專利名稱：集成電路卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種非接觸型集成電路(IC)卡，其中數(shù)據(jù)是利用如無線電波的載波發(fā)射或接收的。
例如，已經(jīng)開發(fā)了這樣的系統(tǒng)，其中使用非接觸型IC卡作為火車的長期車票，并根據(jù)在IC卡與設(shè)在檢票口的讀/寫裝置之間的數(shù)據(jù)傳輸檢查該長期車票是否有效。


圖13是顯示在常規(guī)非接觸型IC卡系統(tǒng)中在IC卡與讀/寫裝置之間的通信的序列圖。最初，讀/寫裝置向IC卡發(fā)射一條讀標(biāo)識(shí)符命令。在收到該讀標(biāo)識(shí)符命令之后，IC卡向讀/寫裝置發(fā)射一個(gè)包含在IC卡中的標(biāo)識(shí)碼。讀/寫裝置發(fā)射將由卡執(zhí)行的命令、作為執(zhí)行命令的傳輸目標(biāo)的IC卡的標(biāo)識(shí)碼和口令。IC卡檢驗(yàn)從讀/寫裝置發(fā)送的標(biāo)識(shí)碼和口令。一旦當(dāng)標(biāo)識(shí)碼和口令與存儲(chǔ)在IC卡中的標(biāo)識(shí)碼和口令相同，則IC卡執(zhí)行由讀/寫裝置指示的命令，并將執(zhí)行結(jié)果發(fā)射至讀/寫裝置。當(dāng)讀/寫裝置請(qǐng)求IC卡由IC卡執(zhí)行其他命令時(shí)，讀/寫裝置將IC卡的標(biāo)識(shí)碼和口令加到相應(yīng)的執(zhí)行命令上并發(fā)射該數(shù)據(jù)。再次在IC卡一方檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)碼和口令。僅當(dāng)該標(biāo)識(shí)碼和口令分別相同時(shí)，才執(zhí)行該命令，將執(zhí)行結(jié)果發(fā)射至讀/寫裝置。以類似方式，每次讀/寫裝置將執(zhí)行命令發(fā)射到IC卡時(shí)，讀/寫裝置將標(biāo)識(shí)碼和口令與執(zhí)行命令一起發(fā)射，且IC卡在檢驗(yàn)之后執(zhí)行命令。因此，例如，為了將一個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)寫到IC卡，讀/寫裝置應(yīng)該將十幾個(gè)字節(jié)加到傳輸標(biāo)識(shí)碼和口令的命令上，導(dǎo)致降低傳輸效率。尤其是，許多這種IC卡通過對(duì)來自讀/寫裝置的無線電波進(jìn)行檢波獲得電源。因此，尤其需要高效率的數(shù)據(jù)傳輸。
圖14是顯示常規(guī)IC卡中存儲(chǔ)映象的圖。如圖所示，將用戶區(qū)分為幾塊，每塊具有一個(gè)與每塊相應(yīng)的與用于訪問IC卡系統(tǒng)區(qū)的系統(tǒng)區(qū)訪問口令分開的口令。另外，每次執(zhí)行一條命令時(shí)，設(shè)置或復(fù)位包括口令或標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果的標(biāo)志。
因?yàn)槌Ｒ?guī)非接觸型IC卡是根據(jù)上述設(shè)置的，所以讀/寫裝置向IC卡發(fā)射標(biāo)識(shí)碼、口令，且對(duì)每次命令發(fā)射都是這樣。因此，希望有一種既能保證安全性又能使數(shù)據(jù)高效傳輸?shù)姆墙佑|型IC卡。
為克服上述問題做出本發(fā)明，本發(fā)明的目的在于提供一種能保證安全性且能使數(shù)據(jù)高效傳輸?shù)姆墙佑|型IC卡。
根據(jù)本發(fā)明，提供一種IC卡，包括一個(gè)存儲(chǔ)器，具有一系統(tǒng)區(qū)，該系統(tǒng)區(qū)存儲(chǔ)一個(gè)當(dāng)向用戶區(qū)的第一區(qū)寫數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的寫口令、一個(gè)當(dāng)從用戶區(qū)的第二區(qū)讀出數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的讀口令和一個(gè)當(dāng)向系統(tǒng)區(qū)寫或從系統(tǒng)區(qū)讀數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的系統(tǒng)口令；寫口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)?shù)谝粎^(qū)的寫命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的寫口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；讀口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)?shù)诙^(qū)的讀命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的讀口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)系統(tǒng)區(qū)的讀或?qū)懨钆c一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的系統(tǒng)口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相；以及命令執(zhí)行裝置，用于當(dāng)根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置、讀口令檢驗(yàn)裝置和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果確定各口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的那些口令相同時(shí)，執(zhí)行從讀/寫裝置送來的命令。如上所述，寫口令、讀口令和系統(tǒng)口令被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。另外，僅當(dāng)根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置、讀口令檢驗(yàn)裝置和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果確定各口令彼此相同時(shí)，命令執(zhí)行裝置才執(zhí)行從讀/寫裝置送來的命令。結(jié)果是，通過利用少量的口令能夠有效地使用存儲(chǔ)器。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，其中存儲(chǔ)器具有一個(gè)第三區(qū)，該區(qū)包括在第一區(qū)中，也包括在第二區(qū)中。因此，可將用戶區(qū)分為具有不同安全級(jí)別的三個(gè)區(qū)，由兩個(gè)口令控制，從而更有效地使用存儲(chǔ)器。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，包括一個(gè)存儲(chǔ)器，它具有一個(gè)系統(tǒng)區(qū)，用于存儲(chǔ)當(dāng)訪問存儲(chǔ)器時(shí)用于檢驗(yàn)的口令；口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；以及命令執(zhí)行裝置，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置輸入時(shí)，根據(jù)口令檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令，并且，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令不與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置輸入時(shí)，根據(jù)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置所保持的口令檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。如上所述，口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置保持由口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果。另外，當(dāng)存儲(chǔ)器訪問命令不與一個(gè)口令一起輸入時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置所保持的口令檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。結(jié)果是，能夠省略不必要的口令傳輸，并改進(jìn)傳輸效率。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，包括寫口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由寫口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；讀口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由讀口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；以及系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果。在該IC卡中，當(dāng)一條命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，當(dāng)各口令根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置、讀口令檢驗(yàn)裝置和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置檢驗(yàn)結(jié)果彼此相同時(shí)，命令執(zhí)行裝置執(zhí)行從讀/寫裝置送來的命令。另一情況是，當(dāng)一條命令不與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)寫口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置、讀口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置或系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置中所保持的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。結(jié)果是，能夠提高數(shù)據(jù)傳輸效率，并提供更高安全性。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，包括一個(gè)系統(tǒng)區(qū)，該區(qū)具有一個(gè)存儲(chǔ)標(biāo)識(shí)碼的區(qū)。該IC卡還包括標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置，當(dāng)一個(gè)標(biāo)識(shí)碼與一條命令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該標(biāo)識(shí)碼與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定標(biāo)識(shí)碼是否彼此相同；以及標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果。在該IC卡中，當(dāng)一條命令與一個(gè)標(biāo)識(shí)碼一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。另一情況是，當(dāng)一條命令不與一個(gè)標(biāo)識(shí)碼一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置中所保持的標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。結(jié)果是，能夠更加提高數(shù)據(jù)傳輸效率。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，其中口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置僅當(dāng)在從讀/寫裝置傳輸一條命令時(shí)在通信中未產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤時(shí)才保持口令檢驗(yàn)結(jié)果。結(jié)果是，能夠更準(zhǔn)確地檢查口令錯(cuò)誤。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種集成電路卡，其中標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置僅當(dāng)在從讀/寫裝置傳輸一條命令時(shí)在通信中未產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤時(shí)才保持標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果。結(jié)果是，能夠更準(zhǔn)確地檢查標(biāo)識(shí)碼錯(cuò)誤。
通過以下詳述并結(jié)合附圖，本發(fā)明的上述及其他目的和新穎特征會(huì)更加明顯。然而，應(yīng)清楚地理解到，附圖僅用于說明的目的，并不對(duì)本發(fā)明構(gòu)成限制。
圖1是顯示本發(fā)明的非接觸型IC卡的第一實(shí)施方式的基本結(jié)構(gòu)以及讀/寫裝置的框圖；圖2是顯示第一實(shí)施方式中存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)映象的圖；圖3是顯示非接觸型IC卡的第一實(shí)施方式中寫命令的處理步驟的流程圖；圖4是顯示非接觸型IC卡的第一實(shí)施方式中讀命令的處理步驟的流程圖；圖5是顯示當(dāng)非接觸型IC卡的第一實(shí)施方式用于某系統(tǒng)時(shí)存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)映象；圖6是顯示非接觸型IC卡的第二實(shí)施方式中，控制電路中的錯(cuò)誤處理電路、發(fā)射/接收電路和存儲(chǔ)器的圖；圖7是顯示第二實(shí)施方式中錯(cuò)誤處理電路的每部分的輸入信號(hào)的時(shí)序的時(shí)序圖；圖8是顯示第二實(shí)施方式中讀/寫裝置與非接觸型IC卡之間通信的圖示序列的序列圖；圖9是顯示非接觸型IC卡的第三實(shí)施方式中控制電路的錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖；圖10是顯示非接觸型IC卡的第四實(shí)施方式中控制電路的錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖；圖11是顯示第四實(shí)施方式中錯(cuò)誤處理電路的每部分的輸入信號(hào)的時(shí)序的時(shí)序圖；圖12是顯示非接觸型IC卡的第五實(shí)施方式中控制電路的錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖；圖13是顯示常規(guī)非接觸型IC卡系統(tǒng)中IC卡與讀/寫裝置之間通信的序列圖；以及圖14是顯示常規(guī)IC卡中存儲(chǔ)映象的圖。
現(xiàn)在結(jié)合附圖詳述本發(fā)明的最佳實(shí)施方式。
實(shí)施方式1圖1是顯示本發(fā)明第一實(shí)施方式中非接觸型IC卡的基本結(jié)構(gòu)以及讀/寫裝置的框圖。圖中，參考標(biāo)號(hào)100指非接觸型IC卡，200指用于與非接觸型IC卡100通信的讀/寫裝置，110指一個(gè)發(fā)射/接收天線，用于將電子信息轉(zhuǎn)換為無線電波，并將無線電波轉(zhuǎn)換為高頻信號(hào)，以便在讀/寫裝置與天線之間發(fā)射和接收無線電波。另外，參考標(biāo)號(hào)120指一個(gè)發(fā)射/接收電路，用于將發(fā)射/接收無線110所轉(zhuǎn)換成的高頻信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為要提供到發(fā)射/接收無線110的高頻信號(hào)，140指一個(gè)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的可編程存儲(chǔ)器，150指一個(gè)用于向非接觸型IC卡100各部分供電的電源電路。另外，參考標(biāo)號(hào)300指一個(gè)控制電路，用于控制非接觸型IC卡100的各部分，并處理寫到非接觸型IC卡100或從其讀出的數(shù)據(jù)?？梢圆捎眯⌒碗姵刈鳛殡娫措娐?50，或者通過對(duì)收到的無線電波進(jìn)行檢波來獲得直流電源。
圖2是顯示本實(shí)施方式的存儲(chǔ)器140的存儲(chǔ)映象的圖。如圖中所示，將存儲(chǔ)器140分為用戶區(qū)UA和系統(tǒng)區(qū)SA。用戶區(qū)UA是非接觸型IC卡100的用戶的如個(gè)人信息或帳目數(shù)據(jù)這樣的應(yīng)用數(shù)據(jù)所用的區(qū)。系統(tǒng)區(qū)SA是用于控制該卡的區(qū)。系統(tǒng)區(qū)SA包括一個(gè)系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符、一個(gè)卡標(biāo)識(shí)符、一個(gè)系統(tǒng)口令、一個(gè)讀口令、一個(gè)讀口令限制地址、一個(gè)寫口令和一個(gè)寫口令限制地址。系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符用于標(biāo)識(shí)該卡能用于哪個(gè)系統(tǒng)。另外，卡標(biāo)識(shí)符用于標(biāo)識(shí)非接觸型IC卡100。系統(tǒng)口令是在從系統(tǒng)區(qū)讀或向系統(tǒng)區(qū)寫期間用于檢驗(yàn)的口令。讀口令和寫口令是分別用在從用戶區(qū)UA讀或向用戶區(qū)UA寫期間用于檢驗(yàn)的口令。另外，讀口令限制地址是讀口令有效的上限地址，寫口令限制地址是寫口令有效的上限地址。
參考標(biāo)號(hào)361指一個(gè)寫口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)一條用戶區(qū)UA的寫命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置200發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的寫口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同。參考標(biāo)號(hào)362指一個(gè)讀口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)用戶區(qū)UA的一條讀命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置200發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的讀口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同。參考標(biāo)號(hào)363指一個(gè)系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)系統(tǒng)區(qū)SA的一條讀命令或一條寫命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置200發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的系統(tǒng)口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是彼此相同。參考標(biāo)號(hào)350指一個(gè)命令執(zhí)行裝置，當(dāng)各口令根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置361、讀口令檢驗(yàn)裝置362和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置363所進(jìn)行的檢驗(yàn)的結(jié)果彼此相同時(shí)，用于執(zhí)行從讀/寫裝置200送來的命令。另外，寫口令檢驗(yàn)裝置361、讀口令檢驗(yàn)裝置362和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置363形成口令檢驗(yàn)裝置360。另外，參考標(biāo)號(hào)370指一個(gè)標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置，當(dāng)一個(gè)標(biāo)識(shí)碼與一條命令一起從讀/寫裝置200發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該標(biāo)識(shí)碼與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行檢驗(yàn)。
現(xiàn)在描述該實(shí)施方式的非接觸型IC卡的操作。首先，簡述讀/寫裝置200與非接觸型IC卡100之間的總體通信操作。最初，讀/寫裝置200向非接觸型IC卡100發(fā)送一條標(biāo)識(shí)符讀命令，作為讀標(biāo)識(shí)碼的命令。非接觸型IC卡100送回系統(tǒng)區(qū)SA中的系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符和卡標(biāo)識(shí)符(或任何一個(gè))。讀/寫裝置200標(biāo)識(shí)來自非接觸型IC卡100的系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符，從而判定該非接觸型IC卡100是否配給該系統(tǒng)所用。如果根據(jù)卡標(biāo)識(shí)符改變了服務(wù)，讀/寫裝置200還標(biāo)識(shí)卡標(biāo)識(shí)符。接著，當(dāng)讀用戶區(qū)UA時(shí)，為了讀比讀口令限制地址低的地址處的數(shù)據(jù)，讀/寫裝置200向非接觸型IC卡100發(fā)射包括讀命令、系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符、卡標(biāo)識(shí)符、讀地址和讀口令的數(shù)據(jù)。為了讀比讀口令限制地址高的地址處的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)中不加口令。
現(xiàn)在描述非接觸型IC卡100的處理步驟。圖3是顯示非接觸型IC卡100中寫命令的處理步驟的流程圖。最初，非接觸型IC卡100接收從讀/寫裝置200發(fā)送的命令，以便對(duì)該命令譯碼(步驟S301)。當(dāng)輸入的命令是該非接觸型IC卡100不能接受的命令時(shí)(步驟S302)，則判定命令錯(cuò)誤，設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S305)。當(dāng)沒有命令錯(cuò)誤時(shí)，非接觸型IC卡100接收系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符和卡標(biāo)識(shí)符，并對(duì)兩個(gè)標(biāo)識(shí)符與存儲(chǔ)在非接觸型IC卡100中的系統(tǒng)標(biāo)識(shí)符和卡標(biāo)識(shí)符進(jìn)行檢驗(yàn)(步驟S303)。當(dāng)各標(biāo)識(shí)符互不相同時(shí)(步驟S304)，作為標(biāo)識(shí)符的檢驗(yàn)結(jié)果，設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S305)。當(dāng)各標(biāo)識(shí)符彼此相同時(shí)，作為標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)的結(jié)果，非接觸型IC卡100接收寫地址(步驟S306)。當(dāng)輸入的地址引起錯(cuò)誤時(shí)(步驟S307)，設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S305)。當(dāng)輸入的地址未引起錯(cuò)誤時(shí)(步驟S307)，檢查所發(fā)送的地址是否低于寫限制地址(步驟S308)。當(dāng)輸入的地址高于寫限制地址時(shí)，該過程進(jìn)行到步驟S312。否則，當(dāng)輸入的地址低于寫限制地址時(shí)，檢查輸入的地址是否位于系統(tǒng)區(qū)SA(步驟S309)。當(dāng)輸入的地址位于系統(tǒng)區(qū)SA之外時(shí)，IC卡100接收輸入的寫口令，以使對(duì)該口令與存儲(chǔ)在非接觸型IC卡100中的寫口令進(jìn)行檢驗(yàn)(步驟S310)。當(dāng)寫口令互不相同時(shí)(步驟S311)，作為檢驗(yàn)結(jié)果，設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S305)。當(dāng)在步驟S311中寫口令彼此相同時(shí)，IC卡100接收要寫的數(shù)據(jù)(步驟S312)。另一方面，當(dāng)步驟S306中輸入的地址是位于系統(tǒng)區(qū)SA之內(nèi)的地址時(shí)(步驟S309)，對(duì)輸入的系統(tǒng)口令與存儲(chǔ)在非接觸型IC卡100中的系統(tǒng)口令進(jìn)行檢驗(yàn)(步驟S313)。當(dāng)系統(tǒng)口令互不相同時(shí)(步驟S314)，作為檢驗(yàn)結(jié)果，設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S305)。當(dāng)在步驟S314中系統(tǒng)口令彼此相同時(shí)，則IC卡100接收要寫的數(shù)據(jù)(步驟S312)。在步驟S312的數(shù)據(jù)接收完成之后(步驟S315和S316)，檢查是否引起傳輸錯(cuò)誤(步驟S317)。如果有傳輸錯(cuò)誤，則設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S318)。然后，確認(rèn)錯(cuò)誤狀態(tài)(步驟S319)，如果在步驟S320產(chǎn)生錯(cuò)誤，則過程進(jìn)行到步驟S322。當(dāng)在步驟S319確認(rèn)錯(cuò)誤狀態(tài)時(shí)未產(chǎn)生錯(cuò)誤(步驟S320)，則執(zhí)行寫命令(步驟S321)。當(dāng)有下一條命令待接收時(shí)，過程返回到步驟S301。在沒有下一條命令的情形下，過程結(jié)束(步驟S322)。
下面，描述執(zhí)行讀命令時(shí)的操作。圖4是顯示讀命令執(zhí)行步驟的流程圖。根據(jù)包括與圖3所示的寫命令相似的步驟的流程執(zhí)行讀命令。然而，該流程不包括接收數(shù)據(jù)的步驟，即與圖3中步驟S312相應(yīng)的步驟。另外，在步驟S406中接收讀地址，并且在步驟S408中判定輸入的地址是否低于讀限制地址。在步驟S410，進(jìn)行讀口令檢驗(yàn)。另外，在步驟S421，將讀地址處的數(shù)據(jù)發(fā)射到讀/寫裝置200。
圖5是顯示將該實(shí)施方式的非接觸型IC卡100用在某系統(tǒng)時(shí)存儲(chǔ)器140的存儲(chǔ)映象的圖。如圖所示，系統(tǒng)區(qū)SA包括一個(gè)寫口令、一個(gè)寫口令限制地址“12H”、讀口令和讀口令限制地址“1DH”。在這種情形下，因?yàn)橛脩魠^(qū)UA是從地址“10H”到“1FH”，所以寫口令有效的區(qū)(第一區(qū))是從地址“10H”到“12H”，讀口令有效的區(qū)是(第二區(qū))是從地址“10H”到“1DH”。這就是說，從地址“10H”到“12H”的區(qū)(第三區(qū))既需要讀口令又需要寫口令。因此，該區(qū)適于存儲(chǔ)具有高度安全性的、且在卡發(fā)行之后需要讀/寫操作的數(shù)據(jù)(如帳目數(shù)據(jù))。從地址“13H”到“1DH”的區(qū)僅需要讀口令。因此，該區(qū)適于存儲(chǔ)在卡發(fā)行之后只讀的數(shù)據(jù)(如地址、名字或電話號(hào)碼)。另外，從地址“1EH”到“1FH”的區(qū)可不需要口令訪問。因此，該區(qū)適于存儲(chǔ)不需要安全性的數(shù)據(jù)。
如上所述，提供兩個(gè)口令，包括寫口令和讀口令。從而，能夠通過將該區(qū)分為三種類型的具有不同安全級(jí)別的區(qū)來控制該區(qū)。另外，能夠通過改變限制地址來改變各區(qū)的大小。即，與現(xiàn)有技術(shù)中為每塊設(shè)置一個(gè)口令的情形相比，能夠更有效地使用存儲(chǔ)器。
實(shí)施方式2圖6是顯示第二實(shí)施方式中非接觸型IC卡的控制電路的一部分、發(fā)射/接收電路和存儲(chǔ)器的圖。在該實(shí)施方式中，除了控制電路的操作之外，其基本結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式圖1的非接觸型IC卡100相同。發(fā)射/接收電路120包括一個(gè)串行口I/O121，它將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)，并將串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù)；一個(gè)調(diào)制電路122，它對(duì)來自串行口I/O121的數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制，以便將調(diào)制后的數(shù)據(jù)送到發(fā)射/接收天線110；以及一個(gè)解調(diào)電路123，它對(duì)來自發(fā)射/接收天線110的高頻信號(hào)進(jìn)行解調(diào)，以便將解調(diào)后的信號(hào)送到串行口I/O121。
在圖中，參考標(biāo)號(hào)300a指控制電路300中的標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤和口令錯(cuò)誤處理電路。參考標(biāo)號(hào)301指一個(gè)比較器，其中，在發(fā)射/接收電路120中對(duì)來自存儲(chǔ)器140的并行數(shù)據(jù)與來自串行口I/O121的并行數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，并且當(dāng)并行數(shù)據(jù)互不相同時(shí)輸出信號(hào)“H”。參考標(biāo)號(hào)302至305指復(fù)位觸發(fā)器，參考標(biāo)號(hào)306至311指與門。
圖7是顯示輸入到標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤和口令錯(cuò)誤處理電路各部分的信號(hào)的時(shí)序的時(shí)序圖。在標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)期間，信號(hào)IDstat變?yōu)椤癏”。在口令檢驗(yàn)期間，信號(hào)PASSstat變?yōu)椤癏”。在命令等待狀態(tài)(即在接收等待狀態(tài))中信號(hào)CMDwait變?yōu)椤癏”。當(dāng)卡從靜止?fàn)顟B(tài)轉(zhuǎn)變到工作狀態(tài)時(shí)，輸出信號(hào)RESET。當(dāng)從讀/寫裝置200接收復(fù)位命令時(shí)，輸出復(fù)位命令信號(hào)，并執(zhí)行。在執(zhí)行具有標(biāo)識(shí)碼的命令時(shí)，輸出需要標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)的命令信號(hào)，在執(zhí)行具有口令的命令時(shí)，輸出需要口令檢驗(yàn)的命令信號(hào)。在從需要口令的區(qū)讀或向其寫時(shí)，輸出一個(gè)讀/寫命令信號(hào)。嚴(yán)格地說，在緊接錯(cuò)誤狀態(tài)確認(rèn)之前的時(shí)刻到命令執(zhí)行完成的周期內(nèi)，輸出讀/寫命令信號(hào)。在該情形下，根據(jù)與讀/寫命令相同的時(shí)序，輸出需要標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)的命令信號(hào)和需要口令檢驗(yàn)的命令信號(hào)。在執(zhí)行讀標(biāo)識(shí)符命令的時(shí)刻輸出讀標(biāo)識(shí)符命令信號(hào)。標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志可從觸發(fā)器304(用作標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置)的輸出端Q獲得，并且作為標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果，當(dāng)標(biāo)識(shí)碼彼此相同時(shí)，該標(biāo)志被復(fù)位。作為口令檢驗(yàn)的結(jié)果，當(dāng)口令彼此相同時(shí)，將口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志復(fù)位。兩個(gè)標(biāo)志保持它們的內(nèi)容，直到輸入信號(hào)RESET或復(fù)位命令信號(hào)。信號(hào)RESET或復(fù)位命令的輸入設(shè)置觸發(fā)器304和觸發(fā)器305(用作口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置)。
圖8是顯示讀/寫裝置與非接觸型IC卡之間通信序列的例子的序列圖?，F(xiàn)在描述當(dāng)IC卡從讀/寫裝置200接收一條需要口令的對(duì)某區(qū)的讀命令時(shí)的情形。最初，IC卡從讀/寫裝置200接收讀標(biāo)積符命令，使得讀標(biāo)識(shí)符命令信號(hào)變?yōu)椤癏”。然后，標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤變?yōu)椤癓”，意思是錯(cuò)誤狀態(tài)表示沒有錯(cuò)誤，因此執(zhí)行讀標(biāo)識(shí)符命令。之后，IC卡將標(biāo)識(shí)碼作為執(zhí)行結(jié)果送回讀/寫裝置200(步驟A)。接著，讀/寫裝置200向非接觸型IC卡100發(fā)送包括執(zhí)行命令(讀命令)、標(biāo)識(shí)碼、讀地址和口令的數(shù)據(jù)。非接觸型IC卡100接收?qǐng)?zhí)行命令，使得信號(hào)CMDwait變?yōu)椤癓”，信號(hào)LDstat然后變?yōu)椤癏”。另外，由比較器301對(duì)所收到的標(biāo)識(shí)碼與存儲(chǔ)器140中的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行比較。當(dāng)標(biāo)識(shí)碼彼此相同時(shí)，作為檢驗(yàn)結(jié)果，觸發(fā)器302的輸出Q(反相)變?yōu)椤癏”。
接著，IC卡接收讀地址，以便判定該區(qū)是否需要口令。在這種情形下，信號(hào)IDstat變?yōu)椤癓”。之后，信號(hào)PASSstat變?yōu)椤癏”，使得對(duì)所收到的口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的口令進(jìn)行檢驗(yàn)。當(dāng)口令彼此相同時(shí)，作為檢驗(yàn)結(jié)果，觸發(fā)器303的輸出Q(反相)變?yōu)椤癏”。根據(jù)讀/寫命令信號(hào)、需要標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)的命令信號(hào)和需要口令檢驗(yàn)的命令信號(hào)的時(shí)序，將觸發(fā)器302和303的內(nèi)容分別存儲(chǔ)在觸發(fā)器304和305中，作為標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志和口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志。
如果從串行口I/O121發(fā)送的標(biāo)識(shí)碼與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器140中的標(biāo)識(shí)碼不同，則比較器301輸出一個(gè)信號(hào)“H”。結(jié)果是，設(shè)置觸發(fā)器302，使得輸出端Q(反相)輸出一個(gè)信號(hào)“L”以避免對(duì)觸發(fā)器304復(fù)位。因?yàn)橛|發(fā)器304在其最初狀態(tài)被信號(hào)RESET或復(fù)位命令信號(hào)設(shè)置，所以標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志變?yōu)椤癏”，以指示一個(gè)標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤。另一種情況是，當(dāng)口令互不相同時(shí)，根據(jù)類似的操作輸出一個(gè)口令錯(cuò)誤。
為了執(zhí)行一條命令，應(yīng)確認(rèn)標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤或口令錯(cuò)誤，并且僅當(dāng)沒有錯(cuò)誤產(chǎn)生時(shí)才執(zhí)行該命令。另外，IC卡將執(zhí)行結(jié)果送回讀/寫裝置200(步驟B)。為了繼續(xù)讀取需要口令的另一地址處的數(shù)據(jù)，讀/寫裝置可以僅發(fā)送一條執(zhí)行命令和一個(gè)地址，使得該命令能夠在IC卡中執(zhí)行(步驟C)。這是說，因?yàn)橐呀?jīng)在步驟B中檢驗(yàn)了標(biāo)識(shí)碼和口令，所以可以在步驟C及后續(xù)步驟中執(zhí)行命令，而不發(fā)送標(biāo)識(shí)碼和口令。結(jié)果是，能夠可觀地降低數(shù)據(jù)傳輸量。另外，在已經(jīng)完成檢驗(yàn)的IC卡與讀/寫裝置之間的通信期間，未完成檢驗(yàn)的另一IC卡可以進(jìn)入通信區(qū)。即使在這樣的情形下，后一個(gè)IC卡始終不能錯(cuò)誤地執(zhí)行命令，因?yàn)椋诿總€(gè)IC卡中，在復(fù)位操作之后，觸發(fā)器304和305被設(shè)置，使得標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志和口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志顯示不相等。
實(shí)施方式3圖9是顯示本發(fā)明的第三實(shí)施方式中非接觸型IC卡的控制電路中的錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖。在圖中，與圖6所示相同的元部件用相同的參考標(biāo)號(hào)，略去相同的描述。
參考標(biāo)號(hào)300b指非接觸型IC卡100中的控制電路的錯(cuò)誤處理電路。參考標(biāo)號(hào)309a、309b、309c、311a、311b，311c指與門，305a指一個(gè)觸發(fā)器(用作系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置)，它保持一個(gè)系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志，305b指一個(gè)觸發(fā)器(用作讀口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置)，它保持一個(gè)讀口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志，305c指一個(gè)觸發(fā)器(用作寫口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置)，它保持一個(gè)寫口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志，312指一個(gè)或門，其中對(duì)從與門311a、311b和311c輸出的錯(cuò)誤信號(hào)進(jìn)行“或”運(yùn)算。在系統(tǒng)區(qū)的讀/寫命令的執(zhí)行時(shí)刻輸出系統(tǒng)區(qū)讀/寫信號(hào)。在用戶區(qū)中對(duì)某區(qū)的需要口令的讀命令的執(zhí)行時(shí)刻輸出讀命令信號(hào)。在用戶區(qū)中對(duì)某區(qū)的需要口令的寫命令的執(zhí)行時(shí)刻輸出寫命令信號(hào)。根據(jù)與第二實(shí)施方式中所述的讀/寫命令信號(hào)相同的時(shí)序輸出這些信號(hào)。
現(xiàn)在描述上述操作。在該實(shí)施方式中，因?yàn)闃?biāo)識(shí)錯(cuò)誤信號(hào)是如第二實(shí)施方式那樣輸出的，第二實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示于圖6，所以略去相同的描述。因此，鑒于與第二實(shí)施方式不同之處，描述口令錯(cuò)誤信號(hào)的輸出。盡管在第二實(shí)施方式中只設(shè)置一個(gè)觸發(fā)器來保持口令檢驗(yàn)的結(jié)果，但在該實(shí)施方式中，分別為系統(tǒng)口令、讀口令和寫口令設(shè)置觸發(fā)器305a、305b和305c。意即，在系統(tǒng)區(qū)的讀/寫命令、用戶區(qū)的讀命令和用戶區(qū)的寫命令的情形下對(duì)口令分別進(jìn)行檢驗(yàn)。然后，將觸發(fā)器303的檢驗(yàn)結(jié)果存儲(chǔ)在觸發(fā)器305a、305b和305c中。因?yàn)橐呀?jīng)對(duì)各命令的口令進(jìn)行了檢驗(yàn)，所以可以略去后續(xù)命令的后續(xù)口令檢驗(yàn)。通過參照存儲(chǔ)在觸發(fā)器305a、305b和305c中的口令檢驗(yàn)結(jié)果標(biāo)志，而不用檢驗(yàn)，或門312輸出一個(gè)指示口令錯(cuò)誤存在與否的口令錯(cuò)誤信號(hào)。
因此，三個(gè)口令的檢驗(yàn)結(jié)果可以獨(dú)立地存儲(chǔ)。因此，如第一實(shí)施方式所述采用系統(tǒng)口令、寫口令和讀口令的情形下，能夠獨(dú)立地檢查口令錯(cuò)誤。例如，在執(zhí)行需要口令的某區(qū)的讀命令之后，可以發(fā)送需要口令的某區(qū)的寫命令，而不檢驗(yàn)口令。在這種情形下，在第二實(shí)施方式中，必然執(zhí)行該寫命令。然而，在該實(shí)施方式中，各口令是獨(dú)立地檢查的，使得即使在這種情形下，寫命令始終不被直接執(zhí)行。因此，能夠以更高的安全性檢查口令錯(cuò)誤。
實(shí)施方式4圖10是顯示本發(fā)明第四實(shí)施方式中的非接觸型IC卡的控制電路中錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖。在圖中，與圖9所示相同的元部件用相同的參考標(biāo)號(hào)，略去相同的描述。
參考標(biāo)號(hào)300c指非接觸型IC卡100中控制電路的錯(cuò)誤處理電路，313和315指與門，314和316指反相器。傳輸錯(cuò)誤信號(hào)輸入到反相器314和316。圖11是該實(shí)施方式中錯(cuò)誤處理電路的每部分的輸入信號(hào)的時(shí)序的時(shí)序圖。如圖所示，當(dāng)產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤時(shí)，傳輸錯(cuò)誤信號(hào)在收到口令之后立即變?yōu)椤癏”。
現(xiàn)在描述操作。在第四實(shí)施方式中的錯(cuò)誤處理電路中，標(biāo)識(shí)碼和口令的檢驗(yàn)結(jié)果并不直接設(shè)為觸發(fā)器304、305a、305b和305c中的標(biāo)志。在接收完成之后，必須檢查到在結(jié)果能夠被設(shè)為觸發(fā)器中的標(biāo)志之前未產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤。因此，根據(jù)該實(shí)施方式，即使在可能產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤的情形下，也能提高非接觸型IC卡的工作可靠性。
實(shí)施方式5圖12是顯示本發(fā)明第五實(shí)施方式中的非接觸型IC卡的控制電路中錯(cuò)誤處理電路結(jié)構(gòu)的圖。在圖中，與圖11所示相同的元部件用相同的參考標(biāo)號(hào)，略去相同的描述。
參考標(biāo)號(hào)300d指非接觸型IC卡100中的控制電路的錯(cuò)誤處理電路，參考標(biāo)號(hào)316至319指與門，參考標(biāo)號(hào)320至323指或門。
現(xiàn)在描述其操作。在第二至第四實(shí)施方式中，各結(jié)構(gòu)是在一旦檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)碼和口令之后不再后續(xù)輸入需要標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)和口令檢驗(yàn)的命令的條件下設(shè)置的。在該實(shí)施方式中，每次輸入需要標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)和口令檢驗(yàn)的命令時(shí)，正確地進(jìn)行標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)和口令檢驗(yàn)。如果輸入不需標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)和口令檢驗(yàn)的命令，則通過參照觸發(fā)器304、305a、305b和305c中所存儲(chǔ)的標(biāo)志輸出標(biāo)識(shí)錯(cuò)誤信號(hào)和口令錯(cuò)誤信號(hào)。
首先，描述在標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)期間的實(shí)際電路工作。在第二至第四實(shí)施方式中，僅當(dāng)輸入信號(hào)RESET或復(fù)位命令信號(hào)時(shí)，觸發(fā)器304才被設(shè)置。在該實(shí)施方式中，觸發(fā)器302的輸出端Q向與門316輸出一個(gè)信號(hào)“H”，而當(dāng)與門313輸出一個(gè)信號(hào)“H”時(shí)，觸發(fā)器304也可由或門320設(shè)置。即，由比較器301對(duì)標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行檢驗(yàn)，而在標(biāo)識(shí)碼不相等的情形下，與門306輸出一個(gè)信號(hào)“H”，使得觸發(fā)器302的輸出“Q”變?yōu)椤癏”。另外，當(dāng)輸入需要標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)的命令而無傳輸錯(cuò)誤時(shí)，與門313輸出“H”。因此，與門316向或門320輸出一個(gè)信號(hào)“H”，使得或門320的輸出變?yōu)椤癏”，從而將觸發(fā)器304的輸出Q設(shè)為“H”，作為指示錯(cuò)誤的標(biāo)識(shí)檢驗(yàn)標(biāo)志。結(jié)果是，即使輸入需要標(biāo)識(shí)符檢驗(yàn)的多個(gè)命令，也對(duì)每次命令輸入正確檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)碼。因?yàn)槊看慰诹顧z驗(yàn)可以與上述操作相似，所以略去其描述。如上所述，每次輸入需要標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)和口令檢驗(yàn)的命令時(shí)，能夠準(zhǔn)確地檢驗(yàn)標(biāo)識(shí)碼和口令。結(jié)果是，能夠改進(jìn)數(shù)據(jù)傳輸效率并保證更高安全性。
盡管利用特定術(shù)語描述了本發(fā)明的最佳實(shí)施方式，但是這樣的描述只是用于說明目的，應(yīng)理解到可以做許多改變和修改，而不背離權(quán)利要求的實(shí)質(zhì)和范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于與讀/寫裝置通信的集成電路卡，該集成電路卡包括一個(gè)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，該存儲(chǔ)器被劃分為一個(gè)系統(tǒng)區(qū)和一個(gè)用戶區(qū)，該系統(tǒng)區(qū)包括一個(gè)用于存儲(chǔ)一個(gè)當(dāng)向用戶區(qū)的第一區(qū)寫數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的寫口令的區(qū)、一個(gè)用于存儲(chǔ)一個(gè)當(dāng)從用戶區(qū)的第二區(qū)讀出數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的讀口令的區(qū)、和一個(gè)用于存儲(chǔ)一個(gè)當(dāng)向系統(tǒng)區(qū)寫或從系統(tǒng)區(qū)讀數(shù)據(jù)時(shí)用于檢驗(yàn)的系統(tǒng)口令的區(qū)；寫口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)?shù)谝粎^(qū)的寫命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的寫口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；讀口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)?shù)诙^(qū)的讀命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的讀口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)系統(tǒng)區(qū)的讀或?qū)懨钆c一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的系統(tǒng)口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相；以及命令執(zhí)行裝置，用于當(dāng)根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置、讀口令檢驗(yàn)裝置和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果確定各口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的那些口令相同時(shí)，執(zhí)行從讀/寫裝置送來的命令。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的集成電路卡，其中存儲(chǔ)器具有一個(gè)第三區(qū)，該區(qū)包括在第一區(qū)中，也包括在第二區(qū)中。
3.一種用于與讀/寫裝置通信的集成電路卡，該集成電路卡包括一個(gè)存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，該存儲(chǔ)器被分為一個(gè)系統(tǒng)區(qū)和一個(gè)用戶區(qū)，該系統(tǒng)區(qū)包括一個(gè)用于存儲(chǔ)當(dāng)訪問存儲(chǔ)器時(shí)用于檢驗(yàn)的口令的區(qū)；口令檢驗(yàn)裝置，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該口令與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的口令進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定口令是否彼此相同；口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；以及命令執(zhí)行裝置，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置輸入時(shí)，根據(jù)口令檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令，并且，當(dāng)訪問存儲(chǔ)器的命令不與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置輸入時(shí)，根據(jù)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置所保持的口令檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的集成電路卡，還包括寫口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由寫口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；讀口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由讀口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果；以及系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持由系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置所進(jìn)行的口令檢驗(yàn)的結(jié)果，其中，當(dāng)一條命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，當(dāng)各口令根據(jù)寫口令檢驗(yàn)裝置、讀口令檢驗(yàn)裝置和系統(tǒng)口令檢驗(yàn)裝置檢驗(yàn)結(jié)果彼此相同時(shí)，命令執(zhí)行裝置執(zhí)行從讀/寫裝置送來的命令，并且其中，當(dāng)一條命令不與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)寫口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置、讀口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置或系統(tǒng)口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置中所保持的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的集成電路卡，其中系統(tǒng)區(qū)具有一個(gè)存儲(chǔ)標(biāo)識(shí)碼的區(qū)；該集成電路卡還包括標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置，當(dāng)一個(gè)標(biāo)識(shí)碼與一條命令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，用于對(duì)該標(biāo)識(shí)碼與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行檢驗(yàn)，以便判定標(biāo)識(shí)碼是否彼此相同；以及標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置，用于保持標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果；其中，當(dāng)一條命令與一個(gè)標(biāo)識(shí)碼一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)裝置的檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令；并且其中，當(dāng)一條命令不與一個(gè)標(biāo)識(shí)碼一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，命令執(zhí)行裝置根據(jù)標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置中所保持的標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果執(zhí)行該命令。
6.根據(jù)權(quán)利要求3的集成電路卡，其中口令檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置僅當(dāng)在從讀/寫裝置傳輸一條命令時(shí)在通信中未產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤時(shí)才保持口令檢驗(yàn)結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求5的集成電路卡，其中標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果保持裝置僅當(dāng)在從讀/寫裝置傳輸一條命令時(shí)在通信中未產(chǎn)生傳輸錯(cuò)誤時(shí)才保持標(biāo)識(shí)碼檢驗(yàn)結(jié)果。
全文摘要
在一種集成電路卡中，用戶區(qū)具有使寫口令有效的第一區(qū)和使讀口令有效的第二區(qū)。當(dāng)?shù)谝粎^(qū)的寫命令與一個(gè)口令一起從讀/寫裝置發(fā)送時(shí)，對(duì)該口令與寫口令進(jìn)行檢驗(yàn)。當(dāng)?shù)诙^(qū)的讀命令與一個(gè)口令一起發(fā)送時(shí)，對(duì)該口令與讀口令進(jìn)行檢驗(yàn)。檢驗(yàn)結(jié)果是，當(dāng)口令相同時(shí)，執(zhí)行各命令。
文檔編號(hào)G06K19/073GK1137137SQ9511698
公開日1996年12月4日 申請(qǐng)日期1995年8月31日 優(yōu)先權(quán)日1995年3月29日
發(fā)明者藤岡宗三 申請(qǐng)人:三菱電機(jī)株式會(huì)社, 三菱電機(jī)半導(dǎo)體軟件株式會(huì)社