專利名稱：一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種電子產(chǎn)品工作壽命的測試領域。
背景技術：
電子產(chǎn)品失效原因與產(chǎn)品本身所選用的零部件有關。其從出廠經(jīng)過貯存、運輸、使用到失效的壽命周期，無時無刻不在進行著緩慢的化學物理變化。在各種外界環(huán)境下，產(chǎn)品還會承受了各種熱、電、機械應力，會使原來的化學物理反應加速，而其中溫度應力對失效最為敏感。目前業(yè)界對單個元器件的壽命驗證試驗做的很多，但對整機的壽命驗證試驗大部分是依據(jù)GJB899-1990《可靠性鑒定和驗收試驗》。但這些都是基于使用方風險，生產(chǎn)方風險，鑒別比等參數(shù)而設定的標準測試方案。這種方案主觀性較強，所得到的參數(shù)意義不夠明確，需要一種新的方法來測試電子產(chǎn)品的平均無故障工作時間。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有測試產(chǎn)品平均無故障工作時間的方法主觀性強，測得數(shù)據(jù)意義不明確的問題，本發(fā)明提出以下技術方案一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，包括以下步驟A、確定待驗證的產(chǎn)品的平均無故障工作時間以及置信度；B、綜合估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能；C、設計產(chǎn)品的使用狀態(tài)為試驗運行狀態(tài)；D、在設定的高溫下運行產(chǎn)品，依據(jù)產(chǎn)品的平均無故障工作時間、置信度、允許的失效數(shù)量以及高溫狀態(tài)對常溫狀態(tài)的加速倍率，設計一個加速壽命試驗時間；E、試驗過程中監(jiān)控其失效數(shù)量分布，并計算產(chǎn)品平均無故障工作時間區(qū)間范圍。作為本發(fā)明的一種優(yōu)選方案，所述步驟B中估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能的方法為先統(tǒng)計電子產(chǎn)品的各個元件的失效激活能，再通過加權平均的方法計算電子產(chǎn)品整體的失效激活能。作為本發(fā)明的另一種優(yōu)選方案，所述步驟E中的計算利用經(jīng)驗公式AF = exp {(Ea/k) * [ (1/Tu) _ (1/Ts) ]}式中，Ea是引起失效或退化過程的激活能，k是玻爾茲曼常數(shù)，T是絕對溫度，Tu 是常溫狀態(tài)溫度，Ts加速狀態(tài)溫度。作為本發(fā)明的再一種優(yōu)選方案，所述步驟E中借助卡方分布表來計算產(chǎn)品壽命區(qū)間范圍。本發(fā)明帶來的有益效果是1、本發(fā)明可以短時間對電子產(chǎn)品投入市場使用后的返修率進行一個比較可靠的評估；2、本發(fā)明有利于在電子產(chǎn)品研發(fā)階段，在相對較短的時間內(nèi)暴露產(chǎn)品的缺陷，以此改進并不斷提高電子產(chǎn)品整體的平均無故障工作時間；
3、本發(fā)明操作步驟方便，測試得到的數(shù)據(jù)精確，具有非常積極的效果，給企業(yè)帶來了一定的經(jīng)濟效益。
具體實施例方式下面對本發(fā)明的較佳實施例進行詳細闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本發(fā)明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。本實施例產(chǎn)品為用于中小學教學的一體機電腦，共22臺。首先，確定該一體機的平均無故障工作時間為5840小時，置信度為0. 9。其次，估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能，通過計算一體機主板的各個元件的失效激活能，再通過加權平均的方法計算出一體機整機的失效激活能為0. 6eV。再次，設定產(chǎn)品的試驗運行狀態(tài)，如表一表一產(chǎn)品運行狀態(tài)設定
權利要求
1.一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，其特征在于該方法包括以下步驟A、確定待驗證的產(chǎn)品的平均無故障工作時間以及置信度；B、綜合估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能；C、設計產(chǎn)品的使用狀態(tài)為試驗運行狀態(tài)；D、在設定的高溫下運行產(chǎn)品，依據(jù)產(chǎn)品的平均無故障工作時間、置信度、允許的失效數(shù)量以及高溫狀態(tài)對常溫狀態(tài)的加速倍率，設計一個加速壽命試驗時間；E、試驗過程中監(jiān)控其失效數(shù)量分布，并計算產(chǎn)品平均無故障工作時間區(qū)間范圍。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，其特征在于所述步驟B中估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能的方法為先統(tǒng)計電子產(chǎn)品的各個元件的失效激活能，再通過加權平均的方法計算電子產(chǎn)品整體的失效激活能。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，其特征在于所述步驟E中的計算利用經(jīng)驗公式AF = exp {(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}式中，Ea是引起失效或退化過程的激活能，k是玻爾茲曼常數(shù)，T是絕對溫度，Tu是常溫狀態(tài)溫度，Ts加速狀態(tài)溫度。
4.根據(jù)權利要求3所述的一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，其特征在于所述步驟E中借助卡方分布表來計算產(chǎn)品壽命區(qū)間范圍。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種電子產(chǎn)品平均無故障工作時間驗證的實驗方法，包括以下步驟A、確定待驗證的產(chǎn)品的平均無故障工作時間以及置信度；B、綜合估算產(chǎn)品在高溫下的失效激活能；C、設計產(chǎn)品的使用狀態(tài)為試驗運行狀態(tài)；D、在設定的高溫下運行產(chǎn)品，依據(jù)產(chǎn)品的平均無故障工作時間、置信度、允許的失效數(shù)量以及高溫狀態(tài)對常溫狀態(tài)的加速倍率，設計一個加速壽命試驗時間；E、試驗過程監(jiān)控其失效數(shù)量分布，并計算產(chǎn)品平均無故障工作時間區(qū)間范圍。本發(fā)明可以短時間對電子產(chǎn)品投入市場使用后的返修率進行一個比較可靠的評估；本發(fā)明有利于在電子產(chǎn)品研發(fā)階段，在相對較短的時間內(nèi)暴露產(chǎn)品的缺陷，以此改進并不斷提高電子產(chǎn)品整體的平均無故障工作時間。
文檔編號G06Q10/00GK102339424SQ20111022131
公開日2012年2月1日 申請日期2011年8月3日 優(yōu)先權日2011年8月3日
發(fā)明者李紅高 申請人:上海華碧檢測技術有限公司