顯卡測(cè)試系統(tǒng)及顯卡測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種顯卡測(cè)試系統(tǒng)及方法。該系統(tǒng)用于對(duì)同時(shí)具有外接顯卡及集成顯卡的主板進(jìn)行顯卡功能檢測(cè)，并通過(guò)一與該集成顯卡可插拔相連的第一顯示器顯示檢測(cè)結(jié)果。該系統(tǒng)運(yùn)行于具有該主板的主機(jī)中，并在處理器的控制下執(zhí)行。該系統(tǒng)包括：第一檢測(cè)模塊，在檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，測(cè)試該外接顯卡的顯示功能；獲取模塊，獲取該第一顯示器與該集成顯卡的連接狀態(tài)，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽模塊，當(dāng)該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡的顯示功能；重啟模塊，重啟具有該顯卡操作系統(tǒng)的主機(jī)；及第二檢測(cè)模塊，啟動(dòng)測(cè)試程序檢測(cè)該集成顯卡的顯示功能。
【專(zhuān)利說(shuō)明】顯卡測(cè)試系統(tǒng)及顯卡測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種顯卡測(cè)試系統(tǒng)及顯卡測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，具有外接顯卡的主板以其可插拔、易更換的便利性取代了具有集成顯卡的主板，然而，對(duì)于原本具有集成顯卡的主板而言，通常只能通過(guò)更換整個(gè)主板來(lái)達(dá)到擴(kuò)展顯卡性能的目的，這造成了大量的資源浪費(fèi)。鑒于上述情況，市面上已經(jīng)出現(xiàn)將外接顯卡設(shè)置于原本具有集成顯卡的主板上的相應(yīng)技術(shù)與產(chǎn)品，使得原本僅具有集成顯卡的主板能夠通過(guò)擴(kuò)展的外接顯卡處理圖像數(shù)據(jù)以便滿(mǎn)足用戶(hù)的需求。通常，具有集成與外接兩種顯卡的主板在實(shí)際工作中被默認(rèn)通過(guò)外接顯卡進(jìn)行顯示圖像處理。
[0003]為保證工作性能，針對(duì)上述具有集成與外接顯卡的主板，在生產(chǎn)時(shí)均需要對(duì)其集成顯卡以及快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)接口(Peripheral Component Interconnect Express,下稱(chēng)PCIE)上插入的外接顯卡的顯示功能進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試時(shí)，由于主板是默認(rèn)通過(guò)外接顯卡實(shí)現(xiàn)顯示功能的。也就是說(shuō)測(cè)試程序被優(yōu)先寫(xiě)入外接顯卡以檢測(cè)外接顯卡的顯示功能。而若要測(cè)試集成顯卡的功能，則需將外接顯卡從PCIE插槽上拔下，使集成顯卡獨(dú)立工作才能對(duì)集成顯卡的顯示功能進(jìn)行測(cè)試?？梢?jiàn)，由于在顯卡測(cè)試時(shí)需要將外接顯卡從PCIE插槽上拔下，造成了時(shí)間的浪費(fèi)，測(cè)試效率較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]因此，有必要提供一種測(cè)試效率較高的顯卡測(cè)試系統(tǒng)。
[0005]有必要提供一種測(cè)試效率較高的顯卡測(cè)試方法。
[0006]一種顯卡測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)同時(shí)具有外接顯卡及集成顯卡的主板進(jìn)行顯卡功能檢測(cè)，并通過(guò)一與該集成顯卡可插拔相連的第一顯示器顯示對(duì)該集成顯卡進(jìn)行功能檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行于具有該主板的主機(jī)中，并在一處理器的控制下執(zhí)行，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)包括:第一檢測(cè)模塊，用于在檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，測(cè)試該外接顯卡的顯示功能；獲取模塊，用于獲取該第一顯示器與該集成顯卡的連接狀態(tài)，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽模塊，用于當(dāng)該獲取模塊的偵測(cè)結(jié)果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡的顯示功能；重啟模塊，用于重啟具有該顯卡測(cè)試裝置的主機(jī)；及第二檢測(cè)模塊，用于啟動(dòng)測(cè)試程序檢測(cè)該集成顯卡的顯示功能。
[0007]—種顯卡測(cè)試方法，用于對(duì)同時(shí)具有外接顯卡及集成顯卡的主板進(jìn)行顯卡功能檢測(cè)，并通過(guò)一與該集成顯卡可插拔相連的第一顯示器顯示對(duì)該集成顯卡進(jìn)行功能檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行于具有該主板的主機(jī)中，并在一處理器的控制下執(zhí)行，該顯卡測(cè)試方法包括:第一檢測(cè)步驟，進(jìn)入顯卡檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，檢測(cè)該外接顯卡的顯示功能；獲取步驟，獲取該第一顯示器與該集成顯卡的連接狀態(tài)，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接；屏蔽步驟，當(dāng)該獲取模塊的偵測(cè)結(jié)果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡的顯示功能；重啟步驟，重啟具有該顯卡測(cè)試裝置的主機(jī)；及第二檢測(cè)步驟，啟動(dòng)測(cè)試程序檢測(cè)該集成顯卡的顯示功能。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相較，本發(fā)明顯卡測(cè)試系統(tǒng)及其顯卡測(cè)試方法能夠檢測(cè)到該第一顯示
器是否與該集成顯卡電連接，并在該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡
的顯示功能，重啟后將對(duì)該集成顯卡的功能進(jìn)行檢測(cè)。實(shí)施本發(fā)明，不需要將該外接顯卡從
該P(yáng)CIE插槽上拔下，因此，達(dá)到了節(jié)約時(shí)間，提高檢測(cè)效率的技術(shù)效果。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述:
圖1為本發(fā)明顯卡測(cè)試裝置的測(cè)試環(huán)境的示意圖。
[0010]圖2為圖1所示顯卡測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
[0011]圖3為圖2所示偵測(cè)電路的一實(shí)施方式的電路圖。
[0012]圖4為本發(fā)明顯卡測(cè)試系統(tǒng)一變更實(shí)施方式的功能模塊圖。
[0013]圖5為本發(fā)明顯卡測(cè)試方法一較佳實(shí)施方式的流程圖。
[0014]主要元件符號(hào)說(shuō)明
【權(quán)利要求】
1.一種顯卡測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)同時(shí)具有外接顯卡及集成顯卡的主板進(jìn)行顯卡功能檢測(cè)，并通過(guò)一與該集成顯卡可插拔相連的第一顯示器顯示對(duì)該集成顯卡進(jìn)行功能檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行于具有該主板的主機(jī)中，并在一處理器的控制下執(zhí)行，其特征在于，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)包括: 第一檢測(cè)模塊，用于在檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，測(cè)試該外接顯卡的顯示功能； 獲取模塊，用于獲取該第一顯示器與該集成顯卡的連接狀態(tài)，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接； 屏蔽模塊，用于當(dāng)該獲取模塊的偵測(cè)結(jié)果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡的顯示功能； 重啟模塊，用于重啟具有該顯卡測(cè)試裝置的主機(jī) '及 第二檢測(cè)模塊，用于啟動(dòng)測(cè)試程序檢測(cè)該集成顯卡的顯示功能。
2.如權(quán)利要求1所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該獲取模塊包括任務(wù)管理子模塊，該任務(wù)管理子模塊用于偵測(cè)該集成顯卡是否與該第一顯示器電連接。
3.如權(quán)利要求1所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該主機(jī)還包括偵測(cè)電路，該偵測(cè)電路用于偵測(cè)該集成顯卡是否與該第一顯示器電連接。
4.如權(quán)利要求3所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該偵測(cè)電路包括第一電阻與第一電源，該主機(jī)還包括連接器，該連接器包括一偵測(cè)引腳，該偵測(cè)引腳經(jīng)由該第一電阻連接該第一電源，該第一顯示器包括與該連接器的該偵測(cè)引腳對(duì)應(yīng)的被偵測(cè)引腳，該被偵測(cè)引腳加載一第一電壓信號(hào)，并在該第一顯示器通過(guò)該連接器連接該集成顯卡時(shí)與該偵測(cè)引腳相連接，在該第一顯示器未通過(guò)該連接器與該集成顯卡相連接時(shí)與該被偵測(cè)引腳斷開(kāi)，從而改變加載在該偵測(cè)引腳上的電壓的電壓值大??；該偵測(cè)電路偵測(cè)該偵測(cè)引腳的電壓值大小以生成相應(yīng)的第二電壓信號(hào)，并根據(jù)該第二電壓信號(hào)判斷該集成顯卡是否通過(guò)該連接器與該第一顯示器電連接。
5.如權(quán)利要求4所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該偵測(cè)電路進(jìn)一步包括輸入輸出芯片及BIOS芯片，該BIOS與該輸入輸出芯片相連用于控制該輸入輸出芯片偵測(cè)該偵測(cè)引腳的電壓值的大小以生成相應(yīng)的第二電壓信號(hào)，該BIOS芯片根據(jù)該第二電壓信號(hào)判斷該集成顯卡是否通過(guò)該連接器與該第一顯示器電連接。
6.如權(quán)利要求4或5所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)該第二電壓信號(hào)的電壓值與該第一電源的電壓值相同時(shí)，該第二電壓信號(hào)為一第一電平以表不該第一顯不器未通過(guò)該連接器與該集成顯卡電連接，當(dāng)該第二電壓信號(hào)的電壓值與該第一電源的電壓值不同時(shí)，該第二電壓信號(hào)為一不同與該第一電平的第二電平以表征該第一顯示器通過(guò)該連接器與該集成顯卡電連接。
7.如權(quán)利要求6所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該第一電壓信號(hào)為一接地信號(hào)。
8.如權(quán)利要求6所述的顯卡測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,該第一電壓信號(hào)為提供給該第一顯示器的電源信號(hào)。
9.一種顯卡測(cè)試方法，用于對(duì)同時(shí)具有外接顯卡及集成顯卡的主板進(jìn)行顯卡功能檢測(cè)，并通過(guò)一與該集成顯卡可插拔相連的第一顯示器顯示對(duì)該集成顯卡進(jìn)行功能檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果，該顯卡測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行于具有該主板的主機(jī)中，并在一處理器的控制下執(zhí)行，其特征在于，該顯卡測(cè)試方法包括:第一檢測(cè)步驟，進(jìn)入顯卡檢測(cè)狀態(tài)時(shí)，檢測(cè)該外接顯卡的顯示功能； 獲取步驟，獲取該第一顯示器與該集成顯卡的連接狀態(tài)，判斷該第一顯示器是否與該集成顯卡電連接； 屏蔽步驟，當(dāng)該獲取模塊的偵測(cè)結(jié)果顯示該第一顯示器與該集成顯卡電連接時(shí)，屏蔽該外接顯卡的顯示功能； 重啟步驟，重啟具有該顯卡測(cè)試裝置的主機(jī)；及 第二檢測(cè)步驟，啟動(dòng)測(cè)試程序檢測(cè)該集成顯卡的顯示功能。
【文檔編號(hào)】G06F11/26GK103927242SQ201310008433
【公開(kāi)日】2014年7月16日 申請(qǐng)日期:2013年1月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月10日
【發(fā)明者】陳俊生 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司