功效。


圖1是為本發(fā)明第一實(shí)施例系統(tǒng)方塊圖；圖2是本發(fā)明第一實(shí)施例的頻率-功率耗用值坐標(biāo)圖；圖3是本發(fā)明第二實(shí)施例的頻率-功率耗用值坐標(biāo)圖；圖4是本發(fā)明第一實(shí)施例的流程圖；以及圖5是本發(fā)明第二實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式以下茲列舉兩個(gè)較佳實(shí)施例以說明本發(fā)明，而且相關(guān)的組合實(shí)施方式更是不勝枚舉，故在此不再一一贅述。然而熟習(xí)此項(xiàng)技藝人員皆知此僅為舉例，而并非用以限定發(fā)明本身。有關(guān)本發(fā)明的兩個(gè)較佳實(shí)施例的內(nèi)容詳述如下。本發(fā)明的繪圖處理器(Graphic Processing Unit ;GPU)超頻工作性能的檢分方法，是用以檢測一繪圖處理器的超頻工作性能，并加以分級(jí)；其中，繪圖處理器是具有一超頻檢測頻段，所述超頻檢測頻段是包含多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率。所述檢分方法包括了以下步驟(a)將一工作電壓輸入至所述繪圖處理器，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值；(b)將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值與所對(duì)應(yīng)的多個(gè)超頻檢測頻率儲(chǔ)存為一頻率-功率耗用值信息；(c)將所述工作電壓提升至一升壓電壓，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)升壓功率耗用值；(d)將多個(gè)升壓功率耗用值與所對(duì)應(yīng)的多個(gè)超頻檢測頻率儲(chǔ)存為一頻率-升壓功率耗用值信息；(e)在多個(gè)超頻檢測頻率中選定任二相鄰的超頻檢測頻率，藉由所述頻率-功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值的差值間的比值，并藉由所述頻率-升壓功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的升壓功率耗用值的差值間的比值；以及(f)比對(duì)步驟(e)所求得的二個(gè)比值，據(jù)以對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)?？梢郧宄?，本發(fā)明的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法可以使繪圖處理器在更為嚴(yán)苛的工作條件下超頻運(yùn)作，并且藉以對(duì)繪圖處理器所產(chǎn)生的功率耗用值的變化做分析并進(jìn)行分級(jí)。更進(jìn)一步，于下列實(shí)施例當(dāng)中，我們可以藉由將頻率-功率耗用值信息與頻率-升壓功率耗用值以坐標(biāo)方式紀(jì)錄，并將坐標(biāo)化為曲線的方式，以供使用者更清楚的觀察繪圖處理器的超頻工作性能。請(qǐng)參閱圖1，圖1是為本發(fā)明第一實(shí)施例系統(tǒng)方塊圖。本發(fā)明可用以檢測一繪圖處理器1的超頻工作性能，并加以分級(jí)。繪圖處理器1具有一超頻檢測頻段B(標(biāo)示于圖2)， 且超頻檢測頻段B可由一起始邊界頻率與一終止邊界頻率圍構(gòu)而成，且超頻檢測頻段B更可包含多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率F (標(biāo)示于圖幻，其中，多個(gè)超頻檢測頻率F是由起始邊界頻率依據(jù)一頻率遞增值I依序遞增至終止邊界頻率。于本發(fā)明第一實(shí)施例較佳者更可利用一檢測裝置2電性連接于繪圖處理器1，并對(duì)繪圖處理器1的超頻工作性能進(jìn)行檢測，并加以分級(jí)，檢測裝置2可包含一電壓調(diào)節(jié)模塊 21、一檢測頻率選擇模塊22、一功率耗用量測模塊23、一顯示模塊M、一比對(duì)單元25與一記憶模塊26。電壓調(diào)節(jié)模塊21是用以提供一工作電壓Vl與一升壓電壓V2，并利用脈沖寬度調(diào)變(Pulse Width Modulation ；PWM)技術(shù)，將工作電壓V 1與升壓電壓V2傳送至繪圖處理器1，電壓調(diào)節(jié)模塊21可電性連接于繪圖處理器1。檢測頻率選擇模塊22是用以提供一檢測頻率控制信號(hào)S，并傳送至繪圖處理器1， 藉以使得繪圖處理器1得以依據(jù)檢測頻率控制信號(hào)S，在檢測頻率控制信號(hào)S中所對(duì)應(yīng)的上述任一超頻檢測頻率F下運(yùn)作，檢測頻率選擇模塊22可電性連接于繪圖處理器1。功率耗用量測模塊23是用以量測當(dāng)繪圖處理器1分別輸入工作電壓Vl與升壓電壓V2時(shí)，且分別對(duì)應(yīng)上述多個(gè)超頻檢測頻率F的運(yùn)作下，分別所產(chǎn)生的多數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W與多數(shù)個(gè)升壓功率耗用值X，功率耗用量測模塊23可電性連接于繪圖處理器1。顯示模塊M是電性連接于功率耗用量測模塊23，并用以將上述多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W與上述多個(gè)升壓功率耗用值X標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并分別顯示一頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl與一頻率-升壓功率耗用值曲線C2。比對(duì)單元25是電性連接于顯示模塊對(duì)，并用以于任二相鄰超頻檢測頻率F所圍構(gòu)的一比對(duì)區(qū)間Z (標(biāo)示于圖2)中，比對(duì)頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率，據(jù)以對(duì)繪圖處理器1加以分級(jí)，并傳送出一分級(jí)數(shù)據(jù)A。記憶模塊沈是電性連接于比對(duì)單元25，并用以儲(chǔ)存分級(jí)數(shù)據(jù)A。另外，記憶模塊 16更可連接至一網(wǎng)絡(luò)模塊(圖未示)，藉由連接至所述網(wǎng)絡(luò)模塊，可使得檢測裝置2電性連接至一中央計(jì)算機(jī)(圖未示)，并將分級(jí)數(shù)據(jù)A集中于中央計(jì)算機(jī)處理。于本發(fā)明第一實(shí)施例中，檢測裝置2更可包含一檢測平臺(tái)(圖未示)，使得繪圖處理器1電性連接于所述檢測平臺(tái)，并透過所述檢測平臺(tái)與電壓調(diào)節(jié)模塊21、檢測頻率選擇模塊22以及功率耗用量測模塊23間的電性連接，使得檢測裝置2得以對(duì)繪圖處理器1的超頻工作性能進(jìn)行檢測，并加以分級(jí)。在進(jìn)行本發(fā)明第一實(shí)施例所揭露的檢分方法時(shí)，首先，利用檢測裝置2透過電壓調(diào)節(jié)模塊21將工作電壓Vl輸入至繪圖處理器1，再利用檢測裝置2透過檢測頻率選擇模塊 22傳送檢測頻率控制信號(hào)S至所述繪圖處理器1，藉以使得繪圖處理器1得以依據(jù)檢測頻率控制信號(hào)S，依序在繪圖處理器1所具有的超頻檢測頻段B中所包含的多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率F下運(yùn)作。接著，當(dāng)繪圖處理器1于工作電壓Vl下，并依序于上述多個(gè)超頻檢測頻率F運(yùn)作時(shí)，將會(huì)產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的多數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W。因此，可利用檢測裝置2透過功率耗用量測模塊23量測多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W，并將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W傳送至顯示模塊24。顯示模塊M可將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W標(biāo)示于標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并依序連結(jié)多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W以形成頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl。請(qǐng)參閱圖2，其是本發(fā)明第一實(shí)施例的頻率-功率耗用值坐標(biāo)圖。其中，橫坐標(biāo)為超頻檢測頻率F，縱坐標(biāo)為功率耗用值。舉例而言，繪圖處理器1的超頻檢測頻段B具有七個(gè)超頻檢測頻率F，分別可標(biāo)示為Fl F7，其中，第一個(gè)超頻檢測頻率Fl是為上述的起始邊界頻率，而第七個(gè)超頻檢測頻率F7是為上述的終止邊界頻率。且當(dāng)繪圖處理器1在工作電壓Vl以及七個(gè)超頻檢測頻率F運(yùn)作之下，分別會(huì)形成七個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W，且可連結(jié)七個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W以形成頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl。接著，利用檢測裝置2透過電壓調(diào)節(jié)模塊21將工作電壓Vl提升至升壓電壓V2，并將升壓電壓V2輸入至繪圖處理器1，其中，升壓電壓V2可為工作電壓Vl的110 % 120 %， 舉例而言，當(dāng)工作電壓Vl為IOV時(shí)，升壓電壓V2則為IlV 12V。再利用檢測裝置2透過檢測頻率選擇模塊22傳送檢測頻率控制信號(hào)S至所述繪圖處理器1，藉以使得繪圖處理器 1得以依據(jù)檢測頻率控制信號(hào)S，依序在繪圖處理器1所具有的超頻檢測頻段B中所包含的多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率F下運(yùn)作。接著，當(dāng)繪圖處理器1于升壓電壓V2下，并依序于上述多個(gè)超頻檢測頻率F運(yùn)作時(shí)，將會(huì)產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的多數(shù)個(gè)升壓功率耗用值X。因此，可利用檢測裝置2透過功率耗用量測模塊23量測多個(gè)升壓功率耗用值X，并將多個(gè)升壓功率耗用值X傳送至顯示模塊M。顯示模塊M可將多個(gè)升壓功率耗用值X標(biāo)示于標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并依序連結(jié)多個(gè)升壓功率耗用值X以形成頻率-升壓功率耗用值曲線C2。舉例而言，在圖2中當(dāng)繪圖處理器1在升壓電壓V2以及七個(gè)超頻檢測頻率F運(yùn)作之下，分別會(huì)形成七個(gè)升壓功率耗用值X，且可連結(jié)七個(gè)升壓功率耗用值X以形成頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線C2。最后，可利用比對(duì)單元25比對(duì)任二相鄰超頻檢測頻率F所圍構(gòu)的一比對(duì)區(qū)間Z中，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率，據(jù)以對(duì)繪圖處理器1加以分級(jí)。在圖2中，超頻檢測頻率Fl與超頻檢測頻率F2可圍構(gòu)出比對(duì)區(qū)間Z1，而超頻檢測頻率F2與超頻檢測頻率F3可圍構(gòu)出比對(duì)區(qū)間Z2，以此類推，超頻檢測頻率F6與超頻檢測頻率F7可圍構(gòu)出比對(duì)區(qū)間Z6，因此超頻檢測頻段B可依序遞增地劃分出 6個(gè)比對(duì)區(qū)間Zl Z6。且頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率于6個(gè)比對(duì)區(qū)間Zl Z6是分別具有一斜率變異量Dl D6，其中，斜率變異量Dl D6分別為在6個(gè)比對(duì)區(qū)間Zl Z6中，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率所形成的差值。在本發(fā)明第一實(shí)施中，更設(shè)定一預(yù)設(shè)斜率變異值，并依序從比對(duì)區(qū)間Zl至比對(duì)區(qū)間Z6開始判斷各比對(duì)區(qū)間Zl Z6所對(duì)應(yīng)的斜率變異量Dl D6是否大于預(yù)設(shè)斜率變異值，直到斜率變異量Dl D6大于預(yù)設(shè)斜率變異值時(shí)，便可對(duì)繪圖處理器1加以分級(jí)，并傳送出分級(jí)數(shù)據(jù)A至記憶模塊沈，且儲(chǔ)存于記憶模塊沈中。舉例而言，在本發(fā)明第一實(shí)施中，預(yù)設(shè)斜率變異值為2，且頻率遞增值I為0. IGHz, 因此由圖2可知在比對(duì)區(qū)間Zl間，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率可為(1-0.5)/ (0.2-0. 1) = 5，而頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率可為(1.6-1)/(0.2-0. 1) = 6。因此，比對(duì)區(qū)間Zl所對(duì)應(yīng)的斜率變異量D 1為6-5 = 1，而斜率變異量Dl小于斜率變異值，所以依序進(jìn)行比對(duì)區(qū)間Z2所對(duì)應(yīng)的斜率變異量D2的運(yùn)算。由圖2可知，在比對(duì)區(qū)間Z4間，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率為0.5-2)/ (0. 5-0.4) =5，而頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率為(3. 5-2. 5)/(0. 5-0.4) = 10，因此，比對(duì)區(qū)間Z4所對(duì)應(yīng)的斜率變異量D4為10-5 = 5，而斜率變異量D4大于斜率變異值，故可以將繪圖處理器1分為第五級(jí)。由上述可知，可依據(jù)比對(duì)區(qū)間Zl Z6將繪圖處理器1檢分成6個(gè)等級(jí)，當(dāng)繪圖處理器1被檢分后的級(jí)數(shù)越高，如第六級(jí)，表示繪圖處理器1的性能與穩(wěn)定性越高，不容易因?yàn)殚L時(shí)間處于超頻的使用情況之下，而導(dǎo)致漏電流(Leakage Current)過高以及熱跑脫 (Thermal Runaway)的異?，F(xiàn)象發(fā)生。反之，當(dāng)繪圖處理器1被檢分后的級(jí)數(shù)越低，如第一級(jí)，表示繪圖處理器1的性能與穩(wěn)定性越低，容易因?yàn)殚L時(shí)間處于超頻的使用情況之下，而導(dǎo)致漏電流過高以及熱跑脫的異?，F(xiàn)象發(fā)生。由上述可知，利用升壓電壓V2激發(fā)繪圖處理器1，將可以使得繪圖處理器1于超頻時(shí)的異?，F(xiàn)象提早發(fā)生，藉以縮短檢測時(shí)間，于本發(fā)明第一實(shí)施例中，當(dāng)升壓電壓V2為工作電壓Vl的110% 120%時(shí)，將可以將檢測時(shí)間縮短至一分鐘以內(nèi)，相較于習(xí)知必須花費(fèi)數(shù)小時(shí)進(jìn)行檢測，顯而易見地，本發(fā)明確實(shí)可以大幅所短產(chǎn)品的檢測時(shí)間。而且，藉由升壓電壓V2的激發(fā)，將可以使得檢測結(jié)果更為客觀且穩(wěn)定。于本發(fā)明第二實(shí)施例中與本發(fā)明第一實(shí)施例相同處，于此不多加贅述。與本發(fā)明第一實(shí)施例不同之處在于，比對(duì)單元25是于任二相鄰的超頻檢測頻率所圍構(gòu)出的比對(duì)區(qū)間Z，并于此比對(duì)區(qū)間Z中，對(duì)頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C3、C4(標(biāo)示于圖3)的斜率間所存在的斜率變異量進(jìn)行比對(duì)，并據(jù)以對(duì)繪圖處理器 1加以分級(jí)。舉例而言，請(qǐng)參閱圖3，其是本發(fā)明第二實(shí)施例的頻率-功率耗用值坐標(biāo)圖。比對(duì)單元25是于超頻檢測頻率F3與超頻檢測頻率F4所圍構(gòu)出的比對(duì)區(qū)間Ti中，對(duì)頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C3的斜率間所存在的斜率變異量進(jìn)行比對(duì)，由圖3可知，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl于比對(duì)區(qū)間中，其斜率為 (2-1. 5)/(0. 4-0. 3) = 5，而頻率-升壓功率耗用值曲線C3于比對(duì)區(qū)間中，其斜率為 (3-2) / (0. 4-0. 3) = 10，因此在比對(duì)區(qū)間Ti中，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C3的斜率間所存在的斜率變異量為10-5 = 5，因此可于比對(duì)區(qū)間 Z3將繪圖處理器1分為第五級(jí)。此時(shí)，更可利用比對(duì)單元25比對(duì)另一繪圖處理器于超頻檢測頻率F3與超頻檢測頻率F4所圍構(gòu)出的比對(duì)區(qū)間中，所形成的頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C4的斜率，其中，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線可相同于繪圖處理器1的頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl。由圖3可知，頻率-升壓功率耗用值曲線C4于比對(duì)區(qū)間 Z3中，其斜率為0-2)/(0.4-0.3) =20，因此在比對(duì)區(qū)間D中，頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C4的斜率間所存在的斜率變異量D為20-5 = 15，因此可于比對(duì)區(qū)間Ti將另一繪圖處理器分為第十五級(jí)。由上述可知，可于特定比對(duì)區(qū)間Ti中將繪圖處理器1與另一繪圖處理器檢分成不同等級(jí)，如第五級(jí)與第十五級(jí)，且當(dāng)級(jí)數(shù)越高，如上述的第十五級(jí)，表示繪圖處理器1的性能與穩(wěn)定性越低，即表示當(dāng)繪圖處理器1長時(shí)間處于此超頻條件之下，其壽命較短。反之， 當(dāng)級(jí)數(shù)越低，如第五級(jí)，則表示繪圖處理器1的性能與穩(wěn)定性越高，即表示當(dāng)繪圖處理器1 長時(shí)間處于此超頻條件之下，其壽命較長。請(qǐng)參閱圖4，為了進(jìn)一步推廣本發(fā)明所揭露的技術(shù)，以下將進(jìn)一步將本發(fā)明第一實(shí)施例所揭露的技術(shù)匯整為一簡易流程圖，以便在所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員更容易記憶。下列的組件標(biāo)號(hào)，請(qǐng)參閱圖1與圖2。將工作電壓Vl以及檢測頻率控制信號(hào)S輸入至繪圖處理器1，使繪圖處理器1以超頻檢測頻率F運(yùn)作，并對(duì)應(yīng)地量測出標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W(步驟S100)。將標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成工作電壓Vl下的頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl (步驟Sl 10)。將升壓電壓V2以及檢測頻率控制信號(hào)S輸入至繪圖處理器1，使繪圖處理器1以超頻檢測頻率F運(yùn)作，并對(duì)應(yīng)地量測出升壓功率耗用值X(步驟S120)。將升壓功率耗用值X標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成升壓電壓V2下的頻率-升壓功率耗用值曲線C2 (步驟S130)。在超頻檢測頻率F中，依據(jù)頻率遞增值I所依序遞增地劃分的多數(shù)個(gè)比對(duì)區(qū)間Z 中，依序比對(duì)頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率變異量D是否大于預(yù)設(shè)斜率變異值E，直到斜率變異量D大于預(yù)設(shè)斜率變異值E時(shí)，對(duì)繪圖處理器1加以分級(jí)(步驟S140)。請(qǐng)參閱圖5，為了進(jìn)一步推廣本發(fā)明所揭露的技術(shù)，以下將進(jìn)一步將本發(fā)明第二實(shí)施例所揭露的技術(shù)匯整為一簡易流程圖，以便在所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員更容易記憶。 下列的組件標(biāo)號(hào)，請(qǐng)參閱圖1與圖3。將工作電壓Vl以及檢測頻率控制信號(hào)S輸入至繪圖處理器1，使繪圖處理器1以超頻檢測頻率F運(yùn)作，并對(duì)應(yīng)地量測出標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W(步驟S100)。將標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值W標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成工作電壓Vl下的頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl (步驟Sl 10)。 將升壓電壓V2以及檢測頻率控制信號(hào)S輸入至繪圖處理器1，使繪圖處理器1以超頻檢測頻率F運(yùn)作，并對(duì)應(yīng)地量測出升壓功率耗用值X(步驟S120)。
將升壓功率耗用值X標(biāo)示于頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成升壓電壓V2下的頻率-升壓功率耗用值曲線C2 (步驟S130)。在超頻檢測頻率F中的任二相鄰者所圍構(gòu)的比對(duì)區(qū)間Z中，比對(duì)頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線Cl的斜率與頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率變異量D，并對(duì)繪圖處理器1 加以分級(jí)(步驟S140)。在閱讀以上較佳實(shí)施例所揭露的種種技術(shù)內(nèi)容后，相信舉凡在所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員都能認(rèn)同，由于在本發(fā)明所揭露的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法中，是將高于工作電壓Vl的升壓電壓V2輸入至繪圖處理器1 ；因此，可使繪圖處理器1在更為嚴(yán)苛的工作條件下超頻運(yùn)作，藉以激發(fā)繪圖處理器1快速產(chǎn)生功率耗用值的異常變化，進(jìn)而縮短對(duì)繪圖處理器1進(jìn)行檢測的時(shí)間，并且縮短檢測成本。此外，由于在本發(fā)明中，特別在比對(duì)區(qū)間Z中，對(duì)所述頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線 Cl的斜率與所述頻率-升壓功率耗用值曲線C2的斜率進(jìn)行比對(duì)，故可依據(jù)二者間的比對(duì)結(jié)果，進(jìn)一步快速地對(duì)待檢測的繪圖處理器進(jìn)行分級(jí)。換言之，本發(fā)明更可依據(jù)超頻工作性能，快速地對(duì)繪圖處理器1進(jìn)行分級(jí)，藉以減少對(duì)繪圖處理器1進(jìn)行分級(jí)所耗費(fèi)的人力與物力成本，進(jìn)而達(dá)到超乎預(yù)期的功效。藉由上述的本發(fā)明實(shí)施例可知，本發(fā)明確具產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。惟以上的實(shí)施例說明，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例說明，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員當(dāng)可依據(jù)本發(fā)明的上述實(shí)施例說明而作其它種種的改良及變化。然而這些依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例所作的種種改良及變化，當(dāng)仍屬于本發(fā)明的發(fā)明精神及界定的權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種繪圖處理器(Graphic Processing Unit ；GPU)超頻工作性能的檢分方法，是用以檢測一繪圖處理器的超頻工作性能，并加以分級(jí)，所述繪圖處理器是具有一超頻檢測頻段，所述超頻檢測頻段是包含多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率，所述方法其特征在于包括以下步驟(a)將一工作電壓輸入至所述繪圖處理器，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值；(b)將多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值與所對(duì)應(yīng)的多個(gè)超頻檢測頻率儲(chǔ)存為一頻率-功率耗用值 fn息；(C)將所述工作電壓提升至一升壓電壓，使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作， 藉以對(duì)應(yīng)地量測出多數(shù)個(gè)升壓功率耗用值；(d)將多個(gè)升壓功率耗用值與所對(duì)應(yīng)的多個(gè)超頻檢測頻率儲(chǔ)存為一頻率-升壓功率耗用值信息；(e)在多個(gè)超頻檢測頻率中選定任二相鄰的超頻檢測頻率，藉由所述頻率-功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值的差值間的比值，并藉由所述頻率-升壓功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對(duì)應(yīng)的升壓功率耗用值的差值間的比值；以及(f)比對(duì)步驟(e)所求得的二個(gè)比值，據(jù)以對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)。
2.按照權(quán)利要求1所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述頻率-功率耗用值信息是紀(jì)錄于一頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成所述工作電壓下的一頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線，所述頻率-升壓功率耗用值信息也紀(jì)錄于所述頻率-功率耗用值坐標(biāo)，并連結(jié)成所述升壓電壓下的一頻率-升壓功率耗用值曲線。
3.按照權(quán)利要求2所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述步驟(e)是藉由所述工作電壓下與所述升壓電壓下的所述頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線的斜率求得多個(gè)比值。
4.按照權(quán)利要求2所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述檢測裝置更包含一顯示模塊，藉以顯示所述頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線與所述頻率-升壓功率耗用值曲線。
5.按照權(quán)利要求1所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述工作電壓是由一檢測裝置所提供。
6.按照權(quán)利要求5所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，步驟(a) 更包含一步驟(al)，其是利用所述檢測裝置傳送一檢測頻率控制信號(hào)至所述繪圖處理器， 藉以使所述繪圖處理器得以依據(jù)所述檢測頻率控制信號(hào)而在多個(gè)超頻檢測頻率下運(yùn)作。
7.按照權(quán)利要求6所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述檢測裝置更包含一功率耗用量測模塊，藉以分別量測出多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值與多個(gè)升壓功率耗用值。
8.按照權(quán)利要求1所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述超頻檢測頻段是由一起始邊界頻率與一終止邊界頻率圍構(gòu)而成，所述超頻檢測頻段更包含一頻率遞增值，藉以將所述超頻檢測頻段依序遞增地劃分為多數(shù)個(gè)比對(duì)區(qū)間。
9.按照權(quán)利要求8所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，在所述步驟(e)與步驟(f)中，是在多個(gè)比對(duì)區(qū)間中，依序判斷所求得的二個(gè)比值的一比值變異量是否大于一預(yù)設(shè)比值變異值，直到所述比值變異量大于所述預(yù)設(shè)比值變異值時(shí)，對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)。
10.按照權(quán)利要求1所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述步驟(f)是依據(jù)所求得的二個(gè)比值的一比值變異量，對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)。
11.按照權(quán)利要求1所述的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，其特征在于，所述升壓電壓是為工作電壓的110% 120%。
全文摘要
一種繪圖處理器(Graphic Processing Unit；GPU)超頻工作性能的檢分方法，是用以檢測一繪圖處理器的超頻工作性能，并加以分級(jí)，所述繪圖處理器是具有一超頻檢測頻段，所述超頻檢測頻段是包含多數(shù)個(gè)超頻檢測頻率。首先，輸入一工作電壓至所述繪圖處理器，并使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以取得一頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線。接著，輸入一升壓電壓至所述繪圖處理器，并使所述繪圖處理器以多個(gè)超頻檢測頻率運(yùn)作，藉以取得一頻率-升壓功率耗用值曲線。最后，比對(duì)所述頻率-標(biāo)準(zhǔn)功率耗用值曲線與所述頻率-升壓功率耗用值曲線的斜率，據(jù)以對(duì)所述繪圖處理器加以分級(jí)。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102243607SQ20101017534
公開日2011年11月16日 申請(qǐng)日期2010年5月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月14日
發(fā)明者張志隆, 黃順治 申請(qǐng)人:技嘉科技股份有限公司