測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置制造方法
【專利摘要】一種測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，包括：獲取單元，適于獲取至少兩組數(shù)據(jù)記錄，所述數(shù)據(jù)記錄包括若干測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)；篩選單元，適于在接收到數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，從所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)，所述屬性包括名稱、標(biāo)識(shí)和類型中的至少一種；處理單元，適于提取所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理。本發(fā)明提供的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的比對(duì)效率和比對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
【專利說(shuō)明】測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]磁共振成像(MRI,Magnetic Resonance Imaging)作為核磁共振應(yīng)用的重要領(lǐng)域，由于其對(duì)人體軟組織有極好的分辨力、成像參數(shù)能提供豐富的診斷信息、對(duì)人體沒(méi)有電離輻射損傷等諸多優(yōu)點(diǎn)，磁共振成像系統(tǒng)已成為醫(yī)學(xué)臨床診斷的主要工具之一。
[0003]對(duì)人體測(cè)試結(jié)束后，磁共振成像系統(tǒng)會(huì)根據(jù)測(cè)試結(jié)果生成相應(yīng)的測(cè)試報(bào)告，并對(duì)測(cè)試報(bào)告進(jìn)行存儲(chǔ)。測(cè)試報(bào)告記錄了不同的測(cè)試項(xiàng)以及每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試結(jié)果，測(cè)試項(xiàng)可以具有不同的類型，例如文字、表格、圖像等。為了保證磁共振成像系統(tǒng)的可靠性，測(cè)試系統(tǒng)需要定期檢查磁共振成像系統(tǒng)，對(duì)不同時(shí)期的磁共振成像系統(tǒng)的測(cè)試報(bào)告中同一測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較和評(píng)估，判斷磁共振成像系統(tǒng)是否產(chǎn)生了故障。其中，測(cè)試系統(tǒng)獲得的磁共振成像系統(tǒng)的測(cè)試報(bào)告可以是磁共振成像系統(tǒng)對(duì)人體測(cè)試后生成的測(cè)試報(bào)告，也可以是測(cè)試系統(tǒng)對(duì)磁共振成像系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)生成的測(cè)試報(bào)告。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試系統(tǒng)每次只能打開一份測(cè)試報(bào)告，然而，在對(duì)不同時(shí)期的測(cè)試報(bào)告中同一測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比對(duì)時(shí)，需要打開多份測(cè)試報(bào)告，并由測(cè)試人員通過(guò)界面切換來(lái)讀取測(cè)試結(jié)果，這種數(shù)據(jù)獲取方式花費(fèi)時(shí)間多，還可能會(huì)遺漏或錯(cuò)誤獲取一些內(nèi)容，由此造成比對(duì)效率低和比對(duì)結(jié)果不準(zhǔn)確?？梢姡F(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)不能提供有效的數(shù)據(jù)處理方式，以準(zhǔn)確地評(píng)估磁共振成像系統(tǒng)的性能。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明解決的是現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)不能提供有效的數(shù)據(jù)處理方式而導(dǎo)致數(shù)據(jù)比對(duì)效率低和比對(duì)結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題。
[0006]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，包括:獲取單元，適于獲取至少兩組數(shù)據(jù)記錄，所述數(shù)據(jù)記錄包括若干測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)；篩選單元，適于在接收到數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，從所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)，所述屬性包括名稱、標(biāo)識(shí)和類型中的至少一種；處理單元，適于提取所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理。
[0007]可選的，所述獲取單元包括:存儲(chǔ)單元，適于存儲(chǔ)所述數(shù)據(jù)記錄；調(diào)取單元，適于在接收到記錄調(diào)取指令后，從所述存儲(chǔ)單元中調(diào)取相應(yīng)的數(shù)據(jù)記錄。
[0008]可選的，所述處理單元包括:顯示單元，適于將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)篩選出的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0009]可選的，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求攜帶過(guò)濾條件，所述過(guò)濾條件包括測(cè)試項(xiàng)的屬性；所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)由所述過(guò)濾條件中的測(cè)試項(xiàng)的屬性確定。
[0010]可選的，所述處理單元包括:識(shí)別單元，適于識(shí)別所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同。
[0011]可選的，所述處理單元還包括顯示單元，適于將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0012]可選的，所述顯示單元還適于在測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示或隱藏測(cè)試數(shù)據(jù)相同的測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0013]可選的，所述顯示單元還適于在所述獲取單元獲取數(shù)據(jù)記錄后，將顯示界面分隔為至少兩個(gè)記錄顯示區(qū)域，分別在每個(gè)記錄顯示區(qū)域顯示一組數(shù)據(jù)記錄。
[0014]可選的，所述處理單元還包括:比對(duì)處理單元，適于基于所顯示的至少兩組數(shù)據(jù)記錄形成數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果，以提供給所述顯示單元予以顯示。
[0015]可選的，所述測(cè)試項(xiàng)包括若干測(cè)試子項(xiàng)，所述數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果為數(shù)據(jù)比對(duì)表，所述數(shù)據(jù)比對(duì)表包括若干測(cè)試表項(xiàng)，每一測(cè)試表項(xiàng)記錄一個(gè)測(cè)試子項(xiàng)在所述所顯示的至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0016]可選的，所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄包括一組預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄是通過(guò)對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試而得到的。
[0017]可選的，所述處理單元還包括:分析單元，適于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障。
[0018]可選的，所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄包括至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄是通過(guò)在不同時(shí)間對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試而得到的。
[0019]可選的，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置還包括:數(shù)據(jù)分析單元，適于根據(jù)所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)在不同測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)分析該測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化的趨勢(shì)。
[0020]可選的，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置還包括:排查單元，適于根據(jù)所述數(shù)據(jù)分析單元的分析結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障。
[0021]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0022]提供了一種有效的數(shù)據(jù)處理方式，具體地，篩選單元基于比對(duì)請(qǐng)求對(duì)不同數(shù)據(jù)記錄中具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行篩選，處理單元提取篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)，這樣一次就能比對(duì)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)，并且根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的屬性提取測(cè)試數(shù)據(jù)不易出錯(cuò)，從而提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的比對(duì)效率和比對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0023]可選方案中，識(shí)別單元識(shí)別篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同，這樣不需要通過(guò)界面切換來(lái)查看篩選出的測(cè)試項(xiàng)和測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)一步提高了比對(duì)效率。
[0024]可選方案中，分析單元根據(jù)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障，這樣可以準(zhǔn)確地評(píng)估被測(cè)系統(tǒng)的性能，保證了被測(cè)系統(tǒng)的可靠性。
[0025]可選方案中，數(shù)據(jù)分析單元分析篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化的趨勢(shì)，排查單元根據(jù)數(shù)據(jù)分析單元的分析結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障，這樣可以更為準(zhǔn)確地評(píng)估被測(cè)系統(tǒng)的性能，保證了被測(cè)系統(tǒng)的可靠性。
[0026]可選方案中，比對(duì)處理單元形成比對(duì)結(jié)果，例如通過(guò)數(shù)據(jù)比對(duì)表將相同屬性的測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)歸類，以供顯示單元進(jìn)行顯示，由此清楚且直觀地為測(cè)試人員提供了比對(duì)結(jié)果。
[0027]可選方案中，顯示單元通過(guò)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域?qū)⒑Y選出的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行歸類顯示，由此為測(cè)試人員提供了直觀的比對(duì)界面。
[0028]可選方案中，顯示單元通過(guò)記錄顯示區(qū)域?qū)⒉煌臄?shù)據(jù)記錄顯示在同一界面中，由此為測(cè)試人員提供了直觀的比對(duì)界面。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0029]圖1是本發(fā)明實(shí)施例1測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖2是本發(fā)明實(shí)施例1基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄的示意圖；
[0031]圖3是本發(fā)明實(shí)施例1測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的示意圖；
[0032]圖4是本發(fā)明實(shí)施例1用戶輸入界面的示意圖；
[0033]圖5是本發(fā)明實(shí)施例1數(shù)據(jù)記錄過(guò)濾界面的示意圖；
[0034]圖6是本發(fā)明實(shí)施例1數(shù)據(jù)記錄顯示界面的示意圖；
[0035]圖7是本發(fā)明實(shí)施例1數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求過(guò)濾界面的示意圖；
[0036]圖8是本發(fā)明實(shí)施例1測(cè)試項(xiàng)顯示界面的示意圖；
[0037]圖9是本發(fā)明實(shí)施例1基于圖6的數(shù)據(jù)記錄顯示界面形成的數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果；
[0038]圖10是本發(fā)明實(shí)施例2測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0039]圖11是本發(fā)明實(shí)施例2測(cè)試項(xiàng)顯示界面的示意圖；
[0040]圖12是本發(fā)明實(shí)施例3測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0041]圖13是本發(fā)明實(shí)施例3磁場(chǎng)均勻值的變化曲線圖。

【具體實(shí)施方式】
[0042]本發(fā)明技術(shù)方案提供一種測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，包括獲取單元、篩選單元和處理單元，所述獲取單元適于獲取至少兩組數(shù)據(jù)記錄，所述數(shù)據(jù)記錄包括若干測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)；所述篩選單元適于在接收到數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，從所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)，所述屬性包括名稱、標(biāo)識(shí)和類型中的至少一種；所述處理單元適于提取所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理。
[0043]數(shù)據(jù)的處理包括數(shù)據(jù)的顯示、比對(duì)、識(shí)別和分析等。數(shù)據(jù)的比對(duì)可以是基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和測(cè)試數(shù)據(jù)之間的比對(duì)，也可以是測(cè)試數(shù)據(jù)之間的比對(duì)。下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。需要說(shuō)明的是，以下實(shí)施例均是以被測(cè)系統(tǒng)是磁共振成像系統(tǒng)、測(cè)試數(shù)據(jù)記錄為磁共振成像系統(tǒng)的測(cè)試報(bào)告為例進(jìn)行說(shuō)明，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，本發(fā)明技術(shù)方案的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置同樣也適用于其他被測(cè)系統(tǒng)。
[0044]實(shí)施例1
[0045]在本實(shí)施例中，以基準(zhǔn)數(shù)據(jù)和測(cè)試數(shù)據(jù)之間的比對(duì)為例進(jìn)行說(shuō)明。圖1是本發(fā)明實(shí)施例1測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖1，所述獲取單元11包括存儲(chǔ)單元111和調(diào)取單元112。
[0046]所述存儲(chǔ)單元111適于存儲(chǔ)一組基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，每組數(shù)據(jù)記錄包括若干測(cè)試項(xiàng)以及測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)。所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄中的數(shù)據(jù)項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)(也可以稱為基準(zhǔn)數(shù)據(jù))是預(yù)先設(shè)定的，作為比對(duì)時(shí)的參考數(shù)據(jù)；所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的數(shù)據(jù)項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)是由磁共振成像系統(tǒng)測(cè)試獲得。需要說(shuō)明的是，所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄中測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)作為參考數(shù)據(jù)，也是由磁共振成像系統(tǒng)測(cè)試獲得，例如，可以在一段時(shí)間內(nèi)獲取處于正常狀態(tài)的磁共振成像系統(tǒng)的多組測(cè)試數(shù)據(jù)，將每個(gè)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在多組測(cè)試數(shù)據(jù)中出現(xiàn)頻率最高的測(cè)試數(shù)據(jù)作為所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄中測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0047]具體地，所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試項(xiàng)可以分為不同的類型，例如“文本”、“圖像”、“表格”等，每種類型的測(cè)試項(xiàng)有對(duì)應(yīng)的名稱，屬于相同類型且名稱相同的測(cè)試項(xiàng)可以有不同的編號(hào)，即標(biāo)識(shí)。所述類型、名稱和標(biāo)識(shí)均為測(cè)試項(xiàng)的屬性。
[0048]例如，圖2和圖3分別是本實(shí)施例中所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的示意圖。參考圖2，所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄包括測(cè)試項(xiàng)21和測(cè)試項(xiàng)22。所述測(cè)試項(xiàng)21的類型為“表格”，所述測(cè)試項(xiàng)22的類型為“圖像”。參考圖3，所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄包括測(cè)試項(xiàng)31和測(cè)試項(xiàng)32。所述測(cè)試項(xiàng)31的類型為“表格”，所述測(cè)試項(xiàng)32的類型為“圖像”。
[0049]所述測(cè)試項(xiàng)21為參考的磁場(chǎng)參數(shù),包括磁場(chǎng)均勻值Bpp、磁場(chǎng)偏差值Brms、Z方向一階磁場(chǎng)強(qiáng)度AlO (Z)、X方向一階磁場(chǎng)強(qiáng)度AlO (X)、Y方向一階磁場(chǎng)強(qiáng)度AlO (Y)以及二階磁場(chǎng)強(qiáng)度Α20，圖2示出了每個(gè)磁場(chǎng)參數(shù)對(duì)應(yīng)的參數(shù)值Value和High Spec,以及參數(shù)值Value和High Spec對(duì)應(yīng)的單位Unit。所述測(cè)試項(xiàng)22為參考的水模圖像。所述測(cè)試項(xiàng)31為測(cè)試得到的磁場(chǎng)參數(shù)，與所述測(cè)試項(xiàng)21對(duì)應(yīng)；所述測(cè)試項(xiàng)32為測(cè)試得到的水模圖像，與所述測(cè)試項(xiàng)22對(duì)應(yīng)。
[0050]在本實(shí)施例中，所述一組基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄以可擴(kuò)展標(biāo)記語(yǔ)言(XML,Extensible Markup Language)存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)單元111中，所述存儲(chǔ)單元111可以為存儲(chǔ)器、硬盤等存儲(chǔ)設(shè)備。
[0051]具體地，當(dāng)用戶(如測(cè)試人員)需要對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)時(shí)，會(huì)將記錄調(diào)取指令輸入所述測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，所述記錄調(diào)取指令可以通過(guò)圖4所示的用戶輸入界面41輸入。參考圖4，所述用戶輸入界面41包括基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵42、測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵43和比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44。所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵42、所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵43和所述比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44上顯示有提示用戶輸入的提示語(yǔ)，例如，所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵42上顯示有“選擇基準(zhǔn)報(bào)告”，所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵43上顯示有“選擇比對(duì)報(bào)告”，所述比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44上顯示有“開始比對(duì)”。
[0052]進(jìn)一步，由于所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄均存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)單元111中，因此，在調(diào)取所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和用于比對(duì)的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄時(shí)需要進(jìn)行過(guò)濾。在用戶按下所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵42或所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令輸入按鍵43后，系統(tǒng)提供圖5所示的數(shù)據(jù)記錄過(guò)濾界面51。
[0053]參考圖5，所述數(shù)據(jù)記錄過(guò)濾界面51包括過(guò)濾條件輸入按鍵52和條件輸入確認(rèn)按鍵53。所述過(guò)濾條件輸入按鍵52顯示有提示用戶輸入過(guò)濾條件的提示語(yǔ)，例如“日期”、“類型”、“名稱”、“狀態(tài)”等，分別對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)記錄的存儲(chǔ)日期、數(shù)據(jù)記錄的類型、數(shù)據(jù)記錄的名稱、數(shù)據(jù)記錄的狀態(tài)等。所述條件輸入確認(rèn)按鍵53顯示有提示用戶輸入過(guò)濾條件后進(jìn)行確認(rèn)的提示語(yǔ)，例如，“確定”等。
[0054]用戶輸入過(guò)濾條件并按下所述條件輸入確認(rèn)按鍵53后，生成基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令或測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令。所述調(diào)取單元112在接收到所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令后，從所述存儲(chǔ)單元111中調(diào)取與用戶輸入的過(guò)濾條件相匹配的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄；所述調(diào)取單元112在接收到所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄調(diào)取指令后，從所述存儲(chǔ)單元111中調(diào)取與用戶輸入的過(guò)濾條件相匹配的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄。
[0055]參考圖1，本實(shí)施例的處理單元13包括顯示單元131。在獲取所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄后，所述顯示單元131將顯示界面分隔為至少兩個(gè)記錄顯示區(qū)域，分別在每個(gè)記錄顯示區(qū)域顯示一組數(shù)據(jù)記錄。以圖2所示基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和圖3所示測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的比對(duì)為例，參考圖6，所述顯示單元131將數(shù)據(jù)記錄顯示界面61分隔為第一記錄顯示區(qū)域62和第二記錄顯示區(qū)域63，所述第一記錄顯示區(qū)域62適于顯示所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄，所述第二記錄顯示區(qū)域63適于顯示所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄。
[0056]繼續(xù)參考圖6，所述數(shù)據(jù)記錄顯示界面61還包括比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44。所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄在界面顯示后，用戶可通過(guò)所述比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44輸入數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求。
[0057]需要說(shuō)明的是，在本實(shí)施例中，所述調(diào)取單元112在調(diào)取所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄后，所述顯示單元131將顯示界面分隔為多個(gè)記錄顯示區(qū)域以顯示所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄。在其他實(shí)施例中，所述調(diào)取單元112在調(diào)取所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄后，也可不顯示所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，用戶可直接通過(guò)圖4所示的用戶輸入界面41上的比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44輸入數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求。
[0058]參考圖1，篩選單元12在接收到所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，從獲取到的所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)。具體地，所述篩選單元12在接收到所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的類型、名稱和標(biāo)識(shí)中的至少一種屬性，從所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)。
[0059]例如，當(dāng)所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中每種類型的測(cè)試項(xiàng)均只包含一項(xiàng)時(shí)，可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的類型進(jìn)行篩選；當(dāng)所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的名稱均是唯一的，可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的名稱進(jìn)行篩選；當(dāng)所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中每個(gè)測(cè)試項(xiàng)的標(biāo)識(shí)均是唯一的，可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的標(biāo)識(shí)進(jìn)行篩選；當(dāng)所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中多個(gè)測(cè)試項(xiàng)的名稱相同但標(biāo)識(shí)不同時(shí)，可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的名稱和標(biāo)識(shí)進(jìn)行篩選。
[0060]當(dāng)需要比對(duì)的測(cè)試項(xiàng)僅是所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的部分測(cè)試項(xiàng)時(shí)，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求可以攜帶過(guò)濾條件，所述過(guò)濾條件包括測(cè)試項(xiàng)的屬性。具體地，在用戶按下所述比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44后，系統(tǒng)提供圖7所示的數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求過(guò)濾界面71。
[0061]參考圖7，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求過(guò)濾界面71包括比對(duì)條件輸入按鍵72和比對(duì)確認(rèn)按鍵73。所述比對(duì)條件輸入按鍵72顯示有提示用戶輸入過(guò)濾條件的提示語(yǔ)，例如“測(cè)試項(xiàng)屬性”等；所述比對(duì)確認(rèn)按鍵73顯示有提示用戶輸入過(guò)濾條件后進(jìn)行確認(rèn)的提示語(yǔ)，例如，“確認(rèn)比對(duì)”等。
[0062]需要說(shuō)明的是，在本實(shí)施例中，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求是通過(guò)所述比對(duì)請(qǐng)求輸入按鍵44輸入，在其他實(shí)施例中，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求也可以通過(guò)在顯示界面上拖動(dòng)所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行。
[0063]繼續(xù)參考圖1，所述篩選單元12從所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)后，所述處理單元13將篩選出的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)提取出來(lái)。
[0064]進(jìn)一步，所述顯示單元131適于將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)篩選出的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0065]圖8是測(cè)試項(xiàng)顯示界面的示意圖，參考圖8,所述顯示單元131將測(cè)試項(xiàng)顯示界面80分隔為η個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域:第一測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域81、第二測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域82、…、第η測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域8η，每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。其中，η為測(cè)試項(xiàng)的數(shù)量。
[0066]本實(shí)施例中，所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄均只包括兩個(gè)測(cè)試項(xiàng)，因此，所述顯示單元131將測(cè)試項(xiàng)顯示界面80分隔為兩個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域:第一測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域81和第二測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域82。所述第一測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域81適于顯示所述測(cè)試項(xiàng)21和所述測(cè)試項(xiàng)31，所述第二測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域82適于顯示所述測(cè)試項(xiàng)22和所述測(cè)試項(xiàng)32。
[0067]本實(shí)施例的篩選單元12基于比對(duì)請(qǐng)求對(duì)不同數(shù)據(jù)記錄中具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行篩選，處理單元13提取篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)，這樣一次就能比對(duì)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)，并且根據(jù)測(cè)試項(xiàng)的屬性提取測(cè)試數(shù)據(jù)不易出錯(cuò)，因此，提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的比對(duì)效率和比對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0068]針對(duì)類型為表格或圖像的測(cè)試項(xiàng)，本實(shí)施例的處理單元13還可以包括比對(duì)處理單元132。所述比對(duì)處理單元132適于基于所述數(shù)據(jù)記錄顯示界面61所顯示的所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄形成數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果，以提供給所述顯示單元131予以顯示。
[0069]具體應(yīng)用時(shí)，當(dāng)用戶在顯示界面61上拖動(dòng)第二記錄顯示區(qū)域63中的數(shù)據(jù)記錄(表格或圖像)至第一記錄顯示區(qū)域62中，所述比對(duì)處理單元132生成基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果。
[0070]圖9所示為基于所述數(shù)據(jù)記錄顯示界面61形成的數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果，圖9所示的數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果包括了表格的比對(duì)和圖像的比對(duì)。以表格的比對(duì)為例，所述數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果為數(shù)據(jù)比對(duì)表。所述數(shù)據(jù)比對(duì)表包括若干測(cè)試表項(xiàng)，每一測(cè)試表項(xiàng)記錄一個(gè)測(cè)試子項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述所顯示的所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0071]進(jìn)一步，本實(shí)施例的處理單元13還可以包括分析單元133，所述分析單元133適于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)所述磁共振成像系統(tǒng)進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障。
[0072]舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)所述測(cè)試項(xiàng)31與所述測(cè)試項(xiàng)21進(jìn)行比對(duì)后，所述處理單元可以根據(jù)所述測(cè)試項(xiàng)31與所述測(cè)試項(xiàng)21之間測(cè)試數(shù)據(jù)的差異判斷磁共振成像系統(tǒng)中的磁體是否工作正常。例如，當(dāng)所述測(cè)試項(xiàng)31中的一個(gè)或者幾個(gè)磁場(chǎng)參數(shù)的測(cè)試值與所述測(cè)試項(xiàng)21中對(duì)應(yīng)的參考值的差值超出預(yù)定閾值時(shí)，所述處理單元可判斷磁共振成像系統(tǒng)中的磁體處于異常工作狀態(tài)，并發(fā)出警告，能夠提高磁共振系統(tǒng)的可靠性。
[0073]實(shí)施例2
[0074]在本實(shí)施例中，以至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄之間的比對(duì)為例進(jìn)行說(shuō)明，所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄包括至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄是磁共振成像系統(tǒng)在不同時(shí)間的測(cè)試報(bào)告。
[0075]圖10是本發(fā)明實(shí)施例2測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖10，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置包括獲取單元101、篩選單元102和處理單元103。本實(shí)施例中的獲取單元101和篩選單元102可以參考實(shí)施例1的說(shuō)明，在此不再贅述，所述處理單元103可以包括識(shí)別單元104和顯示單元105。
[0076]所述篩選單元102從所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)后，所述識(shí)別單元104識(shí)別所述篩選單元102篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同。
[0077]具體地，以五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的比對(duì)為例，所述篩選單元102篩選出的測(cè)試項(xiàng)包括測(cè)試項(xiàng)1、測(cè)試項(xiàng)2和測(cè)試項(xiàng)3，所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)為Al、A2、A3、A4和A5，所述測(cè)試項(xiàng)2對(duì)應(yīng)在五組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)為B1、B2、B3、B4和B5，所述測(cè)試項(xiàng)3對(duì)應(yīng)在五組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)為Cl、C2、C3、C4和C5。
[0078]所述識(shí)別單元104分別判斷所述測(cè)試數(shù)據(jù)Al、A2、A3、A4和A5的值是否相同，所述測(cè)試數(shù)據(jù)B1、B2、B3、B4和B5的值是否相同，所述測(cè)試數(shù)據(jù)為C1、C2、C3、C4和C5的值是否相同。
[0079]在所述識(shí)別單元104完成識(shí)別后，所述顯示單元105將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)，即將所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中測(cè)試數(shù)據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)顯示出來(lái)。
[0080]進(jìn)一步，所述顯示單元105還適于在測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示或隱藏測(cè)試數(shù)據(jù)相同的測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)。圖11是本實(shí)施例測(cè)試項(xiàng)顯示界面的示意圖，所述測(cè)試項(xiàng)顯示界面包括提示用戶“隱藏相同參數(shù)”和“顯示相同參數(shù)”的按鍵。所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)Al、A2、A3、A4和A5的值不相同，所述測(cè)試項(xiàng)2對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)B1、B2、B3、B4和B5的值不相同，所述測(cè)試項(xiàng)3對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)C1、C2、C3、C4和C5的值不相同，因此，圖11中均有顯示。若所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)Al、A2、A3、A4和A5的值均相同，則可以隱藏或顯示所述測(cè)試項(xiàng)I以及所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)Al、A2、A3、A4和A5。
[0081]本實(shí)施例中，所述識(shí)別單元104能夠識(shí)別篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述不同數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同，不需要依次查看篩選出的測(cè)試項(xiàng)，提高了比對(duì)效率。
[0082]需要說(shuō)明的是，實(shí)施例1的處理單元也可以包括所述識(shí)別單元，用于識(shí)別篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同，即將同一測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)與基準(zhǔn)數(shù)據(jù)中的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行比較。本實(shí)施例的處理單元也可以包括實(shí)施例1所述的比對(duì)處理單元，本實(shí)施例的顯示單元還可以具有與實(shí)施例1的顯示單元相同或相類似的數(shù)據(jù)處理方式。
[0083]實(shí)施例3
[0084]在本實(shí)施例中，仍以實(shí)施例2中的五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄之間的比對(duì)為例進(jìn)行說(shuō)明。圖12是本發(fā)明實(shí)施例3測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖12，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置包括獲取單元121、篩選單元122、處理單元123、數(shù)據(jù)分析單元124和排查單元125,其中，所述獲取單元121、篩選單元122和處理單元123可以參考實(shí)施例1和2，在此不再贅述。所述數(shù)據(jù)分析單元124適于根據(jù)所述篩選單元122篩選出的測(cè)試項(xiàng)在不同測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)分析該測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)隨測(cè)試時(shí)間變化的趨勢(shì)。
[0085]以所述測(cè)試項(xiàng)I的對(duì)比為例，所述篩選單元122篩選出的所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)為Al、A2、A3、A4和A5。參考圖13，所述數(shù)據(jù)分析單元124可根據(jù)所述測(cè)試項(xiàng)I對(duì)應(yīng)在五組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)生成變化曲線。所述變化曲線的橫坐標(biāo)為測(cè)試時(shí)間，即生成測(cè)試數(shù)據(jù)記錄的時(shí)間，所述變化曲線的縱坐標(biāo)為所述測(cè)試項(xiàng)I的值。所述變化曲線可由對(duì)圖13中的離散點(diǎn)進(jìn)行擬合得到，在本實(shí)施例中，依次連接每個(gè)離散點(diǎn)得到所述變化曲線。
[0086]根據(jù)所述變化曲線，所述數(shù)據(jù)分析單元124可以獲得磁共振成像系統(tǒng)在不同階段所述測(cè)試項(xiàng)I的值的變化趨勢(shì)，例如，在本實(shí)施例中，可以獲得相鄰兩次測(cè)試時(shí)間之間所述變化曲線的斜率。
[0087]所述排查單元125適于根據(jù)所述變化曲線對(duì)磁共振成像系統(tǒng)進(jìn)行分析，以排查系統(tǒng)故障。例如，所述排查單元125可根據(jù)所述數(shù)據(jù)分析單元124獲得的相鄰兩次測(cè)試時(shí)間之間所述變化曲線的斜率，分析每個(gè)斜率的差異，以判斷磁共振系統(tǒng)的工作是否正常，由此保證了磁共振系統(tǒng)的可靠性。
[0088]雖然本發(fā)明披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，包括: 獲取單元，適于獲取至少兩組數(shù)據(jù)記錄，所述數(shù)據(jù)記錄包括若干測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)； 篩選單元，適于在接收到數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求后，從所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中篩選出具有相同屬性的測(cè)試項(xiàng)，所述屬性包括名稱、標(biāo)識(shí)和類型中的至少一種； 處理單元，適于提取所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述獲取單元包括: 存儲(chǔ)單元，適于存儲(chǔ)所述數(shù)據(jù)記錄； 調(diào)取單元，適于在接收到記錄調(diào)取指令后，從所述存儲(chǔ)單元中調(diào)取相應(yīng)的數(shù)據(jù)記錄。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述處理單元包括:顯示單元，適于將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)篩選出的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)比對(duì)請(qǐng)求攜帶過(guò)濾條件，所述過(guò)濾條件包括測(cè)試項(xiàng)的屬性；所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)由所述過(guò)濾條件中的測(cè)試項(xiàng)的屬性確定。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述處理單元包括:識(shí)別單元，適于識(shí)別所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)是否相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述處理單元還包括顯示單元，適于將顯示界面分隔為至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域，分別在每個(gè)測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)不同的測(cè)試項(xiàng)及其對(duì)應(yīng)在所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述顯示單元還適于在測(cè)試項(xiàng)顯示區(qū)域顯示或隱藏測(cè)試數(shù)據(jù)相同的測(cè)試項(xiàng)及其測(cè)試數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求3或6所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述顯示單元還適于在所述獲取單元獲取數(shù)據(jù)記錄后，將顯示界面分隔為至少兩個(gè)記錄顯示區(qū)域，分別在每個(gè)記錄顯示區(qū)域顯示一組數(shù)據(jù)記錄。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述處理單元還包括匕對(duì)處理單元，適于基于所顯示的至少兩組數(shù)據(jù)記錄形成數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果，以提供給所述顯示單元予以顯示。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述測(cè)試項(xiàng)包括若干測(cè)試子項(xiàng)，所述數(shù)據(jù)比對(duì)結(jié)果為數(shù)據(jù)比對(duì)表，所述數(shù)據(jù)比對(duì)表包括若干測(cè)試表項(xiàng)，每一測(cè)試表項(xiàng)記錄一個(gè)測(cè)試子項(xiàng)在所述所顯示的至少兩組數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄包括一組預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和至少一組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，所述測(cè)試數(shù)據(jù)記錄是通過(guò)對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試而得到的。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述處理單元還包括:分析單元，適于根據(jù)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)在所述基準(zhǔn)數(shù)據(jù)記錄和測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，所述至少兩組數(shù)據(jù)記錄包括至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄，所述至少兩組測(cè)試數(shù)據(jù)記錄是通過(guò)在不同時(shí)間對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試而得到的。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，還包括:數(shù)據(jù)分析單元，適于根據(jù)所述篩選單元篩選出的測(cè)試項(xiàng)在不同測(cè)試數(shù)據(jù)記錄中的測(cè)試數(shù)據(jù)分析該測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化的趨勢(shì)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試數(shù)據(jù)的處理裝置，其特征在于，還包括:排查單元，適于根據(jù)所述數(shù)據(jù)分析單元的分析結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，以排查系統(tǒng)故障。
【文檔編號(hào)】G06F19/00GK104281763SQ201310282834
【公開日】2015年1月14日 申請(qǐng)日期:2013年7月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月5日
【發(fā)明者】朱佳軍, 袁耀明 申請(qǐng)人:上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司