本申請(qǐng)涉及生理標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在手術(shù)規(guī)劃的應(yīng)用場(chǎng)景中，生理參數(shù)的計(jì)算是制定個(gè)性化手術(shù)規(guī)劃方案的重要前提之一，而生理標(biāo)記點(diǎn)是輔助計(jì)算生理參數(shù)的重要信息。目前相關(guān)技術(shù)中，主要借助深度學(xué)習(xí)技術(shù)檢測(cè)生理標(biāo)記點(diǎn)，通過訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，利用訓(xùn)練好的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)模型對(duì)目標(biāo)組織進(jìn)行生理標(biāo)記點(diǎn)信息的提取。然而這種方法受限于數(shù)據(jù)量、網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)模態(tài)等因素，單純依賴深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的結(jié)果并不能穩(wěn)定地輸出標(biāo)記點(diǎn)定位信息，結(jié)果中有時(shí)會(huì)摻雜著誤檢或精度欠佳的定位標(biāo)記點(diǎn)信息。

2、相關(guān)技術(shù)中，對(duì)于深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的生理標(biāo)記點(diǎn)，主要采用改善網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的方法，以提高標(biāo)記點(diǎn)的檢測(cè)精度，然而這種方法需要足夠充分的訓(xùn)練數(shù)據(jù)樣本。或者采用對(duì)深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)信息進(jìn)行人工審查的方式，這無疑會(huì)增加系統(tǒng)的使用成本，造成人力資源的浪費(fèi)。

3、目前，對(duì)于相關(guān)技術(shù)中，深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)不準(zhǔn)確的問題，尚未提出有效的解決方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，以解決相關(guān)技術(shù)中深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)不準(zhǔn)確的問題。

2、第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，包括：

3、獲取標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，其中，所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果包括待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的位置；

4、根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)；

5、根據(jù)所述異常點(diǎn)，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正。

6、在其中一些實(shí)施例中，根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)包括：

7、根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，獲取第一距離矩陣與第二距離矩陣，其中，所述第一距離矩陣包括每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)與其余所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)之間的第一距離數(shù)據(jù)，所述第二距離矩陣包括每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)與其余所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)之間的距離；

8、根據(jù)所述第一距離矩陣與所述第二距離矩陣，判斷所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中是否存在異常點(diǎn)；

9、在所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中存在異常點(diǎn)的情況下，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)。

10、在其中一些實(shí)施例中，根據(jù)所述第一距離矩陣與所述第二距離矩陣，判斷所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中是否存在異常點(diǎn)包括：

11、計(jì)算所述第一距離矩陣中每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)與其余各個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)之間的多個(gè)所述第一距離數(shù)據(jù)，與所述第二距離矩陣中對(duì)應(yīng)的每個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)與其余各個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)之間的多個(gè)所述第二距離數(shù)據(jù)的乘積；

12、將同一個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)下的多個(gè)所述第一距離數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)的所述第二距離數(shù)據(jù)的乘積相加，得到每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)之間的相似度；

13、根據(jù)所述相似度，判斷所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中是否存在異常點(diǎn)。

14、在其中一些實(shí)施例中，在所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中存在異常點(diǎn)的情況下，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)包括：

15、計(jì)算所述第一距離矩陣中每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)與其余各個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)之間的多個(gè)所述第一距離數(shù)據(jù)，與所述第二距離矩陣中對(duì)應(yīng)的每個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)與其余各個(gè)所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)之間的多個(gè)所述第二距離數(shù)據(jù)的絕對(duì)差值；

16、選取每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)下最大的所述絕對(duì)差值，并記錄最大的所述絕對(duì)差值的位置索引；

17、對(duì)所述位置索引進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，選取出現(xiàn)次數(shù)最多的所述位置索引，根據(jù)出現(xiàn)次數(shù)最多的所述位置索引選取所述異常點(diǎn)；

18、剔除所述異常點(diǎn)，對(duì)剩余所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)繼續(xù)進(jìn)行異常點(diǎn)識(shí)別與剔除，直至識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的所有的所述異常點(diǎn)。

19、在其中一些實(shí)施例中，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正包括：

20、剔除所述第一距離矩陣中所述異常點(diǎn)的所述第一距離數(shù)據(jù)以及所述第二距離矩陣中與所述異常點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)的所述第二距離數(shù)據(jù)；

21、計(jì)算剔除后的所述第一距離矩陣中的第一距離數(shù)據(jù)與剔除后的所述第二距離矩陣中的第二距離數(shù)據(jù)的映射關(guān)系；

22、根據(jù)所述映射關(guān)系以及與所述異常點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo)，得到所述異常點(diǎn)的第一校正坐標(biāo)。

23、在其中一些實(shí)施例中，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正還包括：

24、剔除所述第一距離矩陣中所述異常點(diǎn)的所述第一距離數(shù)據(jù)以及所述第二距離矩陣中與所述異常點(diǎn)對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)的所述第二距離數(shù)據(jù)；

25、計(jì)算剔除后的所述第一距離矩陣的每個(gè)所述第一距離數(shù)據(jù)相對(duì)于剔除后的所述第二距離矩陣中對(duì)應(yīng)的每個(gè)所述第二距離數(shù)據(jù)的比例系數(shù)，求取每個(gè)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)下的所述比例系數(shù)的平均值作為縮放因子；

26、根據(jù)所述縮放因子與所述第二距離矩陣中的所述第二距離數(shù)據(jù)，計(jì)算所述異常點(diǎn)到其余所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的理論距離數(shù)據(jù)，根據(jù)所述理論距離數(shù)據(jù)求解，得到所述異常點(diǎn)的第二校正坐標(biāo)。

27、在其中一些實(shí)施例中，所述方法還包括：

28、根據(jù)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)所在的圖像生成梯度場(chǎng)；

29、根據(jù)所述梯度場(chǎng)對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的坐標(biāo)進(jìn)行校正，使所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)收斂至所述梯度場(chǎng)的局部最大點(diǎn)。

30、在其中一些實(shí)施例中，所述方法還包括：

31、對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)所在的圖像進(jìn)行分割，根據(jù)分割結(jié)果生成符號(hào)距離場(chǎng)；

32、根據(jù)所述符號(hào)距離場(chǎng)對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正，使所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)收斂至所述符號(hào)距離場(chǎng)的局部最小值所在點(diǎn)。

33、第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理裝置，包括：

34、獲取模塊，用于獲取標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，其中，所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果包括待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的位置；

35、識(shí)別模塊，用于根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)；

36、校正模塊，用于根據(jù)所述異常點(diǎn)，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正。

37、第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面中任一項(xiàng)所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法的步驟。

38、第四方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面中任一項(xiàng)所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法的步驟。

39、相比于相關(guān)技術(shù)，本申請(qǐng)實(shí)施例提供的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，通過獲取標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，其中，標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果包括待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的位置，根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)，根據(jù)異常點(diǎn)，對(duì)待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正，解決了深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)不準(zhǔn)確的問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì)于深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)的校正。

40、本申請(qǐng)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的細(xì)節(jié)在以下附圖和描述中提出，以使本申請(qǐng)的其他特征、目的和優(yōu)點(diǎn)更加簡(jiǎn)明易懂。

技術(shù)特征：

1.一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，根據(jù)所述第一距離矩陣與所述第二距離矩陣，判斷所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中是否存在異常點(diǎn)包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，在所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中存在異常點(diǎn)的情況下，識(shí)別所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，對(duì)所述待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，所述方法還包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理裝置，其特征在于，包括：

10.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法的步驟。

11.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)后處理方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，通過獲取標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，其中，標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果包括待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)的位置，根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)檢測(cè)結(jié)果，識(shí)別待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)中的異常點(diǎn)，根據(jù)異常點(diǎn)，對(duì)待測(cè)標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行校正，解決了深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)不準(zhǔn)確的問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì)于深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)輸出的標(biāo)記點(diǎn)的校正。

技術(shù)研發(fā)人員：周騰鶴,張旭
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢聯(lián)影智融醫(yī)療科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10