本申請(qǐng)涉及圖像處理,具體涉及adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法及裝置。
背景技術(shù):
1、隨著科技的進(jìn)步,光纖通信技術(shù)已成為現(xiàn)代通信的主要支柱之一,在現(xiàn)代通信網(wǎng)絡(luò)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。然而,在光纖光纜的生產(chǎn)或使用過(guò)程中,各種因素可能導(dǎo)致光纜表面出現(xiàn)不同種類的缺陷,這些缺陷可能影響到產(chǎn)品的壽命。為了保證光纖通信的質(zhì)量,常常需要對(duì)光纜進(jìn)行缺陷識(shí)別。
2、基于閾值分割的缺陷提取方法因其計(jì)算簡(jiǎn)單且運(yùn)算效率高,常被廣泛應(yīng)用于缺陷識(shí)別。然而,光纜缺陷種類繁多,如小孔、頸縮等缺陷。固定的閾值難以適應(yīng)這些變化,使得常規(guī)閾值分割方法的固定閾值在區(qū)分不同類型的缺陷時(shí)可能不夠準(zhǔn)確,從而影響整體識(shí)別結(jié)果的精確度。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、鑒于以上內(nèi)容,有必要提供adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法及裝置,解決上述問(wèn)題。
2、本申請(qǐng)第一方面提供adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,所述方法包括:
3、獲取待檢測(cè)光纜圖像,待檢測(cè)光纜為水平放置,其中軸線同時(shí)與所述待檢測(cè)光纜圖像的上下邊緣線平行;
4、對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),根據(jù)每個(gè)特征點(diǎn)與局部范圍內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值的差異,結(jié)合局部范圍內(nèi)像素點(diǎn)灰度值的離散特征,得到每個(gè)特征點(diǎn)的第一缺陷特征值;
5、根據(jù)待檢測(cè)光纜圖像中各行相鄰像素之間灰度值的變化特征,得到各行的灰度波動(dòng)值;根據(jù)各行與相鄰行之間的灰度波動(dòng)值之間的差異,得到各行的缺陷判斷值;根據(jù)每個(gè)特征點(diǎn)所在行的灰度波動(dòng)值以及缺陷判斷值,結(jié)合待檢測(cè)光纜圖像的灰度游程矩陣,得到每個(gè)特征點(diǎn)的第二缺陷特征值;
6、根據(jù)所述第一缺陷特征值以及所述第二缺陷特征值,結(jié)合歷史光纜圖像中的缺陷特征,得到各種缺陷特征值對(duì)應(yīng)的缺陷閾值,對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別。
7、其中,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的第一缺陷特征值,具體為:
8、根據(jù)每個(gè)特征點(diǎn)與其鄰域內(nèi)像素點(diǎn)之間的整體灰度差異,結(jié)合每個(gè)特征點(diǎn)所在行中像素點(diǎn)的灰度值的離散程度,得到每個(gè)特征點(diǎn)的第一缺陷判別值;
9、其中,所述第一缺陷判別值與所述差異、所述離散程度均成正相關(guān);所述第一缺陷判別值與對(duì)應(yīng)特征點(diǎn)的灰度值成負(fù)相關(guān)。
10、其中,所述得到各行的灰度波動(dòng)值,具體為:
11、對(duì)于待檢測(cè)光纜圖像的各行,基于灰度值獲取各行的一階差分序列,統(tǒng)計(jì)所述一階差分序列中的正數(shù)個(gè)數(shù)與負(fù)數(shù)個(gè)數(shù)的差異,結(jié)合所述一階差分序列中不為0的元素?cái)?shù)量,得到各行的灰度波動(dòng)值。
12、其中,所述得到各行的缺陷判斷值,具體為:
13、根據(jù)待檢測(cè)光纜圖像的各行與相鄰行之間的灰度波動(dòng)值的差異的融合結(jié)果,得到各行的缺陷判斷值;其中,所述缺陷判斷值與所述融合結(jié)果成負(fù)相關(guān)。
14、其中,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的第二缺陷特征值的過(guò)程包括:
15、獲取特征點(diǎn)檢測(cè)過(guò)程中每個(gè)特征點(diǎn)的方向賦值;根據(jù)每個(gè)特征點(diǎn)垂直方向上的方向賦值的位置特征,得到每個(gè)特征點(diǎn)的對(duì)比值;
16、對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行垂直方向掃描,得到待檢測(cè)光纜圖像的灰度游程矩陣;
17、將第i個(gè)特征點(diǎn)的第二缺陷特征值記為hi,其公式形式為:其中,di表示第i個(gè)特征點(diǎn)所在行的缺陷判斷值;表示在灰度游程矩陣中第i個(gè)特征點(diǎn)的灰度級(jí)別對(duì)應(yīng)行中非零值的個(gè)數(shù);δi表示第i個(gè)特征點(diǎn)的對(duì)比值。
18、其中,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的對(duì)比值的具體過(guò)程為:
19、獲取與每個(gè)特征點(diǎn)縱坐標(biāo)相同,并且方向賦值最大的兩個(gè)特征點(diǎn),將所述兩個(gè)特征點(diǎn)在待檢測(cè)光纜圖像中橫坐標(biāo)的差值絕對(duì)值作為每個(gè)特征點(diǎn)的對(duì)比值。
20、其中,所述得到各種缺陷特征值對(duì)應(yīng)的缺陷閾值的步驟為:
21、獲取預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)歷史光纜缺陷圖像;
22、根據(jù)每個(gè)歷史光纜缺陷圖像中各種缺陷特征值的分布,得到每個(gè)歷史光纜缺陷圖像對(duì)應(yīng)缺陷特征值的分割閾值;
23、根據(jù)所有光纜缺陷圖像各種缺陷特征值的分割閾值的平均水平,得到待檢測(cè)光纜缺陷圖像的各種缺陷特征值的缺陷閾值;其中,所述缺陷閾值包括第一缺陷閾值和第二缺陷閾值。
24、其中,所述得到每個(gè)歷史光纜缺陷圖像對(duì)應(yīng)缺陷特征值的分割閾值,具體為:
25、對(duì)于任一缺陷特征值,對(duì)每張光纜缺陷圖像的所有特征點(diǎn)的所述任一缺陷特征值進(jìn)行閾值分割,得到每張光纜缺陷圖像的所述任一缺陷特征值的分割閾值。
26、其中,所述對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別的過(guò)程包括:
27、當(dāng)待檢測(cè)光纜圖像中所有所述第一缺陷特征值的均值大于第一缺陷閾值,并且所有所述第二缺陷特征值的均值大于第二缺陷閾值,則待檢測(cè)光纜的缺陷識(shí)別結(jié)果為存在小孔缺陷和頸縮缺陷;
28、當(dāng)待檢測(cè)光纜圖像中所有所述第一缺陷特征值的均值大于第一缺陷閾值,并且所有所述第二缺陷特征值的均值小于等于第二缺陷閾值,則待檢測(cè)光纜的缺陷識(shí)別結(jié)果為小孔缺陷;
29、當(dāng)待檢測(cè)光纜圖像中所有所述第一缺陷特征值的均值小于等于第一缺陷閾值,并且所有所述第二缺陷特征值的均值大于第二缺陷閾值,則待檢測(cè)光纜的缺陷識(shí)別結(jié)果為頸縮缺陷;否則,待檢測(cè)光纜的缺陷識(shí)別結(jié)果為不存在這兩種缺陷。
30、第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別裝置,包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任意一項(xiàng)所述方法的步驟。
31、上述方案中,首先獲取待檢測(cè)光纜圖像,并對(duì)其進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),根據(jù)特征點(diǎn)與附近像素點(diǎn)的灰度差異,以及附近像素點(diǎn)灰度值的離散特征,構(gòu)建第一特征缺陷值,刻畫(huà)光纜圖像中小孔缺陷的特征,其有益效果在于對(duì)待檢測(cè)光纜圖像中的每個(gè)特征點(diǎn),分析其落在小孔缺陷區(qū)域的可能性,提高對(duì)應(yīng)缺陷識(shí)別的準(zhǔn)確性;進(jìn)一步的,對(duì)待檢測(cè)光纜圖像中的每一行進(jìn)行灰度變化分析,以及相鄰行之間灰度變化的差異,得到每一行的灰度波動(dòng)值以及缺陷判斷值,其有益效果在于通過(guò)灰度波動(dòng)值,基于紋理特征變化判斷待檢測(cè)光纜圖像中是否存在頸縮缺陷,進(jìn)一步通過(guò)缺陷判斷值對(duì)每一行的紋理特征進(jìn)行比較,如果紋理波動(dòng)特征明顯,并且具有相似的波動(dòng)特征,可以初步判斷該特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)位置存在缺陷;綜合灰度波動(dòng)值以及缺陷判斷值,結(jié)合灰度游程矩陣,構(gòu)建第二缺陷特征值,其有益效果在于綜合考慮光纜出現(xiàn)頸縮缺陷的紋理特征、形狀特征,更加準(zhǔn)確的描述該種缺陷特征,使得對(duì)待檢測(cè)光纜的缺陷的識(shí)別更加準(zhǔn)確;對(duì)歷史光纜缺陷圖像的兩種缺陷特征進(jìn)行分析,其有益效果在于針對(duì)不同的缺陷得到不同的缺陷閾值,解決同一閾值無(wú)法有效區(qū)分這些不同類型的缺陷,從而對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別結(jié)果更加準(zhǔn)確,識(shí)別缺陷的效率更高。
1.一種adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
2.如權(quán)利要求1所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的第一缺陷特征值,具體為:
3.如權(quán)利要求1所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到各行的灰度波動(dòng)值,具體為:
4.如權(quán)利要求1所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到各行的缺陷判斷值,具體為:
5.如權(quán)利要求1所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的第二缺陷特征值的過(guò)程包括:
6.如權(quán)利要求5所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到每個(gè)特征點(diǎn)的對(duì)比值的具體過(guò)程為:
7.如權(quán)利要求1所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到各種缺陷特征值對(duì)應(yīng)的缺陷閾值的步驟為:
8.如權(quán)利要求7所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述得到每個(gè)歷史光纜缺陷圖像對(duì)應(yīng)缺陷特征值的分割閾值,具體為:
9.如權(quán)利要求7所述的adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別方法,其特征在于,所述對(duì)待檢測(cè)光纜圖像進(jìn)行缺陷識(shí)別的過(guò)程包括:
10.adss光纜缺陷自動(dòng)識(shí)別裝置,包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述方法的步驟。