輸入裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供能夠從由異物等引起的誤檢知復(fù)原的輸入裝置。輸入裝置具有：坐標(biāo)輸入部（1），具有多個電容檢測部，用于操作體進(jìn)行接近操作；電容測量部（2），測量多個電容檢測部中的每個的靜電電容，將測量到的靜電電容AD轉(zhuǎn)換并作為測量信號輸出；控制部（3），控制電容測量部（2），運(yùn)算測量信號并計(jì)算數(shù)據(jù)信號，并且使該數(shù)據(jù)信號與電容檢測部的坐標(biāo)信息對應(yīng)而存儲，基于運(yùn)算的結(jié)果輸出控制信號，控制部（3）以恒定的時間間隔計(jì)算指定的基準(zhǔn)值與數(shù)據(jù)信號的差分值，對數(shù)據(jù)信號和指定的基準(zhǔn)值進(jìn)行加權(quán)平均處理并作為新的基準(zhǔn)值而更新并存儲，并且根據(jù)差分值變更在加權(quán)平均處理中賦予的權(quán)重。
【專利說明】輸入裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及輸入裝置，特別涉及能夠從由異物等引起的誤檢知復(fù)原的輸入裝置?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]以往，存在通過檢知伴隨操作的靜電電容的變化來判斷操作位置的靜電電容式的輸入裝置。然而，這種靜電電容式的輸入裝置，其檢測值例如根據(jù)溫度變化而改變，有時進(jìn)行誤動作。
[0003]作為降低由溫度變化引起的誤動作發(fā)生的輸入裝置，提出了專利文獻(xiàn)I所記載的輸入裝置。
[0004]關(guān)于專利文獻(xiàn)I所記載的輸入裝置的動作，用圖5來說明。圖5是表示專利文獻(xiàn)I所記載的輸入裝置的動作的流程圖。
[0005]如圖5所示，周期性地取得傳感器輸出值(步驟S901)，判定是否經(jīng)過了成為用于進(jìn)行修正系數(shù)更新處理的條件的指定的時間(步驟S902)。在判斷為經(jīng)過了指定的時間時(步驟S902:是)，判斷傳感器輸出值是否為接觸判定用閾值以上(步驟S903)。在判斷為傳感器輸出值小于接觸判定用閾值時(步驟S903:否)，將判定用閾值變更標(biāo)志Fl設(shè)定為“O”(步驟S908)，并轉(zhuǎn)移到步驟S909。
[0006]當(dāng)在步驟S903中判斷為傳感器輸出值為接觸判定用閾值以上時(步驟S903:是)，判斷是否通知了由識別信息構(gòu)成的事件發(fā)生信息(步驟S904)。在判斷為未進(jìn)行按壓事件通知時，通知壓入事件(步驟S905)，另外，在按壓事件為通知的情況下，直接原樣地向步驟S906轉(zhuǎn)移。之后，將判定用閾值變更標(biāo)志Fl設(shè)定為“I”(步驟S906)，計(jì)算傳感器輸出值與指定的基準(zhǔn)值(在現(xiàn)有技術(shù)的例子中，為“512”)的差分值作為修正系數(shù)Al (步驟S907)。
[0007]接著，進(jìn)行所存儲的修正系數(shù)的更新(步驟S909)。由此，更新修正系數(shù)的內(nèi)容，以使傳感器輸出值變?yōu)榕c指定的基準(zhǔn)值同值。
[0008]如以上所述，為了抑制由溫度變化引起的誤動作，在未檢測到操作時，將檢測值置換為新的基準(zhǔn)值，另外，在檢測到操作時，將傳感器輸出值和指定的基準(zhǔn)值置換為新的基準(zhǔn)值。通過采用該結(jié)構(gòu)，能夠抑制起因于由溫度變化引起的靜電電容的變動的檢測值的影響。
[0009]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)(專利文獻(xiàn))
[0010]專利文獻(xiàn)1:日本特開2012-048340
[0011]然而，在檢測到操作的情況下，將傳感器輸出值與指定的基準(zhǔn)值的差分值作為新的修正系數(shù)進(jìn)行修正系數(shù)的更新，所以能夠?qū)τ谌鐪囟茸兓菢拥淖儎舆M(jìn)行追蹤并正確地進(jìn)行動作，但輸入裝置上載置有例如硬幣等異物而誤檢知到接觸這種情況下，存在如下課題:對在異物被除去之前進(jìn)行了操作的情況進(jìn)行表示的輸出信號持續(xù)，從而無法從誤檢知復(fù)原。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012]本發(fā)明解決上述的課題，目的在于提供能夠從由異物等引起的誤檢知復(fù)原的輸入>J-U ρ?α裝直。
[0013]為了解決該課題，技術(shù)方案I中記載的輸入裝置，其特征在于，具有:坐標(biāo)輸入部，具有多個電容檢測部，用于操作體進(jìn)行接近操作；電容測量部，測量每個上述多個電容檢測部的靜電電容，將測量到的靜電電容AD轉(zhuǎn)換并作為測量信號輸出；以及控制部，控制上述電容測量部，運(yùn)算上述測量信號并計(jì)算數(shù)據(jù)信號，并且使該數(shù)據(jù)信號與上述電容檢測部的坐標(biāo)信息對應(yīng)而存儲，并基于上述運(yùn)算的結(jié)果輸出控制信號，上述控制部以恒定的時間間隔，計(jì)算指定的基準(zhǔn)值與上述數(shù)據(jù)信號的差分值，對上述數(shù)據(jù)信號和上述指定的基準(zhǔn)值進(jìn)行加權(quán)平均處理并作為新的基準(zhǔn)值而更新并存儲，并且根據(jù)上述差分值變更在上述加權(quán)平均處理中賦予的權(quán)重。
[0014]技術(shù)方案2中記載的輸入裝置的特征在于，在技術(shù)方案I記載的輸入裝置中，上述權(quán)重至少被分為三個大小，基于將上述差分值與接觸閾值進(jìn)行了比較的結(jié)果確定上述權(quán) 重。
[0015]技術(shù)方案3中記載的輸入裝置的特征在于，在技術(shù)方案2記載的輸入裝置中，在上述差分值比上述接觸閾值大的情況下，將上述權(quán)重設(shè)為大，在上述差分值比上述接觸閾值小的情況下，對上述差分值進(jìn)行與異常修正檢測閾值的比較，在上述差分值比上述異常修正檢測閾值小的情況下，將上述權(quán)重設(shè)為小。
[0016]發(fā)明的效果
[0017]根據(jù)技術(shù)方案I的發(fā)明，控制部以恒定的時間間隔進(jìn)行指定的基準(zhǔn)值與上述數(shù)據(jù)信號的比較，計(jì)算上述數(shù)據(jù)信號與上述基準(zhǔn)值的加權(quán)平均并作為新的基準(zhǔn)值而更新并存儲。為此，在坐標(biāo)輸入部上載入有異物等的這種情況下，基準(zhǔn)值持續(xù)地通過加權(quán)平均來修正，從而基準(zhǔn)值接近數(shù)據(jù)信號的值，所以能夠使由誤檢知引起的輸出信號停止。并且，根據(jù)數(shù)據(jù)信號的變化來變更在加權(quán)平均中賦予的權(quán)重來進(jìn)行運(yùn)算，所以接觸檢測時使加權(quán)平均的加權(quán)變重來謀求基準(zhǔn)值的穩(wěn)定化。另外，因在異物載置于坐標(biāo)輸入部并且基準(zhǔn)值持續(xù)地通過加權(quán)平均被更新之后除去異物等、被持續(xù)修正過的基準(zhǔn)值需要再設(shè)定的情況下，減輕加權(quán)平均的加權(quán)，能夠以短時間進(jìn)行基準(zhǔn)值的再設(shè)定，所以能夠快速地復(fù)原為正常動作。
[0018]根據(jù)技術(shù)方案2的發(fā)明，權(quán)重至少被分為三個大小，控制部進(jìn)行指定的基準(zhǔn)值與數(shù)據(jù)信號的比較，獲得差分值，并且基于將該差分值與接觸閾值進(jìn)行了比較的結(jié)果確定權(quán)重，所以能夠相應(yīng)于檢測出的狀態(tài)變更更新基準(zhǔn)值的速度。
[0019]根據(jù)技術(shù)方案3的發(fā)明，基于差分值與接觸閾值及異常修正檢測閾值的比較結(jié)果確定權(quán)重，所以能夠基于動作狀況恰當(dāng)?shù)卦O(shè)定更新基準(zhǔn)值的速度。在差分值比接觸閾值大的情況下，將權(quán)重設(shè)為大，所以即使在進(jìn)行了緩慢的操作的情況下也能夠穩(wěn)定地進(jìn)行接觸輸入動作。另外，在差分值比接觸閾值小的情況下，基于對差分值進(jìn)行了與異常修正檢測閾值的比較的結(jié)果來確定權(quán)重，所以能夠相應(yīng)于檢測出異常修正的情況下的處理來變更更新基準(zhǔn)值的速度。在差分值比異常修正檢測閾值小的情況下將權(quán)重設(shè)為小，所以能夠以短時間進(jìn)行基準(zhǔn)值的再設(shè)定，能夠快速地復(fù)原為正常動作。
[0020]通過以上所述，根據(jù)本發(fā)明，能夠提供能夠從由異物等引起的誤檢知復(fù)原的輸入
>J-U ρ?α裝直。
【專利附圖】

【附圖說明】[0021]圖1是本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置的外觀模式圖。
[0022]圖2是對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置的結(jié)構(gòu)進(jìn)行表示的框圖。
[0023]圖3是對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置的動作進(jìn)行表示的流程圖。
[0024]圖4是對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置的動作進(jìn)行說明的圖。
[0025]圖5是對現(xiàn)有技術(shù)的輸入裝置的動作進(jìn)行表示的流程圖。
[0026]符號說明
[0027]I坐標(biāo)輸入部
[0028]Ia電容檢測部
[0029]2電容測量部
[0030]3控制部
[0031]4 接口部
[0032]5外部設(shè)備
[0033]100實(shí)施方式的輸入裝置
【具體實(shí)施方式】
[0034][實(shí)施方式]
[0035]以下，對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置100進(jìn)行說明。
[0036]首先，最初使用圖1及圖2對本發(fā)明的實(shí)施方式中的輸入裝置100的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖1是輸入裝置100的外觀模式圖，圖2是對輸入裝置100的結(jié)構(gòu)進(jìn)行表示的框圖。
[0037]輸入裝置100如圖1所示那樣、具有用于操作者進(jìn)行輸入操作的坐標(biāo)輸入部1，沿著坐標(biāo)輸入部I的輸入操作面在內(nèi)部設(shè)置有多個電容檢測部la。
[0038]電容檢測部Ia具有靜電電容，在操作者為了進(jìn)行操作而接觸坐標(biāo)輸入部I時，位于所接觸的位置及其附近的電容檢測部Ia的靜電電容增加。
[0039]輸入裝置100如圖2所示那樣、包括坐標(biāo)輸入部1、與坐標(biāo)輸入部I連接的電容測量部2、以及與電容測量部2連接的控制部3。
[0040]電容測量部2測量多個電容檢測部Ia中的每個的靜電電容，將測量到的靜電電容從模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后的、Analog-to-Digital Convertion信號(ADC信號)作為測量信號輸出至控制部3。
[0041 ] 控制部3控制電容測量部2，取得多個電容檢測部Ia中的每個的ADC信號，并且將對該ADC信號進(jìn)行雜音去除處理從而獲得的AD值(數(shù)據(jù)信號)與多個電容檢測部Ia的坐標(biāo)信息對應(yīng)而存儲，并且基于對AD值進(jìn)行了運(yùn)算的結(jié)果輸出控制信號。
[0042]另外，輸入裝置100經(jīng)由接口部4與外部設(shè)備5連接，從外部設(shè)備5供給輸入裝置100的動作用電力，并且將從控制部3輸出的控制信號輸出至外部設(shè)備5，并將從外部設(shè)備5輸出的對輸入裝置100的控制信號輸出至控制部3。
[0043]接著，使用圖3對輸入裝置100的動作進(jìn)行說明。圖3是對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置100的動作進(jìn)行表示的流程圖。
[0044]首先，控制部3如圖3的步驟SI所示那樣、控制電容測量部2并取得ADC信號。在步驟S2中，對在步驟SI中所取得的ADC信號進(jìn)行例如與上次所取得的ADC信號的比較、異常值排除等雜音去除處理，并取得AD值。在步驟S3中，對于控制部3所含的存儲裝置中的、與取得了 ADC信號的多個電容檢測部Ia中的每個的坐標(biāo)信息對應(yīng)的存儲區(qū)域，存儲(SAVE)AD值。
[0045]接著，在步驟S4中，計(jì)算在坐標(biāo)輸入部I中指定的基準(zhǔn)值(BASE)與所存儲的AD值之差作為數(shù)據(jù)信號即差分值(DIF_AD)。在步驟S5中將在步驟S4中計(jì)算出的差分值(DIF_AD)存儲于控制部3所含的存儲裝置中的、與取得了 ADC信號的電容檢測部Ia中的每個的坐標(biāo)信息對應(yīng)的數(shù)據(jù)信號存儲區(qū)域。
[0046]在步驟S6中對差分值(DIF_AD)和判斷對輸入裝置100的輸入操作的有無的基準(zhǔn)的接觸閾值(Τ_0Ν)進(jìn)行比較。在差分值(DIF_AD)比接觸閾值(Τ_0Ν)大的情況下，在步驟S7中，將表示接觸的功能碼作為控制信號從控制部3向接口部4輸出并轉(zhuǎn)移至步驟S9。在此，功能碼表示使例如在與該坐標(biāo)對應(yīng)的畫面上顯示的某些功能動作的信號。
[0047]在步驟S6中差分值(DIF_AD)為接觸閾值(Τ_0Ν)以下的情況下，在步驟S8中，將表示非接觸的功能碼作為控制信號從控制部3向接口部4輸出并轉(zhuǎn)移至步驟S9。
[0048]在步驟S9中，向?qū)Ω禄鶞?zhǔn)值(BASE)的時間間隔進(jìn)行計(jì)量的時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值加1，在步驟SlO中，判定時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值是否達(dá)到了表示規(guī)定的時間間隔的值。
[0049]在步驟SlO中判定出的結(jié)果是時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值到達(dá)表示規(guī)定的時間間隔的值的情況下，向步驟Sll轉(zhuǎn)移，在未到達(dá)的情況下向步驟S19轉(zhuǎn)移。
[0050]在步驟Sll中，重新對差分值(DIF_AD)和判定對輸入裝置100的輸入操作所用的接觸有無的基準(zhǔn)的接觸閾值(Τ_0Ν)進(jìn)行比較，在差分值(DIF_AD)比接觸閾值(Τ_0Ν)大的情況下，向步驟S12轉(zhuǎn)移，在不大的情況下向步驟S13轉(zhuǎn)移。
[0051]在步驟S12中，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定得較大(在本實(shí)施例中為16)并向步驟S16轉(zhuǎn)移。
[0052]在步驟S13中，對差分值(DIF_AD)和異常修正檢測閾值(M_0FF)進(jìn)行比較，在差分值(DIF_AD)比異常修正檢測閾值(M_0FF)小的情況下向步驟S14轉(zhuǎn)移，在不小的情況下向步驟S15轉(zhuǎn)移。
[0053]在步驟S14中，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定得較小(在本實(shí)施例中為I)并向步驟S16轉(zhuǎn)移。
[0054]在步驟S15中，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定為在步驟S12中設(shè)定的較大的值與在步驟S14中設(shè)定的較小的值的中間的值(在本實(shí)施例中為8)并向步驟S16轉(zhuǎn)移。
[0055]在步驟S16中，使用在步驟S12、步驟S14、步驟S15中的任一步驟中設(shè)定的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)，基于(式I)的計(jì)算式計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)。
[0056](式I)
[0057]N_BASE= ((WEIGHT-1) XBASE + AD) /WEIGHT
[0058]在步驟S17中，將在步驟S16中計(jì)算出的新的基準(zhǔn)值(N_BASE)作為基準(zhǔn)值(BASE)存儲，在步驟S18中將時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值設(shè)定為初始值“O”并向步驟S19轉(zhuǎn)移。
[0059]步驟S19以如下方式進(jìn)行動作:在進(jìn)行輸入動作的情況下，始終被輸入來自外部設(shè)備5的檢知指示，返回步驟SI并持續(xù)地以恒定的時間間隔檢知輸入操作的有無。用于從外部設(shè)備5使輸入檢知停止的所輸出的檢知指示信號被停止的情況下，檢知結(jié)束。[0060]如以上所述，檢測對坐標(biāo)輸入部I的接觸的有無，在檢測到接觸的情況下，將與檢測到接觸的電容檢測部Ia的坐標(biāo)信息對應(yīng)的功能碼作為控制信號從控制部3輸出，在未檢測到接觸的情況下，將表示非接觸的功能碼作為控制信號從控制部3輸出。
[0061]另外，每隔恒定的時間間隔，相應(yīng)于對坐標(biāo)輸入部I的接觸的有無，設(shè)定用于計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)，使用所設(shè)定的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)基于(式I)計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)，將新的基準(zhǔn)值(N_BASE)作為基準(zhǔn)值(BASE)存儲，所以能夠抑制由溫度變化等引起的對靜電電容的檢測值的影響。
[0062]并且，在檢測到對坐標(biāo)輸入部I的接觸的情況下，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定為較大的值，所以即使在進(jìn)行了緩慢的操作的情況下也能夠穩(wěn)定地進(jìn)行接觸輸入動作。
[0063]接著，使用圖3及圖4，對異物載置于坐標(biāo)輸入部I時的動作進(jìn)行說明。
[0064]圖4是對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置100的動作進(jìn)行說明的圖，表示圖3所示的控制流程的步驟Sll以后的處理次數(shù)的控制部3的運(yùn)算結(jié)果的推移。
[0065]圖4 (a)表示異物載置于坐標(biāo)輸入部I時的圖3所示的控制流程的步驟Sll以后的處理次數(shù)的控制部3的AD值、基準(zhǔn)值(BASE)、差分值(DIF_AD)、新的基準(zhǔn)值(N_BASE)的運(yùn)算結(jié)果的推移，在圖4 (a)中，將操作體或者異物接觸了的情況下的ADC信號的值例示為768，將基準(zhǔn)值(BASE)的初次的值例示為256，將接觸閾值(Τ_0Ν)例示為448。
[0066]在步驟Sll中，重新進(jìn)行差分值(DIF_AD)與判斷對輸入裝置100的輸入操作所用的接觸有無的基準(zhǔn)的接觸閾值(Τ_0Ν)的比較，但由于如前所述那樣載置了異物，因此差分值(DIF_AD )變得比接觸閾值(Τ_0Ν)大，并向步驟S12轉(zhuǎn)移。
[0067]在步驟S12中，將加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定得較大(在本實(shí)施例中為16)并向步驟S16轉(zhuǎn)移，使用所設(shè)定的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)基于(式I)計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)ο
[0068]坐標(biāo)輸入部I上載置有異物的狀態(tài)繼續(xù)時，與同一電容檢測部Ia對應(yīng)的ADC信號的值較大的狀態(tài)持續(xù)，所以如圖4 (a)所示，每隔恒定的時間，更新基準(zhǔn)值(BASE)的值，基準(zhǔn)值(BASE)的值持續(xù)地被更新為較大的值并接近AD值，最終，基準(zhǔn)值(BASE)與AD值一致。
[0069]基準(zhǔn)值(BASE)的值持續(xù)地被更新為較大的值并接近AD值，差分值(DIF_AD)變得比接觸閾值(Τ_0Ν)小(圖4 Ca)的情況下為第4次)時，在步驟S6進(jìn)行了差分值(DIF_AD)與接觸閾值(Τ_0Ν)的比較時，向步驟S8轉(zhuǎn)移，能夠使與誤動作的坐標(biāo)信息對應(yīng)的功能碼停止，并能夠?qū)⒈硎痉墙佑|的功能碼作為控制信號從控制部3向接口部4輸出，能夠從誤動作了的狀態(tài)自動地復(fù)原。
[0070]根據(jù)該情況，能夠在載置了異物之后到復(fù)原為止期間使設(shè)備的動作按照對載置有異物的地方分配的功能而持續(xù)的情況停止，或能夠?qū)崿F(xiàn)對載置有異物的地方以外的輸入操作能夠正常進(jìn)行等功能。
[0071]接著，用圖3及圖4對坐標(biāo)輸入部I上載置有異物并且基準(zhǔn)值(BASE)通過加權(quán)平均持續(xù)被更新后除去異物時的動作進(jìn)行說明。
[0072]圖4 (b)表示坐標(biāo)輸入部I上載置有異物并且在基準(zhǔn)值(BASE)通過加權(quán)平均持續(xù)地被更新后除去異物時的圖3所示的控制流程的步驟Sll以后的處理次數(shù)的控制部3的AD值、基準(zhǔn)值(BASE)、差分值(DIF_AD)、新的基準(zhǔn)值(N_BASE)的運(yùn)算結(jié)果的推移。在圖4 (b)中，將操作體或者異物接觸了時的ADC信號的值例示為768，將操作體或者異物未接觸時的ADC信號的值例示為256，將基準(zhǔn)值(BASE)的初次的值例示為768，將接觸閾值(T_ON)例示為448，將異常修正檢測閾值(M_OFF)例示為O。
[0073]如前所述那樣、在坐標(biāo)輸入部I上載置有異物的狀態(tài)下，為基準(zhǔn)值(BASE)與對坐標(biāo)輸入部I的非接觸狀態(tài)相比較變?yōu)檩^大的狀態(tài)，為異物引起的接觸檢知的輸出未出現(xiàn)的狀態(tài)。
[0074]在上述的狀態(tài)下從坐標(biāo)輸入部I除去了異物的情況下(圖4 (b)第3次)，位于載置有異物的坐標(biāo)附近的電容檢測部Ia的靜電電容由于異物被除去而減少。
[0075]因此，控制部3在步驟SI中取得的ADC信號的值也相應(yīng)于在電容測量部2中測量到的靜電電容而變?yōu)檩^小的值。在步驟S2中通過雜音去除處理等向測量信號即AD值進(jìn)行轉(zhuǎn)換。在步驟S3中將AD值存儲于與多個電容檢測部Ia中的每個的坐標(biāo)信息對應(yīng)的測量信號存儲區(qū)域，但該AD值也相應(yīng)于ADC信號的值變?yōu)檩^小的值。
[0076]在步驟S4中計(jì)算AD值與所存儲的基準(zhǔn)值(BASE)之差作為數(shù)據(jù)信號即差分值(DIF_AD)。在步驟S5中，將在步驟S4中計(jì)算出的差分值(DIF_AD)存儲于與多個電容檢測部Ia中的每個的坐標(biāo)信息對應(yīng)的數(shù)據(jù)信號存儲區(qū)域。
[0077]在步驟S6中，將差分值(DIF_AD)與判斷對輸入裝置100的輸入操作所用的接觸有無的基準(zhǔn)的接觸閾值(Τ_0Ν)進(jìn)行比較。
[0078]AD值減少，因此差分值(DIF_AD)的值變?yōu)樨?fù)的數(shù)值并且變得比接觸閾值(Τ_0Ν)小，所以在步驟S8中將表示非接觸的功能碼作為控制信號從控制部3向接口部4輸出并向步驟S9轉(zhuǎn)移。
[0079]在步驟S9中，向?qū)Ω禄鶞?zhǔn)值(BASE)的時間間隔進(jìn)行計(jì)量的時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值加I。在步驟SlO中，判定時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值是否達(dá)到了表示規(guī)定的時間間隔的值，在時間間隔計(jì)數(shù)器(INTV)的值達(dá)到了表示規(guī)定的時間間隔的值的情況下向步驟Sll轉(zhuǎn)移。
[0080]在步驟Sll中，重新進(jìn)行差分值(DIF_AD)與判斷對輸入裝置100的輸入操作所用的接觸有無的基準(zhǔn)的接觸閾值(Τ_0Ν)的比較，但如前所述那樣除去了異物，因此差分值(DIF_AD)的值變得比接觸閾值(Τ_0Ν)小，并向步驟S13轉(zhuǎn)移。
[0081]在步驟S13中，將差分值(DIF_AD)與異常修正檢測閾值(M_0FF)進(jìn)行比較，但差分值(DIFF_AD)的值成為負(fù)的值并比異常修正檢測閾值(M_0FF)小，所以向步驟S14轉(zhuǎn)移。
[0082]在步驟S14中，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定得較小(在本實(shí)施例中為I)。轉(zhuǎn)移到步驟S16，使用所設(shè)定的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)基于(式I)計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)。
[0083]在步驟S14中，將計(jì)算新的基準(zhǔn)值(N_BASE)時的加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)設(shè)定得較小(在本實(shí)施例中為1)，所以在步驟S16中計(jì)算的新的基準(zhǔn)值(N_BASE)如圖4 (b)所示那樣被快速地更新(圖4 (b)的情況為第3次以后)，達(dá)到能夠與下一操作對應(yīng)的狀態(tài)。
[0084]如以上說明，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置100，具有:坐標(biāo)輸入部1，具有多個電容檢測部la，用于操作體進(jìn)行接近操作；電容測量部2，測量多個電容檢測部Ia中的每個的靜電電容，將測量到的靜電電容AD轉(zhuǎn)換并作為測量信號輸出；以及控制部3，控制電容測量部2，運(yùn)算測量信號并計(jì)算數(shù)據(jù)信號，并且將該數(shù)據(jù)信號與電容檢測部Ia的坐標(biāo)信息對應(yīng)而存儲，基于運(yùn)算的結(jié)果輸出控制信號，控制部3以恒定的時間間隔計(jì)算指定的基準(zhǔn)值與數(shù)據(jù)信號的差分值，對數(shù)據(jù)信號和指定的基準(zhǔn)值進(jìn)行加權(quán)平均處理并作為新的基準(zhǔn)值而更新并存儲，所以在坐標(biāo)輸入部I上載置有異物等這種情況下，基準(zhǔn)值持續(xù)地通過加權(quán)平均來修正，并且基準(zhǔn)值接近數(shù)據(jù)信號的值，所以能夠使由誤檢知引起的輸出信號停止。另外，根據(jù)差分值變更在加權(quán)平均處理中賦予的權(quán)重，所以接觸檢測時使加權(quán)平均的加權(quán)加重來謀求基準(zhǔn)值的穩(wěn)定化，并且因在坐標(biāo)輸入部I上載置有異物并且基準(zhǔn)值持續(xù)地通過加權(quán)平均被更新之后除去異物等、被持續(xù)修正過的基準(zhǔn)值需要再設(shè)定的情況下，減輕加權(quán)平均的加權(quán)，能夠以短時間進(jìn)行基準(zhǔn)值的再設(shè)定，所以能夠快速地復(fù)原為正常動作。
[0085]加權(quán)平均的權(quán)重(WEIGHT)被分為較大的值的情況(在本實(shí)施例中為16)、較小的值的情況(在本實(shí)施例中為I)、及較大的值與較小的值的中間的值(在本實(shí)施例中為8)的至少三個大小，控制部3進(jìn)行指定的基準(zhǔn)值與數(shù)據(jù)信號的比較，獲得差分值，并且基于將該差分值與接觸閾值進(jìn)行了比較的結(jié)果確定權(quán)重，所以，能夠相應(yīng)于檢測出的狀態(tài)變更更新基準(zhǔn)值的速度。
[0086]基于差分值與接觸閾值及異常修正檢測閾值的比較結(jié)果確定權(quán)重，所以能夠基于動作狀況恰當(dāng)?shù)卦O(shè)定更新基準(zhǔn)值的速度。差分值比接觸閾值大的情況下，將權(quán)重設(shè)為大，所以即使在進(jìn)行了緩慢的操作的情況下也能夠穩(wěn)定地進(jìn)行接觸輸入動作。另外，在差分值比接觸閾值小的情況下，基于對差分值進(jìn)行了與異常修正檢測閾值的比較的結(jié)果來確定權(quán)重，所以能夠相應(yīng)于檢測出異常修正的情況下的處理變更更新基準(zhǔn)值的速度。在差分值比異常修正檢測閾值小的情況下將權(quán)重設(shè)為小，所以能夠以短時間進(jìn)行基準(zhǔn)值的再設(shè)定，能夠快速地復(fù)原為正常動作。
[0087]通過以上，根據(jù)本發(fā)明，能夠提供能夠從由異物等引起的誤檢知復(fù)原的輸入裝置。
[0088]如以上所述，對本發(fā)明的實(shí)施方式涉及的輸入裝置100進(jìn)行了具體地說明，但本發(fā)明并不限定于上述的實(shí)施方式，在不脫離主旨的范圍內(nèi)能夠進(jìn)行各種變更而實(shí)施。例如能夠如下那樣變形而實(shí)施，這些實(shí)施方式也屬于本發(fā)明的技術(shù)的范圍。
[0089](I)在本實(shí)施方式中，示出了輸入裝置100和外部設(shè)備5經(jīng)由接口部4而連接的例子并進(jìn)行了說明，但也可以不具備接口部4而是控制部3與外部設(shè)備5直接連接。
[0090](2)在本實(shí)施方式中，關(guān)于控制部3使用的數(shù)據(jù)，示出了具體的數(shù)值并進(jìn)行了說明，但也可以相應(yīng)于裝入的設(shè)備、設(shè)想的使用狀態(tài)，適當(dāng)改變值來實(shí)施。
[0091](3)在本實(shí)施方式中，對加權(quán)平均的權(quán)重被分為較大的值的情況、較小的值的情況、及較大的值與較小的值的中間的值這三個大小的情況進(jìn)行了說明，但也可以根據(jù)所使用的設(shè)備、實(shí)際的動作狀態(tài)等進(jìn)一步設(shè)定多的值。
【權(quán)利要求】
1.一種輸入裝置，其特征在于，具有: 坐標(biāo)輸入部，具有多個電容檢測部，用于操作體進(jìn)行接近操作； 電容測量部，測量每個上述多個電容檢測部的靜電電容，將測量到的靜電電容AD轉(zhuǎn)換并作為測量信號輸出；以及 控制部，控制上述電容測量部，運(yùn)算上述測量信號并計(jì)算數(shù)據(jù)信號，并且使該數(shù)據(jù)信號與上述電容檢測部的坐標(biāo)信息對應(yīng)而存儲，并基于上述運(yùn)算的結(jié)果輸出控制信號， 上述控制部以恒定的時間間隔，計(jì)算指定的基準(zhǔn)值與上述數(shù)據(jù)信號的差分值，對上述數(shù)據(jù)信號和上述指定的基準(zhǔn)值進(jìn)行加權(quán)平均處理并作為新的基準(zhǔn)值而更新并存儲，并且根據(jù)上述差分值變更在上述加權(quán)平均處理中賦予的權(quán)重。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于， 上述權(quán)重至少被分為三個大小，基于將上述差分值與接觸閾值進(jìn)行了比較的結(jié)果確定上述權(quán)重。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輸入裝置，其特征在于， 在上述差分值比上述接觸閾值大的情況下，將上述權(quán)重設(shè)為大，在上述差分值比上述接觸閾值小的情況下，對上述差分值進(jìn)行與異常修正檢測閾值的比較，在上述差分值比上述異常修正檢測閾值小的情況下，將上述權(quán)重設(shè)為小。
【文檔編號】G06F11/07GK103577012SQ201310302968
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年7月18日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月8日
【發(fā)明者】中島智, 早坂哲, 遠(yuǎn)藤新一 申請人:阿爾卑斯電氣株式會社