標(biāo)簽缺陷檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及標(biāo)簽缺陷檢測方法，其包括：對打印好的標(biāo)簽進行圖像獲取；逐一的將標(biāo)準(zhǔn)字符與標(biāo)簽上的其中一待比對字符進行疊加并計算相似度值；若存在求和結(jié)果最大的相似度值大于或等于第一閾值，則將求和結(jié)果最大的相似度值所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符作為待比對字符，記錄待比對字符的當(dāng)前坐標(biāo)并進一步判斷所述待比對字符的相似度值是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值，若是，則將對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符與待比對字符進行疊加并計算二者乘積為0的次數(shù)，并將乘積為0的位置連接起來形成缺陷區(qū)域；若所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)的第三閾值，且所述缺陷區(qū)域的面積超過預(yù)設(shè)的第四閾值，則將所述缺陷區(qū)域進行顏色標(biāo)記。本發(fā)明能夠識別出標(biāo)簽中出現(xiàn)的字符缺陷，比對效率高。
【專利說明】 標(biāo)簽缺陷檢測方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)，具體涉及標(biāo)簽缺陷檢測方法。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，在市場上，針對每類產(chǎn)品設(shè)置有與該類產(chǎn)品對于的條碼標(biāo)簽，以唯一標(biāo)識該類產(chǎn)品，條碼標(biāo)簽粘貼或打印在相應(yīng)的產(chǎn)品上；條碼上設(shè)置的條碼記錄有多種產(chǎn)品信息，如廠家、產(chǎn)品級別、生產(chǎn)日期、原材料供應(yīng)商等，不僅在購買產(chǎn)品時，通過掃描產(chǎn)品上的條碼標(biāo)簽來識別產(chǎn)品的相關(guān)信息，還可以通過條碼標(biāo)簽追蹤產(chǎn)品信息、查詢歷史等。
[0003]目前常用的條碼標(biāo)簽由多條豎線以及在豎線的上部或下部的字符構(gòu)成。廠商在打印條碼標(biāo)簽后，還需要人工對條碼標(biāo)簽進行檢查，看是否存在打印缺陷。另外，雖然申請?zhí)枮?01120107718.2的中國實用新型專利公開了一種條碼標(biāo)簽的檢測裝置，其能代替人工檢查，但是，其僅能對豎線進行檢查，不能對字符進行檢查。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提出一種標(biāo)簽缺陷檢測方法，其能解決不能對字符進行檢查的問題。
[0005]為了達到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
[0006]標(biāo)簽缺陷檢測方法，其包括以下步驟:
[0007]步驟1、對打印好的標(biāo)簽進行圖像獲??；
[0008]步驟2、逐一的將預(yù)先存儲的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述標(biāo)簽上的其中一待比對字符進行疊加并按照公式一進行計算，所述公式一為:計算標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積，若對應(yīng)的位置都是輪廓，則乘積為1，否則為0，將所有乘積結(jié)果進行求和，以得到相似度值；
[0009]步驟3、若存在求和結(jié)果最大的相似度值大于或等于預(yù)設(shè)的第一閾值，則將所述求和結(jié)果最大的相似度值所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符作為所述待比對字符，記錄所述待比對字符的當(dāng)前坐標(biāo)并執(zhí)行步驟4，否則對所述待比對字符的當(dāng)前位置進行嚴(yán)重缺陷標(biāo)記并直接跳轉(zhuǎn)至步驟8 ;
[0010]步驟4、進一步判斷所述待比對字符的相似度值是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值，若是，則執(zhí)行步驟5，否則跳轉(zhuǎn)至步驟8 ；
[0011]步驟5、將對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述待比對字符進行疊加并按照公式二進行計算，所述公式二為:統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積為O的次數(shù)，并將乘積為O的位置連接起來形成缺陷區(qū)域；
[0012]步驟6、若所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)的第三閾值，且所述缺陷區(qū)域的面積超過預(yù)設(shè)的第四閾值，則先執(zhí)行步驟7在執(zhí)行步驟8，否則直接執(zhí)行步驟8 ；
[0013]步驟7、將所述缺陷區(qū)域進行顏色標(biāo)記；
[0014]步驟8、重復(fù)步驟2至步驟7，直到完成所述標(biāo)簽上的所有待比對字符的比對。
[0015]優(yōu)選的，所述標(biāo)準(zhǔn)字符的獲取過程如下:
[0016]步驟A、對含有一字符的區(qū)域進行圖像獲取，以得到字符區(qū)域；
[0017]步驟B、對所述字符區(qū)域進行二值化處理；
[0018]步驟C、將與預(yù)設(shè)的字號不匹配的圖形進行刪除，以得到字符；
[0019]步驟D、對所述字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到所述字符的輪廓；
[0020]步驟E、將所述字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到標(biāo)準(zhǔn)字符。[0021 ]進一步優(yōu)選的，步驟B與步驟C之間還有以下步驟:采用開運算對二值化處理后的字符區(qū)域進行圖像處理。
[0022]優(yōu)選的，在步驟2中，所述待比對字符的獲取過程如下:
[0023]步驟21、對所述標(biāo)簽的圖像進行二值化處理；
[0024]步驟22、將與預(yù)設(shè)的字號不匹配的圖形進行刪除，以得到多個字符；
[0025]步驟23、對每一個字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到每一個字符的輪廓；
[0026]步驟24、將每一個字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到待比對字符。
[0027]進一步優(yōu)選的，步驟22與步驟23之間還有以下步驟:計算每一個字符的灰度均值和標(biāo)準(zhǔn)差，將標(biāo)準(zhǔn)差小于第五閾值的區(qū)域刪除。
[0028]優(yōu)選的，所述標(biāo)準(zhǔn)字符為英文字母、漢字、數(shù)字和圖標(biāo)符號中的一種。
[0029]本發(fā)明具有如下有益效果:
[0030]能夠識別出標(biāo)簽中出現(xiàn)的字符缺陷，并且采用標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓信息作為模板，減少后續(xù)計算的運算量，比對效率高。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]圖1為本發(fā)明較佳實施例的標(biāo)簽缺陷檢測方法的流程圖；
[0032]圖2為具有缺陷的標(biāo)簽不意圖。

【具體實施方式】
[0033]下面，結(jié)合附圖以及【具體實施方式】，對本發(fā)明做進一步描述。
[0034]本實施例公開了一種標(biāo)簽缺陷檢測方法。在執(zhí)行該方法前，可對標(biāo)準(zhǔn)字符進行獲取，其獲取過程如下:
[0035]步驟A、可采用500萬像素的相機對含有一字符的區(qū)域進行圖像獲取，以得到字符區(qū)域。所述字符可以是英文字母、漢字、數(shù)字和圖標(biāo)符號中的任意一種。
[0036]步驟B、對所述字符區(qū)域進行二值化處理，以得到對整個字符區(qū)域的二值化圖像。
[0037]步驟C、采用開運算對二值化處理后的字符區(qū)域進行圖像處理，以去掉邊緣毛刺。
[0038]步驟D、將與預(yù)設(shè)的字號(即預(yù)設(shè)的長度值和高度值)不匹配的圖形進行刪除，以得到字符。這樣就可以避免一些圖形碎片的干擾。
[0039]步驟E、對所述字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到所述字符的輪廓。
[0040]步驟F、將所述字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到標(biāo)準(zhǔn)字符，將得到的標(biāo)準(zhǔn)字符進行保存。
[0041]根據(jù)需要，可以將所有需要用到的字符都安裝步驟A至步驟F制作成標(biāo)準(zhǔn)字符。例如，將26個英文字母都制作成標(biāo)準(zhǔn)字符。
[0042]如圖1所示，在制作好標(biāo)準(zhǔn)字符后，就可以進行標(biāo)簽缺陷檢測，具體包括以下步驟:
[0043]步驟S1、可采用500萬像素的相機對打印好的標(biāo)簽進行圖像獲取。
[0044]步驟S2、逐一的將預(yù)先存儲的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述標(biāo)簽上的其中一待比對字符進行疊加并按照公式一進行計算，所述公式一為:計算標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積，若對應(yīng)的位置都是輪廓，則乘積為1，否則為0，將所有乘積結(jié)果進行求和，以得到相似度值。也就是說，每一個標(biāo)準(zhǔn)字符都與同一個待比對字符進行比對，然后得到不同的相似度值。
[0045]本步驟的待比對字符的獲取過程如下:
[0046]步驟S21、對所述標(biāo)簽的圖像進行二值化處理；
[0047]步驟S22、將與預(yù)設(shè)的字號不匹配的圖形進行刪除，以得到多個字符；
[0048]步驟S23、由于字符的邊緣信息十分豐富，可計算每一個字符的灰度均值和標(biāo)準(zhǔn)差，若標(biāo)準(zhǔn)差小于第五閾值，可認(rèn)為該區(qū)域為黑點或亮點，需要刪除，剩下的區(qū)域就可認(rèn)為是字符。
[0049]步驟S24、對每一個字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到每一個字符的輪廓。
[0050]步驟S25、將每一個字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到待比對字符。
[0051]步驟S3、若存在求和結(jié)果最大的相似度值大于或等于預(yù)設(shè)的第一閾值時，則將所述求和結(jié)果最大的相似度值所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符作為所述待比對字符，記錄所述待比對字符的當(dāng)前坐標(biāo)并執(zhí)行步驟S4，否則對所述待比對字符的當(dāng)前位置進行嚴(yán)重缺陷標(biāo)記并直接跳轉(zhuǎn)至步驟S8。所述嚴(yán)重缺陷標(biāo)記可以是一個打叉的圖形，例如，待比對字符應(yīng)該是一個字母“A”，但由于打印缺陷，少了一橫變成那么最大相似度值肯定小于第一閾值，因此，在比對當(dāng)前位置進行標(biāo)記，即可知道打印缺陷出現(xiàn)的位置。
[0052]步驟S4、進一步判斷所述待比對字符的相似度值是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值，若是，則執(zhí)行步驟S5，否則跳轉(zhuǎn)至步驟S8。
[0053]步驟S5、將對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述待比對字符進行疊加并按照公式二進行計算，所述公式二為:統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積為O的次數(shù)，并將乘積為O的位置連接起來形成缺陷區(qū)域。
[0054]步驟S6、若所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)的第三閾值，且所述缺陷區(qū)域的面積超過預(yù)設(shè)的第四閾值，則先執(zhí)行步驟S7在執(zhí)行步驟S8,否則直接執(zhí)行步驟S8。
[0055]步驟S7、將所述缺陷區(qū)域進行顏色標(biāo)記。如圖2所示，單詞“Model”中字母“O”的左下角缺了一塊，那么，缺塊的地方就是缺陷區(qū)域，需要用不同的顏色標(biāo)記出來，例如用紅色。
[0056]步驟S8、返回步驟S2，并重復(fù)步驟S2至步驟S7，直到完成所述標(biāo)簽上的所有待比對字符的比對。
[0057]本實施例可以對缺陷區(qū)域進行標(biāo)記，能夠直觀的使質(zhì)檢人員看到缺陷的位置，從而還可以對打印設(shè)備進行有針對性的檢修。
[0058]另外，步驟S4至步驟S7中，雖然缺陷區(qū)域較小，不影響標(biāo)簽的識別，但是為了進一步保證打印質(zhì)量，設(shè)置了步驟S4至步驟S7。
[0059]本實施例具有如下優(yōu)點:
[0060]1、采用標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓信息作為模板，減少后續(xù)計算的運算量；
[0061]2、能適用于常見的一些字符，如字母、數(shù)字、符號等，適用性較強；
[0062]3、允許用戶設(shè)定不同的閾值，以實現(xiàn)不同等級要求的質(zhì)量檢測；
[0063]4、能較好的識別出各種印刷缺陷。
[0064]對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思，做出其它各種相應(yīng)的改變以及變形，而所有的這些改變以及變形都應(yīng)該屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟: 步驟1、對打印好的標(biāo)簽進行圖像獲?。? 步驟2、逐一的將預(yù)先存儲的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述標(biāo)簽上的其中一待比對字符進行疊加并按照公式一進行計算，所述公式一為:計算標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積，若對應(yīng)的位置都是輪廓，則乘積為1，否則為0，將所有乘積結(jié)果進行求和，以得到相似度值； 步驟3、若存在求和結(jié)果最大的相似度值大于或等于預(yù)設(shè)的第一閾值，則將所述求和結(jié)果最大的相似度值所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符作為所述待比對字符，記錄所述待比對字符的當(dāng)前坐標(biāo)并執(zhí)行步驟4，否則對所述待比對字符的當(dāng)前位置進行嚴(yán)重缺陷標(biāo)記并直接跳轉(zhuǎn)至步驟8 ； 步驟4、進一步判斷所述待比對字符的相似度值是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值，若是，則執(zhí)行步驟5，否則跳轉(zhuǎn)至步驟8 ; 步驟5、將對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)字符與所述待比對字符進行疊加并按照公式二進行計算，所述公式二為:統(tǒng)計標(biāo)準(zhǔn)字符的輪廓與待比對字符的輪廓二者對應(yīng)的位置的乘積為0的次數(shù)，并將乘積為0的位置連接起來形成缺陷區(qū)域； 步驟6、若所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)的第三閾值，且所述缺陷區(qū)域的面積超過預(yù)設(shè)的第四閾值，則先執(zhí)行步驟7在執(zhí)行步驟8，否則直接執(zhí)行步驟8 ； 步驟7、將所述缺陷區(qū)域進行顏色標(biāo)記； 步驟8、重復(fù)步驟2至步驟7，直到完成所述標(biāo)簽上的所有待比對字符的比對。
2.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)字符的獲取過程如下: 步驟A、對含有一字符的區(qū)域進行圖像獲取，以得到字符區(qū)域； 步驟B、對所述字符區(qū)域進行二值化處理； 步驟C、將與預(yù)設(shè)的字號不匹配的圖形進行刪除，以得到字符； 步驟D、對所述字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到所述字符的輪廓； 步驟E、將所述字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到標(biāo)準(zhǔn)字符。
3.如權(quán)利要求2所述的標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，步驟B與步驟C之間還有以下步驟:采用開運算對二值化處理后的字符區(qū)域進行圖像處理。
4.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，在步驟2中，所述待比對字符的獲取過程如下: 步驟21、對所述標(biāo)簽的圖像進行二值化處理； 步驟22、將與預(yù)設(shè)的字號不匹配的圖形進行刪除，以得到多個字符； 步驟23、對每一個字符進行邊緣梯度計算以及二值化處理，以得到每一個字符的輪廓； 步驟24、將每一個字符的輪廓區(qū)域賦值為1，非輪廓區(qū)域賦值為0，以得到待比對字符。
5.如權(quán)利要求4所述的標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，步驟22與步驟23之間還有以下步驟:計算每一個字符的灰度均值和標(biāo)準(zhǔn)差，將標(biāo)準(zhǔn)差小于第五閾值的區(qū)域刪除。
6.如權(quán)利要求1所述的標(biāo)簽缺陷檢測方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)字符為英文字母、漢字、數(shù)字和圖標(biāo)符號中的一種。
【文檔編號】G06T7/00GK104318573SQ201410610077
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年10月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月31日
【發(fā)明者】張俊峰 申請人:廣州超音速自動化科技有限公司