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      雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法

      文檔序號(hào):6638415閱讀:314來(lái)源:國(guó)知局
      雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法,包括以下步驟:(1)構(gòu)建雙耦合Duffing振子微弱信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)方程,分析系統(tǒng)的各狀態(tài),確定臨界混沌狀態(tài)參數(shù);(2)建立雙耦合Duffing振子陣列檢測(cè)模型,設(shè)置方程參數(shù);(3)對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行頻譜分析,得到待檢信號(hào)所包含頻率的估計(jì)值;(4)對(duì)待檢信號(hào)進(jìn)行尺度變換,確保信號(hào)在振子陣列的檢測(cè)范圍之內(nèi);(5)將經(jīng)過(guò)尺度變換后的待檢信號(hào)輸入到雙耦合Duffing振子陣列中,計(jì)算出待檢信號(hào)精確的頻率構(gòu)成。本發(fā)明方法采用雙耦合Duffing振子系統(tǒng)與變尺度相結(jié)合來(lái)檢測(cè)微弱周期信號(hào),克服了常規(guī)的Duffing振子系統(tǒng)只能對(duì)較低頻信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的缺陷,實(shí)現(xiàn)了對(duì)高頻微弱信號(hào)的檢測(cè)。
      【專利說(shuō)明】雙耦合Duff i ng振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及微弱信號(hào)檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及雙耦合DufTing振子與變尺度相結(jié) 合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法。 技術(shù)背景
      [0002] 信號(hào)檢測(cè)技術(shù)在工程領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,微弱信號(hào)是用常規(guī)方法不能檢測(cè)到的 微弱量,如弱光、弱聲、微電流等,微弱信號(hào)的檢測(cè)在雷達(dá)、聲納、振動(dòng)測(cè)量、故障診斷、通信 等領(lǐng)域有著極其廣泛的應(yīng)用,所以微弱信號(hào)的檢測(cè)一直是國(guó)內(nèi)外學(xué)者研宄的熱點(diǎn)。傳統(tǒng)上 微弱信號(hào)檢測(cè)的方法主要是濾除或抑制噪聲,但是這種方法可能會(huì)損害有用信號(hào)。
      [0003] 利用混沌振子檢測(cè)微弱信號(hào)具有靈敏度高、抗噪聲能力強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),該方法在微弱 周期信號(hào)檢測(cè)方面的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。
      [0004] 近年來(lái),基于DufTing振子的混沌檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)微弱信號(hào)檢測(cè)的研宄尤為突出。目 前的許多研宄成果分別從理論分析論證和仿真驗(yàn)證等方面基于DufTing振子對(duì)微弱周期 信號(hào)的混沌檢測(cè)進(jìn)行了研宄,為基于該理論實(shí)現(xiàn)對(duì)工程中常見信號(hào)在強(qiáng)噪聲背景下的檢測(cè) 應(yīng)用提供了依據(jù)。
      [0005] 基于DufTing振子的常規(guī)檢測(cè)方法存在著缺陷,那就是系統(tǒng)受到小頻率參數(shù)的限 制,只能檢測(cè)較低頻的微弱信號(hào)。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種多頻微弱周期信號(hào)的檢測(cè)方法,及雙耦合 Duffing振子與變尺度相結(jié)合對(duì)高頻微弱周期信號(hào)檢測(cè)的方法。
      [0007] 為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明是按如下方式實(shí)現(xiàn)的:一種基于雙親合Duffing振子 與變尺度相結(jié)合的微弱周期信號(hào)的檢測(cè)方法,其內(nèi)容包括以下步驟:
      [0008] (1)構(gòu)建雙耦合Duffing振子微弱信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)方程,分析系統(tǒng)的各狀態(tài),確定臨 界混純狀態(tài)參數(shù);
      [0009] (2)建立雙耦合Duff ing振子陣列,設(shè)置方程參數(shù);
      [0010] (3)對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行頻譜分析,得到待檢測(cè)信號(hào)所包含頻率的估計(jì)值;
      [0011] (4)對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行尺度變換,確保信號(hào)在振子陣列的檢測(cè)范圍之內(nèi);
      [0012] (5)將經(jīng)過(guò)尺度變換處理后的待檢測(cè)信號(hào)輸入到雙耦合Duffing振子陣列中,計(jì) 算出待檢測(cè)信號(hào)精確的頻率構(gòu)成。
      [0013] 進(jìn)一步的,在步驟(1)中所述構(gòu)建雙耦合Duffing振子微弱信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)方程,就 是建立方程式:

      【權(quán)利要求】
      1. 雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下 步驟: (1) 構(gòu)建雙耦合DufTing振子微弱信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)方程,分析系統(tǒng)的各狀態(tài),確定臨界混 純狀態(tài)參數(shù); (2) 建立雙耦合Duffing振子陣列,設(shè)置方程參數(shù); (3) 對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行頻譜分析,得到待檢測(cè)信號(hào)所包含頻率的估計(jì)值; (4) 對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行尺度變換,確保信號(hào)在振子陣列的檢測(cè)范圍之內(nèi); (5) 將經(jīng)過(guò)尺度變換處理后的待檢測(cè)信號(hào)輸入到雙耦合Duffing振子陣列中,計(jì)算出 待檢測(cè)信號(hào)精確的頻率構(gòu)成。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(1)中所述構(gòu)建雙耦合Duffing振子微弱信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)方程,就是建立 方程式:
      式中,k為阻尼系數(shù),m為耦合系數(shù),F(xiàn)為內(nèi)置周期策動(dòng)力的幅值,-x3+x5為非線性恢復(fù) 力項(xiàng)。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(2)中,所述建立雙耦合Duffing振子陣列,就是使用一個(gè)有限的陣列, 將振子陣列中各個(gè)振子的固有頻率限制在lrad/s和lOrad/s之間,并使之成為一個(gè)等比數(shù) 列; 根據(jù)所建立的振子陣列得到雙耦合Duffing振子的檢測(cè)模型為: 式〒,ω=〈ω(|+Δω; ,
      ω。= 1,1衣不弟1個(gè)派卞,Δω表示相鄰振子的頻 差,S(t)表示待檢測(cè)的多頻微弱信號(hào)。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(2)中,所述設(shè)置方程參數(shù),其設(shè)置原則是:內(nèi)置周期策動(dòng)力的幅值F 能夠使得雙耦合DufTing振子系統(tǒng)處于混沌臨界狀態(tài);相鄰振子的頻差值能夠確保系統(tǒng)可 以觀察到明顯的間歇混沌現(xiàn)象;設(shè)置雙耦合Duffing振子陣列的方程參數(shù)為:k= 0. 5,m= 1,F(xiàn)= 0· 717,Δω= 〇· 〇3〇
      5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(3)中,所述對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行頻譜分析,就是得到待檢測(cè)信號(hào)中所包 含分量頻率的估計(jì)值,判斷頻率值是否在雙親合Duffing振子陣列的檢測(cè)范圍之內(nèi),確定 是否需要進(jìn)行尺度變換來(lái)完成進(jìn)一步的檢測(cè)。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(4)中,所述對(duì)待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行尺度變換,就是引入變尺度系數(shù)R,對(duì)不 在振子陣列檢測(cè)范圍內(nèi)的待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行尺度變換,使得待檢測(cè)信號(hào)的頻率在振子陣列的 檢測(cè)范圍以內(nèi)。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙耦合Duffing振子與變尺度相結(jié)合的微弱信號(hào)檢測(cè)方法, 其特征在于:在步驟(5)中,所述將經(jīng)變尺度處理后的待檢測(cè)信號(hào)輸入到振子陣列中,就是 依此觀察各個(gè)振子的時(shí)域波形,若其中某兩個(gè)相鄰的振子處于間歇混沌狀態(tài),其余振子仍 處于混沌狀態(tài),就可計(jì)算待檢信號(hào)頻率的準(zhǔn)確值為:
      式中,ωι、ω2為處于間歇混沌狀態(tài)的兩個(gè)相鄰振子的頻率,'、&為間歇混沌的周 期,R為引入的變尺度系數(shù)。
      【文檔編號(hào)】G06F17/50GK104462695SQ201410764939
      【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月12日
      【發(fā)明者】時(shí)培明, 孫彥龍, 韓東穎 申請(qǐng)人:燕山大學(xué)
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