本發(fā)明涉及機(jī)器視覺(jué)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種斷路器缺陷檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，斷路器作為一種重要的電氣設(shè)備，其性能的可靠性直接關(guān)系到電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。斷路器的螺紋部分，作為連接和傳動(dòng)的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)，其質(zhì)量直接影響到斷路器的使用壽命和安全性。然而，現(xiàn)有技術(shù)的螺紋缺陷檢測(cè)方法主要依賴(lài)人工目視檢查或簡(jiǎn)單的機(jī)器視覺(jué)技術(shù)，這些方法存在諸多不足，如檢測(cè)效率低下、準(zhǔn)確性不高、易受人為因素影響等。特別是在高速度、大批量的生產(chǎn)下，目前現(xiàn)有的檢測(cè)手段已難以滿(mǎn)足現(xiàn)代制造業(yè)對(duì)高效率和高精度的需求。此外，人工檢測(cè)的過(guò)程中存在漏檢和誤判問(wèn)題，不僅增加了生產(chǎn)成本，還可能埋下安全隱患。

2、針對(duì)上述的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種斷路器缺陷檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備，以至少解決相關(guān)技術(shù)中斷路器螺紋缺陷檢測(cè)速度慢和準(zhǔn)確性不足的技術(shù)問(wèn)題。

2、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種斷路器缺陷檢測(cè)方法，包括：對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，其中，所述初始圖像包括所述斷路器的螺紋；對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，其中，所述初始圖像中所述螺紋的初始輪廓線(xiàn)的區(qū)別度小于所述目標(biāo)圖像中所述螺紋的目標(biāo)輪廓線(xiàn)的區(qū)別度；對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，得到第一圖像特征，其中，所述第一圖像特征為所述目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征，所述第一圖像特征與第二圖像特征不同，所述第二圖像特征為所述目標(biāo)圖像中未存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征；基于所述第一圖像特征，確定所述斷路器的缺陷識(shí)別結(jié)果。

3、可選地，所述斷路器放置于傳送帶，所述對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，包括：在所述斷路器通過(guò)所述傳送帶傳送到預(yù)定拍攝位置的情況下，獲取所述斷路器對(duì)所述預(yù)定拍攝位置的光電傳感器的遮擋信號(hào)；響應(yīng)于所述遮擋信號(hào)，控制對(duì)所述斷路器進(jìn)行圖像采集，得到所述初始圖像。

4、可選地，所述對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，包括：采用灰度化處理的方式，對(duì)所述初始圖像進(jìn)行處理，得到第一圖像；采用高斯濾波處理的方式，對(duì)所述第一圖像進(jìn)行處理，得到目標(biāo)圖像。

5、可選地，在所述對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像之后，所述方法還包括：采用二值化處理的方式，對(duì)所述目標(biāo)圖像進(jìn)行處理，得到第二圖像；在所述第二圖像中包括的多個(gè)第一像素的情況下，針對(duì)所述多個(gè)第一像素中目標(biāo)第一像素，確定所述目標(biāo)第一像素與其他第一像素之間的灰度差值，其中，所述其他第一像素為所述多個(gè)第一像素中除去所述目標(biāo)第一像素的第一像素；基于所述灰度差值，確定所述目標(biāo)第一像素是否屬于所述目標(biāo)圖像中包括的存在螺紋缺陷區(qū)域；在所述目標(biāo)第一像素屬于所述目標(biāo)圖像中包括的存在螺紋缺陷區(qū)域的情況下，確定所述目標(biāo)第一像素屬于缺陷像素集合；采用確定所述目標(biāo)第一像素屬于所述缺陷像素集合方式，確定所述多個(gè)第一像素分別是否屬于所述缺陷像素集合；基于所述缺陷像素集合，確定所述缺陷識(shí)別結(jié)果。

6、可選地，對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，確定所述目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷區(qū)域顯示為第一圖像特征，包括：采用邊緣檢測(cè)算法，對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，確定所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)中包括的多個(gè)第二像素分別對(duì)應(yīng)的灰度值；基于所述多個(gè)第二像素分別對(duì)應(yīng)的灰度值，得到所述第一圖像特征。

7、可選地，所述基于所述多個(gè)第二像素分別對(duì)應(yīng)的灰度值，得到所述第一圖像特征，包括：采用目標(biāo)模型，對(duì)所述第二像素分別對(duì)應(yīng)的灰度值之間的變化趨勢(shì)進(jìn)行識(shí)別，確定所述第一圖像特征，其中，所述目標(biāo)模型為采用灰度數(shù)據(jù)集合訓(xùn)練得到的，所述灰度數(shù)據(jù)集合為基于對(duì)訓(xùn)練斷路器的采集圖像得到的，所述斷路器的類(lèi)型與所述訓(xùn)練斷路器的類(lèi)型相匹配。

8、可選地，所述斷路器放置于傳送帶，所述基于所述第一圖像特征，確定缺陷識(shí)別結(jié)果，包括：響應(yīng)于所述缺陷識(shí)別結(jié)果為所述斷路器存在螺紋缺陷區(qū)域的提示信號(hào)，控制對(duì)所述斷路器進(jìn)行預(yù)定時(shí)長(zhǎng)的噴氣處理，以使得所述斷路器離開(kāi)傳送帶，其中，所述預(yù)定時(shí)長(zhǎng)基于所述斷路器的受力特征確定。

9、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種斷路器缺陷檢測(cè)裝置，包括：采集模塊，用于對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，其中，所述初始圖像包括所述斷路器的螺紋；處理模塊，用于對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，其中，所述初始圖像中所述螺紋的初始輪廓線(xiàn)的區(qū)別度小于所述目標(biāo)圖像中所述螺紋的目標(biāo)輪廓線(xiàn)的區(qū)別度；提取模塊，對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，得到第一圖像特征，其中，所述第一圖像特征為所述目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征，所述第一圖像特征與第二圖像特征不同，所述第二圖像特征為所述目標(biāo)圖像中未存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征；識(shí)別模塊，基于所述第一圖像特征，確定所述斷路器的缺陷識(shí)別結(jié)果。

10、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，所述非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有多條指令，所述指令適于由處理器加載并執(zhí)行任意一項(xiàng)所述的斷路器缺陷檢測(cè)方法。

11、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序，其中，當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)任意一項(xiàng)所述的斷路器缺陷檢測(cè)方法。

12、在本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，其中，所述初始圖像包括所述斷路器的螺紋；對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，其中，所述初始圖像中所述螺紋的初始輪廓線(xiàn)的區(qū)別度小于所述目標(biāo)圖像中所述螺紋的目標(biāo)輪廓線(xiàn)的區(qū)別度；對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，得到第一圖像特征，其中，所述第一圖像特征為所述目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征，所述第一圖像特征與第二圖像特征不同，所述第二圖像特征為所述目標(biāo)圖像中未存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征；基于所述第一圖像特征，確定所述斷路器的缺陷識(shí)別結(jié)果。達(dá)到了自動(dòng)化檢測(cè)斷路器螺紋缺陷，提高檢測(cè)效率和準(zhǔn)確性的目的，通過(guò)機(jī)器視覺(jué)和圖像處理技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了快速準(zhǔn)確識(shí)別螺紋缺陷的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了相關(guān)技術(shù)中斷路器螺紋缺陷檢測(cè)速度慢和準(zhǔn)確性不足的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)特征：

1.一種斷路器缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述斷路器放置于傳送帶，所述對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述對(duì)所述初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像之后，所述方法還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對(duì)所述目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，確定所述目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷區(qū)域顯示為第一圖像特征，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述多個(gè)第二像素分別對(duì)應(yīng)的灰度值，得到所述第一圖像特征，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述斷路器放置于傳送帶，所述基于所述第一圖像特征，確定缺陷識(shí)別結(jié)果，包括：

8.一種斷路器缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

9.一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有多條指令，所述指令適于由處理器加載并執(zhí)行權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的斷路器缺陷檢測(cè)方法。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序，其中，當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的斷路器缺陷檢測(cè)方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種斷路器缺陷檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。其中，該方法包括：對(duì)斷路器進(jìn)行圖像采集，得到初始圖像，其中，初始圖像包括斷路器的螺紋；對(duì)初始圖像進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理，得到目標(biāo)圖像，其中，初始圖像中螺紋的初始輪廓線(xiàn)的區(qū)別度小于目標(biāo)圖像中螺紋的目標(biāo)輪廓線(xiàn)的區(qū)別度；對(duì)目標(biāo)輪廓線(xiàn)進(jìn)行提取，得到第一圖像特征，其中，第一圖像特征為目標(biāo)圖像中存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征，第一圖像特征與第二圖像特征不同，第二圖像特征為目標(biāo)圖像中未存在螺紋缺陷的區(qū)域?qū)?yīng)的特征；基于第一圖像特征，確定斷路器的缺陷識(shí)別結(jié)果。本發(fā)明解決了相關(guān)技術(shù)中斷路器螺紋缺陷檢測(cè)速度慢和準(zhǔn)確性不足的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：湯燊淼,楊亞彬,吳德志,王健,梁洪波,袁瑞琪,孫磊,許文靜,黃明
受保護(hù)的技術(shù)使用者：國(guó)網(wǎng)北京市電力公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10