專利名稱：光學(xué)信息取樣方法與觸控信息辨識方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種信息取樣方法與信息辨識方法，且特別是有關(guān)于一種光學(xué)信 息取樣方法與觸控信息辨識方法。
背景技術(shù)：
觸控面板依照其感測方式的不同大致上可區(qū)分為電阻式觸控面板、電容式觸控面 板、光學(xué)式觸控面板、聲波式觸控面板以及電磁式觸控面板。由于光學(xué)式觸控面板的觸控機(jī) 制適合應(yīng)用在大尺寸的顯示面板中，因此，大尺寸顯示面板的觸控功能多半是通過光學(xué)觸 控機(jī)制來達(dá)成。目前的光學(xué)式觸控面板多半采用紅外光作為光源，并利用互補(bǔ)金氧半導(dǎo)體 光感測組件(CMOS optical sensor)來感測紅外光以推算出觸控點(diǎn)的位置。圖1為現(xiàn)有光學(xué)式觸控面板的剖面示意圖。請參照圖1，光學(xué)式觸控面板100包括 一觸控面板110、一背光單元120、一紅外光發(fā)光二極管(IR-LED) 130、一光感測組件140以 及一反射片150。紅外光發(fā)光二極管130適于發(fā)出紅外光Li，且紅外光Ll會被反射片150 反射至光感測組件140。當(dāng)有觸控物體160觸碰到觸控面板110時，觸控物體160會遮擋紅 外光Ll以使紅外光Ll無法傳遞到光感測組件140，進(jìn)而使得后端電路能判斷出觸碰位置。 然而上述的觸碰方式容易造成誤動作，亦即在觸控面板110在尚未被觸控的情況下，仍有 可能會產(chǎn)生觸控信號。為了解決上述問題，已有現(xiàn)有技術(shù)在觸控面板110的上方增設(shè)一導(dǎo) 光板，讓使用者可以直接觸碰導(dǎo)光板。當(dāng)使用者觸碰前述的導(dǎo)光板時，在導(dǎo)光板內(nèi)部傳遞的 紅外光會因使用者的手指(或觸控筆)觸碰到導(dǎo)光板的表面而被散射，使得光感測組件所 接收到的紅外光強(qiáng)度降低。當(dāng)光感測組件所接收到的紅外光強(qiáng)度降低時，理論上便可計(jì)算 出觸控位置，但實(shí)際上，如何快速且有效地計(jì)算出觸控位置目前尚未有具體的方案被提出。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題在于，提供一種光學(xué)信息取樣方法，其適于對一光學(xué)式觸 控面板所產(chǎn)生的一光學(xué)信息進(jìn)行取樣。本發(fā)明解決的技術(shù)問題在于，提供一種觸控信息辨識方法，其適于判斷一光學(xué)式 觸控面板是否被觸碰。為了解決上述問題，本發(fā)明提出一種光學(xué)信息取樣方法，其適于對一光學(xué)式觸控 面板所產(chǎn)生的一光學(xué)信息進(jìn)行取樣。光學(xué)式觸控面板包括一導(dǎo)光板、一光源及一感測組件。 光源提供光線至導(dǎo)光板中。感測組件包括多個成陣列排列的像素。排列于各行的像素分別 接收來自于導(dǎo)光板的不同水平入射角度的光線，且排列于同一行的各像素分別接收自于導(dǎo) 光板的不同垂直入射角度的光線。上述的光學(xué)信息取樣方法包括以下步驟。首先，對感測 組件的一取樣區(qū)域進(jìn)行一信號擷取動作，其中取樣區(qū)域內(nèi)的像素僅對應(yīng)于部分的垂直入射 角度以獲得光學(xué)信息。當(dāng)導(dǎo)光板未被觸碰時，通過信號擷取動作以擷取出一背景信息。當(dāng) 導(dǎo)光板被觸碰時，通過信號擷取動作以擷取出一觸控信息。接著，對背景信息及觸控信息進(jìn) 行積分。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的取樣區(qū)域內(nèi)的像素對應(yīng)到所有的水平入射角度。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的取樣區(qū)域?yàn)橐粏我粎^(qū)域。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的取樣區(qū)域包括多個彼此不連續(xù)的子取樣區(qū)域，且 各子取樣區(qū)域分別對應(yīng)到不同的垂直入射角度。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的導(dǎo)光板具有一觸控面以及一與觸控面垂直的出光 面。感測組件平行于出光面配置，而感測組件的像素排列于一與觸控面垂直的平面上。當(dāng) 導(dǎo)光板的厚度介于0. 5mm至1. 5mm之間時，取樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為10度至85度。 另外，在另一實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板的厚度介于1. 5mm至2. 5mm之間時，取樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂 直入射角為25度至85度。除此之外，在其它實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板的厚度大于2. 5mm時，取 樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為45度至85度。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的導(dǎo)光板具有一觸控面以及一與觸控面夾一銳角的 出光面。感測組件的像素排列于一與觸控面垂直的平面上。另外，取樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直 入射角為0度至85度。另一方面，本發(fā)明還提出一種觸控信息辨識方法，其適于判斷一光學(xué)式觸控面板 是否被觸碰。光學(xué)式觸控面板包括一導(dǎo)光板、一光源及一感測組件。光源提供光線至導(dǎo)光板 中。感測組件包括多個成陣列排列的像素。排列于各行的像素分別接收來自于導(dǎo)光板的不 同水平入射角度的光線，且排列于同一行的各像素分別接收自于導(dǎo)光板的不同垂直入射角 度的光線。上述觸控信息辨識方法包括以下步驟。首先，對感測組件的一取樣區(qū)域進(jìn)行一 信號擷取動作，其中取樣區(qū)域內(nèi)的像素僅對應(yīng)于部分的垂直入射角度以獲得光學(xué)信息。接 著，對信號擷取動作的結(jié)果進(jìn)行積分。最后，根據(jù)積分后的結(jié)果判斷光學(xué)式觸控面板是否被 觸碰?；谏鲜觯景l(fā)明的實(shí)施例藉由對感測組件上的特定取樣區(qū)域擷取背景信息與觸 控信息，并對背景信息與觸控信息進(jìn)行積分，故能依據(jù)積分結(jié)果來判斷光學(xué)式觸控面板是 否被觸碰，并有助于光學(xué)式觸控面板的觸控靈敏度的提升。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳 細(xì)說明如下。


圖1為現(xiàn)有光學(xué)式觸控面板的剖面示意圖；圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的光學(xué)式觸控面板的示意圖；圖3為圖2上方導(dǎo)光板被觸碰之后的示意圖；圖4為圖2感測組件的放大立體示意圖；圖5A為圖4感測組件上同一行像素在ζ方向上所感測到的光強(qiáng)度曲線圖；圖5B為本發(fā)明第一實(shí)施例的光學(xué)信息取樣方法；圖6A為本發(fā)明第二實(shí)施例的感測模塊剖面示意圖；圖6B為對應(yīng)圖6A導(dǎo)光板被觸碰之前與之后的光強(qiáng)曲線圖；圖7A為本發(fā)明第三實(shí)施例的感測模塊剖面示意圖；圖7B為圖7A中區(qū)域E的局部放大圖；圖7C為對應(yīng)圖7A導(dǎo)光板被觸碰之前與之后的光強(qiáng)度曲線圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的光學(xué)式觸控面板的剖面示意圖。其中，附圖標(biāo)記100,200,300 光學(xué)式觸控面板120,220,320 背光單元140 光感測組件160:觸控物體241 光源242a 像素250:觸控信號讀出電路Al A3 取樣區(qū)域A1-1、A1-2、A3-1、A3_2 子取樣區(qū)域Bl B3 背景信息F 手指L2 光線L4:非可見光Sl 觸碰面S2:出光面S3 表面SllO S120:步驟θ 1、θ 2、α 1 角度β、γ、δ 銳角d 水平距離Ε:區(qū)域
具體實(shí)施例方式第一實(shí)施例圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例中光學(xué)式觸控面板的示意圖，其中圖2上方為光學(xué)式觸 控面板的剖面圖，而圖2下方為光學(xué)式觸控面板的上視圖。請參照圖2，本實(shí)施例的光學(xué)式 觸控面板200包括一感測模塊240，其中感測模塊240包括一光源241、一感測組件242以 及一導(dǎo)光板246。另外，本實(shí)施例的光學(xué)式觸控面板200還包括觸控面板210、背光單元220 以及觸控信號讀出電路250，其中背光單元220配置于觸控面板210的下方以提供顯示影像 所需的光源。如圖2所示，本實(shí)施例的感測組件242配置于光源241的上方，且光源241與感測 組件242配置于導(dǎo)光板246旁。光源241適于提供一光線L2至導(dǎo)光板246中，且光線L2 在傳遞至反射片244之后會被反射回感測組件242。在本實(shí)施例中，光線L2例如為紅外光， 而感測組件242例如為用以感測紅外光的紅外光感測組件(IR sensor)，其中紅外光感測 組件可為半導(dǎo)體光感測組件(CMOS optical sensor)。另外，反射片244可為回溯式反射片 (retro-reflector)。除此之外，導(dǎo)光板246具有一觸控面Sl以及一與觸控面Sl垂直的出 光面S2，且感測組件242平行于出光面S2配置。
6
110,210,310 觸控面板 130 紅外光發(fā)光二極管 150,244 反射片 240 感測模塊 242 感測組件 246、346、446 導(dǎo)光板 330 直下式背光源
Cl C3 觸控信息 Ll 紅外光 L3 可見光 P1、P2 觸控點(diǎn)
圖3為圖2上方導(dǎo)光板246被觸碰之后的示意圖。請同時參照圖2的俯視圖與圖 3，當(dāng)導(dǎo)光板246上的觸控點(diǎn)Pl被使用者的手指F或觸控筆所觸碰時，使用者的手指F或觸 控筆會使部分光線L2被散射，使得光感測組件242在特定的水平入射角(例如角度Θ1) 所接收到的紅外光強(qiáng)度降低。詳細(xì)來說，當(dāng)使用者用手指F或觸控筆觸碰到導(dǎo)光板246時， 觸控點(diǎn)Pl附近的光線L2會被散射，且上述的散射現(xiàn)象會使朝向反射片244傳遞的光線L2 或是朝向感測組件242傳遞的光線L2的強(qiáng)度減弱，而使得觸控信號讀出電路242能據(jù)以推 算出觸控點(diǎn)Pl的位置。為了有效且快速地推算出觸控點(diǎn)Pl的位置，本實(shí)施提出一種適用于光學(xué)式觸控 面板200的觸控信息辨識方法，以判斷光學(xué)式觸控面板200是否被觸碰，而其相關(guān)步驟描述 如下。圖4為圖2中感測組件242的放大立體示意圖。請同時參照圖2的俯視圖與圖4， 本實(shí)施例的感測組件242包括多個成陣列排列的像素242a，其中排列于各行的像素242a分 別接收來自于導(dǎo)光板246的不同水平入射角度θ 1的光線L2，且排列于同一行的各個像素 242a分別接收自于導(dǎo)光板246的不同垂直入射角度α 1的光線L2。在本實(shí)施例中，水平入 射角度Θ1介于0°至90°之間，而垂直入射角度α 介于-90°至90°之間。另一方面， 感測組件242的像素242a排列于一與觸控面Sl (繪示于圖2)垂直的平面上。另一方面， 在其它實(shí)施例中，于感測組件242與導(dǎo)光板246之間還可設(shè)置一位在光線L2的光路徑上的 透鏡，以匯聚光線L2，進(jìn)而使光線L2能夠正確地投射于感測組件242上。在本實(shí)施例中，圖2中的觸控信號讀出電路250會對感測組件242的一取樣區(qū)域 Al進(jìn)行一信號擷取動作，其中取樣區(qū)域Al內(nèi)的像素242a僅對應(yīng)于部分的垂直入射角度 α 1以獲得光學(xué)信息。舉例來說，圖5Α為圖4感測組件242上同一行像素242a在ζ方向上 所感測到的光強(qiáng)度曲線圖，其中橫坐標(biāo)對應(yīng)ζ方向上不同垂直入射角度α 1，而垂直入射角 度α 等于0則代表光線L2是垂直入射感測單元242。如圖5Α所示，在本實(shí)施例中，取樣 區(qū)域Al包括多個彼此不連續(xù)的子取樣區(qū)域Al-I、Α1-2，且各子取樣區(qū)域Al-I、Α1_2分別對 應(yīng)到不同的垂直入射角度α 1。當(dāng)導(dǎo)光板246未被觸碰時，觸控信號讀出電路250會通過信 號擷取動作以擷取出一背景信息Bi。而當(dāng)導(dǎo)光板246被觸碰時，觸控信號讀出電路250會 通過信號擷取動作以擷取出一觸控信息Cl。接著，觸控信號讀出電路250會對背景信息Bl 及觸控信息Cl進(jìn)行積分。在本實(shí)施例中，取樣區(qū)域Al對應(yīng)背景信息Bl與觸控信息Cl差異較多的角度范 圍，因此藉由僅對取樣區(qū)域Al內(nèi)背景信息Bl與觸控信息Cl的積分差異進(jìn)行對比，不但能 得知光學(xué)式觸控面板200是否被觸碰，還能提升觸控靈敏度。另一方面，取樣區(qū)域Al內(nèi)的 像素242a是對應(yīng)到所有的水平入射角度θ 1。換句話說，在本實(shí)施例中，觸控信號讀出電路 250會重復(fù)對每一行的至少一像素242a進(jìn)行上述的信息對比，以找出光強(qiáng)度改變最大的一 行，并據(jù)以判斷出光線L2的水平入射角度Θ1。而光強(qiáng)度的計(jì)算僅是選取同行中部份的像 素242a來計(jì)算，亦即，選取導(dǎo)光板246被觸碰之前與之后，光強(qiáng)度改變較大的像素242a來 計(jì)算積分結(jié)果。舉例來說，在本實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板246的厚度介于0.5mm至1.5mm之間時，取樣 區(qū)域Al對應(yīng)到的垂直入射角為10度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域Al-I對應(yīng)到的垂直入 射角度為-85度至-10度，而子取樣區(qū)域A1-2對應(yīng)到的垂直入射角度為+10度至+85度。亦即，對應(yīng)垂直入射角為-85度至-10度與+10度至+85度的光強(qiáng)度變化相較于其它垂直 入射角的光強(qiáng)度變化來得大。而在其它實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板246的厚度介于1. 5mm至2. 5mm之間時，取樣區(qū)域Al 對應(yīng)到的垂直入射角為25度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域Al-I對應(yīng)到的垂直入射角度 為-85度至-25度，而子取樣區(qū)域A1-2對應(yīng)到的垂直入射角度為+25度至+85度。亦即， 對應(yīng)垂直入射角為-85度至-25度與+25度至+85度的光強(qiáng)度變化相較于其它垂直入射角 的光強(qiáng)度變化來得大。除此之外，在另一實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板246的厚度大于2. 5mm時，取樣區(qū)域Al對應(yīng) 到的垂直入射角為45度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域Al-I對應(yīng)到的垂直入射角度為-85 度至-45度，而子取樣區(qū)域A1-2對應(yīng)到的垂直入射角度為+45度至+85度。亦即，對應(yīng)垂 直入射角為-85度至-45度與+45度至+85度的光強(qiáng)度變化相較于其它垂直入射角的光強(qiáng) 度變化來得大。由上述可知，在本發(fā)明的實(shí)施例中，子取樣區(qū)域Α1-1、Α1-2所對應(yīng)到垂直入 射角度是依據(jù)導(dǎo)光板246的厚度做調(diào)整，故設(shè)計(jì)者可依據(jù)產(chǎn)品的實(shí)際狀況調(diào)整子取樣區(qū)域 A1-UA1-2的范圍。從另一個角度觀看，本實(shí)施例亦提供一種光學(xué)信息取樣方法，其適于對光學(xué)式觸 控面板200所產(chǎn)生的光學(xué)信息進(jìn)行取樣。請參照圖5B，亦即，對感測組件242的一取樣區(qū)域 A進(jìn)行一信號擷取動作，其中取樣區(qū)域A內(nèi)的像素242a僅對應(yīng)于部分的垂直入射角度α 1 以獲得光學(xué)信息，當(dāng)導(dǎo)光板246未被觸碰時，通過信號擷取動作以擷取出一背景信息Bi，當(dāng) 導(dǎo)光板246被觸碰時，通過信號擷取動作以擷取出一觸控信息Cl (步驟S110)。接著，對背 景信息Bl及觸控信息Cl進(jìn)行積分(步驟S120)。最后，后端電路(例如為觸控信號讀出電 路250)便能根據(jù)積分后的結(jié)果判斷光學(xué)式觸控面板200是否被觸碰。第二實(shí)施例圖6Α為本發(fā)明第二實(shí)施例的感測模塊剖面示意圖，而圖6Β為對應(yīng)圖6Α導(dǎo)光板 346被觸碰之前與之后的光強(qiáng)度曲線圖。圖6Α的導(dǎo)光板346與圖3的導(dǎo)光板246類似，但 二者主要差異之處在于導(dǎo)光板346具有一與觸控面Sl夾一銳角β的出光面S2。另外， 本實(shí)施例中，光源241、感測組件242和觸碰面Sl還夾有一銳角δ。在具有銳角β的出光面S2的架構(gòu)中，為使光線L2在導(dǎo)光板346內(nèi)傳遞時，來回 反射一次所走的水平距離d能夠小于10mm，通常還需針對導(dǎo)光板346厚度做設(shè)計(jì)。而通常 在垂直入射角度α 1接近0處會有較大的光強(qiáng)度變化，至于取樣區(qū)域的范圍則取決于感測 組件242的收光角與感測組件242距出光面S2的距離而定。舉例而言，如圖6Β所示，本實(shí)施例的背景信息Β2與觸控信息C2差異較大的區(qū)域 為取樣區(qū)域Α2。亦即，在垂直入射角度α 1接近0處會有較大的光強(qiáng)度變化，其中本實(shí)施例 的取樣區(qū)域Α2為單一區(qū)域。另外，取樣區(qū)域Α2對應(yīng)到的垂直入射角為0度至85度。由于 本實(shí)例的感測組件242和觸碰面Sl還夾有銳角δ，故取樣區(qū)域Α2并未對稱垂直入射角度 α 1為0處，而是略有偏移。除此之外，在本實(shí)施例中，光源241與感測組件242的排列方式除上下排列外，亦 可是沿垂直紙面的方向呈前后排列。第三實(shí)施例圖7Α為本發(fā)明第三實(shí)施例的感測模塊剖面示意圖，圖7Β為圖7Α中區(qū)域E的局部放大圖，而圖7C為對應(yīng)圖7A導(dǎo)光板446被觸碰之前與之后的光強(qiáng)度曲線圖。請同時參照圖7A與圖7B，本實(shí)施例的導(dǎo)光板446與圖6A的導(dǎo)光板346類似，但二 者主要差異之處在于導(dǎo)光板446具有一與表面S3夾一銳角、的出光面S2。詳細(xì)而言， 部份的出光面S2與表面S3夾銳角Y，且部分的出光面S2與觸控面Sl夾銳角β，而對應(yīng) 此區(qū)域的光源241適于發(fā)射光線L2至導(dǎo)光板446內(nèi)。另一方面，感測組件242前的出光面 S2為一垂直的平面。因此，如圖7C所示，本實(shí)施例的背景信息Β3與觸控信息C3差異較大的區(qū)域?yàn)槿?樣區(qū)域A3，其中取樣區(qū)域A3包括多個彼此不連續(xù)的子取樣區(qū)域Α3-1、Α3-2。在本實(shí)施例 中，由于銳角β與銳角、相同，故子取樣區(qū)域Α3-1、Α3-2所對應(yīng)的光強(qiáng)度變化是對稱于垂 直入射角度為0的縱軸。另外，在另一實(shí)施例中，銳角β與銳角Y亦可不同，而此時子取 樣區(qū)域Α3-1、Α3-2所對應(yīng)的光強(qiáng)度變化便可不對稱于垂直入射角度α 1為0的縱軸。請繼續(xù)參照圖7C，在本實(shí)施中，當(dāng)導(dǎo)光板446的厚度介于0. 5mm至1. 5mm之間時， 取樣區(qū)域A3對應(yīng)到的垂直入射角為10度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域A3-1對應(yīng)到的 垂直入射角為-10度至-85度，而子取樣區(qū)域A3-2對應(yīng)到的垂直入射角為+10度至+85度。 亦即，對應(yīng)垂直入射角為-10度至-85度與+10度至+85度的光強(qiáng)度變化相較于其它垂直 入射角的光強(qiáng)度變化來得大。另外，在其它實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板446的厚度介于1.5mm至2. 5mm之間時，取樣區(qū) 域A3對應(yīng)到的垂直入射角為25度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域A3-1對應(yīng)到的垂直入射 角為-25度至-85度，而子取樣區(qū)域A3-2對應(yīng)到的垂直入射角為+25度至+85度。除此之 外，在另一實(shí)施例中，當(dāng)導(dǎo)光板446的厚度大于2. 5mm時，取樣區(qū)域A3對應(yīng)到的垂直入射角 為45度至85度。詳細(xì)來說，子取樣區(qū)域A3-1對應(yīng)到的的垂直入射角為-45度至-85度， 而子取樣區(qū)域A3-2對應(yīng)到的垂直入射角為+45度至+85度。第四實(shí)施例圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的光學(xué)式觸控面板的剖面示意圖。圖8的光學(xué)式觸控面 板300與圖2的光學(xué)式觸控面板200類似，但二者主要差異之處在于光學(xué)式觸控面板300 為一直下式背光的光學(xué)式觸控面板。請參照圖8，本實(shí)施例的光學(xué)式觸控面板300包括一 觸控面板310、多個感測組件320以及一直下式背光源330。感測組件320配置于觸控面板 310的邊緣，而直下式背光源330配置于觸控面板310下方。直下式背光源330適于提供一可見光L3與一非可見光L4 (例如為紅外光)。當(dāng)使 用者用手指F或觸控筆觸碰觸控面板310的觸控點(diǎn)P2處時，穿過觸控面板310的部分非可 見光L4(即觸控點(diǎn)P2附近的非可見光L4)會被散射，使得光感測組件320在特定的水平入 射角接收到被散射的非可見光L4，以推算出觸控點(diǎn)P2的位置。為了有效且快速地推算出觸控點(diǎn)P2的位置，本實(shí)施亦采用類似于第一實(shí)施例的 光學(xué)信息取樣方法或觸控信息辨識方法以進(jìn)一步判斷觸控點(diǎn)。詳細(xì)來說，當(dāng)觸控面板310 未被觸碰時，感測組件320會通過信號擷取動作以于一取樣區(qū)域擷取出一背景信息，其中 背景信息例如光強(qiáng)度的變化。而由于此時未有光線被散射，故對應(yīng)各個不同入射角度的光 強(qiáng)度變化例如皆為0。另一方面，當(dāng)導(dǎo)光板332被觸碰時，感測組件320會通過信號擷取動 作以擷取出一觸控信息，其中觸控信息例如為多個對應(yīng)不同入射角度的光強(qiáng)度變化。在本 實(shí)施例中，光散射所造成的光強(qiáng)度變化在某個角度例如會大幅增加。接著，后端電路便能對背景信息及觸控信息進(jìn)行積分，以分析二者差異，并依據(jù)積分結(jié)果判斷光學(xué)式觸控面板300 是否被觸碰。詳細(xì)步驟與第一實(shí)施例類似，在此便不加贅述。綜上所述，本發(fā)明的實(shí)施例藉由對感測組件上對應(yīng)光強(qiáng)度變化較大的取樣區(qū)域擷 取背景信息與觸控信息，并對背景信息與觸控信息進(jìn)行積分，故能依據(jù)積分結(jié)果來判斷光 學(xué)式觸控面板是否被觸碰，并有助于光學(xué)式觸控面板的觸控靈敏度的提升。雖然本發(fā)明已以實(shí)施例公開如上，但其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域 的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與修改，故本發(fā)明的保護(hù) 范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種光學(xué)信息取樣方法，適于對一光學(xué)式觸控面板所產(chǎn)生的一光學(xué)信息進(jìn)行取樣，其特征在于，光學(xué)式觸控面板包括一導(dǎo)光板、一光源及一感測組件，該光源提供光線至該導(dǎo)光板中，該感測組件包括多個成陣列排列的像素，排列于各行的像素分別接收來自于該導(dǎo)光板的不同水平入射角度的光線，且排列于同一行的各像素分別接收自于該導(dǎo)光板的不同垂直入射角度的光線，而該光學(xué)信息取樣方法包括對該感測組件的一取樣區(qū)域進(jìn)行一信號擷取動作，其中該取樣區(qū)域內(nèi)的像素僅對應(yīng)于部分的垂直入射角度以獲得該光學(xué)信息，當(dāng)該導(dǎo)光板未被觸碰時，通過該信號擷取動作以擷取出一背景信息，當(dāng)該導(dǎo)光板被觸碰時，通過該信號擷取動作以擷取出一觸控信息；以及對該背景信息及該觸控信息進(jìn)行積分。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該取樣區(qū)域內(nèi)的像素對應(yīng)到 所有的水平入射角度。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該取樣區(qū)域?yàn)橐粏我粎^(qū)域。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該取樣區(qū)域包括多個彼此不 連續(xù)的子取樣區(qū)域，且各該子取樣區(qū)域分別對應(yīng)到不同的垂直入射角度。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該像素排 列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度介于0. 5mm至1. 5mm之間時，該取樣 區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為10度至85度。
6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該像素排 列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度介于1. 5mm至2. 5mm之間時，該取樣 區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為25度至85度。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該像素排 列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度大于2. 5mm時，該取樣區(qū)域?qū)?yīng)到 的垂直入射角為45度至85度。
8.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息取樣方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面夾一銳角的出光面，而該感測組件的該像素排列于一與該觸控面垂直的平面 上，該取樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為0度至85度。
9.一種觸控信息辨識方法，適于判斷一光學(xué)式觸控面板是否被觸碰，其特征在于，光學(xué) 式觸控面板包括一導(dǎo)光板、一光源及一感測組件，該光源提供光線至該導(dǎo)光板中，該感測組 件包括多個成陣列排列的像素，排列于各行的像素分別接收來自于該導(dǎo)光板的不同水平入 射角度的光線，且排列于同一行的各像素分別接收自于該導(dǎo)光板的不同垂直入射角度的光 線，而該觸控信息辨識方法包括對該感測組件的一取樣區(qū)域進(jìn)行一信號擷取動作，其中該取樣區(qū)域內(nèi)的像素僅對應(yīng)于 部分的垂直入射角度以獲得該光學(xué)信息；對該信號擷取動作的結(jié)果進(jìn)行積分；以及根據(jù)積分后的結(jié)果，判斷該光學(xué)式觸控面板是否被觸碰。
10.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該取樣區(qū)域內(nèi)的像素對應(yīng)到所有的水平入射角度。
11.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該取樣區(qū)域?yàn)橐粏我粎^(qū)域。
12.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該取樣區(qū)域包括多個彼此不 連續(xù)的子取樣區(qū)域，且各該子取樣區(qū)域分別對應(yīng)到不同的垂直入射角度。
13.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該些像素 排列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度介于0. 5mm至1. 5mm之間時，該取 樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為10度至85度。
14.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該些像素 排列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度介于1. 5mm至2. 5mm之間時，該取 樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為25度至85度。
15.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面垂直的出光面，該感測組件平行于該出光面配置，而該感測組件的該些像素 排列于一與該觸控面垂直的平面上，且當(dāng)該導(dǎo)光板的厚度大于2. 5mm時，該取樣區(qū)域?qū)?yīng) 到的垂直入射角為45度至85度。
16.如權(quán)利要求9所述的觸控信息辨識方法，其特征在于，該導(dǎo)光板具有一觸控面以及 一與該觸控面夾一銳角的出光面，而該感測組件的該些像素排列于一與該觸控面垂直的平 面上，該取樣區(qū)域?qū)?yīng)到的垂直入射角為0度至85度。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光學(xué)信息取樣方法與觸控信息辨識方法，該取樣方法適于對光學(xué)式觸控面板所產(chǎn)生的光學(xué)信息進(jìn)行取樣。光學(xué)式觸控面板包括導(dǎo)光板、光源及感測組件。感測組件包括多個成陣列排列的像素。排列于各行的像素分別接收來自于導(dǎo)光板的不同水平入射角度的光線。排列于同一行的各像素分別接收自于導(dǎo)光板的不同垂直入射角度的光線。光學(xué)信息取樣方法包括對感測組件的取樣區(qū)域進(jìn)行信號擷取動作，其中取樣區(qū)域內(nèi)的像素僅對應(yīng)于部分的垂直入射角度以獲得光學(xué)信息。當(dāng)導(dǎo)光板未被觸碰與被觸碰時，通過信號擷取動作擷取出背景信息與觸控信息，并對背景信息及觸控信息進(jìn)行積分。
文檔編號G06F3/042GK101887331SQ20101022585
公開日2010年11月17日 申請日期2010年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月9日
發(fā)明者張維典, 簡智偉, 蔡卲瑜 申請人:友達(dá)光電股份有限公司