本發(fā)明屬于半導體集成電路技術領域,具體涉及一種用于芯片間級聯(lián)應用電路。
背景技術:
級聯(lián)應用,就是把多個相同或相似功能的模塊通過規(guī)律性的連接方式進行連接。級聯(lián)電路現(xiàn)在被廣泛應用于很多場合中,串聯(lián)鋰電池應用就是其中之一。
在串聯(lián)鋰電池應用中,需要對每節(jié)鋰電池的電壓進行檢測,以對其充電和放電行為進行控制。然而多節(jié)鋰電池的檢測結(jié)果如何實現(xiàn)同步控制,是個非常困難的問題。目前的解決方法是把每節(jié)鋰電池的檢測結(jié)果送入處理器,通過處理器對每節(jié)的檢測結(jié)果進行處理后,對每節(jié)鋰電池進行單獨控制。這種通過處理器來控制的傳統(tǒng)方法非常復雜,而且需要大量的程序?qū)崿F(xiàn),成本昂貴。
技術實現(xiàn)要素:
為解決現(xiàn)有鋰電池串聯(lián)應用解決方案成本昂貴的技術問題,本發(fā)明提供了一種用于串聯(lián)鋰電池應用的級聯(lián)應用電路。
一種芯片間級聯(lián)應用電路,包括:至少兩個芯片;每個芯片均包含級聯(lián)模塊上部分電路、級聯(lián)模塊下部分電路;所述下一級芯片的級聯(lián)模塊下部分電路的輸出端連接上一芯片的級聯(lián)模塊上部分電路的輸出端;所述第一級芯片的級聯(lián)模塊下部分電路輸出端和所述最后一級芯片的級聯(lián)模塊上部分電路輸出端均連接邏輯處理模塊;邏輯處理模塊的輸出端作為整個電路的輸出端。
進一步的,所述芯片為3級。
進一步的,所述級聯(lián)模塊上部分電路包括:第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2和第三nmos晶體管n3;第一pmos晶體管p1的柵極接偏置電流輸入端pbias,源極接電源,漏極接第一nmos晶體管n1的柵極和漏極以及第二nmos晶體管n2的柵極;第二pmos晶體管p2的柵極接偏置電流輸入端pbias,源極接電源,漏極接第二nmos晶體管n2的漏極;第一nmos晶體管n1的源極接地;第二nmos晶體管n2的源極接輸出up;第三nmos晶體管n3的柵極接上半部分電路輸入端inu,源極接地,漏極接模塊的輸出up。
進一步的,第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第三pmos晶體管p3、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2和第三nmos晶體管n3;第一nmos晶體管n1的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接第一pmos晶體管p1的柵極和漏極以及第二pmos晶體管p2的柵極;第二nmos晶體管n2的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接第二pmos晶體管p2的漏極;第三nmos晶體管n3的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接輸出端down;第一pmos晶體管p1的源極接電源;第二pmos晶體管p2的源極接輸出端down;第三pmos晶體管p3的柵極接下半部分電路輸入端ind,源極接電源,漏極接輸出端down。
本發(fā)明中用于芯片間的級聯(lián)應用電路,能夠在省掉處理器的情況下使多顆芯片級聯(lián)共同作用,大大降低了系統(tǒng)的成本。
附圖說明
圖1是本發(fā)明第一實施方式提供的芯片間級聯(lián)應用電路結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明第一實施方式提供的級聯(lián)上部分電路結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明第一實施方式提供的級聯(lián)下部分電路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明了,下面結(jié)合具體實施方式并參照附圖,對本發(fā)明進一步詳細說明。應該理解,這些描述只是示例性的,而并非要限制本發(fā)明的范圍。此外,在以下說明中,省略了對公知結(jié)構(gòu)和技術的描述,以避免不必要地混淆本發(fā)明的概念。
為解決現(xiàn)有鋰電池串聯(lián)應用解決方案成本昂貴的技術問題,本發(fā)明提供了一種用于串聯(lián)鋰電池應用的級聯(lián)應用電路。至少兩級芯片;每級芯片均包含級聯(lián)模塊上部分電路、級聯(lián)模塊下部分電路;所述下一級芯片的級聯(lián)模塊下部分電路的輸出端連接上一芯片的級聯(lián)模塊上部分電路的輸出端;所述第一級芯片的級聯(lián)模塊下部分電路輸出端和所述最后一級芯片的級聯(lián)模塊上部分電路輸出端均連接邏輯處理模塊;邏輯處理模塊的輸出端作為整個電路的輸出端。
如圖1所述,采用3級芯片為例,詳細描述芯片間級聯(lián)應用電路。芯片一包括級聯(lián)模塊上部分電路11、級聯(lián)模塊下部分電路12、芯片二包括級聯(lián)模塊上部分電路21、級聯(lián)模塊下部分電路22、芯片三包括級聯(lián)模塊上部分電路31、級聯(lián)模塊下部分電路32、邏輯處理模塊4;芯片二的級聯(lián)模塊下部分電路22輸出down2連接芯片一的級聯(lián)模塊上部分電路11輸出up1,芯片三的級聯(lián)模塊下部分電路32輸出down3連接芯片二的級聯(lián)模塊上部分電路21輸出up2,芯片一的級聯(lián)模塊下部分電路12輸出down1、芯片三的級聯(lián)模塊上部分電路31輸出up3連接邏輯處理模塊4,邏輯處理模塊4的輸出端作out為整個電路的輸出端。
一種級聯(lián)模塊上部分電路,如圖2所示,包括第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2和第三nmos晶體管n3;第一pmos晶體管p1的柵極接偏置電流輸入端pbias,源極接電源,漏極接第一nmos晶體管n1的柵極和漏極以及第二nmos晶體管n2的柵極;第二pmos晶體管p2的柵極接偏置電流輸入端pbias,源極接電源,漏極接第二nmos晶體管n2的漏極;第一nmos晶體管n1的源極接地;第二nmos晶體管n2的源極接輸出up;第三nmos晶體管n3的柵極接上半部分電路輸入端inu,源極接地,漏極接模塊的輸出up。
一種級聯(lián)模塊下部分電路,如圖3所示,包括第一pmos晶體管p1、第二pmos晶體管p2、第三pmos晶體管p3、第一nmos晶體管n1、第二nmos晶體管n2和第三nmos晶體管n3;第一nmos晶體管n1的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接第一pmos晶體管p1的柵極和漏極以及第二pmos晶體管p2的柵極;第二nmos晶體管n2的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接第二pmos晶體管p2的漏極;第三nmos晶體管n3的柵極接偏置電流輸入端nbias,源極接地,漏極接輸出端down;第一pmos晶體管p1的源極接電源;第二pmos晶體管p2的源極接輸出端down;第三pmos晶體管p3的柵極接下半部分電路輸入端ind,源極接電源,漏極接輸出端down。
本發(fā)明中用于芯片間的級聯(lián)應用電路,能夠在省掉處理器的情況下使多顆芯片級聯(lián)共同作用,大大降低了系統(tǒng)的成本。
應當理解的是,本發(fā)明的上述具體實施方式僅僅用于示例性說明或解釋本發(fā)明的原理,而不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。因此,在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下所做的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。此外,本發(fā)明所附權(quán)利要求旨在涵蓋落入所附權(quán)利要求范圍和邊界、或者這種范圍和邊界的等同形式內(nèi)的全部變化和修改例。