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      一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法

      文檔序號(hào):6542254閱讀:227來(lái)源:國(guó)知局
      一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法
      【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種基于缺陷紋理特征的射線圖像中缺陷檢測(cè)方法,首先根據(jù)系統(tǒng)檢測(cè)需求和檢測(cè)目標(biāo)特征建立標(biāo)準(zhǔn)的缺陷紋理圖像數(shù)據(jù)庫(kù);其次對(duì)被測(cè)工件的射線圖像進(jìn)行融合增強(qiáng);然后從增強(qiáng)的圖像中計(jì)算子塊圖像的紋理特征值,依次比較該特征值與缺陷紋理庫(kù)的特征值,從而判定該子塊圖像是否為缺陷;接著遍歷整個(gè)圖像即可檢測(cè)出該圖像包含缺陷的數(shù)量與類(lèi)型。本發(fā)明避開(kāi)了復(fù)雜的弱邊緣提取問(wèn)題,檢測(cè)的過(guò)程不但可以判定工件是否包含缺陷以及缺陷的位置,更重要的是直接給出了缺陷的類(lèi)型、等級(jí),大大的減少了檢測(cè)人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。
      【專(zhuān)利說(shuō)明】一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及圖像處理和無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種基于缺陷紋理特征的被測(cè)工件射線圖像缺陷檢測(cè)方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前針對(duì)射線圖像,人們開(kāi)發(fā)了許多缺陷提取算法,此類(lèi)算法大多是直接對(duì)圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè),由于射線圖像本身的低對(duì)比度特性使得此類(lèi)算法都較為復(fù)雜,而且比較耗時(shí),更麻煩的是此類(lèi)算法即使能夠提取出缺陷但還是無(wú)法對(duì)缺陷的類(lèi)型、等級(jí)給出結(jié)果,而這對(duì)產(chǎn)品合格與否的判定尤其重要。
      [0003]圖像紋理反映了圖像基元的灰度分布規(guī)律,包含了圖像的表面信息及其周?chē)h(huán)境的關(guān)系,描述了圖像局部無(wú)規(guī)則而宏觀有規(guī)則的特征,能更好的兼顧圖像的宏觀結(jié)構(gòu)與微觀結(jié)構(gòu)。圖像紋理分析在醫(yī)學(xué)圖像處理、衛(wèi)星遙感、工業(yè)監(jiān)控和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等許多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。遙感照片中的各種圖像,大部分呈現(xiàn)紋理型,平原、低丘和山脈具有不同的形狀和高度的起伏,反映在圖像上則呈現(xiàn)不同粗糙度和方向的紋理;在地質(zhì)構(gòu)造方面,不同類(lèi)型的巖層具有不同的層理、走向和顆粒度,在圖像上則呈現(xiàn)不同的分布、方向、顆粒大小和粗細(xì)度的紋理;在土地利用方面,人工地物,如道路、居民地等具有較為規(guī)則的紋理,而自然地物則呈現(xiàn)不規(guī)則、隨機(jī)分布的紋理;在文物復(fù)原系統(tǒng)中,不同個(gè)體的文物碎片具有不同的形狀和紋理,通過(guò)形狀匹配和紋理分析,有助于實(shí)現(xiàn)文物復(fù)原;在顯微圖像中,細(xì)胞圖像的細(xì)胞核結(jié)構(gòu)變化信息反映在圖像上是紋理的變化;在材料科學(xué)的微結(jié)構(gòu)定量分析中,材料的微觀圖像很多呈現(xiàn)紋理型;在病理診斷中,正常器官表面的紋理和發(fā)生病變的器官表面的紋理具有很大的不同,由此可實(shí)現(xiàn)病理診斷。
      [0004]現(xiàn)有的對(duì)圖像缺陷的檢測(cè)能夠檢測(cè)出圖像缺陷的大小、位置等信息,但是對(duì)于缺陷的類(lèi)型等級(jí)還無(wú)法進(jìn)行判斷。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]鑒于此,本發(fā)明的目的是提供一種基于缺陷紋理特征的被測(cè)工件射線圖像缺陷檢測(cè)方法,該方法采用缺陷的紋理特征,避開(kāi)復(fù)雜的弱邊緣提取的缺陷檢測(cè)方法,不但可以有效的檢測(cè)出被測(cè)工件的缺陷、更可以直接獲得缺陷的大小和等級(jí)。
      [0006]本發(fā)明的目的是通過(guò)這樣的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的,一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,具體包括以下步驟:
      [0007]S1:根據(jù)被檢對(duì)象射線成像中的缺陷特征建立缺陷的紋理圖像數(shù)據(jù)庫(kù);
      [0008]S2:獲取待測(cè)對(duì)象的現(xiàn)場(chǎng)射線圖像;
      [0009]S3:增強(qiáng)現(xiàn)場(chǎng)射線圖像,獲得增強(qiáng)后的增強(qiáng)射線圖像;
      [0010]S4:從增強(qiáng)射線圖像中計(jì)算子塊圖像的紋理特征值,依次比較該特征值與缺陷紋理庫(kù)的特征值,從而判定該子塊圖像是否為缺陷;
      [0011]S5:遍歷整個(gè)增強(qiáng)射線圖像檢測(cè)出該圖像各個(gè)子塊圖像的紋理特征值,利用這些特征值與缺陷紋理庫(kù)的特征值進(jìn)行比較;
      [0012]S6:采用判別標(biāo)準(zhǔn)確定增強(qiáng)射線圖像的各個(gè)子塊是否包含缺陷以及缺陷類(lèi)型、等級(jí);
      [0013]S7:將缺陷檢測(cè)結(jié)果記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中供檢測(cè)人員參考,并形成缺陷檢測(cè)報(bào)告。
      [0014]進(jìn)一步,所述SI中按如下方式執(zhí)行:
      [0015]缺陷紋理庫(kù)的建立參照目前已有的產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和圖譜,對(duì)待測(cè)的每種工件進(jìn)行射線檢測(cè),從增強(qiáng)后的圖像中選擇缺陷區(qū)域加入到紋理庫(kù)中。
      [0016]進(jìn)一步,所述S3具體包括以下子步驟:
      [0017]S31:首先從使用線性拉伸方法被測(cè)工件射線圖像中獲取包含不同缺陷特征的多幅圖像;
      [0018]S32:然后對(duì)多幅圖像分別采用多分辨率方法進(jìn)行多層分解,將圖像分解為不同層上的頻率系數(shù);
      [0019]S33:對(duì)頻率系數(shù)進(jìn)行融合處理,得到融合后的多分辨率頻率系數(shù)金字塔;
      [0020]S34:最后對(duì)融合后所得多分辨率頻率系數(shù)金字塔進(jìn)行重構(gòu),得到重構(gòu)圖像即為增強(qiáng)射線圖像。
      [0021]進(jìn)一步,所述S5還包括以下步驟:
      [0022]設(shè)G為大小為MXN的待檢測(cè)圖像,Fi為大小為aXb為檢測(cè)模板,i=l, 2,…,N,使用紋理分析方法檢測(cè)圖像缺陷的基本流程如下:
      [0023]S41:圖像分割,將待檢測(cè)圖像G分割為若干個(gè)Fi大小的子塊;
      [0024]S42:計(jì)算子塊圖像值,對(duì)分割后相應(yīng)位置的各個(gè)子圖像計(jì)算值;
      [0025]S43:計(jì)算檢測(cè)模板圖像的值;
      [0026]S44:依次計(jì)算模板圖像與各個(gè)子圖像Md2值之間的距離,若距離小于限定值則該塊區(qū)域?yàn)槿毕荩?br> [0027]S45:依次在待檢測(cè)圖像中標(biāo)記區(qū)域位置。
      [0028]進(jìn)一步,在進(jìn)行圖像分割時(shí),將圖像劃分為相互重疊的子塊。
      [0029]進(jìn)一步,在進(jìn)行圖像分割時(shí),將圖像分割為
      【權(quán)利要求】
      1.一種基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:具體包括以下步驟: 51:根據(jù)被檢對(duì)象射線成像中的缺陷特征建立缺陷的紋理圖像數(shù)據(jù)庫(kù); 52:獲取待測(cè)對(duì)象的現(xiàn)場(chǎng)射線圖像; 53:增強(qiáng)現(xiàn)場(chǎng)射線圖像,獲得增強(qiáng)后的增強(qiáng)射線圖像; S4:從增強(qiáng)射線圖像中計(jì)算子塊圖像的紋理特征值,依次比較該特征值與缺陷紋理庫(kù)的特征值,從而判定該子塊圖像是否為缺陷; 55:遍歷整個(gè)增強(qiáng)射線圖像檢測(cè)出該圖像各個(gè)子塊圖像的紋理特征值,利用這些特征值與缺陷紋理庫(kù)的特征值進(jìn)行比較;56:采用判別標(biāo)準(zhǔn)確定增強(qiáng)射線圖像的各個(gè)子塊是否包含缺陷以及缺陷類(lèi)型、等級(jí); 57:將缺陷檢測(cè)結(jié)果記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中供檢測(cè)人員參考,并形成缺陷檢測(cè)報(bào)告。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:所述SI中按如下方式執(zhí)行: 缺陷紋理庫(kù)的建立參照目前已有的產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和圖譜,對(duì)待測(cè)的每種工件進(jìn)行射線檢測(cè),從增強(qiáng)后的圖 像中選擇缺陷區(qū)域加入到紋理庫(kù)中。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紋理特征的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:所述S3具體包括以下子步驟:531:首先從使用線性拉伸方法被測(cè)工件射線圖像中獲取包含不同缺陷特征的多幅圖像; 532:然后對(duì)多幅圖像分別采用多分辨率方法進(jìn)行多層分解,將圖像分解為不同層上的頻率系數(shù); 533:對(duì)頻率系數(shù)進(jìn)行融合處理,得到融合后的多分辨率頻率系數(shù)金字塔; S34:最后對(duì)融合后所得多分辨率頻率系數(shù)金字塔進(jìn)行重構(gòu),得到重構(gòu)圖像即為增強(qiáng)射線圖像。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于紋理特征的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:所述S5還包括以下步驟: 設(shè)G為大小為MXN的待檢測(cè)圖像,Fi為大小為aXb為檢測(cè)模板,i=l, 2,…,N,使用紋理分析方法檢測(cè)圖像缺陷的基本流程如下: 541:圖像分割,將待檢測(cè)圖像G分割為若干個(gè)Fi大小的子塊; 542:計(jì)算子塊圖像值,對(duì)分割后相應(yīng)位置的各個(gè)子圖像計(jì)算Mi?!;2值; 543:計(jì)算檢測(cè)模板圖像的值;544:依次計(jì)算模板圖像與各個(gè)子圖像值之間的距離,若距離小于限定值則該塊區(qū)域?yàn)槿毕荩? 545:依次在待檢測(cè)圖像中標(biāo)記區(qū)域位置。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:在進(jìn)行圖像分割時(shí),將圖像劃分為相互重疊的子塊。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于紋理的射線圖像缺陷檢測(cè)方法,其特征在于:在進(jìn)行圖像分割時(shí),將圖像分割為
      【文檔編號(hào)】G06T7/00GK103886602SQ201410123705
      【公開(kāi)日】2014年6月25日 申請(qǐng)日期:2014年3月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月28日
      【發(fā)明者】沈?qū)? 趙亞丁 申請(qǐng)人:重慶大學(xué)
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