專利名稱：觸摸面板裝置以及觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸摸面板裝置以及觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法，尤其是涉及一種能夠檢測(cè)同時(shí)觸摸了觸摸面板上的兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間距離的電阻膜式觸摸面板裝置以及檢測(cè)該兩點(diǎn)間距離的方法。
背景技術(shù)：
作為以往的觸摸面板裝置，例如存在專利文獻(xiàn)I所記載的技木。該技術(shù)利用如下現(xiàn)象判斷兩點(diǎn)觸摸當(dāng)在觸摸面板上觸摸兩點(diǎn)時(shí)，設(shè)置在雙層觸摸面板上的相向的端子間的電阻值下降。、
在此，利用觸摸兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間的距離越大則相向的端子間的電阻值越大的情形，根據(jù)X方向的端子間的電阻值以及Y方向的端子間的電阻值，分別檢測(cè)X方向以及Y方向的兩點(diǎn)間的距離。專利文獻(xiàn)I :日本特開(kāi)2009-176114號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題然而，相向的端子間的電阻值不僅與兩點(diǎn)間的距離有夫，還受到觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ的影響。即，即使兩點(diǎn)間的距離相同，如果觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ不同，則相向的端子間的電阻值也會(huì)變化。因而，如上述專利文獻(xiàn)I所記載的觸摸面板裝置那樣，通過(guò)僅根據(jù)相向的端子間的電阻值來(lái)檢測(cè)兩點(diǎn)間距離的方法，無(wú)法求出準(zhǔn)確的兩點(diǎn)間距離，有可能導(dǎo)致識(shí)別出違反操作者的意圖的操作。因此，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠高精度地檢測(cè)在觸摸面板上觸摸了兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間距離的觸摸面板裝置以及觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法。
_9] 用于解決問(wèn)題的方案為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所涉及的觸摸面板裝置的第一方式的特征在于，具備觸摸面板，其構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交；端子間電阻測(cè)量部，其測(cè)量上述一對(duì)電極端子間的電阻值；兩點(diǎn)觸摸判斷部，其根據(jù)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)；按壓カ檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值以及由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓力，來(lái)檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。這樣，由于考慮觸摸輸入的按壓カ來(lái)檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離，因此例如在操作者進(jìn)行了兩點(diǎn)觸摸吋，即使進(jìn)行了如在將兩點(diǎn)間距離保持固定的狀態(tài)下從觸摸開(kāi)始時(shí)逐漸改變按壓カ那樣的操作，也能夠正確地檢測(cè)固定的兩點(diǎn)間距離等，能夠高精度地求出兩點(diǎn)間距離。另外，第二方式的特征在于，上述兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部具備基準(zhǔn)值計(jì)算部，其根據(jù)在上述觸摸面板未被觸摸時(shí)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值與在上述觸摸面板被觸摸時(shí)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值之差，計(jì)算上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值；以及校正部，其以如下方式對(duì)由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值進(jìn)行校正由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓カ越小，則使由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值增加越多。這樣,通過(guò)與觸摸輸入的按壓カ相應(yīng)地校正未觸摸時(shí)的端子間電阻值與觸摸時(shí)的端子間電阻值之差，能夠校正伴隨著觸摸輸入的按壓カ的變化而產(chǎn)生的按下點(diǎn)處的上下電阻膜間的接觸電阻的變化量。由于按壓力越小，則上下的電阻膜間的接觸電阻越大，因此即使實(shí)際的兩點(diǎn)間距離相同，未觸摸時(shí)的端子間電阻值與觸摸時(shí)的端子間電阻值之差、即兩點(diǎn)間距離的基準(zhǔn)值變小。因而，通過(guò)以如下方式對(duì)進(jìn)行校正，能夠高精度地求出兩點(diǎn)間距離按壓カ越小，則使該兩點(diǎn)間距離的基準(zhǔn)值增加越多。這樣，能夠通過(guò)比較簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)來(lái)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男Ｕ?。并且，第三方式的特征在干，具備觸摸面板，其構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交；第一電壓檢測(cè)部，其在對(duì)其中一張電阻膜的ー對(duì)電極端子間施加電源電壓且使另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另一張電阻膜的一對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓；第二電壓檢測(cè)部，其在通過(guò)電阻對(duì)上述其中一張電阻膜的ー對(duì)電極端子間施加電源電壓且使上述另ー張電阻膜的ー對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓；兩點(diǎn)觸摸判斷部，其根據(jù)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)；按壓カ檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比以及由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓力，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。這樣，由于考慮觸摸輸入的按壓カ來(lái)檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離，因此例如在操作者進(jìn)行了兩點(diǎn)觸摸吋，即使進(jìn)行了如在將兩點(diǎn)間距離保持固定的狀態(tài)下從觸摸開(kāi)始時(shí)逐漸改變按壓カ那樣的操作，也能夠正確地檢測(cè)固定的兩點(diǎn)間距離等，能夠高精度地求出兩點(diǎn)間距離。另外，第四方式的特征在于，上述兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部具備基準(zhǔn)值計(jì)算部，其根據(jù)在對(duì)上述觸摸面板觸摸了一點(diǎn)時(shí)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比和在對(duì)上述觸摸面板觸摸了兩點(diǎn)時(shí)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比的差，計(jì)算上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值；以及校正部，其以如下方式對(duì)由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值進(jìn)行校正由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓カ越小，則使由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值增加越多。、
這樣，利用由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比隨著兩點(diǎn)間的距離而變化的情形，來(lái)檢測(cè)兩點(diǎn)間距離，因此能夠正確地檢測(cè)兩點(diǎn)間距離。另外，由于能夠利用坐標(biāo)檢測(cè)、兩點(diǎn)觸摸判斷中所使用的測(cè)量電壓來(lái)檢測(cè)兩點(diǎn)間距離，因此不需要重新進(jìn)行兩點(diǎn)間距離檢測(cè)用的電壓測(cè)量。因而，能夠相應(yīng)地減少電壓測(cè)量的次數(shù)。并且，第五方式的特征在于，在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)與觸摸輸入的按壓カ存在相關(guān)關(guān)系且與各點(diǎn)的按壓カ之間的相關(guān)程度同等或者大致同等的按壓參數(shù)。這樣，通過(guò)使用如各點(diǎn)的按壓カ的影響為同等程度那樣的按壓參數(shù)，即使是各點(diǎn)的按壓カ不同的情況等，也能夠更高精度地求出兩點(diǎn)間距離。另外，在本發(fā)明所涉及的觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法的第一方式中，該觸摸面板構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交，該第一方式的特征在于，具備以下步驟端子間電阻測(cè)量步驟，對(duì)上述觸摸面板的上述一對(duì)電極端子間的電阻值進(jìn)行測(cè)量；兩點(diǎn)觸摸判斷步驟，根據(jù)在上述端子間電阻測(cè)量步驟中測(cè)量出的上述電阻值，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)；按壓カ檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及兩點(diǎn)間距離檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)在上述端子間電阻測(cè)量步驟中測(cè)量出的上述電阻值以及在上述按壓カ檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的按壓力，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。并且，在第二方式中，觸摸面板構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交，該第二方式的特征在于，具備以下步驟第一電壓檢測(cè)步驟，在對(duì)上述觸摸面板的其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓；第二電壓檢測(cè)步驟，在通過(guò)電阻對(duì)上述其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓；兩點(diǎn)觸摸判斷步驟，根據(jù)在上述第二電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓與在上述第一電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓之比，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)；按壓カ檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)吋，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及兩點(diǎn)間距離檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)在上述第二電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓與在上述第一電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓之比以及在上述按壓カ檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的按壓カ，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。這樣，由于是考慮觸摸輸入的按壓カ來(lái)檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離的方法，因此 能夠高精度地求出兩點(diǎn)間距離。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明，由于能夠高精度地檢測(cè)在觸摸面板上觸摸了兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間的距離，因此能夠設(shè)為能夠識(shí)別出符合操作者意圖的操作的觸摸面板裝置。


圖I是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的觸摸面板裝置的結(jié)構(gòu)的電路圖。圖2是表示由控制部10執(zhí)行的初始化處理過(guò)程的流程圖。圖3是測(cè)量R_XP時(shí)的電路圖。圖4是測(cè)量R_YP時(shí)的電路圖。圖5是表示由控制部10執(zhí)行的兩點(diǎn)觸摸處理過(guò)程的流程圖。圖6是測(cè)量Xpl、Xp2時(shí)的電路圖。 圖7是測(cè)量Ypl、Yp2時(shí)的電路圖。圖8是測(cè)量ZI時(shí)的電路圖。圖9是測(cè)量Ζ2時(shí)的電路圖。圖10是表示一點(diǎn)觸摸時(shí)的端子間電阻的狀態(tài)的圖。圖11是表示將兩點(diǎn)間距離設(shè)為固定時(shí)的按壓カ與(R_YP0-R_YP)的關(guān)系的圖。圖12是用于說(shuō)明本發(fā)明的第一實(shí)施方式的效果的圖。圖13是表示兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)(gesture)的圖。圖14是表示手勢(shì)判斷處理過(guò)程的流程圖。圖15是表示旋轉(zhuǎn)判斷處理過(guò)程的流程圖。圖16是表示縮小動(dòng)作時(shí)的校正前的(R_YP0-R_YP)的圖。圖17是表示縮小動(dòng)作時(shí)的校正后的兩點(diǎn)間距離YDual的圖。圖18是在兩點(diǎn)觸摸的情況下測(cè)量Zl、Z2時(shí)的電路圖。圖19是表示兩點(diǎn)觸摸時(shí)的Zl、Z2測(cè)量的電阻模型的圖。圖20是表示按壓參數(shù)計(jì)算處理過(guò)程的流程圖。圖21是表示xa〈xb、ya>yb時(shí)的觸摸輸入點(diǎn)的狀態(tài)的圖。圖22是測(cè)量Z1NP、Z2NP時(shí)的電路圖。圖23是xa〈xb、ya〈yb時(shí)的觸摸輸入點(diǎn)的狀態(tài)的圖。圖24是測(cè)量Z1PP、Z2PP時(shí)的電路圖。圖25是表示本發(fā)明的第三實(shí)施方式中的觸摸面板裝置的結(jié)構(gòu)的電路圖。圖26是表示第三實(shí)施方式的由控制部10執(zhí)行的初始化處理過(guò)程的流程圖。圖27是測(cè)量Xp21時(shí)的電路圖。圖28是測(cè)量Yp21時(shí)的電路圖。圖29是測(cè)量RXp21時(shí)的電路圖。圖30是測(cè)量RYp21時(shí)的電路圖。圖31是表示第三實(shí)施方式中的兩點(diǎn)觸摸處理過(guò)程的流程圖。圖32是測(cè)量Ypl時(shí)的電路圖。圖33是測(cè)量Zl、Z2時(shí)的電路圖。圖34是測(cè)量Z1PP、Z2PP時(shí)的電路圖。
具體實(shí)施例方式下面，根據(jù)附圖來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式。(第一實(shí)施方式)
(結(jié)構(gòu))圖I是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的觸摸面板裝置的結(jié)構(gòu)的電路圖。觸摸面板裝置具備對(duì)裝置整體進(jìn)行控制的控制部10、用于顯示需要的信息的LCD模塊11以及被設(shè)置在IXD模塊11上的觸摸面板TP。 觸摸面板TP由兩個(gè)觸摸面板TPl、TP2構(gòu)成。觸摸面板TPl與觸摸面板TP2隔著微小間隙而疊加在觸摸面板TP2上。觸摸面板TP I具有在由沿Y方向延伸的ー對(duì)電極構(gòu)成的端子Yl、Y2間延伸設(shè)置的電阻膜。另外，觸摸面板TP2具有在由沿與Y方向正交的X方向延伸的一對(duì)電極構(gòu)成的端子X(jué)1、X2間延伸設(shè)置的電阻膜。觸摸面板TPl和TP2是將各自的電阻膜粘貼構(gòu)成的模擬觸摸面板，形成為無(wú)論用人的手指或筆等觸摸其觸摸感應(yīng)表面上的任意處，都能夠檢測(cè)到該觸摸。另外，該觸摸面板裝置具備開(kāi)關(guān)SWf SW6。開(kāi)關(guān)SWl的一端與施加規(guī)定的直流電壓的電源VDD相連接，其另一端與觸摸面板TPl的端子Yl相連接。開(kāi)關(guān)SW2的一端與電源VDD相連接，其另一端通過(guò)電阻Rl與觸摸面板TPl的端子Yl相連接。開(kāi)關(guān)SW3的一端接地，其另一端與觸摸面板TPl的端子Y2相連接。另外，開(kāi)關(guān)SW4的一端與電源VDD相連接，其另一端與觸摸面板TP2的端子X(jué)l相連接。開(kāi)關(guān)SW5的一端與電源VDD相連接，其另一端通過(guò)電阻R2與觸摸面板TP2的端子X(jué)I相連接。開(kāi)關(guān)SW6的一端接地，其另一端與觸摸面板TP2的端子X(jué)2相連接。這些開(kāi)關(guān)SWf SW6被控制部10分別控制開(kāi)閉狀態(tài)?？刂撇?0對(duì)開(kāi)關(guān)SWf SW6進(jìn)行開(kāi)閉控制，獲取在規(guī)定的連接狀態(tài)下各端子X(jué)1、X2、Y1、Y2中產(chǎn)生的電壓ΧΡ、ΧΝ、ΥΡ、ΥΝ。在此，控制部10具備未圖示的AD轉(zhuǎn)換器，將測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。并且，控制部10根據(jù)這些獲取到的電壓值，判斷在觸摸面板TP上是否觸摸了兩點(diǎn)，并且在觸摸了一點(diǎn)的情況下檢測(cè)其觸摸位置(X坐標(biāo)，Y坐標(biāo))并進(jìn)行輸出，在觸摸了兩點(diǎn)的情況下，檢測(cè)兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)和兩點(diǎn)間的距離(X方向距離，Y方向距離)并進(jìn)行輸出。圖2是表示由控制部10執(zhí)行的初始化處理過(guò)程的流程圖。該初始化處理在觸摸面板TP未被觸摸時(shí)執(zhí)行。首先，在步驟SI中，獲取圖3所示的狀態(tài)下的端子X(jué)l的電壓XP (電壓R_XP)。即，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SW5和SW6設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，來(lái)通過(guò)電阻R2向端子X(jué)l提供電源VDD的電壓，并且將端子X(jué)2接地。這樣，通過(guò)電阻R2向端子X(jué)I、X2間施加電源VDD的電壓。然后，在該狀態(tài)下測(cè)量端子X(jué)l的電平。此時(shí)測(cè)量的電平為通過(guò)端子X(jué)I、X2間的電阻值和已知的電阻值R2進(jìn)行分壓得到的值。通過(guò)這樣，能夠求出與端子X(jué)1、X2間的電阻值相當(dāng)?shù)碾娖健４送?，圖3示出了兩點(diǎn)觸摸時(shí)的端子X(jué)l、X2間的電路結(jié)構(gòu)。接著，在步驟S2中，獲取圖4所示的狀態(tài)下的端子Yl的電壓YP (電壓R_YP)。即，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SW2和SW3設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，來(lái)通過(guò)電阻Rl向端子Yl提供電源VDD的電壓，并且將端子Y2接地。這樣，通過(guò)電阻Rl向端子Yl、Y2間施加電源VDD的電壓。并且，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子Yl的電平。此時(shí)測(cè)量的電平為通過(guò)端子Yl、Y2間的電阻值和已知的電阻值Rl進(jìn)行分壓得到的值。通過(guò)這樣，能夠求出與端子Y1、Y2間的電阻值相當(dāng)?shù)碾娖?。此外，圖4示出了兩點(diǎn)觸摸時(shí)的端子Υ1、Υ2間的電路結(jié)構(gòu)。接著，在步驟S3中，將在上述步驟S I中獲取到的電壓R_XP設(shè)定為基準(zhǔn)電壓R_XPO，并且將在上述步驟S2中獲取到的電壓R_YP設(shè)定為基準(zhǔn)電壓R_YP0。然后，在步驟S4中，將在上述步驟S3中設(shè)定的基準(zhǔn)電壓R_XP0、R_YP0存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器(未圖示)中，并結(jié)束初始化處理。圖5是表示由控制部10執(zhí)行的觸摸處理過(guò)程的流程圖。
在觸摸面板TP被觸摸時(shí)每隔規(guī)定時(shí)間(每隔2mSe(nOmsec)執(zhí)行該觸摸處理，首先，在步驟Sll中獲取各種數(shù)據(jù)。具體來(lái)說(shuō)，獲取電壓1 _乂 、1 _￥ 、乂 1、乂 2、￥ 1、Υρ2、Ζ I、Ζ2。電壓R_XP是在圖3所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP，電壓R_YP是在圖4所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YP。另外，電壓Xpl和Xp2是在圖6所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YP和YN。S卩，在針對(duì)圖3的狀態(tài)將開(kāi)關(guān)SW5設(shè)為斷開(kāi)狀態(tài)并將開(kāi)關(guān)SW4設(shè)為閉合狀態(tài)而對(duì)端子X(jué)1、X2間施加了電源VDD的電壓的狀態(tài)下，分別測(cè)量另ー個(gè)面板的端子Y1、Y2的電平。電壓Ypl和Υρ2是在圖7所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP和ΧΝ。即，在針對(duì)圖4的狀態(tài)將開(kāi)關(guān)SW2設(shè)為斷開(kāi)狀態(tài)并將開(kāi)關(guān)SWl設(shè)為閉合狀態(tài)而對(duì)端子Yl、Υ2間施加了電源VDD的電壓的狀態(tài)下，分別測(cè)量另ー個(gè)面板的端子Χ1、Χ2的電平。并且，電壓Zl是在圖8所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓ΧΡ。即，在測(cè)量電壓Zl時(shí)，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SWl和SW6設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，由此對(duì)端子Yl提供電源VDD的電壓，并且將端子Χ2接地。然后，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子Yl的電平。在此，圖8示出了一點(diǎn)觸摸時(shí)的各端子間的電路結(jié)構(gòu)。另外，電壓Ζ2是在圖9所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YN。S卩，在測(cè)量電壓Ζ2吋，與圖8同樣地通過(guò)將開(kāi)關(guān)SWl和SW6設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，由此對(duì)端子Yl提供電源VDD的電壓，并且將端子Χ2接地。然后，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子Υ2的電平。在此，圖9示出了一點(diǎn)觸摸時(shí)的各端子間的電路結(jié)構(gòu)。此外，在獲取各種數(shù)據(jù)時(shí)也可以實(shí)施平均化處理等。作為平均化處理，例如進(jìn)行如下處理獲取六個(gè)數(shù)據(jù)，在刪除了該六個(gè)數(shù)據(jù)中的最大值和最小值之后，取剰余的四個(gè)數(shù)據(jù)的平均。由此，能夠提高測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。接著，在步驟S12中，根據(jù)在上述步驟Sll中獲取到的電壓Xpl和Χρ2，基于下述
(I)式計(jì)算X坐標(biāo)xp，根據(jù)在上述步驟Sll中獲取的電壓Ypl和Υρ2，基于下述(2)式計(jì)算Y坐標(biāo)Yp。Xp= (Xpl+Xp2) /2.........(I)Yp = (Ypl+Yp2)/2.........(2)在此計(jì)算出的坐標(biāo)(Χρ，Υρ)為兩點(diǎn)觸摸時(shí)的兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)。接著，在步驟S13中，判斷在上述步驟Sll中獲取到的電壓R_XP與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的基準(zhǔn)電壓R_XP0之差(R_XP0-R_XP)是否大于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值D_XY。然后，在R_XP0-R_XP>D_XY的情況下，判斷為進(jìn)行了兩點(diǎn)觸摸，并轉(zhuǎn)移到后述的步驟S16。另ー方面，在R_XP0-R_XP彡D_XY的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S14，判斷在上述步驟Sll中獲取的電壓R_YP與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的基準(zhǔn)電壓R_YPO之差(R_YPO-R_YP)是否大于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值D_XY。然后，在R_YPO-R_YP ^ D XY的情況下，判斷為是一點(diǎn)觸摸，并轉(zhuǎn)移到步驟S15。在步驟S15中，將在上述步驟Sll中獲取到的電壓Xpl、Ypl作為觸摸位置的XY坐標(biāo)進(jìn)行輸出，并結(jié)束觸摸處理。另ー方面，在上述步驟S14中判斷為R_YP0_R_YP>D_XY的情況下，判斷為進(jìn)行了兩點(diǎn)觸摸，并轉(zhuǎn)移到步驟S16，計(jì)算按壓參數(shù)XZ21。該按壓參數(shù)XZ21是與觸摸輸入點(diǎn)的按壓力存在相關(guān)關(guān)系的參數(shù)，是該按壓カ越大則變得越小的值。在此，基于下式計(jì)算按壓參數(shù)XZ21。XZ21 = Xp/4096 (Z2/Z1-1)......... (3)此外，上述(3)式是12比特(212=4096)的情況下的計(jì)算式。 接著，在步驟S17中，判斷在上述步驟S16中計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21是否小于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值D_XZ21。然后，在XZ21 >D_XZ21的情況下，判斷沒(méi)有對(duì)觸摸輸入點(diǎn)施加固定壓力，直接結(jié)束觸摸處理。另ー方面，在XZ21〈D_XZ21的情況下，判斷為對(duì)觸摸輸入點(diǎn)施加了固定壓カ，并轉(zhuǎn)移到步驟S18。在步驟S18中，基于下式計(jì)算X方向的兩點(diǎn)間距離XDual。XDual = A · (R_XP0_R_XP_B) · (XZ21+C)+D......... (4)在此，A、B、C、D分別是預(yù)先設(shè)定的常數(shù)。這樣，通過(guò)用根據(jù)按壓參數(shù)XZ21設(shè)定的校正系數(shù)(XZ21+C)來(lái)校正根據(jù)基準(zhǔn)電壓R.XP0與電壓R_XP之差計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (R_XP0-R_XP-B)，由此計(jì)算X方向的兩點(diǎn)間距離XDual。接著，在步驟S19中，根據(jù)下式計(jì)算Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual。YDual = A · (R_YP0_R_YP_B) · (XZ21+C)+D......... (5)這樣，通過(guò)用根據(jù)按壓參數(shù)XZ21設(shè)定的校正系數(shù)(XZ21+C)來(lái)校正根據(jù)基準(zhǔn)電壓R.YP0與電壓R_YP之差計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (R_YP0-R_YP-B)，由此計(jì)算Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual。然后，在步驟S20中，輸出在上述步驟S18和S19中計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離XDual和YDual，并轉(zhuǎn)移到步驟S21。在步驟S21中，輸出在上述步驟S12中檢測(cè)出的兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)(Χρ,Υρ)，并轉(zhuǎn)移到步驟S22。在步驟S22中，判斷在上述步驟Sll中獲取到的電壓Υρ2是否大于電壓Ypl。然后，在Yp2>Ypl的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S23，將表示兩點(diǎn)的方向的信息dY設(shè)定為“+I”并轉(zhuǎn)移到后述的步驟S25。另ー方面，在Yp2 < Ypl的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S24，將上述dY設(shè)定為“-I”并轉(zhuǎn)移到后述的步驟S25。在將兩點(diǎn)的坐標(biāo)設(shè)為(xa, ya)、(xb, yb)(其中，xa〈xb)時(shí),利用兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)與兩點(diǎn)間距離的信息是無(wú)法與y坐標(biāo)值被替換后的(xa，yb)、(xb, ya)相區(qū)分。在圖7的電路中，由于XN的電壓容易受到y(tǒng)a的影響且XP的電壓容易受到y(tǒng)b的影響，因此在Yp2>Ypl時(shí)，判斷為ya>yb,在Yp2〈Yp I時(shí)，判斷為ya〈yb。即,在xa〈xb 且 ya>yb 時(shí)，dY=+l,在 xa〈xb 且 ya<yb 時(shí)，dY=_l。然后，在步驟S25中輸出表示兩點(diǎn)的方向的信息dY，并結(jié)束觸摸處理。此外，圖5的步驟Sll對(duì)應(yīng)于端子間電阻測(cè)量部，步驟S13和S14對(duì)應(yīng)于兩點(diǎn)觸摸判斷部，步驟S16對(duì)應(yīng)于按壓カ檢測(cè)部，步驟S18和S19對(duì)應(yīng)于兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部。(動(dòng)作)接著，說(shuō)明本實(shí)施方式的動(dòng)作 。當(dāng)假設(shè)當(dāng)前是操作者沒(méi)有觸摸觸摸面板TP的狀態(tài)時(shí)，控制部10開(kāi)始執(zhí)行圖2的初始化處理，控制開(kāi)關(guān)SWf SW6以成為圖3所示的連接狀態(tài)來(lái)測(cè)量電壓R_XP (步驟SI)。接著，控制開(kāi)關(guān)SWf SW6以成為圖4所示的連接狀態(tài)來(lái)測(cè)量電壓R_YP (步驟S2)。然后，將測(cè)量出的電壓分別設(shè)定為電壓R_XP0和電壓R_YP0 (步驟S3)，將這些電壓保存到存儲(chǔ)器中(步驟 S4)。之后，當(dāng)觸摸面板TP被觸摸時(shí)，控制部10開(kāi)始執(zhí)行圖5的觸摸處理。然后，獲取在觸摸位置的坐標(biāo)檢測(cè)、兩點(diǎn)觸摸判斷以及兩點(diǎn)間距離的檢測(cè)中使用的各種數(shù)據(jù)(電壓R_XP、R_YP、Xpl、Xp2、Ypl、Υρ2、Ζ1、Ζ2)(步驟 SI I)。圖10是表示一點(diǎn)觸摸時(shí)的端子間電阻的狀態(tài)的圖。在此示出了觸摸A點(diǎn)的情況。這樣，在一點(diǎn)觸摸的情況下，端子Yl、Y2間的電阻值與點(diǎn)A的位置無(wú)關(guān)，是R3+R4=R0 (固定)，因此電壓R_YP也與點(diǎn)A的位置無(wú)關(guān)，為固定值。另外，一點(diǎn)觸摸時(shí)的端子間電阻值與未觸摸時(shí)的端子間電阻值相等，一點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓R_YP為與未觸摸時(shí)的電壓R_YP0相同的值。同樣地，一點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓R_XP為與未觸摸時(shí)的電壓R_XP0相同的值。因而，在這種情況下，由于R_XP0_R_XP〈D_XY(步驟 S13 :“否”)、R_YP0_R_YP〈D_XY (步驟S14 否”)，因此控制部10判斷為是一點(diǎn)觸摸，輸出觸摸位置的坐標(biāo)Xpl、Ypl (步驟S15)并結(jié)束觸摸處理。接著，說(shuō)明兩點(diǎn)觸摸的情況。如圖4所示，在觸摸了觸摸面板TP上的點(diǎn)BI、Β2的情況下，在端子Yl、Υ2間，由于在BI、Β2處上層面板(觸摸面板TPl)與下層面板(觸摸面板ΤΡ2)相接觸而產(chǎn)生電阻R8 R10。在此，電阻R8是點(diǎn)BI處的上下面板間的電阻值，電阻R9是點(diǎn)B2處的上下面板間的電阻值，RlO是觸摸面板TP2上的點(diǎn)B1-B2間的電阻值。即，在兩點(diǎn)觸摸的情況下，端子Yl、Y2間的電阻值為R5+(R7/7(R8+R9+R10))+R6。在此，“//”是表示并聯(lián)連接的合成電阻值的符號(hào)。這樣，B1、B2間的電阻(R7/V(R8+R9+R10))小于上層面板(觸摸面板TPl)上的點(diǎn)B1-B2間的電阻R7。因此，兩點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓R_YP小于未觸摸時(shí)的電壓R_YP0。因而，在這種情況下，由于R_YP0_R_YP>D_XY(步驟S14 是”)，因此控制部10判斷為是兩點(diǎn)觸摸。這樣，利用兩點(diǎn)觸摸時(shí)與一點(diǎn)觸摸時(shí)相比各面板的端子間電阻值變小的情形，判斷是否為兩點(diǎn)觸摸。然后，在判斷為是兩點(diǎn)觸摸的情況下，進(jìn)行計(jì)算該兩點(diǎn)間的距離的處理。另外，(R_XP0-R_XP)、(R_YP0_R_YP)是在上下面板的接觸點(diǎn)處的接觸電阻值(觸摸輸入點(diǎn)的按壓力)固定的情況下僅與兩點(diǎn)間距離相關(guān)的值。然而，當(dāng)雖然兩點(diǎn)間距離固定但接觸電阻值變化時(shí)，(R_XPO-R_XP)、(R_YPO-R_YP)也變化。圖11是表示設(shè)兩點(diǎn)間距離為固定時(shí)的接觸電阻值與(R_YP0-R_YP)的關(guān)系的圖，橫軸取用面板的X方向的電阻值進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化后的接觸電阻值，縱軸取(R_YP0-R_YP)。如該圖11所示，按壓カ越大、即接觸電阻值越小，(R_YP0-R_YP)越大。因而，為了正確地計(jì)算兩點(diǎn)間距離，需要考慮該接觸電阻值(按壓カ)。因此，在本實(shí)施方式中，使用與接觸電阻值(按壓力)有相關(guān)關(guān)系的按壓參數(shù)XZ21來(lái)校正兩點(diǎn)間距離XDual、YDual。在X方向的觸摸面板TP2的薄膜電阻Rxplate已知的情況下，用下式求一點(diǎn)觸摸時(shí)的接觸電阻值Rt。Rt = Rxplate · Xp/4096 (Z2/Z1-1)......... (6) 因此，根據(jù)上述(6)式設(shè)定上述(3)式所示的參數(shù)，將其作為按壓參數(shù)XZ21進(jìn)行計(jì)算(步驟S16) ο在兩點(diǎn)觸摸的情況下，根據(jù)上述(6)式計(jì)算出的接觸電阻值Rt容易受到靠近電壓ZU Z2的測(cè)量點(diǎn)的觸摸輸入點(diǎn)處的接觸電阻值的影響，但是如果兩點(diǎn)的接觸電阻值是相同程度，則根據(jù)上述(3)式能夠獲得與接觸電阻大致成比例的值。因此，在本實(shí)施方式中，即使是兩點(diǎn)觸摸的情況下，也根據(jù)一點(diǎn)觸摸時(shí)的接觸電阻計(jì)算式來(lái)設(shè)定按壓參數(shù)XZ21的計(jì)算式。這樣，通過(guò)用一點(diǎn)觸摸時(shí)的計(jì)算式代替，能夠使按壓參數(shù)XZ21的計(jì)算處理變得簡(jiǎn)單。接著，使用計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21，根據(jù)上述(4)式以及(5)式來(lái)計(jì)算兩點(diǎn)間距離XDual、YDual (步驟 S18、S19)。此時(shí)，由于觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ越大，接觸電阻值越小，因此上述(3)式中的電壓Zl和電壓Z2為相近的值，從而Z2/Z1接近I。也就是說(shuō)，按壓參數(shù)XZ21接近“O”。因而，觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ越大，兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ)(R_YP0-R_YP_B)的校正量越小。換言之，觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ越小，將按壓參數(shù)XZ21設(shè)定為越大的值，來(lái)進(jìn)行使兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) (R_YP0-R_YP-B)增加的校正。這樣，與按壓カ相應(yīng)地決定校正系數(shù)(XZ21+C)，并校正兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ)(R_ypo-r_yp-b)，因此能夠求出與按壓カ相應(yīng)的正確的兩點(diǎn)間距離。圖12是用于說(shuō)明本發(fā)明的第一實(shí)施方式的效果的圖，示出了實(shí)施與按壓カ相應(yīng)的兩點(diǎn)間距離的校正時(shí)的YDual。如該圖12所示，在設(shè)兩點(diǎn)間距離為固定并改變按壓カ來(lái)計(jì)算YDual的情況下，能夠計(jì)算抑制了按壓カ(接觸電阻值)的影響的YDual。這對(duì)于X方向的兩點(diǎn)間距離XDual也是同樣的。(效果)這樣，在上述實(shí)施方式中，在觸摸了觸摸面板上的兩點(diǎn)時(shí)，考慮觸摸輸入點(diǎn)的按壓力來(lái)計(jì)算兩點(diǎn)間的距離。因此，例如即使操作者進(jìn)行了使兩點(diǎn)間距離固定來(lái)改變按壓カ的操作，也能夠正確地計(jì)算固定的兩點(diǎn)間距離。另外，在操作者進(jìn)行了改變按壓カ的同時(shí)改變兩點(diǎn)間距離的操作的情況下，能夠防止錯(cuò)誤地判斷為兩點(diǎn)間距離是固定的。這樣，能夠高精度地計(jì)算兩點(diǎn)間距離。另外，在計(jì)算兩點(diǎn)間距離時(shí)，根據(jù)觸摸面板未被觸摸時(shí)的端子間電阻值與觸摸面板被觸摸時(shí)的端子間電阻值之差來(lái)計(jì)算兩點(diǎn)間距離的基準(zhǔn)值，并與按壓カ相應(yīng)地校正該基準(zhǔn)值。由此，能夠校正隨著按壓カ(接觸電阻值)的變化而產(chǎn)生的端子間電阻值的變化量，因此能夠計(jì)算出正確的兩點(diǎn)間距離。并且，由于測(cè)量電壓Zl、Z2并通過(guò)運(yùn)算求出與按壓カ有相關(guān)關(guān)系的按壓參數(shù)，因此不需要另外設(shè)置用于檢測(cè)觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ的傳感器等，能夠?qū)崿F(xiàn)觸摸面板裝置的小型化以及成本的削減。(應(yīng)用例)此外，在上述第一實(shí)施方式中，也可以在計(jì)算出兩點(diǎn)間距離XDual、YDual之后，使用這些兩點(diǎn)間距離XDual、YDual來(lái)判斷圖13所示的兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)(放大(將兩個(gè)手指打開(kāi)的動(dòng)作)、縮小(將兩個(gè)手指合并的動(dòng)作)、旋轉(zhuǎn)(移動(dòng)手指的動(dòng)作))。在這種情況下，在執(zhí)行了上述的圖5的觸摸處理之后，執(zhí)行圖14所示的手勢(shì)判斷處理。 首先,在步驟S31中，根據(jù)下式計(jì)算兩點(diǎn)間距離的變化量DualMove。DualMove = XDuaI-XDuaI0+YDuaI-YDuaIO......... (7)在此，XDualO> YDualO是通過(guò)前次的取樣計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離XDual、YDual。接著，在步驟S 32中，判斷X方向的兩點(diǎn)間距離XDual是否大于前次值XDualO，在XDual >XDualO的情況下，判斷為X方向的兩點(diǎn)間距離增加，并轉(zhuǎn)移到步驟S33，在XDual く XDualO的情況下，轉(zhuǎn)移到后述的步驟S36。在步驟S33中，判斷Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual是否大于前次值YDualO，在YDuaDYDualO的情況下，判斷為Y方向的兩點(diǎn)間距離增加，并轉(zhuǎn)移到步驟S34，在YDual彡YDualO的情況下，轉(zhuǎn)移到后述的步驟S40。在步驟S34中，判斷在上述步驟S31中計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離的變化量DualMove是否大于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值nl。然后,在DualMove ^ nl的情況下,轉(zhuǎn)移到后述的步驟S40,在DualM0Ve>nl的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S35，判斷為兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)是放大操作，并結(jié)束手勢(shì)判斷處理，在步驟S36中，判斷Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual是否小于前次值YDualO，在YDuaKYDualO的情況下，判斷為Y方向的兩點(diǎn)間距離減小，并轉(zhuǎn)移到步驟S37，在YDual彡YDualO的情況下，轉(zhuǎn)移到后述的步驟S40。在步驟S37中，將在上述步驟S31中計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離的變化量DualMove的符號(hào)反轉(zhuǎn)，并轉(zhuǎn)移到步驟S38。然后，在步驟S38中，判斷在上述步驟S37中設(shè)定的兩點(diǎn)間距離的變化量DualMove是否大于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值n2。在DualMove ^ n2的情況下,轉(zhuǎn)移到后述的步驟S40，在DualMove>n2的情況下，轉(zhuǎn)移到步驟S39，判斷為兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)是縮小操作，并結(jié)束手勢(shì)判斷處理。另外，在步驟S40中，判斷為兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)是旋轉(zhuǎn)操作，執(zhí)行圖15所示的旋轉(zhuǎn)判斷處理后結(jié)束手勢(shì)判斷處理。如圖15所示，在旋轉(zhuǎn)判斷處理中，首先在步驟S41中計(jì)算X方向變化量dXp=Xp-Xp0。在此，XpO是在前次的取樣中計(jì)算出的X坐標(biāo)Xp。接著，在步驟S42中，計(jì)算Y方向變化量dYp=Yp-Yp0。在此，YpO是在前次的取樣中計(jì)算出的Y坐標(biāo)Yp。
接著，在步驟S43中，判斷在上述步驟S41中計(jì)算出的X方向變化量dXp是否大于預(yù)先設(shè)定的旋轉(zhuǎn)判斷閾值D_Rot (>0)。然后，在dXp>D_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S44，判斷為兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)是右旋轉(zhuǎn)操作，并結(jié)束旋轉(zhuǎn)判斷處理。另ー方面，在dXp ^ D_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S45，并判斷在上述步驟S42中計(jì)算出的Y方向變化量dYp是否大于旋轉(zhuǎn)判斷閾值D_Rot。然后，dYp>D_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到上述步驟S44，在dYp ^ D_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S46。在步驟S46中，判斷在上述步驟S41中計(jì)算出的X方向變化量dXp是否小于旋轉(zhuǎn)判斷閾值_D_Rot。然后，在dXpぐD_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S47，判斷為兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)是左旋轉(zhuǎn)操作，并結(jié)束旋轉(zhuǎn)判斷處理。另ー方面，在dXp ^ -D_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到步驟S48，判斷在上述步驟S42中計(jì)算出的Y方向變化量dYp是否小于旋轉(zhuǎn)判斷閾值_D_Rot。然后，在dYpぐD_Rot的情況下轉(zhuǎn)移到上述步驟S47，在dYp ^ _D_Rot的情況下直接結(jié)束旋轉(zhuǎn)判斷處理。如上所述，在計(jì)算兩點(diǎn)間距離XDual、YDual吋，由于實(shí)施與按壓カ相應(yīng)的校正來(lái)抑制了接觸電阻值的影響，因此通過(guò)使用這樣計(jì)算出的兩點(diǎn)間距離XDual、YDual，能夠進(jìn)行高精度的手勢(shì)判斷。例如，在縮小的動(dòng)作中存在如下情況從開(kāi)始按壓兩點(diǎn)起，隨著將兩個(gè)手指合并而按壓カ逐漸變大。在這種情況下，如果不進(jìn)行考慮了按壓カ的校正，則隨著時(shí)間經(jīng)過(guò)，(R_YP0-R_YP)如圖16所示那樣變化。這樣，盡管實(shí)際的兩點(diǎn)間距離逐漸變小，但是在圖中用α表示的期間，(R_YP0-R_YP)有増加的趨勢(shì)，導(dǎo)致錯(cuò)誤地判斷為兩點(diǎn)間距離増加了(進(jìn)行了放大操作)。對(duì)此，當(dāng)如本實(shí)施方式那樣實(shí)施考慮了按壓カ的校正吋，即使在縮小操作時(shí)按壓カ逐漸變大，也能夠可靠地識(shí)別出如圖17所示那樣兩點(diǎn)間距離(在此示出YDual)逐漸減 小。因此，在這種情況下，能夠在兩點(diǎn)被按壓起的短時(shí)間內(nèi)正確地判斷為縮小。這樣，能夠設(shè)為如下觸摸面板裝置通過(guò)進(jìn)行考慮了按壓カ的校正，能夠提高手勢(shì)的判斷準(zhǔn)確度，能夠識(shí)別出符合操作者的意圖的操作。此外，在設(shè)為僅進(jìn)行手勢(shì)判斷的觸摸面板裝置的情況下，還能夠在上述⑷和(5)式中設(shè)為a=i、d=0。由此，能夠簡(jiǎn)化兩點(diǎn)間距離的計(jì)算處理。(第二實(shí)施方式)接著，說(shuō)明本發(fā)明的第二實(shí)施方式。上述第一實(shí)施方式中在計(jì)算兩點(diǎn)間距離時(shí)使用根據(jù)上述(3)式計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21，與此相対，本第ニ實(shí)施方式使用考慮了兩點(diǎn)觸摸時(shí)的各點(diǎn)的接觸電阻的影響的按壓參數(shù)XZ21。(結(jié)構(gòu))在兩點(diǎn)觸摸的情況下，在測(cè)量電壓Zl、Z2時(shí)形成圖18所示的電路結(jié)構(gòu)。S卩，此時(shí)的電阻模型如圖19所示。此外，在此，將正在觸摸的兩點(diǎn)設(shè)為A、B，將觸摸面板TPl側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為Al、BI，將觸摸面板TP2側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為A2、B2。另外，將觸摸輸入點(diǎn)A的坐標(biāo)設(shè)為(xa, ya),將觸摸輸入點(diǎn)B的坐標(biāo)設(shè)為(xb, yb)。此外，xa〈xb。在本第二實(shí)施方式中，在觸摸面板TP被觸摸時(shí)，與上述的第一實(shí)施方式同樣地，由控制部10執(zhí)行圖5所示的觸摸處理。但是，在該圖5中，步驟S16的處理不同。在本實(shí)施方式中，在步驟S16中執(zhí)行圖20所示的按壓參數(shù)計(jì)算處理。首先，在步驟S51中，判斷被觸摸的兩點(diǎn)的位置關(guān)系。在此，判斷是否為xa〈xb且ya>yb,在xa〈xb且ya>yb的情況下,判斷為點(diǎn)A、B處于圖21所示的位置關(guān)系，并轉(zhuǎn)移到步驟S52。具體來(lái)說(shuō)，根據(jù)在步驟Sll中測(cè)量出的YpU Yp2，在Ypl〈Yp2吋，判斷為xa〈xb且ya>yb。 在步驟S52中，獲取圖22的(a)所示的狀態(tài)下的電壓XN(電壓Z1NP)和圖22的(b)所示的狀態(tài)下的電壓YP (電壓Z2NP)。即，對(duì)端子Y2直接提供電源VDD的電壓，并且將端子X(jué) I接地。然后，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子X(jué)2和Yl的電平。即，在本第二實(shí)施方式中，設(shè)為能夠在端子Y2上連接電源VDD而在端子X(jué)l上連接GND的結(jié)構(gòu)。接著，在步驟S53中，根據(jù)下式計(jì)算按壓參數(shù)XZ2INP。XZ21NP = (4096-Xp)/4096(Z2NP/Z1NP-1).........(8)另外，根據(jù)上述(3)式，計(jì)算按壓參數(shù)XZ21(下面稱為XZ21PN)。然后，求出上述XZ21PN與上述XZ21NP的平均，將其作為最終的按壓參數(shù)XZ21，之后結(jié)束按壓參數(shù)計(jì)算處理。另ー方面,在上述步驟S51中判斷為xa〈xb且ya〈yb的情況下(根據(jù)在步驟Sll中測(cè)量出的Ypl、Yp2判斷為Ypl>Yp2的情況下)，判斷為點(diǎn)Α、B處于圖23所示的位置關(guān)系，并轉(zhuǎn)移到步驟S54。在步驟S54中，獲取圖24的(a)所示的狀態(tài)下的電壓XN(電壓Z1PP)和圖24的(b)所示的狀態(tài)下的電壓YN(電壓Z2PP)。即，對(duì)端子Yl直接提供電源VDD的電壓，并且將端子X(jué)l接地。然后，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子X(jué)2和Y2的電平。接著，在步驟S55中，根據(jù)下式計(jì)算按壓參數(shù)XZ2IPP。XZ21PP = (4096-Xp)/4096(Z2PP/Z1PP-1).........(9)然后，將根據(jù)上述(9)式計(jì)算出的XZ21PP作為最終的按壓參數(shù)XZ21，之后結(jié)束按壓參數(shù)計(jì)算處理。(動(dòng)作)接著，說(shuō)明本發(fā)明的第二實(shí)施方式的動(dòng)作。假設(shè)當(dāng)前觸摸了圖21所示的兩點(diǎn)A、B。在這種情況下，R_XP0_R_XP>D_XY(圖5的步驟S13 是”)，因此控制部10判斷為是兩點(diǎn)觸摸。于是，控制部10執(zhí)行圖20的按壓參數(shù)計(jì)算處理。此時(shí)，由于xa〈xb且ya>yb (步驟S 51 是”)，因此將根據(jù)上述(3)式計(jì)算出的XZ21(XZ21PN)與根據(jù)上述(8)式計(jì)算出的XZ21NP的平均計(jì)算為最終的按壓參數(shù)XZ21。在觸摸了圖21所示的兩點(diǎn)A、B的情況下，觸摸面板TPl上的電阻Ry4與電阻Ry5的關(guān)系為Ry4>Ry5。另外，觸摸面板TP2上的電阻Rx4與電阻Rx5的關(guān)系為Rx4>Rx5。因此，在上述⑶式的XZ21PN的計(jì)算中使用的電壓Zl和Z2相比點(diǎn)A更容易受到點(diǎn)B側(cè)的接觸電阻值的影響。
因而，XZ21PN為較大地受到了點(diǎn)B的接觸電阻值的影響的值。換言之，可以說(shuō)XZ21PN是與點(diǎn)B的接觸電阻值(按壓カ)的相關(guān)程度高于與點(diǎn)A的接觸電阻值(按壓カ)的相關(guān)程度的按壓參數(shù)。在點(diǎn)A和點(diǎn)B處接觸電阻值是相同程度的情況下，如上述的第一實(shí)施方式那樣，基于上述⑶式計(jì)算出的XZ21PN與實(shí)際的接觸電阻值Rt大致成比例。因此，在這種情況下，通過(guò)將該XZ21PN用作按壓參數(shù)XZ21，能夠正確地求出兩點(diǎn)間距離?？墒牵邳c(diǎn)A和點(diǎn)B處接觸電阻值不同的情況下，與直接使用XZ21PN的情況相比，使用XZ21PN與XZ21NP的平均的情況下精度更好。XZ21NP是根據(jù)圖22的(a)所示的狀態(tài)下的電壓XN (電壓Z1NP)與圖22的(b)所示的狀態(tài)下的電壓YP(電壓Ζ2ΝΡ)計(jì)算出的值，該值是較大地受到點(diǎn)A的接觸電阻值的影響的值。因而，通過(guò)取點(diǎn)B的接觸電阻值的影響大的ΧΖ21ΡΝ與點(diǎn)A的接觸電阻值的影響大的ΧΖ21ΝΡ的平均，能夠獲得點(diǎn)A與點(diǎn)B的平均值。即，能夠獲得將點(diǎn)A處的接觸電阻值的、影響和點(diǎn)B處的接觸電阻值的影響設(shè)為相同程度的按壓參數(shù)ΧΖ21。其結(jié)果，能夠更正確地求出兩點(diǎn)間距離。另ー方面，在觸摸了圖23所示的兩點(diǎn)Α、B的情況下，由于xa〈xb且ya〈yb (步驟S51 否”)，因此將基于上述(9)式計(jì)算出的XZ21PP計(jì)算為最終的按壓參數(shù)XZ21。在觸摸了圖23所示的兩點(diǎn)A、B的情況下，觸摸面板TPl上的電阻Ry4與電阻Ry5的關(guān)系為Ry4>Ry5。另外，觸摸面板TP2上的電阻Rx4與電阻Rx5的關(guān)系為Rx4〈Rx5。因此，在上述(3)式的XZ21PN的計(jì)算中使用的電壓Zl容易受到點(diǎn)B的接觸電阻值的影響，電壓Z2容易受到點(diǎn)A的接觸電阻值的影響。此時(shí)，在觸摸輸入點(diǎn)的移動(dòng)方向不變的情況下，如上述的第一實(shí)施方式那樣基于上述⑶式計(jì)算出的XZ21PN為與實(shí)際的接觸電阻值Rt相關(guān)的值。因此，在這種情況下，能夠?qū)⒃揦Z21PN作為按壓參數(shù)XZ21來(lái)用于手勢(shì)判斷?？墒?，在XZ21PN中，電壓Zl和電壓Z2容易受到影響的點(diǎn)不同，因此為了提高手勢(shì)判斷、兩點(diǎn)間距離的計(jì)算精度，期望使用XZ21PP來(lái)代替XZ21PN。XZ21PP是根據(jù)圖24的(a)所示的狀態(tài)下的電壓XN (電壓Z1PP)和圖24的(b)所示的狀態(tài)下的電壓YN(電壓Z2PP)計(jì)算出的值，該值容易受到點(diǎn)A的影響，但是電壓ZlPP和電壓Z2PP容易受到影響的點(diǎn)相同。因此，與直接使用XZ21PN的情況相比，將XZ21PP用作按壓參數(shù)XZ21的情況下更能夠提高兩點(diǎn)間距離的計(jì)算精度。(效果)這樣，在上述第二實(shí)施方式中，考慮兩點(diǎn)觸摸時(shí)的各點(diǎn)的接觸電阻的影響，使用與各點(diǎn)的按壓カ的相關(guān)程度為同等程度的按壓參數(shù)來(lái)進(jìn)行兩點(diǎn)間距離的校正，因此能夠更高精度地計(jì)算兩點(diǎn)間距離。(應(yīng)用例)此外，在上述第二實(shí)施方式中，針對(duì)在xa〈xb且ya〈yb時(shí)將XZ21PP用作按壓參數(shù)XZ21的情況進(jìn)行了說(shuō)明，但是也能夠計(jì)算調(diào)換電極所得到的XZ21NN，將XZ21NN與XZ21PP的平均設(shè)為最終的按壓參數(shù)XZ21。這樣，通過(guò)取容易受到點(diǎn)B的影響的XZ21NN與容易受到點(diǎn)A的影響的XZ21PP的平均，能夠進(jìn)一歩提高兩點(diǎn)間距離的計(jì)算精度。(第三實(shí)施方式)
接著，說(shuō)明本發(fā)明的第三實(shí)施方式。在上述第一和第二實(shí)施方式中使用電壓R_XP0、R_YP0、R_XP、R_YP計(jì)算了兩點(diǎn)間距離，與此相對(duì)，本第三實(shí)施方式使用電壓Xp21、Yp21、RXp21、RYp21來(lái)計(jì)算兩點(diǎn)間距離。(結(jié)構(gòu))圖25是表示本發(fā)明的第三實(shí)施方式中的觸摸面板裝置的結(jié)構(gòu)的電路圖。該觸摸面板裝置除了具備開(kāi)關(guān)SW7和SW8以外，具有與圖I所示的觸摸面板裝置相同的結(jié)構(gòu)。因此，在此以結(jié)構(gòu)不同的部分為中心進(jìn)行說(shuō)明。開(kāi)關(guān)SW7的一端連接在觸摸面板TPl的端子Yl上，其另一端連接在觸摸面板TPl的端子Y2上。另外，開(kāi)關(guān)SW8的一端連接在觸摸面板TP2的端子X(jué)l上，其另一端連接在觸摸面板TP2的端子X(jué)2上。 這些開(kāi)關(guān)SW7和SW8被控制部10分別控制開(kāi)閉狀態(tài)。控制部10對(duì)開(kāi)關(guān)SWfSWS進(jìn)行開(kāi)閉控制，獲取在規(guī)定的連接狀態(tài)下各端子X(jué)1、X2、Y1、Y2中產(chǎn)生的電壓ΧΡ、ΧΝ、ΥΡ、ΥΝ。在此，控制部10具備未圖示的AD轉(zhuǎn)換器，將測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。然后，控制部10根據(jù)這些獲取到的電壓值，判斷在觸摸面板TP上是否觸摸了兩點(diǎn)，并且在觸摸了一點(diǎn)的情況下檢測(cè)其觸摸位置(X坐標(biāo)，Y坐標(biāo))并輸出，在觸摸了兩點(diǎn)的情況下，檢測(cè)兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)(X坐標(biāo)，Y坐標(biāo))、兩點(diǎn)間的距離(X方向距離，Y方向距離)以及兩點(diǎn)的方向并輸出。在本第三實(shí)施方式中，控制部10不進(jìn)行圖2所示的初始化處理，在觸摸面板TP被進(jìn)行一點(diǎn)觸摸的狀態(tài)下，進(jìn)行圖26所示的初始化處理。首先，在步驟S 61中，獲取圖27所示的狀態(tài)下的端子Yl的電壓YP (電壓Χρ21)。即，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SW4、SW6以及SW7設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，設(shè)為對(duì)端子X(jué)1、X2間施加電源VDD的電壓且將端子Y1、Y2進(jìn)行連接的短路狀態(tài)。然后，測(cè)量該狀態(tài)下的端子Yl的電平。此外，圖27示出了兩點(diǎn)觸摸時(shí)的端子Χ1、Χ2間的電路結(jié)構(gòu)。接著，在步驟S62中，獲取圖28所示的狀態(tài)下的端子X(jué)l的電壓XP (電壓Υρ21)。即，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SW1、SW3以及SW8設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，設(shè)為對(duì)端子Y1、Y2間施加電源VDD的電壓且將端子Χ1、Χ2進(jìn)行連接的短路狀態(tài)。然后，測(cè)量該狀態(tài)下的端子X(jué)l的電平。此外，圖28示出了一點(diǎn)觸摸時(shí)的端子Υ1、Υ2間的電路結(jié)構(gòu)。在步驟S63中，獲取圖29所示的狀態(tài)下的端子Yl的電壓YP (電壓RXp21)。S卩，針對(duì)圖27的狀態(tài)，將開(kāi)關(guān)SW4設(shè)為斷開(kāi)狀態(tài)并將開(kāi)關(guān)SW5設(shè)為閉合狀態(tài)，從而設(shè)為通過(guò)電阻R2對(duì)端子X(jué)1、X2間施加電源VDD的電壓且將端子Y1、Y2進(jìn)行連接的短路狀態(tài)。然后，測(cè)量該狀態(tài)下的端子Yl的電平。此外，圖29示出了兩點(diǎn)觸摸時(shí)的端子Χ1、Χ2間的電路結(jié)構(gòu)。接著，在步驟S64中，獲取圖30所示的狀態(tài)下的端子X(jué)l的電壓XP (電壓RYp21)。即，針對(duì)圖28的狀態(tài)，將開(kāi)關(guān)SWl設(shè)為斷開(kāi)狀態(tài)并將開(kāi)關(guān)SW2設(shè)為閉合狀態(tài)，從而設(shè)為通過(guò)電阻Rl對(duì)端子Y1、Y2間施加電源VDD的電壓且將端子Χ1、Χ2進(jìn)行連接的短路狀態(tài)。然后，測(cè)量該狀態(tài)下的端子X(jué)l的電平。此外，圖30示出了一點(diǎn)觸摸時(shí)的端子Υ1、Υ2間的電路結(jié)構(gòu)。在步驟S65中，根據(jù)在上述步驟S61 S64中分別獲取到的電壓Xp21、Yp21、RXp21、RYp21，基于下式計(jì)算SRXY。
SRXY = 4096 · (RXp21+RYp21) / (Xp21+Yp2I)......... (10)此外，上述(10)式是12比特(212=4096)的情況下的計(jì)算式。在步驟S66中，根據(jù)在上述步驟S 61中獲取到的電壓Χρ21和在上述步驟S63中獲取到的電壓RXp21，基于下式計(jì)算SRXO。SRXO = 4096 · RXp21/Xp21......... (11)接著，根據(jù)在上述步驟S62中獲取到的電壓Yp21和在上述步驟S64中獲取到的電壓RYp21，基于下式計(jì)算SRYO。SRYO = 4096 · RYp21/Yp21......... (12)然后，在步驟S67中，將在上述步驟S66中計(jì)算出的值SRXO和SRYO存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器(未圖示)中，并結(jié)束初始化處理。另外，控制部10在觸摸面板TP被觸摸吋，進(jìn)行圖31所示的觸摸處理來(lái)代替圖5所示的觸摸處理。首先，在步驟S71中，獲取各種數(shù)據(jù)。具體來(lái)說(shuō)，獲取電壓Xp21、Yp21、RXp21、RYp21。電壓Xp21是在圖27所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YP，電壓Yp21是在圖28所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓ΧΡ。另外，電壓RXP21是在圖29所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YP，電壓RYp21是在圖30所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP。接著，轉(zhuǎn)移到步驟S72，根據(jù)在上述步驟S71中獲取到的各電壓和存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的SRXY，基于下式計(jì)算DXY。DXY = SRXY · (Xp21+Yp21)/4096-(RXp21+RYp21)......... (13)
在步驟S73中，判斷在上述步驟S72中計(jì)算出的DXY是否大于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值Dual_DXY。SRXY在一點(diǎn)觸摸時(shí)為固定值而在兩點(diǎn)觸摸時(shí)為小于一點(diǎn)觸摸時(shí)的值，因此上述DXY在一點(diǎn)觸摸時(shí)為O而在兩點(diǎn)觸摸時(shí)為大于O的值。因此，判斷閾值Dual_DXY設(shè)定為O或者設(shè)置有規(guī)定余量的大于O的值。然后，在DXY ^ Dual_DXY時(shí)判斷為是一點(diǎn)觸摸，轉(zhuǎn)移到步驟S74，將在上述步驟S71中獲取到的電壓Xp21、Yp21作為觸摸位置的XY坐標(biāo)來(lái)輸出，之后結(jié)束觸摸處理。另ー方面，在DXY>Dual_DXY時(shí)判斷為是兩點(diǎn)觸摸，轉(zhuǎn)移到步驟S75。在該步驟S75中，獲取電壓Ypl。電壓Ypl是在圖32所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP。S卩，針對(duì)圖4的狀態(tài)，將開(kāi)關(guān)SW2設(shè)為斷開(kāi)狀態(tài)、將開(kāi)關(guān)SWl和SW3設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，由此在對(duì)端子Yl、Υ2間施加了電源VDD的電壓的狀態(tài)下測(cè)量另ー個(gè)面板的端子X(jué)l的電平。 接著，轉(zhuǎn)移到步驟S76，判斷在上述步驟S71中獲取到的電壓Υρ21是否大于在上述步驟S75中獲取到的電壓Ypl。然后，在Yp21>Ypl時(shí)，轉(zhuǎn)移到步驟S77，在Yp21 ^ Ypl時(shí)，轉(zhuǎn)移到后述的步驟S79。在步驟S77中，將表示兩點(diǎn)的方向的信息dY設(shè)定為“+1”，并轉(zhuǎn)移到步驟S78。在步驟S78中獲取電壓Z1、Z2，轉(zhuǎn)移到后述的步驟S81。電壓Zl、Z2是在圖33的(a)所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP和在圖33的(b)所示的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YN。即，通過(guò)將開(kāi)關(guān)SWl和SW6設(shè)為閉合狀態(tài)并將除此以外的開(kāi)關(guān)控制為斷開(kāi)狀態(tài)，來(lái)對(duì)端子Yl提供電源VDD的電壓，并且將端子X(jué)2接地。然后，在該狀態(tài)下，測(cè)量端子X(jué)l和Y2的電平。在此，圖33表示對(duì)點(diǎn)A和點(diǎn)B這兩點(diǎn)進(jìn)行了觸摸時(shí)的各端子間的電路結(jié)構(gòu)，將觸摸面板TPl側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為Al、BI，將觸摸面板TP2側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為A2、B2。另外，在步驟S79中，將表示兩點(diǎn)的方向的信息dY設(shè)定為“-1”，并轉(zhuǎn)移到步驟S80。在步驟S80中獲取電壓Z1PP、Z2PP，并轉(zhuǎn)移到步驟S81。電壓Z1PP、Z2PP是圖34的(a)所示的狀態(tài)下的電壓XN和圖34的(b)所示的狀態(tài)下的電壓YN。S卩，在對(duì)端子Yl直接提供電源VDD的電壓且將端子X(jué)l接地的狀態(tài)下，測(cè)量端子X(jué)2和Y2的電平。然后，將這樣測(cè)量出的電壓Z1PP、Z2PP設(shè)定為電壓Z1、Z2。在此，圖34是示出了對(duì)點(diǎn)A和點(diǎn)B這兩點(diǎn)進(jìn)行了觸摸時(shí)的各端子間的電路結(jié)構(gòu)，將觸摸面板TPl側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為A1、B1，將觸摸 面板TP2側(cè)的觸摸輸入點(diǎn)設(shè)為A2、B2。在將兩點(diǎn)的坐標(biāo)設(shè)為(xa, ya)、(xb, yb)(其中，xa〈xb)時(shí),利用兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)和兩點(diǎn)間距離的信息是無(wú)法與I坐標(biāo)值被替換后的(xa，yb)、(xb, ya)相區(qū)分。在圖32的電路中，由于XP的電壓(電壓Ypl)容易受到y(tǒng)b的影響，因此在Yp21>Ypl時(shí)判斷為ya>yb，在Yp21<Ypl 時(shí)判斷為 ya〈yb。即,在xa〈xb 且 ya>yb 時(shí)，dY=+l,在 xa〈xb 且 ya<yb 時(shí)，dY=_l。在步驟S81中，計(jì)算按壓參數(shù)XZ21。該按壓參數(shù)XZ21是與觸摸輸入點(diǎn)的按壓カ有相關(guān)關(guān)系的參數(shù)，是該按壓カ越大則變得越小的值。在此，基于下式計(jì)算按壓參數(shù)XZ21。XZ21 = Xp21/4096 (Z2/Z1-1)......... (14)接著，轉(zhuǎn)移到步驟S82，判斷在上述步驟S81中計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21是否小于預(yù)先設(shè)定的判斷閾值D_XZ21。然后，在XZ21 >D_XZ21的情況下，判斷為沒(méi)有對(duì)觸摸輸入點(diǎn)施加固定壓力，直接結(jié)束觸摸處理。另ー方面，在XZ21〈D_XZ21的情況下，判斷為對(duì)觸摸輸入點(diǎn)施加了固定壓力，并轉(zhuǎn)移到步驟S 83。在步驟S83中，基于下式計(jì)算X方向的兩點(diǎn)間距離XDual。XDual = A · (SRX0-4096 · RXp21/Xp2 トB) ·(XZ21+C) +D .........(15)在此，A、B、C、D分別是預(yù)先設(shè)定的常數(shù)。這樣，通過(guò)用根據(jù)按壓參數(shù)XZ21設(shè)定的校正系數(shù)(XZ21+C)校正兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (SRX0-4096 · RXp21/Xp21_B)，來(lái)計(jì)算X方向的兩點(diǎn)間距離XDual，該兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (SRX0-4096 · RXp21/Xp2トB)是根據(jù)一點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓RXp21與電壓Xp21之比即SRXO與兩點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓RXp21與電壓Xp21之比的差計(jì)算出的。接著，在步驟S84中，基于下式計(jì)算Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual。YDual = A · (SRY0-4096 · RYp21/Yp2 トB) ·(XZ21+C) +D .........(16)這樣，通過(guò)用根據(jù)按壓參數(shù)XZ21設(shè)定的校正系數(shù)(XZ21+C)校正兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (SRY0-4096 · RYp21/Yp21_B)，來(lái)計(jì)算Y方向的兩點(diǎn)間距離YDual，該兩點(diǎn)間距離基準(zhǔn)值A(chǔ) · (SRY0-4096 · RYp21/Yp2トB)是根據(jù)一點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓RYp21與電壓Yp21之比即SRYO與兩點(diǎn)觸摸時(shí)的電壓RYp21與電壓Yp21之比的差計(jì)算出的。
然后，在步驟S85中，將兩點(diǎn)的中心坐標(biāo)(Xp21，Yp21)、兩點(diǎn)間距離XDual、YDual以及表不兩點(diǎn)的方向的信息dY進(jìn)行輸出，并結(jié)束觸摸處理。如上所述，通過(guò)利用RXp21/Xp21、RYp21/Yp21與兩點(diǎn)間的距離相應(yīng)地變化的情形，來(lái)計(jì)算兩點(diǎn)間距離XDual和YDual。此外，在上述的處理中，在獲取各種數(shù)據(jù)時(shí)，也可以實(shí)施平均化處理等。作為平均化處理，例如進(jìn)行如下處理獲取六個(gè)數(shù)據(jù)，在刪除了該六個(gè)數(shù)據(jù)中的最大值和最小值之后，取剰余的四個(gè)數(shù)據(jù)的平均。由此，能夠提高測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。另外，在圖31中，步驟S71(尤其圖27和圖28)對(duì)應(yīng)于第一電壓檢測(cè)部，步驟S71(尤其圖29和圖30)對(duì)應(yīng)于第二電壓檢測(cè)部。并且，步驟S72和S73對(duì)應(yīng)于兩點(diǎn)觸摸判斷部，步驟S83和S84對(duì)應(yīng)于兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部。另外，步驟S76飛81對(duì)應(yīng)于按壓カ檢測(cè)部。(動(dòng)作) 接著，說(shuō)明本發(fā)明的第三實(shí)施方式的動(dòng)作。假設(shè)當(dāng)前操作者觸摸了觸摸面板TP上的兩點(diǎn)。此時(shí)，當(dāng)假設(shè)兩點(diǎn)間距離比較短時(shí)，兩點(diǎn)觸摸時(shí)的RXp21/Xp21、RYp21/Yp21為比較接近一點(diǎn)觸摸時(shí)的RXp21/Xp21 (=SRXO)、RYp21/Yp21(=SRY0)的值。因此，控制部10基于上述(15)式和(16)式，將兩點(diǎn)間距離XDual和YDual計(jì)算為比較小的值(步驟S83、S84)。兩點(diǎn)觸摸時(shí)的RXp21/Xp21、RYp21/Yp21是兩點(diǎn)間距離越長(zhǎng)則與SRXO、SRYO相比越小的值。因此，在兩點(diǎn)間距離比較長(zhǎng)的情況下，控制部10根據(jù)上述(15)式和(16)式，將兩點(diǎn)間距離XDual和YDual計(jì)算為比較大的值(步驟S83、S84)。如上所述，由于利用電壓比RXp21/Xp21、RYp21/Yp21與兩點(diǎn)間的距離相應(yīng)地變化的情形，因此能夠正確地計(jì)算兩點(diǎn)間距離。另外，利用按壓參數(shù)XZ21，與觸摸輸入的按壓カ相應(yīng)地校正兩點(diǎn)間距離。此時(shí)，在計(jì)算按壓參數(shù)XZ21時(shí)，與兩點(diǎn)的方向相應(yīng)地變更電壓Z1、Z2的測(cè)量方法。在兩點(diǎn)的方向dY=+l時(shí)、即xa〈xb且ya>yb時(shí)，在圖33的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP、YN都是與點(diǎn)A相比更容易受到點(diǎn)B側(cè)的接觸電阻值的影響。另ー方面，在兩點(diǎn)的方向dY=-l時(shí)、即xa〈xb且ya〈yb時(shí)，在圖33的(a)的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP容易受到點(diǎn)B的接觸電阻值的影響，在圖33的(b)的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓YN容易受到點(diǎn)A的接觸電阻值的影響。這樣，如果容易受到影響的點(diǎn)不同，則無(wú)法提高兩點(diǎn)間距離的計(jì)算精度。因此，在dY=-l時(shí)，將在圖34的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XN、YN用作電壓Z1、Z2。在兩點(diǎn)的方向dY=-l時(shí)、即xa〈xb且ya〈yb時(shí)，在圖34的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XN、YN都是容易受到點(diǎn)A的接觸電阻值的影響的值。這樣，通過(guò)與兩點(diǎn)的方向相應(yīng)地變更電壓Zl、Z2的測(cè)量方法，能夠計(jì)算考慮到兩點(diǎn)觸摸時(shí)的各點(diǎn)的接觸電阻的影響的按壓參數(shù)。其結(jié)果，能夠提高兩點(diǎn)間距離的計(jì)算精度。此外，在此，針對(duì)在dY=+l時(shí)根據(jù)在圖33的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP、YN(電壓ZUZ2)計(jì)算按壓參數(shù)XZ21的情況進(jìn)行了說(shuō)明，但是也可以將該按壓參數(shù)XZ21與按壓參數(shù)XZ21NP的平均設(shè)為最終的按壓參數(shù)XZ21，該按壓參數(shù)XZ21NP是根據(jù)針對(duì)圖33的狀態(tài)在對(duì)端子Y2直接提供電源VDD的電壓且將端子X(jué) I接地的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XN、YP (電壓Z1NP、Z2NP)計(jì)算出的。
另外，同樣地，在dY=-l時(shí)，也可以將根據(jù)在圖34的連接狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XN、YN(電壓Z1PP、Z2PP)計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21與根據(jù)針對(duì)圖34的狀態(tài)在對(duì)端子Y2直接提供電源VDD的電壓且將端子X(jué)2接地的狀態(tài)下測(cè)量出的電壓XP、YP (電壓Z1NN、Z2NN)計(jì)算出的按壓參數(shù)XZ21NN的平均設(shè)為最終的按壓參數(shù)XZ21。這樣，通過(guò)取容易受點(diǎn)A的影響的按壓參數(shù)與容易受點(diǎn)B的影響的按壓參數(shù)的平均，能夠進(jìn)一步提聞兩點(diǎn)間距尚的計(jì)算精度。(效果)這樣，在上述第三實(shí)施方式中，利用電壓比RXp21/Xp21、RYp21/Yp21與兩點(diǎn)間的距離相應(yīng)地變化的情形，檢測(cè)兩點(diǎn)間距離，因此能夠正確地檢測(cè)兩點(diǎn)間距離。另外，由于利用坐標(biāo)檢測(cè)、兩點(diǎn)觸摸判斷中使用的測(cè)量電壓來(lái)檢測(cè)兩點(diǎn)間距離，因此不需要重新進(jìn)行兩點(diǎn)間距離檢測(cè)用的電壓測(cè)量。因而，能夠相應(yīng)地減少電壓測(cè)量的次數(shù)。(應(yīng)用例)此外，在上述第三實(shí)施方式中，與上述的第一實(shí)施方式同樣地，也能夠利用兩點(diǎn)間距離XDual、YDual來(lái)判斷圖13所示的兩點(diǎn)觸摸的手勢(shì)(放大、縮小、旋轉(zhuǎn))。(變形例)此外，在上述第一和第二實(shí)施方式中，針對(duì)作為兩點(diǎn)觸摸判斷部而采用根據(jù)電壓R_XP與基準(zhǔn)電壓R_XP0之差是否大于判斷閾值D_XY來(lái)判斷是否為兩點(diǎn)觸摸的方法的情況進(jìn)行了說(shuō)明，但是也能夠采用利用由于兩點(diǎn)觸摸而電極端子間的電阻值變小的情形的其它方法。另外，在上述各實(shí)施方式中，說(shuō)明了測(cè)量電壓Zl、Z2并通過(guò)運(yùn)算求出與按壓カ存在相關(guān)關(guān)系的按壓參數(shù)XZ21的情況，但是也可以設(shè)置由壓電元件等構(gòu)成的傳感器，由該傳感器檢測(cè)觸摸輸入的按壓力。產(chǎn)業(yè)上的可利用件根據(jù)本發(fā)明所涉及的觸摸面板裝置，能夠高精度地檢測(cè)在觸摸面板上觸摸了兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間的距離，因此能夠設(shè)為能夠識(shí)別符合操作者的意圖的操作的觸摸面板裝置，是有用的。另外，根據(jù)本發(fā)明所涉及的觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法，在觸摸面板上觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，能夠與按壓カ相應(yīng)地高精度地檢測(cè)兩點(diǎn)間的距離，是有用的。附圖標(biāo)記說(shuō)明10 :控制部；11 =LCD 模塊；TP1、ΤΡ2 :觸摸面板；Χ1、Χ2 端子(X 方向);Υ1、Υ2 端子(Y方向)；SWfSW8 :開(kāi)關(guān)。
權(quán)利要求
1.一種觸摸面板裝置，其特征在于，具備 觸摸面板，其構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交； 端子間電阻測(cè)量部，其測(cè)量上述ー對(duì)電極端子間的電阻值； 兩點(diǎn)觸摸判斷部，其根據(jù)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)； 按壓カ檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及 兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值以及由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓力，來(lái)檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的觸摸面板裝置，其特征在干， 上述兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部具備 基準(zhǔn)值計(jì)算部，其根據(jù)在上述觸摸面板未被觸摸時(shí)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值與在上述觸摸面板被觸摸時(shí)由上述端子間電阻測(cè)量部測(cè)量出的上述電阻值之差，計(jì)算上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值；以及 校正部，其以如下方式對(duì)由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值進(jìn)行校正由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓カ越小，則使由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值增加越多。
3.一種觸摸面板裝置，其特征在于，具備 觸摸面板，其構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交； 第一電壓檢測(cè)部，其在對(duì)其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓； 第二電壓檢測(cè)部，其在通過(guò)電阻對(duì)上述其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的ー對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓； 兩點(diǎn)觸摸判斷部，其根據(jù)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)； 按壓カ檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及 兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部，其在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)由上述第ニ電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比以及由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓カ，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸摸面板裝置，其特征在干， 上述兩點(diǎn)間距離檢測(cè)部具備基準(zhǔn)值計(jì)算部，其根據(jù)在對(duì)上述觸摸面板觸摸了一點(diǎn)時(shí)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比和在對(duì)上述觸摸面板觸摸了兩點(diǎn)時(shí)由上述第二電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓與由上述第一電壓檢測(cè)部檢測(cè)出的電壓之比的差，計(jì)算上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值；以及 校正部，其以如下方式對(duì)由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值進(jìn)行校正由上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)出的按壓カ越小，則使由上述基準(zhǔn)值計(jì)算部計(jì)算出的上述兩點(diǎn)間的距離的基準(zhǔn)值增加越多。
5.根據(jù)權(quán)利要求I至4中的任一項(xiàng)所述的觸摸面板裝置，其特征在干， 在由上述兩點(diǎn)觸摸判斷部判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，上述按壓カ檢測(cè)部檢測(cè)與觸摸輸入的按壓カ存在相關(guān)關(guān)系且與各點(diǎn)的按壓カ之間的相關(guān)程度同等或者大致同等的按壓參數(shù)。
6.一種觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法，該觸摸面板構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交，該觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法的特征在于，具備以下步驟 端子間電阻測(cè)量步驟，對(duì)上述觸摸面板的上述一對(duì)電極端子間的電阻值進(jìn)行測(cè)量； 兩點(diǎn)觸摸判斷步驟，根據(jù)在上述端子間電阻測(cè)量步驟中測(cè)量出的上述電阻值，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)； 按壓カ檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及 兩點(diǎn)間距離檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)在上述端子間電阻測(cè)量步驟中測(cè)量出的上述電阻值以及在上述按壓カ檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的按壓力，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。
7.一種觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法，該觸摸面板構(gòu)成為使分別在相向的端邊部設(shè)置有一對(duì)電極端子的兩張電阻膜在上下方向上以能夠相互接觸的方式相接近地對(duì)置，其中，上述兩張電阻膜的電極端子相互正交，該觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法的特征在于，具備以下步驟 第一電壓檢測(cè)步驟，在對(duì)上述觸摸面板的其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的ー對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓； 第二電壓檢測(cè)步驟，在通過(guò)電阻對(duì)上述其中一張電阻膜的一對(duì)電極端子間施加電源電壓且使上述另ー張電阻膜的一對(duì)電極端子間短路的狀態(tài)下，檢測(cè)上述另ー張電阻膜的ー對(duì)電極端子中的某一個(gè)電極端子的電壓； 兩點(diǎn)觸摸判斷步驟，根據(jù)在上述第二電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓與在上述第一電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓之比，判斷在上述觸摸面板上是否觸摸了兩點(diǎn)； 按壓カ檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)觸摸輸入的按壓カ；以及 兩點(diǎn)間距離檢測(cè)步驟，在上述兩點(diǎn)觸摸判斷步驟中判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，根據(jù)在上述第二電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓與在上述第一電壓檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的電壓之比以及在上述按壓カ檢測(cè)步驟中檢測(cè)出的按壓力，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離。
全文摘要
提供一種能夠高精度地檢測(cè)在觸摸面板上觸摸了兩點(diǎn)時(shí)的兩點(diǎn)間的距離的觸摸面板裝置以及觸摸面板的觸摸輸入點(diǎn)間距離檢測(cè)方法。根據(jù)相向的端子間的電阻值判斷在觸摸面板TP上是否觸摸了兩點(diǎn)，當(dāng)判斷為觸摸了兩點(diǎn)時(shí)，檢測(cè)被觸摸的兩點(diǎn)間的距離XDual、YDual。此時(shí)，根據(jù)相向的端子間的電阻值和觸摸輸入點(diǎn)的按壓力(接觸電阻值)，檢測(cè)兩點(diǎn)間距離XDual、YDual。
文檔編號(hào)G06F3/048GK102667681SQ201080053630
公開(kāi)日2012年9月12日 申請(qǐng)日期2010年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月26日
發(fā)明者李海鎮(zhèn), 若杉潤(rùn)一 申請(qǐng)人:旭化成微電子株式會(huì)社