專利名稱：一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸摸點(diǎn)跟蹤定位的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，以及一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
觸摸跟蹤定位技術(shù)是通過跟蹤觸摸屏上的觸摸點(diǎn)的位置變化，通過觸摸點(diǎn)的移動(dòng)軌跡來判斷用戶想要執(zhí)行的操作。因此，準(zhǔn)確地捕捉到觸摸點(diǎn)的移動(dòng)軌跡就非常重要?，F(xiàn)有的觸摸跟蹤定位技術(shù)中，以固定的檢測(cè)周期檢測(cè)觸摸點(diǎn)的位置坐標(biāo)，將屏幕上觸摸點(diǎn)移動(dòng)時(shí)檢測(cè)到的有序的坐標(biāo)點(diǎn)相連，可得到一條曲線。若此五個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)因檢測(cè)采樣誤差、信號(hào)抖動(dòng)又或者因?yàn)槠渌驅(qū)е聶z測(cè)定位的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)與實(shí)際觸摸點(diǎn)的位置坐標(biāo)發(fā)生較大誤差，則觸摸點(diǎn)形成的曲線將出現(xiàn)較大的拐角，顯得不甚流暢。例如操作人員想要執(zhí)行繪圖操作，在觸摸屏上畫出圓滑的曲線軌跡，而通過現(xiàn)有的觸摸跟蹤定位技術(shù)，檢測(cè)上述觸摸操作，獲得的多個(gè)有序、連續(xù)的觸摸點(diǎn)，并將該多個(gè)觸摸點(diǎn)連接成圓滑的繪圖曲線。而一旦在觸摸跟蹤定位過程中，對(duì)其中一個(gè)觸摸點(diǎn)的定位因?yàn)樯鲜龈鞣N原因出現(xiàn)較大誤差，則所述繪圖曲線將出現(xiàn)較大的拐角，繪像不夠圓滑流暢，這違反了操作人員的本意，帶來不好的用戶體驗(yàn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于提供一種能夠?qū)τ|摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)行校正的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法。一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，包括以下步驟步驟一，獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；步驟二，獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)；步驟三，計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2 個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)；步驟四，獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第 N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)；步驟五，計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)；步驟六，根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)；步驟七，將第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)；步驟八，將N的取值加1 ；步驟九，重復(fù)執(zhí)行步驟一至步驟八。其中，N為觸摸點(diǎn)坐標(biāo)校正的起始點(diǎn)，當(dāng)檢測(cè)獲取的觸摸點(diǎn)不止五個(gè)時(shí)，從第N個(gè)觸摸點(diǎn)開始，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)校正。所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與各個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同， 或者相反。即在獲得五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)之后，既可以對(duì)時(shí)間上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正，也可以對(duì)時(shí)間上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中，可在多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)，根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布，利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正，對(duì)觸摸點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行重定位，能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。每對(duì)一個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后將N 的取值加1，亦即將所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的位置依次向后移動(dòng)，在檢測(cè)的觸摸點(diǎn)多于五個(gè)時(shí)，可以依照本方法對(duì)多個(gè)連續(xù)地觸摸點(diǎn)都進(jìn)行坐標(biāo)重定位，使多個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的整條曲線變得平滑。 本發(fā)明要解決的技術(shù)問題還在于提供一種能夠?qū)τ|摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)
行校正的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)。 一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)，包括用于獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置；用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置；用于根據(jù)所述校正裝置計(jì)算的校正坐標(biāo)，對(duì)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置；以及，在所述定位裝置每次執(zhí)行觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后，將N的取值加1的移位裝置；其中，所述校正裝置包括用于獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置；用于計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置；用于獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置；用于計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第 N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置；用于根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。其中，N為觸摸點(diǎn)坐標(biāo)校正的起始點(diǎn)，當(dāng)所述檢測(cè)裝置檢測(cè)獲取的觸摸點(diǎn)不止五個(gè)時(shí)，從第N個(gè)觸摸點(diǎn)開始，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)校正。所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與各個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同， 或者相反。即在所述檢測(cè)裝置獲得五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)之后，所述校正裝置既可以對(duì)時(shí)間上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正，也可以對(duì)時(shí)間上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中，所述檢測(cè)裝置可在多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；所述校正裝置根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布，利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正；所述定位模塊對(duì)觸摸點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行重定位，能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。所述移位裝置在所述定位模塊每對(duì)一個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后將N的取值加1，亦即將所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的位置依次向后移動(dòng)，在檢測(cè)的觸摸點(diǎn)多于五個(gè)時(shí)，可以對(duì)多個(gè)連續(xù)地觸摸點(diǎn)都進(jìn)行坐標(biāo)重定位，使多個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的整條曲線變得平滑。


圖1是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法的流程圖；圖2是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的示意圖；圖3是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第一參考點(diǎn)A的示意圖；圖4是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第一校正點(diǎn)B的示意圖5是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第二參考點(diǎn)C的示意圖；圖6是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第二校正點(diǎn)D的示意圖；圖7是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取校正坐標(biāo)E的示意圖；圖8是經(jīng)過本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理后第N個(gè)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的曲線的示意圖；圖9為校正前和校正后的觸摸點(diǎn)連接曲線的對(duì)比示意圖；圖10是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參閱圖1，圖1是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法的流程圖。所述觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法包括以下步驟步驟SlOl，獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；其中，所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同， 或者相反。亦即，以下步驟中所述的第一至第五個(gè)觸摸點(diǎn)可以是從先到后依次檢測(cè)到的五個(gè)觸摸點(diǎn)，也可以是順序與檢測(cè)時(shí)間順序相反的五個(gè)觸摸點(diǎn)。這樣就既可以對(duì)時(shí)間軸上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正，也可以對(duì)時(shí)間軸上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。本步驟可以通過各種形式的觸摸屏，或者觸摸控制裝置檢測(cè)用戶的觸摸操作產(chǎn)生的觸摸點(diǎn)。所述獲取的各個(gè)觸摸點(diǎn)可以是按照檢測(cè)時(shí)間的先后順序依次獲取，也可以是在已經(jīng)檢測(cè)到的多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取其中五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)，根據(jù)這五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)進(jìn)行下面步驟的坐標(biāo)校正運(yùn)算。如圖2所示，觸摸點(diǎn)1至14為先后檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)。在本實(shí)施例中獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)1至5的檢測(cè)坐標(biāo)。步驟S102，獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)；通過所述觸摸點(diǎn)1與觸摸點(diǎn)2的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算所述觸摸點(diǎn)1和觸摸點(diǎn)2的中點(diǎn) A的坐標(biāo)，所述中點(diǎn)A即為第一參考點(diǎn)。如圖3所示。步驟S103，計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)；在本步驟中，根據(jù)所述中點(diǎn)A的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo)，作所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的連線，并延長(zhǎng)至點(diǎn)B，如圖4所示，其中所述點(diǎn)B與所述觸摸點(diǎn)3的距離等于所述第一預(yù)設(shè)值。第一校正點(diǎn)B的意義為根據(jù)前三點(diǎn)做出的趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)。優(yōu)選地，所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四且大于零。當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí)，所述點(diǎn)B更加靠近所述觸摸點(diǎn)3，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)3 ；當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四時(shí)，所述點(diǎn)B遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3。因此，可根據(jù)具體的要求，在零至所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四之間選取所述第一預(yù)設(shè)值，取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第一校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式，所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的距離的三分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果，假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布比較均勻時(shí)， 點(diǎn)B作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)，和所述觸摸點(diǎn)3的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)A與觸摸點(diǎn)3的連線長(zhǎng)度
6的三分二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的
距離的三分之二。步驟S104，獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)；通過所述觸摸點(diǎn)2與觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算所述觸摸點(diǎn)2和觸摸點(diǎn)3的中點(diǎn) C的坐標(biāo)，所述中點(diǎn)C即為第二參考點(diǎn)。如圖5所示。步驟S105，計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)；在本步驟中，根據(jù)所述中點(diǎn)C的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)5的檢測(cè)坐標(biāo)，作所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的連線，在所述連線上與所述第觸摸點(diǎn)5的距離等于所述第二預(yù)設(shè)值處取點(diǎn)D作為所述第二校正點(diǎn)。如圖6所示。點(diǎn)D意義為根據(jù)觸摸點(diǎn)2、3、5做出的轉(zhuǎn)折插值點(diǎn)。優(yōu)選地，所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四且大于零。當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí)，所述第二校正點(diǎn)D更加靠近所述觸摸點(diǎn)5，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)5 ；當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四時(shí)，所述點(diǎn)D遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5。因此，可根據(jù)具體的要求，在零至所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四之間選取所述第二預(yù)設(shè)值，取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第二校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式，所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果，假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí)，點(diǎn)D作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)，和所述觸摸點(diǎn)5的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)C與觸摸點(diǎn)5的連線長(zhǎng)度的五分之二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn) 5的距離的五分之二。步驟S106，根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E ；如圖 7所示。將所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)B和所述第二校正點(diǎn)D在上述步驟中計(jì)算獲得的坐標(biāo)，乘以其各自的預(yù)定權(quán)重，例如，所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(x，y)4的預(yù)定權(quán)重設(shè)定為20% ；所述第一校正點(diǎn)B計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X，y)B預(yù)定權(quán)重設(shè)定為40% ；所述第二校正點(diǎn)D計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X，y)D的預(yù)定權(quán)重也設(shè)定為40%。則可以計(jì)算得到第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E等于所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(χ’，y’)4 (χ，，y，)4 = (X，y)4X20% + (χ, y)BX40% + (χ, y)DX40%所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)的預(yù)定權(quán)重并不唯一，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際需要，可以另外設(shè)定合適的權(quán)重比例。步驟S107，將第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)；將所述觸摸點(diǎn)4重定位到所述點(diǎn)E的校正坐標(biāo)之后，可以獲得由所述五個(gè)觸摸點(diǎn) 1-5連接成的新的曲線，如圖8所示。由圖8可知，經(jīng)過本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理過后，所述觸摸點(diǎn)連接成的曲線變得比較平滑，不再出現(xiàn)突兀的拐角。步驟S108，判斷第N+5個(gè)觸摸點(diǎn)是否存在，是則執(zhí)行步驟S109，否則結(jié)束流程；
步驟S109，將N的取值加1 ；重復(fù)執(zhí)行步驟SlOl至步驟S109。直到第N+5個(gè)觸摸點(diǎn)不存在，即N+5大于所獲得的觸摸點(diǎn)數(shù)時(shí)，完成整個(gè)校正流程，獲得經(jīng)過校正處理的新的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)集合。使由多個(gè)觸摸點(diǎn)構(gòu)成的整個(gè)曲線都比較平滑，如圖9所示為校正前和校正后的觸摸點(diǎn)連接曲線的對(duì)比示意圖，其中，虛線部分為校正后的觸摸點(diǎn)連接曲線，實(shí)現(xiàn)部分為校正前的觸摸點(diǎn)連接曲線。校正后的觸摸點(diǎn)連接曲線比校正前更加平滑，流暢，更加自然。作為一種實(shí)施方式舉例，上述步驟S102至步驟S106的運(yùn)算過程如果使用計(jì)算機(jī)語(yǔ)言可使用如下代碼完成Coord[3] = ((Coord[2] + (Coord[2]-(Coord[1]+Coord
)/2)*2/3)((Coord [2]+Coord[1])/2+(Coord[4]-(Coord[2]+Coord[1])/2)*3/5)*2+Coord[3]) /5與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中，可在多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)，根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布，利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正，對(duì)觸摸點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行重定位，能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。每對(duì)一個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后將N 的取值加1，亦即將所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的位置依次向后移動(dòng)，在檢測(cè)的觸摸點(diǎn)多于五個(gè)時(shí)，可以依照本方法對(duì)多個(gè)連續(xù)地觸摸點(diǎn)都進(jìn)行坐標(biāo)重定位，使多個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的整條曲線變得平滑。對(duì)曲線的形狀改善明顯，而且運(yùn)算量少，對(duì)處理器要求極低。請(qǐng)參閱圖10，圖10本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。所述觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)包括用于獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置11 ；用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置12 ；用于根據(jù)所述校正裝置計(jì)算的校正坐標(biāo)，對(duì)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置13 ；以及，在所述定位裝置每次執(zhí)行觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后，將N的取值加1的移位裝置 14。其中，所述校正裝置12包括用于獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置；用于計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、 與所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置；用于獲取第 N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置；用于計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置；用于根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。其中，N為觸摸點(diǎn)坐標(biāo)校正的起始點(diǎn)，當(dāng)所述檢測(cè)裝置11檢測(cè)獲取的觸摸點(diǎn)不止五個(gè)時(shí)，從第N個(gè)觸摸點(diǎn)開始，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)校正。所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與各個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同， 或者相反。即在所述檢測(cè)裝置11獲得五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)之后，所述校正裝置12既可以對(duì)時(shí)間上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正，也可以對(duì)時(shí)間上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中，所述檢測(cè)裝置11可在
8多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；所述校正裝置12根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布，利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法，對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正；所述定位模塊13對(duì)觸摸點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行重定位，能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。所述移位裝置14在所述定位模塊每對(duì)一個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后將N的取值加1，亦即將所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的位置依次向后移動(dòng)，在檢測(cè)的觸摸點(diǎn)多于五個(gè)時(shí)，可以對(duì)多個(gè)連續(xù)地觸摸點(diǎn)都進(jìn)行坐標(biāo)重定位，使多個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的整條曲線變得平滑。對(duì)曲線的形狀改善明顯，而且運(yùn)算量少，對(duì)處理器要求極低。所述檢測(cè)裝置11可以通過連接各種形式的觸摸屏，或者觸摸控制裝置，以檢測(cè)五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)，提供這五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)進(jìn)行坐標(biāo)校正運(yùn)算。獲取的五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)，可以是按照檢測(cè)時(shí)間的先后順序依次獲取，也可以是在已經(jīng)檢測(cè)到的多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取其中五個(gè)。其中，所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同，或者相反。亦即，以下運(yùn)算中所述的第一至第五個(gè)觸摸點(diǎn)可以是從先到后依次檢測(cè)到的五個(gè)觸摸點(diǎn)，也可以是順序與檢測(cè)時(shí)間順序相反的五個(gè)觸摸點(diǎn)。因此，本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)既可以對(duì)時(shí)間軸上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正，也可以對(duì)時(shí)間軸上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。所述校正裝置12包括用于獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置。通過所述觸摸點(diǎn)1與觸摸點(diǎn)2的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算所述觸摸點(diǎn)1和觸摸點(diǎn)2的中點(diǎn)A的坐標(biāo)，所述中點(diǎn)A即為第一參考點(diǎn)。所述校正裝置12還包括用于計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置。根據(jù)所述中點(diǎn)A的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo)，作所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的連線，并延長(zhǎng)至點(diǎn)B，其中所述點(diǎn)B與所述觸摸點(diǎn)3的距離等于所述第一預(yù)設(shè)值。第一校正點(diǎn)B的意義為根據(jù)前三點(diǎn)做出的趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)。優(yōu)選地，所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四且大于零。當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí)，所述點(diǎn)B更加靠近所述觸摸點(diǎn)3，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)3 ；當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四時(shí)，所述點(diǎn)B遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3。因此，可根據(jù)具體的要求，在零至所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四之間選取所述第一預(yù)設(shè)值，取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第一校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式，所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的距離的三分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果，假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí)，點(diǎn)B作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)，和所述觸摸點(diǎn)3的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)A與觸摸點(diǎn)3的連線長(zhǎng)度的三分二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3 的距離的三分之二。所述校正裝置12還包括用于獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第
二參考點(diǎn)的裝置。通過所述觸摸點(diǎn)2與觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算所述觸摸點(diǎn)2和觸摸點(diǎn)3的中點(diǎn) C的坐標(biāo)，所述中點(diǎn)C即為第二參考點(diǎn)。
所述校正裝置12還包括用于計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置。根據(jù)所述中點(diǎn)C的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)5的檢測(cè)坐標(biāo)，作所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的連線，在所述連線上與所述第觸摸點(diǎn)5的距離等于所述第二預(yù)設(shè)值處取點(diǎn)D作為所述第二校正點(diǎn)。點(diǎn)D意義為根據(jù)觸摸點(diǎn)2、3、5做出的轉(zhuǎn)折插值點(diǎn)。優(yōu)選地，所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四且大于零。當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí)，所述第二校正點(diǎn)D更加靠近所述觸摸點(diǎn)5，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)5 ；當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四時(shí)，所述點(diǎn)D遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5，從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5。因此，可根據(jù)具體的要求，在零至所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四之間選取所述第二預(yù)設(shè)值，取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第二校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式，所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果，假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí)，點(diǎn)D作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)，和所述觸摸點(diǎn)5的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)C與觸摸點(diǎn)5的連線長(zhǎng)度的五分之二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn) 5的距離的五分之二。所述校正裝置12還包括用于根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。將所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)B和所述第二校正點(diǎn)D在上述步驟中計(jì)算獲得的坐標(biāo)，乘以其各自的預(yù)定權(quán)重，例如，所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(x，y)4的預(yù)定權(quán)重設(shè)定為20% ；所述第一校正點(diǎn)B計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X，y)B預(yù)定權(quán)重設(shè)定為40% ；所述第二校正點(diǎn)D計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X，y)D的預(yù)定權(quán)重也設(shè)定為40%。則可以計(jì)算得到第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E等于所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(χ’，y’)4 (χ，，y，)4 = (X，y)4X20% + (χ, y)BX40% + (χ, y)DX40%所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)的預(yù)定權(quán)重并不唯一，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際需要，可以另外設(shè)定合適的權(quán)重比例。所述校正裝置12還包括用于將第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)的
直ο將所述觸摸點(diǎn)4重定位到所述點(diǎn)E的校正坐標(biāo)之后，可以獲得由所述五個(gè)觸摸點(diǎn) 1-5連接成的新的曲線，經(jīng)過本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理過后，所述觸摸點(diǎn)連接成的曲線變得比較平滑，不再出現(xiàn)突兀的拐角。作為一種實(shí)施方式舉例，所述校正裝置12的運(yùn)算過程如果使用計(jì)算機(jī)語(yǔ)言可使用如下代碼完成Coord[3] = ((Coord[2] + (Coord[2]-(Coord[1]+Coord
)/2)*2/3)((Coord [2]+Coord[1])/2+(Coord[4]-(Coord[2]+Coord[1])/2)*3/5)*2+Coord[3]) /5在所述重定位裝置13每次執(zhí)行觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后，所述移位裝置14可先判斷第N+5個(gè)觸摸點(diǎn)是否存在，是則將N的取值加1，再次對(duì)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)校正和重定位；直到第N+5個(gè)觸摸點(diǎn)不存在，即N+5大于所獲得的觸摸點(diǎn)數(shù)時(shí)，完成整個(gè)校正流程，獲得經(jīng)過校正處理的新的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)集合。 以上所述的本發(fā)明實(shí)施方式，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于，包括以下步驟 步驟一，獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；步驟二，獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)； 步驟三，計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2 個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)；步驟四，獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)； 步驟五，計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)；步驟六，根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)； 步驟七，將第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)； 步驟八，將N的取值加1 ； 步驟九，重復(fù)執(zhí)行步驟一至步驟八。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述第一參考點(diǎn)至所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的三分之四且大于零。
3.如權(quán)利要求2所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值為所述第一參考點(diǎn)至所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的三分之二。
4.如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述第二參考點(diǎn)至所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的五分之四且大于零。
5.如權(quán)利要求4所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值為所述第二參考點(diǎn)至所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的五分之二。
6.如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于 所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與各個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同，或者相反。
7.一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)，包括用于獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置； 用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo)，計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置； 用于根據(jù)所述校正裝置計(jì)算的校正坐標(biāo)，對(duì)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置； 以及，在所述定位裝置每次執(zhí)行觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位后，將N的取值加1的移位裝置； 其中，所述校正裝置包括用于獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置； 用于計(jì)算獲取所述第一參考點(diǎn)至第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置；用于獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置； 用于計(jì)算獲取所述第二參考點(diǎn)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置；用于根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)，按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算所述第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。
8.如權(quán)利要求7所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值為所述第一參考點(diǎn)至所述第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的三分之二。
9.如權(quán)利要求7所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值為所述第二參考點(diǎn)至所述第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的距離的五分之二。
10.如權(quán)利要求7至9中任意一項(xiàng)所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法，其特征在于 所述第N個(gè)至第N+4個(gè)連續(xù)的觸摸點(diǎn)的順序與各個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同，或者相反。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)，所述方法包括步驟獲取第N個(gè)至第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)；獲取第N個(gè)觸摸點(diǎn)與第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)；根據(jù)第一參考點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)計(jì)算第一校正點(diǎn)；獲取第N+1個(gè)觸摸點(diǎn)和第N+2個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)；根據(jù)第二參考點(diǎn)與第N+4個(gè)觸摸點(diǎn)計(jì)算第二校正點(diǎn)；根據(jù)第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)、第一校正點(diǎn)和第二校正點(diǎn)計(jì)算第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)；將第N+3個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)；將N的取值加1重復(fù)執(zhí)行上述步驟。本發(fā)明提供的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)能夠?qū)Χ鄠€(gè)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)行校正，對(duì)由這多個(gè)觸摸點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。
文檔編號(hào)G06F3/041GK102331874SQ201110145629
公開日2012年1月25日 申請(qǐng)日期2011年6月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月1日
發(fā)明者胡雋鵬, 黃安麒 申請(qǐng)人:廣州視睿電子科技有限公司