專利名稱：多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種自動(dòng)測試裝置，特別是涉及一種多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置。背景技術(shù)：
隨著科技日新月異的發(fā)展，觸屏顯示器越來越廣泛地被人們?nèi)粘Ｉ顟?yīng)用，也越來越受到人們的青睞。同時(shí)，多點(diǎn)觸屏技術(shù)也在當(dāng)下非常流行。對于多點(diǎn)觸屏功能的實(shí)現(xiàn)，依賴于多pin(引腳)的控制，測試和分析時(shí)需要檢查每組的狀況，以確認(rèn)每組。請結(jié)合參閱圖I、圖2，圖I繪示為一種多點(diǎn)觸屏的結(jié)構(gòu)示意圖、圖2繪示為圖I中各引腳與信號觸點(diǎn)的對照表。需要對圖I中多多點(diǎn)觸屏10所劃分的網(wǎng)格矩陣11做每一行和每一列的測試，以圖中14行、16列為例，則需要做30次測試，以確定每一行和每一列所形成的組是斷路還是正常。以其中第一列為例，則需要測試YUOl信號觸點(diǎn)12與YDOl信號觸點(diǎn)12所形成的回路是否正常，而對應(yīng)的引腳即為第21引腳和第22引腳。在進(jìn)行生產(chǎn)測試時(shí)，通常需要線測等價(jià)格昂貴的設(shè)備進(jìn)行驗(yàn)證；而在進(jìn)行分析時(shí)，通常狀況需要使用萬用表對網(wǎng)格矩陣11進(jìn)行確認(rèn)，由于Pin較密集，很難準(zhǔn)確觸碰。有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容因此，本實(shí)用新型的目的是提供一種多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，從而可以無需使用昂貴設(shè)備，又不會因使用萬用表表針無法對觸屏引腳準(zhǔn)確觸碰而造成測試?yán)щy。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，所述多點(diǎn)觸屏包括分布于網(wǎng)格矩陣各邊緣的若干個(gè)信號觸點(diǎn)以及與各該信號觸點(diǎn)一一對應(yīng)的若干個(gè)觸屏引腳，該測試裝置包括測試轉(zhuǎn)接頭，其一端包括與所述若干個(gè)觸屏引腳對應(yīng)的第一引腳，其另一端包括若干個(gè)第二引腳，各所述第一引腳對應(yīng)于一第二引腳；測試電路，其包括若干個(gè)分支電路，各該分支電路包括第一、第二信號接入點(diǎn)，各所述信號接入點(diǎn)分別一一對應(yīng)于所述測試轉(zhuǎn)接頭的第二引腳，各所述分支電路測試位置相對的信號觸點(diǎn)間是否斷開?？蛇x的，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路整合為一體?？蛇x的，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路為相互獨(dú)立的元件。可選的，所述分支電路還包括判斷支路和顯示支路；所述判斷支路的輸入端為所述第一、第二信號接入點(diǎn)，輸出端輸出致能信號；所述顯示支路接收所述致能信號而顯示測試結(jié)果。可選的，所述判斷支路包括電源、第一電阻、第二電阻、第三電阻、N-MOS管；所述第一電阻一端接所述電源，所述第一電阻另一端接所述第二電阻的一端，所述第二電阻另一端接地，所述第一電阻與所述第二電阻間接入所述第一信號接入點(diǎn)，所述第二電阻與地間接入所述第二信號接入點(diǎn)；所述第三電阻一端接所述電源，所述第三電阻的另一端接所述N-MOS管的漏極，所述N-MOS管的柵極接于所述第二信號接入點(diǎn)與地之間，所述N-MOS管的源極接地。可選的，所述第一電阻阻值為1000歐姆，所述第二電阻阻值為5000 10000歐姆，所述第三電阻的阻值為1000歐姆；可選的，所述顯示支路包括發(fā)光二極管、第四電阻，所述第四電阻一端接電源，另一端接所述發(fā)光二極管的正極，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接所述N-MOS管的漏極?？蛇x的，所述第四電阻阻值為100歐姆。可選的，所述第二信號接入點(diǎn)與地之間還接有第五電阻。 可選的，所述第五電阻阻值為十萬歐姆。相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本實(shí)用新型的目的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，由于采用測試轉(zhuǎn)接頭與所述觸屏引腳相連，再通過所述測試電路對所述多點(diǎn)觸屏進(jìn)行自動(dòng)測試并最終顯示結(jié)果。從而可以無需使用昂貴設(shè)備，又不會因使用萬用表表針無法對觸屏引腳準(zhǔn)確觸碰而造成測試?yán)щy。

圖I繪示為一種多點(diǎn)觸屏的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2繪示為圖I中各引腳與信號觸點(diǎn)的對照表。圖3繪示為本實(shí)用新型多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置方框模塊圖。圖4繪示為本實(shí)用新型多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置一較佳實(shí)施例的分支電路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式請繼續(xù)參閱圖I、圖2,再結(jié)合參閱圖3,圖3繪示為本實(shí)用新型多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置方框模塊圖。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，所述多點(diǎn)觸屏10包括分布于網(wǎng)格矩陣11各邊緣的若干個(gè)信號觸點(diǎn)12以及與各該信號觸點(diǎn)12 —一對應(yīng)的若干個(gè)觸屏引腳14(該若干個(gè)觸屏引腳14組成信號接頭13)，該測試裝置20包括測試轉(zhuǎn)接頭21，其一端包括與所述若干個(gè)觸屏引腳14對應(yīng)的第一引腳22，其另一端包括若干個(gè)第二引腳23，各所述第一引腳22對應(yīng)于一第二引腳23 ；測試電路24，其包括若干個(gè)分支電路25，各該分支電路25包括第一信號接入點(diǎn)26、第二信號接入點(diǎn)27，各所述信號接入點(diǎn)分別一一對應(yīng)于所述測試轉(zhuǎn)接頭21的第二引腳23，各所述分支電路25測試位置相對的信號觸點(diǎn)12間是否斷開。其中，所述信號轉(zhuǎn)接頭21與所述測試電路24為相互獨(dú)立的元件，如此可以方便依據(jù)不同尺寸的多點(diǎn)觸屏10更換所述信號轉(zhuǎn)接頭21，進(jìn)而可以達(dá)到所述測試電路24能夠有更好的通用性。當(dāng)然，所述信號轉(zhuǎn)接頭21還可以與所述測試電路24整合為一體。其中，所述測試電路24包括26個(gè)、30個(gè)或35個(gè)分支電路25 (分支電路25的個(gè)數(shù)依據(jù)不同尺寸的多點(diǎn)觸屏10所需要測試的信號觸點(diǎn)12而定)。請繼續(xù)參閱圖3,再結(jié)合參閱圖4,圖4繪示為本實(shí)用新型多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置一較佳實(shí)施例的分支電路結(jié)構(gòu)示意圖。其中，所述分支電路25還包括判斷支路28和顯示支路29 ;所述判斷支路28的輸入端為所述第一信號接入點(diǎn)26、第二信號接入點(diǎn)27，輸出端輸出致能信號；所述顯示支路29接收所述致能信號而顯示測試結(jié)果。其中，所述判斷支路可以包括電源30、 第一電阻31、第二電阻32、第三電阻33、N-MOS管34 ;所述第一電阻31 —端接所述電源30，所述第一電阻31另一端接所述第二電阻32的一端，所述第二電阻32另一端接地，所述第一電阻31與所述第二電阻33間接入所述第一信號接入點(diǎn)26，所述第二電阻32與地間接入所述第二信號接入點(diǎn)27 ;所述第三電阻33 一端接所述電源30，所述第三電阻33的另一端接所述N-MOS管34的漏極，所述N-MOS管34的柵極接于所述第二信號接入點(diǎn)27與地之間，所述N-MOS管34的源極接地。其中，所述第一電阻31阻值可以為1000歐姆，所述第二電阻32阻值相應(yīng)可以為5000 10000歐姆，所述第三電阻33的阻值相應(yīng)可以為1000歐姆。其中，所述顯示支路29還可以包括發(fā)光二極管35、第四電阻36，所述第四電阻36 一端接電源30，另一端接所述發(fā)光二極管35的正極，所述發(fā)光二極管35的負(fù)極接所述N-MOS管34的漏極。其中，所述第四電阻36阻值相應(yīng)可以為100歐姆。于測試時(shí)，所述第一信號接入點(diǎn)26與所述第二信號接入點(diǎn)27接收所述信號觸點(diǎn)12所產(chǎn)生的觸碰信號，以YUOl與YDOl為例，所述第一信號接入點(diǎn)26對應(yīng)YU01，所述第二信號接入點(diǎn)27對應(yīng)YDOl。當(dāng)YUOl與YDOl間為通路時(shí)，所述N-MOS管34的柵極為高電平，所述N-MOS管34的漏極輸出低電平，所述發(fā)光二極管35導(dǎo)通并發(fā)光。因此，當(dāng)所述發(fā)光二極管35發(fā)光，則測試結(jié)果為所對應(yīng)的位置相對的二信號觸點(diǎn)12間位通路；當(dāng)所述發(fā)光二極管35不發(fā)光，則測試結(jié)果為所對應(yīng)的位置相對的二信號觸點(diǎn)12間位斷路。其中，所述第二信號接入點(diǎn)27與地之間還可以接有第五電阻37 (pull low電阻)，從而在所述第一信號接入點(diǎn)26與所述第二信號接入點(diǎn)27間短路時(shí)，直接將所述N-MOS管34的柵極拉為低電平，避免漂移。其中，所述第五電阻37阻值可以為十萬歐姆。相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本實(shí)用新型的目的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，由于采用測試轉(zhuǎn)接頭21與所述觸屏引腳14相連，再通過所述測試電路24對所述多點(diǎn)觸屏10進(jìn)行自動(dòng)測試并最終顯示結(jié)果。從而可以無需使用昂貴設(shè)備，又不會因使用萬用表表針無法對觸屏引腳14準(zhǔn)確觸碰而造成測試?yán)щy。
權(quán)利要求1.一種多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，所述多點(diǎn)觸屏包括分布于網(wǎng)格矩陣各邊緣的若干個(gè)信號觸點(diǎn)以及與各該信號觸點(diǎn)一一對應(yīng)的若干個(gè)觸屏引腳，其特征在于，該測試裝置包括 測試轉(zhuǎn)接頭，其一端包括與所述若干個(gè)觸屏引腳對應(yīng)的第一引腳，其另一端包括若干個(gè)第二引腳，各所述第一引腳對應(yīng)于一第二引腳； 測試電路，其包括若干個(gè)分支電路，各該分支電路包括第一、第二信號接入點(diǎn)，各所述信號接入點(diǎn)分別一一對應(yīng)于所述測試轉(zhuǎn)接頭的第二引腳，各所述分支電路測試位置相對的信號觸點(diǎn)間是否斷開。
2.如權(quán)利要求I所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路整合為一體。
3.如權(quán)利要求I所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路為相互獨(dú)立的元件。
4.如權(quán)利要求2或3所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述分支電路還包括判斷支路和顯示支路；所述判斷支路的輸入端為所述第一、第二信號接入點(diǎn)，輸出端輸出致能信號；所述顯示支路接收所述致能信號而顯示測試結(jié)果。
5.如權(quán)利要求4所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述判斷支路包括電源、第一電阻、第二電阻、第三電阻、N-MOS管；所述第一電阻一端接所述電源，所述第一電阻另一端接所述第二電阻的一端，所述第二電阻另一端接地，所述第一電阻與所述第二電阻間接入所述第一信號接入點(diǎn)，所述第二電阻與地間接入所述第二信號接入點(diǎn)；所述第三電阻一端接所述電源，所述第三電阻的另一端接所述N-MOS管的漏極，所述N-MOS管的柵極接于所述第二信號接入點(diǎn)與地之間，所述N-MOS管的源極接地。
6.如權(quán)利要求5所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述第一電阻阻值為1000歐姆，所述第二電阻阻值為5000 10000歐姆，所述第三電阻的阻值為1000歐姆。
7.如權(quán)利要求4所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述顯示支路包括發(fā)光二極管、第四電阻，所述第四電阻一端接電源，另一端接所述發(fā)光二極管的正極，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接所述N-MOS管的漏極。
8.如權(quán)利要求7所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述第四電阻阻值為100歐姆。
9.如權(quán)利要求5所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述第二信號接入點(diǎn)與地之間還接有第五電阻。
10.如權(quán)利要求9所述的多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，其特征在于，所述第五電阻阻值為十萬歐姆。
專利摘要本實(shí)用新型揭示一種多點(diǎn)觸屏自動(dòng)測試裝置，所述多點(diǎn)觸屏包括分布于網(wǎng)格矩陣各邊緣的若干個(gè)信號觸點(diǎn)以及與各該信號觸點(diǎn)一一對應(yīng)的若干個(gè)觸屏引腳，該測試裝置包括測試轉(zhuǎn)接頭，其一端包括與所述若干個(gè)觸屏引腳對應(yīng)的第一引腳，其另一端包括若干個(gè)第二引腳，各所述第一引腳對應(yīng)于一第二引腳；測試電路，其包括若干個(gè)分支電路，各該分支電路包括第一、第二信號接入點(diǎn)，各所述信號接入點(diǎn)分別一一對應(yīng)于所述測試轉(zhuǎn)接頭的第二引腳，各所述分支電路測試位置相對的信號觸點(diǎn)間是否斷開。從而可以無需使用昂貴設(shè)備，又不會因使用萬用表表針無法對觸屏引腳準(zhǔn)確觸碰而造成測試?yán)щy。
文檔編號G06F3/041GK202494737SQ201220049858
公開日2012年10月17日 申請日期2012年2月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月16日
發(fā)明者任光明 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司