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      一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法

      文檔序號:6507903閱讀:302來源:國知局
      一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法
      【專利摘要】本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域,涉及一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法;該方法將大規(guī)模純電阻網(wǎng)絡(luò)圖建模為非混合無向簡單圖,將二維平面圖映射成一維分布,根據(jù)處理后的一維分布的情況來判定兩圖是否同構(gòu)。本發(fā)明方法對無向非混合簡單圖具有判斷結(jié)果準(zhǔn)確、快速的特點(diǎn),特別是對于大規(guī)模無向非混合簡單圖,所述方法的速度明顯快于目前性能較好的Nauty方法,能很好地應(yīng)用于大規(guī)模集成電路中相同子電路的判定、有機(jī)化學(xué)中同分異構(gòu)體的判定等領(lǐng)域。
      【專利說明】-種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域,具體涉及一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002] 隨著集成電路規(guī)模的日益增大,從門級到功能模塊級的子電路提取開始應(yīng)用于 EDA領(lǐng)域,相關(guān)算法將逐漸成為研究的熱點(diǎn)。所述提取的目的是檢測目標(biāo)電路中是否含有指 定功能或結(jié)構(gòu)的模塊,并確定該模塊的數(shù)量和位置;但是,至今尚無高效的算法能夠滿足實 際工程的需要。目前,解決上述問題的思路通常都是將指定功能或者結(jié)構(gòu)的電路建模成圖, 再通過判斷兩圖是否同構(gòu)來解決子電路提取的問題。
      [0003] 所述"圖"是一種具有高度抽象和概括的圖形,簡單地說就是一些點(diǎn)以及將所述 點(diǎn)在適當(dāng)?shù)牡胤竭B接起來得到的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);而圖論正是研究這些圖性質(zhì)與應(yīng)用的學(xué)科。從 1736年歐拉針對著名的七橋問題發(fā)表的論文《依據(jù)幾何位置的解題方法》到1878年西爾 威斯特第一次引入"圖"這一概念,再至哥尼希發(fā)表第一本圖論專著《有限圖與無限圖的理 論》,經(jīng)過漫長的發(fā)展,圖論理論在得到不斷豐富同時,已逐漸滲透到自然科學(xué)、工程技術(shù)、 經(jīng)濟(jì)管理和社會問題等領(lǐng)域并發(fā)揮著重要的作用,已經(jīng)成為數(shù)學(xué)的一個獨(dú)立分支,可應(yīng)用 于研究任何一個包含某種二元關(guān)系的系統(tǒng),正成為一門富有趣味而又應(yīng)用廣泛的學(xué)科。
      [0004] 圖論學(xué)科發(fā)展的整個過程中,學(xué)者在該領(lǐng)域中提出了不少問題,有些已成功得到 解決,而有些仍然有待深入探討。
      [0005] 而圖的同構(gòu)判定是圖論學(xué)科中的基本問題之一,也是圖論學(xué)科中的諸多難題之 一,由于其在電子工程中相同電路和開關(guān)拓?fù)涞淖R別、有機(jī)化學(xué)中同分異構(gòu)體的判定、漢子 研究中甲骨文的識別、機(jī)械設(shè)計中運(yùn)動鏈的識別以及軟件設(shè)計中補(bǔ)丁的比較等很多領(lǐng)域有 著廣泛的應(yīng)用,因此其又是有著很好應(yīng)用背景而值得研究的重要課題;而能夠找到高效的 同構(gòu)判定算法,對解決上述實際問題也具有重大意義。
      [0006] 目前理論上還無法證明圖的同構(gòu)問題究竟屬于Np完全問題還是P問題,眾多學(xué)者 對該問題予以了關(guān)注和研究,提出了各種同構(gòu)判定算法。當(dāng)前圖的同構(gòu)判定算法主要有改 進(jìn)的頂點(diǎn)順序交換法,頂點(diǎn)度數(shù)序列法,基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的算法,基于搜索的算法等幾類,其 中基于搜索的算法在實際應(yīng)用中表現(xiàn)最佳。所述的基于搜索的算法主要有Ullmann算法、 SD算法氣VP算法和Nauty算法 [1°]等;對上述算法的研究發(fā)現(xiàn),該類算法的基本思路是在 尋找同構(gòu)的過程中將頂點(diǎn)進(jìn)行細(xì)分,然后基于上述細(xì)分子集展開搜索,通過搜索得到圖的 頂點(diǎn)對應(yīng)關(guān)系來判定同構(gòu)。
      [0007] 目前,幾類同構(gòu)判定算法從不同的角度對圖的同構(gòu)判定展開了研究;所述算法適 用范圍也各不相同,在判定中體現(xiàn)出各自的優(yōu)勢的同時,也各有不足之處。一些算法對特定 的圖判定速度快,但卻對其它類型的圖失效;一些算法雖然適用范圍廣,但速度普遍較慢; 一些算法僅適用于小規(guī)模的圖等等;當(dāng)前還無法確定圖的同構(gòu)判定問題已得到解決。雖然 很難完全解決上述問題,但是尋求該問題的更好的方法很值得研究,下一步研究的方向是 在現(xiàn)有基礎(chǔ)上實現(xiàn)判定范圍的擴(kuò)大和判定規(guī)|旲的增大及提1?效率。
      [0008] 與本發(fā)明有關(guān)的參考文獻(xiàn):
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      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0020] 本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷或不足,提供一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷 方法。
      [0021] 本發(fā)明所述的譜分析為對空間數(shù)據(jù)進(jìn)行格局、尺度分析的一種數(shù)學(xué)方法;本發(fā)明 通過將由大規(guī)模純電阻電路圖建模得到的二維平面圖映射成一維分布,根據(jù)處理后的一維 分布的情況來判定兩圖是否同構(gòu),完成對大規(guī)模純電阻網(wǎng)絡(luò)圖進(jìn)行同構(gòu)判定,本發(fā)明的判 斷方法結(jié)果準(zhǔn)確,且速度非???;尤其是建模成的grid方格圖,其計算復(fù)雜度極大降低, 判斷時間隨圖的頂點(diǎn)數(shù)的增長呈線性變化,其性能遠(yuǎn)高于目前在同構(gòu)算法中相對較快的 Nauty算法;本發(fā)明的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,對大規(guī)模集成電路中的子電路提取 過程的效率提升具有重要的意義。
      [0022] 本發(fā)明的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其技術(shù)方案包括:
      [0023] 對圖的Laplace矩陣進(jìn)行譜分析,計算出第二小特征值所對應(yīng)的特征向量,對該 特征向量進(jìn)行處理,比較兩處理后的特征向量是否相等,若相等則兩圖同構(gòu),其中,對特征 向量的處理過程是先進(jìn)行取絕對值,再對絕對值進(jìn)行升序排列,若兩處理后的特征向量相 等,則兩圖同構(gòu);
      [0024] 若不相等,則對升序排列的第二小特征值對應(yīng)的特征向量進(jìn)行劃分組成粗化圖, 對粗化圖進(jìn)行譜分析判斷同構(gòu),若粗化圖不同構(gòu),則兩圖不同構(gòu);若粗化圖同構(gòu),則再對新 點(diǎn)里的子圖進(jìn)行譜分析判斷同構(gòu),若子圖也一一同構(gòu),則兩圖同構(gòu),其中,對升序排列的第 二小特征值對應(yīng)的特征向量,將值相等的對應(yīng)頂點(diǎn)劃分在一起,形成新點(diǎn),用新點(diǎn)構(gòu)造出粗 化圖,對粗化圖進(jìn)行譜分析;再對新點(diǎn)里的子圖進(jìn)行譜分析,一一對應(yīng)同構(gòu)才判定子圖同 構(gòu),當(dāng)粗化圖和子圖都同構(gòu),則兩圖同構(gòu)。
      [0025] 具體而言,本發(fā)明的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,將大規(guī)模純電阻 網(wǎng)絡(luò)圖建模為非混合無向簡單圖,將二維平面圖映射成一維分布,根據(jù)處理后的一維分布 的情況來判定兩圖是否同構(gòu),其包括步驟(如圖1所示):
      [0026] 步驟1 :分別讀取純電阻網(wǎng)絡(luò)的電路網(wǎng)表文件spl和sp2,根據(jù)網(wǎng)表信息將電路 圖轉(zhuǎn)化為非混合無向簡單圖T = (V,E)來表示,其中頂點(diǎn)集合V表示電路節(jié)點(diǎn),而邊集合 E表示連接節(jié)點(diǎn)的電阻;圖中每條邊的權(quán)重e(i,j)可定義為電路節(jié)點(diǎn)i和j之間的電導(dǎo), J = !E-;計算出上述兩圖g和h相應(yīng)的Laplace矩陣Ll和L2 ; k rk
      [0027] 圖T的Laplace矩陣L定義如下:
      [0028]

      【權(quán)利要求】
      1. 一種基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,將大規(guī)模純電阻網(wǎng)絡(luò)圖建模為非 混合無向簡單圖,將二維平面圖映射成一維分布,根據(jù)處理后的一維分布的情況來判定兩 圖是否同構(gòu),其包括: 對圖的Laplace矩陣進(jìn)行譜分析,計算出第二小特征值所對應(yīng)的特征向量,對該特征 向量進(jìn)行處理,比較兩處理后的特征向量是否相等,若相等則兩圖同構(gòu); 若不相等,則對升序排列的第二小特征值對應(yīng)的特征向量進(jìn)行劃分組成粗化圖,對粗 化圖進(jìn)行譜分析判斷同構(gòu),若粗化圖不同構(gòu),則兩圖不同構(gòu);若粗化圖同構(gòu),則再對新點(diǎn)里 的子圖進(jìn)行譜分析判斷同構(gòu),若子圖也一一同構(gòu),則兩圖同構(gòu)。
      2. 按權(quán)利要求1所述的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,所述的對特征向 量的處理其過程是,先進(jìn)行取絕對值,再對絕對值進(jìn)行升序排列,若兩處理后的特征向量相 等,則兩圖同構(gòu)。
      3. 按權(quán)利要求1所述的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,所述的對升序排 列的第二小特征值對應(yīng)的特征向量劃分,是將值相等的對應(yīng)頂點(diǎn)劃分在一起,形成新點(diǎn),用 新點(diǎn)構(gòu)造出粗化圖,對粗化圖進(jìn)行譜分析;再對新點(diǎn)里的子圖進(jìn)行譜分析,一一對應(yīng)同構(gòu)才 判定子圖同構(gòu),當(dāng)粗化圖和子圖都同構(gòu),則兩圖同構(gòu)。
      4. 按權(quán)利要求1所述的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,其包括如下具體 步驟: 步驟1 :分別讀取純電阻網(wǎng)絡(luò)的電路網(wǎng)表文件spl和sp2,根據(jù)網(wǎng)表信息將電路圖 轉(zhuǎn)化為非混合無向簡單圖T = (V,E)來表示,其中頂點(diǎn)集合V表示電路節(jié)點(diǎn),而邊集合 E表示連接節(jié)點(diǎn)的電阻;圖中每條邊的權(quán)重e(i,j)定義為電路節(jié)點(diǎn)i和j之間的電導(dǎo), W'(A./)=;計算出上述兩圖g和h相應(yīng)的Laplace矩陣Ll和L2 ; k h 圖T的Laplace矩陣L定義如下:
      步驟2 :同構(gòu)圖的頂點(diǎn)數(shù)和邊數(shù)都相等;首先判斷兩圖的頂點(diǎn)數(shù)Vl和V2或者邊數(shù)El 和E2是否相等,若不相等,則判定兩圖不同構(gòu);若均相等,則執(zhí)行步驟3 ; 步驟3 :對上述兩圖的Laplace矩陣進(jìn)行譜分析;利用圖的Laplace矩陣進(jìn)行特征分解 后將得到的特征向量進(jìn)行分析,即通過計算矩陣的第二小特征值對應(yīng)的特征向量q,將該特 征向量的值取絕對值后進(jìn)行升序排列得到一維分布V ;若一維分布完全相同,即經(jīng)過此處 理后的兩特征向量V完全相等,則判定兩圖同構(gòu);若不相等,則執(zhí)行步驟4 ; 步驟4:由圖映射的一維分布反映出圖頂點(diǎn)的聚類性,將圖T在一維分布的相鄰兩點(diǎn) 距離階躍處進(jìn)行劃分,得到劃分子集{Pl,P2,…,P1J ;把每個劃分Pi里的頂點(diǎn)聚合在一起, 形成一個新點(diǎn),用所有新點(diǎn)構(gòu)成一個粗化圖coarseGraph,對兩個電路圖分別形成的粗化圖 coarseGraphl和coarseGraph2再進(jìn)行譜分析判斷是否同構(gòu); 聚合每個劃分Pi里的頂點(diǎn)從而形成新點(diǎn),用新點(diǎn)構(gòu)成粗化圖coarseGraph,得到粗化圖 的 Laplace 矩陣 CLl 和 CL2 ; 步驟5 :若上述粗化圖coarseGraphl和coarseGraph2的頂點(diǎn)數(shù)分別等于原圖的頂點(diǎn) 數(shù),則判定兩圖同構(gòu);若上述兩個粗化圖的頂點(diǎn)數(shù)不相等,則判定兩圖不同構(gòu);否則對粗化 圖執(zhí)行步驟3,判定粗化圖是否同構(gòu);若粗化圖判定為非同構(gòu),則原圖非同構(gòu),若粗化圖判 定為同構(gòu),則執(zhí)行步驟6; 步驟6 :將上述步驟4中得到的每個劃分子集Pi里的頂點(diǎn)再構(gòu)造成子圖subGraphl和 SUbGraph2,執(zhí)行步驟3,分別對兩個電路圖對應(yīng)的兩個劃分子集里的子圖一一對應(yīng)進(jìn)行譜 分析,判斷是否同構(gòu),若所有子圖均一一對應(yīng)同構(gòu),則判定原圖同構(gòu),若不同構(gòu),則判定原圖 不同構(gòu)。
      5. 按權(quán)利要求4所述的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,所述步驟4中,聚 合每個劃分Pi里的頂點(diǎn)形成新點(diǎn),用新點(diǎn)構(gòu)成粗化圖coarseGraph,得到粗化圖的Laplace 矩陣CLl和CL2的分步驟如下: 分步驟4. 1 :首先初始化CLl和CL2,使其分別等于原圖的Laplace矩陣Ll和L2 ; 分步驟4.2 :對每一個劃分子集Pi,標(biāo)記Pi子集里的第一個元素為新點(diǎn)合并點(diǎn) (merge),即每個Pi子集里的其他點(diǎn)都合并到這個點(diǎn),形成新點(diǎn); 分步驟4. 3 :將每個Pi子集里的其他點(diǎn)都合并到這個點(diǎn)的方法是:對于圖T1,分別將每 個Pi子集里的其他點(diǎn)在CLl中的所在行累加到合并點(diǎn)(merge)在CLl中的所在行,所在列 累加到合并點(diǎn)(merge)在CLl中的所在列,并且記錄下每個P i子集里的其他點(diǎn),得到Iistl ; 對于圖T2,采用同樣的方法處理CL2,相應(yīng)得到list2 ; 分步驟4. 4 :刪除上一個步驟里記錄下來的Iistl和list2里的所有點(diǎn)在CLl和CL2中 的行與列;得到最終粗化圖coarseGraphl的Laplace矩陣CLl和粗化圖coarseGraph2的 Laplace 矩陣 CL2。
      6. 按權(quán)利要求4所述的基于譜分析的圖同構(gòu)判斷方法,其特征在于,所述步驟6中,包 括以下分步驟: 分步驟6. 1 :首先初始化sLl和sL2,使其分別等于原圖的Laplace矩陣Ll和L2 ; 分步驟6. 2 :對于原圖Tl的第一個劃分子集P1,找到所有頂點(diǎn)中不屬于該劃分子集里 的頂點(diǎn)集,記作vlistl,在sLl中刪除vlistl中所有頂點(diǎn)的所在行和所在列,得到Tl的第 一個劃分子圖所對應(yīng)的Laplace矩陣sLl ;采用同樣的方法得到T2的第一個劃分子圖所對 應(yīng)的Laplace矩陣sL2 ; 分步驟6. 3 :對Tl和T2的對應(yīng)第一個劃分子圖進(jìn)行譜分析,執(zhí)行上述步驟3,判斷是否 同構(gòu);若同構(gòu)則執(zhí)行分步驟6. 4,若不同構(gòu),則判定子圖不同構(gòu),判定原圖不同構(gòu); 分步驟6. 4 :采用分步驟6. 2中的方法對Tl和T2的其他對應(yīng)劃分子圖得到相應(yīng)的 Laplace矩陣,并采用分步驟6. 3的方法判斷對應(yīng)子圖是否同構(gòu)。
      【文檔編號】G06F17/50GK104376139SQ201310357552
      【公開日】2015年2月25日 申請日期:2013年8月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月15日
      【發(fā)明者】曾璇, 謝敏, 楊帆 申請人:復(fù)旦大學(xué)
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