專利名稱：觸摸面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸摸面板，尤其涉及減少噪聲從而能夠高精度地檢測(cè)觸碰位置的觸摸面板。
背景技術(shù)：
作為能夠進(jìn)行多點(diǎn)檢測(cè)的觸摸面板，通過排列有多個(gè)的檢測(cè)電極和在與檢測(cè)電極交叉的方向上排列有多個(gè)的掃描電極來檢測(cè)該交叉部分附近的靜電電容的共有(Mutual) 方式的靜電電容耦合型觸摸面板得到普及(參照下面記載的日本特開2005-140612號(hào)公報(bào))。近年來，裝載觸摸面板的設(shè)備為了提高設(shè)計(jì)性而趨于薄型化，因此觸摸面板的檢測(cè)電極和作為噪聲源的顯示器的距離變近，容易受到噪聲的影響。近年來，為了實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的薄型化，正在開發(fā)在液晶顯示器的濾色器基板上形成觸摸面板的電極的外掛(on cell)型觸摸面板。這時(shí)，檢測(cè)電極和顯示器的距離變近，并且無法設(shè)置用于減少來自顯示器的噪聲的屏蔽電極(在檢測(cè)電極和顯示器之間設(shè)置)，因此噪聲增加。如共有方式那樣檢測(cè)掃描電極和檢測(cè)電極的交叉部分附近的靜電電容的靜電電容檢測(cè)中，提出了很多用于去除該噪聲的方法。例如有以下方法，在檢測(cè)電極附近從噪聲源受到相同程度的影響的地方設(shè)置參考電極，基于由參考電極檢測(cè)出的噪聲，從各個(gè)檢測(cè)電極檢測(cè)出的結(jié)果中去除噪聲。此外，在不設(shè)置參考電極時(shí)，提出了根據(jù)同時(shí)檢測(cè)的多個(gè)電極而計(jì)算公共噪聲量，并根據(jù)該公共噪聲量從各個(gè)檢測(cè)電極檢測(cè)出的結(jié)果中去除噪聲的方式。在前述的噪聲減少方法中，設(shè)置參考電極的方法需要將參考電極設(shè)置在顯示器的有效顯示區(qū)域中，因此存在實(shí)際的觸摸面板操作區(qū)域變小的問題。此外，在參考電極的情況下，需要設(shè)為即使手指等觸碰到參考電極上也不反應(yīng)而始終只檢測(cè)噪聲的結(jié)構(gòu)，因此必須重新變更觸摸面板的結(jié)構(gòu)。另一方面，在選擇一條掃描電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，并根據(jù)與該掃描電極交叉的多個(gè)檢測(cè)電極的檢測(cè)結(jié)果來計(jì)算公共噪聲量從而去除噪聲的方式中，對(duì)多個(gè)檢測(cè)電極通過同時(shí)接觸等而輸入信號(hào)時(shí)，會(huì)把信號(hào)變化作為噪聲來消除，因此存在無法高精度地檢測(cè)觸摸位置的課題。此外，在與顯示器一體化的情況下，對(duì)檢測(cè)電極產(chǎn)生影響的噪聲的強(qiáng)度分布根據(jù)顯示圖案或顯示器的結(jié)構(gòu)(驅(qū)動(dòng)電路的配置、驅(qū)動(dòng)方式等)而不同，因此噪聲去除處理的效率降低，擔(dān)心無法高精度地進(jìn)行檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述以往技術(shù)的問題而完成，本發(fā)明的目的在于提供一種在觸摸面板中能夠有效地去除噪聲的技術(shù)。
本發(fā)明的所述以及其他的目的和新的特征會(huì)通過本說明書的敘述以及附圖而變
得清楚。簡(jiǎn)單說明在本申請(qǐng)公開的發(fā)明中代表性的發(fā)明的概要如下。(1)包括多個(gè)掃描電極，設(shè)置在第1方向上；多個(gè)檢測(cè)電極，設(shè)置在與所述第1方向交叉的第2方向上；掃描電路部，將對(duì)所述多個(gè)掃描電極中的一個(gè)掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓的一個(gè)檢測(cè)期間分割為η個(gè)子檢測(cè)期間，并在1 η的各個(gè)子檢測(cè)期間順序?qū)λ鲆粋€(gè)掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，其中， η ^ 2 ；電容檢測(cè)電路部，將所述多個(gè)檢測(cè)電極分割為1 η的組，使得在1 η的組中相鄰的組至少包含1條相同的檢測(cè)電極，并在所述子檢測(cè)期間中輸入來自與所述子檢測(cè)期間對(duì)應(yīng)的所述組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)；以及控制電路部，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述電容檢測(cè)信號(hào)來計(jì)算電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并基于該計(jì)算出的所述電容檢測(cè)信號(hào)變化量，計(jì)算觸摸位置的坐標(biāo)，所述控制電路部基于在所述連續(xù)的子檢測(cè)期間從所述至少1條相同的檢測(cè)電極連續(xù)檢測(cè)出的所述電容檢測(cè)信號(hào)，決定在所述連續(xù)的子檢測(cè)期間檢測(cè)出所述電容檢測(cè)信號(hào)的兩個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述電容檢測(cè)信號(hào)變化量。(2)在(1)中，在將所述連續(xù)的子檢測(cè)期間設(shè)為第k個(gè)子檢測(cè)期間和第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間時(shí)，其中，k為1 < n-1，所述掃描電路部按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，在所述第k個(gè)子檢測(cè)期間和所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間，對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述第k個(gè)子檢測(cè)期間輸入來自所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)， 檢測(cè)所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，并且在所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間輸入來自所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，檢測(cè)所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，所述控制電路部包括第k個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第k個(gè)組的公共噪聲量；第k個(gè)噪聲去除部件，使用通過所述第k個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)而計(jì)算出的所述第k個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)；第k個(gè)變化量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第k個(gè)噪聲去除部件算出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量；第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量；第(k+Ι)個(gè)噪聲去除部件，使用通過所述第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)而計(jì)算出的所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)；第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個(gè)噪聲去除部件算出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量；以及變化量決定部件，比較由所述第k個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量和由所述第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并基于該比較結(jié)果而決定所述第k個(gè)以及第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量。
(3)在(1)或者O)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線。(4)在(1)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線，測(cè)定校正量計(jì)算期間在所述顯示面板上整個(gè)面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，以第1個(gè)至第η個(gè)的順序在各個(gè)子檢測(cè)期間對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，在第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間輸入來自所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，所述控制電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量。(5)在O)中，所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上，所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線，測(cè)定校正量計(jì)算期間在所述顯示面板上整個(gè)面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，以第1個(gè)至第η個(gè)的順序在各個(gè)子檢測(cè)期間對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，在第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間輸入來自所述第1個(gè)至第 η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，所述控制電路部包括第k個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件，在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量；第k個(gè)校正量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第k個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量；第(k+Ι)個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量；以及第(k+Ι)個(gè)校正量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，在所述第k個(gè)噪聲去除部件中，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，利用所述第k個(gè)組的公共噪聲量和由所述第k個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，在所述第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件中，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，利用所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)。
簡(jiǎn)單說明通過在本申請(qǐng)中公開的發(fā)明中的代表性的發(fā)明所得到的效果如下。根據(jù)本發(fā)明，在靜電電容方式的觸摸面板中，能夠有效地去除噪聲。


圖IA是表示本發(fā)明的實(shí)施例1的附帶觸摸面板的顯示器的一例的截面結(jié)構(gòu)的截面圖。圖IB是表示本發(fā)明的實(shí)施例1的附帶觸摸面板的顯示器的另一例的截面結(jié)構(gòu)的截面圖。圖2是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的電極形狀的平面圖。圖3是本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的控制電路的方框圖。圖4A是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的動(dòng)作的一例的定時(shí)圖。圖4B是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的動(dòng)作的另一例的定時(shí)圖。圖5是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的控制電路的動(dòng)作的流程圖。圖6是說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的接觸位置的示意圖。圖7是在本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下的、XO X5的檢測(cè)電極中檢測(cè)出的噪聲處理前的電容檢測(cè)信號(hào)的波形圖。圖8是在本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下，以圖5 所示的流程圖去除了噪聲之后的、XO )(5的檢測(cè)電極中檢測(cè)出的噪聲處理后的電容檢測(cè)信號(hào)的波形圖。圖9是在本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下，通過圖 5所示的流程圖算出的信號(hào)檢測(cè)值的波形圖。圖10是在本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板中有圖6中圖示的輸入的情況下的信號(hào)檢測(cè)值的分布圖。圖11是本發(fā)明的實(shí)施例2的顯示器的平面圖。圖12是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的電極形狀的平面圖。圖13是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的動(dòng)作的定時(shí)圖。圖14是本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的動(dòng)作狀態(tài)圖。圖15是表示本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的噪聲量的分布結(jié)果的圖。圖16是表示本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的噪聲量校正值的分布結(jié)果的圖。圖17是說明本發(fā)明的實(shí)施例2的觸摸面板的控制電路的動(dòng)作的流程圖。圖18是表示本發(fā)明的實(shí)施例2的顯示器的顯示圖案的一例的圖。圖19是表示通過點(diǎn)反轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)法將圖18所示的顯示圖案顯示到液晶顯示器的情況下，對(duì)圖11所示的DO Dn的視頻線施加的視頻電壓的波形和圖12所示的XO X7的檢測(cè)電極中產(chǎn)生的噪聲波形的波形圖。圖20是表示對(duì)圖11所示的DO Dn的視頻線施加的視頻電壓在驅(qū)動(dòng)電路(驅(qū)動(dòng)器)近端處的電壓波形和驅(qū)動(dòng)電路遠(yuǎn)端處的電壓波形、以及圖12所示的XO X7的檢測(cè)電極中產(chǎn)生的噪聲波形的波形圖。標(biāo)號(hào)說明10 控制電路〔0041〕11 控制電路部
〔0〇42〕12 掃描電路部
〔0043〕13 電容檢測(cè)電路部
〔0044〕14 控制信號(hào)
^0045315 電容檢測(cè)信號(hào)
〔0〇46〕18^8觸摸面板基板
〔0〇47〕102 觸摸面板電極
〔0048〕8^81 基板
〔0〇49〕8^82 濾色器基板
〔0050〕？8^8 保護(hù)板
〔0〇51〕1X0 液晶顯示器
〔0052〕？X 像素
〔0053〕81背光
〔0054〕IX液晶層
〔0055〕？011下偏光板
〔0〇56〕？012 上偏光板
〔0〇57〕丫0 丫7 掃描電極
〔0〇58〕X。 乂5 檢測(cè)電極
〔0059〕00 011 視頻線
〔0060〕60 &1 掃描線
^00613？電容檢測(cè)電路部校正處理期間
^00623？1？2噪聲量測(cè)定校正量計(jì)算期間
〔0063〕？1？3通常檢測(cè)期間
^00643狄檢測(cè)周期
^00653181檢測(cè)期間
〔0〇66〕161掃描期間
〔0〇67〕II，I2，了3子檢測(cè)期間
〔0〇68〕81開關(guān)電路
具體實(shí)施例方式
〔0069〕以下，參照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例。
〔0070〕另外，在用于說明實(shí)施例的所有圖中，對(duì)具有相同功能的部分附加相同標(biāo)號(hào)，并省 略其重復(fù)的說明。此外，以下的實(shí)施例并非用于限定解釋本發(fā)明的權(quán)利要求書。 〔0071〕[實(shí)施例1〕
〔0072〕圖1八和圖18是表示本發(fā)明的實(shí)施例的搭載了觸摸面板的附帶觸摸面板的顯示器 的截面圖。
〔0073〕圖1八表示將觸摸面板用電極形成在與玻璃基板或？21薄膜等顯示器不同的基板
(??？^)上，并將該觸摸面板基板013皿)與液晶顯示面板進(jìn)行組合的結(jié)構(gòu)。
〔0074〕圖18表示將觸摸面板電極102形成在液晶顯示面板的顯示面?zhèn)鹊臑V色器基板(SUB2)上的、顯示器一體型觸摸面板(外掛型觸摸面板)的結(jié)構(gòu)。本發(fā)明能夠應(yīng)用于圖1A、 圖IB的任意結(jié)構(gòu)中。另外，在圖1A、圖IB中，液晶顯示面板由背光(BL)、TFT基板(SUBl)、液晶層(LC)、 濾色器基板(SUB》、在TFT基板(SUBl)上設(shè)置的下偏光板(POLl)、以及在濾色器基板 (SUB2)上形成的上偏光板(P0L2)構(gòu)成。此外，在圖1A、圖IB中，PSUB為保護(hù)板。圖2是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的靜電電容方式的觸摸面板的電極形狀的平面圖。在本實(shí)施例中，為了與共有(Mutual)方式相對(duì)應(yīng)，觸摸面板電極由用于對(duì)每一行輸入驅(qū)動(dòng)電壓的掃描電極(Y0 Y7)、以及與掃描電極交叉配置且用于檢測(cè)交叉部分附近的電容的檢測(cè)電極(X0 X5)構(gòu)成。另外，在圖2中，13是電容檢測(cè)電路部，SW是開關(guān)電路。開關(guān)電路(SW)在檢測(cè)電極沒有被選擇時(shí)，對(duì)該沒有被選擇的檢測(cè)電極輸入規(guī)定的電壓 (這里為接地電壓)。圖3是本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的控制電路的方框圖。本實(shí)施例的觸摸面板的控制電路10由驅(qū)動(dòng)YO Y7的掃描電極的掃描電路部12、 檢測(cè)來自XO )(5的檢測(cè)電極的信號(hào)的電容檢測(cè)電路部13、以及控制電路部11構(gòu)成，其中， 控制電路部11基于控制信號(hào)14來控制掃描電路部12和電容檢測(cè)電路部13的動(dòng)作，并且根據(jù)來自電容檢測(cè)電路部13的電容檢測(cè)信號(hào)15來計(jì)算觸摸面板的觸摸位置(輸入坐標(biāo))， 從而輸出到上位系統(tǒng)，或者，接受來自上位系統(tǒng)的信號(hào)并控制各個(gè)電路的動(dòng)作。圖4A、圖4B是用于說明本發(fā)明的實(shí)施例1的觸摸面板的動(dòng)作的定時(shí)圖。例如，在具有圖2所示的電極形狀的靜電電容方式的觸摸面板的以往的驅(qū)動(dòng)方法中，在檢測(cè)周期TA內(nèi)，對(duì)YO Y7的掃描電極依次在TB的一個(gè)檢測(cè)期間輸入驅(qū)動(dòng)電壓，并基于XO X5的檢測(cè)電極中檢測(cè)出的電容檢測(cè)信號(hào)，檢測(cè)觸摸面板上的觸摸位置。在本實(shí)施例中，將一個(gè)檢測(cè)期間(TB)分割為n(n彡2)個(gè)子檢測(cè)期間(Tl、T2)并以時(shí)分割方式進(jìn)行檢測(cè)。這時(shí)，將XO )(5的檢測(cè)電極分割為η個(gè)組，使得在連續(xù)的子檢測(cè)期間，從至少1條相同的檢測(cè)電極(在圖2中為Χ2的檢測(cè)電極)連續(xù)地檢測(cè)出電容檢測(cè)信號(hào)。在圖4Α的情況下，將XO )(5的檢測(cè)電極分為XO Χ2的檢測(cè)電極和Χ2 )(5的檢測(cè)電極的兩個(gè)組，在第1個(gè)子檢測(cè)期間(Tl)的檢測(cè)和第2個(gè)子檢測(cè)期間(1 的檢測(cè)中， 在X2的檢測(cè)電極中公共地進(jìn)行檢測(cè)。這里，檢測(cè)電極的分割數(shù)目是任意的。此外，分割方法也是任意的，也可以如圖4B 那樣分割為3個(gè)檢測(cè)電極的組。在圖4B的情況下，將XO X5的檢測(cè)電極分為(X0, X2，X4)的檢測(cè)電極、(X0, X3， X5)的檢測(cè)電極、(XI，X3，X5)的檢測(cè)電極的3個(gè)組，在第1個(gè)子檢測(cè)期間Tl的檢測(cè)和第2 個(gè)子檢測(cè)期間T2的檢測(cè)中，在XO的檢測(cè)電極中公共地進(jìn)行檢測(cè)，在第2個(gè)子檢測(cè)期間T2 的檢測(cè)和第3個(gè)子檢測(cè)期間T3的檢測(cè)中，在(X3，XQ的檢測(cè)電極中公共地進(jìn)行檢測(cè)。此外，如圖2所示，在子檢測(cè)期間不是檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)電極通過開關(guān)元件SW設(shè)為接地電位，因此在圖4Β的情況下，成為檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)電極的周邊的檢測(cè)電極成為固定電位，因此不易受到來自顯示器的噪聲影響，還能夠期待檢測(cè)精度提高的效果。
圖5是用于說明本實(shí)施例的觸摸面板的控制電路10的動(dòng)作的流程圖。以下，使用圖5說明本實(shí)施例的觸摸面板的控制電路的動(dòng)作。另外，圖5的處理由圖3的控制電路部11執(zhí)行。此外，圖5的處理中作為前提的觸摸面板為圖2所示的觸摸面板。此外，在的掃描電極的一個(gè)檢測(cè)期間內(nèi)的、第1個(gè)子檢測(cè)期間Tl和第2個(gè)子檢測(cè)期間T2中的檢測(cè)結(jié)束之后，執(zhí)行圖5的處理。步驟101的處理1計(jì)算在的掃描電極的第1個(gè)子檢測(cè)期間Tl中檢測(cè)出的電容檢測(cè)信號(hào)S_ XO (Yn_l)、S_X1 (Yn_l)、S_X2 (Υη_1)中的第1個(gè)子檢測(cè)期間Tl的公共噪聲量NS_CMP1。步驟102的處理2計(jì)算利用S_X0 (Yn_l)、S_X1 (Yn_l)、S_X2 (Υη_1)的公共噪聲量 NS_CMP1 去除了噪聲的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)S_X0 (Yn_l)，、S_X1 (Yn_l)，、S_X2 (Yn_l)，。步驟103的處理3根據(jù)噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算在的掃描電極的第1個(gè)子檢測(cè)期間Tl中檢測(cè)出的、(Χ0，XI，Χ2)的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量AS_X0(Yn_l)、Δ S_ Xl (Yn_l)、ΔS_X2(Υη_1)。步驟104的處理4計(jì)算在的掃描電極的第2個(gè)子檢測(cè)期間Τ2中檢測(cè)出的電容檢測(cè)信號(hào)S_ X2 (Yn_2)、S_X3 (Yn_2)、S_X4 (Υη_2)、S_X5 (Υη_2)的第 2 個(gè)子檢測(cè)期間 Τ2 的公共噪聲量 NS_ CMP2。步驟105的處理5計(jì)算利用S_X2 (Yn_2)、S_X3 (Yn_2)、S_X4 (Υη_2)、S_X5 (Υη_2)的公共噪聲量 NS_ CMP2去除了噪聲的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)S_X2 (Yn_2) ’、S_X3 (Yn_2) ’、S_X4 (Yn_2) ’、 S_X5(Yn_2)，。步驟106的處理6根據(jù)噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算在的掃描電極的第2個(gè)子檢測(cè)期間 Τ2中檢測(cè)出的、(Χ2，Χ3，Χ4，Χ5)的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量Δ S_X2 (Υη_2)、Δ S_ Χ3 (Υη_2)、ΔS_X4(Υη_2)、ΔS_X5(Υη_2)。步驟107的判斷1判斷Χ2的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量的差是否小于某一閾值ERR_TH，即，是否滿足 I AS_X2(Yn_2)-AS_X2(Yn_l) | < Err_Th。步驟108的處理7在步驟107的判斷1中的判斷結(jié)果為“是”的情況下，采用表1所示的情況 (case) 1，作為的掃描電極中的XO )(5的檢測(cè)電極的信號(hào)檢測(cè)值(SC_X0 (Yl)，SC_ Xl (Yl)，SC_X2(Yl)，SC_X3 (Yl)，SC_X4(Yl)，SC_X5(Yl))，采用 ΔS_X0(Υη_1)、Δ S_ Xl (Υη_1)、Δ S_X2 (Υη_1)、Δ S_X3 (Υη_2)、Δ S_X4 (Υη_2)、Δ S_X5 (Υη_2)。另夕卜，也可以采用 AS_X2(Yn_2)作為X2的檢測(cè)電極的信號(hào)檢測(cè)值。[表1]
權(quán)利要求
1.一種靜電電容方式的觸摸面板，其特征在于，包括 多個(gè)掃描電極，設(shè)置在第1方向上；多個(gè)檢測(cè)電極，設(shè)置在與所述第1方向交叉的第2方向上；掃描電路部，將對(duì)所述多個(gè)掃描電極中的一個(gè)掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓的一個(gè)檢測(cè)期間分割為η個(gè)子檢測(cè)期間，并在1 η的各個(gè)子檢測(cè)期間按順序?qū)λ鲆粋€(gè)掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，其中，η彡2 ；電容檢測(cè)電路部，將所述多個(gè)檢測(cè)電極分割為1 η的組，使得在1 η的組中相鄰的組至少包含1條相同的檢測(cè)電極，并在所述子檢測(cè)期間中輸入來自與所述子檢測(cè)期間對(duì)應(yīng)的所述組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)；以及控制電路部，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述電容檢測(cè)信號(hào)來計(jì)算電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并基于該計(jì)算出的所述電容檢測(cè)信號(hào)變化量，計(jì)算觸摸位置的坐標(biāo)，所述控制電路部基于在所述連續(xù)的子檢測(cè)期間從所述至少1條相同的檢測(cè)電極連續(xù)檢測(cè)出的所述電容檢測(cè)信號(hào)，決定在所述連續(xù)的子檢測(cè)期間檢測(cè)出所述電容檢測(cè)信號(hào)的兩個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述電容檢測(cè)信號(hào)變化量。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于，在將所述連續(xù)的子檢測(cè)期間設(shè)為第k個(gè)子檢測(cè)期間和第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間時(shí)，其中， k為1彡k彡n-1,所述掃描電路部按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，在所述第k個(gè)子檢測(cè)期間和所述第 (k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間，對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述第k個(gè)子檢測(cè)期間輸入來自所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，檢測(cè)所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，并且在所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間輸入來自所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，檢測(cè)所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)， 所述控制電路部包括第k個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第k個(gè)組的公共噪聲量；第k個(gè)噪聲去除部件，使用通過所述第k個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)而計(jì)算出的所述第k個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)；第k個(gè)變化量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第k個(gè)噪聲去除部件計(jì)算出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量；第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+1) 個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量；第(k+Ι)個(gè)噪聲去除部件，使用通過所述第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)而計(jì)算出的所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)；第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個(gè)噪聲去除部件計(jì)算出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的所述噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量；以及變化量決定部件，比較由所述第k個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量和由所述第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少 1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并基于該比較結(jié)果而決定所述第k個(gè)以及第 (k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量。
3.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量是以沒有觸碰所述觸摸面板時(shí)的、所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)為基準(zhǔn)值而計(jì)算，所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量是以沒有觸碰所述觸摸面板時(shí)的、所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)為基準(zhǔn)值而計(jì)算。
4.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個(gè)組的公共噪聲量是所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)的最小值或平均值，或者中間值，所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量是所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)的最小值或平均值，或者中間值。
5.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，所述第k個(gè)噪聲去除部件從由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)中去除由所述第k個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述第k個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，所述第(k+Ι)個(gè)噪聲去除部件從由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)中去除由所述第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量，計(jì)算所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)。
6.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于，在將由所述第k個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量設(shè)為A，將由所述第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件計(jì)算出的所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量設(shè)為B，將Th設(shè)為規(guī)定的閾值時(shí)，所述變化量決定部件，在滿足|A-B| STh時(shí)，對(duì)所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量以及所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量不進(jìn)行校正，在滿足|A-B| > Th時(shí)，校正所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量或者所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量。
7.如權(quán)利要求6所述的觸摸面板，其特征在于，所述變化量決定部件，在滿SA > B時(shí)，不校正所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量，而在所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)，丟棄所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并且對(duì)所述至少1條相同的檢測(cè)電極以外的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量加上A的值，在滿足A < B時(shí)，不校正所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量， 而在所述第k個(gè)組內(nèi)，丟棄所述至少1條相同的檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量，并且對(duì)所述至少1條相同的檢測(cè)電極以外的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量加上B的值。
8.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線。
9.如權(quán)利要求1所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線， 測(cè)定校正量計(jì)算期間在所述顯示面板上整個(gè)面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，以第1 個(gè)至第η個(gè)的順序在各個(gè)子檢測(cè)期間對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，在第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間輸入來自所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，所述控制電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量。
10.如權(quán)利要求2所述的觸摸面板，其特征在于， 所述靜電電容方式的觸摸面板配置在顯示面板上， 所述顯示面板具有設(shè)置在第1方向上的多個(gè)視頻線， 測(cè)定校正量計(jì)算期間在所述顯示面板上整個(gè)面顯示相同顏色，所述掃描電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間按照所述各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，以第1 個(gè)至第η個(gè)的順序在各個(gè)子檢測(cè)期間對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓，所述電容檢測(cè)電路部在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，在第1個(gè)至第η個(gè)的子檢測(cè)期間輸入來自所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的信號(hào)，并檢測(cè)所述第1個(gè)至第η個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)， 所述控制電路部包括第k個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件，在所述測(cè)定校正量計(jì)算期間，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量；第k個(gè)校正量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第k個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量；第(k+Ι)個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第 (k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量；以及第(k+Ι)個(gè)校正量計(jì)算部件，根據(jù)由所述第(k+Ι)個(gè)檢測(cè)電極噪聲量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲量，計(jì)算所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，在所述第k個(gè)噪聲去除部件中，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，利用所述第k個(gè)組的公共噪聲量和由所述第k個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，在所述第(k+Ι)個(gè)公共噪聲量計(jì)算部件中，根據(jù)由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，利用所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第 (k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)。
11.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲量是，由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的從所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極檢測(cè)出的電容檢測(cè)信號(hào)的最大值、最小值或者平均值，對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲量是，從所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極檢測(cè)出的電容檢測(cè)信號(hào)的最大值、最小值或者平均值。
12.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲校正量是，與對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲量成比例的值，對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲校正量是，與對(duì)所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+1) 個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)計(jì)算出的噪聲量成比例的值。
13.如權(quán)利要求10所述的觸摸面板，其特征在于，在所述第k個(gè)變化量計(jì)算部件中，從由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，去除所述第k個(gè)組的公共噪聲量和由所述第k個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第k個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第k個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)，在所述第(k+Ι)個(gè)變化量計(jì)算部件中，從由所述電容檢測(cè)電路部檢測(cè)出的所述第 (k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)，去除所述第(k+Ι)個(gè)組的公共噪聲量和由所述第(k+Ι)個(gè)校正量計(jì)算部件計(jì)算出的所述各個(gè)掃描電極的所述第(k+Ι)個(gè)子檢測(cè)期間的每一個(gè)并且所述第(k+Ι)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的每一個(gè)的噪聲校正量，計(jì)算所述第(k+1)個(gè)組內(nèi)的各個(gè)檢測(cè)電極的噪聲去除后的電容檢測(cè)信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明提供觸摸面板。包括掃描電路部，對(duì)各個(gè)掃描電極的每一個(gè)，以第1至第n個(gè)的順序在各子檢測(cè)期間對(duì)該掃描電極輸入驅(qū)動(dòng)電壓；電容檢測(cè)電路部，在第1至第n個(gè)子檢測(cè)期間輸入來自第1至第n個(gè)組內(nèi)的各檢測(cè)電極的信號(hào)，檢測(cè)第1至第n個(gè)組內(nèi)的各檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)；以及控制電路部，控制掃描電路部和電容檢測(cè)電路部，根據(jù)由電容檢測(cè)電路部檢測(cè)的多個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)計(jì)算電容檢測(cè)信號(hào)變化量，基于多個(gè)檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量計(jì)算觸摸位置的坐標(biāo)，控制電路部基于在連續(xù)的子檢測(cè)期間從至少1條相同的檢測(cè)電極連續(xù)檢測(cè)的電容檢測(cè)信號(hào)，決定在連續(xù)的子檢測(cè)期間檢測(cè)出電容檢測(cè)信號(hào)的兩個(gè)組內(nèi)的各檢測(cè)電極的電容檢測(cè)信號(hào)變化量。
文檔編號(hào)G06F3/044GK102486708SQ201110393600
公開日2012年6月6日 申請(qǐng)日期2011年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月1日
發(fā)明者萬場(chǎng)則夫, 土井宏治 申請(qǐng)人:株式會(huì)社日立顯示器