一種測(cè)試rfid標(biāo)簽靈敏度的裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，包括靈敏度測(cè)試主箱和靈敏度測(cè)試子箱；靈敏度測(cè)試主箱包括封閉的主瓦楞紙箱，主瓦楞紙箱的頂面外壁中部為產(chǎn)品放置區(qū)，主瓦楞紙箱的外壁除產(chǎn)品放置區(qū)外均包覆有主箱鋁箔，主瓦楞紙箱的底面內(nèi)壁中部為天線放置區(qū)，天線放置區(qū)與產(chǎn)品放置區(qū)正對(duì)，主瓦楞紙箱內(nèi)壁除天線放置區(qū)和與天線放置區(qū)正對(duì)的區(qū)域外均貼有主箱吸波棉；靈敏度測(cè)試子箱包括下端開口的子瓦楞紙箱且開口端向下將靈敏度測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)完全罩住，子瓦楞紙箱的外壁均包覆有子箱鋁箔，子瓦楞紙箱的內(nèi)壁均貼有子箱吸波棉；測(cè)試天線放置在天線放置區(qū)，RFID產(chǎn)品放置在產(chǎn)品放置區(qū)。該靈敏度的裝置投資省、操作方便，抗干擾性好。
【專利說明】 —種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，屬于非接觸式的自動(dòng)識(shí)別標(biāo)簽【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0002]無(wú)線射頻識(shí)別標(biāo)簽(RFID)技術(shù)已廣泛用于高鐵、地鐵的車票制造。無(wú)線射頻識(shí)別標(biāo)簽包括芯片和鋁箔天線，芯片的引腳與鋁箔天線的引腳電連接。
[0003]無(wú)線射頻識(shí)別標(biāo)簽(RFID)的性能一般由其靈敏度來體現(xiàn)，在無(wú)線電行業(yè)里，測(cè)試靈敏度一般采用標(biāo)準(zhǔn)的3米、5米或7米的微波暗室進(jìn)行，微波暗室的墻壁上貼滿吸波棉，測(cè)試天線防在暗室中，由于暗室為3米或以上見方的空間構(gòu)成，且測(cè)試時(shí)不允許有人在暗室中，故每測(cè)試一次產(chǎn)品，都需要有人打開暗室的門，將需要測(cè)試的產(chǎn)品放到產(chǎn)品支架上，然后出暗室并將門關(guān)上后進(jìn)行測(cè)試。此種測(cè)試方式操作極其不便，一般用于實(shí)驗(yàn)室，而無(wú)法用于量產(chǎn)中的靈敏度測(cè)試。
[0004]還有另外一種采用半米法或I米法來進(jìn)行測(cè)試，即在自由空間中將產(chǎn)品距離測(cè)試天線半米或I米的距離進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試非常方便，但由于在自由空間，尤其是在有生產(chǎn)RFID標(biāo)簽的車間，其測(cè)試極易受到其它產(chǎn)品的影響，另外由于目前手機(jī)使用頻率段也會(huì)落在RFID的工作頻率段內(nèi)，故此電磁波也會(huì)對(duì)測(cè)試造成影響。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，提供一種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，投資省、操作方便，且抗干擾性好。
[0006]為解決以上技術(shù)問題，本實(shí)用新型的一種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，包括靈敏度測(cè)試主箱和靈敏度測(cè)試子箱；所述靈敏度測(cè)試主箱包括封閉的主瓦楞紙箱，所述主瓦楞紙箱的頂面外壁中部為產(chǎn)品放置區(qū)，所述主瓦楞紙箱的外壁除產(chǎn)品放置區(qū)外均包覆有主箱鋁箔，所述主瓦楞紙箱的底面內(nèi)壁中部為天線放置區(qū)，所述天線放置區(qū)與所述產(chǎn)品放置區(qū)正對(duì)，所述主瓦楞紙箱的內(nèi)壁除天線放置區(qū)和與天線放置區(qū)正對(duì)的區(qū)域外均貼有主箱吸波棉；所述靈敏度測(cè)試子箱包括下端開口的子瓦楞紙箱且開口端向下將靈敏度測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)完全罩住，所述子瓦楞紙箱的外壁均包覆有子箱鋁箔，所述子瓦楞紙箱的內(nèi)壁均貼有子箱吸波棉；測(cè)試天線放置在靈敏度測(cè)試主箱的天線放置區(qū)，待測(cè)試的RFID產(chǎn)品放置在靈敏度測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)。
[0007]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型取得了以下有益效果:靈敏度測(cè)試主箱的內(nèi)壁安裝有吸波棉，外壁裹覆有鋁箔，測(cè)試主箱的底部安裝有測(cè)試天線，以模擬無(wú)電磁干擾的空間，在測(cè)試主箱的頂部留一小塊區(qū)域不裝吸波棉且不覆鋁箔作為產(chǎn)品放置區(qū)，其上放置RFID產(chǎn)品，然后再將靈敏度測(cè)試子箱罩在產(chǎn)品上進(jìn)行測(cè)試，靈敏度測(cè)試子箱同樣內(nèi)裝吸波棉，夕卜裹鋁箔，且其大小完全覆蓋住測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)；測(cè)試主箱和子箱外壁均采用鋁箔覆蓋，可以反射外界的電磁波，避免外界環(huán)境的干擾，測(cè)試箱內(nèi)除產(chǎn)品放置區(qū)外全部由吸波棉覆蓋，將測(cè)試天線輻射至其它方向的電磁波吸收掉，未吸收的部分經(jīng)過箱外的鋁箔再次反射并進(jìn)一步被吸波棉吸收，達(dá)到輻射至產(chǎn)品的電磁波沒有干擾，如此即可形成類似暗室的效果。該裝置采用簡(jiǎn)單的材料構(gòu)造一個(gè)無(wú)干擾且操作方便的RFID靈敏度測(cè)試環(huán)境，可保證批量生產(chǎn)中的靈敏度測(cè)試的準(zhǔn)確性和方便性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明，附圖僅提供參考與說明用，非用以限制本實(shí)用新型。
[0009]圖1為本實(shí)用新型測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置的立體圖。
[0010]圖2為圖1的立體分解圖。
[0011]圖3為圖1的剖視圖。
[0012]圖中:1.靈敏度測(cè)試主箱；la.主瓦楞紙箱；lb.主箱鋁箔；Ic.主箱吸波棉；Id.產(chǎn)品放置區(qū)；Ie.天線放置區(qū)；2.靈敏度測(cè)試子箱；2a.子瓦楞紙箱；2b.子箱鋁箔；2c.子箱吸波棉；3.測(cè)試天線；4.RFID產(chǎn)品。
【具體實(shí)施方式】
[0013]如圖1至圖3所示，本實(shí)用新型的測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，包括靈敏度測(cè)試主箱I和靈敏度測(cè)試子箱2 ;靈敏度測(cè)試主箱I包括封閉的主瓦楞紙箱la，主瓦楞紙箱Ia的頂面外壁中部為產(chǎn)品放置區(qū)ld，主瓦楞紙箱Ia的外壁除產(chǎn)品放置區(qū)Id外均包覆有主箱鋁箔lb，主瓦楞紙箱Ia的底面內(nèi)壁中部為天線放置區(qū)le，天線放置區(qū)Ie與產(chǎn)品放置區(qū)Id正對(duì)，主瓦楞紙箱Ia的內(nèi)壁除天線放置區(qū)Ie和與天線放置區(qū)正對(duì)的區(qū)域外均貼有主箱吸波棉Ic ;靈敏度測(cè)試子箱2包括下端開口的子瓦楞紙箱2a且開口端向下將靈敏度測(cè)試主箱I的產(chǎn)品放置區(qū)Id完全罩住，子瓦楞紙箱2a的外壁均包覆有子箱鋁箔2b，子瓦楞紙箱2a的內(nèi)壁均貼有子箱吸波棉2c ;測(cè)試天線3放置在靈敏度測(cè)試主箱I的天線放置區(qū)le，待測(cè)試的RFID產(chǎn)品4放置在靈敏度測(cè)試主箱I的產(chǎn)品放置區(qū)Id。
[0014]測(cè)試主箱的底部裝有測(cè)試天線3，在測(cè)試主箱的頂部留一小塊區(qū)域不裝吸波棉且不覆鋁箔作為產(chǎn)品放置區(qū)ld，其產(chǎn)品放置區(qū)Id放置RFID產(chǎn)品4，然后再將靈敏度測(cè)試子箱2罩在產(chǎn)品上進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試主箱和子箱外壁均采用鋁箔覆蓋，可以反射外界的電磁波，避免外界環(huán)境的干擾，測(cè)試箱內(nèi)除產(chǎn)品放置區(qū)Id外全部由吸波棉覆蓋，將測(cè)試天線3輻射至其它方向的電磁波吸收掉，未吸收的部分經(jīng)過箱外的鋁箔再次反射并進(jìn)一步被吸波棉吸收，達(dá)到輻射至產(chǎn)品的電磁波沒有干擾，如此即可形成類似暗室的效果，可保證批量生產(chǎn)中的靈敏度測(cè)試的準(zhǔn)確性和方便性。
[0015]以上所述僅為本實(shí)用新型之較佳可行實(shí)施例而已，非因此局限本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍。除上述實(shí)施例外，本實(shí)用新型還可以有其他實(shí)施方式。凡采用等同替換或等效變換形成的技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型要求的保護(hù)范圍內(nèi)。本實(shí)用新型未經(jīng)描述的技術(shù)特征可以通過或采用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，在此不再贅述。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試RFID標(biāo)簽靈敏度的裝置，其特征在于:包括靈敏度測(cè)試主箱和靈敏度測(cè)試子箱；所述靈敏度測(cè)試主箱包括封閉的主瓦楞紙箱，所述主瓦楞紙箱的頂面外壁中部為產(chǎn)品放置區(qū)，所述主瓦楞紙箱的外壁除產(chǎn)品放置區(qū)外均包覆有主箱鋁箔，所述主瓦楞紙箱的底面內(nèi)壁中部為天線放置區(qū)，所述天線放置區(qū)與所述產(chǎn)品放置區(qū)正對(duì)，所述主瓦楞紙箱的內(nèi)壁除天線放置區(qū)和與天線放置區(qū)正對(duì)的區(qū)域外均貼有主箱吸波棉；所述靈敏度測(cè)試子箱包括下端開口的子瓦楞紙箱且開口端向下將靈敏度測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)完全罩住，所述子瓦楞紙箱的外壁均包覆有子箱鋁箔，所述子瓦楞紙箱的內(nèi)壁均貼有子箱吸波棉；測(cè)試天線放置在靈敏度測(cè)試主箱的天線放置區(qū)，待測(cè)試的RFID產(chǎn)品放置在靈敏度測(cè)試主箱的產(chǎn)品放置區(qū)。
【文檔編號(hào)】G06K7/00GK203433522SQ201320502200
【公開日】2014年2月12日 申請(qǐng)日期:2013年8月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月15日
【發(fā)明者】伯林, 鄧元明 申請(qǐng)人:上揚(yáng)無(wú)線射頻科技揚(yáng)州有限公司