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      電容檢測(cè)電路的制作方法

      文檔序號(hào):6494310閱讀:253來源:國(guó)知局
      電容檢測(cè)電路的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明提出一種電容檢測(cè)電路,包括:N個(gè)感應(yīng)單元,其中,N為大于等于1的整數(shù);轉(zhuǎn)移電容,轉(zhuǎn)移電容的一端分別與N個(gè)感應(yīng)單元相連,轉(zhuǎn)移電容的另一端接地,轉(zhuǎn)移電容用于將自身的電荷轉(zhuǎn)移至N個(gè)感應(yīng)單元中被掃描的感應(yīng)單元的電容中;充電模塊,用于對(duì)轉(zhuǎn)移電容進(jìn)行充電,其中,充電模塊包括串聯(lián)的第一開關(guān)和第一電阻;控制器,控制器分別與充電模塊和轉(zhuǎn)移電容相連,控制器用于當(dāng)轉(zhuǎn)移電容的電壓大于預(yù)設(shè)閾值時(shí),控制第一開關(guān)關(guān)斷,當(dāng)轉(zhuǎn)移電容的電壓小于預(yù)設(shè)閾值時(shí),控制第一開關(guān)關(guān)閉,同時(shí)更新計(jì)數(shù)值,以及根據(jù)所述計(jì)數(shù)值檢測(cè)所述N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。該電容檢測(cè)電路能夠消除互電容的影響,從而提高了檢測(cè)精度,判斷準(zhǔn)確度也大大提高。
      【專利說明】電容檢測(cè)電路
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及電容檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及一種電容檢測(cè)電路。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前,觸摸屏在手機(jī)、PDA (個(gè)人數(shù)字助理)、GPS (全球定位系統(tǒng))、PMP (MP3,MP4等)甚至是平板電腦等電子設(shè)備中得到了應(yīng)用。觸摸屏具有觸控操作簡(jiǎn)單、便捷、人性化的優(yōu)點(diǎn),因此觸摸屏有望成為人機(jī)互動(dòng)的最佳界面而在便攜式設(shè)備中得到了廣泛應(yīng)用。而隨著觸摸屏的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)觸摸屏技術(shù)的研究也越來越深入。
      [0003]現(xiàn)有技術(shù)中往往是通過檢測(cè)觸摸屏中感應(yīng)單元自電容的大小來判斷感應(yīng)單元是否被觸摸,因此如何精確檢測(cè)觸摸屏中的感應(yīng)單元在被觸摸時(shí)產(chǎn)生的自電容變得十分重要。
      [0004]而現(xiàn)有的電容檢測(cè)原理存在的缺點(diǎn)是,在檢測(cè)感應(yīng)單元被觸摸產(chǎn)生的電容時(shí),由于互電容的存在,往往受到互電容的影響,導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)產(chǎn)生一定的誤差,因此,檢測(cè)精度不夠高,進(jìn)而不能準(zhǔn)確判斷感應(yīng)單元是否被觸摸。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明的目的旨在至少解決上述的技術(shù)缺陷之一。
      [0006]為此,本發(fā)明的目的在于提出一種電容檢測(cè)電路,能夠消除互電容的影響,從而提高了檢測(cè)精度,判斷準(zhǔn)確度也大大提高。
      [0007]為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實(shí)施例提出了 一種電容檢測(cè)電路,包括:N個(gè)感應(yīng)單元,其中,N為大于等于I的整數(shù);轉(zhuǎn)移電容,所述轉(zhuǎn)移電容的一端分別與所述N個(gè)感應(yīng)單元相連,所述轉(zhuǎn)移電容的另一端接地,所述轉(zhuǎn)移電容用于將自身的電荷轉(zhuǎn)移至所述N個(gè)感應(yīng)單元中被掃描的感應(yīng)單元的電容中;充電模塊,所述充電模塊的一端與所述轉(zhuǎn)移電容的一端相連,所述充電模塊的另一端與第一電源相連,用于對(duì)所述轉(zhuǎn)移電容進(jìn)行充電,其中,所述充電模塊包括串聯(lián)的第一開關(guān)和第一電阻;控制器,所述控制器分別與所述充電模塊和所述轉(zhuǎn)移電容相連,所述控制器用于當(dāng)所述轉(zhuǎn)移電容的電壓大于預(yù)設(shè)閾值時(shí),控制所述第一開關(guān)關(guān)斷,同時(shí)更新計(jì)數(shù)值,以及根據(jù)所述計(jì)數(shù)值檢測(cè)所述N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。
      [0008]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電容檢測(cè)電路,在檢測(cè)感應(yīng)單元被觸摸產(chǎn)生的電容時(shí)能夠很好地消除互電容的影響,從而大大提高了檢測(cè)精度,進(jìn)而可以準(zhǔn)確地判斷感應(yīng)單元是否被觸摸,提高了判斷準(zhǔn)確率。
      [0009]本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0010]本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從下面結(jié)合附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:[0011]圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電容檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0012]圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電容檢測(cè)電路的電路原理圖;
      [0013]圖3為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)示例的電容檢測(cè)電路的電路原理圖;
      [0014]圖4為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的電容檢測(cè)電路中開關(guān)控制信號(hào)的波形圖;和
      [0015]圖5為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的電容檢測(cè)電路中開關(guān)控制信號(hào)的波形圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0016]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例,所述實(shí)施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的,僅用于解釋本發(fā)明,而不能解釋為對(duì)本發(fā)明的限制。
      [0017]下文的公開提供了許多不同的實(shí)施例或例子用來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的不同結(jié)構(gòu)。為了簡(jiǎn)化本發(fā)明的公開,下文中對(duì)特定例子的部件和設(shè)置進(jìn)行描述。當(dāng)然,它們僅僅為示例,并且目的不在于限制本發(fā)明。此外,本發(fā)明可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或字母。這種重復(fù)是為了簡(jiǎn)化和清楚的目的,其本身不指示所討論各種實(shí)施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。此外,本發(fā)明提供了的各種特定的工藝和材料的例子,但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識(shí)到其他工藝的可應(yīng)用于性和/或其他材料的使用。另外,以下描述的第一特征在第二特征之“上”的結(jié)構(gòu)可以包括第一和第二特征形成為直接接觸的實(shí)施例,也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之間的實(shí)施例,這樣第一和第二特征可能不是直接接觸。
      [0018]在本發(fā)明的描述中,需要說明的是,除非另有規(guī)定和限定,術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解,例如,可以是機(jī)械連接或電連接,也可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通,可以是直接相連,也可以通過中間媒介間接相連,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語的具體含義。
      [0019]參照下面的描述和附圖,將清楚本發(fā)明的實(shí)施例的這些和其他方面。在這些描述和附圖中,具體公開了本發(fā)明的實(shí)施例中的一些特定實(shí)施方式,來表示實(shí)施本發(fā)明的實(shí)施例的原理的一些方式,但是應(yīng)當(dāng)理解,本發(fā)明的實(shí)施例的范圍不受此限制。相反,本發(fā)明的實(shí)施例包括落入所附加權(quán)利要求書的精神和內(nèi)涵范圍內(nèi)的所有變化、修改和等同物。
      [0020]下面參照附圖來描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提出的電容檢測(cè)電路。
      [0021]首先,如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施例提出的電容檢測(cè)電路包括N個(gè)感應(yīng)單元(1、2、3…N)、轉(zhuǎn)移電容CmocU充電模塊101和控制器102。
      [0022]其中,N個(gè)感應(yīng)單元(1、2、3…N)中每個(gè)感應(yīng)單元在被觸摸時(shí)其電容會(huì)發(fā)生變化,并且N為大于等于I的整數(shù)。也就是說,該電容檢測(cè)電路同時(shí)檢測(cè)多個(gè)感應(yīng)單元,其中多個(gè)感應(yīng)單元為至少兩個(gè)感應(yīng)單元。
      [0023]如圖1所示,轉(zhuǎn)移電容Cmod的一端分別與N個(gè)感應(yīng)單元(1、2、3…N)的一端相連,轉(zhuǎn)移電容Cmod的另一端接地,通常感應(yīng)單元的另一端也是接地。轉(zhuǎn)移電容Cmod用于將自身的電荷轉(zhuǎn)移至N個(gè)感應(yīng)單元中被掃描的感應(yīng)單元的電容中,一般情況下,當(dāng)感應(yīng)單元被觸摸時(shí),其電容會(huì)變大。例如,當(dāng)掃描到N個(gè)感應(yīng)單元中感應(yīng)單元1、2、3被觸摸時(shí),感應(yīng)單元1、2、3各自的自電容發(fā)生變化(例如增大),轉(zhuǎn)移電容Cmod將自身的電荷分別轉(zhuǎn)移到感應(yīng)單元1、2、3的自電容之中,從而拉低轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓。 [0024]充電模塊101的一端與轉(zhuǎn)移電容Cmod的一端相連,充電模塊101的另一端與第一電源VD相連,用于對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行充電,其中,充電模塊101包括串聯(lián)的第一開關(guān)SWl和第一電阻Rl。
      [0025]控制器102分別與充電模塊101和轉(zhuǎn)移電容Cmod相連,控制器102用于當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓大于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),控制第一開關(guān)SWl關(guān)斷,同時(shí)更新計(jì)數(shù)值,以及根據(jù)計(jì)數(shù)值檢測(cè)N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。也就是說,當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓大于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),控制器102控制第一開關(guān)SWl斷開,當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓小于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),控制器102控制第一開關(guān)SWl閉合,同時(shí)根據(jù)感應(yīng)單元被觸摸與否產(chǎn)生不同的計(jì)數(shù)值,以此來檢測(cè)N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。
      [0026]具體地,首先控制器102通過控制第一開關(guān)SWl,使充電模塊101對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行充電,當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓高于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),控制器102控制第一開關(guān)SWl關(guān)斷,而當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓低于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),控制器102控制第一開關(guān)SWl閉合。當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電荷轉(zhuǎn)移到感應(yīng)單元時(shí),此時(shí)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓會(huì)被拉低,感應(yīng)單元的電容越大時(shí),電壓拉得越低,此時(shí)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值越小。當(dāng)感應(yīng)單元被觸摸后,感應(yīng)單元的電容會(huì)變大,因此計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值會(huì)變得更小。也就是說,有觸摸的感應(yīng)單元的計(jì)數(shù)值會(huì)比沒觸摸的感應(yīng)單元的計(jì)數(shù)值小,因此,可以根據(jù)計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)值的大小,來判斷感應(yīng)單元有沒有被觸摸即判斷N個(gè)感應(yīng)單元中的哪個(gè)感應(yīng)單元是否被觸摸。
      [0027]進(jìn)一步地,在本發(fā)明的實(shí)施例中,如圖1所示,該電容檢測(cè)電路還包括N個(gè)選擇組件(1、2、3、-N),每個(gè)選擇組件與一個(gè)感應(yīng)單元相對(duì)應(yīng),并連接在N個(gè)感應(yīng)單元(1、2、3、…N)和轉(zhuǎn)移電容Cmod之間。每個(gè)選擇組件控制對(duì)應(yīng)的感應(yīng)單元那路通道的開關(guān)。
      [0028]在本發(fā)明的 一個(gè)實(shí)施例中,如圖2所示,每個(gè)選擇組件例如選擇組件I進(jìn)一步包括第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3。其中,第二開關(guān)SW2連接在相應(yīng)的感應(yīng)單元和轉(zhuǎn)移電容Cmod之間,第三開關(guān)SW3的一端與相應(yīng)的感應(yīng)單元相連,第三開關(guān)SW3的另一端與地相連,其中,第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3交替開啟。
      [0029]并且,如圖2所示,每個(gè)選擇組件例如選擇組件I還包括第四開關(guān)SW4,第四開關(guān)SW4的一端與相應(yīng)的感應(yīng)單元相連,第四開關(guān)SW4的另一端與第二電源VTH相連,其中,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,第二電源VTH的電壓可為預(yù)設(shè)閾值Vth。當(dāng)然,在本發(fā)明的其他實(shí)施例中,第二電源VTH的電壓也可為其他電壓值。
      [0030]進(jìn)一步地,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,如圖2所示,該電容檢測(cè)電路還包括預(yù)充電模塊201。預(yù)充電模塊201的一端與轉(zhuǎn)移電容Cmod的一端相連,預(yù)充電模塊201的另一端與第一電源VD相連,預(yù)充電模塊201用于對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)充電。其中,預(yù)充電模塊201包括相互串聯(lián)的第五開關(guān)SW5和第二電阻R2。也就是說,在對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod充電之前,還需要對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)充電,將轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓預(yù)充至預(yù)設(shè)閾值Vth的附近。
      [0031]此外,如圖2所示,該電容檢測(cè)電路還包括預(yù)放電模塊202。預(yù)放電模塊202 —端與轉(zhuǎn)移電容Cmod的一端相連,預(yù)放電模塊202的另一端接地,預(yù)放電模塊202用于在預(yù)充電模塊201對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod預(yù)充電之前,對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)放電。其中,預(yù)放電模塊202包括第六開關(guān)SW6,通過第六開關(guān)SW6的一端接地,對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)放電。在本發(fā)明的實(shí)施例中,通過對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod的預(yù)充電和預(yù)放電,可以保證在每次測(cè)試時(shí)轉(zhuǎn)移電容Cmod的狀態(tài)均相同,從而提聞檢測(cè)的精度。
      [0032]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,如圖2所示,控制器102進(jìn)一步包括比較器CMP、觸發(fā)器DFF、計(jì)數(shù)器206、檢測(cè)器203和第一選擇器204。其中,比較器CMP的第一輸入端與預(yù)設(shè)閾值的電壓Vth相連,比較器CMP的第二輸入端與轉(zhuǎn)移電容Cmod的一端相連。觸發(fā)器DFF的輸入端與比較器CMP的輸出端相連,用于根據(jù)比較器CMP的比較結(jié)果生成觸發(fā)信號(hào),觸發(fā)器DFF還包括時(shí)鐘信號(hào)輸入CNT_CLK。計(jì)數(shù)器206的輸入端與觸發(fā)器DFF的輸出端相連,用于根據(jù)所述觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)。檢測(cè)器203與計(jì)數(shù)器206相連,用于根據(jù)計(jì)數(shù)器206的計(jì)數(shù)值檢測(cè)N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。第一選擇器204的輸入端與觸發(fā)器DFF的輸出端相連,用于根據(jù)觸發(fā)器DFF的觸發(fā)信號(hào)生成第一控制信號(hào),而第一控制信號(hào)用于控制充電模塊101對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行充電。
      [0033]此外,控制器102還包括第二選擇器205。第二選擇器205的輸入端與比較器CMP的輸出端相連,用于根據(jù)比較結(jié)果生成第二控制信號(hào),并且第二控制信號(hào)用于控制預(yù)充電模塊201對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)充電。
      [0034]具體地,如圖2所示,第一選擇器204為與門AND,與門AND的第一輸入端與觸發(fā)器DFF的輸出端相連,與門AND的第二輸入端與切換使能信號(hào)SWITCH EN相連。其中,在預(yù)充電和預(yù)放電階段,這個(gè)使能信號(hào)SWITCH EN為低,使得充電模塊101中的第一開關(guān)SWl關(guān)斷,在預(yù)充電和預(yù)放電后,進(jìn)行電容檢測(cè)階段時(shí),這個(gè)信號(hào)一直為高,充電模塊101中的第一開關(guān)SWl的閉合與關(guān)斷情況由與觸發(fā)器DFF的輸出端相連的那一端控制,在檢測(cè)完成后這個(gè)使能信號(hào)SWITCH EN又為低。第二選擇器205為或非門N0R,或非門NOR的第一輸入端與比較器CMP的輸出端相連,或非門NOR的第二輸入端與預(yù)充電信號(hào)PRE_CHRG相連。
      [0035]簡(jiǎn)言之,在本發(fā)明的一個(gè)示例中,當(dāng)感應(yīng)單元為一個(gè)時(shí),如圖3所示,對(duì)電容檢測(cè)的過程如下:
      [0036]首先,對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)放電,即先把第六開關(guān)SW6閉合,將轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電荷放掉;然后斷開第六開關(guān)SW6,閉合第五開關(guān)SW5,第一電源VD通過第二電阻R2對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行預(yù)充電,直至將轉(zhuǎn)移電容Cmod的電壓預(yù)充到預(yù)設(shè)閾值Vth附近,其中,在預(yù)放電和預(yù)充電階段,第一開關(guān)SWl—直斷開。當(dāng)預(yù)充電和預(yù)放電結(jié)束后,第五開關(guān)SW5和第六開關(guān)SW6都斷開,此時(shí)控制閉合第一開關(guān)SWl,第一電源VD通過第一電阻Rl對(duì)轉(zhuǎn)移電容Cmod進(jìn)行充電,當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓高于比較器CMP參考電壓即預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),觸發(fā)器DFF根據(jù)比較器CMP的輸出結(jié)果控制第一開關(guān)SWl斷開。當(dāng)轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓低于預(yù)設(shè)閾值Vth時(shí),比較器CMP翻轉(zhuǎn),觸發(fā)器DFF根據(jù)比較器CMP的輸出結(jié)果控制第一開關(guān)SWl閉合。其中,在轉(zhuǎn)移電容Cmod的電荷轉(zhuǎn)移過程中,轉(zhuǎn)移電容Cmod中的電荷通過第二開關(guān)SW2,轉(zhuǎn)移到感應(yīng)單元的電容Cx上。當(dāng)?shù)诙_關(guān)SW2斷開時(shí),轉(zhuǎn)移電容Cmod上的電壓被拉低到低于預(yù)設(shè)閾值Vth,使得比較器CMP翻轉(zhuǎn),將第一開關(guān)SWl閉合,此時(shí)通過第一電阻Rl給轉(zhuǎn)移電容Cmod充電到高于預(yù)設(shè)閾值Vth,使得比較器CMP翻轉(zhuǎn),將第一開關(guān)SWl斷開。其中,第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3是由兩相非交疊時(shí)鐘信號(hào)控制(即控制第二開關(guān)SW2閉合時(shí),第三開關(guān)SW3斷開,而第二開關(guān)SW2斷開時(shí),第三開關(guān)SW3閉合),第三開關(guān)SW3把每次從轉(zhuǎn)移電容Cmod轉(zhuǎn)移到Cx上的電荷放到地。第四開關(guān)SW4為同步開關(guān),在掃描到當(dāng)前的感應(yīng)單元時(shí),第四開關(guān)SW4 —直斷開。
      [0037]當(dāng)感應(yīng)單元被觸摸和未被觸摸時(shí),感應(yīng)單元的電容Cx的大小不同,觸發(fā)器DFF輸出的矩形波的占空比也不同,從而計(jì)數(shù)器206的計(jì)數(shù)值也不同,以此來判斷感應(yīng)單元是否被觸摸。當(dāng)檢測(cè)完后,又開始上述的過程,如此循環(huán)地檢測(cè)下去。[0038]因此,通過判斷計(jì)數(shù)器206的計(jì)數(shù)值,可以判斷出感應(yīng)單元是否被觸摸,進(jìn)而檢測(cè)器203可以判斷出感應(yīng)單元被觸摸的情況。在本發(fā)明的一個(gè)示例中,假設(shè)感應(yīng)單元沒被觸摸時(shí),計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值為1000,而當(dāng)感應(yīng)單元被觸摸時(shí),計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值為500,所以根據(jù)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值可以判斷感應(yīng)單元有沒有被觸摸。
      [0039]在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,在非全屏同步模式下,各個(gè)開關(guān)控制信號(hào)的波形如圖4所示,其中,高電平表示控制開關(guān)閉合,低電平表示控制開關(guān)斷開。當(dāng)?shù)贛個(gè)感應(yīng)單元被掃描時(shí),控制器102控制第M個(gè)選擇組件中的第四開關(guān)SW4斷開、并控制第M個(gè)選擇組件中的第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3交替開啟,以及控制N個(gè)選擇組件中除第M個(gè)選擇組件外的其他選擇組件中的第二開關(guān)SW2、第三開關(guān)SW3和第四開關(guān)SW4均斷開,其中,I < M < N。
      [0040]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,在全屏同步模式下,各個(gè)開關(guān)控制信號(hào)的波形如圖5所示,其中,高電平表示控制開關(guān)閉合,低電平表示控制開關(guān)斷開。當(dāng)?shù)贛個(gè)感應(yīng)單元被掃描時(shí),控制器102控制第M個(gè)選擇組件中的第四開關(guān)SW4斷開、并控制第M個(gè)選擇組件中的第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3交替開啟,以及控制N個(gè)選擇組件中除第M個(gè)選擇組件外的其他選擇組件中的第二開關(guān)SW2斷開,并控制第三開關(guān)SW3和第四開關(guān)SW4交替開啟,其中,I < M < N。也就是說,當(dāng)采用全屏同步模式時(shí),當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元對(duì)應(yīng)的第四開關(guān)SW4 —直斷開,而其他同步的未被掃描的感應(yīng)單元相應(yīng)的第四開關(guān)SW4和當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元對(duì)應(yīng)的第二開關(guān)SW2具有相同的開關(guān)動(dòng)作,即當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元對(duì)應(yīng)的第二開關(guān)SW2和第三開關(guān)SW3交替開啟,而未被掃描的感應(yīng)單元對(duì)應(yīng)的第三開關(guān)SW3和第四開關(guān)SW4交替開啟。這樣,當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元被觸摸時(shí),通過對(duì)應(yīng)的選擇組件中第二開關(guān)SW2把轉(zhuǎn)移電容Cmod中的電荷轉(zhuǎn)移到當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元的自電容Cx中,而對(duì)于同步的那些未被掃描的感應(yīng)單元,通過第四開關(guān)SW4將Cx充電到特定的電壓值。在本發(fā)明的實(shí)施例中,該特定的電壓值與預(yù)設(shè)閾值Vth相等。因此,當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元和同步的那些未被掃描的感應(yīng)單元的電容Cx都同時(shí)充電到預(yù)設(shè)閾值Vth,也同時(shí)通過第三開關(guān)SW3放電到地,以此來消除互電容的影響,提高了檢測(cè)精度。
      [0041 ] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電容檢測(cè)電路,在檢測(cè)感應(yīng)單元被觸摸產(chǎn)生的電容時(shí)能夠很好地消除互電容的影響,從而大大提高了檢測(cè)精度,進(jìn)而可以準(zhǔn)確地判斷感應(yīng)單元是否被觸摸,提高了判斷準(zhǔn)確率。
      [0042]此外,在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理模塊中,也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在,也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)模塊中。上述集成的模塊既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn),也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。所述集成的模塊如果以軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí),也可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。
      [0043]上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器,磁盤或光盤等。
      [0044]在本說明書的描述中,參考術(shù)語“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說明書中,對(duì)上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或示例。而且,描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。
      [0045]盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同限定。
      【權(quán)利要求】
      1.一種電容檢測(cè)電路,其特征在于,包括: N個(gè)感應(yīng)單元,其中,N為大于等于I的整數(shù); 轉(zhuǎn)移電容,所述轉(zhuǎn)移電容的一端分別與所述N個(gè)感應(yīng)單元相連,所述轉(zhuǎn)移電容的另一端接地,所述轉(zhuǎn)移電容用于將自身的電荷轉(zhuǎn)移至所述N個(gè)感應(yīng)單元中被掃描的感應(yīng)單元的電容中; 充電模塊,所述充電模塊的一端與所述轉(zhuǎn)移電容的一端相連,所述充電模塊的另一端與第一電源相連,用于對(duì)所述轉(zhuǎn)移電容進(jìn)行充電,其中,所述充電模塊包括串聯(lián)的第一開關(guān)和第一電阻; 控制器,所述控制器分別與所述充電模塊和所述轉(zhuǎn)移電容相連,所述控制器用于當(dāng)所述轉(zhuǎn)移電容的電壓大于預(yù)設(shè)閾值時(shí),控制所述第一開關(guān)關(guān)斷,同時(shí)更新計(jì)數(shù)值,以及根據(jù)所述計(jì)數(shù)值檢測(cè)所述N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況。
      2.如權(quán)利要求1所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,還包括: N個(gè)選擇組件,每個(gè)所述選擇組件與一個(gè)所述感應(yīng)單元相對(duì)應(yīng),連接在所述N個(gè)感應(yīng)單元和所述轉(zhuǎn)移電容之間。
      3.如權(quán)利要求2所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,每個(gè)所述選擇組件進(jìn)一步包括: 第二開關(guān),所述第二開關(guān)連接在所述感應(yīng)單元和所述轉(zhuǎn)移電容之間; 第三開關(guān),所述第三開 關(guān)的一端與所述感應(yīng)單元相連,所述第三開關(guān)的另一端與地相連,其中,所述第二開關(guān)和所述第三開關(guān)交替開啟。
      4.如權(quán)利要求2所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,每個(gè)所述選擇組件還包括: 第四開關(guān),所述第四開關(guān)的一端與所述感應(yīng)單元相連,所述第四開關(guān)的另一端與第二電源相連,其中,所述第二電源的電壓為所述預(yù)設(shè)閾值。
      5.如權(quán)利要求1所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,還包括: 預(yù)充電模塊,所述預(yù)充電模塊的一端與所述轉(zhuǎn)移電容的一端相連,所述預(yù)充電模塊的另一端與所述第一電源相連,所述預(yù)充電模塊用于對(duì)所述轉(zhuǎn)移電容進(jìn)行預(yù)充電。
      6.如權(quán)利要求5所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述預(yù)充電模塊包括相互串聯(lián)的第五開關(guān)和第二電阻。
      7.如權(quán)利要求5所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,還包括: 預(yù)放電模塊,所述預(yù)放電模塊一端與所述轉(zhuǎn)移電容的一端相連,所述預(yù)放電模塊的另一端接地,所述預(yù)放電模塊用于在所述預(yù)充電模塊對(duì)所述轉(zhuǎn)移電容預(yù)充電之前,對(duì)所述轉(zhuǎn)移電容進(jìn)行預(yù)放電。
      8.如權(quán)利要求7所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述預(yù)放電模塊包括第六開關(guān)。
      9.如權(quán)利要求5所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述控制器進(jìn)一步包括: 比較器,所述比較器的第一輸入端與所述預(yù)設(shè)閾值的電壓相連,所述比較器的第二輸入端與所述轉(zhuǎn)移電容的一端相連; 觸發(fā)器,所述觸發(fā)器的輸入端與所述比較器的輸出端相連,用于根據(jù)所述比較器的比較結(jié)果生成觸發(fā)信號(hào); 計(jì)數(shù)器,所述計(jì)數(shù)器的輸入端與所述觸發(fā)器的輸出端相連,用于根據(jù)所述觸發(fā)信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù); 檢測(cè)器,所述檢測(cè)器與所述計(jì)數(shù)器相連,用于根據(jù)所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值檢測(cè)所述N個(gè)感應(yīng)單元的觸摸情況;以及 第一選擇器,所述第一選擇器的輸入端與所述觸發(fā)器的輸出端相連,用于根據(jù)所述觸發(fā)器的觸發(fā)信號(hào)生成第一控制信號(hào),所述第一控制信號(hào)用于控制所述充電模塊。
      10.如權(quán)利要求9所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述控制器還包括: 第二選擇器,所述第二選擇器的輸入端與所述比較器的輸出端相連,用于根據(jù)所述比較結(jié)果生成第二控制信號(hào),所述第二控制信號(hào)用于控制所述預(yù)充電模塊。
      11.如權(quán)利要求9所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一選擇器為與門,所述與門的第一輸入端與所述觸發(fā)器的輸出端相連,所述與門的第二輸入端與切換使能信號(hào)相連。
      12.如權(quán)利要求10所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,所述第二選擇器為或非門,所述或非門的第一輸入端與所述比較器的輸出端相連,所述或非門的第二輸入端與預(yù)充電信號(hào)相連。
      13.如權(quán)利要求2所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,在非全屏同步模式下,當(dāng)?shù)贛個(gè)感應(yīng)單元被掃描時(shí),所述控制器控制第M個(gè)選擇組件中的第四開關(guān)斷開、并控制所述第M個(gè)選擇組件中的所述第二開關(guān)和第三開關(guān)交替開啟,以及控制除所述第M個(gè)選擇組件的其他選擇組件中的第二開關(guān)至第四開關(guān)均斷開,其中,1≤ M ≤ N。
      14.如權(quán)利要求2所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,在全屏同步模式下,當(dāng)?shù)贛個(gè)感應(yīng)單元被掃描時(shí),所述控制器控制第M個(gè)選擇組件中的第四開關(guān)斷開、并控制所述第M個(gè)選擇組件中的所述第二開關(guān)和第三開關(guān)交替開啟,以及控制除所述第M個(gè)選擇組件的其他選擇組件中的第二開關(guān)斷開,并控制第三開關(guān)和第四開關(guān)交替開啟,其中,1≤m≤N。
      15.如權(quán)利要求1所述的電容檢測(cè)電路,其特征在于,當(dāng)所述計(jì)數(shù)值小于第一計(jì)數(shù)閾值且大于第二計(jì)數(shù)閾值時(shí),判斷當(dāng)前被掃描的感應(yīng)單元被觸摸。
      【文檔編號(hào)】G06F3/044GK103914190SQ201210591522
      【公開日】2014年7月9日 申請(qǐng)日期:2012年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月31日
      【發(fā)明者】陳勝勝, 張 杰, 楊云 申請(qǐng)人:比亞迪股份有限公司
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