專利名稱：主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種主板硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)及方法，特別涉及一種主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
主板在裝配完成后，需經(jīng)過(guò)全面的功能測(cè)試，其中包括對(duì)主板上各種端口的測(cè)試。 目前主板上一般都有多個(gè)SATA/SAS(SATA =SerialAdvanced Technology Attachment,串行高級(jí)技術(shù)附件，SAS =SerialAttached SCSI,串行連接SCSI接口 )硬盤端口，經(jīng)過(guò)PCI-E (PCI Express)擴(kuò)展卡擴(kuò)展后更是達(dá)數(shù)十個(gè)端口，而網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)裝置的硬盤端口更多。測(cè)試這些端口的一般做法是測(cè)試人員將所有硬盤端口都接上硬盤進(jìn)行功能測(cè)試。如果每個(gè)硬盤端口都用硬盤作為測(cè)試設(shè)備的話，一是由于硬盤的價(jià)格一般較高，二是硬盤作為測(cè)試設(shè)備體積大不便于維護(hù)，三是損耗大，四是硬盤容易受到震動(dòng)而影響測(cè)試效果。同時(shí)，測(cè)試人員如果對(duì)端口進(jìn)行逐個(gè)測(cè)試，則需每測(cè)試完一個(gè)端口后又重新插拔硬盤，并且還要重新啟動(dòng)測(cè)試程序，在大規(guī)模生產(chǎn)應(yīng)用時(shí)會(huì)造成成本和時(shí)間的浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)及方法。一種主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于測(cè)試待測(cè)主板的多個(gè)硬盤端口，所述待測(cè)主板的多個(gè)硬盤端口與一個(gè)測(cè)試裝置的多個(gè)硬盤端口相連接，該測(cè)試裝置還包括 MUX (Multiplexer，多路復(fù)用器)芯片、存儲(chǔ)設(shè)備及指示裝置，該系統(tǒng)包括切換通道模塊， 用于將待測(cè)主板的待測(cè)端口號(hào)翻譯成MUX芯片對(duì)應(yīng)的通道號(hào)，以切換MUX芯片的與該通道號(hào)對(duì)應(yīng)的通道與存儲(chǔ)設(shè)備相連，形成一條從待測(cè)主板至存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸路徑；寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備與MUX芯片連接好后，通過(guò)上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)設(shè)備；讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，用于從存儲(chǔ)設(shè)備中經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將所述寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)讀出至待測(cè)主板；驗(yàn)證模塊，用于驗(yàn)證上述寫入及讀出的的校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；發(fā)送模塊， 用于當(dāng)寫入和讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致時(shí)，通過(guò)I/O端口向MUX芯片發(fā)送待測(cè)端口異常的信息，該MUX芯片根據(jù)該信息驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示待測(cè)端口異常；及該發(fā)送模塊還用于當(dāng)寫入和讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，通過(guò)I/O端口向MUX芯片發(fā)送待測(cè)端口正常的信息，該MUX芯片根據(jù)該信息驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示待測(cè)端口正常；擦除數(shù)據(jù)模塊，當(dāng)所寫入及讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，擦除存儲(chǔ)設(shè)備中寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。一種主板多硬盤端口測(cè)試方法，包括以下步驟(a)從待測(cè)主板的多硬盤端口中選擇一個(gè)待測(cè)端口，并將其端口號(hào)翻譯成測(cè)試裝置中MUX芯片對(duì)應(yīng)的通道號(hào)；(b)MUX芯片切換與該通道號(hào)對(duì)應(yīng)的通道與測(cè)試裝置的存儲(chǔ)設(shè)備相連，形成一條從待測(cè)主板至存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸路徑；(c)當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備與MUX芯片連接好后，MUX芯片驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示該待測(cè)端口的端口號(hào)；(d)待測(cè)主板經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑向存儲(chǔ)設(shè)備寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)；(e) 待測(cè)主板經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑從存儲(chǔ)設(shè)備中讀出校驗(yàn)數(shù)據(jù)；(f)當(dāng)寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致時(shí)，結(jié)束測(cè)試；(g)當(dāng)寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，擦除寫入存儲(chǔ)設(shè)備的校驗(yàn)數(shù)據(jù)；(h)當(dāng)待測(cè)主板還有未測(cè)試的硬盤端口時(shí)，返回步驟(a)，當(dāng)該待測(cè)主板的所有硬盤端口測(cè)試完畢時(shí)，表示該待測(cè)主板測(cè)試成功。相較現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明可一次自動(dòng)測(cè)試主板所有的SATA/SAS硬盤端口，不會(huì)因硬盤在測(cè)試中受到震動(dòng)而影響測(cè)試效果，節(jié)約測(cè)試的成本和時(shí)間。


圖1是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的架構(gòu)圖。圖2是待測(cè)主板與測(cè)試裝置硬盤端口的連接方式示意圖。圖3是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)的功能模塊圖。圖4是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的架構(gòu)圖。該主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)10運(yùn)行于主機(jī)1上，主機(jī)1中待測(cè)主板11與測(cè)試裝置2相連接。所述測(cè)試裝置2包括一 MUX芯片21、一存儲(chǔ)設(shè)備22、一 I/O端口 25、一 I/O端口轉(zhuǎn)換模塊對(duì)、一指示裝置23及至少含有一個(gè)SATA/SAS端口的SATA/SAS端口組20。所述指示裝置23由 MUX芯片21驅(qū)動(dòng)。其中，SATA/SAS端口組20中的每個(gè)端口都按排列順序有相應(yīng)的編號(hào)，在圖中以6個(gè)端口為例；MUX芯片21的通道數(shù)可根據(jù)實(shí)際需要測(cè)試的端口數(shù)而定制，且芯片通道按排列順序也有相應(yīng)的編號(hào)。如圖2所示，是待測(cè)主板與測(cè)試裝置硬盤端口的連接方式示意圖。待測(cè)主板11的 SATA/SAS端口組12中的所有端口(端口也按順序有相應(yīng)的編號(hào)，圖中以6個(gè)端口為例)與該測(cè)試裝置2的SATA/SAS端口組20中端口相連，連接方式為端口號(hào)一一對(duì)應(yīng)，如待測(cè)主板 11的端口 Al與測(cè)試裝置2的端口 B 1相連，待測(cè)主板11的端口 A2與測(cè)試裝置2的端口 B2相連，依此類推。所述測(cè)試裝置2的SATA/SAS端口組20中的端口與所述MUX芯片21的通道(圖中以6條通道為例)相連，連接方式為端口號(hào)與通道號(hào)一一對(duì)應(yīng)，如測(cè)試裝置2的端口 Cl與MUX芯片21的通道Dl相連，測(cè)試裝置2的端口 C2與MUX芯片21的通道D2相連，依此類推。MUX芯片21連接至所述存儲(chǔ)設(shè)備22。如圖1和圖2所示，主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)10從SATA/SAS端口組12中選擇待測(cè)試的端口號(hào)，并將該端口號(hào)翻譯成MUX芯片21對(duì)應(yīng)的通道號(hào)，再將該通道號(hào)經(jīng)待測(cè)主板11的I/O端口 13和所述測(cè)試裝置2的I/O端口 25，傳送到I/O端口轉(zhuǎn)換模塊對(duì)， 該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將所接收到的通道號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，如 I2C(Inter-Integrated Circuit，兩線式串行總線)或 SPI (Serial PeripheralInterface, 串行外設(shè)接口)信號(hào)，以切換MUX芯片21的通道與存儲(chǔ)設(shè)備22相連接，形成了一條從待測(cè)主板11傳送數(shù)據(jù)到存儲(chǔ)設(shè)備22的數(shù)據(jù)傳輸路徑。主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)10將校驗(yàn)數(shù)據(jù)，經(jīng)上述所選擇的端口號(hào)及所切換的MUX 芯片21的通道，存儲(chǔ)在存儲(chǔ)設(shè)備22中。該存儲(chǔ)設(shè)備22僅相當(dāng)于一個(gè)硬盤用于存儲(chǔ)校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其可以是SSD (Solid，固態(tài)硬盤)或HDD (Hard Disk Drive，硬盤驅(qū)動(dòng)器)。MUX芯片21的控制信號(hào)在切換通道成功后，控制所述的指示裝置23指示當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)，并根據(jù)主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)10對(duì)校驗(yàn)數(shù)據(jù)的驗(yàn)證結(jié)果指示端口是否正常，還可以控制指示裝置23顯示全部端口都測(cè)試完畢。在本實(shí)施例中，該指示裝置23可以是七段LED (LightEmitting Diode，發(fā)光二極管)數(shù)碼管，通過(guò)顯示的數(shù)字指示正在測(cè)試的端口號(hào)，顯示數(shù)字閃爍指示當(dāng)前正在測(cè)試的端口異常，顯示數(shù)字穩(wěn)定指示端口正常，再如顯示“ L“或其他非數(shù)字符號(hào)表示全部端口已測(cè)試完畢。如圖3所示，是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)的功能模塊圖。所述主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)10包括切換通道模塊101、檢測(cè)通道模塊102、寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊103、讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊104、驗(yàn)證模塊105、發(fā)送模塊106、擦除數(shù)據(jù)模塊107。切換通道模塊101用于切換與待測(cè)端口相連的MUX芯片21的相應(yīng)通道與存儲(chǔ)設(shè)備22連接。在本實(shí)施例中，該切換通道模塊101將從SATA/SAS端口組12中所選擇的待測(cè)端口號(hào)翻譯成MUX芯片21對(duì)應(yīng)的通道號(hào)，經(jīng)由待測(cè)主板11的I/O端口 13及測(cè)試裝置2的 I/O端口 25將該通道號(hào)傳送到所述I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該通道號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，如I2C或SPI控制信號(hào)，以控制MUX芯片21切換該通道與存儲(chǔ)設(shè)備22連接。從而形成一條從待測(cè)主板11到存儲(chǔ)設(shè)備22的數(shù)據(jù)傳輸路徑檢測(cè)通道模塊102用于檢測(cè)測(cè)試裝置2的存儲(chǔ)設(shè)備22是否連接好，在本較佳實(shí)施例中，若已連接好則主機(jī)1會(huì)指示多一個(gè)可移動(dòng)磁盤，繼續(xù)測(cè)試；若未連接好，則主機(jī)1會(huì)無(wú)任何指示，測(cè)試失敗。在其他實(shí)施例中，可用其他方式表示該存儲(chǔ)設(shè)備22是否與MUX芯片 21連接好。當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備22與MUX芯片21連接好后，該MUX芯片21驅(qū)動(dòng)指示裝置23顯示該當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)。寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊103用于向存儲(chǔ)設(shè)備22發(fā)送一寫入命令，所述寫入命令通過(guò)上述形成的數(shù)據(jù)傳輸路徑，也即從SATA/SAS端口組12所選擇的一個(gè)待測(cè)端口以及對(duì)應(yīng)的測(cè)試裝置2的SATA/SAS端口，再經(jīng)由MUX芯片21切換后的通道，將校驗(yàn)數(shù)據(jù)傳送至所述存儲(chǔ)設(shè)備22并存儲(chǔ)。讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊104用于向存儲(chǔ)設(shè)備22發(fā)送一讀出命令以讀出剛剛寫入存儲(chǔ)設(shè)備22的校驗(yàn)數(shù)據(jù)，該讀出命令通過(guò)上述數(shù)據(jù)傳輸路徑將校驗(yàn)數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)設(shè)備22中讀出。驗(yàn)證模塊105通過(guò)比對(duì)從存儲(chǔ)設(shè)備22中讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)與寫入存儲(chǔ)設(shè)備22的校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致來(lái)驗(yàn)證待測(cè)端口是否正常。發(fā)送模塊106用于向MUX芯片21發(fā)送當(dāng)前正在測(cè)試的端口正常或異常的信息。在本實(shí)施例中，當(dāng)驗(yàn)證模塊105驗(yàn)證寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，該發(fā)送模塊106通過(guò)I/O 端口 13和I/O端口 25，傳送當(dāng)前測(cè)試端口正常的信息至I/O端口轉(zhuǎn)換模塊對(duì)，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將信息轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)以控制MUX芯片21驅(qū)動(dòng)指示裝置 23將當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)穩(wěn)定顯示來(lái)指示當(dāng)前測(cè)試端口正常。反之，當(dāng)驗(yàn)證模塊105驗(yàn)證寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致時(shí)，該發(fā)送模塊106傳送該當(dāng)前測(cè)試端口異常的信息至I/ 0端口轉(zhuǎn)換模塊M，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該信息轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)， 以驅(qū)動(dòng)指示裝置23將當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)閃爍顯示來(lái)指示當(dāng)前測(cè)試端口異常。當(dāng)切換通道模塊101已切換過(guò)所有的MUX芯片21的通道后，發(fā)送模塊106通過(guò)上述待測(cè)主板11 的I/O端口 13和測(cè)試裝置2的I/O端口 25，發(fā)送一個(gè)結(jié)束信號(hào)至I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M，該 I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該結(jié)束信號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，控制MUX芯片21驅(qū)動(dòng)指示裝置23顯示一個(gè)非數(shù)字符號(hào)如“ L ”符號(hào)表示全部端口已測(cè)試完畢。擦除數(shù)據(jù)模塊107用于擦除存儲(chǔ)設(shè)備22中的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。當(dāng)驗(yàn)證模塊105驗(yàn)證寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，即當(dāng)前測(cè)試端口功能正常后，擦除數(shù)據(jù)模塊107發(fā)送一刪除命令，擦除存儲(chǔ)設(shè)備22中寫入及存儲(chǔ)的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。如圖4所示，是本發(fā)明主板多硬盤端口測(cè)試方法較佳實(shí)施例的流程圖。步驟S201，切換通道模塊101從待測(cè)主板11的SATA/SAS端口組12中選擇一個(gè)待測(cè)試端口，該切換通道模塊101將該待測(cè)試端口號(hào)翻譯成MUX芯片21對(duì)應(yīng)的通道號(hào)，再經(jīng)由待測(cè)主板11的I/O端口 13及測(cè)試裝置2的I/O端口 25將該通道號(hào)傳送到所述I/O端口轉(zhuǎn)換模塊對(duì)，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該通道號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，如 I2C或SPI控制信號(hào)，以切換該MUX芯片21的通道與存儲(chǔ)設(shè)備22連接，形成一條從待測(cè)主板11到存儲(chǔ)設(shè)備22傳輸數(shù)據(jù)的路徑。步驟S202，檢測(cè)通道模塊102檢測(cè)存儲(chǔ)設(shè)備22與MUX芯片21是否連接好。在本實(shí)施例中，若已連接好則主機(jī)指示多一個(gè)可移動(dòng)磁盤，進(jìn)入步驟S203 ；若未連接好，則主機(jī)無(wú)任何指示，進(jìn)入步驟S208，測(cè)試失敗。步驟S203，MUX芯片21驅(qū)動(dòng)指示裝置23顯示該待測(cè)端口的端口號(hào)。步驟S204，寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊103向存儲(chǔ)設(shè)備22發(fā)送一寫入命令，所述寫入命令通過(guò)步驟S201形成的數(shù)據(jù)傳輸路徑向存儲(chǔ)設(shè)備22寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)。步驟S205，讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊104向存儲(chǔ)設(shè)備22發(fā)送一讀出命令，所述讀出命令，經(jīng)由步驟S201形成的傳輸數(shù)據(jù)的路徑，將剛剛寫入存儲(chǔ)設(shè)備22的校驗(yàn)數(shù)據(jù)再?gòu)脑摯鎯?chǔ)設(shè)備 22讀出到待測(cè)主板11。步驟S206，驗(yàn)證模塊105通過(guò)比對(duì)從存儲(chǔ)設(shè)備22中讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)與寫入存儲(chǔ)設(shè)備22的校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致來(lái)驗(yàn)證該待測(cè)端口是否正常。當(dāng)驗(yàn)證模塊105驗(yàn)證寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致，進(jìn)入步驟S207 ；如一致，即當(dāng)前所測(cè)試的端口功能正常后，進(jìn)入步驟 S209。步驟S207，發(fā)送模塊106將當(dāng)前測(cè)試端口異常的信息通過(guò)I/O端口 13、I/O端口 25，發(fā)送到I/O端口轉(zhuǎn)換模塊24，I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該信息轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)指示裝置23將當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)閃爍顯示來(lái)指示當(dāng)前測(cè)試端口異常，并進(jìn)入步驟S208，表明測(cè)試失敗，結(jié)束測(cè)試。步驟S209，發(fā)送模塊106將當(dāng)前測(cè)試端口正常的信息通過(guò)I/O端口 13、I/O端口 25，發(fā)送到I/O端口轉(zhuǎn)換模塊24，I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該信息轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)指示裝置23將當(dāng)前正在測(cè)試的端口號(hào)穩(wěn)定顯示來(lái)指示當(dāng)前測(cè)試端口正
堂
巾ο步驟S210，擦除數(shù)據(jù)模塊107發(fā)送一刪除命令，擦除存儲(chǔ)設(shè)備22中寫入及存儲(chǔ)的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。步驟S211，若SATA/SAS端口組12中還有未測(cè)試的端口，則返回步驟S201，若 SATA/SAS端口組12中所有的端口均測(cè)試完畢時(shí)，進(jìn)入步驟S212，測(cè)試成功，發(fā)送模塊106 將測(cè)試完畢的信息通過(guò)I/O端口 13和I/O端口 25，發(fā)送到I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊M將該信息轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片21的控制信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)指示裝置23指示全部端口已測(cè)試完畢的信息。
在步驟S204中，當(dāng)不能寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)時(shí)，退出測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試失敗。在步驟S205中，當(dāng)不能讀出校驗(yàn)數(shù)據(jù)時(shí)，退出測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試失敗。在步驟S210中，當(dāng)不能擦除校驗(yàn)數(shù)據(jù)時(shí)，退出測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試失敗。以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試待測(cè)主板的多個(gè)硬盤端口，所述待測(cè)主板的多個(gè)硬盤端口與一個(gè)測(cè)試裝置的多個(gè)硬盤端口相連接，該測(cè)試裝置還包括MUX芯片、存儲(chǔ)設(shè)備及指示裝置，其特征在于，該系統(tǒng)包括切換通道模塊，用于將待測(cè)主板的待測(cè)端口號(hào)翻譯成MUX芯片對(duì)應(yīng)的通道號(hào)，以切換 MUX芯片該通道號(hào)對(duì)應(yīng)的通道與存儲(chǔ)設(shè)備相連，形成一條從待測(cè)主板至存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸路徑；寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備與MUX芯片連接好后，通過(guò)上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)設(shè)備；讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，用于從存儲(chǔ)設(shè)備中經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將所述寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)讀出至待測(cè)主板；驗(yàn)證模塊，用于驗(yàn)證上述寫入及讀出的的校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；發(fā)送模塊，用于當(dāng)寫入和讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致時(shí)，通過(guò)I/O端口向MUX芯片發(fā)送待測(cè)端口異常的信息，該MUX芯片根據(jù)該信息驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示待測(cè)端口異常；及該發(fā)送模塊還用于當(dāng)寫入和讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，通過(guò)I/O端口向MUX芯片發(fā)送待測(cè)端口正常的信息，該MUX芯片根據(jù)該信息驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示待測(cè)端口正常；擦除數(shù)據(jù)模塊，當(dāng)所寫入及讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，擦除存儲(chǔ)設(shè)備中寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述MUX芯片在與存儲(chǔ)設(shè)備連接好后，該MUX芯片驅(qū)動(dòng)提示裝置顯示該待測(cè)端口號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括一個(gè)I/O端口轉(zhuǎn)換模塊，該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊從待測(cè)主板的I/O端口接收翻譯的端口號(hào)，并將該通道號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片的控制信號(hào)，MUX芯片根據(jù)該控制信號(hào)切換通道。
4.如權(quán)利要求3所述的主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)送模塊還用于， 當(dāng)該待測(cè)主板的硬盤端口均測(cè)試完畢時(shí)，通過(guò)I/O端口向MUX芯片發(fā)送測(cè)試完畢的信息，所述I/O端口轉(zhuǎn)換模塊將該信息轉(zhuǎn)換成MUX芯片的控制信號(hào)，MUX芯片根據(jù)該控制信號(hào)驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示測(cè)試完畢的信息。
5.如權(quán)利要求1所述的主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述存儲(chǔ)設(shè)備是一個(gè)固態(tài)硬盤或是一個(gè)硬盤驅(qū)動(dòng)器。
6.一種主板多硬盤端口測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括以下步驟(a)從待測(cè)主板的多硬盤端口中選擇一個(gè)待測(cè)端口，并將其端口號(hào)翻譯成測(cè)試裝置中 MUX芯片對(duì)應(yīng)的通道號(hào)；(b)MUX芯片切換該通道號(hào)對(duì)應(yīng)的通道與測(cè)試裝置的存儲(chǔ)設(shè)備相連，形成一條從待測(cè)主板至存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸路徑；(c)當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備與MUX芯片連接好后，MUX芯片驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示該待測(cè)端口的端口號(hào)；(d)待測(cè)主板經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑向存儲(chǔ)設(shè)備寫入校驗(yàn)數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)；(e)待測(cè)主板經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑從存儲(chǔ)設(shè)備中讀出校驗(yàn)數(shù)據(jù)；(f)當(dāng)寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致時(shí)，結(jié)束測(cè)試；或者(g)當(dāng)寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致時(shí)，擦除寫入存儲(chǔ)設(shè)備的校驗(yàn)數(shù)據(jù)；(h)當(dāng)待測(cè)主板還有未測(cè)試的硬盤端口時(shí)，返回步驟(a)，或者，當(dāng)該待測(cè)主板的所有硬盤端口測(cè)試完畢時(shí)，表示該待測(cè)主板測(cè)試成功。
7.如權(quán)利要求6所述的主板多硬盤端口測(cè)試方法，其特征在于，該方法在步驟(a)之前還包括將待測(cè)主板的多個(gè)硬盤端口與測(cè)試裝置的多個(gè)硬盤端口一一連接。
8.如權(quán)利要求6所述的主板多硬盤端口測(cè)試的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括 測(cè)試裝置的I/O端口轉(zhuǎn)換模塊從待測(cè)主板的I/O端口接收該翻譯的通道號(hào)；該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊將該通道號(hào)轉(zhuǎn)換成所述MUX芯片的控制信號(hào)； 該MUX芯片根據(jù)該控制信號(hào)切換該通道號(hào)與存儲(chǔ)設(shè)備相連。
9.如權(quán)利要求8所述的主板多硬盤端口測(cè)試方法，其特征在于，步驟(f)還包括 待測(cè)主板發(fā)送該待測(cè)端口異常的信息至該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊；該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊將該信息轉(zhuǎn)換成MUX芯片的控制信號(hào)； 該MUX芯片根據(jù)該控制信號(hào)驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示該異常的待測(cè)端口號(hào)。
10.如權(quán)利要求8所述的主板多硬盤端口測(cè)試方法，其特征在于，步驟(g)還包括 待測(cè)主板發(fā)送該待測(cè)端口正常的信息至該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊；該I/O端口轉(zhuǎn)換模塊將該信息轉(zhuǎn)換成MUX芯片的控制信號(hào)； 該MUX芯片根據(jù)該控制信號(hào)驅(qū)動(dòng)指示裝置顯示該正常的待測(cè)端口號(hào)。
全文摘要
一種主板多硬盤端口測(cè)試系統(tǒng)，其包括切換通道模塊，用于切換與待測(cè)端口相連的MUX芯片的通道與存儲(chǔ)設(shè)備連接，形成一條從待測(cè)主板至存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸路徑；寫校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備與MUX芯片連接好后，通過(guò)上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)設(shè)備；讀校驗(yàn)數(shù)據(jù)模塊，用于從存儲(chǔ)設(shè)備中經(jīng)由上述數(shù)據(jù)傳輸路徑，將所述寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)讀出；驗(yàn)證模塊，用于驗(yàn)證寫入與讀出的校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；發(fā)送模塊，用于向MUX芯片發(fā)送當(dāng)前正在測(cè)試的端口正?；虍惓５男畔ⅲ徊脸龜?shù)據(jù)模塊，用于當(dāng)前正在測(cè)試的端口正常時(shí)，擦除存儲(chǔ)設(shè)備中寫入的校驗(yàn)數(shù)據(jù)。本發(fā)明還提供一種主板多硬盤端口測(cè)試方法。利用本發(fā)明可一次自動(dòng)測(cè)試主板所有的硬盤端口。
文檔編號(hào)G06F11/267GK102270167SQ20101019104
公開(kāi)日2011年12月7日 申請(qǐng)日期2010年6月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月3日
發(fā)明者彭爽, 曾革新, 歐陽(yáng)銘修, 胡明祥, 陳軍民 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司