本申請(qǐng)涉及數(shù)字集成電路(integrated?circuit，ic)設(shè)計(jì)，特別涉及一種仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、在硬件設(shè)計(jì)開發(fā)過程中，通常需要對(duì)硬件的各項(xiàng)功能進(jìn)行仿真測(cè)試，以驗(yàn)證硬件的功能是否正常。

2、在相關(guān)技術(shù)中，可以預(yù)先通過硬件描述語(yǔ)言編寫用于模擬硬件芯片的硬件模擬單元，然后通過運(yùn)行測(cè)試用例來觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行預(yù)定的處理任務(wù)，在此過程中，測(cè)試用例會(huì)觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行要測(cè)試的硬件功能。

3、然而，上述通過測(cè)試用例觸發(fā)要測(cè)試的硬件功能的方案，存在測(cè)試的覆蓋率較低，測(cè)試的準(zhǔn)確性較差的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種硬件仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品，能夠提高硬件仿真測(cè)試的覆蓋率和準(zhǔn)確性。所述技術(shù)方案如下。

2、一方面，提供一種硬件仿真測(cè)試方法，所述方法包括：

3、觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的處理任務(wù)；所述硬件模擬單元是通過硬件描述語(yǔ)言編寫的，用于模擬所述硬件芯片；

4、獲取所述硬件模擬單元輸出的狀態(tài)信息，所述狀態(tài)信息用于指示所述硬件模擬單元執(zhí)行所述處理任務(wù)的實(shí)時(shí)狀態(tài)；

5、響應(yīng)于所述狀態(tài)信息與參考狀態(tài)信息相匹配，觸發(fā)所述硬件模擬單元執(zhí)行所述硬件芯片的指定功能；所述參考狀態(tài)信息用于指示所述指定功能對(duì)應(yīng)的指定狀態(tài)；

6、其中，所述硬件模擬單元執(zhí)行所述處理任務(wù)的輸出結(jié)果為正常的情況，表示所述硬件芯片的所述指定功能通過測(cè)試。

7、一方面，提供一種硬件仿真測(cè)試裝置，所述裝置包括：

8、激勵(lì)功能單元，用于觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的處理任務(wù)；所述硬件模擬單元是通過硬件描述語(yǔ)言編寫的，用于模擬所述硬件芯片；

9、觸發(fā)功能單元，用于獲取所述硬件模擬單元輸出的狀態(tài)信息，所述狀態(tài)信息用于指示所述硬件模擬單元執(zhí)行所述處理任務(wù)的實(shí)時(shí)狀態(tài)；

10、所述觸發(fā)功能單元，還用于響應(yīng)于所述狀態(tài)信息與參考狀態(tài)信息相匹配，觸發(fā)所述硬件模擬單元執(zhí)行所述硬件芯片的指定功能；所述參考狀態(tài)信息用于指示所述指定功能對(duì)應(yīng)的指定狀態(tài)；

11、其中，所述硬件模擬單元執(zhí)行所述處理任務(wù)的輸出結(jié)果為正常的情況，表示所述硬件芯片的所述指定功能通過測(cè)試。

12、又一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包含處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有指令，所述指令集由所述處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上所述的硬件仿真測(cè)試方法。

13、又一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，所述指令由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上所述的硬件仿真測(cè)試方法。

14、還一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)指令，該計(jì)算機(jī)指令存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中；該計(jì)算機(jī)指令由計(jì)算機(jī)設(shè)備的處理器讀取并執(zhí)行，以使得該計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)如上所述的硬件仿真測(cè)試方法。

15、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果至少包括：

16、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N在仿真工具中模擬出以軟硬結(jié)合的方式對(duì)硬件芯片進(jìn)行仿真測(cè)試的方案，在軟件模擬的層面，通過測(cè)試用例運(yùn)行過程中產(chǎn)生的激勵(lì)信號(hào)，觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行處理任務(wù)，在硬件模擬的層面，在硬件模擬單元執(zhí)行到指定的狀態(tài)(對(duì)應(yīng)參考狀態(tài)信息)時(shí)，觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行要測(cè)試的指定功能；在上述方案中，可以通過設(shè)置不同的參考狀態(tài)信息，使得硬件模擬單元執(zhí)行指定功能的時(shí)機(jī)與硬件模擬單元的各種運(yùn)行狀態(tài)相匹配；具體來說，一方面，可以通過設(shè)置較為全面的參考狀態(tài)信息，使得硬件模擬單元在盡可能多的運(yùn)行狀態(tài)下執(zhí)行指定功能，另一方面，也可以通過設(shè)置指定的參考狀態(tài)信息，使得硬件模擬單元能夠在開發(fā)人員關(guān)注的運(yùn)行狀態(tài)下執(zhí)行指定功能，通過上述兩個(gè)方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆抡鏈y(cè)試方案，可以保證對(duì)硬件芯片的仿真測(cè)試的覆蓋率和準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種仿真測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定功能包括上下文切換功能，所述狀態(tài)信息包括電路狀態(tài)信息以及任務(wù)狀態(tài)信息中的至少一項(xiàng)；所述電路狀態(tài)信息用于指示所述硬件模擬單元模擬的硬件芯片中的硬件電路的運(yùn)行狀態(tài)；所述任務(wù)狀態(tài)信息用于指示所述處理任務(wù)在所述硬件模擬單元中的執(zhí)行狀態(tài)；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述電路狀態(tài)信息包括以下信息中的一項(xiàng)或者多項(xiàng)：

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述任務(wù)狀態(tài)信息包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述任務(wù)狀態(tài)信息還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述恢復(fù)需求標(biāo)識(shí)由所述硬件模擬單元在自行確定是否執(zhí)行所述保存操作時(shí)設(shè)置。

7.根據(jù)權(quán)利要求2至6任一所述的方法，其特征在于，所述響應(yīng)于所述電路狀態(tài)信息與第一參考狀態(tài)信息相匹配，觸發(fā)所述硬件模擬單元執(zhí)行上下文切換的保存操作，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試用例對(duì)應(yīng)多個(gè)所述處理任務(wù)；所述方法還包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述獲取測(cè)試任務(wù)數(shù)n，包括：

11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定功能包括開啟或關(guān)閉部分計(jì)算核心的功能，所述狀態(tài)信息包括電路狀態(tài)信息；所述電路狀態(tài)信息用于指示所述硬件模擬單元模擬的硬件芯片中的硬件電路的運(yùn)行狀態(tài)；

13.一種仿真測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

14.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有指令，所述指令由所述處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至12任一所述的仿真測(cè)試方法。

15.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令，所述指令由計(jì)算機(jī)設(shè)備的處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至12任一所述的仿真測(cè)試方法。

16.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中；所述計(jì)算機(jī)指令由計(jì)算機(jī)設(shè)備的處理器讀取并執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至12任一所述的仿真測(cè)試方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)公開了一種仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及程序產(chǎn)品，涉及數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的處理任務(wù)；硬件模擬單元是通過硬件描述語(yǔ)言編寫的，用于模擬硬件芯片；獲取硬件模擬單元輸出的狀態(tài)信息，狀態(tài)信息用于指示硬件模擬單元執(zhí)行處理任務(wù)的實(shí)時(shí)狀態(tài)；響應(yīng)于狀態(tài)信息與參考狀態(tài)信息相匹配，觸發(fā)硬件模擬單元執(zhí)行硬件芯片的指定功能。

技術(shù)研發(fā)人員：請(qǐng)求不公布姓名,請(qǐng)求不公布姓名,請(qǐng)求不公布姓名
受保護(hù)的技術(shù)使用者：摩爾線程智能科技（北京）股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10