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      SoC芯片的驗(yàn)證方法和SoC芯片驗(yàn)證系統(tǒng)、電子設(shè)備與流程

      文檔序號(hào):39613250發(fā)布日期:2024-10-11 13:23閱讀:10來源:國(guó)知局
      SoC芯片的驗(yàn)證方法和SoC芯片驗(yàn)證系統(tǒng)、電子設(shè)備與流程

      本發(fā)明涉及芯片測(cè)試,具體而言,涉及一種soc芯片的驗(yàn)證方法和soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)、電子設(shè)備以及非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。


      背景技術(shù):

      1、soc芯片是一種采用集成式設(shè)計(jì)思路產(chǎn)生的集成電路芯片,在soc芯片上集成有完成系統(tǒng)核心功能所需的系統(tǒng)關(guān)鍵部件。隨著開源cpu指令集架構(gòu)的快速發(fā)展,soc芯片的應(yīng)用場(chǎng)景越來越多,其生態(tài)也越來越好。

      2、隨著cpu指令集架構(gòu)的設(shè)計(jì)復(fù)雜度越來越高,其驗(yàn)證的復(fù)雜度也越來越高,且驗(yàn)證時(shí)需要同時(shí)兼顧動(dòng)態(tài)和靜態(tài)驗(yàn)證。傳統(tǒng)的soc芯片驗(yàn)證方法一般采用uvm(universalverification?methodolody,通用驗(yàn)證方法學(xué)),在動(dòng)態(tài)驗(yàn)證cpu指令集時(shí),在輸入執(zhí)行指令后,soc芯片根據(jù)指令進(jìn)行pipeline?stages的處理,在每條指令處理完成后,利用計(jì)分板(scoreboard)實(shí)時(shí)檢測(cè)每條指令的輸出結(jié)果。計(jì)分板通過比對(duì)cpu指令輸出的結(jié)果和參考模型的輸出結(jié)果進(jìn)行比對(duì),以確定cpu的指令輸出是否正確,實(shí)現(xiàn)對(duì)soc芯片驗(yàn)證的目的。

      3、在傳統(tǒng)的芯片驗(yàn)證結(jié)果比對(duì)技術(shù)當(dāng)中,uvm的整個(gè)驗(yàn)證過程包括build(編譯),run(運(yùn)行)和clean-up(清除)3個(gè)階段。在現(xiàn)有技術(shù)中,動(dòng)態(tài)驗(yàn)證soc芯片主要run階段中執(zhí)行,由于run階段仿真時(shí)間很長(zhǎng),貫穿整個(gè)芯片的驗(yàn)證時(shí)間。因此,每個(gè)結(jié)果比對(duì)的檢查會(huì)讓計(jì)分板的緩存比較大,結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,運(yùn)行時(shí)間比較慢。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本發(fā)明旨在提出一種soc芯片的驗(yàn)證方法和soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)、電子設(shè)備以及非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),以解決在對(duì)soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)對(duì)計(jì)分板的內(nèi)存空間占用大以及結(jié)構(gòu)要求復(fù)雜的問題。

      2、根據(jù)本發(fā)明的一方面,提出一種soc芯片的驗(yàn)證方法,所述驗(yàn)證方法用于soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),包括響應(yīng)于用例激勵(lì)的輸入指令,將所述用例激勵(lì)輸入至待驗(yàn)證的soc芯片;記錄所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)的芯片執(zhí)行過程信息和芯片執(zhí)行結(jié)果;利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證。

      3、根據(jù)一些實(shí)施例,記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息包括所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)時(shí)的cpu指令或所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)時(shí)的cpu指令的索引值。

      4、根據(jù)一些實(shí)施例,所述soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)包括c標(biāo)準(zhǔn)模塊,在利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證之前,所述驗(yàn)證方法還包括向所述c標(biāo)準(zhǔn)模塊輸入所述用例激勵(lì);記錄所述c標(biāo)準(zhǔn)模塊執(zhí)行所述用例激勵(lì)的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息和標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果。

      5、根據(jù)一些實(shí)施例,利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證,包括比較所述芯片執(zhí)行過程信息和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息;比較所述芯片執(zhí)行結(jié)果和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果;在所述芯片執(zhí)行過程信息和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息相同且所述芯片執(zhí)行結(jié)果和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果相同的情況下,確定所述soc芯片驗(yàn)證通過;否則,確定所述soc芯片驗(yàn)證不通過。

      6、根據(jù)一些實(shí)施例,所述soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)包括計(jì)分板,利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證,包括通過所述計(jì)分板,利用所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證。

      7、根據(jù)本發(fā)明的一方面,提出一種soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),包括輸入模塊,配置為接收用例激勵(lì),并將所述用例激勵(lì)輸入至待驗(yàn)證的soc芯片;記錄模塊,配置為記錄所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)的芯片執(zhí)行過程信息和芯片執(zhí)行結(jié)果;驗(yàn)證模塊,配置為利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證。

      8、根據(jù)一些實(shí)施例,soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)還包括c標(biāo)準(zhǔn)模塊,配置為從所述輸入模塊接收并執(zhí)行所述用例激勵(lì),所述記錄模塊進(jìn)一步配置為記錄所述c標(biāo)準(zhǔn)模塊執(zhí)行所述用例激勵(lì)的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息和標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果。

      9、根據(jù)一些實(shí)施例,所述驗(yàn)證模塊進(jìn)一步配置為比較所述芯片執(zhí)行過程信息和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息;比較所述芯片執(zhí)行結(jié)果和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果;在所述芯片執(zhí)行過程信息和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程信息相同且所述芯片執(zhí)行結(jié)果和所述標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行結(jié)果相同的情況下,確定所述soc芯片驗(yàn)證通過;否則,確定所述soc芯片驗(yàn)證不通過。

      10、根據(jù)本發(fā)明的一方面,提出一種電子設(shè)備,其包括:處理器;以及存儲(chǔ)器,存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí),使得所述處理器執(zhí)行如前任一實(shí)施例所述的驗(yàn)證方法。

      11、根據(jù)本發(fā)明的一方面,提出一種非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令,當(dāng)所述指令被處理器執(zhí)行時(shí),使得所述處理器執(zhí)行如前任一實(shí)施例所述的驗(yàn)證方法。

      12、根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,在soc芯片動(dòng)態(tài)執(zhí)行輸入指令的過程中,僅記錄執(zhí)行的cpu指令或cpu指令索引以及執(zhí)行結(jié)果,而不進(jìn)行實(shí)時(shí)比對(duì);待soc芯片執(zhí)行完所有指令后,再根據(jù)存儲(chǔ)的cpu指令或cpu指令索引以及執(zhí)行結(jié)果對(duì)soc芯片的正確性進(jìn)行驗(yàn)證。整個(gè)驗(yàn)證過程,不僅減少了對(duì)內(nèi)存的占用,且加快了仿真速度。

      13、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性的,并不能限制本發(fā)明。



      技術(shù)特征:

      1.一種soc芯片的驗(yàn)證方法,其特征在于,所述驗(yàn)證方法用于soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證方法,其特征在于,記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息包括所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)時(shí)的cpu指令或所述soc芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)時(shí)的cpu指令的索引值。

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證方法,其特征在于,所述soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)包括c標(biāo)準(zhǔn)模塊,在利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證之前,所述驗(yàn)證方法還包括:

      4.根據(jù)權(quán)利要求4所述的驗(yàn)證方法,其特征在于,利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證,包括:

      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證方法,其特征在于,所述soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng)包括計(jì)分板,利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述soc芯片進(jìn)行驗(yàn)證,包括:

      6.一種soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),其特征在于,包括:

      7.根據(jù)權(quán)利要求7所述的soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),其特征在于,還包括:

      8.根據(jù)權(quán)利要求8所述的soc芯片驗(yàn)證系統(tǒng),其特征在于,所述驗(yàn)證模塊進(jìn)一步配置為:

      9.一種電子設(shè)備,包括:

      10.一種非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令,當(dāng)所述指令被處理器執(zhí)行時(shí),使得所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的驗(yàn)證方法。


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明提出一種SoC芯片的驗(yàn)證方法和SoC芯片驗(yàn)證系統(tǒng)、電子設(shè)備以及非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),驗(yàn)證方法用于SoC芯片驗(yàn)證系統(tǒng),驗(yàn)證方法包括響應(yīng)于用例激勵(lì)的輸入指令,將用例激勵(lì)輸入至待驗(yàn)證的SoC芯片;記錄所述SoC芯片執(zhí)行所述用例激勵(lì)的芯片執(zhí)行過程信息和芯片執(zhí)行結(jié)果;利用記錄的所述芯片執(zhí)行過程信息和所述芯片執(zhí)行結(jié)果對(duì)所述SoC芯片進(jìn)行驗(yàn)證。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,在SoC芯片動(dòng)態(tài)執(zhí)行輸入指令的過程中,僅記錄執(zhí)行的CPU指令或CPU指令索引以及執(zhí)行結(jié)果,而不進(jìn)行實(shí)時(shí)比對(duì);待SoC芯片執(zhí)行完所有指令后,再根據(jù)存儲(chǔ)的CPU指令或CPU指令索引以及執(zhí)行結(jié)果對(duì)SoC芯片的正確性進(jìn)行驗(yàn)證,不僅減少了對(duì)內(nèi)存的占用,且加快了仿真速度。

      技術(shù)研發(fā)人員:李遠(yuǎn)超,蔡權(quán)雄,牛昕宇
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:深圳鯤云信息科技有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/10/10
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