專利名稱：非接觸式ic卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種非接觸式集成電路(IC)卡，特別是涉及一種可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序并且還可以便于用戶選擇一個(gè)應(yīng)用程序的非接觸式IC卡。
背景技術(shù)：
包括信用卡在內(nèi)的磁卡已經(jīng)得到常規(guī)地應(yīng)用，而不管其目的如何，例如商業(yè)性目的。然而，近來，磁卡已經(jīng)讓位于IC卡?？赡艿睦碛砂?，IC卡具有較低的篡改風(fēng)險(xiǎn)并且在安全性以及大的存儲容量方面占優(yōu)，并且通過與主機(jī)終端的無線通信可以將非接觸式接口應(yīng)用于IC卡。具有這些優(yōu)點(diǎn)的IC卡在運(yùn)輸領(lǐng)域及其盛行。特別是在需要大容量并且高速的檢票的處理時(shí)證實(shí)了這些效果，其未來在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用都將進(jìn)一步得到考慮。
首先，將對使用非接觸式接口的IC卡(即，非接觸式IC卡)的概況進(jìn)行說明。


圖1是示出通常使用的非接觸式IC卡和讀/寫器的外觀圖，及其使用的情況。
所述非接觸式IC卡10具有單個(gè)天線線圈101，并且使用該天線線圈101與讀/寫器20進(jìn)行無線通信。
圖2是示出圖1所示的普通非接觸式IC卡10的硬件結(jié)構(gòu)的圖。
如圖2所示，該非接觸式IC卡10由以下部分構(gòu)成天線線圈101，其通過接收來自讀/寫器20的電磁波來產(chǎn)生電動勢；ROM 201，其中存儲應(yīng)用程序；RAM 203，用于臨時(shí)存儲數(shù)據(jù)；CPU 202，用于執(zhí)行諸如計(jì)算之類的控制；EEPROM 204，用于存儲數(shù)據(jù)；以及總線500，用于聯(lián)結(jié)這些單元。
在單個(gè)IC卡中可以安裝多個(gè)應(yīng)用程序，而不管該IC卡是接觸式的還是非接觸式的。也就是說，其中安裝了多個(gè)應(yīng)用程序的非接觸式IC卡的用戶不需要攜帶分別具有不同應(yīng)用程序的多個(gè)非接觸式IC卡，并且可以利用單個(gè)非接觸式IC卡接收各種服務(wù)。例如，在乘坐由不同公司管理的不同的鐵路線時(shí)，通常都需要攜帶至少兩種卡。然而，利用其中存儲有多個(gè)應(yīng)用程序的非接觸式IC卡，用戶只需要攜帶一張卡，并且如上所述，由于用戶只需要讓卡通過設(shè)置在檢票口的終端設(shè)備，因此可以實(shí)現(xiàn)順利轉(zhuǎn)車。
然而，在多個(gè)應(yīng)用程序安裝在單個(gè)非接觸式IC卡的情況下，需要根據(jù)將要提供的服務(wù)在安裝在所述卡中的應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換，因此，當(dāng)前要研究一種盡可能快地選擇和激活用戶所需的應(yīng)用程序的技術(shù)。
某些常規(guī)的卡，接觸式的或非接觸式的，通過切換按鈕實(shí)現(xiàn)多個(gè)應(yīng)用程序的選擇。例如，存在一種常規(guī)的IC卡，具有這種結(jié)構(gòu)，其中高反射液晶單元和應(yīng)用程序類型選擇單元布置在表面上，從而當(dāng)用戶通過按壓按鈕選擇應(yīng)用程序時(shí)，所選擇的應(yīng)用程序顯示在所述液晶單元上。
然而，問題是該硬件結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜并且易碎，且所述卡的單位成本較高，因?yàn)槌Ｒ?guī)結(jié)構(gòu)中在卡上布置液晶單元和按鈕。
需要用戶操作按鈕，以便在應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換，因此，花費(fèi)時(shí)間并且要麻煩用戶進(jìn)行切換操作。這種切換操作的復(fù)雜性可能會導(dǎo)致特別是在檢票處理時(shí)的人流中斷。
考慮到上述情況，在使用具有多個(gè)應(yīng)用程序的單個(gè)非接觸式IC卡時(shí)，一個(gè)很重要的任務(wù)是實(shí)現(xiàn)簡單的硬件配置，以及用戶在應(yīng)用程序之間切換操作時(shí)的便利性。
考慮到其中供非接觸式IC卡使用的應(yīng)用程序的數(shù)目增加的實(shí)際情況，對于利用單個(gè)非接觸式IC卡在多于兩種的應(yīng)用程序之間切換也是一種挑戰(zhàn)。
本發(fā)明是為了克服上述這些問題而構(gòu)思的，并且本發(fā)明的目的是提供一種非接觸式IC卡，該IC卡在所述卡的表面不添加額外的硬件機(jī)構(gòu)的情況下可以通過促進(jìn)切換方法而實(shí)現(xiàn)用戶在應(yīng)用程序之間的快速切換。

發(fā)明內(nèi)容
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的非接觸式IC卡實(shí)現(xiàn)以下技術(shù)單元。
即，根據(jù)本發(fā)明的非接觸式IC卡是一種可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序的非接觸式集成電路(IC)卡，包括多個(gè)天線線圈，每個(gè)天線線圈通過接收來自讀/寫器的電磁波來產(chǎn)生電動勢；電動勢測量單元，可用于當(dāng)該非接觸式IC卡通過讀/寫器時(shí)，測量由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較單元，可用于比較由所述電動勢測量單元測量的電動勢的特性；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元，可用于根據(jù)由所述電動勢比較單元所作的比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行該選擇的應(yīng)用程序。
因此，多個(gè)天線線圈位于所述卡的內(nèi)部，并且根據(jù)對分別由所述天線線圈產(chǎn)生的電動勢的特性進(jìn)行的比較來選擇要執(zhí)行的應(yīng)用程序。因此可以簡化所述非接觸式IC卡表面上的硬件結(jié)構(gòu)，并且便于用戶在應(yīng)用程序之間的切換操作。
一部分天線線圈可以位于非接觸式IC卡的正面表面以下，而另一部分天線線圈可以位于非接觸式IC卡的背面表面以下。
根據(jù)以上結(jié)構(gòu)，當(dāng)通過卡時(shí)，用戶可以通過選擇卡的正面或者選擇卡的背面，從而從兩個(gè)應(yīng)用程序中選擇一個(gè)所需的應(yīng)用程序。
一部分天線線圈可以位于非接觸式IC卡的一面或兩面以下的右側(cè)，而另一部分天線線圈可以位于非接觸式IC卡的一面或兩面以下的左側(cè)。
根據(jù)以上結(jié)構(gòu)，用戶可以通過選擇卡通過的方向而從兩個(gè)應(yīng)用程序中選擇一個(gè)所需的應(yīng)用程序。用戶還可以通過選擇卡通過時(shí)的方向和面來從多于兩個(gè)的應(yīng)用程序中選擇一個(gè)所需的應(yīng)用程序。
優(yōu)選，所述非接觸式IC卡還包括程序存儲單元，可用于存儲分別與每個(gè)天線線圈相關(guān)的多個(gè)應(yīng)用程序，以及顯示單元，可用于指示與所述每個(gè)天線線圈相關(guān)的各個(gè)應(yīng)用程序。
這樣，提出了需要使其更接近于讀/寫器的天線線圈，從而激活所提供的應(yīng)用程序中的一個(gè)。因此對于用戶來說可以檢驗(yàn)所述卡的面和方向，以便選擇一個(gè)所需的應(yīng)用程序而不出任何錯(cuò)誤。
理想的是通過在所述非接觸式IC卡一個(gè)表面上的邊緣開槽口來形成一個(gè)凹入部分。
這樣，用戶，即使是他/她不能用眼睛檢查該卡，也可以選擇一個(gè)所需的應(yīng)用程序，因?yàn)樵摽ǖ拿婧头较蚩梢酝ㄟ^觸摸凹入部分來辨別。
應(yīng)當(dāng)注意的是，本發(fā)明不僅可以實(shí)現(xiàn)作為這種非接觸式IC卡，而且可以實(shí)現(xiàn)作為應(yīng)用程序選擇方法，該方法包括所述非接觸式IC卡中的特征單元作為步驟，并且甚至可以實(shí)現(xiàn)作為使計(jì)算機(jī)執(zhí)行這些步驟的程序。這種程序當(dāng)然可以通過諸如CD-ROM的存儲介質(zhì)或諸如互聯(lián)網(wǎng)的傳輸介質(zhì)進(jìn)行發(fā)布。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的非接觸式IC卡具有多個(gè)天線線圈，測量分別由所述天線線圈產(chǎn)生的電動勢，比較所產(chǎn)生的電動勢的特性，根據(jù)所述比較來選擇單個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的應(yīng)用程序。因此用戶可以用簡單的操作在安裝在單個(gè)非接觸式IC卡中的多個(gè)應(yīng)用程序之間進(jìn)行快速切換。
由于多個(gè)天線線圈設(shè)置在所述卡的內(nèi)部，因此該硬件的外部配置可以被簡化，而不需添加額外的硬件。
此外，不僅可以通過將兩個(gè)天線線圈放置在正面或背面表面以下，而且可以通過將每兩個(gè)天線線圈并排放置在兩側(cè)的表面以下來實(shí)現(xiàn)以簡單的操作在各種應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。有關(guān)本申請的技術(shù)背景的進(jìn)一步信息在此全文引入2003年10月20日申請的日本專利申請No.2003-359893的公開內(nèi)容，包括說明書、附圖和權(quán)利要求書來作為參考。
附圖簡述本發(fā)明的這些及其他目的、優(yōu)點(diǎn)及特征從以下結(jié)合附圖的描述中將變得更加明顯，附圖中說明了本發(fā)明的具體實(shí)施例。在所述附圖中圖1是示出通常使用的非接觸式IC卡和讀/寫器的外觀圖，及其使用的情況；圖2是示出圖1所示的普通非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)圖；圖4是示出根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的功能結(jié)構(gòu)的功能框圖；圖5A是示出根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的一面的外觀平面圖；圖5B是示出根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的另一面的外觀平面圖；圖5C是根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的部分的橫截面傾斜透視圖；圖6A是用于說明根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的操作方法的圖；圖6B是示出所述非接觸式IC卡與讀/寫器之間的距離與由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢之間的關(guān)系的圖；圖7是示出在操作根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡時(shí)使用的過程的流程圖；圖8A是用于說明根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的非接觸式IC卡的操作方法的圖；圖8B是示出在所述非接觸式IC卡通過所述讀/寫器時(shí)的時(shí)間與由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢之間的關(guān)系的圖；圖8C是示出在所述非接觸式IC卡通過所述讀/寫器時(shí)的時(shí)間與由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢的峰值之間的關(guān)系的圖；圖9是示出在操作根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡時(shí)使用的過程的流程圖；圖10A是示出根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的非接觸式IC卡的一面的外觀平面圖；圖10B是示出根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡的另一面的外觀平面圖；圖10C是用于說明操作根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡的方法的圖；圖11是示出在操作根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡時(shí)使用的過程的流程圖；圖12A是示出根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的非接觸式IC卡的一面的外觀平面圖；圖12B是示出根據(jù)第四實(shí)施例的非接觸式IC卡的另一面的外觀平面圖；圖12C是用于說明操作根據(jù)第四實(shí)施例的非接觸式IC卡的方法的圖；
圖13A到13D是分別表示對所述非接觸式IC卡附著的標(biāo)簽或執(zhí)行的顯示過程的外觀圖，所述附著的標(biāo)簽或執(zhí)行的顯示過程用于識別存儲在所述IC卡中的應(yīng)用程序；以及圖14是示出其一部分執(zhí)行開口用于確認(rèn)卡的方向和面的非接觸式IC卡的外觀圖。
最佳實(shí)施方式以下參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行描述。
第一實(shí)施例首先，將說明根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的非接觸式IC卡。
該第一實(shí)施例說明了其中兩個(gè)天線線圈中的每個(gè)線圈位于所述非接觸式IC卡的每個(gè)表面以下的情況。
與上述普通的非接觸式IC卡(圖1)相比，根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的非接觸式IC卡具有與普通的非接觸式IC卡相同的外部結(jié)構(gòu)，但是具有區(qū)別于普通非接觸式IC卡的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
圖3是示出根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)圖。
根據(jù)本實(shí)施例的非接觸式IC卡11，作為硬件結(jié)構(gòu)，由以下部件構(gòu)成第一天線線圈102和第二天線線圈103，用于通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢；第一電動勢測量設(shè)備301和第二電動勢測量設(shè)備302，用于測量由第一和第二天線線圈102和103各自產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較器303，用于比較分別測量的電動勢的特性；ROM 211，存儲與各個(gè)天線線圈相關(guān)的多個(gè)應(yīng)用程序；RAM 213，用于臨時(shí)存儲數(shù)據(jù)；CPU 212，用于執(zhí)行諸如計(jì)算之類的控制；EEPROM 214，用于記錄數(shù)據(jù)；以及總線501，用于聯(lián)結(jié)這些單元。
EEPROM 214可以用例如非易失性存儲器實(shí)現(xiàn)，諸如電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)，并且可以使用鐵電隨機(jī)存取存儲器(FeRAM)代替該EEPROM。
圖4是示出根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡11的功能結(jié)構(gòu)的功能框圖。
如圖4所示，根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡11具有由以下部件構(gòu)成的功能結(jié)構(gòu)第一電動勢測量單元311，用于測量由第一天線線圈102產(chǎn)生的電動勢；第二電動勢測量單元312，用于測量由第二天線線圈103產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較單元313，用于比較由第一和第二電動勢測量單元311和312測量的電動勢的特性；程序存儲單元216，存儲與各個(gè)天線線圈相關(guān)聯(lián)的多個(gè)應(yīng)用程序；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215，用于根據(jù)從所述電動勢比較單元313獲得的比較結(jié)果選擇存儲在所述程序存儲單元216中的一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的程序。
圖5A是示出所述非接觸式IC卡11的一面(正面)的外觀平面圖。如圖所示，第一天線線圈102位于所述非接觸式IC卡11的正面表面以下。
圖5B是示出所述非接觸式IC卡11的另一面(背面)的外觀平面圖。如圖所示，第二天線線圈103位于所述非接觸式IC卡11的背面表面以下。
圖5C是非接觸式IC卡11的一部分的截面傾斜透視圖。如圖所示，第二天線線圈103位于所述非接觸式IC卡11中比第一天線線圈102更深的位置，使得第一天線線圈102恰好位于第二天線線圈103之上。應(yīng)當(dāng)注意的是，在所述非接觸式IC卡11中必然嵌入有其中內(nèi)置ROM 211和CPU 212的集成電路。
下面將參照圖6和7詳細(xì)說明如上配置的非接觸式IC卡11的操作。
圖6A是用于說明操作非接觸式IC卡11的方法的圖，而圖7是示出在提供電源之后直到選擇一個(gè)應(yīng)用程序?yàn)橹共僮魉龇墙佑|式IC卡時(shí)使用的過程的流程圖。
首先，如圖6A所示，在用戶以第二天線線圈103一側(cè)朝向讀/寫器20的方式來通過非接觸式IC卡11時(shí)(所述卡以用箭頭表示的方向通過讀/寫器20)，所述非接觸式IC卡11接收來自讀/寫器20的電磁波，并提供電源(S301)。提供有電源的第一天線線圈102和第二天線線圈103分別產(chǎn)生電動勢。所產(chǎn)生的電動勢分別通過第一電動勢測量單元311和第二電動勢測量單元312進(jìn)行測量(S302)。然后所測量的電動勢通過電動勢比較單元313進(jìn)行比較(S303)。
圖6B是示出非接觸式IC卡11與讀/寫器20之間的距離與由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢之間的關(guān)系的圖。在該圖中，線602表示第一天線線圈102中的電動勢的轉(zhuǎn)變，而線601表示第二天線線圈103中的電動勢的轉(zhuǎn)變。假定非接觸式IC卡11與讀/寫器20之間的給定距離為d1，則在預(yù)定距離d1由第一天線線圈102產(chǎn)生的電動勢由WA表示，并且由第二天線線圈103產(chǎn)生的電動勢由WB表示，WB大于WA。也就是說，由更接近于讀/寫器20的第二天線線圈103產(chǎn)生的電動勢更強(qiáng)。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇與第二天線線圈103相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序B作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S305)，從程序存儲單元216讀出選擇的應(yīng)用程序B，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
如圖6A所示，在用戶以背面，即第一天線線圈102一側(cè)朝向讀/寫器20的方式通過非接觸式IC卡時(shí)，WA大于WB。也就是說，由更接近于讀/寫器20的第一天線線圈102產(chǎn)生的電動勢更強(qiáng)。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇與第一天線線圈102相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序A作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S304)，從程序存儲單元216讀出選擇的應(yīng)用程序A，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
因此，如上所述，在根據(jù)第一實(shí)施例的非接觸式IC卡中，對分別由多個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢進(jìn)行比較，從而根據(jù)該比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序。因此，在通過非接觸式IC卡時(shí)，可以以正面或背面朝向讀/寫器20來通過所述非接觸式IC卡，從而容易地在非接觸式IC卡的應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。
應(yīng)當(dāng)注意的是，水平軸表示“與讀/寫器的距離”，但是其也可以代替為“非接觸式IC卡通過(或接近)讀/寫器時(shí)的時(shí)間”。這是因?yàn)?，在非接觸式IC卡以恒定速度接近讀/寫器時(shí)，非接觸式IC卡與讀/寫器之間的距離可以用非接觸式IC卡通過讀/寫器時(shí)的時(shí)間來代替。
第二實(shí)施例接著，將對根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的非接觸式IC卡進(jìn)行說明。
在第一實(shí)施例中，非接觸式IC卡的例子具有兩個(gè)天線線圈每個(gè)都位于所述卡的每個(gè)表面以下。
然而，本發(fā)明并不局限于此，也可以想到將所述天線線圈并排放置在非接觸式IC卡的一個(gè)表面以下。第二實(shí)施例描述了這樣一種非接觸式IC卡的例子，其中天線線圈并排放置在所述卡的一個(gè)表面以下。
應(yīng)當(dāng)注意的是，根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)與圖3所示的相同，并且功能結(jié)構(gòu)與圖4所示的相同。因此省略對其的描述。
以下參照圖8和9詳細(xì)解釋了根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡的操作。
圖8A是用于說明操作根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡12的方法的圖，而圖9是示出在提供電源以后直到選擇一個(gè)應(yīng)用程序?yàn)橹共僮鞲鶕?jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡時(shí)使用的過程的流程圖。應(yīng)當(dāng)注意的是，在圖9中，對于不同于用來說明第一實(shí)施例的圖7的流程圖的過程用虛線加以強(qiáng)調(diào)(S1001)，并且對于相同的過程賦予了相同的參考標(biāo)記。
如圖8A所示，根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡12在所述卡的一面以下的左側(cè)具有第一天線線圈104，在相同側(cè)以下的右側(cè)具有第二天線線圈105。在用戶從其中設(shè)置有第二天線線圈105的右側(cè)通過非接觸式IC卡12時(shí)，所產(chǎn)生的電動勢分別由第一電動勢測量單元311和第二電動勢測量單元312進(jìn)行測量(S302)。然后所測量的電動勢通過電動勢比較單元313進(jìn)行比較(S307)。
圖8B是示出非接觸式IC卡12通過讀/寫器的時(shí)間與由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢之間的關(guān)系的圖。在圖中，線604表示由第一天線線圈104產(chǎn)生的電動勢的轉(zhuǎn)變，而線603表示由第二天線線圈105產(chǎn)生的電動勢的轉(zhuǎn)變。假定非接觸式IC卡12通過讀/寫器20的預(yù)定時(shí)間例如為t0，則在預(yù)定時(shí)間t0由第一天線線圈104產(chǎn)生的電動勢由WC表示，并且由第二天線線圈105產(chǎn)生的電動勢由WD表示，WD大于WC。也就是說，先接近讀/寫器20的第二天線線圈105產(chǎn)生比第一天線線圈104產(chǎn)生的更強(qiáng)的電動勢。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇與第二天線線圈105相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序D作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S309)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序D，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
如圖8A所示，在用戶從左側(cè)，即其下設(shè)置有第一天線線圈104的那一側(cè)，使非接觸式IC卡12通過讀/寫器20時(shí)，則在預(yù)定時(shí)間t0，WC大于WD。也就是說，先接近讀/寫器20的第一天線線圈104產(chǎn)生比第二天線線圈105產(chǎn)生的更強(qiáng)的電動勢。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇與第一天線線圈104相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序C(S308)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序C，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
這里，非接觸式IC卡12通過讀/寫器20時(shí)的預(yù)定時(shí)間t0可以被定義為當(dāng)由天線線圈(第二天線線圈105)首先產(chǎn)生電動勢時(shí)的第一時(shí)間t1之后過去預(yù)定時(shí)間(例如，100毫秒)的時(shí)間，或者被定義為當(dāng)由天線線圈(第一天線線圈104)其次產(chǎn)生電動勢時(shí)的第二時(shí)間t2之后過去預(yù)定時(shí)間(例如，10毫秒)的時(shí)間。應(yīng)當(dāng)注意的是，預(yù)定時(shí)間將是首先產(chǎn)生的電動勢達(dá)到峰值所花的時(shí)間。
用于比較由第一天線線圈104和第二天線線圈105產(chǎn)生的電動勢的標(biāo)準(zhǔn)并不局限于預(yù)定時(shí)間t0。
例如，在檢測到由第二天線線圈105產(chǎn)生的第一電動勢之后檢測到由第一天線線圈104產(chǎn)生的第二電動勢時(shí)，電動勢比較單元313可以向應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215輸出表示首先產(chǎn)生的電動勢是由第二天線線圈105產(chǎn)生的信息，即，應(yīng)當(dāng)選擇與第二天線線圈105相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序。
如圖8C所示，用于比較的標(biāo)準(zhǔn)可以是天線線圈中，即第一天線線圈104和第二天線線圈105中哪一個(gè)先達(dá)到所產(chǎn)生的電動勢的峰值。
圖8C是示出非接觸式IC卡通過讀/寫器期間的時(shí)間與由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢的峰值之間的關(guān)系的圖。在該圖中，線606表示由第一天線線圈104產(chǎn)生的電動勢的轉(zhuǎn)變，而線605表示由第二天線線圈105產(chǎn)生的電動勢的轉(zhuǎn)變。假定WE表示由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢的峰值，由第二天線線圈105產(chǎn)生的電動勢達(dá)到峰值605a所花的時(shí)間t3比由第一天線線圈104產(chǎn)生的電動勢達(dá)到峰值606a所花的時(shí)間t4要來的早。因此，在此情況下，電動勢比較單元313向應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215輸出表示首先產(chǎn)生的電動勢是由第二天線線圈105產(chǎn)生的信息，即應(yīng)當(dāng)選擇與第二天線線圈105相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序。
應(yīng)當(dāng)注意的是，選擇與電動勢首先到達(dá)預(yù)定值的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
因此，如上所述，根據(jù)第二實(shí)施例的非接觸式IC卡比較電動勢的特性，例如分別由多個(gè)天線線圈產(chǎn)生電動勢的時(shí)間，以便可以根據(jù)比較來選擇應(yīng)用程序。因此，對于用戶來說可以很容易地通過改變他/她通過非接觸式IC卡的方向而在非接觸式IC卡的應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。
第三實(shí)施例以下介紹根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的非接觸式IC卡。
該第三實(shí)施例描述了其中組合了第一和第二實(shí)施例的情況，即非接觸式IC卡具有四個(gè)天線線圈的情況并排位于正面表面以下的兩個(gè)天線線圈，以及以相同方式位于背面表面以下的另外兩個(gè)天線線圈。
應(yīng)當(dāng)注意的是，根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)與圖3所示的結(jié)構(gòu)相同，除了前者另外還包括以下部件第三天線線圈；第三電動勢測量單元，用于測量由第三天線線圈產(chǎn)生的電動勢；第四天線線圈；以及第四電動勢測量單元，用于測量由第四天線線圈產(chǎn)生的電動勢。因此，將省略對其的描述。本非接觸式IC卡的功能結(jié)構(gòu)與圖4所示的結(jié)構(gòu)相同。
以下參照圖10和11介紹主要根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡的操作。
圖10A是示出根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡13的一側(cè)(正面)的外觀平面圖。如圖所示，第一天線線圈106位于所述非接觸式IC卡13的正面表面以下的左側(cè)，而第二天線線圈107位于右側(cè)。
圖10B是示出所述非接觸式IC卡13的另一側(cè)(背面)的外觀平面圖。如圖所示，第三天線線圈108位于所述非接觸式IC卡13的背面表面以下的左側(cè)，而第四天線線圈109位于右側(cè)。
圖10C是用于說明操作非接觸式IC卡13的方法的圖，而圖11是示出在提供電源之后直到選擇一個(gè)應(yīng)用程序?yàn)橹共僮鞣墙佑|式IC卡13時(shí)使用的過程的流程圖。應(yīng)當(dāng)注意的是，在圖11中，不同于圖7和圖9中用于說明第一和第二實(shí)施例的流程圖的過程通過虛線加以強(qiáng)調(diào)(S1002)，并且對相同的過程賦予相同的參考標(biāo)記。
如圖10C所示，在用戶從其下設(shè)置有第四天線線圈109的背面右側(cè)使非接觸式IC卡13通過讀/寫器20時(shí)，由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢分別由相應(yīng)的電動勢測量單元進(jìn)行測量(S302)。
如圖11所示，首先電動勢比較單元313比較由位于非接觸式IC卡13的左側(cè)以下的第一天線線圈106或第三天線線圈108產(chǎn)生的電動勢以及由位于右側(cè)的第二天線線圈107或第四天線線圈109產(chǎn)生的電動勢(S310)。在此情況下，在非接觸式IC卡13中左側(cè)產(chǎn)生的電動勢與右側(cè)產(chǎn)生的電動勢之間的比較通過比較產(chǎn)生每個(gè)電動勢的各自的時(shí)間來進(jìn)行，與第二實(shí)施例相同。在圖10C所示的例子中，電動勢比較單元313判斷由位于非接觸式IC卡13的右側(cè)的天線線圈產(chǎn)生的電動勢較強(qiáng)。
然后，比較由位于非接觸式IC卡13的正面表面以下的第二天線線圈107產(chǎn)生的電動勢以及由位于背面表面以下的第四天線線圈109產(chǎn)生的電動勢(S312)。這里，非接觸式IC卡13的正面與背面之間的電動勢的比較通過比較電動勢的量來進(jìn)行，如第一實(shí)施例那樣。在圖10C所示的例子中，電動勢比較單元313判斷由位于非接觸式IC卡13的背面表面以下的天線線圈產(chǎn)生的電動勢較強(qiáng)。
因此，電動勢比較單元313判斷由第四天線線圈109產(chǎn)生的電動勢是最強(qiáng)的。應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇對應(yīng)于第四天線線圈109的應(yīng)用程序B1作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S316)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序B1，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
在用戶從其下設(shè)置有第三天線線圈108的背面表面的左側(cè)使非接觸式IC卡13通過讀/寫器20時(shí)，由第三天線線圈108產(chǎn)生的電動勢是最強(qiáng)的。應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇對應(yīng)于該第三天線線圈108的應(yīng)用程序B2作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S314)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序B2，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
如圖10C所示，在用戶從其下設(shè)置有第一天線線圈106的正面表面的左側(cè)使非接觸式IC卡13通過讀/寫器20時(shí)，由第一天線線圈106產(chǎn)生的電動勢是最強(qiáng)的。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇對應(yīng)于該第一天線線圈106的應(yīng)用程序A1作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S313)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序A1，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
在用戶從其下設(shè)置有第二天線線圈107的正面表面的右側(cè)使非接觸式IC卡13通過讀/寫器20時(shí)，由第二天線線圈107產(chǎn)生的電動勢是最強(qiáng)的。因此，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元215選擇對應(yīng)于該第二天線線圈107的應(yīng)用程序A2作為要執(zhí)行的應(yīng)用程序(S315)，讀出從程序存儲單元216選擇的應(yīng)用程序A2，并激活該應(yīng)用程序(S306)。
應(yīng)當(dāng)注意的是，圖11示出了在進(jìn)行了所述非接觸式IC卡13的左側(cè)和右側(cè)之間的比較之后比較正面和背面之間的電動勢的例子。然而，該過程的順序也可以反過來，并且可以在正面與背面比較之后進(jìn)行右側(cè)和左側(cè)之間的比較。
因此，如上所述，利用根據(jù)第三實(shí)施例的非接觸式IC卡，要執(zhí)行的應(yīng)用程序按如下方式選擇例如，通過比較分別由多個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢的量來判斷其是卡的正面還是背面，然后通過比較產(chǎn)生每個(gè)電動勢的各自的時(shí)間來判斷其是卡的右側(cè)還是左側(cè)。因此，對于用戶來說可以通過切換用戶使非接觸式IC卡通過讀/寫器的方向和面而在非接觸式IC卡的應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。
第四實(shí)施例以下介紹根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的非接觸式IC卡。
第四實(shí)施例描述了其中非接觸式IC卡在一側(cè)(正面)上具有四個(gè)天線線圈，并且在另一側(cè)(背面)上具有另外四個(gè)天線線圈的情況。這是從考慮到當(dāng)非接觸式IC卡接近讀/寫器時(shí)區(qū)分要激活的應(yīng)用程序的所有可能的方式產(chǎn)生的。應(yīng)當(dāng)注意的是，根據(jù)第四實(shí)施例的非接觸式IC卡的硬件結(jié)構(gòu)與圖3所示的結(jié)構(gòu)的不同之處在于增加了第三到第八天線線圈和分別用于測量由第三到第八天線線圈產(chǎn)生的電動勢的第三到第八電動勢測量單元，但是基本結(jié)構(gòu)是相同的。因此省略該描述。同樣的情況也適用于功能結(jié)構(gòu)。
圖12A是示出根據(jù)第四實(shí)施例的非接觸式IC卡14的正面的外觀平面圖。如圖所示，第一天線線圈110，第二天線線圈111，第三天線線圈112和第四天線線圈113分別位于非接觸式IC卡14的正面的左上、左下、右上和右下部的下方。
圖12B是示出非接觸式IC卡的背面的外觀平面圖。如圖所示，第五天線線圈114，第六天線線圈115，第七天線線圈116和第八天線線圈117分別位于非接觸式IC卡14的背面的左上、左下、右上和右下部的下方。
圖12C是用于說明操作非接觸式IC卡14的方法的圖。
如圖12C所示，用戶可以通過使非接觸IC卡14的一面上的四個(gè)角中的任何一個(gè)角接近讀/寫器20來切換至所需的應(yīng)用程序。類似地，用戶還可以通過使非接觸式IC卡14的另一面上的四個(gè)角中的任何一個(gè)角接近讀/寫器20來切換至所需的應(yīng)用程序。即，用戶可以利用單個(gè)非接觸式IC卡14在總共八個(gè)應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。應(yīng)當(dāng)注意的是，非接觸式IC卡14確定要激活的應(yīng)用程序的過程與第三實(shí)施例中描述的相同，并且，電動勢比較單元313可以通過在正面產(chǎn)生的電動勢與背面產(chǎn)生的電動勢的量之間進(jìn)行比較來判斷其是卡的正面還是背面，并通過比較例如產(chǎn)生每個(gè)電動勢的各自的時(shí)間來判斷其是卡的上/下和右/左。
如上所述，利用根據(jù)第四實(shí)施例的非接觸式IC卡14，對于用戶來說可以通過切換用戶使非接觸式IC卡14通過讀/寫器的方向和面來在非接觸式IC卡的多個(gè)應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換。
因此，如上所述，根據(jù)每個(gè)實(shí)施例對根據(jù)本發(fā)明的非接觸式IC卡進(jìn)行了說明，然而，本發(fā)明并不局限于這些實(shí)施例，在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以做出各種變化和修改。
例如，在上述實(shí)施例的每個(gè)實(shí)施例中，都說明了電源供給(圖7中的S301)、電動勢測量(圖7中的S302)以及電動勢比較(圖7中的S303)的處理都是通過另外的單元執(zhí)行。但是，所述處理也可以通過CPU 212來執(zhí)行。
在圖4所示的框圖中每個(gè)功能塊典型地實(shí)現(xiàn)為作為集成電路的LSI。該LSI可以以單個(gè)芯片或多個(gè)芯片的形式構(gòu)造(例如，除了存儲器以外的功能塊都可以以芯片的形式構(gòu)造)。
這里，功能塊表示為LSI，然而，根據(jù)集成的密度，其也可以名為IC、系統(tǒng)LSI、超級LSI，或超LSI。
實(shí)現(xiàn)集成電路的方法并不局限于LSI，其也可以用專用電路或通用處理器來實(shí)現(xiàn)?？梢允褂迷谥圃霯SI之后可編程的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)，或者可在制造之后重構(gòu)LSI中的電路單元的連接和設(shè)置的可重構(gòu)處理器來代替。
此外，代替LSI，隨著用于集成到電路的技術(shù)的到來，以及半導(dǎo)體技術(shù)的進(jìn)步或其他從所述進(jìn)步中得到的技術(shù)，利用其無疑可以集成所述功能塊。生物技術(shù)的應(yīng)用也可以被看作是一種可能的集成方法。
在圖4所示的功能塊中，用于存儲數(shù)據(jù)的單元可以屬于不同的結(jié)構(gòu)，而不以芯片的形式集成。
如圖13A到13D所示，可以將標(biāo)簽附著到非接觸式IC卡上或?qū)ζ鋱?zhí)行顯示處理，從而用戶確認(rèn)對應(yīng)于要提供的應(yīng)用程序的天線線圈所位于的部分。
如圖13A所示，在將標(biāo)簽附著到非接觸式IC卡11的正面和背面或?qū)ζ鋱?zhí)行顯示處理時(shí)，表示各個(gè)應(yīng)用程序的標(biāo)簽可以附著到其下設(shè)置有對應(yīng)于該應(yīng)用程序的天線線圈的背面上，從而用戶在使非接觸式IC卡11接近讀/寫器20時(shí)，可以很容易地辨別哪個(gè)應(yīng)用程序被激活。
在圖13A的情況下，對應(yīng)于應(yīng)用程序“SOUCA”的天線線圈位于非接觸式IC卡11的背面表面以下，而對應(yīng)于應(yīng)用程序“IKUKA”的天線線圈位于非接觸式IC卡11的正面表面以下。即，表示與位于正面表面以下的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序的標(biāo)簽或顯示附著在背面的表面上，反之表示與位于背面表面以下的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序的標(biāo)簽或顯示附著在正面的表面上。
如圖13B所示，可以將標(biāo)簽附著到非接觸式IC卡12的一側(cè)其下設(shè)置有天線線圈的部分或?qū)ζ鋱?zhí)行顯示處理，從而用戶可以確認(rèn)與所述天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
在多個(gè)應(yīng)用程序安裝在非接觸式IC卡的相同側(cè)時(shí)，優(yōu)選的是，如由放置在圖13D所示的非接觸式IC卡14的四個(gè)角上的箭頭所示，清楚地向用戶示出他/她需要從哪個(gè)方向使非接觸式IC卡14通過讀/寫器20。
此外，在用戶不能用眼睛檢查非接觸式IC卡時(shí)，通過在非接觸式IC卡15的部分30對邊緣開槽口可以形成一個(gè)凹入部分31，如圖14所示。這樣，用戶通過用手指感覺非接觸式IC卡15的邊緣就可以驗(yàn)證非接觸式IC卡15的正面和背面，并且可以驗(yàn)證所述卡通過的方向。
應(yīng)當(dāng)注意的是，本說明書主要集中于平面卡形狀的非接觸式IC卡。然而，本發(fā)明并不局限于這種非接觸式IC卡?？梢愿淖兛ǖ男螤?，并且本發(fā)明也可以應(yīng)用于其他領(lǐng)域。
例如，本發(fā)明可以應(yīng)用到玩具或游戲中，例如球形物體，其上設(shè)置有多個(gè)天線線圈，并且其中對應(yīng)于各個(gè)天線線圈對行為(例如物體顏色的改變)進(jìn)行編程，從而所述物體的行為根據(jù)接觸讀/寫器的面而改變。
在本說明書中，“電動勢”可以被解釋為“電功率”、“電壓”或“電流”。這是因?yàn)樘炀€線圈對于具有恒定頻率的電磁波具有恒定阻抗，因此所感應(yīng)的電壓或電流根據(jù)由天線線圈感應(yīng)的電功率的量而變化。
雖然以上僅對本發(fā)明的某些典型的實(shí)施例進(jìn)行了具體描述，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本質(zhì)上不脫離本發(fā)明的新穎性教導(dǎo)和優(yōu)點(diǎn)的情況下將會很容易理解可以在所述典型實(shí)施例中進(jìn)行各種修改。因此，所有這些修改都將包含在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
工業(yè)實(shí)用性根據(jù)本發(fā)明的非接觸式IC卡由以下部分構(gòu)成多個(gè)天線線圈；多個(gè)電動勢測量單元，用于測量各個(gè)電動勢；電動勢比較單元，用于比較所測量的電動勢的特性；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元，用于根據(jù)所述比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序并激活該應(yīng)用程序。本發(fā)明作為非接觸式IC卡是非常有用的，該IC卡可以根據(jù)用戶的操作在多個(gè)應(yīng)用程序之間進(jìn)行切換，并且特別適合于用在供交通運(yùn)輸或公共應(yīng)用使用的非接觸式IC卡中。
權(quán)利要求
1.一種可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序的非接觸式集成電路(IC)卡，包括多個(gè)天線線圈，每個(gè)天線線圈通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢；電動勢測量單元，可用于當(dāng)該非接觸式IC卡通過該讀/寫器時(shí)，測量由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較單元，可用于比較由所述電動勢測量單元測量的所述電動勢的特性；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元，可用于根據(jù)由所述電動勢比較單元所進(jìn)行的比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行該選擇的應(yīng)用程序。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述電動勢比較單元比較所述電動勢的強(qiáng)度，并且所述應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與產(chǎn)生最強(qiáng)的電動勢的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述電動勢比較單元在自所述電動勢測量單元首先測量到電動勢時(shí)的第一時(shí)間開始已過去預(yù)定量的時(shí)間的第二時(shí)間比較分別由所述多個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢的強(qiáng)度，并且所述應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與在所述第二時(shí)間產(chǎn)生最強(qiáng)的電動勢的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述電動勢比較單元比較每個(gè)電動勢達(dá)到峰值的各自的時(shí)間，所述電動勢由所述每個(gè)天線線圈產(chǎn)生，并且通過所述電動勢測量單元進(jìn)行測量，并且所述應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與電動勢首先達(dá)到峰值的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述天線線圈設(shè)置在所述非接觸式IC卡中的兩個(gè)不同的深度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述天線線圈中的一部分設(shè)置在所述非接觸式IC卡的正面表面以下，另一部分天線線圈設(shè)置在所述非接觸式IC卡的背面表面以下。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中所述天線線圈的一部分設(shè)置在所述非接觸式IC卡的一面或兩面以下的右側(cè)，另一部分天線線圈設(shè)置在所述非接觸式IC卡的一面或兩面以下的左側(cè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，進(jìn)一步包括程序存儲單元，可用于存儲分別與每個(gè)所述天線線圈相關(guān)聯(lián)的多個(gè)應(yīng)用程序。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的非接觸式IC卡，進(jìn)一步包括顯示單元，可用于顯示與所述每個(gè)天線線圈相關(guān)聯(lián)的各個(gè)應(yīng)用程序。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的非接觸式IC卡，所述顯示單元是表示所述非接觸式IC卡接近所述讀/寫器時(shí)的方向與要執(zhí)行的應(yīng)用程序之間的對應(yīng)關(guān)系的標(biāo)記。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的非接觸式IC卡，其中所述多個(gè)天線線圈包括第一天線線圈，設(shè)置在所述非接觸式IC卡的正面表面以下；以及第二天線線圈，設(shè)置在背面表面以下；所述顯示單元包括第一標(biāo)記，表示與所述第一天線線圈相關(guān)聯(lián)的第一應(yīng)用程序；以及第二標(biāo)記，表示與所述第二天線線圈相關(guān)聯(lián)的第二應(yīng)用程序，將所述第一標(biāo)記附著到所述背面的表面上，并且將所述第二標(biāo)記附著到所述正面的表面上。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式IC卡，其中通過在所述非接觸式IC卡的一個(gè)表面上對邊緣開槽口來形成一個(gè)凹入部分。
13.一種用于非接觸式集成電路(IC)卡的應(yīng)用程序選擇方法，所述非接觸式集成電路卡可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序，其中該非接觸式IC卡具有多個(gè)天線線圈，每個(gè)天線線圈通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢，并且所述方法包括測量由所述天線線圈中的每一個(gè)產(chǎn)生的電動勢；比較所測量的電動勢的特性；以及根據(jù)所述比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的應(yīng)用程序。
14.一種用于非接觸式集成電路(IC)卡的程序，所述非接觸式集成電路卡可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序，其中該非接觸式IC卡具有多個(gè)天線線圈，每個(gè)天線線圈通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢，并且所述程序使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行以下步驟測量由所述天線線圈中的每一個(gè)產(chǎn)生的電動勢；比較所測量的電動勢的特性；以及根據(jù)所述比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的應(yīng)用程序。
15.一種存儲有程序的計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中所述程序使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行以下步驟測量分別由多個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢；比較所測量的電動勢的特性；以及根據(jù)所述比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的應(yīng)用程序。
16.一種用于控制非接觸式集成電路(IC)卡的集成電路，所述非接觸式集成電路卡可以執(zhí)行多個(gè)應(yīng)用程序，其中該非接觸式IC卡具有多個(gè)天線線圈，每個(gè)天線線圈通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢，并且所述集成電路包括電動勢測量單元，可用于測量由所述天線線圈中的每一個(gè)產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較單元，可用于比較由所述電動勢測量單元測量的電動勢的特性；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元，可用于根據(jù)由所述電動勢比較單元所進(jìn)行的比較選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行該選擇的應(yīng)用程序。
全文摘要
一種非接觸式集成電路(IC)卡(11)，包括以下部分第一天線線圈(102)和第二天線線圈(103)，用于通過接收來自讀/寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢；第一電動勢測量單元(311)和第二電動勢測量單元(312)，分別用于測量由每個(gè)天線線圈產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較單元(313)，用于比較分別由各個(gè)天線線圈產(chǎn)生并被測量的電動勢的特性；以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元(215)，用于根據(jù)由所述電動勢比較單元(313)所進(jìn)行的比較從程序存儲單元(216)選擇一個(gè)應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選擇的應(yīng)用程序。
文檔編號G07F7/10GK1761967SQ20048000725
公開日2006年4月19日 申請日期2004年10月15日 優(yōu)先權(quán)日2003年10月20日
發(fā)明者松下裕香, 中部太志, 植田榮治 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社