觸控板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種觸控板，包括一基底以及一交叉檢測單元。交叉檢測單元是設(shè)置在基底上，且交叉檢測單元包括一第一電極、一第二電極以及一連接線。第一電極包括兩個互相分離的子電極沿一第一方向排列設(shè)置。第二電極是在第一方向上設(shè)置在兩子電極之間。連接線電連接兩子電極，且連接線是在垂直基底的一垂直投影方向上未與第二電極重疊。
【專利說明】觸控板

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明是涉及一種觸控板，特別涉及一種具有非跨橋設(shè)計的交叉檢測單元的觸控 板。

【背景技術(shù)】
[0002] 觸控板的技術(shù)發(fā)展非常多樣化，目前較常見的技術(shù)包括電阻式、電容式以及光學(xué) 式等。其中電容式觸控板由于具有高準確率、多點觸控、高耐用性以及高觸控解析度等特 點，已成為目前中高階消費性電子產(chǎn)品使用的主流觸控技術(shù)。電容式觸控板的操作原理是 使用感應(yīng)電極來檢測觸控點位的電容變化，并利用不同方向軸上連結(jié)各個電極的連結(jié)線將 信號傳回而完成定位。
[0003] 請參考圖1到圖5。圖1所示為傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元的示意圖。圖2為 沿圖1中A-A'剖線所繪示的剖視圖。圖3為圖2中的遮光層發(fā)生位移的狀況示意圖。圖4 所示為另外一傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元的示意圖。圖5為沿圖4中B-B'剖線所繪示的 剖視圖。如圖1與圖2所示，傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元10包括一第一透明電極51、一 第二透明電極52以及一金屬橋接線30設(shè)置在一基底11上。第一透明電極51與第二透明 電極52是互相交錯設(shè)置，而金屬橋接線30是在一垂直基底11的垂直投影方向Z上與第一 透明電極51以及第二透明電極52互相重疊。第一透明電極51包括兩個互相分離的透明子 電極51S沿一第一方向X排列設(shè)置。第二透明電極52是在第一方向X上設(shè)置在兩透明子電 極51S之間。金屬橋接線30是用以電連接兩透明子電極51S。在傳統(tǒng)的觸控板中，設(shè)置在 基底11上的遮光層20具有開口 20H用以構(gòu)成虛擬鍵圖案21。當(dāng)交叉檢測單元10與虛擬 鍵圖案21對應(yīng)設(shè)置時，若金屬橋接線30是設(shè)置在遮光層20之上（如圖2所示），第二透明 電極52在形成時易受到遮光層20以及金屬橋接線30所形成的地形起伏影響而發(fā)生斷線 等影響合格率的問題，尤其是此結(jié)構(gòu)中一般還需在金屬橋接線30以及第二透明電極52之 間設(shè)置絕緣塊40用以電隔離金屬橋接線30與第二透明電極52,而絕緣塊40的設(shè)置會加劇 地形起伏的變化而不利于第二透明電極52的形成。此外，在此結(jié)構(gòu)設(shè)計下，若受工藝狀況 變化的影響而使得遮光層20在基底11上的形成位置產(chǎn)生偏移時（如圖3所示），不但會進 一步增加第二透明電極52發(fā)生斷線的機會，同時也可能會使得金屬橋接線30也發(fā)生爬坡 斷線的問題。另外，如圖4與圖5所示，在另外一傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元10'中，若 當(dāng)金屬橋接線30對應(yīng)設(shè)置在開口 20H中時，第二透明電極52仍會受到位于開口 20H中的 金屬橋接線30所形成的地形起伏影響而發(fā)生斷線等影響合格率的問題。此外，金屬橋接線 30也容易導(dǎo)致靜電破壞發(fā)生且容易產(chǎn)生雜散電容，故不論在合格率或觸控操作上均有負面 的影響。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明的目的在提供一種觸控板，用非跨橋方式電連接交叉檢測單元中互相分離 的兩子電極，進而達到提高生產(chǎn)合格率、產(chǎn)品可靠性以及觸控檢測效果的目的。
[0005] 本發(fā)明提供一種觸控板，包括一基底以及一交叉檢測單元。交叉檢測單元是設(shè)置 在基底上，且交叉檢測單元包括一第一電極、一第二電極以及一連接線。第一電極包括兩個 互相分離的子電極沿一第一方向排列設(shè)置。第二電極是在第一方向上設(shè)置在兩子電極之 間。連接線電連接兩子電極，且連接線在垂直基底的一垂直投影方向上未與第二電極重疊。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0006] 圖1所示為傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元的示意圖。
[0007] 圖2為沿圖1中A-A'剖線所繪示的剖視圖。
[0008] 圖3為圖2中的遮光層發(fā)生位移的狀況示意圖。
[0009] 圖4所示為另外一傳統(tǒng)的觸控板的交叉檢測單元的示意圖。
[0010] 圖5為沿圖4中B-B'剖線所繪示的剖視圖。
[0011] 圖6所示為本發(fā)明的一優(yōu)選實施例的觸控板的示意圖。
[0012] 圖7所示為本發(fā)明的一優(yōu)選實施例的觸控板的交叉檢測單元示意圖。
[0013] 圖8為沿圖7中C-C'剖線所繪示的剖視圖。
[0014] 圖9A、圖9B以及圖9C所示為本發(fā)明的觸控板的第一電極與第二電極的局部示意 圖。
[0015] 圖10所示為本發(fā)明的另外一優(yōu)選實施例的觸控板的交叉檢測單元示意圖。
[0016] 圖11為沿圖10中D-D'剖線所繪示的剖視圖。
[0017] 其中，附圖標記說明如下：
[0018] 10 交叉檢測單元
[0019] 10'交叉檢測單元
[0020] 11 基底
[0021] 20 遮光層
[0022] 20H 開口
[0023] 21 虛擬鍵圖案
[0024] 30 金屬橋接線
[0025] 40 絕緣塊
[0026] 51 第一透明電極
[0027] 51S 透明子電極
[0028] 52 第二透明電極
[0029] 100 觸控板
[0030] 110 基底
[0031] 120 遮光層
[0032] 120H 開口
[0033] 121 虛擬鍵圖案
[0034] 130 連接線
[0035] 130U非直線結(jié)構(gòu)
[0036] 135 外圍走線
[0037] 151 第一電極
[0038] 15 IS 子電極
[0039] 152 第二電極
[0040] 161 第一走線
[0041] 162 第二走線
[0042] 180 電容檢測區(qū)
[0043] 190 交叉檢測單元
[0044] 200 觸控板
[0045] DR 裝飾區(qū)
[0046] X 第一方向
[0047] Y 第二方向
[0048] Z 垂直投影方向

【具體實施方式】
[0049] 為使熟習(xí)本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員能進一步了解本發(fā)明，下文特列舉本發(fā) 明的數(shù)個優(yōu)選實施例，并配合附圖，詳細說明本發(fā)明的構(gòu)成內(nèi)容。
[0050] 請參考圖6、圖7、圖8、圖9A、圖9B以及圖9C。圖6所示為本發(fā)明的一優(yōu)選實施例 的觸控板的示意圖。圖7所示為本實施例的觸控板的交叉檢測單元示意圖。圖8為沿圖7 中C-C'剖線所繪示的剖視圖。圖9A、圖9B以及圖9C所示為本發(fā)明的觸控板的第一電極與 第二電極的局部不意圖。如圖6到圖8所不，本實施例提供一觸控板100,包括一基底110 以及一交叉檢測單元190。交叉檢測單元190是設(shè)置在基底110上，且交叉檢測單元190包 括一第一電極151、一第二電極152以及一連接線130。第一電極151包括兩個互相分離的 子電極151S沿一第一方向X排列設(shè)置。第二電極152是在第一方向X上設(shè)置在兩子電極 151S之間。第二電極152優(yōu)選是沿一第二方向Y沿伸，且第一方向X是大體上垂直第二方 向Y，但并不以此為限。連接線130電連接兩子電極151S，且連接線130是在垂直基底110 的一垂直投影方向Z上未與第二電極152互相重疊。進一步說明，觸控板100可還包括一 第一走線161以及一第二走線162分別與兩子電極151S以及第二電極152相連，通過第 一走線161可將一第一觸控信號（例如驅(qū)動信號）傳遞到兩子電極151S，而經(jīng)由第二走線 162可將第二電極152所檢測到的一第二觸控信號（例如觸控檢測信號）傳遞到一控制組 件（圖未示）用以進行觸控判斷。上述的交叉檢測單元190的觸控檢測方式可視為一互電 容式觸控檢測方式，但并不以此為限。此外，觸控板100可還包括一電容檢測區(qū)180位于第 一電極151與第二電極152互相交錯的一區(qū)域，且連接線130是未設(shè)置在電容檢測區(qū)180 中。上述的電容檢測區(qū)180也可視為第二電極152與兩子電極151S之間距離最接近的區(qū) 域，用以形成用來進行觸控判斷的主要電容值。換句話說，本發(fā)明的交叉檢測單元190并不 具有傳統(tǒng)的跨橋橋接結(jié)構(gòu)，而是改采用繞線布局的連接線130電連接兩子電極151S，故可 避免傳統(tǒng)的跨橋橋接結(jié)構(gòu)所導(dǎo)致的問題。
[0051] 在本實施例中，基底110可包括硬質(zhì)基底例如玻璃基底與陶瓷基底、可撓式基底 (flexible substrate)例如塑膠基底、保護基底例如蓋板（cover glass)或其他適合材 料所形成的基底。兩子電極151S與第二電極152可包括透明導(dǎo)電層或金屬網(wǎng)格（metal mesh)。舉例來說，如圖9A、圖9B以及圖9C所示，上述的金屬網(wǎng)格可以包括各種尺寸相同或 大小形狀不拘的連續(xù)幾何形狀堆棧，例如圖9A中所示的菱形圖案、圖9B中所示的正方形或 矩形圖案以及圖9C中所示的六角形圖案。本發(fā)明所舉的金屬網(wǎng)格的形狀并不限于圖9A、 圖9B以及圖9C所示的形狀而可視需要使用其他規(guī)則形狀或不規(guī)則形狀的金屬網(wǎng)格，也可 以由弦波金屬網(wǎng)格圖案或其他金屬網(wǎng)格圖案所構(gòu)成。本發(fā)明的連接線130是未與第二電極 152互相重疊，而是自兩子電極151S兩端的第一走線161形成電連接，因此不會有傳統(tǒng)的 跨橋結(jié)構(gòu)所導(dǎo)致的雜散電容與靜電破壞等問題，故可提高觸控檢測效果以及觸控板1〇〇的 可靠度。值得說明的是，本發(fā)明的連接線130也可為兩子電極151S的兩端延伸所形成，換 句話說，連接線130可包括金屬導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料或其他適合的導(dǎo)電材料。上述的金 屬導(dǎo)電材料可包括鋁、銅、銀、鉻、鈦、鑰的其中至少一種、上述材料的復(fù)合層或上述材料的 合金。上述的透明導(dǎo)電材料可包括氧化銦錫（indium tin oxide, ITO)、氧化銦鋅（indium zinc oxide, IZ0)、氧化錯鋅（aluminum zinc oxide, AZ0)或其他適合的透明導(dǎo)電材料。
[0052] 如圖6到圖8所示，本實施例的觸控板100可還包括一裝飾區(qū)DR以及至少一虛 擬鍵（virtual key)圖案121。裝飾區(qū)DR是位于觸控板100的至少一側(cè)，且交叉檢測單元 190是設(shè)置在裝飾區(qū)DR中，但并不以此為限。換句話說，上述的交叉檢測單元190也可視設(shè) 計需要設(shè)置在觸控板100中的其他區(qū)域。虛擬鍵圖案121是設(shè)置在裝飾區(qū)DR中，且虛擬鍵 圖案121是與交叉檢測單元190對應(yīng)設(shè)置。因此，交叉檢測單元190可用以檢測虛擬鍵圖 案121被觸碰的狀況，但并不以此為限。進一步說明，本實施例的觸控板100可還包括一遮 光層120設(shè)置基底110上并位于裝飾區(qū)DR中，遮光層120可包括至少一開口 120H，且開口 120H是用以形成上述的虛擬鍵圖案121。也就是說，虛擬鍵圖案121可為遮光層120中的開 口 120H所構(gòu)成，且在本發(fā)明的其他實施例中也可視需要在開口 120H中設(shè)置裝飾層（圖未 示）用以達到所需的虛擬鍵圖案121的顏色以及質(zhì)感等外觀效果。本實施例的遮光層120 的材料可包括色阻、油墨或其他適合的遮光材料。在本實施例中，由于連接線130未設(shè)置在 第一電極151與第二電極152互相交錯的電容檢測區(qū)180中，故當(dāng)虛擬鍵圖案121與交叉 檢測單元190對應(yīng)設(shè)置時，即使遮光層120或開口 120H的設(shè)置位置直接對應(yīng)到電容檢測 區(qū)180,第二電極152形成時在電容檢測區(qū)180可避免被傳統(tǒng)的跨橋結(jié)構(gòu)影響而發(fā)生斷線， 故可因此達到提高生產(chǎn)合格率的效果。此外，本實施例的連接線130可包括一非直線結(jié)構(gòu) 130U至少部分圍繞第一電極151與第二電極152,由于連接線130的電荷集中程度較高，故 對于外來大電流可具有短路作用。舉例來說，非直線結(jié)構(gòu)130U可為一 U字形結(jié)構(gòu)圍繞第一 電極151與第二電極152的下半部（如圖7所示），但并不以此為限。
[0053] 下文將針對本發(fā)明的不同實施樣態(tài)進行說明，且為簡化說明，以下說明主要針對 各實施例不同的地方進行詳述，而不再對相同的地方作重復(fù)贅述。此外，本發(fā)明的各實施例 中相同的組件是以相同的標號進行標示，用以方便在各實施例間互相對照。
[0054] 請參考圖6、圖10以及圖11。圖10所示為本發(fā)明的另外一優(yōu)選實施例的觸控板 的交叉檢測單元示意圖。圖11為沿圖10中D-D'剖線所繪示的剖視圖。如圖6、圖10以 及圖11所示，本實施例提供一觸控板200,與上述實施例不同的地方在于，在本實施例中， 虛擬鍵圖案121是與交叉檢測單元190對應(yīng)設(shè)置，且開口 120H的設(shè)置位置是直接對應(yīng)到電 容檢測區(qū)180的中央。由于本實施例的電連接兩子電極151S的連接線130并未設(shè)置在電 容檢測區(qū)180中，因此第二電極152形成時在電容檢測區(qū)180可避免被傳統(tǒng)的跨橋結(jié)構(gòu)影 響而發(fā)生斷線，故可達到提升生產(chǎn)合格率的效果。本實施例的觸控板200可還包括一外圍 走線135設(shè)置在裝飾區(qū)DR中，非直線結(jié)構(gòu)130U是設(shè)置在外圍走線135與第一電極151之 間，且非直線結(jié)構(gòu)130U也設(shè)置在外圍走線135與第二電極152之間，故可因此避免外圍走 線135受到交叉檢測單元190的影響，進而可提高外圍走線135的信號穩(wěn)定性。
[0055] 綜合以上所述，本發(fā)明的觸控板是利用繞線布局的連接線電連接交叉檢測單元中 互相分離的兩子電極而不采用傳統(tǒng)的跨橋橋接結(jié)構(gòu)，故可避免傳統(tǒng)的跨橋結(jié)構(gòu)所導(dǎo)致的雜 散電容與靜電破壞等問題，達到提高觸控檢測效果以及改善觸控板可靠度等目的。此外，當(dāng) 本發(fā)明的交叉檢測單元與虛擬鍵圖案對應(yīng)設(shè)置時，由于電連接兩子電極的連接線并未設(shè)置 在電容檢測區(qū)中，可避免傳統(tǒng)的跨橋結(jié)構(gòu)所導(dǎo)致的爬坡斷線問題，進而達到提高生產(chǎn)合格 率的效果。
[0056] 以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技 術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種觸控板，其特征在于，包括： 一基底；以及 一交叉檢測單元，設(shè)置在該基底上，該交叉檢測單元包括： 一第一電極，該第一電極包括兩個互相分離的子電極沿一第一方向排列設(shè)置； 一第二電極，在該第一方向上設(shè)置在該兩子電極之間；以及 一連接線，電連接該兩子電極，其中該連接線在垂直該基底的一垂直投影方向上未與 該第二電極重疊。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控板，其特征在于，還包括一電容檢測區(qū)位于該第一電極 與該第二電極互相交錯的一區(qū)域，其中該連接線未設(shè)置在該電容檢測區(qū)中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控板，其特征在于，還包括： 一裝飾區(qū)，位于該觸控板的至少一側(cè)，該交叉檢測單元是設(shè)置在該裝飾區(qū)中；以及 一虛擬鍵圖案，設(shè)置在該裝飾區(qū)中，其中該虛擬鍵圖案與該交叉檢測單元對應(yīng)設(shè)置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸控板，其特征在于，該連接線包括一非直線結(jié)構(gòu)至少部分 圍繞該第一電極與該第二電極。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控板，其特征在于，還包括一外圍走線設(shè)置在該裝飾區(qū)中， 其中該非直線結(jié)構(gòu)是設(shè)置在該外圍走線以及該第一電極之間。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控板，其特征在于，該非直線結(jié)構(gòu)包括一 U字形結(jié)構(gòu)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控板，其特征在于，該連接線包括金屬導(dǎo)電材料或透明導(dǎo) 電材料。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控板，其特征在于，該兩子電極與該第二電極包括透明導(dǎo) 電層或金屬網(wǎng)格。
9. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸控板，其特征在于，還包括一遮光層設(shè)置在該裝飾區(qū)中，其 中該遮光層包括至少一開口，且該開口是用以形成該虛擬鍵圖案。
【文檔編號】G06F3/041GK104102375SQ201310177228
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2013年5月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月11日
【發(fā)明者】謝其銘, 蔡宜珍, 曾國銓 申請人:勝華科技股份有限公司