一種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目標識別方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目標識別方法,包括以下步驟:S1:SAR圖像預處理;S2:固定核函數(shù)權值向量β,最優(yōu)化投影矩陣系數(shù)向量α,得到最優(yōu)化目標方程Jα;S3:固定投影矩陣系數(shù)向量α,最優(yōu)化核函數(shù)權值向量β,得到目標函數(shù)Jβ;S4:重復步驟S2和S3,直至Jα和Jβ相等且保持不變?yōu)橹?,得到α和β;S5:通過投影將高維空間中的樣本映射到特征空間中,分別得到訓練樣本集和測試樣本集的圖像特征;S6:采用最近鄰分類器進行分類識別。本發(fā)明以最優(yōu)化的方法求得核函數(shù)系數(shù),克服了核方法中不同核函數(shù)參數(shù)的選擇對識別效果影響較大的問題,提高了SAR圖像的識別率,具有良好的穩(wěn)定性和更高的實用價值。
【專利說明】-種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目標識別方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目標識別方法,屬于合成孔 徑雷達信號處理領域。
【背景技術】
[0002] 合成孔徑雷達(Synthetic Aperture Radar, SAR)因其全天時,全天候和高分辨率 成像的特性,廣泛地被應用在民用和軍用領域。然而受SAR成像系統(tǒng)固有特性影響,所獲 得的SAR圖像與光學圖像差異很大,造成了目標識別的困難;此外,以目前對偵察系統(tǒng)的大 范圍覆蓋要求,需要處理大量的SAR圖像數(shù)據(jù),造成了快速識別的困難。對于這些問題,僅 僅依靠人工判讀,其正確性和高效性都無法滿足實際需要。因此,需要尋找一種準確快速的 SAR圖像目標判讀方法,SAR ATR應運而生。
[0003] SAR ATR,即合成孔徑雷達自動目標識別,它主要包括三個步驟:SAR圖像預處理、 特征提取和目標分類。其中,特征提取是SAR ATR里的一項重要步驟,旨在通過對已有樣本 的學習,建立起已有樣本和新樣本之間的聯(lián)系,進而發(fā)掘出新樣本中有利于分類的低維特 征,進行商效的識別。
[0004] 目前常用的特征提取方法分為線性方法和非線性方法:線性方法只有在數(shù)據(jù)集滿 足線性可分的條件下才是最優(yōu)的,而對于SAR數(shù)據(jù)集,往往是線性不可分的,因而線性方法 的使用受到了一定限制;非線性方法種類較多,如核方法、基于流形理論的方法等。其中,基 于流形理論的方法從SAR數(shù)據(jù)集的分布特點進行考慮,是一類較為合理的SARATR特征提取 方法。在文獻"Seung H S, Lee D D. The manifold ways of perception[J] · Science, 2000, 29 0(5500) :2268-2269"中指出,大量的高維數(shù)據(jù)在人腦中是以流形結(jié)構存儲的。此后,越來越 多的研究者認為SAR數(shù)據(jù)是分布在一個嵌入于高維空間中的低維流形結(jié)構上的?;诹餍?學習理論的代表性方法有:l〇cally linear embedding(LLE)、Laplacian eigenmaps(LE)。 但這些方法沒有建立起已有數(shù)據(jù)集和新數(shù)據(jù)集之間的聯(lián)系,不能通過對已有數(shù)據(jù)集的學習 來獲得新數(shù)據(jù)集的特征,因而無法應用于SAR ATR中。
[0005] 此后,在文獻"]^父,附7〇8丨?.1^0。31;^5^代861'¥;[叫。1'0]_6(31:;[0118[0]· NIPS. 2003, 16:234-241 " 中提出的 Locality preserving pro jections (LPP)方法,從已有 數(shù)據(jù)集中訓練學習得到投影向量,進而可以通過投影的方法獲得新數(shù)據(jù)集的特征,建立起 已有數(shù)據(jù)集和新數(shù)據(jù)集之間的聯(lián)系。但是該方法沒有考慮樣本的類別信息,應用于SARATR 中效果不理想。
[0006] 在文獻"Chen Η T,Chang H W,Liu T L. Local discriminant embedding and its variants[C]. Computer Vision and Pattern Recognition, 2005. CVPR2005.IEEE Computer Society Conference on. IEEE, 2005, 2:846-853" 中提出的 Local discriminant embedding(LDE)方法,引入了樣本的類別信息,克服了 LPP中存在的問題。Kernel local discriminant embedding (KLDE)方法,引入了核方法,應用于SAR ATR中獲得了較好的識別 效果。但是,KLDE有著核函數(shù)參數(shù)選擇的敏感問題,不同的核函數(shù)參數(shù)對識別效果有很大 影響。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0007] 本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的不足,提供一種以最優(yōu)化的方法求得核函數(shù)系 數(shù),克服了核方法中不同核函數(shù)參數(shù)的選擇對識別效果影響較大的問題,提高了 SAR圖像 的識別率,具有良好的穩(wěn)定性和更高的實用價值的基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目 標識別方法。
[0008] 本發(fā)明的目的是通過以下技術方案來實現(xiàn)的:一種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷 達自動目標識別方法,包括以下步驟:
[0009] SI :SAR圖像預處理,包括以下子步驟:
[0010] S11 :目標分割:找到圖像中的目標區(qū)域,以目標為中心向周邊擴展,分割出包含 目標的全部有效信息的圖像切片,并對所有的圖像切片進行圖像增強,將圖像增強后的SAR 數(shù)據(jù)集記為,其中,Xi表示第i幅SAR圖像,N表示樣本數(shù)目,對應的樣本類別記為 m yi是圖像\的類別;
[0011] S12 :數(shù)據(jù)集分類:將整個SAR數(shù)據(jù)集進行分類,取train_Nf樣本作為訓練樣本, 余下的test_Nf樣本作為測試樣本;
[0012] S2 :固定核函數(shù)權值向量β,最優(yōu)化投影矩陣系數(shù)向量α,包括以下子步驟: _3] S21 :引入一組核函數(shù)K = [Kp K2, . . .,ΚΜ],其中,&是第i個核函數(shù),
[0014] S22 :固定核函數(shù)權值向量β = [βρ β2,...,βΜ]τ,I是第i個核函數(shù)的權值, 用以衡量該核函數(shù)的重要性,得到最優(yōu)化目標方程J a :
[0015]
【權利要求】
1. 一種基于多核最優(yōu)化的合成孔徑雷達自動目標識別方法,其特征在于,包括以下步 驟: 51 :SAR圖像預處理,包括以下子步驟: 511 :目標分割:找到圖像中的目標區(qū)域,以目標為中心向周邊擴展,分割出包含目標 的全部有效信息的圖像切片,并對所有的圖像切片進行圖像增強,將圖像增強后的SAR數(shù) 據(jù)集記為ΟΧ,,其中,Xi表示第i幅SAR圖像,N表示樣本數(shù)目,對應的樣本類別記為, yi是圖像\的類別; 512 :數(shù)據(jù)集分類:將整個SAR數(shù)據(jù)集進行分類,取train_N個樣本作為訓練樣本,余下 的test_N個樣本作為測試樣本; 52 :固定核函數(shù)權值向量β,最優(yōu)化投影矩陣系數(shù)向量α,包括以下子步驟: 321:引入一組核函數(shù)1(=[1( 1,1(2,...,1(」,其中,1是第1個核函數(shù),
S22 :固定核函數(shù)權值向量
I是第i個核函數(shù)的權值,用以衡量該核 函數(shù)的重要性,得到最優(yōu)化目標方程Ja :
限制條件J' a為:
其中,trace表示矩陣的對角元素求和,V為投影向量,用于將圖像投影到特征空間,T 為轉(zhuǎn)置符號,Φ(Χ?)為圖像Xi在高維空間中的表達式,Ct cti表示 ΦΟΟ的系數(shù),^用于線性表出投影向量V; S23:計算在固定β情況下的表示不同類別樣本間距的矩陣
其中,D為對角矩陣,其對角線上元素為
為預先設定的常數(shù),
同時,計算表示同類別樣本間距的矩陣<:
D'為對角矩陣,其對角線上元素為:
S24 :對矩陣進行特征值分解,求出其最大的前1個特征值,將其對應的特征向量 作為α的值; 53 :固定投影矩陣系數(shù)向量α,最優(yōu)化核函數(shù)權值向量β,包括以下子步驟: S31:步驟S2中得到了一組投影矩陣系數(shù)向量α,固定α,得到目標函數(shù)Je :
限制條件J g為
532 :計算在固定α情況下的表示不同類別樣本間距的矩陣
為第Μ個核函 數(shù)參數(shù); 同時,計算在固定α的情況下的表示同類別樣本間距的矩陣
533 :通過半正定規(guī)劃,得到最優(yōu)化目標函數(shù)%在條件J' e限制下的最優(yōu)解,并將此解 作為核函數(shù)權值向量β的值; 54 :迭代更新待求向量:重復步驟S2和S3,直至目標函數(shù)Ja和Je相等且保持不變?yōu)?止,得到此模型下的參數(shù)α和β ; 55 :特征提?。焊鶕?jù)步驟S4得到的參數(shù)a和β,通過投影將高維空間中的樣本Φ (Xi) 映射到特征空間中得到Xi的特征,其計算公式為:
其中,Km(p,j)為圖像Xp和\的核函數(shù),通過上述公式分別得到訓練樣本集圖像Xi的 特征Φ (Zi)為: Φ (Zi) = α TK⑴ β 測試樣本集圖像X' i可的特征Φ (ζ' i)為:
S6 :分類識別:采用最近鄰分類器進行分類識別。
【文檔編號】G06K9/66GK104050489SQ201410300319
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年6月27日 優(yōu)先權日:2014年6月27日
【發(fā)明者】黃鈺林, 韓昊, 劉曉佳, 裴季方, 武俊杰, 楊建宇 申請人:電子科技大學