儲存裝置的測試方法與計算機程序產(chǎn)品的制作方法
【專利摘要】一種儲存裝置的測試方法與計算機程序產(chǎn)品。該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合計算機裝置執(zhí)行，儲存裝置包括第一、第二接口及至少一儲存模塊，儲存模塊包括第一、第二傳輸端口及存儲單元，計算機裝置包括運算單元及控制接口，測試方法包括：（A）運算單元令控制接口啟用第一接口與第一傳輸端口電性連接，并禁用第二接口與第二傳輸端口電性連接；（B）令控制接口通過第一接口、第一傳輸端口對存儲單元進行數(shù)據(jù)存取；（C）運算單元令控制接口啟用第二接口與第二傳輸端口電性連接，并禁用第一接口與第一傳輸端口電性連接；以及（D）令控制接口通過第二接口、第二傳輸端口對存儲單元進行數(shù)據(jù)存取。本發(fā)明可測得單一傳輸路徑的性能表現(xiàn)。
【專利說明】儲存裝置的測試方法與計算機程序產(chǎn)品
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法與計算機程序產(chǎn)品，特別是指一種儲存裝置的測試方法與計算機程序產(chǎn)品。
【背景技術】
[0002]獨立磁盤冗余陣列(redundantarray of independent disks, RAID)是一種常見的數(shù)據(jù)儲存技術，其將多個硬盤(hard disk)組合為一個邏輯扇區(qū)，而廣泛應用于服務器等計算機系統(tǒng)的數(shù)據(jù)儲存介質(zhì)。
[0003]舉例來說，服務器計算機可通過其獨立磁盤冗余陣列控制接口(RAIDcontroller)與集束磁盤(just a bunch of disks,JBOD)連接，以存取集束磁盤中的數(shù)據(jù)。每一集束磁盤各包含兩個串接式小型計算機系統(tǒng)接口(serial attached small computersystem interface, SAS)的擴展器(expander),以及多個SAS硬盤。每個SAS硬盤各有一個主傳輸端口(primary port)及一個次傳輸端口(secondary port)。
[0004]上述獨立磁盤冗余陣列控制接口分別與集束磁盤的兩個SAS擴展器連接，其中一SAS擴展器連接于各個SAS硬盤的主傳輸端口，另一 SAS擴展器連接于各個SAS硬盤的次傳輸端口。
[0005]據(jù)此，通過上述服務器計算機對集束磁盤進行性能測試(例如壓力測試)時，數(shù)據(jù)會分別從SAS硬盤的主傳輸端口與次傳輸端口經(jīng)由對應的SAS擴展器傳輸至獨立磁盤冗余陣列控制接口，亦即同一筆數(shù)據(jù)的部分信息經(jīng)由主傳輸端口及其對應的SAS擴展器進行存取，另一部分信息經(jīng)由次傳輸端口及其對應的SAS擴展器存取。但上述過程中，數(shù)據(jù)分散地經(jīng)由兩條路徑進行傳輸，而無法測得單一路徑(單一傳輸端口)的數(shù)據(jù)傳輸特性(例如最大負載)。
[0006]因此，需要提供一種儲存裝置的測試方法與計算機程序產(chǎn)品來解決上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]因此，本發(fā)明的目的，即在于提供一種可對儲存裝置進行單一路徑測試的方法。
[0008]于是，本發(fā)明提供一種儲存裝置的測試方法，該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合一計算機裝置執(zhí)行，該儲存裝置包含一第一接口、一第二接口及至少一個儲存模塊，該儲存模塊包括一第一傳輸端口、一第二傳輸端口及一存儲單元，該計算機裝置包含一運算單元及一控制接口，該測試方法包含以下步驟:(A)該計算機裝置的運算單元發(fā)出一第一控制指令至該控制接口，該控制接口依據(jù)該第一控制指令啟用(enable)該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸端口電性連接，并禁用(disable)該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸端口電性連接；(B)該運算單元發(fā)出一第一測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第一接口、該儲存模塊的第一傳輸端口對該儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存??；(C)該計算機裝置的運算單元發(fā)出一第二控制指令至該控制接口，該控制接口依據(jù)該第二控制指令啟用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸端口電性連接，并禁用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸端口電性連接；以及(D)該運算單元發(fā)出一第二測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第二接口、該儲存模塊的第二傳輸端口對該儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存取。
[0009]較佳地，該儲存裝置包含多個儲存模塊，各該儲存模塊的第一傳輸端口電連接于該儲存裝置的第一接口，且各該儲存模塊的第二傳輸端口電連接于該儲存裝置的第二接□。
[0010]較佳地，該第一測試信號、該第二控制指令涉及該儲存裝置的效能測試、負載測試或壓力測試。
[0011]較佳地，該儲存裝置的數(shù)量為多個，且該等儲存裝置的第一接口與一第二接口分別電連接于該儲存裝置的控制接口。
[0012]較佳地，該儲存裝置的數(shù)量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接于該第一接口的第一串接端口及一電連接于該第二接口的第二串接端口，各該儲存裝置的第一串接端口供另一儲存裝置的第一接口電性連接，且各該儲存裝置的第二串接端口供另一儲存裝置的第二接口電性連接；在步驟(B)中該控制接口還通過各該第一串接端口對該等儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存?。辉诓襟E(D)中該控制接口還通過各該第二串接端口對該等儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存取。
[0013]較佳地，該控制接口是一獨立磁盤冗余陣列控制接口，該儲存裝置是一集束磁盤，該第一接口與該第二接口分別是一串接式小型計算機系統(tǒng)接口擴展器，該儲存模塊是一串接式小型計算機系統(tǒng)接口硬盤。
[0014]本發(fā)明還提供一種計算機程序產(chǎn)品，該計算機程序產(chǎn)品由一計算機裝置載入并執(zhí)行后，可執(zhí)行上述任一所述測試方法。
[0015]本發(fā)明的功效在于:通過計算機裝置的控制接口對儲存裝置的第一接口、第二接口發(fā)出指令，使兩者分別啟用或禁用與第一傳輸端口、第二傳輸端口的電性連接，而能單就第一接口、第一傳輸端口的數(shù)據(jù)傳輸路徑或第二接口、第二傳輸端口的數(shù)據(jù)傳輸路徑進行測試，以測得單一傳輸路徑的性能表現(xiàn)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]本發(fā)明的其他的特征及功效，將在參照附圖的較佳實施例詳細說明中清楚地呈現(xiàn)，其中:
[0017]圖1是一系統(tǒng)架構圖，說明本發(fā)明儲存裝置的測試方法的第一較佳實施例；
[0018]圖2是該第一較佳實施例的流程圖；
[0019]圖3是一系統(tǒng)架構圖，說明本發(fā)明儲存裝置的測試方法的第二較佳實施例；以及
[0020]圖4是該第二較佳實施例的流程圖。
[0021]主要組件符號說明:
[0022]1計算機系統(tǒng)331第'-…傳輸端口
2計算機裝置332第二傳輸端口
21運算單元333存儲單元
22控制接口34第-’串接端口
3儲存裝置35第二串接端口
31第1--接口S1-S6流程步驟
32第二接口Fl~F6流程步驟
33儲存模塊
【具體實施方式】
[0023]有關本發(fā)明的前述及其他技術內(nèi)容、特點與功效，在以下配合參考附圖的兩個較佳實施例的詳細說明中，將可清楚地呈現(xiàn)。
[0024]在本發(fā)明被詳細描述之前，應當注意在以下的說明內(nèi)容中，類似的組件是以相同的編號來表不。
[0025]參閱圖1、圖2，本發(fā)明的測試方法，應用于一計算機系統(tǒng)1，該計算機系統(tǒng)I包含一計算機裝置2及一儲存裝置3。
[0026]計算機裝置2包括一運算單元21及一電連接于運算單元21的控制接口 22。本實施例中，計算機裝置2以一服務器計算機為例，運算單元21是該服務器計算機的中央處理器(central processing unit, CPU),控制接口 22是一獨立磁盤冗余陣列控制接口，但計算機裝置2、運算單元21與控制接口 22的實施方式可視需要而調(diào)整，不以上述內(nèi)容為限。
[0027]儲存裝置3包括一第一接口 31、一第二接口 32及多個(此處以兩個為例)儲存模塊33。儲存模塊33各具有一第一傳輸端口 331、一第二傳輸端口 332及一存儲單元333。該儲存裝置3的第一接口 31通過一連接線(圖中未繪制)電連接于計算機裝置2的控制接口 22，并分別電連接于該等儲存模塊33的第一傳輸端口 331，且其第二接口 32通過另一條連接線(圖中未繪制)電連接于計算機裝置2的控制接口 22，并分別電連接于該等儲存模塊33的第二傳輸端口 332。據(jù)此，控制接口 22可分別通過第一接口 31、第一傳輸端口 331對存儲單元333進行數(shù)據(jù)存取，或通過第二接口 32、第二傳輸端口 332對存儲單元333進行數(shù)據(jù)存取。
[0028]本實施例中，儲存裝置3是一集束磁盤，第一接口 31、第二接口 32分別為一串接式小型計算機系統(tǒng)接口擴展器(SAS expander),儲存模塊33分別為一串接式小型計算機系統(tǒng)接口硬盤(SAS hard disk)，第一傳輸端口 331、第二傳輸端口 332則分別是串接式小型計算機系統(tǒng)接口硬盤的主傳輸端口、次傳輸端口其中之一。但視應用狀況，上述構件可依需要而調(diào)整，不以此處公開的內(nèi)容為限。
[0029]以下參照圖1、圖2，圖1、圖2說明本發(fā)明提出的儲存裝置3的測試方法。
[0030]步驟S1、S2:使用者操作計算機裝置2，讓計算機裝置2的運算單元21發(fā)出一第一控制指令至控制接口 22。控制接口 22依據(jù)第一控制指令，令儲存裝置啟動第一接口 31對該等儲存模塊33的第一傳輸端口 331的實體(PHY)鏈接，啟用第一接口 31與第一傳輸端口 331形成電性連接，而能進行數(shù)據(jù)傳輸。此外，控制接口 22還依據(jù)該第一控制指令，令儲存裝置切斷第二接口 32對該等儲存模塊33的第二傳輸端口 332的實體鏈接，禁用第二接口 32與第二傳輸端口 332之間進行數(shù)據(jù)傳輸。因此，經(jīng)過此設定程序后，儲存模塊33只能通過其第一傳輸端口 331進行數(shù)據(jù)傳輸。
[0031]步驟S3:運算單元21依據(jù)使用者的設定，發(fā)出一關于效能測試、負載測試或壓力測試等測試方式的第一測試信號。根據(jù)測試類型，控制接口 22通過儲存裝置3的第一接口31、該等儲存模塊33的第一傳輸端口 331，對該等儲存模塊33的存儲單元333進行數(shù)據(jù)存取，例如以100%的數(shù)據(jù)傳輸率進行完全負載測試，以測得該數(shù)據(jù)傳輸路徑的性能表現(xiàn)。
[0032]步驟S4、S5:完成步驟SI?S3后，繼續(xù)進行另一數(shù)據(jù)傳輸路徑的性能測試。具體來說，計算機裝置2的運算單元21發(fā)出一第二控制指令，啟用第二接口 32與第二傳輸端口332電性連接，并禁用該第一接口 31與第一傳輸端口 331電性連接。
[0033]步驟S6:接著，運算單元21發(fā)出一第二測試信號，令該控制接口 22通過儲存裝置3的第二接口 32、該等儲存模塊33的第二傳輸端口 332，對該等儲存模塊33的存儲單元333進行數(shù)據(jù)存取，而執(zhí)行藉由第二接口 32、第二傳輸端口 332進行的數(shù)據(jù)傳輸測試。
[0034]根據(jù)上述步驟，使用者通過計算機裝置2對儲存裝置3發(fā)出啟用、禁用指令，而能分別就儲存裝置3的兩條數(shù)據(jù)傳輸路徑進行測試，以測得單一數(shù)據(jù)傳輸路徑的性能表現(xiàn)。
[0035]要特別說明的是，本實施例中，步驟SI?S6雖設定為連續(xù)執(zhí)行，但視需要，也可以僅執(zhí)行步驟SI?S3或步驟S4?S6，也就是一次只測試一條數(shù)據(jù)傳輸路徑。
[0036]此外，本實施例中，儲存裝置3雖是以“一個”為例進行說明，但本方法也可以用于多個儲存裝置3的測試。具體來說，多個儲存裝置3分別通過其第一接口 31、第二接口 32連接于控制接口 22，使用者在計算機裝置2完成測試設定后，計算機裝置2可自動執(zhí)行各個儲存裝置3的性能測試。因此，上述儲存裝置3的數(shù)量可視需要而靈活調(diào)整，不以特定數(shù)量為限。
[0037]參閱圖3、圖4，圖3、圖4為本發(fā)明儲存裝置3的測試方法的第二較佳實施例。該第二較佳實施例中，計算機裝置2是對多個(此處以兩個為例)儲存裝置3進行單一數(shù)據(jù)傳輸路徑的測試，但與第一較佳實施例的差別在于:每一儲存裝置3還包含一電連接于第一接口 31的第一串接端口 34，以及一電連接于第二接口 32的第二串接端口 35。第一串接端口 34供另一儲存裝置3的第一接口 31電性連接，且第二串接端口 35則供另一儲存裝置3的第二接口 32電性連接。也就是說,本實施例中該等儲存裝置3以串接(serial cascade)的方式與計算機裝置2形成電連接。
[0038]具體來說，圖3中的一儲存裝置3的第一接口 31、第二接口 32分別通過兩條連接線(圖中未繪制)連接于計算機裝置2的控制接口 22，且該儲存裝置3的第一串接端口 34、第二串接端口 35亦分別通過兩條連接線(圖中未繪制)連接于另一儲存裝置3的第一接口31、第二接口 32。據(jù)此，控制接口 22可通過該等串接的儲存裝置3的第一接口 31、第一傳輸端口 331、第一串接端口 34，而從該等儲存模塊33的第一傳輸端口 331存取存儲單元333中的數(shù)據(jù)，或是通過第二接口 32、第二傳輸端口 332、第二串接端口 35，而從儲存模塊33的第二傳輸端口 332存取存儲單元333中的數(shù)據(jù)。
[0039]據(jù)此，本發(fā)明儲存裝置3的測試方法的第二實施例，由下列步驟執(zhí)行:
[0040]步驟F1、F2:計算機裝置2的運算單元21發(fā)出一第一控制指令至其控制接口 22，控制接口 22令各個儲存裝置3啟用其第一接口 31與其儲存模塊33的第一傳輸端口 331形成電性連接，并禁用其第二接口 32與其儲存模塊33的第二傳輸端口 332形成電性連接。也就是說，經(jīng)由此設定步驟后，各個儲存裝置3內(nèi)的儲存模塊33必須藉由其第一傳輸端口331進行數(shù)據(jù)存取，第二傳輸端口 332的數(shù)據(jù)傳輸功能已被關閉。
[0041]步驟F3:計算機裝置2的運算單元21發(fā)出第一測試信號后，控制接口 22依據(jù)該第一測試信號，從各個儲存裝置3的第一接口 31、第一傳輸端口 331存取數(shù)據(jù)，且各個儲存裝置3之間由第一串接端口 34、第一接口 31進行數(shù)據(jù)傳輸。據(jù)此，計算機裝置2可對串接的儲存裝置3進行單一數(shù)據(jù)傳輸路徑進行性能測試。
[0042]步驟F4?F6:此等步驟類似步驟Fl?F3，計算機裝置2令各個儲存裝置3開啟第二接口 32、第二傳輸端口 332之間的連結，并關閉第一接口 31、第一傳輸端口 331之間的連接后，可就第二接口 32、第二傳輸端口 332、第二串接端口 35所界定的數(shù)據(jù)傳輸路徑，對各個存儲單元333進行數(shù)據(jù)存取。
[0043]如上述說明，使用者可通過計算機裝置2對多個串接的儲存裝置3進行單一數(shù)據(jù)傳輸路徑的測試，而達到本發(fā)明的功效。但要特別說明的是，本實施例雖以兩個儲存裝置3為例進行說明，但儲存裝置3的數(shù)量可視需要而調(diào)整，如多于兩個可再以類似的方式繼續(xù)串接與設定。因此上述內(nèi)容僅用于說明本發(fā)明的實施方式，不應以此限制本發(fā)明的實施范圍。
[0044]綜上所述，通過本發(fā)明的兩個較佳實施例，使用者可分別對一個或多個設置方式不同的儲存裝置3進行測試，以測得單一數(shù)據(jù)傳輸路徑的性能表現(xiàn)。此外，使用者在計算機裝置2完成組態(tài)設定后，計算機裝置2可全自動地對儲存裝置3進行測試流程，而大幅提升測試程序的便利程度。故本發(fā)明儲存裝置3的測試方法，確實能達到本發(fā)明的目的。
[0045]惟以上所述者，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，應當不能以此限定本發(fā)明實施的范圍，即凡是根據(jù)本發(fā)明權利要求書的范圍及專利說明書內(nèi)容所作的簡單的等同變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。
【權利要求】
1.一種儲存裝置的測試方法，該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合一計算機裝置執(zhí)行，該儲存裝置包括一第一接口、一第二接口及至少一個儲存模塊，該儲存模塊包括一第一傳輸端口、一第二傳輸端口及一存儲單兀，該計算機裝置包括一運算單兀及一控制接口，該測試方法包括以下步驟: (A)該計算機裝置的運算單元發(fā)出一第一控制指令至該控制接口，該控制接口依據(jù)該第一控制指令啟用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸端口電性連接，并禁用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸端口電性連接； (B)該運算單元發(fā)出一第一測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第一接口、該儲存模塊的第一傳輸端口對該儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存??； (C)該計算機裝置的運算單元發(fā)出一第二控制指令至該控制接口，該控制接口依據(jù)該第二控制指令啟用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸端口電性連接，并禁用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸端口電性連接；以及 (D)該運算單元發(fā)出一第二測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第二接口、該儲存模塊的第二傳輸端口對該儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存取。
2.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置包括多個儲存模塊，各該儲存模塊的第一傳輸端口電連接于該儲存裝置的第一接口，且各該儲存模塊的第二傳輸端口電連接于該儲存裝置的第二接口。
3.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該第一測試信號、該第二控制指令涉及該儲存裝置的效能測試、負載測試或壓力測試。
4.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數(shù)量為多個，且該等儲存裝置的第一接口與一第二接口分別電連接于該儲存裝置的控制接口。
5.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數(shù)量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接于該第一接口的第一串接端口及一電連接于該第二接口的第二串接端口，各該儲存裝置的第一串接端口供另一儲存裝置的第一接口電性連接，且各該儲存裝置的第二串接端口供另一儲存裝置的第二接口電性連接；在步驟(B)中該控制接口還通過各該第一串接端口對該等儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存?。辉诓襟E(D)中該控制接口還通過各該第二串接端口對該等儲存模塊的存儲單元進行數(shù)據(jù)存取。
6.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該控制接口是一獨立磁盤冗余陣列控制接口，該儲存裝置是一集束磁盤，該第一接口與該第二接口分別是一串接式小型計算機系統(tǒng)接口擴展器，該儲存模塊是一串接式小型計算機系統(tǒng)接口硬盤。
7.一種計算機程序產(chǎn)品，該計算機程序產(chǎn)品由一計算機裝置載入并執(zhí)行后，可執(zhí)行權利要求I至6中任一項所述的測試方法。
【文檔編號】G06F11/267GK104035851SQ201310095210
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2013年3月22日 優(yōu)先權日:2013年3月5日
【發(fā)明者】洪志遠 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司