專利名稱：Cpu電源測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種中央處理器(CPU)測試系統(tǒng)，且特別涉及一種中央處理器的電源測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前，隨著計算機(jī)硬件集成技術(shù)的飛速發(fā)展，計算機(jī)的核心部件，如主板、中央處理器(Central Processing Uint ；CPU)的功能日趨精細(xì)復(fù)雜，而主板與CPU在出廠前都應(yīng)經(jīng)過相應(yīng)的檢測工序，以測試其品質(zhì)是否完好。傳統(tǒng)的主板與CPU測試方法，是將CPU置入主板，然后放入測試工站通電測試，從而直接測試CPU的運行狀況。而測試工站中給主板與CPU通電，與CPU實際工作情形會出現(xiàn)一些差異。也即當(dāng)CPU置入主板中進(jìn)行測試時，會出現(xiàn)一些異常情況，如因電源異常變大， 測試電路短路等而導(dǎo)致CPU燒毀。然而，CPU的制造成本較高，由于測試中的異常情形導(dǎo)致 CPU燒毀，則造成諸多不必要的損失。由此，有必要提出一種新的CPU測試系統(tǒng)，可在測試CPU時及時檢測其電壓狀態(tài)， 從而既可對主板與CPU的功能進(jìn)行測試，又能即時獲知CPU的電源狀況，避免CPU因意外狀況燒毀，從而解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的首要目的，在于提出一種CPU電源測試系統(tǒng)，可在測試時既能及時測知CPU的電壓狀態(tài)，又可避免CPU被燒毀。根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提出了一種CPU電源測試系統(tǒng)，信號轉(zhuǎn)換模塊，電性連接所述CPU，用于分別將所述CPU上的多路電源電壓值轉(zhuǎn)換為多個數(shù)字信號，并輸出所述多個數(shù)字信號及一時鐘信號，包括電源端，用于提供所述信號轉(zhuǎn)換模塊的工作電壓；多個輸入端，每一輸入端電性連接所述CPU的一路電源電壓；時鐘輸出端，用于輸出所述時鐘信號；以及信號輸出端，用于串行輸出與所述CPU的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號；以及連接模塊，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述時鐘信號串行輸出與所述CPU的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號。由此，通過本發(fā)明的CPU電源測試系統(tǒng)，可在測試CPU功能的同時及時測得CPU的電壓狀態(tài)，防止CPU在測試中燒毀。


為讓本發(fā)明上述目的和其它特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的詳細(xì)說明如下圖1是本發(fā)明一實施例中CPU測試背板的結(jié)構(gòu)模擬圖；圖2是本發(fā)明另一實施例中CPU電源測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)方框圖；及圖3是圖2所示的CPU電源測試系統(tǒng)的電路圖。
主要組件符號說明100:CPU 測試背板200:電壓轉(zhuǎn)換模塊202:信號轉(zhuǎn)換模塊204:連接模塊
6信號輸出端
7時鐘輸出端
1 4 輸入端 5 電源端8:接地端
具體實施例方式請參閱圖1，所示為本發(fā)明一個實施例中，中央處理器(Central ProcessingUnit ； CPU)電源測試系統(tǒng)的CPU測試背板100，以及所述CPU測試背板100模擬給所述CPU多路電壓輸入電壓值的示意圖。通常地，在對主板以及CPU進(jìn)行測試時，需要給所述主板及CPU通電，以使所述CPU 運行，從而測試所述CPU的功能。在本實施例中，為了實現(xiàn)模擬給CPU通電，則通過設(shè)計一個模擬的CPU測試背板100，給所述CPU的多路電壓通電。在本實施例中，所述CPU測試背板100以所述CPU的球柵陣列結(jié)構(gòu)封裝(Ball Grid Array Package ；BGA Package)為模板，亦即設(shè)計一個模擬CPU的基板，其中所述CPU測試背板100的輸入/輸出引腳的定義值按照待測的CPU的電源與接地引腳予以定義。一般地，當(dāng)CPU工作時，按照CPU的引腳定義，CPU的各個電壓值一般定義為VCC、 VTT、DDR3低電壓以及高電壓。在本實施例中，將這些電壓分別定義如下高電壓為第一電壓、DDR3低電壓為第二電壓、VTT為第三電壓、VCC為第四電壓，所述第一電壓、第二電壓、 第三電壓以及第四電壓分別具有第一電壓值、第二電壓值、第三電壓值以及第四電壓值。在其他實施例中，對待測CPU引腳的定義可根據(jù)所述CPU的實際規(guī)格予以定義，其引腳電壓與參數(shù)也可予以改變。但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)了解，本實施例中所列舉的第一電壓、第二電壓、第三電壓以及第四電壓僅為方便本發(fā)明闡述只用，而并不作為對本發(fā)明的任何限制。
當(dāng)CPU需正常運行時，即設(shè)定CPU高電壓為1. 8伏特，亦即第一電壓值為1. 8伏特； CPU的DDR3低電壓的電壓值為1.5伏特，亦即第二電壓值為1.5伏特；VTT為CPU的參考電壓，一般為1. 5至2. 5伏特，亦即第三電壓值為1. 5 2. 5伏特；以及VCC為CPU的上電工作電壓，一般為5伏特以下，亦即第四電壓值一般為5伏特以下。在本實施例中，通過向所述CPU的引腳分別輸入一電壓值信號，以便模擬所述CPU 工作狀態(tài)。也即向所述CPU測試背板100上固定的引腳分別輸入所述電壓值。在本實施例中，將需測試的引腳分別定義為第一路、第二路、第三路以及第四路，分別接收所述第一電壓值、第二電壓值、第三電壓值以及第四電壓值。其中所述第一路、第二路、第三路以及第四路可以是單個引腳，也可是一組引腳(包括一個或一個以上引腳)，用于同時接收所述相同的一路電壓值。其中所述引腳為單個引腳或是一組引腳，這取決于待測CPU的規(guī)格以及其引腳定義參數(shù)規(guī)格，在本實施例中，不予以一一舉例說明。由此，即通過所述CPU測試背板 100，模擬給所述CPU的不同引腳通電，以使所述主板電源啟動。在本實施例中，所述電壓值信號可以是模擬信號，也可是數(shù)字信號，還可以是通過其他軟件驅(qū)動的方式實現(xiàn)。請參閱圖2，所示為本發(fā)明又一實施例中CPU電源測試系統(tǒng)的方框示意圖。在本實施例中，CPU電源測試系統(tǒng)包括一 CPU測試背板100、一電壓轉(zhuǎn)換模塊200、一信號轉(zhuǎn)換模塊202以及一連接模塊204，其中電壓轉(zhuǎn)換模塊200電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊202以及所述連接模塊204，用于通過所述連接模塊204接收一外部電壓，并輸出第一工作電壓，以供所述信號轉(zhuǎn)換模塊工作。信號轉(zhuǎn)換模塊202電性連接所述CPU測試背板100，用于接收所述多路電壓值，將多路電壓值分別轉(zhuǎn)換為多個數(shù)字信號，并輸出所述多個數(shù)字信號及一時鐘信號。連接模塊204，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊202，用于根據(jù)所述時鐘信號串行輸出所述多個數(shù)字信號。在本實施例中，由于所述CPU測試背板100上無法提供其他電壓值，則電壓轉(zhuǎn)換模塊200用于通過連接模塊204接收一外部電壓，并將所述外部電壓轉(zhuǎn)換為工作電壓，以供所述CPU電源測試系統(tǒng)工作。所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200可以是一個電壓調(diào)節(jié)器，如恒電流/恒電位儀等；在本實施例中，所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200為一個AMEL 1117型恒電流/恒電位儀。 在其他實施例中，所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200還可以是其他交流/直流電壓轉(zhuǎn)換器，或是其他類型的恒電流/恒電位儀等。在本實施例中，信號轉(zhuǎn)換模塊202電性連接所述CPU測試背板100，用于接收所述 CPU多路電壓的多路電壓值，并將所述CPU的多路電壓值分別轉(zhuǎn)換為多個對應(yīng)的數(shù)字信號， 并輸出至所述連接模塊204。同時，信號轉(zhuǎn)換模塊202還輸出一時鐘信號，用于控制所述多個數(shù)字信號的輸出。在本實施例中，所述信號轉(zhuǎn)換模塊202無法自行工作，而所述CPU測試背板100上也無法提供所述信號轉(zhuǎn)換模塊200的工作電壓，因此，信號轉(zhuǎn)換模塊202還電性連接所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200，用于接收所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200所輸出的第一工作電壓，并根據(jù)所述工作電壓運行。連接模塊204電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊202，用于接收所述信號轉(zhuǎn)換模塊202所輸出的多個數(shù)字信號，以及所述時鐘信號，并根據(jù)所述時鐘信號將所述多個數(shù)字信號串行輸出至一測試模塊(圖中未繪示)，所述測試模塊則根據(jù)所述時鐘信號以及所述多個數(shù)字信號判斷所述CPU的所述多路電壓的電壓值是否正常。請參閱圖3，所示為圖2所示的CPU電源測試系統(tǒng)的電路示意圖。在本實施例中， 所述CPU電源測試系統(tǒng)還包括多個分壓電阻，電性連接于所述CPU測試背板上CPU的多路電壓以及所述信號轉(zhuǎn)換模塊202之間，用于作為所述CPU電源測試系統(tǒng)中CPU的模擬負(fù)載， 從而即可保證所述CPU電源的工作負(fù)荷，又可在所述測試系統(tǒng)中發(fā)生短路等不良情形時， 因電流過大導(dǎo)致CPU燒毀的情形。在本實施例中，根據(jù)CPU測試背板100上對CPU引腳的定義，將需測試的引腳分別定義為第一路、第二路、第三路以及第四路，分別接收所述第一電壓值、第二電壓值、第三電壓值以及第四電壓值。其中所述第一路、第二路、第三路以及第四路可以是單個引腳，也可是一組引腳(包括一個或一個以上引腳)，用于同時接收所述相同的一電壓值。因此，在本實施例中，將所述CPU的第一路定義為接收第一電壓值，第二路定義為接收第二電壓值，第三路定義為接收第三電壓值，第四路定義為接收第四電壓值。相應(yīng)的，在本實施例中，所述CPU電源測試系統(tǒng)包括至少四個電阻，RU R2、R3以及R4，分別電性連接于所述CPU的第一路、第二路、第三路、第四路與所述信號轉(zhuǎn)換模塊202 之間。其中所述電阻Rl R4的阻值可依據(jù)具體需求予以設(shè)定。在本實施例中，所述電阻 Rl R4為功率型電阻，用于分別對所述第一電壓值、第二電壓值、第三電壓值以及第四電壓值進(jìn)行分壓。且電阻Rl R4分別實現(xiàn)10%的模擬負(fù)載。在本實施例中，電阻Rl R4分別實現(xiàn)對第一電壓值至第四電壓值實現(xiàn)10%的模擬負(fù)載，亦即保證所述CPU的VCC的電壓值負(fù)載電流為10安培(A)，所述CPU的VTT電流為3A，所述DDR3低電壓值的負(fù)載電流為 IOA0在本實施例中，通過所述分壓電阻Rl R4實現(xiàn)模擬負(fù)載，既可給所述CPU提供一定的工作負(fù)荷，又可防止當(dāng)所述CPU電源測試系統(tǒng)出現(xiàn)短路，電壓或電流值突然升高等情形導(dǎo)致CPU損毀的狀況。 所述信號轉(zhuǎn)換模塊202包括多個輸入端，分別電性連接所述分壓電阻Rl R4。所述信號轉(zhuǎn)換模塊202包括至少四個輸入端，對應(yīng)連接所述分壓電阻Rl R4，用于分別接收所述第一電壓值、第二電壓值、第三電壓值以及第四電壓值，并將所述多路電壓值分別轉(zhuǎn)換為第一數(shù)字信號、第二數(shù)字信號、第三數(shù)字信號以及第四數(shù)字信號。在本實施例中，信號轉(zhuǎn)換模塊202包括第一輸入端1、第二輸入端2、第三輸入端3以及第四輸入端4。其中第一輸入端1電性連接電阻Rl，第二輸入端2電性連接電阻R2，第三輸入端3電性連接電阻R3，第四輸入端4電性連接電阻R4。通過電阻Rl模擬10%的負(fù)載，則第一輸入端1的負(fù)載電流為IOA ；通過電阻R2模擬10%的負(fù)載，則第二輸入端2的負(fù)載電流為IOA ；通過電阻R3模擬10%的負(fù)載，則第三輸入端3的負(fù)載電流為3A ；通過電阻R4模擬10%的負(fù)載，則第四輸入端4的負(fù)載電流為10A。通過模擬所述10%的負(fù)載，既可以保證所述CPU的工作負(fù)荷，又可以防止主板出現(xiàn)短路等不良情形導(dǎo)致所述CPU電源測試系統(tǒng)損毀。
信號轉(zhuǎn)換模塊202是一個模擬/數(shù)字信號轉(zhuǎn)換器，即A/D轉(zhuǎn)換器，用于將模擬的電壓信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并可串行輸出所述數(shù)字信號。在本實施例中，信號轉(zhuǎn)換模塊202是一個MAX1037型A/D轉(zhuǎn)換器，工作電壓為2. 7 3. 6伏特，且由于所述CPU測試背板無法提供所述MAX1037型A/D轉(zhuǎn)換器的工作電壓，則需通過電壓轉(zhuǎn)換模塊200接收一外部電壓，所述外部電壓為5伏特。在本實施例中，由于A/D轉(zhuǎn)換器所需的工作電壓為2. 7 3. 6伏特， 而所述外部電壓為5伏特，則所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200用于接收所述5伏特的外部電壓，并將所述5伏特的外部電壓轉(zhuǎn)換為3. 3伏特的第一工作電壓，輸出至所述信號轉(zhuǎn)換模塊202，以提供所述信號轉(zhuǎn)換模塊202的工作電壓。在信號轉(zhuǎn)換模塊202中，包括一個電源端5，電性連接所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200，用于接收所述電壓值為3. 3伏特的第一工作電壓。信號轉(zhuǎn)換模塊202根據(jù)所述第一工作工作電壓進(jìn)行工作，分別將所述第一電壓值轉(zhuǎn)換為第一數(shù)字信號、將第二電壓值轉(zhuǎn)換為第二數(shù)字信號、將第三電壓值轉(zhuǎn)換為第三數(shù)字信號，將第四電壓值轉(zhuǎn)換為第四數(shù)字信號，并通過信號輸出端6輸出所述第一數(shù)字信號、第二數(shù)字信號、第三數(shù)字信號以及第四數(shù)字信號。所述第一數(shù)字信號、第二數(shù)字信號、第三數(shù)字信號以及第四數(shù)字信號可通過1、0及其組合表示，在本實施例中，定義當(dāng)所述CPU電壓值為高電平電壓時，將所述CPU電壓值轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號1 ；當(dāng)所述CPU電壓值為低電平電壓時，將所述CPU電壓值轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號0，所述數(shù)字信號可通過所述信號輸出端6串行輸出。 此外，信號轉(zhuǎn)換模塊202還產(chǎn)生一時鐘信號，所述時鐘信號用于控制所述串行輸出所述第一數(shù)字信號、第二數(shù)字信號、第三數(shù)字信號以及第四數(shù)字信號的時鐘周期。所述時鐘信號可通過該信號轉(zhuǎn)換模塊的時鐘輸出端7輸出。在本實施例中，信號轉(zhuǎn)換模塊202還包括一個接地端8，用于接地，以便所述信號轉(zhuǎn)換模塊202可形成完整的電路結(jié)構(gòu)。連接模塊204包括多個輸入/輸入(I/O)端口，分別電性連接所述電壓轉(zhuǎn)換模塊 200以及所述信號轉(zhuǎn)換模塊202。在本實施例中，連接模塊204的第一 I/O端口電性連接所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200，用于接收所述電壓轉(zhuǎn)換模塊200向所述連接模塊204提供的第二工作電壓。連接模塊204為一連接器，其所需工作電壓為5伏特，由此，電壓轉(zhuǎn)換模塊200向連接模塊204傳輸?shù)牡诙ぷ麟妷旱碾妷褐禐?伏特。連接模塊204還包括第二 I/O端口，電性連接信號轉(zhuǎn)換模塊202的信號輸出端6，用于傳輸所述串行輸出的第一數(shù)字信號、第二數(shù)字信號、第三數(shù)字信號以及第四數(shù)字信號。連接模塊204還包括第三I/O端口，電性連接信號轉(zhuǎn)換模塊202的時鐘輸出端7，用于傳輸所述時鐘信號。在本實施例中，該連接模塊204 還包括第四I/O端口，用于接地。連接模塊204還將所述串行輸出的所述多個數(shù)字信號以及所述時鐘信號輸出至一測試模塊(圖中未繪示)，以便所述測試模塊根據(jù)所述多個數(shù)字信號以及所述時鐘信號判斷所述CPU的電壓值是否正常。在本實施例中，所述測試模塊為一計算機(jī)，可向所述CPU 電源測試系統(tǒng)提供所述工作電壓，并可進(jìn)行信號分析，從而根據(jù)所述多個數(shù)字信號以及所述時鐘信號判斷所述CPU電壓值是否處于正常范圍。由此，通過本發(fā)明的CPU電源測試系統(tǒng)，可在測試CPU功能的同時及時測得CPU的電壓狀態(tài)，防止CPU在測試中燒毀。雖然本發(fā)明已通過實施方式揭露如上，但并非用來限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可對本發(fā)明作出各種變更與修飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種CPU電源測試系統(tǒng)，可用于測試所述CPU上的多路電源電壓，其特征在于，所述 CPU電源測試系統(tǒng)包括信號轉(zhuǎn)換模塊，電性連接所述CPU，用于分別將所述CPU上的多路電源電壓值轉(zhuǎn)換為多個數(shù)字信號，并輸出所述多個數(shù)字信號及一時鐘信號，包括 電源端，用于提供所述信號轉(zhuǎn)換模塊的工作電壓；多個輸入端，每一輸入端電性連接所述CPU的一路電源電壓；時鐘輸出端，用于輸出所述時鐘信號；以及信號輸出端，用于串行輸出與所述CPU的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號；以及連接模塊，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述時鐘信號串行輸出與所述CPU 的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CPU電源測試系統(tǒng)還包括CPU測試背板，用于模擬給所述CPU提供所述多路電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CPU電源測試系統(tǒng)還包括電壓轉(zhuǎn)換模塊，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊以及所述連接模塊，用于通過所述連接模塊接收一外部電壓，并輸出第一工作電壓至所述電源端，以供所述信號轉(zhuǎn)換模塊工作。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CPU電源測試系統(tǒng)還包括測試模塊，電性連接所述連接模塊，用于根據(jù)所接收的所述時鐘信號及所述多個數(shù)字信號分析所述CPU的所述多路電壓值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CPU電源測試系統(tǒng)還包括多個電阻，分別電性連接于所述信號轉(zhuǎn)換模塊的所述輸入端與所述CPU的多路電源電壓之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述多個電阻為功率型電阻。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述連接模塊包括第一輸入/輸出端，電性連接所述電壓調(diào)節(jié)器的電壓輸入端，用于接收所述外部電壓；以及第二輸入/輸出端，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊的信號輸出端，用于將所述多個數(shù)字信號傳送至所述測試終端；以及第三輸入/輸出端，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊的時鐘輸出端，用于傳輸所述時鐘信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電壓轉(zhuǎn)換模塊為一電壓調(diào)節(jié)器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CPU電源測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)換模塊為一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊。
全文摘要
一種CPU電源測試系統(tǒng)，用于CPU的測試中，包括信號轉(zhuǎn)換模塊，電性連接所述CPU，用于分別將所述CPU上的多路電源電壓值轉(zhuǎn)換為多個數(shù)字信號，并輸出所述多個數(shù)字信號及一時鐘信號，包括電源端，用于提供所述信號轉(zhuǎn)換模塊的工作電壓；多個輸入端，每一輸入端電性連接所述CPU的一路電源電壓；時鐘輸出端，用于輸出所述時鐘信號；以及信號輸出端，用于串行輸出與所述CPU的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號；以及連接模塊，電性連接所述信號轉(zhuǎn)換模塊，用于根據(jù)所述時鐘信號串行輸出與所述CPU的多路電源電壓相對應(yīng)的多個數(shù)字信號。本發(fā)明的CPU電源測試系統(tǒng)可及時測得CPU的電壓狀態(tài)，防止CPU在測試中燒毀。
文檔編號G06F11/22GK102346701SQ201010249340
公開日2012年2月8日 申請日期2010年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月2日
發(fā)明者范文綱, 蔡育生 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司