專利名稱：測試完整性控制系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種控制測試流程的系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種測試完整性控制系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
電子設(shè)備(例如主板)的測試經(jīng)常包含眾多的測試項(例如內(nèi)存測試、CPU測試、 南橋測試、北橋測試等)。在測試電子設(shè)備時，測試員容易改變測試流程而少測一些測試項， 因而存在測試結(jié)果不可靠的風(fēng)險。例如，在DOS系統(tǒng)下測試電子設(shè)備時，由于DOS系統(tǒng)對文件保護較弱，測試員很容易修改控制測試流程的批處理文件來少測一些測試項。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測試完整性控制系統(tǒng)，能夠加強測試流程的完整性。此外，還有必要提供一種測試完整性控制方法，能夠加強測試流程的完整性。一種測試完整性控制系統(tǒng)，運行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對電子設(shè)備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區(qū)，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)寫入所述FRU存儲區(qū)中，所述測試控制數(shù)據(jù)包括測試位與標(biāo)志位，每個測試位對應(yīng)于電子設(shè)備的一個測試項；測試模塊，用于從FRU存儲區(qū)讀取測試控制數(shù)據(jù)并根據(jù)測試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測試項進行測試，對于每一個選擇的測試項，判斷該選擇的測試項是否測試成功，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測試項對應(yīng)的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同；及輸出模塊，用于在測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同時，輸出電子設(shè)備測試通過的測試結(jié)果，在測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位相同，或者選擇的測試項測試失敗時，輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果。一種測試完整性控制方法，執(zhí)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對電子設(shè)備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區(qū)，該方法包括步驟 構(gòu)建電子設(shè)備的測試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)寫入FRU存儲區(qū)中，所述測試控制數(shù)據(jù)包括測試位與標(biāo)志位，每個測試位對應(yīng)于電子設(shè)備的一個測試項；從FRU存儲區(qū)讀取測試控制數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試控制數(shù)據(jù)選擇電子設(shè)備的一個測試項進行測試；判斷該選擇的測試項是否測試成功；若該選擇的測試項測試失敗，則輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果，否則，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測試項對應(yīng)的測試位取反；判斷是否有其他的測試項，若有其他的測試項，返回選擇電子設(shè)備的一個測試項進行測試的步驟；若所有的測試項測試完畢，將測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同；若測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同，輸出電子設(shè)備測試通過的測試結(jié)果；及若測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位相同，則輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果。本發(fā)明構(gòu)建測試控制數(shù)據(jù)并將測試控制數(shù)據(jù)寫入主板管理控制器的FRU存儲區(qū)中，測試員難以獲得與修改該測試控制數(shù)據(jù)，加強了測試流程的完整性。


圖1為本發(fā)明測試完整性控制系統(tǒng)較佳實施例的應(yīng)用環(huán)境示意圖。圖2為圖1中測試完整性控制系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3為本發(fā)明測試完整性控制方法較佳實施例的流程圖。圖4為構(gòu)建的用于主板測試的測試控制數(shù)據(jù)的示意圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種測試完整性控制系統(tǒng)，運行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對電子設(shè)備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區(qū)，其特征在于，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)寫入所述FRU 存儲區(qū)中，所述測試控制數(shù)據(jù)包括測試位與標(biāo)志位，每個測試位對應(yīng)于電子設(shè)備的一個測試項；測試模塊，用于從FRU存儲區(qū)讀取測試控制數(shù)據(jù)并根據(jù)測試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測試項進行測試，對于每一個選擇的測試項，判斷該選擇的測試項是否測試成功，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測試項對應(yīng)的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同；及輸出模塊，用于在測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同時，輸出電子設(shè)備測試通過的測試結(jié)果；所述輸出模塊，還用于在測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位相同，或者選擇的測試項測試失敗時，輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的測試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測試位不全為1也不全為0。
3.如權(quán)利要求1所述的測試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制數(shù)據(jù)中各個測試位按照相應(yīng)測試項的測試順序排列，標(biāo)志位位于測試位之間。
4.如權(quán)利要求3所述的測試完整性控制系統(tǒng)，其特征在于，所述測試模塊按照測試項的測試順序逐一選擇測試項進行測試。
5.一種測試完整性控制方法，執(zhí)行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，用于對電子設(shè)備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區(qū)，其特征在于，該方法包括步驟構(gòu)建電子設(shè)備的測試控制數(shù)據(jù)并將構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)寫入FRU存儲區(qū)中，所述測試控制數(shù)據(jù)包括測試位與標(biāo)志位，每個測試位對應(yīng)于電子設(shè)備的一個測試項；從FRU存儲區(qū)讀取測試控制數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試控制數(shù)據(jù)選擇電子設(shè)備的一個測試項進行測試；判斷該選擇的測試項是否測試成功；若該選擇的測試項測試失敗，則輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果，否則，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測試項對應(yīng)的測試位取反；判斷是否有其他的測試項，若有其他的測試項，返回選擇電子設(shè)備的一個測試項進行測試的步驟；若所有的測試項測試完畢，將測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)相比較，判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，以及判斷測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位是否與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同；若測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位相同，并且測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中每個測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位不同，輸出電子設(shè)備測試通過的測試結(jié)果；及若測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有標(biāo)志位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)標(biāo)志位不同，或者測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)中有測試位與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)中對應(yīng)測試位相同，則輸出電子設(shè)備測試未通過的測試結(jié)果。
6.如權(quán)利要求5所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述測試位不全為1也不全為0。
7.如權(quán)利要求5所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述測試控制數(shù)據(jù)中各個測試位按照相應(yīng)測試項的測試順序排列，標(biāo)志位位于測試位之間。
8.如權(quán)利要求7所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述選擇電子設(shè)備的一個測試項進行測試的步驟中按照測試項的測試順序選擇測試項。
全文摘要
一種測試完整性控制系統(tǒng)，運行于具有主板管理控制器的數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，所述主板管理控制器包括FRU存儲區(qū)，該系統(tǒng)包括構(gòu)建模塊，用于構(gòu)建電子設(shè)備的測試控制數(shù)據(jù)并寫入所述FRU存儲區(qū)中，所述測試控制數(shù)據(jù)包括測試位與標(biāo)志位；測試模塊，用于根據(jù)測試控制數(shù)據(jù)逐一選擇電子設(shè)備的測試項進行測試，若選擇的測試項測試成功，則將測試控制數(shù)據(jù)中該選擇的測試項對應(yīng)的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發(fā)生改變的測試控制數(shù)據(jù)與初始構(gòu)建的測試控制數(shù)據(jù)相比較；及輸出模塊，用于根據(jù)比較結(jié)果輸出電子設(shè)備測試的測試結(jié)果。本發(fā)明還提供一種測試完整性控制方法。本發(fā)明能夠加強測試流程的完整性。
文檔編號G06F11/22GK102375769SQ20101026371
公開日2012年3月14日 申請日期2010年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月26日
發(fā)明者唐新橋, 鐘陽 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司