靜電電容式觸摸板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種既抑制檢測(cè)靈敏度的降低，也減小浮置導(dǎo)體的影響的靜電電容式觸摸板。該靜電電容式觸摸板(1)中，驅(qū)動(dòng)電極(27)與檢測(cè)電極(28)按照電容耦合的方式而被配設(shè)在基板(2)的一面，通過向驅(qū)動(dòng)電極施加驅(qū)動(dòng)電壓，根據(jù)電容耦合來通過檢測(cè)電極輸出檢測(cè)電壓，基于該檢測(cè)電極的檢測(cè)電壓對(duì)基板上物體的有無進(jìn)行檢測(cè)，在基板的一面，構(gòu)成為按照避開驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的方式來配設(shè)接地圖案(5)。
【專利說明】靜電電容式觸摸板

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種用于顯示設(shè)備、通信設(shè)備、便攜式設(shè)備等的靜電電容式觸摸板 (touchpad)〇

【背景技術(shù)】
[0002] 靜電電容式觸摸板的電壓施加用的驅(qū)動(dòng)電極與電壓檢測(cè)用的檢測(cè)電極被配置在 基板。若指尖觸碰到操作面上，則驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的靜電電容產(chǎn)生變化，根據(jù)從檢 測(cè)電極中輸出的檢測(cè)電壓的降低，來檢測(cè)指尖的存在、坐標(biāo)。一般來講，靜電電容式觸摸板 在判斷出操作面上沒有手指的情況下，進(jìn)行校準(zhǔn)（calibration)，此時(shí)的檢測(cè)電壓被設(shè)定為 判斷用的基準(zhǔn)電壓。在手指觸碰到操作面上并且檢測(cè)電壓降低的情況下，按照不降低設(shè)定 基準(zhǔn)電壓的方式來限制校準(zhǔn)。
[0003] 然而，有時(shí)在靜電電容式觸摸板的操作面上放置DVD (Digital Versatile Disc， 數(shù)字多功能光盤）等記錄介質(zhì)、錢包、智能手機(jī)等包含浮置導(dǎo)體在內(nèi)的物體。若在操作面上 存在這樣的浮置導(dǎo)體，則通過浮置導(dǎo)體導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的電容耦合變大，且 檢測(cè)電壓變高。此時(shí)，若進(jìn)行校準(zhǔn)，則基準(zhǔn)電壓被設(shè)定為比在操作面上不放置任何物體的情 況還高。因此，在除去了浮置導(dǎo)體的瞬間，檢測(cè)電壓降低為比基準(zhǔn)電壓還低，存在即使沒有 手指也誤檢測(cè)為有手指的情況。
[0004] 作為減少該浮置導(dǎo)體的影響的方法，已知驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極均為在操作面?zhèn)扰?置接地圖案（ground pattern)的結(jié)構(gòu)（例如，參照專利文獻(xiàn)1)。在專利文獻(xiàn)1中所述的靜 電電容式觸摸板中，在操作面上放置了浮置導(dǎo)體的情況下，由于浮置導(dǎo)體與接地圖案進(jìn)行 電容耦合，因此通過浮置導(dǎo)體而導(dǎo)致的驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的電容耦合變小。因此，基 于浮置導(dǎo)體的檢測(cè)電壓的上升被抑制，或者檢測(cè)電壓下降。如上所述，由于若電壓未上升則 不實(shí)施校準(zhǔn)，因此在承載浮置導(dǎo)體時(shí)，導(dǎo)致誤檢測(cè)的校準(zhǔn)不被實(shí)施。
[0005] 在先技術(shù)文獻(xiàn)
[0006] 專利文獻(xiàn)
[0007] 專利文獻(xiàn)1 :日本特開2011-128896號(hào)公報(bào)
[0008] 但是，在專利文獻(xiàn)1所述的靜電電容式觸摸板中，由于在驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之 間配置接地圖案，因此即使在操作面上沒有手指的情況下，驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的電 容耦合也變小。因此，存在指尖觸碰到操作面上時(shí)的電壓的變化變小，檢測(cè)靈敏度降低的問 題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009] 本發(fā)明鑒于這種實(shí)際情況而作出的，其目的在于提供一種既能夠抑制檢測(cè)靈敏度 的降低，也能夠減小浮置導(dǎo)體的影響的靜電電容式觸摸板。
[0010] 本發(fā)明的靜電電容式觸摸板，將驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極按照電容耦合的方式被配設(shè) 在基板的一面，通過向所述驅(qū)動(dòng)電極施加驅(qū)動(dòng)電壓，根據(jù)所述電容耦合從所述檢測(cè)電極中 輸出檢測(cè)電壓，基于該檢測(cè)電極的檢測(cè)電壓對(duì)所述基板上的物體進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，在 所述基板的一面，配設(shè)由多個(gè)接地電極電連接而成的接地圖案，使用所述驅(qū)動(dòng)電極來對(duì)至 少相鄰的接地電極中的一方的接地電極進(jìn)行包圍，并且使用所述檢測(cè)電極來包圍另一方的 接地電極，將所述驅(qū)動(dòng)電極與所述檢測(cè)電極相鄰地配置。根據(jù)此結(jié)構(gòu)，由于接地圖案與驅(qū)動(dòng) 電極以及檢測(cè)電極共同被配設(shè)在基板的一面，因此即使在基板的一面?zhèn)却嬖诟≈脤?dǎo)體，浮 置導(dǎo)體與接地圖案進(jìn)行電容耦合，由此能夠減小介由浮置導(dǎo)體的驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間 的電容耦合。此外，由于接地電極按照避開驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的方式被配設(shè)，因此不 會(huì)對(duì)驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的電容耦合產(chǎn)生影響。因此，既能夠抑制檢測(cè)靈敏度的降低， 也能夠減小浮置導(dǎo)體的影響。
[0011] 此外，本發(fā)明的上述靜電電容式觸摸板中，所述接地圖案具有在縱向以及橫向上 錯(cuò)開半個(gè)間距排列的多個(gè)接地電極，所述驅(qū)動(dòng)電極以及所述檢測(cè)電極的任意一方作為被配 置于在縱向上并列的接地電極周圍的多個(gè)X電極而起作用，任意的另一方作為被配置于在 橫向上并列的接地電極周圍的多個(gè)Y電極而起作用。根據(jù)此結(jié)構(gòu)，在被排列于縱向以及橫 向的多個(gè)接地電極之間，驅(qū)動(dòng)電極以及檢測(cè)電極作為X電極或者Y電極而被配置，在基板的 一面?zhèn)?，能夠?qū)ξ矬w的縱向的位置或者橫向的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0012] 此外，本發(fā)明的上述靜電電容式觸摸板中，所述接地圖案具有沿縱向以及橫向整 齊排列的多個(gè)接地電極，所述驅(qū)動(dòng)電極以及所述檢測(cè)電極的任意一方作為被配置于在縱向 以及橫向上相鄰的接地電極的一方的周圍的多個(gè)X電極而起作用，任意的另一方作為被配 置于在縱向以及橫向上相鄰的電極的另一方的周圍的多個(gè)Y電極而起作用。根據(jù)此結(jié)構(gòu)， 在被排列于縱向以及橫向的多個(gè)接地電極之間，驅(qū)動(dòng)電極以及檢測(cè)電極作為X電極或者Y 電極而被配置，在基板的一面?zhèn)?，能夠?qū)ξ矬w的縱向的位置或者橫向的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0013] 此外，本發(fā)明的上述靜電電容式觸摸板對(duì)所述多個(gè)X電極為所述驅(qū)動(dòng)電極且所述 多個(gè)Y電極為所述檢測(cè)電極的狀態(tài)、與所述多個(gè)X電極為所述檢測(cè)電極且所述多個(gè)Y電極 為所述驅(qū)動(dòng)電極的狀態(tài)進(jìn)行切換。根據(jù)此結(jié)構(gòu)，在基板的一面?zhèn)龋軌驅(qū)ξ矬w的縱向的位置 以及橫向的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0014] 此外，本發(fā)明的上述靜電電容式觸摸板在所述檢測(cè)電壓比基準(zhǔn)電壓低的情況下， 對(duì)將所述檢測(cè)電壓設(shè)定為基準(zhǔn)電壓的校準(zhǔn)進(jìn)行限制。根據(jù)此結(jié)構(gòu)，在基板的一面?zhèn)却嬖谥?尖等電介質(zhì)的情況下不會(huì)進(jìn)行校準(zhǔn)。進(jìn)一步地，在基板的一面?zhèn)却嬖诟≈脤?dǎo)體的情況下，通 過接地圖案與浮置導(dǎo)體之間的電容耦合，檢測(cè)電壓不會(huì)變得比基準(zhǔn)電壓高，校準(zhǔn)也不會(huì)進(jìn) 行。因此，不會(huì)由于校準(zhǔn)而導(dǎo)致設(shè)定異常的基準(zhǔn)電壓。
[0015] 根據(jù)本發(fā)明，通過基板的一面按照避開在驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的方式來配設(shè) 接地圖案，從而既能夠抑制檢測(cè)靈敏度的降低，也能夠減小浮置導(dǎo)體的影響。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016] 圖1是本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板的俯視示意圖。
[0017] 圖2是圖1的沿A-A線的剖面示意圖。
[0018] 圖3是比較例涉及的靜電電容式觸摸板的指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)的說明圖。 [0019] 圖4是本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板的指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)的說明 圖。
[0020] 圖5是現(xiàn)有技術(shù)涉及的靜電電容式觸摸板的指尖的檢測(cè)動(dòng)作的說明圖。
[0021] 圖6是變形例涉及的靜電電容式觸摸板的俯視示意圖。
[0022] 符號(hào)說明：
[0023] 1 靜電電容式觸摸板
[0024] 2 絕緣基板（基板）
[0025] 3 X電極圖案
[0026] 4 Y電極圖案
[0027] 5 接地圖案
[0028] 6 控制部
[0029] 11 一面
[0030] 13 X 電極
[0031] 14 Y 電極
[0032] 15接地電極
[0033] 27驅(qū)動(dòng)電極
[0034] 28檢測(cè)電極
[0035] 50浮置導(dǎo)體
[0036] F 手指

【具體實(shí)施方式】
[0037] 下面，參照附圖來對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)地說明。參照?qǐng)D1，來對(duì)靜電電容 式觸摸板進(jìn)行說明。圖1是本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板的俯視示意圖。圖2是圖 1的沿A-A線的剖面示意圖。另外，在以下的說明中，雖然以手指為靜電電容式觸摸板的檢 測(cè)對(duì)象來進(jìn)行說明，但并不限定于此對(duì)象物。靜電電容式觸摸板的檢測(cè)對(duì)象只要是電介質(zhì) 就可以。
[0038] 圖1以及圖2所示的靜電電容式觸摸板1是用于顯示設(shè)備、通信設(shè)備、便攜式設(shè)備 等各種電子設(shè)備的元件，作為用于對(duì)各種電子設(shè)備進(jìn)行操作的輸入裝置而起作用。靜電電 容式觸摸板1在矩形形狀的絕緣基板2 (基板）的一面11側(cè)，配設(shè)由多個(gè)X電極13構(gòu)成的 X電極圖案（pattern) 3、由多個(gè)Y電極14構(gòu)成的Y電極圖案4、由多個(gè)接地（ground)電極 15構(gòu)成的接地圖案5。各X電極13以及各Y電極14相鄰以使得電容耦合，根據(jù)該電容耦 合的變化來檢測(cè)作為檢測(cè)對(duì)象的手指的有無。
[0039] 在俯視中，接地圖案5構(gòu)成為對(duì)將菱形的各頂點(diǎn)向著縱向（Y軸方向）以及橫向（X 軸方向）的多個(gè)接地電極15進(jìn)行電連接。在絕緣基板2的一面11側(cè)，多個(gè)接地電極15在 縱向以及橫向上錯(cuò)開半個(gè)間距且等間隔地排列。在斜向上相鄰的接地電極15的相對(duì)邊之 間，確保X電極13以及Y電極14用的設(shè)置區(qū)域。接地圖案5圍繞絕緣基板2的另一面12 側(cè)而與地線接地。另外，在本實(shí)施方式中，為了方便說明，雖然采取將接地電極15配設(shè)為7 行7列的構(gòu)成，但接地電極15的行列數(shù)并不特別限定。
[0040] 在多個(gè)接地電極15之間，配設(shè)多列X電極圖案3與多行Y電極圖案4。X電極圖 案3構(gòu)成為按每一列對(duì)被配置在第偶數(shù)列的各接地電極15周圍的X電極13進(jìn)行連接。例 如，在絕緣基板2的一面11，對(duì)應(yīng)于第2列、第4列、第6列的接地電極15,配設(shè)了 3列X電 極圖案3。Y電極圖案4構(gòu)成為按每一行對(duì)被配置在第偶數(shù)行的各接地電極15周圍的Y電 極14進(jìn)行連接。例如，在絕緣基板2的一面11，對(duì)應(yīng)于第2行、第4行、第6行的接地電極 15,配設(shè)了 3行Υ電極圖案4。
[0041] 各X電極13以及各Υ電極14被配設(shè)在斜向上相鄰的接地電極15之間。在該接 地電極15之間，各X電極13以及各Υ電極14平行地延伸，各X電極13與各Υ電極14靠 近成能夠電容耦合的程度。在這種情況下，由于接地電極15被定位在相對(duì)的X電極13與Υ 電極14的外側(cè)，因此能夠減小接地電極15對(duì)X電極13與Υ電極14之間的電容耦合的影 響。此外，多列X電極圖案3以及多行Υ電極圖案4分別圍繞絕緣基板2的另一面12側(cè)并 與控制部6連接。
[0042] 在剖視中，絕緣基板2具有將固態(tài)接地（solid ground)層21 (使用接地材料，按 照平面涂敷的方式而形成的接地層）夾在中間的多層結(jié)構(gòu)。在絕緣基板2的一面11，配設(shè) 多列X電極圖案3,并形成絕緣性的保護(hù)（rasist)層22以覆蓋多列X電極圖案3。在保護(hù) 層22的上表面，配置多行Y電極圖案4以及接地圖案5,并形成保護(hù)層23以覆蓋多行Y電 極圖案4以及接地圖案5。在保護(hù)層23的上表面17上設(shè)置未圖示的操作面板等，作為通過 指尖而被操作的操作面來起作用。在絕緣基板2的另一面12,設(shè)置控制部6。此外，形成保 護(hù)層24。
[0043] 控制部6使X電極圖案3的各X電極13以及Y電極圖案4的各Y電極14作為驅(qū) 動(dòng)電極或者檢測(cè)電極來起作用。在這種情況下，在X電極13為驅(qū)動(dòng)電極的情況下，Y電極 14按照成為檢測(cè)電極的方式而被控制，在Y電極14為驅(qū)動(dòng)電極的情況下，X電極13按照成 為檢測(cè)電極的方式而被控制。在控制部6中，向驅(qū)動(dòng)電極施加驅(qū)動(dòng)電壓，驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電 極之間的電容耦合相應(yīng)的檢測(cè)電壓從檢測(cè)電極中被輸出。在操作面上存在手指的情況下， 根據(jù)驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間的電容耦合降低，檢測(cè)指尖的存在、位置。
[0044] 控制部6按照在規(guī)定定時(shí)對(duì)各X電極13為驅(qū)動(dòng)電極且各Y電極14為檢測(cè)電極的 狀態(tài)、與各X電極13為檢測(cè)電極且各Y電極14為驅(qū)動(dòng)電極的狀態(tài)進(jìn)行切換的方式，進(jìn)行控 制。由此，根據(jù)多列X電極圖案3的檢測(cè)電壓，檢測(cè)被配置在操作面上的指尖的橫向位置， 根據(jù)多行Y電極圖案4的檢測(cè)電壓，檢測(cè)被配置在操作面上的指尖的縱向位置。在X電極 圖案3以及Y電極圖案4的掃描完成的定時(shí)切換驅(qū)動(dòng)電極以及檢測(cè)電極。另外，指尖位置 的計(jì)算方法并不特別限定，例如，可以使用三維的分析方法來進(jìn)行計(jì)算。
[0045] 此外，控制部6執(zhí)行用于對(duì)作為手指有無的判斷基準(zhǔn)的基準(zhǔn)電壓進(jìn)行設(shè)定的校 準(zhǔn)。在校準(zhǔn)中，將在操作面上不存在手指的狀態(tài)下檢測(cè)出的檢測(cè)電壓設(shè)定為基準(zhǔn)電壓。在 這種情況下，為了對(duì)操作面上是否存在手指進(jìn)行判斷，對(duì)當(dāng)前的基準(zhǔn)電壓與檢測(cè)電壓進(jìn)行 比較。在檢測(cè)電壓比當(dāng)前的基準(zhǔn)電壓低的情況下，作為手指存在并限制校準(zhǔn)。另一方面，在 檢測(cè)電壓不比當(dāng)前的基準(zhǔn)電壓低的情況下，作為手指不存在并實(shí)施校準(zhǔn)，并將此時(shí)的檢測(cè) 電壓再設(shè)定為基準(zhǔn)電壓。
[0046] 這樣，在控制部6中，指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)被控制。在靜電電容式觸摸板1中， 由于接地圖案5形成于絕緣基板2,以避開X電極13與Y電極14之間，因此不會(huì)對(duì)X電極 13與Y電極14之間的電容耦合施加影響，并減小浮置導(dǎo)體造成的影響。因此，既抑制了檢 測(cè)靈敏度的降低，也實(shí)施了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)。另外，所謂浮置導(dǎo)體，是指不與地線接地等對(duì)地線 的耦合弱的導(dǎo)體。下面，與比較例比較檢測(cè)靈敏度以及校準(zhǔn)，并對(duì)本實(shí)施方式涉及的靜電電 容式觸摸板的指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)進(jìn)行詳細(xì)地說明。
[0047] 圖3是比較例涉及的靜電電容式觸摸板的指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)的說明圖。該 比較例是未在操作面?zhèn)扰湓O(shè)接地圖案的例子。圖4是本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板 的指尖的檢測(cè)動(dòng)作以及校準(zhǔn)的說明圖。另外，在下面的說明中，對(duì)Y電極作為驅(qū)動(dòng)電極而起 作用、X電極作為檢測(cè)電極而起作用的情況進(jìn)行說明。
[0048] 如圖3A所示，比較例涉及的靜電電容式觸摸板31在"絕緣基板32的另一面34側(cè) 配設(shè)了接地圖案35"這一點(diǎn)，與本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板1不同。在絕緣基板 32的一面?zhèn)龋?qū)動(dòng)電極37與檢測(cè)電極38被配置成進(jìn)行電容耦合，通過向驅(qū)動(dòng)電極37施加 驅(qū)動(dòng)電壓V tov，從檢測(cè)電極38中輸出與耦合電容相應(yīng)的檢測(cè)電壓Vsen。在絕緣基板32上不 存在任何物品的情況下，從檢測(cè)電極38中輸出的檢測(cè)電壓V sm通過校準(zhǔn)而被設(shè)定為基準(zhǔn)電 壓 Vref。
[0049] 如圖3B所示，在絕緣基板32上存在手指F的情況下，驅(qū)動(dòng)電極37與檢測(cè)電極38 之間的電容耦合變小。若向驅(qū)動(dòng)電極37施加脈沖狀的驅(qū)動(dòng)電壓V tov，則比基準(zhǔn)電壓VMf低 的檢測(cè)電壓Vsen從檢測(cè)電極38中輸出。靜電電容式觸摸板31根據(jù)檢測(cè)電極38的檢測(cè)電 壓V sen變得比基準(zhǔn)電壓低，來檢測(cè)手指？的存在。如上所述，在檢測(cè)電壓入"比基準(zhǔn)電 壓低的情況下，由于手指？存在并限制校準(zhǔn)，因此不會(huì)再將檢測(cè)電壓入"設(shè)定為基準(zhǔn)電 壓 Vref。
[0050] 如圖3C所示，在絕緣基板32上存在DVD等浮置導(dǎo)體50的情況下，通過浮置導(dǎo)體 50導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)電極37與檢測(cè)電極38之間的電容耦合變大。若向驅(qū)動(dòng)電極37施加脈沖狀的 驅(qū)動(dòng)電壓，則從檢測(cè)電極38中輸出比基準(zhǔn)電壓V Mf高的檢測(cè)電壓Vsm。由于在比基準(zhǔn)電 壓Vief高的檢測(cè)電壓V sen從檢測(cè)電極38中輸出時(shí)未限制校準(zhǔn)，因此如圖3D所示，即使在存 在浮置導(dǎo)體50的情況下也實(shí)施校準(zhǔn)。若在此定時(shí)實(shí)施校準(zhǔn)，則比當(dāng)前的基準(zhǔn)電壓V Mf高的 檢測(cè)電壓被再設(shè)定為新的基準(zhǔn)電壓VMf。
[0051] 如圖3E所示，在通過校準(zhǔn)對(duì)基準(zhǔn)電壓Vief進(jìn)行再設(shè)定后，若浮置導(dǎo)體50從絕緣基 板32上消失，則驅(qū)動(dòng)電極37與檢測(cè)電極38之間的電容耦合變小。若向驅(qū)動(dòng)電極37施加 脈沖狀的驅(qū)動(dòng)電壓V tov，則比新的基準(zhǔn)電壓VMf低的檢測(cè)電壓Vsen從檢測(cè)電極38中輸出。因 此，即使在絕緣基板32上不存在任何物體，也會(huì)誤檢測(cè)為手指F存在。這樣，在比較例涉及 的靜電電容式觸摸板31中，存在未實(shí)施適當(dāng)?shù)男?zhǔn)并且手指F被誤檢測(cè)的情況。
[0052] 另一方面，如圖4A所示，本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板1在絕緣基板2的 一面11側(cè)配設(shè)驅(qū)動(dòng)電極27、檢測(cè)電極28、接地圖案5。此外，接地圖案5避開在驅(qū)動(dòng)電極 27與檢測(cè)電極28之間并延伸。因此，即使在絕緣基板2的一面11側(cè)設(shè)置接地圖案5,驅(qū)動(dòng) 電極27與檢測(cè)電極28之間的耦合電容也不會(huì)受到接地圖案5的影響而變小。因此，在絕 緣基板2上不存在任何物體的情況下，從檢測(cè)電極28中輸出的檢測(cè)電壓V sen不會(huì)降低，也 不會(huì)通過校準(zhǔn)而導(dǎo)致基準(zhǔn)電壓VMf被設(shè)低。
[0053] 如圖4B所示，在絕緣基板2上存在手指F的情況下，驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28 之間的電容耦合變小。若向驅(qū)動(dòng)電極27施加脈沖狀的驅(qū)動(dòng)電壓V tov，則比基準(zhǔn)電壓VMf低 的檢測(cè)電壓Vsm從檢測(cè)電極28中輸出。在這種情況下，由于接地圖案5對(duì)驅(qū)動(dòng)電極27以 及檢測(cè)電極28的影響被排除，因此檢測(cè)電壓V sm的變化不會(huì)過小。因此，在手指F觸碰到 了絕緣基板2上的情況下，能夠獲取足夠的檢測(cè)靈敏度。此外，在檢測(cè)電壓V sen比基準(zhǔn)電壓 vMf低的情況下，也不會(huì)通過校準(zhǔn)而再將檢測(cè)電壓設(shè)定為基準(zhǔn)電壓vMf。
[0054] 如圖4C所示，在絕緣基板2上存在DVD等浮置導(dǎo)體50的情況下，能夠防止由于浮 置導(dǎo)體50與接地圖案5進(jìn)行電容耦合，導(dǎo)致經(jīng)由浮置導(dǎo)體50的驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28 之間的電容耦合變大。若向驅(qū)動(dòng)電極27施加脈沖狀的驅(qū)動(dòng)電壓V fcv，則從檢測(cè)電極28中輸 出比基準(zhǔn)電壓VMf小的檢測(cè)電壓Vsm。這樣，不會(huì)如圖3C的比較例那樣，從檢測(cè)電極38中 輸出比基準(zhǔn)電壓V Mf大的檢測(cè)電壓Vsm。如圖4D所示，由于在檢測(cè)電壓比基準(zhǔn)電壓VMf低 的情況下校準(zhǔn)被限制，因此在浮置導(dǎo)體50存在的情況下校準(zhǔn)不被實(shí)施。
[0055] 如圖4E所示，由于通過接地圖案5來減小浮置導(dǎo)體50的影響，因此即使浮置導(dǎo)體 50從絕緣基板2上消失，驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28之間的耦合電容也不會(huì)變大。因此，不 會(huì)如圖3E所示的那樣即使不存在手指F，也誤檢測(cè)為存在手指F。這樣，在本實(shí)施方式涉及 的靜電電容式觸摸板1中，能夠?qū)嵤┻m當(dāng)?shù)男?zhǔn)，并適當(dāng)?shù)胤乐故种窮的誤檢測(cè)。此外，與 如圖5所示的現(xiàn)有技術(shù)那樣在驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極之間配置了接地電極的情況相比，能夠 抑制檢測(cè)靈敏度的降低。
[0056] 具體來講，如圖5A所示，現(xiàn)有技術(shù)涉及的靜電電容式觸摸板51在"絕緣基板52的 一面54側(cè)，驅(qū)動(dòng)電極57與檢測(cè)電極58之間配設(shè)了接地圖案55"方面，與本實(shí)施方式涉及 的靜電電容式觸摸板1不同。由于在驅(qū)動(dòng)電極57與檢測(cè)電極58之間配設(shè)接地圖案55,因 此驅(qū)動(dòng)電極57與檢測(cè)電極58之間的電容耦合變小。因此，即使手指F不存在，電容耦合也 變小，基準(zhǔn)電壓被設(shè)低。
[0057] 如圖5B所示，在絕緣基板52上存在手指F的情況下，由于驅(qū)動(dòng)電極57與檢測(cè)電 極58之間的電容耦合變小，因此若向驅(qū)動(dòng)電極57施加脈沖狀的驅(qū)動(dòng)電壓V tv，則比基準(zhǔn)電 壓低的檢測(cè)電壓Vsm從檢測(cè)電極58中輸出。但是，檢測(cè)電壓Vsm的降低量小。也就是 說，存在由于接地圖案55而導(dǎo)致檢測(cè)靈敏度降低的問題。
[0058] 如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式涉及的靜電電容式觸摸板1，由于接地圖案5與驅(qū)動(dòng)電 極27以及檢測(cè)電極28共同被配設(shè)在絕緣基板2的一面11，因此即使在絕緣基板2的一面 11側(cè)存在浮置導(dǎo)體50,也能夠通過浮置導(dǎo)體50與接地圖案5進(jìn)行電容耦合，來減小介由浮 置導(dǎo)體50的驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28之間的電容耦合。此外，由于接地圖案5被配設(shè)成 避開在驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28之間，因此不會(huì)對(duì)驅(qū)動(dòng)電極27與檢測(cè)電極28之間的電 容耦合產(chǎn)生影響。因此，能夠抑制檢測(cè)靈敏度的降低，并減小浮置導(dǎo)體50的影響。
[0059] 此外，本發(fā)明并不僅限于上述的本實(shí)施方式，也能夠進(jìn)行各種變更來實(shí)施。在上述 實(shí)施方式中，關(guān)于附圖所圖示的大小、形狀等，也未限于此，也能夠在發(fā)揮本發(fā)明的效果的 范圍內(nèi)進(jìn)行適當(dāng)?shù)刈兏２⑶?，只要不脫離本發(fā)明的目的范圍，就能夠進(jìn)行適當(dāng)?shù)刈兏鼇韺?shí) 施。
[0060] 例如，雖然在上述的本實(shí)施方式中，接地圖案5是由在縱向以及橫向上錯(cuò)開半個(gè) 間距地排列在絕緣基板2的一面11的多個(gè)接地電極15形成，但并不限定于此結(jié)構(gòu)。例如， 也可以如圖6所示，接地圖案45由在絕緣基板42的一面41沿縱向以及橫向整齊排列的多 個(gè)接地電極46形成。接地圖案45構(gòu)成為將正方形的接地電極46在縱向以及橫向上等間 隔地連接。在各接地電極46的周圍配設(shè)多列X電極圖案43以及多行Y電極圖案44。
[0061] 多列X電極圖案43構(gòu)成為將包圍接地電極46的X電極47按照每隔一個(gè)的方式 按每列相連。例如，第1列X電極圖案43由包圍從紙面上的第2個(gè)、第4個(gè)接地電極46的 X電極47構(gòu)成。此外，多行Y電極圖案44構(gòu)成為將對(duì)未由X電極47包圍的剩下的接地電 極46進(jìn)行包圍的Υ電極48按每行相連。例如，第1行Υ電極圖案44由對(duì)紙面上從左起第 1個(gè)、第3個(gè)、第5個(gè)的接地電極46進(jìn)行包圍的Υ電極48構(gòu)成。這樣，各接地電極46在縱 向以及橫向上被X電極47以及Υ電極48交替包圍。
[0062] 各X電極47以及各Υ電極48在縱向以及橫向上被配置在相鄰的接地電極46之 間，各X電極47以及各Υ電極48在平行延伸的狀態(tài)下靠近成電容耦合的程度。由于接地 電極46位于相對(duì)的X電極47與Υ電極48的外側(cè)，因此能夠減小接地電極46對(duì)于X電極 47與Υ電極48之間的電容耦合的影響。這樣的結(jié)構(gòu)也能夠通過接地圖案45,來對(duì)浮置導(dǎo) 體對(duì)X電極47與Υ電極48之間的電容耦合的影響進(jìn)行抑制。此外，由于接地圖案45按照 避開X電極47與Υ電極48之間的方式被配設(shè)，因此接地圖案45也不會(huì)對(duì)X電極47與Υ 電極48之間的電容耦合產(chǎn)生影響。
[0063] 此外，雖然在上述的本實(shí)施方式中，接地圖案5被配設(shè)為與X電極圖案3以及Υ電 極圖案4相對(duì)應(yīng)，但并不限定于此結(jié)構(gòu)。只要接地圖案5被配設(shè)為避開驅(qū)動(dòng)電極27以及檢 測(cè)電極28,就怎樣配設(shè)都可以。
[0064] 此外，雖然在上述的實(shí)施方式中，構(gòu)成為通過多列X電極圖案3以及多行Υ電極圖 案4來檢測(cè)手指F的位置，但并不限定于此結(jié)構(gòu)。也可以通過多行X電極圖案3以及多列 Υ電極圖案4來檢測(cè)物體的位置。
[0065] 此外，雖然在上述的實(shí)施方式中，構(gòu)成為對(duì)X電極13為驅(qū)動(dòng)電極27且Υ電極14 為檢測(cè)電極28的狀態(tài)、與X電極13為檢測(cè)電極28且Υ電極14為驅(qū)動(dòng)電極27的狀態(tài)進(jìn)行 交替切換，但并不限定于此結(jié)構(gòu)。在僅對(duì)X軸方向以及Υ軸方向的任一方向的位置進(jìn)行檢 測(cè)的情況下，驅(qū)動(dòng)電極27以及檢測(cè)電極28也可以被固定。
[0066] -工業(yè)可用性-
[〇〇67] 如以上所說明的，本發(fā)明具有既能夠抑制檢測(cè)靈敏度的降低，也能夠減小浮置導(dǎo) 體的影響的效果，特別是對(duì)用于顯示設(shè)備、通信設(shè)備、便攜式設(shè)備等的靜電電容式觸摸板有 用。
【權(quán)利要求】
1. 一種靜電電容式觸摸板，其將驅(qū)動(dòng)電極與檢測(cè)電極按照電容耦合的方式配設(shè)在基板 的一面，通過向所述驅(qū)動(dòng)電極施加驅(qū)動(dòng)電壓，根據(jù)所述電容耦合從所述檢測(cè)電極中輸出檢 測(cè)電壓，基于該檢測(cè)電極的檢測(cè)電壓來對(duì)所述基板上的物體進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于， 在所述基板的一面配設(shè)將多個(gè)接地電極電連接而成的接地圖案，使用所述驅(qū)動(dòng)電極對(duì) 至少相鄰的接地電極中的一方的接地電極進(jìn)行包圍，并且使用所述檢測(cè)電極來包圍另一方 的接地電極，將所述驅(qū)動(dòng)電極與所述檢測(cè)電極相鄰地配置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電電容式觸摸板，其特征在于， 所述接地圖案具有在縱向以及橫向上錯(cuò)開半個(gè)間距排列的多個(gè)接地電極， 所述驅(qū)動(dòng)電極以及所述檢測(cè)電極的任意一方作為被配置于排列在縱向上的接地電極 周圍的多個(gè)X電極而起作用，任意的另一方作為被配置于排列在橫向上的接地電極周圍的 多個(gè)Y電極而起作用。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電電容式觸摸板，其特征在于， 所述接地圖案具有沿縱向以及橫向整齊排列的多個(gè)接地電極， 所述驅(qū)動(dòng)電極以及所述檢測(cè)電極的任意一方作為被配置于在縱向以及橫向上相鄰的 接地電極的一方的周圍的多個(gè)X電極而起作用，任意的另一方作為被配置于在縱向以及橫 向上相鄰的電極的另一方的周圍的多個(gè)Y電極而起作用。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2或者3所述的靜電電容式觸摸板，其特征在于， 對(duì)所述多個(gè)X電極為所述驅(qū)動(dòng)電極且所述多個(gè)Y電極為所述檢測(cè)電極的狀態(tài)、與所述 多個(gè)X電極為所述檢測(cè)電極且所述多個(gè)Y電極為所述驅(qū)動(dòng)電極的狀態(tài)進(jìn)行切換。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電電容式觸摸板，其特征在于， 在所述檢測(cè)電壓比基準(zhǔn)電壓低的情況下，對(duì)將所述檢測(cè)電壓設(shè)定為基準(zhǔn)電壓的校準(zhǔn)進(jìn) 行限制。
【文檔編號(hào)】G06F3/044GK104063100SQ201410053486
【公開日】2014年9月24日 申請(qǐng)日期:2014年2月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月18日
【發(fā)明者】高木政史, 重高寬, 高橋?qū)捗? 申請(qǐng)人:阿爾卑斯電氣株式會(huì)社