本申請(qǐng)涉及電路仿真,特別是涉及電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法、終端及介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、為了實(shí)現(xiàn)新能源汽車(chē)轉(zhuǎn)矩的準(zhǔn)確調(diào)節(jié),以及避免電流過(guò)大引發(fā)電機(jī)控制器過(guò)熱甚至燒毀的可能,新能源汽車(chē)的電機(jī)控制器通常設(shè)置有電流采樣及保護(hù)電路。一方面,電流采樣及保護(hù)電路用于檢測(cè)電機(jī)運(yùn)行時(shí)的電流是否超過(guò)報(bào)警值,若是則對(duì)電機(jī)進(jìn)行停機(jī)操作,起到過(guò)電流保護(hù)的作用。另一方面,電流采樣及保護(hù)電路還用于將獲取到的電流值傳送至電機(jī)控制器的控制芯片,起到準(zhǔn)確控制電機(jī)轉(zhuǎn)速的作用。電流采樣及保護(hù)電路需要在不同的工作環(huán)境下保持正常運(yùn)行,為了確定電流采樣及保護(hù)電路的設(shè)計(jì)結(jié)果,即設(shè)計(jì)電路是否符合要求,有必要對(duì)設(shè)計(jì)電路進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。
2、作為電路測(cè)試的重要環(huán)節(jié),最壞情況分析(wcca)通過(guò)對(duì)設(shè)計(jì)電路進(jìn)行相應(yīng)的分析,一方面確定設(shè)計(jì)電路中影響元器件應(yīng)力的主要因素,另一方面提供最壞情況下設(shè)計(jì)電路各個(gè)參數(shù)的具體數(shù)據(jù),再一方面還能指出設(shè)計(jì)電路的改進(jìn)方向,提高設(shè)計(jì)電路的可靠性。相關(guān)技術(shù)主要是采用單一的分析方式,存在全面性不足的問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法、終端設(shè)備以及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。
2、本申請(qǐng)采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法,該方法包括:
3、獲取至少兩個(gè)分析指標(biāo)以及獲取電流采樣及保護(hù)電路對(duì)應(yīng)的電路仿真模型;其中,所述至少兩個(gè)分析指標(biāo)由故障樹(shù)分析方法、潛在失效模式影響及后果分析方法、危害分析及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估分析方法、專(zhuān)家經(jīng)驗(yàn)評(píng)估方法、故障庫(kù)信息中至少兩者決定;
4、基于所述至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)所述電路仿真模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果;
5、依據(jù)至少兩個(gè)所述分析結(jié)果校驗(yàn)所述電流采樣及保護(hù)電路。
6、可選地,獲取至少兩個(gè)分析指標(biāo),包括:
7、獲取所述電流采樣及保護(hù)電路的性能分析條件;
8、基于性能分析條件,確定至少兩個(gè)分析指標(biāo)。
9、可選地,基于性能分析條件,確定至少兩個(gè)分析指標(biāo),包括:
10、獲取故障樹(shù)分析方法、潛在失效模式影響及后果分析方法、危害分析及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估分析方法、專(zhuān)家經(jīng)驗(yàn)評(píng)估方法、故障庫(kù)信息在性能分析條件中所對(duì)應(yīng)的至少兩組候選分析結(jié)果;候選分析結(jié)果包括候選分析指標(biāo),以及候選分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的候選指標(biāo)分值;
11、計(jì)算至少兩組候選指標(biāo)分值的加權(quán)和,得到分析指標(biāo)分值,并利用分析指標(biāo)分值,從至少兩組候選分析指標(biāo)中確定至少兩個(gè)分析指標(biāo)。
12、可選地,基于至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)電路仿真模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果,包括:
13、對(duì)電路仿真模型進(jìn)行元器件劃分,得到若干元器件對(duì)應(yīng)的元器件模型;
14、基于至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)電路仿真模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果,包括:
15、基于至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)每一元器件模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一元器件在每一分析指標(biāo)下對(duì)應(yīng)的局部分析結(jié)果;
16、利用同一分析指標(biāo)下的所有局部分析結(jié)果,得到分析結(jié)果。
17、可選地,依據(jù)至少兩個(gè)分析結(jié)果校驗(yàn)電流采樣及保護(hù)電路,包括:
18、選取至少部分分析指標(biāo),基于至少部分分析指標(biāo),對(duì)電流采樣及保護(hù)電路進(jìn)行電路最壞情況測(cè)試,得到實(shí)際測(cè)試結(jié)果;
19、響應(yīng)于分析結(jié)果在預(yù)設(shè)范圍以?xún)?nèi),依據(jù)至少兩個(gè)分析結(jié)果校驗(yàn)電流采樣及保護(hù)電路;預(yù)設(shè)范圍基于實(shí)際測(cè)試結(jié)果確定得到。
20、可選地,選取至少部分分析指標(biāo),基于至少部分分析指標(biāo),對(duì)電流采樣及保護(hù)電路進(jìn)行電路最壞情況測(cè)試,得到實(shí)際測(cè)試結(jié)果的步驟之后,包括:
21、響應(yīng)于分析結(jié)果在預(yù)設(shè)范圍之外,對(duì)電路仿真模型進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)或重新設(shè)計(jì);
22、基于至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)重新設(shè)計(jì)后或優(yōu)化設(shè)計(jì)后的電路仿真模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的優(yōu)化分析結(jié)果;
23、依據(jù)至少兩個(gè)優(yōu)化分析結(jié)果校驗(yàn)電流采樣及保護(hù)電路。
24、可選地,電路最壞情況分析包括靈敏度分析、元器件熱電應(yīng)力分析、蒙特卡洛分析、極值應(yīng)力分析中的至少一種。
25、本申請(qǐng)采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種終端設(shè)備,所述終端設(shè)備包括存儲(chǔ)器以及與所述存儲(chǔ)器連接的處理器;
26、其中,所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)程序數(shù)據(jù),所述處理器用于執(zhí)行所述程序數(shù)據(jù)以實(shí)現(xiàn)如上述的電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法。
27、本申請(qǐng)采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)用于存儲(chǔ)程序數(shù)據(jù),所述程序數(shù)據(jù)在被計(jì)算機(jī)執(zhí)行時(shí),用以實(shí)現(xiàn)如上述的電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法。
28、本申請(qǐng)的有益效果是:利用至少兩種分析方法,確定出至少兩種分析指標(biāo),提升進(jìn)行電路最壞情況分析的全面性,進(jìn)一步地,基于至少兩個(gè)分析指標(biāo),對(duì)電路仿真模型進(jìn)行電路最壞情況分析,得到每一分析指標(biāo)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果,進(jìn)一步地,利用至少兩個(gè)分析結(jié)果校驗(yàn)電流采樣及保護(hù)電路。本申請(qǐng)?zhí)峁┑碾娏鞑蓸蛹氨Wo(hù)電路的最壞情況分析方法,通過(guò)不同的分析方法,確定出分析指標(biāo),提高對(duì)電流采樣及保護(hù)電路進(jìn)行最壞情況分析的全面性。
1.一種電流采樣及保護(hù)電路的最壞情況分析方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,
9.一種終端設(shè)備,其特征在于,所述終端設(shè)備包括處理器、與所述處理器連接的存儲(chǔ)器,其中,
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有程序指令,所述程序指令被執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述的方法。