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      端口測(cè)試裝置制造方法

      文檔序號(hào):6492623閱讀:167來源:國(guó)知局
      端口測(cè)試裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了用于檢測(cè)電子設(shè)備外圍接口處傳輸信號(hào)是否正常的端口測(cè)試裝置,其包括一電路板,該電路板上設(shè)有一與待測(cè)端口匹配的連接器、一測(cè)試插座、一第一動(dòng)態(tài)臂及若干線纜,所述第一動(dòng)態(tài)臂的一端樞轉(zhuǎn)固定于電路板上并與所述測(cè)試插座電連接,所述線纜的一端連接至所述連接器的對(duì)應(yīng)端子上,所述線纜的另一端固定在電路板上,所述第一動(dòng)態(tài)臂旋轉(zhuǎn)時(shí)另一端能夠與所述線纜的另一端接觸。本發(fā)明能避免頻繁插拔檢測(cè)探頭及開關(guān)機(jī)所帶來的繁瑣工作,還會(huì)保護(hù)檢測(cè)探頭不受損,從而提高工作效率、保護(hù)產(chǎn)品性能。
      【專利說明】端口測(cè)試裝置【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種端口測(cè)試裝置,尤其涉及一種電腦主機(jī)外圍接口設(shè)備的測(cè)試裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]近年來,隨著電子通訊技術(shù)的快速發(fā)展,電腦連接總線和接口標(biāo)準(zhǔn)已逐漸更新提升。電腦主機(jī)外圍接口包括:傳統(tǒng)的AGP (Accelerate Graphical Port,快速圖形接口)接口、PCI (Peripheral Component Interconnect,外圍兀件連接)接口及新標(biāo)準(zhǔn) PCIE(Peripheral Component Interconnect Express,外圍設(shè)備快速連接)接口,而具備較高傳輸率、較大兼容性的新標(biāo)準(zhǔn)PCIE接口已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)的PCI接口和AGP接口。
      [0003]通常,人們對(duì)PCIE接口進(jìn)行測(cè)試時(shí),使用的測(cè)試治具包括若干SMP (SymmetricalMult1-Processing,對(duì)稱多功能處理)接口插座及與SMP接口插座數(shù)量相等的SMP測(cè)試探頭,其中,每個(gè)SMP接口插座對(duì)應(yīng)一個(gè)SMP測(cè)試探頭。當(dāng)進(jìn)行PCIE接口測(cè)試時(shí),通常先將某個(gè)SMP測(cè)試探頭插入與其相對(duì)應(yīng)的SMP接口插座中,當(dāng)該SMP測(cè)試探頭檢測(cè)完畢后,需關(guān)閉主機(jī),再將上述SMP測(cè)試探頭拔出;而后再將另一個(gè)SMP測(cè)試探頭插入與其相對(duì)應(yīng)的SMP接口插座,然后開機(jī),重新測(cè)試PCIE接口的另一引腳的輸出信號(hào)。如此反復(fù)地操作,不但會(huì)導(dǎo)致測(cè)試繁瑣,增加測(cè)試量,阻礙測(cè)試效率的提升,還會(huì)因反復(fù)插拔測(cè)試探頭而導(dǎo)致探頭受損。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明提供一種能保證測(cè)試探頭不受損且能提高測(cè)試效率的端口測(cè)試裝置。
      [0005]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:` 一種端口測(cè)試裝置,包括一電路板,該電路板上設(shè)有一與待測(cè)端口匹配的連接器、一測(cè)試插座、一第一動(dòng)態(tài)臂及若干線纜,所述第一動(dòng)態(tài)臂的一端樞轉(zhuǎn)固定于電路板上并與所述測(cè)試插座電連接,所述線纜的一端連接至所述連接器的對(duì)應(yīng)端子上,所述線纜的另一端固定在電路板上,所述第一動(dòng)態(tài)臂旋轉(zhuǎn)時(shí)另一端能夠與所述線纜的另一端接觸。
      [0006]本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明的端口測(cè)試裝置上只設(shè)置一個(gè)測(cè)試插座,通過旋轉(zhuǎn)動(dòng)態(tài)臂使動(dòng)態(tài)臂依次與傳輸待測(cè)信號(hào)的線纜電連接將待測(cè)信號(hào)引出至測(cè)試插座進(jìn)行測(cè)試,避免了現(xiàn)有技術(shù)中頻繁插拔探頭及開關(guān)機(jī)的繁瑣操作,還可以避免檢測(cè)探頭受損,從而實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便、快速的檢測(cè)功能,提高工作效率,保護(hù)產(chǎn)品性能,延長(zhǎng)使用壽命。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0007]圖1是本發(fā)明端口測(cè)試裝置的較佳實(shí)施例的示意圖。
      [0008]主要元件符號(hào)說明
      【權(quán)利要求】
      1.一種端口測(cè)試裝置,其特征在于:包括一電路板,該電路板上設(shè)有一與待測(cè)端口匹配的連接器、一測(cè)試插座、一第一動(dòng)態(tài)臂及若干線纜,所述第一動(dòng)態(tài)臂的一端樞轉(zhuǎn)固定于電路板上并與所述測(cè)試插座電連接,所述線纜的一端連接至所述連接器的對(duì)應(yīng)端子上,所述線纜的另一端固定在電路板上,所述第一動(dòng)態(tài)臂旋轉(zhuǎn)時(shí)另一端能夠與所述線纜的另一端接觸。
      2.如權(quán)利要求1所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述第一動(dòng)態(tài)臂為金屬桿,由導(dǎo)電金屬材料制成。
      3.如權(quán)利要求2所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述端口測(cè)試裝置還包括一第二動(dòng)態(tài)臂,所述第二動(dòng)態(tài)臂的一端樞轉(zhuǎn)固定于電路板上并與所述測(cè)試插座電連接,所述第二動(dòng)態(tài)臂旋轉(zhuǎn)時(shí)另一端能夠與所述線纜的另一端接觸;所述第二動(dòng)態(tài)臂為金屬桿,由導(dǎo)電金屬材料制成。
      4.如權(quán)利要求3所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述第一及第二動(dòng)態(tài)臂的阻抗為50 Ω。
      5.如權(quán)利要求4所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述線纜的數(shù)量為32條,每?jī)蓷l線纜用于傳輸一路待測(cè)信號(hào)。
      6.如權(quán)利要求5所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述線纜的另一端分布在以第一動(dòng)態(tài)臂的樞轉(zhuǎn)固定在電路板上的一端為圓心、以第一動(dòng)態(tài)臂的長(zhǎng)度為半徑的圓周上。
      7.如權(quán)利要求1至6任意一項(xiàng)所述的端口測(cè)試裝置,其特征在于:所述測(cè)試插座為由兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置的接線器共同形成的一對(duì)多功能處理插座。
      【文檔編號(hào)】G06F11/267GK103870375SQ201210529736
      【公開日】2014年6月18日 申請(qǐng)日期:2012年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月11日
      【發(fā)明者】余松 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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