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      測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

      文檔序號(hào):39621201發(fā)布日期:2024-10-11 13:40閱讀:15來源:國(guó)知局
      測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

      本公開涉及空調(diào)設(shè)備,尤其涉及一種測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。


      背景技術(shù):

      1、當(dāng)前,空調(diào)器系統(tǒng)包含內(nèi)外兩機(jī)控制器及多種輔配設(shè)備,在關(guān)于空調(diào)器系統(tǒng)的新項(xiàng)目開發(fā)過程中,通常需要多次實(shí)驗(yàn)來驗(yàn)證和調(diào)整系統(tǒng)參數(shù),使得空調(diào)系統(tǒng)性能達(dá)到最優(yōu)。

      2、相關(guān)技術(shù)中,通常是由軟件工程師對(duì)系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,當(dāng)涉及到參數(shù)變更,則需要由軟件工程師進(jìn)行程序編寫和輸出。

      3、這種方式下,由軟件工程師進(jìn)行頻繁的程序編寫輸出,工作量較大,導(dǎo)致項(xiàng)目進(jìn)度推進(jìn)緩慢,當(dāng)需要對(duì)空調(diào)器系統(tǒng)進(jìn)行多工況連續(xù)測(cè)試時(shí),會(huì)出現(xiàn)程序更新效率低的問題,影響空調(diào)器系統(tǒng)的開發(fā)進(jìn)展和開發(fā)效果。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本公開旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。

      2、為此,本公開的目的在于提出一種測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,能夠在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的時(shí),自動(dòng)加載待測(cè)設(shè)備的系統(tǒng)測(cè)試參數(shù)集,以對(duì)待測(cè)設(shè)備的原有參數(shù)進(jìn)行升級(jí),有效降低人工進(jìn)行參數(shù)更新測(cè)試的更新測(cè)試成本,提升更新測(cè)試效率,解決對(duì)待測(cè)設(shè)備執(zhí)行多工況連續(xù)測(cè)試程序時(shí)更新效率低的問題。

      3、本公開第一方面實(shí)施例提出一種測(cè)試參數(shù)更新方法,包括:在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的情況下,確定參數(shù)更新指令的來源;根據(jù)參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào);將第一版本號(hào)發(fā)送給待測(cè)設(shè)備,以指示待測(cè)設(shè)備執(zhí)行第一版本號(hào)關(guān)聯(lián)的第一測(cè)試參數(shù)集。

      4、本公開第二方面實(shí)施例提出一種測(cè)試參數(shù)更新裝置,包括:第一確定模塊,用于在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的情況下,確定參數(shù)更新指令的來源;第二確定模塊,用于根據(jù)參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào);處理模塊,用于將第一版本號(hào)發(fā)送給待測(cè)設(shè)備,以指示待測(cè)設(shè)備執(zhí)行第一版本號(hào)關(guān)聯(lián)的第一測(cè)試參數(shù)集。

      5、本公開第三方面實(shí)施例提出了一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,處理器執(zhí)行程序時(shí),實(shí)現(xiàn)如本公開第一方面實(shí)施例提出的測(cè)試參數(shù)更新方法。

      6、本公開第四方面實(shí)施例提出了一種非臨時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如本公開第一方面實(shí)施例提出的測(cè)試參數(shù)更新方法。

      7、本公開第五方面實(shí)施例提出了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,當(dāng)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品中的指令由處理器執(zhí)行時(shí),執(zhí)行如本公開第一方面實(shí)施例提出的測(cè)試參數(shù)更新方法。

      8、本公開提供的測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,通過在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的情況下,確定參數(shù)更新指令的來源,根據(jù)參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào),將第一版本號(hào)發(fā)送給待測(cè)設(shè)備,以指示待測(cè)設(shè)備執(zhí)行第一版本號(hào)關(guān)聯(lián)的第一測(cè)試參數(shù)集,能夠在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的時(shí),自動(dòng)加載待測(cè)設(shè)備的系統(tǒng)測(cè)試參數(shù)集,以對(duì)待測(cè)設(shè)備的原有參數(shù)進(jìn)行升級(jí),有效降低人工進(jìn)行參數(shù)更新測(cè)試的更新測(cè)試成本,提升更新測(cè)試效率,解決對(duì)待測(cè)設(shè)備執(zhí)行多工況連續(xù)測(cè)試程序時(shí)更新效率低的問題。

      9、本公開附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本公開的實(shí)踐了解到。



      技術(shù)特征:

      1.一種測(cè)試參數(shù)更新方法,其特征在于,包括:

      2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述將所述第一版本號(hào)發(fā)送給待測(cè)設(shè)備之前,還包括:

      3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

      4.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,在所述基于所述第一測(cè)試參數(shù)集,對(duì)所述第二測(cè)試參數(shù)集進(jìn)行更新之后,還包括:

      5.如權(quán)利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào),包括:

      6.如權(quán)利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào),包括:

      7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述將未測(cè)試過的至少一個(gè)測(cè)試參數(shù)的版本號(hào),確定為所述第一版本號(hào),包括:

      8.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

      9.一種測(cè)試參數(shù)更新裝置,其特征在于,

      10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:

      11.一種存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令的非瞬時(shí)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,其中,所述計(jì)算機(jī)指令用于使所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的測(cè)試參數(shù)更新方法。

      12.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其特征在于,包括計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述測(cè)試參數(shù)更新方法的步驟。


      技術(shù)總結(jié)
      本公開提出一種測(cè)試參數(shù)更新方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的情況下,確定參數(shù)更新指令的來源,根據(jù)參數(shù)更新指令的來源,確定待執(zhí)行的測(cè)試參數(shù)的第一版本號(hào),將第一版本號(hào)發(fā)送給待測(cè)設(shè)備,以指示待測(cè)設(shè)備執(zhí)行第一版本號(hào)關(guān)聯(lián)的第一測(cè)試參數(shù)集,能夠在監(jiān)測(cè)到測(cè)試參數(shù)更新指令的時(shí),自動(dòng)加載待測(cè)設(shè)備的系統(tǒng)測(cè)試參數(shù)集,以對(duì)待測(cè)設(shè)備的原有參數(shù)進(jìn)行升級(jí),有效降低人工進(jìn)行參數(shù)更新測(cè)試的更新測(cè)試成本,提升更新測(cè)試效率,解決對(duì)待測(cè)設(shè)備執(zhí)行多工況連續(xù)測(cè)試程序時(shí)更新效率低的問題。

      技術(shù)研發(fā)人員:樂禹銘,李呈斌,王知恒,單聯(lián)瑜,吳俊鴻,張一航
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:小米科技(武漢)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/10/10
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