本發(fā)明涉及電氣設(shè)備測試,尤其是涉及一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法。
背景技術(shù):
1、隨著現(xiàn)代電氣系統(tǒng)的日益復(fù)雜化和精細(xì)化,電纜網(wǎng)作為關(guān)鍵的基礎(chǔ)設(shè)施,其導(dǎo)通和絕緣性能對于整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。電纜網(wǎng)承載著能量和信號的傳輸任務(wù),在民用和軍事領(lǐng)域均發(fā)揮著不可替代的作用。然而,電纜網(wǎng)由大量導(dǎo)線組成,結(jié)構(gòu)復(fù)雜且相互關(guān)聯(lián),其性能的穩(wěn)定性和可靠性受到各種因素的影響,如材料老化、環(huán)境因素、機(jī)械損傷等。因此,對電纜網(wǎng)進(jìn)行準(zhǔn)確、高效的導(dǎo)通絕緣測試成為了確保電氣系統(tǒng)正常運(yùn)行和避免災(zāi)難性事故的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
2、傳統(tǒng)的導(dǎo)通絕緣測試方法往往依賴于人工操作,不僅效率低下,而且容易受到人為因素的影響,導(dǎo)致測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性難以保證。此外,隨著電氣系統(tǒng)的不斷發(fā)展和升級,電纜網(wǎng)的規(guī)模和復(fù)雜性也在不斷增加,傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)無法滿足現(xiàn)代生產(chǎn)線對高效、自動化的需求。因此,研究和開發(fā)一種新型的導(dǎo)通絕緣測試系統(tǒng),具有自動化、智能化、高效化等特點(diǎn),對于提高電氣系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性,保障設(shè)備的安全運(yùn)行,具有重要的現(xiàn)實意義和應(yīng)用價值。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的目的是提供一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,通過故障樹分析、失效預(yù)測和系統(tǒng)設(shè)計的綜合應(yīng)用,實現(xiàn)對導(dǎo)通絕緣測試儀失效的有效預(yù)測和預(yù)防,提高系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
2、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,包括以下步驟:
3、s1、建立測試儀失效的故障樹模型,并進(jìn)行失效數(shù)據(jù)分析;
4、s2、建立基于灰色模型預(yù)測和bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化串聯(lián)的組合模型,進(jìn)行失效預(yù)測;
5、s3、采用回歸分析法獲得預(yù)測的失效時間;
6、s4、利用獲得的失效時間和分析結(jié)果優(yōu)化導(dǎo)通絕緣測試儀的設(shè)計和制造工藝。
7、優(yōu)選的,步驟s1具體包括如下步驟:
8、s11、通過分析各功能部分之間的邏輯關(guān)系,確定針對測試儀失效進(jìn)行故障樹分析的事件集合,運(yùn)用故障樹分析法,以系統(tǒng)導(dǎo)通檢測功能失效和絕緣檢測功能失效作為頂事件,建立測試儀失效系統(tǒng)的故障樹模型;
9、s12、對導(dǎo)通絕緣測試儀進(jìn)行定性與定量的失效分析,通過分析其最小割集、失效概率、結(jié)構(gòu)重要度與概率重要度,識別出矩陣板及矩陣板上的繼電器對系統(tǒng)失效的貢獻(xiàn)度最高,將其確定為導(dǎo)通絕緣測試儀的關(guān)鍵部件和薄弱環(huán)節(jié)。
10、優(yōu)選的,步驟s1還包括對測試儀的元件層面進(jìn)行分析。
11、優(yōu)選的,步驟s12中,采用統(tǒng)計學(xué)方法和專家經(jīng)驗對所述失效數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理后再進(jìn)行失效分析。
12、優(yōu)選的,步驟s2中,根據(jù)步驟s12確定的易發(fā)生故障的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行失效預(yù)測,失效預(yù)測包括確定用于表征退化軌跡的預(yù)測變量,將預(yù)測變量輸入基于灰色模型和bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型串聯(lián)的組合模型中進(jìn)行預(yù)測訓(xùn)練。
13、優(yōu)選的,步驟s2中,采用gm(1,1)灰色模型對繼電器接觸電阻的退化軌跡進(jìn)行預(yù)測,并采用bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對預(yù)測結(jié)果進(jìn)行修正,具體過程為:
14、對具有n2個充足的接觸電阻樣本數(shù)據(jù)的k-1個繼電器,掩去其第n1+1~n2個有效數(shù)據(jù),假設(shè)為僅知曉前n1個樣本數(shù)據(jù)的情況,通過gm(1,1)灰色模型,得到對應(yīng)第n1+1~n2步的灰色預(yù)測結(jié)果train_gm,將預(yù)測結(jié)果train_gm作為bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入數(shù)據(jù),并將其實際觀測到的第n1+1~n2個數(shù)據(jù)記為train_real,作為bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸出數(shù)據(jù),訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)。
15、優(yōu)選的,步驟s3中,采用回歸分析法對繼電器進(jìn)行壽命外推,以獲得預(yù)測失效時間。
16、因此,本發(fā)明采用上述一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,有益效果如下:
17、(1)本發(fā)明利用故障樹分析法對導(dǎo)通絕緣測試儀進(jìn)行總體組成和功能邏輯分析,建立測試儀失效的故障樹模型。通過故障樹模型,可以清晰地了解導(dǎo)電絕緣測試儀的故障層次和邏輯關(guān)系,為后續(xù)的失效預(yù)測和系統(tǒng)設(shè)計提供基礎(chǔ)。
18、(2)本發(fā)明結(jié)合工程經(jīng)驗所得失效數(shù)據(jù)對故障樹模型進(jìn)行定性分析與定量分析,辨識出系統(tǒng)的主要失效模式和薄弱環(huán)節(jié)。通過對失效數(shù)據(jù)的深入分析,可以準(zhǔn)確識別出導(dǎo)致測試儀失效的關(guān)鍵因素和潛在風(fēng)險,并對關(guān)鍵部件進(jìn)行早期預(yù)警和預(yù)防性維護(hù),降低失效風(fēng)險,提高設(shè)備的可靠性,也為后續(xù)的失效預(yù)測和系統(tǒng)設(shè)計提供指導(dǎo)。
19、(3)本發(fā)明針對易發(fā)生故障的薄弱環(huán)節(jié),如矩陣板繼電器,通過分析繼電器失效機(jī)理,確定用于表征退化軌跡的預(yù)測變量,提出基于灰色模型和bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型串聯(lián)的組合模型,以及使用回歸分析方法進(jìn)行壽命外推,以獲得預(yù)測的失效時間。通過失效預(yù)測技術(shù),可以實現(xiàn)對繼電器等關(guān)鍵部件的早期預(yù)警和預(yù)防性維護(hù),降低失效風(fēng)險。
20、(4)本發(fā)明根據(jù)失效預(yù)測結(jié)果,自主設(shè)計并搭建導(dǎo)通絕緣測試系統(tǒng),通過模塊化的設(shè)計使得系統(tǒng)矩陣板之間互為冗余備件,降低系統(tǒng)失效概率;同時,給出測試儀中繼電器接觸電阻的采集監(jiān)測思路與方法,通過提前預(yù)警減少繼電器故障導(dǎo)致的系統(tǒng)失效,增強(qiáng)系統(tǒng)可靠性;通過模塊化設(shè)計和冗余備份策略,可以提高系統(tǒng)的可擴(kuò)展性和容錯能力,降低單一故障對整個系統(tǒng)的影響。
21、(5)本發(fā)明設(shè)計配合測試儀設(shè)備運(yùn)行的上位機(jī)軟件,實現(xiàn)系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理功能,通過上位機(jī)軟件,可以實現(xiàn)對測試過程的實時監(jiān)控和控制,以及對測試數(shù)據(jù)的收集、分析和處理;同時,上位機(jī)軟件還可以提供用戶友好的操作界面和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析工具,方便用戶進(jìn)行系統(tǒng)的配置和維護(hù),提高系統(tǒng)的靈活性和易用性。
22、下面通過附圖和實施例,對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
1.一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s1具體包括如下步驟:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s1還包括對測試儀的元件層面進(jìn)行分析。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s12中,采用統(tǒng)計學(xué)方法和專家經(jīng)驗對所述失效數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理后再進(jìn)行失效分析。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s2中,根據(jù)步驟s12確定的易發(fā)生故障的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行失效預(yù)測,失效預(yù)測包括確定用于表征退化軌跡的預(yù)測變量,將預(yù)測變量輸入基于灰色模型和bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型串聯(lián)的組合模型中進(jìn)行預(yù)測訓(xùn)練。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s2中,采用gm(1,1)灰色模型對繼電器接觸電阻的退化軌跡進(jìn)行預(yù)測,并采用bp神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對預(yù)測結(jié)果進(jìn)行修正,具體過程為:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種導(dǎo)通絕緣測試儀失效分析與系統(tǒng)設(shè)計方法,其特征在于,步驟s3中,采用回歸分析法對繼電器進(jìn)行壽命外推,以獲得預(yù)測失效時間。