專利名稱：：用于檢測聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀的近迫性分析故障的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明總體上涉及對聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀中的近迫性(impending)分析故障的檢測。
背景技術(shù)：
：自動分析儀是臨床實驗室中的標(biāo)準(zhǔn)裝置。過去常常需要大量人工參與的測定，現(xiàn)在大多這樣處理將樣本裝載到分析儀中，對分析儀編程以進(jìn)行所需測試，并等待結(jié)果。所用分析儀和方法的范圍較為廣泛。一些例子包括諸如終點反應(yīng)分析和反應(yīng)速率分析之類的分光光度吸光度測定、比濁測定、濁度測定、散射能量衰減測定(例如美國專利No.4，496，293和No.4，743，561中描述的那些，其以引用方式并入本文中)、離子捕獲測定、比色測定、熒光測定、電化學(xué)檢測系統(tǒng)、電勢檢測系統(tǒng)和免疫測定。這些技術(shù)的部分或全部可通過利用典型濕式化學(xué)法；離子選擇性電極分析法(ISE)；薄膜型干式化學(xué)法；珠管形式或微量滴定板；以及采用磁性顆粒來實現(xiàn)。美國專利No.5，885，530提供的描述有助于理解以珠管形式進(jìn)行免疫測定的典型自動分析儀的操作，該專利以引用方式并入本文中。不言而喻，診斷臨床分析儀正在變成越來越復(fù)雜的機(jī)電式裝置。除了單獨的干式化學(xué)系統(tǒng)和單獨的濕式化學(xué)系統(tǒng)之外，包括這兩種類型的分析法的集成裝置已得到商業(yè)應(yīng)用。在這些所謂的組合式臨床分析儀中，多個干式化學(xué)系統(tǒng)和濕式化學(xué)系統(tǒng)(例如)可設(shè)置在整裝殼體內(nèi)。作為另外一種選擇，多個濕式化學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置在整裝殼體內(nèi)，或者多個干式化學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置在整裝殼體內(nèi)。此外，如果證明有操作優(yōu)點，類似系統(tǒng)(例如，濕式化學(xué)系統(tǒng)或干式化學(xué)系統(tǒng))可集成，使得一個系統(tǒng)可使用另一系統(tǒng)的資源。上述每一化學(xué)系統(tǒng)就其操作而言是獨特的。例如，已知的干式化學(xué)系統(tǒng)通常包括樣本供給源、包括多個干燥載片的試劑供給源、計量/傳送機(jī)構(gòu)以及具有多個測讀臺的培養(yǎng)箱。利用吸管或探針將一定量的樣本吸入計量尖頭中，其由可移動計量車沿著傳送導(dǎo)軌輸送。一定量的樣本然后從尖頭計量地供給(分配)到置入培養(yǎng)箱內(nèi)的干燥載片上。對載片進(jìn)行溫育，然后進(jìn)行測量，如進(jìn)行光學(xué)讀數(shù)或其他讀數(shù)，以檢測分析物的存在或濃度。應(yīng)注意到，對于干式化學(xué)系統(tǒng)而言，不需要給置入的患者樣本添加試劑。另一方面，濕式化學(xué)系統(tǒng)使用諸如小杯的反應(yīng)容器，大量患者樣本、至少一種試劑流體和/或其他流體被混合加入該反應(yīng)容器中，以進(jìn)行測定。該試驗樣本也進(jìn)行溫育，并進(jìn)行測試以檢測出分析物。這種濕式化學(xué)系統(tǒng)也包括計量機(jī)構(gòu)，將患者樣本流體從樣本供給源傳送到反應(yīng)容器。不管這一系列不同的分析儀類型和測定方法如何，大多數(shù)分析儀具有若干共同的特性和設(shè)計特征。顯然，一些測量在樣本上進(jìn)行。這要求樣本以適合于測量方法的形式放置。因此，大多數(shù)分析儀中設(shè)有樣本操縱系統(tǒng)或機(jī)構(gòu)。在濕式化學(xué)裝置中，樣本通常置于分析儀的樣本容器(例如杯或管)中，以使得等分試樣可分散至反應(yīng)小杯或一些其他反應(yīng)容器。使用適當(dāng)?shù)牧黧w輸送裝置(例如，泵、閥、諸如管子和管材的液體輸送線)并通過壓力或真空來驅(qū)動的探針或吸管，常?？捎糜趯㈩A(yù)定量的樣本從樣本容器計量并輸送至反應(yīng)容器。通常還需要用該樣本探針或吸管或另一種探針或吸管來將稀釋劑遞送至反應(yīng)容器，尤其是當(dāng)樣本中預(yù)期或發(fā)現(xiàn)有相對大量的分析物時。一般需要洗滌溶液和洗滌過程，以清潔非一次性的計量探針。同樣，流體輸送裝置是必要的，以精確地計量和遞送洗滌溶液和稀釋劑。除了樣本制備和遞送之外，對樣本進(jìn)行的顯示測量值的處理常常需要分配試劑、基質(zhì)或者與樣本混合的其他物質(zhì)，以引起一些可觀測的事件，例如熒光或吸光度。將幾種不同的物質(zhì)頻繁地與樣本混合，以獲得可檢測的事件。對免疫測定法而言尤其如此，此后其常常需要多個試劑和洗滌步驟。試劑操縱系統(tǒng)或機(jī)構(gòu)可實現(xiàn)此功能。通常，這些計量系統(tǒng)需要洗滌過程以避免有遺留物。同樣，流體輸送裝置是這些操作的核心裝置。其他通常的系統(tǒng)組成部分包括測量模塊，其包括一些刺激源以及一些用于檢測刺激的機(jī)構(gòu)。這些系統(tǒng)包括(例如)單色光源以及熱量計、反射計、偏振計和照度計。最新式的自動分析儀還具有精密數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，以監(jiān)測分析儀操作并將生成的數(shù)據(jù)報告給本地或經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)或互聯(lián)網(wǎng)連接的遠(yuǎn)程監(jiān)測中心。很多情況下在已經(jīng)描述的各主系統(tǒng)類別內(nèi)還存在諸如試劑冷卻系統(tǒng)、培養(yǎng)箱以及樣本和試劑傳送系統(tǒng)的許多子系統(tǒng)。在診斷臨床分析儀的一個或多個部件或模塊開始失效時，分析故障(在本說明書中用作術(shù)語)就會出現(xiàn)。此類故障可由初始制造缺陷或長期磨損和劣化造成。例如，存在許多不同種類的機(jī)械故障，它們包括過載、沖擊、疲勞、蠕變、破裂、應(yīng)力弛豫、應(yīng)力腐蝕開裂、腐蝕疲勞等。這些單一部件故障會導(dǎo)致可信但其準(zhǔn)確程度卻無法接受的測定結(jié)果。這些不準(zhǔn)確或精度損失會由于諸如機(jī)械噪聲或者甚至效率低的軟件編程方案之類的大量因素而進(jìn)一步增大。這些因素中的大多數(shù)相對容易解決。然而，對于常常以yg/dL或甚至ng/dL范圍測量的分析物濃度，必須特別注意樣本和試劑操縱系統(tǒng)以及那些影響樣本和試劑操縱系統(tǒng)的支持系統(tǒng)和子系統(tǒng)。樣本和試劑操縱系統(tǒng)需要準(zhǔn)確和精確地傳送少量液體，因此通常采用非常薄的管材和容器，例如存在于樣本和試劑探針中的那些。大多數(shù)儀器要求若干獨特的流體遞送系統(tǒng)同時且整合地運行，而這些系統(tǒng)各自依賴于硬件/軟件系統(tǒng)的眾多部分的正確工作。這些硬件/軟件系統(tǒng)的一些部分具有可能以低概率發(fā)生的故障模式。這樣的探針中的缺陷或阻塞可導(dǎo)致強(qiáng)烈的不穩(wěn)定和不準(zhǔn)確的結(jié)果，從而造成分析故障。同樣，有缺陷的洗滌方案可導(dǎo)致遺留物誤差，其給涉及大量樣本的大量測定結(jié)果帶來錯誤讀數(shù)。這可能為分配的流體對遞送容器(例如，探針或吸管)的粘附所造成。或者，在容器接觸試劑或稀釋劑的情況下，可導(dǎo)致過度稀釋，從而低于報告的結(jié)果。被分配的流體上夾帶空氣或其它流體，會造成被分配的流體容量低于規(guī)格要求，因為有一部分被認(rèn)為屬于所分配流體容量實際上是被夾帶流體。當(dāng)臨床分析儀可清楚地識別上述問題時，標(biāo)準(zhǔn)操作程序?qū)l(fā)出錯誤代碼(該錯誤代碼的數(shù)值定義了檢測到的錯誤類型)并扣留測定的數(shù)值結(jié)果，請求解決識別出的問題或者至少重新運行請求的測定。由上述問題導(dǎo)致的分析故障已在美國專利公布No.2005/0196867中論述，其以引用方式并入本文中。另外，已經(jīng)研發(fā)了一些監(jiān)測診斷臨床分析儀的既定方法，以具體解決上述問題，其是一種形式的統(tǒng)計過程控制，如James0.WestgardStJ"BasicQCPractices:TraininginStatisticalQualityControlforHealthcareLaboratories，，(第2版，AACCPress，2002，其以引用方式并入本文)、以及CarlA.Burtis、EdwardR.Ashwood禾口DavidΕ·Bruns的"TietzFundamentalsofClinicalChemistry”(第6版，Saunders，2007，其以引用方式并入本文)中所詳細(xì)描述5的。然而，除了上述與各個部件相關(guān)或與模塊相關(guān)的問題之外，還存在可引起分析故障的一類與系統(tǒng)相關(guān)的問題。與系統(tǒng)相關(guān)的問題產(chǎn)生自多個部件和子系統(tǒng)隨時間推移的逐漸劣化，表現(xiàn)為測定測量值的波動的增大。此類與系統(tǒng)相關(guān)的問題的一個特征是，與上面描述以及US2005/0196867中定義的情況不同，無法檢測出明確的錯誤，因此，沒有發(fā)出錯誤代碼并且數(shù)值測定結(jié)果沒有被扣留。在微尖頭(micro-tip)和微滴定板(micro-well)方法中尤其關(guān)注環(huán)境和培養(yǎng)箱內(nèi)的熱穩(wěn)定性問題。由于涉及多個部件和子系統(tǒng)，所以不可能監(jiān)測單個變量以檢測近迫性分析故障，而是有必要監(jiān)測多個變量。這些變量的測量值可如本文所述用于檢測近迫性分析故障，并且還可用于監(jiān)測分析儀的總體操作，如JamesO.ffestgard和CarlA.Burtis等人在先前以引用方式并入的參考文獻(xiàn)中所詳細(xì)描述的。當(dāng)然，關(guān)鍵問題是應(yīng)該監(jiān)測哪組變量。對于得到商業(yè)應(yīng)用的大多數(shù)診斷臨床分析儀而言，這可通過在分析儀研發(fā)的設(shè)計階段通常形成的分析儀誤差預(yù)算(errorbudget)的分析來最容易地得到答案。誤差預(yù)算計算是敏感性分析的一種特殊形式。其確定認(rèn)為對系統(tǒng)準(zhǔn)確性具有潛在影響的各個誤差源或誤差源群組的單獨的效果。本質(zhì)上，誤差預(yù)算是這些誤差源的目錄。誤差預(yù)算是復(fù)雜電子系統(tǒng)設(shè)計中的一種標(biāo)準(zhǔn)工具。早先的例子，可參見ArthurGelb編輯的“AppliedOptimalEstimation”(MITPress，1974，洸0頁)，其以引用的方式并入本文。由于并非與診斷臨床分析儀的操作關(guān)聯(lián)的所有變量均可容易地測量，所以需要用于識別應(yīng)該監(jiān)測哪些變量的系統(tǒng)化方法。一種這樣的方法是龍卷風(fēng)圖(tornadotableordiagram)。附錄中有一個在非常簡化的電子電路中使用龍卷風(fēng)分析的例子。說到底，監(jiān)測一組變量的決策是工程決策。美國專禾IjNo.5，844，808、美國專利No.6，519，552、美國專利No.6，892，317、美國專禾IjNo.6，915，173、美國專利No.7，050，936、美國專利No.7，124，332和美國專利No.7，237，023教導(dǎo)或提出了用于檢測故障的各種方法和裝置，但是無法在允許令人滿意地使用設(shè)備的同時預(yù)測故障。實際上，可對任何設(shè)備預(yù)期在未來某一時間點的故障。這些文獻(xiàn)中所公開的具體方法或裝置中并未教導(dǎo)或提出以系統(tǒng)化方式對預(yù)期的故障排序。
發(fā)明內(nèi)容因此，本專利申請?zhí)峁┮环N在診斷臨床分析儀生成準(zhǔn)確度和精度不可接受的測定結(jié)果之前，預(yù)測聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀的近迫性分析故障的方法。本公開不涉及檢測是否已經(jīng)發(fā)生故障，因為此類確定由診斷分析儀中的其他功能和電路作出。再說，并非所有故障均影響臨床診斷分析儀所產(chǎn)生的結(jié)果的可靠性。作為替代方式，本公開涉及檢測近迫性故障并幫助補(bǔ)救該故障以改善臨床診斷分析儀的總體性能。本專利申請的另一方面涉及一種在診斷臨床分析儀的分析故障之前，向聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀派遣服務(wù)代表的方法。預(yù)測診斷臨床分析儀中的近迫性故障的一種優(yōu)選方法包括步驟監(jiān)測多個診斷臨床分析儀中的多個變量；從監(jiān)測變量的值中篩選出異常值；基于經(jīng)篩選以移除異常值的監(jiān)測變量的值導(dǎo)出每一監(jiān)測變量的閾值(例如，基線控制圖極限)；將監(jiān)測變量的值歸一化;利用歸一化的監(jiān)測變量的值生成綜合閾值；從特定診斷臨床分析儀收集關(guān)于監(jiān)測變量的操作數(shù)據(jù)；如果所述特定診斷臨床分析儀超過所述綜合閾值，則生成提示。變量的異常值是基于基礎(chǔ)預(yù)期或推測分布以一定比率預(yù)期出現(xiàn)的值，所述一定比率從由不高于3%、不高于1%、不高于0.和不高于0.01%的比率組成的集合中選出。在一優(yōu)選實施例中，特定監(jiān)測變量的閾值還用于將該監(jiān)測變量歸一化。該實施方式的選擇無意且不應(yīng)理解為對本發(fā)明范圍構(gòu)成限制，除非在權(quán)利要求書中明確指出。一些替代實施例可以不同方式將監(jiān)測變量歸一化。歸一化確保綜合閾值(例如，基線綜合控制圖極限)反映適當(dāng)加權(quán)的基礎(chǔ)變量值。歸一化使得能夠利用參數(shù)作為綜合閾值的分量，即使數(shù)值上所述參數(shù)值的數(shù)量級不同。作為例子，環(huán)境溫度SD、百分比計量條件代碼和燈電流的負(fù)一階導(dǎo)數(shù)在歸一化后組合，即使在歸一化之前，它們的值標(biāo)稱數(shù)量級不同。在一優(yōu)選實施例中，如果針對特定診斷臨床分析儀監(jiān)測的變量以規(guī)定方式(例如，三個連續(xù)時間點中的兩次或者指定時間間隔或操作周期內(nèi)的存在次數(shù))超出綜合閾值，則針對該特定診斷臨床分析儀生成近迫性故障提示。另外，除非另外明確指明，近迫性故障指性能上變動的頻度增高，即使測定結(jié)果在測定或相關(guān)試劑制造商指定的變化界限以內(nèi)。這類實施方式選擇并不有意且不應(yīng)被理解為是對本發(fā)明范圍的限制，除非在權(quán)利要求書中明確指出。由下文的優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述，本發(fā)明更多的目的、特征和優(yōu)點對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是顯而易見的。圖1是集成診斷臨床分析儀和通用計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的示意圖。多個獨立操作的診斷臨床分析儀101、102、103、104和105連接到網(wǎng)絡(luò)106。在某一初始時間點107(稱作基線時間)，所有診斷臨床分析儀101、102、103、104和105收集數(shù)據(jù)并隨后將其傳送至通用計算機(jī)112。在未來的時間點108、109、110和111，收集附加操作數(shù)據(jù)并將其傳送至通用計算機(jī)112。圖2是測定預(yù)測性提示控制圖的示意圖，其示出從基線數(shù)據(jù)導(dǎo)出的穩(wěn)健的統(tǒng)計控制圖極限201、以及由數(shù)據(jù)點202指示的對一系列的二十五個每日時間周期，從特定診斷臨床分析儀報告給通用計算機(jī)112的操作數(shù)據(jù)計算出的統(tǒng)計量值。應(yīng)注意到，對于第2344和25天，三個統(tǒng)計量值中的兩個超出控制圖極限。圖3是在實例1中，針對利用基線數(shù)據(jù)計算控制圖極限所建立的數(shù)據(jù)的示意圖。列301表示在862個分析儀的群體中的特定診斷臨床分析儀。列302表示分析儀報告的百分誤差代碼，下文稱作基線誤差1值。列303表示分析儀的歸一化的百分誤差代碼值，下文稱作歸一化基線誤差1值。列304表示分析儀報告的模擬至數(shù)字電壓計數(shù)，下文稱作基線范圍1值。列305表示分析儀的歸一化的模擬至數(shù)字電壓計數(shù)，下文稱作歸一化基線范圍1值。列306表示分析儀報告的三個驗證數(shù)的平均值與三個信號電壓的預(yù)計值的比率，下文稱作基線比率1值。列307表示分析儀的三個驗證數(shù)的平均值與三個信號電壓的平均值的歸一化的比率，下文稱作歸一化基線比率1值。列308是列303、305和307中的三個歸一化值的平均值，下文稱作基線綜合1值。行309分別是列302、列304、列306和列308中的值的均值。行310分別是列302、列304、列306和列308中的值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。行311分別是在已經(jīng)移除不在所述均值加或減三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的值之后，列302、列304、列306和列308中的剩余值的均值。行311均值表示截尾均值。行312分別是在已經(jīng)移除不在所述均值加或減三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的值之后，列302、列304、列306和列308中的剩余值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。行312標(biāo)準(zhǔn)偏差表示截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。行313分別是對列302、列304、列306和列308，由行311中的截尾均值加三倍的行312中的截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差構(gòu)成的各個控制圖極限值。行313和列308中的元素是基線綜合1控制圖極限。圖4是通過對報告的百分誤差代碼的分析獲得的直方圖的示意圖，得自在實例1中在特定時間點對862個診斷臨床分析儀的群體的調(diào)查。圖5是通過對報告的模擬至數(shù)字計數(shù)的分析獲得的直方圖的示意圖，得自在實例1中在特定時間點對862個診斷臨床分析儀的群體的調(diào)查。圖6是通過對報告的平均驗證數(shù)與平均信號電壓的比率的分析獲得的直方圖的示意圖，得自在實例1中在特定時間點對862個診斷臨床分析儀的群體的調(diào)查。圖7是在實例1中，針對利用操作數(shù)據(jù)計算綜合1值所建立的數(shù)據(jù)的示意圖。列701表示采集數(shù)據(jù)的日期。列702分別表示對于每一日期，分析儀報告的百分誤差代碼，下文稱作操作誤差1值。列703分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的百分誤差代碼值，下文稱作歸一化操作誤差1值。列704分別表示對于每一日期，分析儀報告的模擬至數(shù)字電壓計數(shù)，下文稱作操作范圍1值。列705分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的模擬至數(shù)字電壓計數(shù)，下文稱作歸一化操作范圍1值。列706分別表示對于每一日期，分析儀報告的三個驗證數(shù)的平均值與三個信號電壓的平均值的比率，下文稱作操作比率1值。列707分別表示對于每一日期，分析儀的三個驗證數(shù)的平均值與三個信號電壓的平均值的歸一化的比率，下文稱作歸一化操作比率1值。列708分別是對于每一日期，列703、705和707中的三個歸一化值的平均值，下文稱作操作綜合1值。圖8是控制圖的示意圖，其中針對實例1繪制了操作綜合1的每日值。圖中示出了表示約74.332的截尾基線綜合1控制圖極限的線801。操作綜合1的每日值由點802表7J\ο圖9是具有四個信號輸入W901、X902、Y903和Z904的簡單電子電路的示意圖。這四個信號具有獨立隨機(jī)變量的特性。信號W901和X902在加法器905中組合，得到信號A906。信號A906在乘法器907中與信號Y903組合，得到信號B908。信號B908在加法器910中與信號Z904組合，得到信號C909。圖10是示出在附錄中所討論的模型電路中各種輸入變量對信號C的輸出方差的影響的龍卷風(fēng)圖，以及該圖中值的表。圖11是在實例2中，針對利用基線數(shù)據(jù)計算控制圖極限所建立的數(shù)據(jù)的示意圖。列1101表示在758個分析儀的群體中的特定診斷臨床分析儀。列1102表示分析儀的培養(yǎng)箱溫度誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作基線培養(yǎng)箱2值。列1103表示分析儀的歸一化的培養(yǎng)箱溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化基線培養(yǎng)箱2值。列1104表示分析儀的MicroTip試劑供給源溫度誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作基線試劑2值。列1105表示分析儀的歸一化的MicroTip試劑供給源溫度誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化基線試劑2值。列1106表示分析儀的環(huán)境溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作基線環(huán)境2值。列1107表示分析儀的歸一化的環(huán)境溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化基線環(huán)境2值。列1108表示分析儀的組合的二次計量與三個讀取的δ校驗碼的百分比條件代碼，下文稱作基線代碼2值。列1109表示分析儀的組合的二次計量與三個讀取的S校驗碼的歸一化的百分比條件代碼，下文稱作歸一化基線代碼2值。列1110是列1103、1105、1107和1109中的四個歸一化值的平均值，下文稱作基線綜合2值。行1111分別是列1102、列1104、列1106、列1108和列1110中的值的均值。行1112分別是歹Ij1102、列1104、列1106、列1108和歹Ij1110中的值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。行1113分別是在已經(jīng)移除不在所述均值加或減三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的值之后，列1102、列1104、列1106、列1108和列1110中的剩余值的均值。行1113均值表示截尾均值。行1114分別是在已經(jīng)移除不在所述均值加或減三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的值之后，列1102、列1104、列1106、列1108和列1110中的剩余值的標(biāo)準(zhǔn)偏差。行1114標(biāo)準(zhǔn)偏差表示截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。行1115分別是對于列1102、列1104、列1106、列1108和列1110，由行1113中的截尾均值加三個行1114中的截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差構(gòu)成的各個控制極限值。圖12是在實例2中，針對利用操作數(shù)據(jù)計算綜合2值所建立的數(shù)據(jù)的示意圖。列1201表示采集數(shù)據(jù)的日期。列1202分別表示對于每一日期，分析儀的培養(yǎng)箱溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作培養(yǎng)箱2值。列1203分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的培養(yǎng)箱溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作培養(yǎng)箱2值。列1204分別表示對于每一日期，分析儀的MicroTip試劑供給源溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作試劑2值。列1205分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的MicroTip試劑供給源溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作試劑2值。列1206分別表示對于每一日期，分析儀的環(huán)境溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作環(huán)境2值。列1207分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的環(huán)境溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作環(huán)境2值。列1208分別表示對于每一日期，分析儀的組合的二次計量與三個讀取的δ校驗碼的百分比條件代碼，下文稱作操作代碼2值。列1209分別表示對于每一日期，分析儀的組合的二次計量與三個讀取的δ校驗碼的歸一化的百分比條件代碼，下文稱作歸一化操作代碼2值。列1210分別是對于每一日期，列1203、1205、1207和1209中的四個歸一化值的平均值，下文稱作操作綜合2值。圖13是控制圖的示意圖，其中針對實例2繪制了操作綜合2的每日值。圖中示出基線綜合2控制圖極限1301為大約89.603。操作綜合2的每日值由點1302表示。圖14是在實例3中，針對利用操作數(shù)據(jù)計算綜合3值所建立的數(shù)據(jù)的示意圖。列1401表示采集數(shù)據(jù)的日期。列1402分別表示對于每一日期，分析儀的培養(yǎng)箱溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作培養(yǎng)箱3值。列1403分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的培養(yǎng)箱溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作培養(yǎng)箱3值。列1404表示分別表示對于每一日期，分析儀的MicroTip試劑供給源溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作試劑3值。列1405表示分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的MicroTip試劑供給源溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作試劑3值。列1406分別表示對于每一日期，分析儀的環(huán)境溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作操作環(huán)境3值。列1407分別表示對于每一日期，分析儀的歸一化的環(huán)境溫度標(biāo)準(zhǔn)偏差，下文稱作歸一化操作環(huán)境3值。列1408分別表示對于每一日期，分析儀的組合的二次計量與三個讀取的δ校驗碼的百分比條件代碼，下文稱作操作代碼3值。列1409分別表示對于每一日期，分析儀的組合的二次計量與三個讀取的S校驗碼的歸一化的百分比條件代碼，下文稱作歸一化操作代碼3值。列1410分別是對于每一日期，列1403、1405、1407和1409中的四個歸一化值的平均值，下文稱作操作綜合3值。圖15是控制圖的示意圖，其中針對實例3繪制了操作綜合3的每日值。圖中示出9基線綜合3控制圖極限1501為大約89.603。操作綜合3的每日值由點1502表示。圖16是用于計算基線綜合控制圖極限和操作數(shù)據(jù)點的軟件的流程圖。處理從“開始”橢圓框1601開始，然后輸入有數(shù)據(jù)可用的分析儀的數(shù)量(160。在讀取一個分析儀的基線數(shù)據(jù)(1603)之后，進(jìn)行檢查(1604)以查看是否有用于附加分析儀的數(shù)據(jù)待輸入。如果是，則控制返回到1603框，否則在所有分析儀的橫截面上針對每一輸入變量計算基線均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差(160?，F(xiàn)在，從計算的數(shù)據(jù)集中移除值不在所述均值加或減至少三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的所有數(shù)據(jù)(1606)(稱作截尾的處理)，并針對每一變量計算截尾均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差(1607)。接下來，針對每一變量計算基線控制圖極限值(1607A)，并利用截尾均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差計算基線綜合控制圖極限(1608)。在某一時間點，也許從基線數(shù)據(jù)的集合大量移除，開始輸入特定分析儀的特定周期的操作數(shù)據(jù)(1609)。在框1610，進(jìn)行檢查以確定是否有另外周期的數(shù)據(jù)可用。如果是，則控制返回到框1609，否則用每一變量的輸入值除以變量的基線控制圖值，以歸一化每一變量(1611)。接下來，計算操作綜合值(1612)。隨后，將這些操作值存儲在計算機(jī)存儲器中(1613)，并與先前計算的基線綜合控制極限進(jìn)行比較(1614)。如果在定義的時間范圍內(nèi)，控制極限被超過達(dá)指定次數(shù)，則通知遠(yuǎn)程監(jiān)測中心近迫性分析儀分析故障(1615)，否則控制返回到框1610，以等待從特定分析儀輸入另一周期的操作數(shù)據(jù)。圖17是關(guān)于在不同時間點監(jiān)測的變量及其相應(yīng)的閾值的示例性信息顯示的示意圖。帶陰影的方框令人注意到超過其相應(yīng)閾值的監(jiān)測變量，以有助于故障診斷或改善分析儀性能。該顯示通過使人注意到可疑子系統(tǒng)來幫助發(fā)現(xiàn)近迫性故障。具體實施例方式本文所討論的技術(shù)使得能夠管理遠(yuǎn)程診斷中心以評估遠(yuǎn)程診斷臨床分析儀的一個或多個部件就要發(fā)生故障(近迫性分析故障)，從而可能報告準(zhǔn)確性和精度不可接受的測定結(jié)果。本文所討論的技術(shù)的有益效果在于，在實際事件之前檢測出近迫性分析故障，并在采用該分析儀的商業(yè)實體和服務(wù)提供商均方便的時間向遠(yuǎn)程設(shè)置的診斷臨床分析儀提供服務(wù)(確定并排除近迫性分析故障的原因)。為了大致理解本發(fā)明，可參考附圖。在附圖中，使用了相同的附圖標(biāo)記來表示相同的元件。在描述本發(fā)明時，使用了以下術(shù)語。在數(shù)學(xué)語境中使用的術(shù)語“或”在本文中表示數(shù)學(xué)的“兼或”，使得語句“A或B為真”表示(I)A為真，為真，或者(3)A和B均為真。術(shù)語“參數(shù)”在本文中表示過程或群體的特性。例如，對于定義的過程或群體概率密度函數(shù)，作為群體參數(shù)的均值具有固定的(但可能未知的)值。術(shù)語“變量”在本文中表示隨著過程或群體的輸入或輸出而變化的過程或群體的特性。例如，當(dāng)前培養(yǎng)箱溫度相對于其理想設(shè)定點的觀測誤差為+0.5°C，表示一種輸出。術(shù)語“統(tǒng)計量”在本文中表示一個或多個隨機(jī)變量的函數(shù)。基于群體樣本的“統(tǒng)計量”可用于估計群體參數(shù)的未知值。術(shù)語“截尾均值”在本文中表示作為位置估計的統(tǒng)計量，其中用于計算該統(tǒng)計量的數(shù)據(jù)已被分析并重構(gòu)，使得具有異常小或異常大的量值的數(shù)據(jù)值已被排除。術(shù)語“穩(wěn)健統(tǒng)計量”在本文中表示這樣的統(tǒng)計量(截尾均值是其一個簡單例子)，其在存在異常值的情況下，或者更一般地說，當(dāng)基礎(chǔ)參數(shù)假設(shè)不是非常正確時，求得好于經(jīng)典統(tǒng)計方法的結(jié)果。術(shù)語“橫截面”在本文中表示遍及多個不同的診斷臨床分析儀，在特定時間周期生成的數(shù)據(jù)或統(tǒng)計值。術(shù)語“時間序列”在本文中表示對于特定診斷臨床分析儀，在多個時間周期生成的數(shù)據(jù)或統(tǒng)計值。術(shù)語“時間周期”在本文中表示一定長度的時間，在該時間內(nèi)累積數(shù)據(jù)并生成單獨統(tǒng)計數(shù)據(jù)。例如，在二十四小時內(nèi)累積的用于生成統(tǒng)計量的數(shù)據(jù)將得到基于一天的“時間周期”的統(tǒng)計值。此外，在六十分鐘內(nèi)累積的用于生成的統(tǒng)計量的數(shù)據(jù)將得到基于一小時的“時間周期”的統(tǒng)計值。術(shù)語“時間范圍”在本文中表示一定長度的時間，某一問題在該時間內(nèi)考慮。“時間范圍”可包含多個“時間周期”。術(shù)語“基線周期”在本文中表示一定長度的時間，在該時間內(nèi)收集來自網(wǎng)絡(luò)上的診斷臨床分析儀群體的數(shù)據(jù)，例如，可每天M小時收集數(shù)據(jù)。術(shù)語“操作周期”在本文中表示一定長度的時間，在該時間內(nèi)收集來自特定診斷臨床分析儀的數(shù)據(jù)，例如，可在M小時的操作周期內(nèi)每隔一小時收集一次數(shù)據(jù)，從而得到M個觀測值或數(shù)據(jù)點。對于與診斷臨床分析儀的具體設(shè)計關(guān)聯(lián)的變量，基于這些變量在確認(rèn)對于分析儀總體誤差預(yù)算的異常升高之貢獻(xiàn)的能力來選擇用于監(jiān)測。當(dāng)然，診斷臨床分析儀必須能夠測量這些變量。這些變量中有多少要進(jìn)行監(jiān)測的決策是工程決策，其取決于所采用的測定方法，即，Ortho-ClinicalDiagnostics分析儀中的MicroSlide、MicroTip或MicroWell；以及診斷臨床分析儀器本身，S卩，Vitros5，lFS、VitrosECiQ、Vitros;350、VitrosDT60II、Vitros3600或Vitros5600。對于其他制造商，本專利申請中所討論的相同技術(shù)適用于技術(shù)上類似的測定。附錄描述了使用龍卷風(fēng)圖、表的方法，其可用于識別那些對準(zhǔn)確性或精度有較大影響的變量。在特定分析儀的特定測定方法內(nèi)，還可具有可能需要對不同的變量集進(jìn)行監(jiān)測的多個測量形式?，F(xiàn)在參照圖1，在診斷臨床分析儀利用干式化學(xué)薄膜載片進(jìn)行分析的優(yōu)選實施例中，在指定的第一時間周期內(nèi)(通常在周一至周五的工作周)從正常商業(yè)操作的多個診斷臨床分析儀101、102、103、104和105收集基線數(shù)據(jù)。在指定的第一時間周期內(nèi)累積的基線數(shù)據(jù)，按每臺診斷臨床分析儀產(chǎn)生一個數(shù)據(jù)集，該數(shù)據(jù)集經(jīng)網(wǎng)絡(luò)106發(fā)送并由數(shù)據(jù)流107多重表示。通用計算機(jī)112從網(wǎng)絡(luò)106上的多個診斷臨床分析儀接收該基線數(shù)據(jù)。然后，通用計算機(jī)112將來自多個診斷臨床分析儀的基線數(shù)據(jù)合并，從而生成指定的第一時間周期內(nèi)的多個橫截面觀測值，其由如下三個變量構(gòu)成(1)導(dǎo)致非零條件或錯誤代碼的微載片測定的百分比(稱作基線誤差)；(2)—次電壓線路中的變動的測量值(稱作基線范圍)；以及C3)三個驗證數(shù)的平均值與三個信號電壓的平均值的比率(稱作基線比率)。為了進(jìn)一步轉(zhuǎn)化此信息，計算這三個變量中每一個的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，從收集數(shù)據(jù)中排除不包括在所述均值加或減至少三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的各個觀測值。該操作稱為截尾。截尾均值是穩(wěn)健統(tǒng)計量的例子，其防止數(shù)據(jù)異常值并且包含截尾數(shù)據(jù)集中可獲得的所有信息。應(yīng)該指出的是，一些替代優(yōu)選實施例可使用不穩(wěn)健而基于不完全或片斷信息的統(tǒng)計量。隨后，對于這三個變量中的每一個，基于數(shù)據(jù)集中剩余的觀測值計算新的截尾均值和截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。然后，針對這三個變量中的每一個，使用截尾均值和截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差計算基線控制圖極限，該極限由截尾均值加至少三倍的截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差組成。分別將每一變量乘以100并將每一變量除以其基線控制圖極限，從而將各個基線誤差、基線范圍和基線比率值歸一化。為了將歸一化基線誤差、歸一化基線范圍和歸一化基線比率減少至單個測量值，計算三個歸一化值的平均值(稱作基線綜合值)。利用針對各個值生成上述基線控制圖極限所采用的相同計算步驟，計算基線綜合值的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。然后，移除不包括在基線綜合均值加或減至少三倍的基線綜合標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的基線綜合值，并計算截尾基線綜合均值和截尾基線綜合標(biāo)準(zhǔn)偏差。然后，按照截尾基線綜合均值加至少三倍的截尾基線綜合標(biāo)準(zhǔn)偏差來計算截尾基線綜合控制圖極限201，如圖2所示。截尾基線綜合控制圖極限201(算出的第一統(tǒng)計量)是完全從遠(yuǎn)程診斷臨床分析儀基線數(shù)據(jù)導(dǎo)出的穩(wěn)健統(tǒng)計量。應(yīng)該指出的是，一些替代優(yōu)選實施例可使用不穩(wěn)健但基于不完全或片斷信息的統(tǒng)計量。上述基線計算和下述操作計算的詳細(xì)流程圖示出于圖16。應(yīng)該指出的是，基線統(tǒng)計量還可用于單獨地監(jiān)測遠(yuǎn)程設(shè)置的遠(yuǎn)程臨床分析儀，以在改變試劑批次或檢測裝置(例如，MicroSlides)時，相對于足夠的校準(zhǔn)或?qū)τ趨?shù)值調(diào)節(jié)的需要來確定該分析儀的操作的改變。利用發(fā)送給遠(yuǎn)程監(jiān)測中心的數(shù)據(jù)，可根據(jù)需要或按照預(yù)先安排的間隔計算相同或別的統(tǒng)計量并將其下載至遠(yuǎn)程地點。隨后，這些統(tǒng)計量的數(shù)值可用作Siewhart控制圖、Levey-Jennings控制圖或^festgard規(guī)則的基線值。此類方法在James0.Westgard和CarlA.Burtis等人的先前以引用方式并入的參考文獻(xiàn)中有所描述。在收集基線數(shù)據(jù)之后，在指定的第二時間周期序列內(nèi)針對特定診斷臨床分析儀收集操作數(shù)據(jù)，并在每一時間周期結(jié)束時經(jīng)網(wǎng)絡(luò)113將其發(fā)送給通用計算機(jī)112(由網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)流108、109、110和111表示)。該數(shù)據(jù)由操作誤差、操作范圍和操作比率的許多第二時間周期值組成。對于與特定操作變量(即，操作誤差、操作范圍和操作比率)關(guān)聯(lián)的值序列，通過將這些值乘以100并除以先前計算的該變量的關(guān)聯(lián)基線控制圖極限，來將值歸一化。通用計算機(jī)112被編程以計算這三個歸一化操作變量的平均值以獲得第二時間周期序列的操作綜合值。在第二時間周期序列上計算的這些操作綜合值，代表一個時間序列的觀測值。操作綜合值(算出的第二統(tǒng)計量)，是其量值表征特定診斷臨床分析儀的誤差預(yù)算的總體波動的統(tǒng)計量。應(yīng)該指出的是，替代優(yōu)選實施例可使用不穩(wěn)健但基于不完全或片斷信息的統(tǒng)計量。通用計算機(jī)112存儲并追蹤這些值(如圖2中繪制的值202所指示)，并且對于預(yù)定時間范圍內(nèi)的預(yù)定數(shù)量的第二時間周期，操作綜合值大于截尾基線綜合控制圖極限201(從基線數(shù)據(jù)確定)時，通知遠(yuǎn)程監(jiān)測中心該特定分析儀存在近迫性分析故障。上述基線和操作計算的詳細(xì)流程圖示出于圖16。上述用于確定何時提示近迫性分析故障的判據(jù)，比傳統(tǒng)統(tǒng)計處理控制判據(jù)嚴(yán)格得多。具體地講，該方法中所使用的判據(jù)是三個連續(xù)觀測值中兩個的操作綜合值超過截尾基線綜合控制圖極限201。這等同于超過截尾均值加三倍的截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。如JohnS.Oakland在"StatisticalProcessControl，，(第6版，Butterworth-Heinemann,2007,其以弓|用方式并入本文)中指出的，使用單值或小批量控制圖時提示過程失控的常用判據(jù)是(1)關(guān)鍵12變量的一個觀測值大于均值加三個標(biāo)準(zhǔn)偏差；(關(guān)鍵變量的三個連續(xù)觀測值中的兩個超過均值加兩個標(biāo)準(zhǔn)偏差；或者(關(guān)鍵變量的八個連續(xù)觀測值總是超過均值或總是小于均值。因此，相比于通常采用的判據(jù)，該方法中所使用的判據(jù)嚴(yán)格許多，即發(fā)生的可能性小很多。采用此判據(jù)能夠減少所發(fā)現(xiàn)的假陽性數(shù)量，其中假陽性會在近迫性分析故障的提示不被認(rèn)可時要求這種提示。然而，其他的優(yōu)選實施例可能使用上述判據(jù)或其他的適當(dāng)判據(jù)來減少假陽性數(shù)量。類似基線統(tǒng)計量，操作統(tǒng)計量還可用于單獨地監(jiān)測遠(yuǎn)程設(shè)置的遠(yuǎn)程臨床分析儀，以在改變試劑批次或檢測裝置(例如，MicroSlides)時，相對于足夠的校準(zhǔn)或?qū)τ趨?shù)值調(diào)節(jié)的需要來確定該分析儀的操作的改變。利用發(fā)送給遠(yuǎn)程監(jiān)測中心的數(shù)據(jù)，可根據(jù)需要或按照預(yù)先安排的間隔計算統(tǒng)計量并將其下載至遠(yuǎn)程地點。隨后，當(dāng)接收到數(shù)據(jù)時，可利用Shewhart控制圖、Levey-Jennings控制圖或^festgard規(guī)則分析這些統(tǒng)計量的數(shù)值。此類方法在James0.Westgard和CarlA.Burtis等人的先前以引用方式并入的參考文獻(xiàn)中有所描述。當(dāng)注意到至少一個遠(yuǎn)程診斷臨床分析儀具有近迫性分析故障時，遠(yuǎn)程監(jiān)測中心必須決定將采用的適當(dāng)?shù)暮罄m(xù)行動方案。本文所討論的技術(shù)允許通過遠(yuǎn)程監(jiān)測中心管理將收集的數(shù)據(jù)以及隨后計算的統(tǒng)計量轉(zhuǎn)化為有序的一系列動作。已經(jīng)預(yù)測到近迫性分析故障的每一遠(yuǎn)程診斷臨床分析儀可用的第二統(tǒng)計量的值可用于按優(yōu)先順序列出應(yīng)該首先向哪一遠(yuǎn)程分析儀提供服務(wù)，因為第二統(tǒng)計量的相對量值表征該分析儀故障的總體可能性。第二統(tǒng)計量的值越高，近迫性故障發(fā)生的幾率越大。當(dāng)服務(wù)資源有限且想要最大限度地利用這樣的資源時，這非常有價值。根據(jù)遠(yuǎn)程診斷分析儀距服務(wù)站點位置的距離，現(xiàn)場服務(wù)呼叫可能需要長達(dá)幾個小時。一部分時間用于到達(dá)現(xiàn)場(并返回)，加上辨認(rèn)并更換診斷臨床分析儀的行將失效的一個或多個部件所花費的時間量。此外，如果非常及時地通知近迫性故障，則有可能將現(xiàn)場服務(wù)訪問安排得與時間已定的分析儀停工期重合，從而防止打斷采用該分析儀的商業(yè)實體對分析儀的正常使用時間。例如，一些醫(yī)院收集患者樣本，使得許多樣本在工作日期間在約7:00AM至10:00PM之間進(jìn)行分析。對于此類醫(yī)院而言，使診斷臨床分析儀在10:00PM至7:00AM之間停工是非常方便的。另外，對于服務(wù)站點位置，最好將服務(wù)訪問安排在常規(guī)工作時間期間并且當(dāng)然在主要假期和其他事件之前。采用小杯或微量滴定板的濕式化學(xué)法的優(yōu)選實施例類似于上述薄膜載片的優(yōu)選實施例，不同之處在于需要檢測不同的變量集。然而，基線信息向第一穩(wěn)健統(tǒng)計量的總體轉(zhuǎn)化和操作數(shù)據(jù)向第二統(tǒng)計量的轉(zhuǎn)化保持相同，如控制圖的操作那樣。下面描述實現(xiàn)本公開的示例性實例。實例1-647分析儀此實例涉及使用離子選擇性電極作為測定-測量裝置來檢測干式化學(xué)法MicroSlide診斷臨床分析儀中的近迫性分析故障。在2008年8月12日，在一天的時間周期內(nèi)從862個診斷臨床分析儀的群體獲得關(guān)于三個特定變量的數(shù)據(jù)。第一變量是導(dǎo)致非零錯誤代碼或條件的所有鈉、鉀和氯化物測定的百分比。第二變量是在離子選擇性電極讀出期間采集的三個電壓信號電平的平均值，對于所有鉀測定而言。另外，第三變量是平均信號模擬至數(shù)字計數(shù)與平均驗證模擬至數(shù)字計數(shù)的比率的標(biāo)準(zhǔn)偏差，對于所有鉀測定而言。信號模擬至數(shù)字計數(shù)是由靜電計測得的載片電壓，驗證模擬至數(shù)字計數(shù)是用連續(xù)施加到載片的內(nèi)部基準(zhǔn)電壓測得的載片電壓。對于此實例和隨后的實例，應(yīng)該指出的是，獲得的基線和操作數(shù)據(jù)值是雙精度浮點值，如IEEE浮點標(biāo)準(zhǔn)754(IEEEFloatingPointStandard754)中所定義的。這樣，盡管這些值在計算機(jī)內(nèi)部使用8個數(shù)字字節(jié)表示，但是這些值具有大約15位小數(shù)的精度。貫穿數(shù)值計算的整個序列均保持這一精度；然而，在文本引用和附圖中保持該精度是不切實際的。出于這一原因，文本或圖中引用的所有浮點數(shù)將被顯示到三個小數(shù)位，向最近的第三小數(shù)位四舍五入，而不考慮存在的有效小數(shù)位數(shù)。例如，123.456781234567將顯示為123.457，0.00123456781234567將顯示為0.001。如果用所顯示的數(shù)值進(jìn)行計算，則此顯示機(jī)制可能造成不正確的運算結(jié)果。例如，將上述兩個15位小數(shù)的數(shù)字相乘得到15位數(shù)精度的0.152415768327997；然而，如果這兩個數(shù)字的兩個顯示表示相乘，則得到6位數(shù)精度的0.123456。很明顯，如此獲得的兩個值顯著不同。圖3包含為利用上述基線數(shù)據(jù)計算控制圖極限而建立的數(shù)據(jù)。列301表示在862個分析儀的群體中的特定診斷臨床分析儀。列302表示分析儀報告的百分誤差代碼，S卩，基線誤差1。列304表示分析儀報告的三個電壓信號電平的平均值，S卩，基線范圍1。列306表示分析儀報告的信號模擬至數(shù)字計數(shù)數(shù)字的平均值與信號模擬至數(shù)字計數(shù)的平均值的比率，即基線比率1。對于三個報告的數(shù)據(jù)列，列302、304和306中的每一個，分別計算均值(如行309所示)，并計算標(biāo)準(zhǔn)偏差(如行310所示)。圖4、圖5和圖6分別示出對于所有862個報告診斷臨床分析儀，報告的基線誤差1值、報告的基線范圍1值和報告的基線比率1值的直方圖。然后，列302中不包括在基線誤差1均值0.257加或減三倍的基線誤差1標(biāo)準(zhǔn)偏差值1.136的范圍內(nèi)的所有基線誤差1值，在稱作截尾的處理中被去除。在截尾之后，根據(jù)列302中剩余的值計算出，行311中所示的截尾基線誤差1均值和行312中所示的截尾基線誤差1標(biāo)準(zhǔn)偏差值。對基線范圍1和基線比率1值執(zhí)行類似的截尾計算。按照截尾均值加三倍的截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差的方式，計算出結(jié)果得到的基線誤差1控制圖極限值、基線范圍1控制圖極限值和基線范圍1控制圖極限值，如行313的前三個元素所示。然后，將列302中的基線誤差1的每一數(shù)據(jù)值乘以100，并除以基線誤差1控制圖極限(行313中的第一元素)，以產(chǎn)生歸一化基線誤差1(如列303中所示)。以類似的方式，對基線范圍1的數(shù)據(jù)值(如列304中所示)并對基線比率1的數(shù)據(jù)值(如列306中所示)重復(fù)這些計算，分別得到列305中的歸一化基線范圍1值和列307中的歸一化基線比率1值。接下來，按照列303中的歸一化基線誤差1、列305中的歸一化基線范圍1和列307中的歸一化基線比率1的平均值來計算與列301中的分析儀關(guān)聯(lián)的列308中的基線綜合1值。然后，計算列308中的基線綜合1的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，并分別示出為行309和行310中的第四元素。通過截尾去除掉，不包括在基線綜合1均值加或減三個基線綜合1標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍內(nèi)的列308的元素。隨后，在截尾后利用列308中剩余的基線綜合1值計算截尾基線綜合1均值(列308的行311中的第四元素)。另外，在截尾后利用列308中剩余的基線綜合1值計算截尾基線綜合1標(biāo)準(zhǔn)偏差(列308的行312中的第四元素)。然后，按照截尾基線綜合1均值加三倍的截尾基線綜合1標(biāo)準(zhǔn)偏差的方式，算出截尾基線綜合1控制圖極限值(所計算的第一統(tǒng)計量)，結(jié)果示出為列308的行313中的第四元素。圖7包含針對來自647分析儀的每日操作數(shù)據(jù)報告建立的數(shù)據(jù)，其顯示為多行數(shù)據(jù)。列701表示采集數(shù)據(jù)的日期。列702、704和706分別表示報告的操作誤差1、操作范圍1和操作比率1的值。列703、705和707分別是計算的操作誤差1、操作范圍1和操作比率1的歸一化值，其分別通過將列702、704和706乘以100，然后除以截尾基線誤差1均值、截尾基線范圍1均值和截尾基線比率1均值來獲得。列708包含操作綜合1值的值(算出的第二統(tǒng)計量)，其通過對列703、705和707中的值取平均來獲得。圖8包含647診斷臨床分析儀控制圖，其中列708中的操作綜合1的各值被標(biāo)繪為點802。線801表示截尾基線綜合1控制圖極限值74.332。應(yīng)注意到，每日操作綜合1值從控制圖極限值附近出發(fā)，然后超過該極限值達(dá)三天，但是隨后降至控制極限值以下。這將是診斷臨床分析儀的近迫性分析故障的第一指示。在又過了若干天之后，操作綜合1值再次超過控制圖極限達(dá)三天中的兩天。盡管再沒有顯示操作問題的外在跡象，但是向分析儀地點派遣了服務(wù)技術(shù)人員，經(jīng)仔細(xì)分析后發(fā)現(xiàn)靜電計在緩慢失效。在9月觀日更換靜電計。隨后，在該測試數(shù)據(jù)的持續(xù)時間內(nèi)，操作綜合1值保持在控制圖極限以下。實例2-267分析儀此實例涉及使用測量透過樣本的吸光度的光度計作為測定-測量裝置來檢測濕式化學(xué)法MicroTip診斷臨床分析儀中的近迫性分析故障。在2008年11月13日，在一天的時間周期內(nèi)從758個診斷臨床分析儀的群體獲得關(guān)于四個特定變量的數(shù)據(jù)。第一變量是每小時測量的培養(yǎng)箱溫度誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差，其被定義為基線培養(yǎng)箱2值。第二變量是每小時測量的MicroTip試劑供給源溫度誤差的標(biāo)準(zhǔn)偏差，其被定義為基線試劑2值。第三變量是每小時測量的環(huán)境溫度的標(biāo)準(zhǔn)偏差，其被定義為基線環(huán)境2值。另外，第四變量是組合的二次計量和三個讀取δ校驗碼的百分比條件代碼，其被定義為代碼2值。隨后，以與實例1中計算截尾基線綜合1控制圖極限值所采用的相同方式來計算此實例的截尾基線綜合2控制圖極限值。圖11示出了數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中列1101表示提供基線數(shù)據(jù)的分析儀，列1102、1104、1106和1108分別是基線培養(yǎng)箱2、基線試劑2、基線環(huán)境2和基線代碼2的值?；€培養(yǎng)箱2、基線試劑2、基線環(huán)境2和基線代碼2的輸入值的歸一化值分別示出于列1103、1105、1107和1109。行1111和1112分別包含列1102、1104、1106和1108各自的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。行1113和1114分別包含列1103、1105、1107和1109各自的截尾均值和截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。列1110的行1115中的元素5是截尾基線綜合2控制圖極限值的值(算出的第一統(tǒng)計量)，具體地講為89.603。圖12包含針對來自267分析儀的每日操作數(shù)據(jù)報告建立的數(shù)據(jù)，其顯示為多行數(shù)據(jù)。列1201包含采集數(shù)據(jù)的日期。列1202、1204、1206和1208分別包含所報告的操作培養(yǎng)箱2、操作試劑2、操作環(huán)境2和操作代碼2值的每日值。列1203、1205、1207和1209分別是操作培養(yǎng)箱2、操作試劑2、操作環(huán)境2和操作代碼2四個值的歸一化值，其以與實例1中的操作值的值相同的方式獲得。列1210包含每日操作綜合2值的值(算出的第二統(tǒng)計量)O圖13包含267診斷臨床分析儀控制圖，其中列1210中的操作綜合2的各值被標(biāo)繪為點1302。截尾基線綜合2控制圖極限值89.603由線1301表示。應(yīng)注意到，每日操作綜合2值在開始的7天為低值，之后跳至控制極限以上達(dá)3天。在返回到低值八天之后，操作綜合2值又超出控制圖極限達(dá)三天中的兩天。上述事件均將導(dǎo)致有關(guān)近迫性分析故障的提示。隨后，在該測試數(shù)據(jù)的持續(xù)時間內(nèi)，每日的操作綜合2的值保持在控制圖極限以下。實例3-406分析儀15此實例涉及使用測量透過樣本的吸光度的光度計作為測定-測量裝置來檢測濕式化學(xué)法MicroTip診斷臨床分析儀中的近迫性分析故障。利用在2008年11月13日獲得的實例2基線數(shù)據(jù)，從2008年10月M日開始到2008年12月2日，每天獲得406分析儀的操作數(shù)據(jù)，如圖14所示。列1401包含采集數(shù)據(jù)的日期。列1402、1404、1406和1408分別包含所報告的操作培養(yǎng)箱3、操作試劑3、操作環(huán)境3和操作代碼3的每日值。列1403、1405、1407和1409分別是操作培養(yǎng)箱3、操作試劑3、操作環(huán)境3和操作代碼3四個值的歸一化值，其以與實例1中的操作變量的值相同的方式獲得。列1410包含每日操作綜合3值的值(算出的第二統(tǒng)計量)。圖15包含406診斷臨床分析儀控制圖，其中列1410中的操作綜合3的各值被標(biāo)繪為點1502。由線1501表示截尾基線綜合3控制圖極限值89.603。應(yīng)注意到，每日操作綜合3值在開始許多天為低值，然后在2008年11月20日跳至控制極限以上達(dá)三天中的兩天。在回到低值又過兩三天之后，操作綜合3值再次超過控制圖極限達(dá)三天中的兩天。上述兩個事件均將導(dǎo)致有關(guān)近迫性分析故障的提示。其后，在該測試數(shù)據(jù)的持續(xù)時間內(nèi)，每日操作綜合3的值保持在控制圖極限以下。實例4-由沂迫件故障的檢測標(biāo)示的測定精度此實例說明，通過MicroTip診斷臨床分析儀生成的結(jié)果的不精確性越高，近迫性故障就被越頻繁地標(biāo)示。近迫性故障的檢測不僅使故障的修理更快，而且還通過標(biāo)示最有可能具有低于完美的測定性能的分析儀而便于獲得更好的測定性能。這類改進(jìn)否則很難實現(xiàn)，因為一個孤立查驗的測定結(jié)果常常似乎滿足為該測定而設(shè)置的形式公差。檢測到測定結(jié)果中的方差反映出增加的不精確性，使得能夠采取措施來減小該方差，從而增大測定結(jié)果的可靠性。通過識別最頻繁地觸發(fā)提示的分析儀來說明增加的不精確性。為此，在2008年12月10日至12月12日，使用七百四十一個聯(lián)網(wǎng)的臨床分析儀來收集基線數(shù)據(jù)。針對每一分析儀追蹤八個變量，即(i)載片培養(yǎng)箱阻力；(ii)反射方差；(iii)環(huán)境方差；(iv)載片培養(yǎng)箱溫度方差；(ν)燈電流；(vi)法規(guī)/慣例一相對于處理的載片數(shù)的樣本計量代碼的百分比-根據(jù)系統(tǒng)檢測可疑計量；(vii)關(guān)于與相差超過指定閾值的事件的計數(shù)相隔9秒的CM測定的兩個讀數(shù)之間的SDR(CM)差；以及(viii)δDR(速率)，其關(guān)注兩個點并識別低于濃度水平的測定以檢測低于回歸線的噪聲。如圖16所示處理基線數(shù)據(jù)，以計算上述每一變量的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，然后截尾以對離均值超過三個標(biāo)準(zhǔn)偏差的值通過丟棄此類條目來移除。處理剩余的變量項以計算八個變量中每一個的截尾均值和截尾標(biāo)準(zhǔn)偏差。如前所述，用截尾變量的均值與三個標(biāo)準(zhǔn)偏差之和來將變量值歸一化。此實施選擇并非意在且不應(yīng)被理解為是對本發(fā)明范圍的限制，除非在權(quán)利要求書中明確指出。歸一化因子(截尾變量的均值與三個標(biāo)準(zhǔn)偏差之和)用作變量的閾值，以標(biāo)示操作數(shù)據(jù)的異常改變并幫助診斷故障并向臨床診斷分析儀提供服務(wù)。因此，針對八個監(jiān)測變量中的每一個從基線數(shù)據(jù)計算此類閾值。將所有變量的歸一化值組合，以計算基線綜合控制圖極限，該極限用于標(biāo)示近迫性故障。在此實例中，如果分析儀超過基線綜合控制圖極限，則對其標(biāo)示近迫性故障。該實施方式的選擇無意且不應(yīng)理解為對本發(fā)明范圍構(gòu)成限制，除非在權(quán)利要求書中明確指出。表1中示出了八個監(jiān)測變量中每一個的閾值以及基線綜合控制圖極限(均從基線數(shù)據(jù)導(dǎo)出)。這些閾值還用于隨后將每一變量歸一化，以便于計算基線綜合控制圖極限，其被確定為104.79(該值用于一起評價所有八個變量以檢測近迫性故障)，并通過查看各個變量幫助就所需的服務(wù)或改正的類型開始更詳細(xì)的調(diào)查。1載片培養(yǎng)箱阻力1602反射方差0.07803環(huán)境方差1.04載片培養(yǎng)箱溫度方差0.0475燈電流-0.896法規(guī)/慣例0.677δDR(CM)1.38δDR(速率)0.00037表1示出八個監(jiān)測變量的閾值利用操作數(shù)據(jù)，對選擇的比色測定，識別出在2009年11月至12月期間，有十二(12)個臨床診斷分析儀系統(tǒng)最頻繁地觸發(fā)提示。通過比較在已知質(zhì)量控制(“QC”)試劑上的測定性能，來將其與觸發(fā)提示的頻度最低的十二(1個臨床診斷分析儀系統(tǒng)進(jìn)行比較。理想情況下，此類試劑應(yīng)導(dǎo)致具有類似方差的類似讀數(shù)。對兩個群體(最常觸發(fā)提示的十二個臨床診斷分析儀系統(tǒng)和最不常觸發(fā)提示的十二個臨床診斷分析儀系統(tǒng))求出合并標(biāo)準(zhǔn)偏差。相反，發(fā)現(xiàn)觸發(fā)提示的臨床診斷分析儀系統(tǒng)還表現(xiàn)出升高的不精確性(更差的測定性能)。因此，觸發(fā)提示的臨床診斷分析儀系統(tǒng)也顯示出升高的不精確性。表2中鈣(“Ca”)測定的實例數(shù)據(jù)示出五個“差的”診斷臨床分析儀的標(biāo)識符、每個分析儀上測量質(zhì)量控制試劑的次數(shù)、均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和變異系數(shù)，隨后是類似數(shù)量的“好的”臨床診斷分析儀。權(quán)利要求1.一種檢測聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀中的近迫性故障的方法，包括以下步驟監(jiān)測多個診斷臨床分析儀中的多個變量；從所述多個變量的值中篩除異常值；基于篩選后的所述多個變量中的第一變量的值導(dǎo)出所述第一變量的閾值；將選自所述多個變量的包括所述第一變量的變量的值歸一化，以用于計算綜合閾值；利用歸一化的變量值生成所述綜合閾值；從所述聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀收集操作數(shù)據(jù)；如果所述綜合閾值為診斷臨床分析儀所超出，則生成提示。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中第一變量的閾值還用于將所述第一變量歸一化。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中第一變量的閾值還用于識別表示第一故障排查嘗試的所述第一變量。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述操作數(shù)據(jù)用于計算提示值以用于與所述綜合閾值進(jìn)行比較。5.一種檢測聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀的近迫性故障的方法，包括以下步驟在第一指定時間周期內(nèi)的商業(yè)操作期間，從多個聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀收集基線數(shù)據(jù)，將所述基線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為第一統(tǒng)計量，在第二指定時間周期內(nèi)的商業(yè)操作期間，從特定聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀收集操作數(shù)據(jù)序列，將所述操作數(shù)據(jù)序列轉(zhuǎn)化為第二統(tǒng)計量序列，當(dāng)所述第二統(tǒng)計量按指定方式以預(yù)定量超過所述第一統(tǒng)計量時，將所述特定診斷臨床分析儀中的近迫性診斷臨床分析儀分析故障通知遠(yuǎn)程監(jiān)測中心。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀利用薄膜載片、小杯、珠管形式或微滴定板進(jìn)行商業(yè)測定。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀利用網(wǎng)絡(luò)連接，所述網(wǎng)絡(luò)選自互聯(lián)網(wǎng)、內(nèi)聯(lián)網(wǎng)、無線局域網(wǎng)、無線城域網(wǎng)、廣域計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)和全球移動通信系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)。8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述第一時間周期是M小時，所述第二時間周期是對小時。9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述預(yù)定量是所述第一統(tǒng)計量的10%，所述指定方式是三個連續(xù)時間周期中的兩個。10.一種根據(jù)近迫性分析故障的檢測為聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀提供服務(wù)的方法，包括以下步驟識別用于檢測所述近迫性故障的監(jiān)測變量，在時間周期內(nèi)調(diào)查所述監(jiān)測變量中超過其相應(yīng)閾值的一組變量，將基線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為第一統(tǒng)計量，提供服務(wù)建議以更好地控制所述一組變量中的一個或多個變量。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，還包括調(diào)查與所述一組變量中的所述一個或多個變量對應(yīng)的子系統(tǒng)以尋找可提供服務(wù)的故障。12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，還包括確認(rèn)在提供服務(wù)后，所述一組變量中的所述一個或多個變量沒有超過其相應(yīng)閾值。全文摘要本發(fā)明提供一種檢測聯(lián)網(wǎng)的診斷臨床分析儀中的近迫性分析故障的方法，其基于檢測特定分析儀的操作是否可根據(jù)一個或多個閾值在統(tǒng)計上可分辨。當(dāng)分析儀的一個或多個部件或模塊失效時會發(fā)生故障。本發(fā)明公開了一種檢測此類近迫性故障的方法。使用針對診斷臨床分析儀的群體預(yù)先選擇的一組分析儀變量的基線數(shù)據(jù)來生成近迫性故障閾值。隨后，包括相同的預(yù)先選擇的一組分析儀變量的操作數(shù)據(jù)允許生成一個時間序列的操作統(tǒng)計量。如果操作統(tǒng)計量以規(guī)定方式超出近迫性故障閾值，則預(yù)測有近迫性分析故障。這樣的近迫性分析故障檢測有利于對所考慮的分析儀的服務(wù)的智能調(diào)度，以保持高測定通過率和準(zhǔn)確度。文檔編號G06F11/00GK102428445SQ201080019322公開日2012年4月25日申請日期2010年2月24日優(yōu)先權(quán)日2009年2月27日發(fā)明者C·T·杜迪,E·C·巴肖,J·M·因多維納,M·N·雅各布斯,N·J·古爾德,O·阿爾特蘭申請人:奧索臨床診斷有限公司