專(zhuān)利名稱(chēng)：在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，尤其涉及一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法。
背景技術(shù)：
目前市面上的在線測(cè)試裝置(In Circuit Test, ICT)只能對(duì)主板上的7168個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，而目前已經(jīng)有部分主板需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)已經(jīng)超過(guò)此數(shù)目，因此，需要用到2臺(tái)ICT裝置來(lái)進(jìn)行主板的測(cè)試，但用2臺(tái)ICT裝置測(cè)試時(shí)通過(guò)選點(diǎn)軟件(例如Febmaster軟件)去選擇測(cè)試點(diǎn)，則容易對(duì)已進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)重復(fù)選擇或?qū)δ承┪催M(jìn)行測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)遺漏，不僅耗時(shí)，而且容易出現(xiàn)漏掉測(cè)試點(diǎn)或重復(fù)選擇測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的情況。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，其主要對(duì)待測(cè)試的主板進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，其中，該系統(tǒng)主要包括選點(diǎn)模塊、輸入模塊、處理模塊以及導(dǎo)入模塊。其中，所述選點(diǎn)模塊根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；所述輸入模塊根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；所述處理模塊根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；所述導(dǎo)入模塊，將生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔導(dǎo)入選點(diǎn)模塊，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。較佳的，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)，其中，所述處理模塊主要包括測(cè)試單元及生成單元，所述測(cè)試單元用以根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，所述生成單元用以對(duì)未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔。又，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)方法，其主要對(duì)待測(cè)試的主板的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，其中，該方法主要包括以下步驟a.根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；b.根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；c.根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；以及d.導(dǎo)入生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)相較于先前技術(shù)，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，不僅節(jié)省了時(shí)間，而且不容易出現(xiàn)漏掉測(cè)試點(diǎn)或重復(fù)選擇測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的情況，利用最少的探針達(dá)到最大測(cè)試覆蓋率。


圖1為本發(fā)明的模塊示意2為本發(fā)明的流程示意圖
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參考圖1及圖2所示，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，其主要對(duì)待測(cè)試的主板進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試。其中，所述在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)主要包括選點(diǎn)模塊101、輸入模塊102、處理模塊103以及導(dǎo)入模塊104。所述選點(diǎn)模塊101根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；所述輸入模塊102根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；所述處理模塊103根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔，于本實(shí)施例中，該處理模塊103包括測(cè)試單元1031及生成單元1032，所述測(cè)試單元1031用以根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，所述生成單元1032用以對(duì)未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；所述導(dǎo)入模塊104，將生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔導(dǎo)入選點(diǎn)模塊101，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。又，再請(qǐng)參考圖2所示，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)方法，其主要對(duì)待測(cè)試的主板的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，其中，該方法主要包括以下步驟步驟201.根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；步驟202.根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；步驟203.根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；以及步驟204.導(dǎo)入生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)相較于先前技術(shù)，本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，不僅節(jié)省了時(shí)間，而且不容易出現(xiàn)漏掉測(cè)試點(diǎn)或重復(fù)選擇測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的情況，利用最少的探針達(dá)到最大測(cè)試覆蓋率。
權(quán)利要求
1.一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)，其主要對(duì)待測(cè)試的主板進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試，其特征在于，該系統(tǒng)主要包括選點(diǎn)模塊，根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；輸入模塊，根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；處理模塊，根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；以及導(dǎo)入模塊，將生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔導(dǎo)入選點(diǎn)模塊，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)，其特征在于，所述處理模塊主要包括測(cè)試單元及生成單元，所述測(cè)試單元用以根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，所述生成單元用以對(duì)未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔。
3.—種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)方法，其主要對(duì)待測(cè)試的主板的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，該方法主要包括以下步驟a.根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；b.根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；c.根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；以及d.導(dǎo)入生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種在線測(cè)試裝置自動(dòng)分點(diǎn)系統(tǒng)及其方法，該系統(tǒng)主要包括選點(diǎn)模塊、輸入模塊、處理模塊以及導(dǎo)入模塊，該方法主要包括以下步驟a.根據(jù)待測(cè)試的主板特性選擇主板的所有的測(cè)試點(diǎn)；b.根據(jù)測(cè)試覆蓋率的需求輸入待測(cè)試的元件點(diǎn)清單、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單；c.根據(jù)元件點(diǎn)清單及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單對(duì)待測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試處理，將未測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行處理以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔；以及d.導(dǎo)入生成的未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔，以生成未測(cè)試點(diǎn)信息的文檔、元件點(diǎn)清單以及網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)清單，再進(jìn)行測(cè)試處理，從而覆蓋所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。本發(fā)明不僅節(jié)省了時(shí)間，而且不容易出現(xiàn)漏掉測(cè)試點(diǎn)或重復(fù)選擇測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的情況，利用最少的探針達(dá)到最大測(cè)試覆蓋率。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102567152SQ20101060643
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2010年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月27日
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