專利名稱:比較電路以及紅外線遙控接收機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及例如被內(nèi)置于IC中的、紅外線遙控接收機(jī)或包含載波的信號(hào)的解調(diào)器等中的滯后比較電路等比較電路以及紅外線遙控接收機(jī)。
背景技術(shù):
紅外線遙控接收機(jī)等的輸出電路部中一般使用滯后比較電路(hysteresiscomparator)。滯后比較器具有防止振動(dòng)(chattering)等電路的誤動(dòng)作的作用。
近年來,節(jié)能的要求增強(qiáng),在紅外線遙控接收機(jī)中,需要降低待機(jī)時(shí)(無信號(hào)時(shí))的消耗電流。但是,在低偏置電流下,難以驅(qū)動(dòng)負(fù)載,希望輸出電路中的低電流下的驅(qū)動(dòng)能力的提高。
此外,在如紅外線遙控接收機(jī)的IC等這樣、靠近光電變換元件配置的IC中,由于信號(hào)光引起的衍射光、散射光或熒光燈、白熾燈等噪聲光,寄生光電二極管(以下為PD)中發(fā)生光漏泄電流,成為電流誤動(dòng)作的原因。特別在低電流電路中,漏泄電流的影響變得顯著,因此成為問題。
此外,低價(jià)格的要求強(qiáng)烈,希望以簡單的電路結(jié)構(gòu)而不增大芯片面積的電路。
這里,敘述在低工作電流下也維持輸出電路的驅(qū)動(dòng)電流能力,光漏泄電流的影響少,電路規(guī)模小的比較電路。
圖14表示紅外線遙控接收機(jī)的方框圖。該紅外線遙控接收接收機(jī)包括fo微調(diào)電路101、檢波電路102、積分電路103、滯后比較器104等。一般地,從光電二極管(PD)芯片輸入的光電流信號(hào)(輸入電流信號(hào))I_in由集成的接收芯片解調(diào)并輸出,該輸出被連接到控制電子設(shè)備的微型計(jì)算機(jī)等。光電流信號(hào)I_in是由30KHz~60KHz左右的決定的載波調(diào)制了的ASK信號(hào)。接收芯片中,輸入的光電流信號(hào)由放大器放大,由與載波頻率一致的帶通濾波器(BPF)取出載波分量,由檢波電路檢測(cè)載波,由積分電路將有載波的時(shí)間積分,由滯后比較器判別有無載波并進(jìn)行數(shù)字輸出。圖15表示各部分的波形。
圖16中,作為現(xiàn)有例1,表示公知文獻(xiàn)1(日本公開特許公報(bào)實(shí)開平1-132127號(hào)公報(bào)(1989年9月7日公開))記載的滯后比較電路。該滯后比較電路包括滯后電壓發(fā)生電路111、電流電壓變換用電阻112(R1)、輸出級(jí)電路113、比較電路114。比較電路部的輸入級(jí)由具有NPNTr(Tr晶體管,以下相同)和PNPTr的達(dá)林頓連接的差動(dòng)對(duì)構(gòu)成(QN1、QN2、QP1、QP2)。通過現(xiàn)有例1的結(jié)構(gòu),提供一種可以實(shí)現(xiàn)高輸入阻抗,而且可以防止輸出電路的誤動(dòng)作的滯后比較電路。
這里,圖17表示現(xiàn)有例1的比較電路的方框圖。
下面說明現(xiàn)有的滯后比較電路的動(dòng)作。
(i)待機(jī)時(shí)Vin<Vth_H時(shí)由于差動(dòng)對(duì)QN2、QP2動(dòng)作,因此比較電路114的輸出電流Iout1成為Iout1=0,輸出級(jí)電路113不動(dòng)作。從而,輸出級(jí)電路113的輸出電流Iout1成為Iout=0,即,Vo=Hi。
在滯后電壓發(fā)生電路111中,Vth_H=Vbe(D1)+I2·I3+I1·(R2+R3)...(1)。在該情況下,待機(jī)時(shí)消耗電流變成I1。
(ii)信號(hào)輸入時(shí)Vin>Vth_H時(shí)(為了簡單,忽略了各晶體管的基極電流)由于差動(dòng)對(duì)的QN1、QP1動(dòng)作,因此Iout1=I1在輸出級(jí)電路113中,R1·I1>Vbe(QP5)時(shí),QP5導(dǎo)通,Iout2=Is·exp(R1·I1/Vt),,從而Iout=m·Is·exp(R1·I1/Vt)......(2)(Is晶體管的飽和電流Vt=kT/qk波爾茲曼常數(shù)
q電子的基本電荷T絕對(duì)溫度m電流鏡QN5、QN6的電流比)即,Vo=Lo。
在滯后電壓發(fā)生電路111中,Vth_L=Vbe(D1)+I2·R3......(3)。I1·(R2+R3)變成滯后電壓。此時(shí),驅(qū)動(dòng)電流由算式(2)決定。
在現(xiàn)有例1中,比較電路114的待機(jī)時(shí)消耗電流為I1,驅(qū)動(dòng)電流為算式(2),低消耗電流化和驅(qū)動(dòng)電流為折衷(trade off)的關(guān)系。即,低消耗電流化時(shí),驅(qū)動(dòng)電流也減小。
根據(jù)算式(2),通過增大m可以增大驅(qū)動(dòng)電流,但由于一般輸出級(jí)的晶體管大,因此芯片尺寸增大,引起成本上升。
此外,根據(jù)算式(2),通過增大R1可以增大驅(qū)動(dòng)電流。下面敘述該情況下的課題。
在遙控接收機(jī)用IC等接近于光電變換元件配置的IC中,由于信號(hào)光引起的衍射光、散射光或熒光燈、白熾燈等噪聲光,寄生PD中發(fā)生光漏泄電流,多成為電流誤動(dòng)作的原因。圖18表示L(lateral、橫向型)PNPTr的結(jié)構(gòu),圖19表示LPNPTr的等效電路。BS、EM、CL分別為基極、發(fā)射極、集電極。S1是N型外延層的面積。S2是發(fā)射極面積。由于在集成電路的結(jié)構(gòu)上,N型外延層和P型襯底層之間存在作為寄生PD的PDa,因此在PNPTr的基極端子-接地間連接寄生PD。該寄生PD中發(fā)生光漏泄電流,從而LPNPTr的基極電流增加,對(duì)電路特性帶來很大的影響。
圖20表示NPNTr的結(jié)構(gòu),圖21表示NPNTr的等效電路。同樣,由于N型外延層和P型襯底層之間存在寄生PD,因此NPNTr的集電極端子-接地間連接寄生PD。NPNPTr的集電極電流增加,從而對(duì)電路特性帶來影響。
在現(xiàn)有例1的電路結(jié)構(gòu)中,滯后比較電路內(nèi)的差動(dòng)對(duì)輸入部的NPNTr的集電極擴(kuò)散和PNPTr的基極擴(kuò)散的寄生PD中發(fā)生的光漏泄電流由QP1放大為hfe(pnp)倍,因此Ileak=hfe(pnp)·{Ipd(npn)+Ipd(pnp)}......(4)hfe(pnp)PNPTr的晶體管的電流放大率Ipd(npn)NPNTr集電極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流
Ipd(pnp)PNPTr基極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流。。由于Ileak而在R1中發(fā)生壓降,所以R1·hfe(pnp)·{Ipd(npn)+Ipd(pnp)}>Vbe(QP5)......(5)時(shí),QP5導(dǎo)通,Vo產(chǎn)生誤動(dòng)作。
從算式(5)可知,增大R1時(shí),光漏泄電流的影響增大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于上述問題點(diǎn)而完成,其目的在于實(shí)現(xiàn)一種(1)可以緩和比較電路的低消耗電流化和驅(qū)動(dòng)能力的交替互換,即使使比較電路低消耗電流,也可以有效地抑制驅(qū)動(dòng)能力的降低,(2)可以抑制芯片面積增大以及成本升高,(3)可以抑制光漏泄電流的影響的比較電路以及紅外線遙控接收機(jī)。
本發(fā)明的比較電路,根據(jù)輸入電壓和閾值的比較結(jié)果,取通常模式以及待機(jī)模式的其中一個(gè),具有與各模式相應(yīng)的輸出電流值,為了達(dá)成上述目的,該電路包括比較單元,將在待機(jī)模式時(shí)流過比較電路內(nèi)部的電流稱作待機(jī)電流,比較上述輸入電壓和閾值,在其結(jié)果為待機(jī)模式時(shí),輸出上述待機(jī)電流;以及放大電路,在通常模式時(shí),放大并輸出從上述比較單元輸出的上述待機(jī)電流。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu),在通常模式時(shí),從比較單元輸出的待機(jī)電流被放大后輸出。從而,首先,在待機(jī)模式時(shí),通過使待機(jī)電流為充分小的值,可以低消耗電流化,另一方面,在通常模式時(shí),該待機(jī)電流被放大后輸出,所以即使減小待機(jī)電流,驅(qū)動(dòng)能力也可以不大降低。而且,由于不增大輸出級(jí)電路的輸出電流的算式(2)的m就可以,所以可以抑制芯片面積增大以及成本上升。此外,由于不增大上述算式(2)的R1就可以,所以可以抑制光漏泄電流的影響。
因此,起到(1)可以緩和比較電路的低消耗電流化和驅(qū)動(dòng)能力的交替互換,即使使比較電路低消耗電流化,也可以有效地抑制驅(qū)動(dòng)能力的降低,(2)可以抑制芯片面積增大以及成本升高,(3)可以抑制光漏泄電流的影響的效果。
此外,本發(fā)明的紅外線遙控接收機(jī),具有比較電路,該電路根據(jù)輸入電壓和閾值的比較結(jié)果,取通常模式以及待機(jī)模式的其中一個(gè),具有與各模式相應(yīng)的輸出電流值,為了達(dá)成上述目的,該接收機(jī)具有上述本發(fā)明的比較電路。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu),紅外線遙控接收機(jī)具有上述本發(fā)明的比較電路。從而,首先,在待機(jī)模式時(shí),通過將待機(jī)電流設(shè)為充分小的值,可以低消耗電流化,另一方面,在通常模式時(shí),該待機(jī)電流被放大后輸出,所以即使減小待機(jī)電流,驅(qū)動(dòng)能力也可以不太降低。而且,由于不增大輸出級(jí)電路的輸出電流的算式(2)的m就可以,所以可以抑制芯片面積增大以及成本上升。此外,由于不增大上述算式(2)的R1就可以,所以可以抑制光漏泄電流的影響。
因此,起到可以提供一種可降低待機(jī)時(shí)消耗電流、可增大驅(qū)動(dòng)電流、可降低光漏泄電流的影響的紅外線遙控接收機(jī)的效果。
本發(fā)明的其它的目的、特征以及有點(diǎn),通過以下所示的記載而十分清楚。此外,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)通過參照附圖的以下的說明變得明白。
圖1是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖2是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖3是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖4是表示滯后比較電路的動(dòng)作波形的圖。
圖5是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖6是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖7是表示滯后比較電路的動(dòng)作波形的圖。
圖8是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖9是表示VPNP晶體管的結(jié)構(gòu)的立體圖。
圖10是表示VPNP晶體管等效電路的電路圖。
圖11是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖12是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖13是表示滯后比較電路的一結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖14是現(xiàn)有的紅外線遙控接收機(jī)整體的結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖15是表示現(xiàn)有的接收系統(tǒng)信號(hào)處理波形的圖。
圖16是表示現(xiàn)有的滯后比較電路的結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖17是表示現(xiàn)有的滯后比較電路的結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖18是表示現(xiàn)有的LPNP晶體管的結(jié)構(gòu)的立體圖。
圖19是表示現(xiàn)有的LPNP晶體管等效電路的電路圖。
圖20是表示現(xiàn)有的NPN晶體管的結(jié)構(gòu)的立體圖。
圖21是表示現(xiàn)有的NPN晶體管等效電路的電路圖。
具體實(shí)施例方式
這里,敘述將本發(fā)明的比較電路應(yīng)用于紅外線遙控接收機(jī)的例子。但是,本發(fā)明的比較電路也可以應(yīng)用于紅外線遙控接收機(jī)以外的各種裝置。紅外線遙控接收機(jī)為如前述的圖14所示的結(jié)構(gòu),其中的滯后比較器104被置換為使用本發(fā)明的比較電路的滯后比較電路。
圖1表示本方式的比較電路的方框圖。比較電路在比較單元11的電流輸出級(jí)設(shè)有電流緩沖電路12(放大電路),將比較單元11的輸出電流Iout1放大(N+1)倍。
圖2表示本方式的比較電路的具體的電路圖。圖3表示使用上述比較電路的滯后比較電路。滯后比較電路包括滯后電壓發(fā)生電路21、電流電壓變換用電阻22、輸出級(jí)電路23、比較電路24。滯后電壓發(fā)生電路21、電流電壓變換用電阻22、輸出級(jí)電路23與上述現(xiàn)有例1相同。比較電路24除了設(shè)有電流緩沖電路(放大電路)以外與上述現(xiàn)有例1相同。圖4表示使用本方式的滯后比較電路的動(dòng)作波形。
Vth_H是電壓Vin上升時(shí)的比較器的閾值,Vth_L是Vin降低使得比較器的閾值。
在本方式中,在不輸入信號(hào)時(shí)(待機(jī)模式),不放大電路中流過的電流(待機(jī)電流),在輸入了信號(hào)時(shí)(通常模式),放大待機(jī)電流I1。
本方式是輸入電壓Vin(在上升時(shí))大于等于閾值(Vth_H)時(shí)為通常模式的例子。
本方式與前述的現(xiàn)有例同樣,待機(jī)時(shí)(無信號(hào)時(shí))是Vin<Vth_H(Vin上升時(shí))(時(shí)刻ta、tc為止),或Vin<Vth_L(Vin下降時(shí))(時(shí)刻tb、td以后)、即圖4中Vin<Vth的期間,信號(hào)輸入時(shí)表示Vin>Vth_H(Vin上升時(shí))(時(shí)刻ta、tc以后),或Vin>Vth_L(Vin下降時(shí))(時(shí)刻tb、td為止)、即圖4中Vin>Vth的期間。
本方式的滯后比較電路中,信號(hào)輸入時(shí)的Vth為Vth_L,待機(jī)時(shí)(無信號(hào)時(shí))的Vth為Vth_H。
比較電路24的輸入級(jí)為具有第一NPNTr(QN1)和第一PNPTr(QP1)的達(dá)林頓連接的差動(dòng)對(duì),通過設(shè)置與第一PNPTr(QP1)進(jìn)行電流鏡連接的第三PNPTr(QP3)而作為電流緩沖電路(放大電路)。
說明本方式的滯后比較電路的動(dòng)作時(shí),(i)待機(jī)時(shí)Vin<Vth_H時(shí)由于差動(dòng)對(duì)的QN2、QP2動(dòng)作,因此Iout1=0,輸出級(jí)電路23不動(dòng)作。從而Iout=0,即Vo=Hi。
在滯后電壓發(fā)生電路21中,Vth_H=Vbe(D1)+I2·I3+I1·(R2+R3)...(6)。
在該情況下,待機(jī)時(shí)消耗電流為I1。
(ii)信號(hào)輸入時(shí)Vin>Vth_H時(shí)(為了簡單,忽略了各晶體管的基極電流)由于差動(dòng)對(duì)的QN1、QP1動(dòng)作,因此Iout1=I1。通過QP1和QP3的電流鏡,比較電路24的輸出電流被放大為N+1倍,比較電路24的輸出電流=(N+1)Iout1=(N+1)I1(N為QP1、QP3的電流鏡電流比)。
在輸出級(jí)電路23中,R1·(N+1)·I1>Vbe(QP5)時(shí),QP5導(dǎo)通,Iout2=Is·exp{R1·(N+1)·I1/Vt},從而Iout=m·Is·exp{R1·(N+1)·I1/Vt}......(7)(Is晶體管的飽和電流Vt=kT/q
k波爾茲曼常數(shù)q電子的基本電荷T絕對(duì)溫度m電流鏡QN5、QN6的電流比),即Vo=Lo。
在滯后電壓發(fā)生電路21中,Vth_L=Vbe(D1)+I2·R3......(8)。I1·(R2+R3)變成滯后電壓。
此時(shí),驅(qū)動(dòng)電流由算式(7)決定。
根據(jù)算式(7),通過本方式的結(jié)構(gòu),可以將驅(qū)動(dòng)電路放大N+1項(xiàng)部分。即,指數(shù)部分(exp)內(nèi)的(N+1)項(xiàng)的部分,驅(qū)動(dòng)電流被放大exp(R1·N·I1/Vt)倍。此外,QP3僅在信號(hào)輸入時(shí)動(dòng)作,因此待機(jī)時(shí)消耗電流為I1。從而,使驅(qū)動(dòng)電流一定時(shí),待機(jī)時(shí)消耗電流可降低為I1/(N+1)。即,將待機(jī)電流(恒流I1)從I1變更為I1/(N+1)(換言之,降低待機(jī)電流)時(shí),算式(7)變?yōu)镮out=m·ls·exp{R1·(N+1)·I1/(N+1)/Vt}=m·ls·exp(R1·I1/Vt),與算式(2)相同,可以供給與現(xiàn)有例相同的驅(qū)動(dòng)電流。從而,可以維持與現(xiàn)有例相同的驅(qū)動(dòng)電流(Iout一定),同時(shí)降低待機(jī)時(shí)的消耗電流。
此時(shí),光漏泄電流在QN1集電極、QP1、QP3基極發(fā)生,變成Ileak=hfe(pnp)·{Ipd(npn)+(N+1)·Ipd(pnp)}......(9)hfe(pnp)PNPTr的晶體管的電流放大率Ipd(npn)NPNTr集電極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流Ipd(pnp)PNPTr基極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流。由于Ileak,在R1中發(fā)生壓降R1·Ileak。即,R1·Ileak=R1·hfe(pnp)·{Ipd(npn)+(N+1)·Ipd(pnp)}。
該電壓降超過Vbe(QP5),即R1·Ileak>Vbe(QP5),換言之,變成R1·hfe(pnp)·{Ipd(npn)+(N+1)·Ipd(pnp)}>Vbe(QP5)......(10)時(shí),QP5導(dǎo)通,Vo產(chǎn)生誤動(dòng)作。
從而,恒流I1原樣為I1,電阻R1的值設(shè)定為R1/(N+1)(即降低電阻值)時(shí),算式(7)變成Iout=m·Is·exp{R1/(N+1)·(N+1)·I1/Vt}=m·Is·exp(R1·I1/Vt),可以將驅(qū)動(dòng)電流值設(shè)定為與現(xiàn)有例的驅(qū)動(dòng)電流值(算式(2))相同的值。
將電阻R1降低為R1/(N+1)時(shí),通過將由前述的表示R1·Ileak的算式將R1置換為R1/(N+1),由于光漏泄電流而在電阻中發(fā)生的電壓降為R1/(N+1)·Ileak=R1·hfe(pnp)·{Ipd(npn)/(N+1)+Ipd(pnp)},在現(xiàn)有例中與通過光漏泄電流而在電阻中發(fā)生壓降的算式(5)(將漏泄電流設(shè)為Ileak0)比較時(shí),變成R1·Ileak0-R1/(N+1)·Ileak=R1·hfe(pnp)·Ipd(npn)·N/(N+1),可知電壓降僅降低了這部分。從而,由于某一照度的干擾光而發(fā)生了光漏泄電流Ipd(npn)、Ipd(pnp)的情況下,與現(xiàn)有例相比,難以達(dá)到QP5導(dǎo)通而開始誤動(dòng)作的電壓,因此可以降低光漏泄電流的影響。
在實(shí)際的電路設(shè)計(jì)中,考慮待機(jī)時(shí)消耗電流、驅(qū)動(dòng)電流、光漏泄電流的影響,將I1、Iout、R1設(shè)定為任意的值。
敘述另一個(gè)的結(jié)構(gòu)例。圖5表示本方式的比較電路的具體的電路圖。圖6表示使用了上述比較電路的滯后比較電路。滯后比較電路具有滯后電壓比較電路31、電流電壓變換用電阻32、輸出級(jí)電路33、比較電路34。圖7表示使用了本方式的滯后比較電路的動(dòng)作波形。
本方式是輸入電壓Vin(在上升時(shí))大于等于閾值(Vth_H)時(shí)為通常模式的例子。
本方式與圖2的結(jié)構(gòu)相反,待機(jī)時(shí)(無信號(hào)時(shí))是Vin>Vth_L(Vin下降時(shí))(時(shí)刻te、tg為止),或Vin>Vth_H(Vin上升時(shí))(時(shí)刻tf、th以后)、即圖7中Vin>Vth的期間,
信號(hào)輸入時(shí)表示Vin<Vth_L(Vin下降時(shí))(時(shí)刻te、tg以后),或Vin<Vth_H(Vin上升時(shí))(時(shí)刻tf、th為止)、即圖7中Vin<Vth的期間。
本方式的滯后比較電路中,信號(hào)輸入時(shí)的Vth為Vth_H,待機(jī)時(shí)(無信號(hào)時(shí))的Vth為Vth_L。
比較電路34的輸入級(jí)為具有PNPTr和NPNTr的達(dá)林頓連接的差動(dòng)對(duì),通過設(shè)置與第一PNPTr電流鏡連接的第三NPNTr而作為電流緩沖電路(放大電路)。
圖6的結(jié)構(gòu)為圖2的上下對(duì)稱的結(jié)構(gòu)。
說明本方式的滯后比較電路的動(dòng)作時(shí),(i)待機(jī)時(shí)Vin>Vth_H時(shí)由于差動(dòng)對(duì)的QP12、QN12動(dòng)作,因此Iout1=0,輸出級(jí)電路33不動(dòng)作。從而Iout=0,即Vo=Lo。
在滯后電壓發(fā)生電路31中,成為Vth_L=Vcc-{Vbe(D1)+I2·I3+I1·(R2+R3)}...(11)。
在該情況下,待機(jī)時(shí)消耗電流變成I1。
(ii)信號(hào)輸入時(shí)Vin<Vth_H時(shí)(為了簡單,忽略了各晶體管的基極電流)由于差動(dòng)對(duì)的QP11、QN11、QN13動(dòng)作,因此Iout1=I1。通過QP1和QP3的電流鏡,比較電路的輸出電流被放大為N+1倍,比較電路24的輸出電流=(N+1)Iout1=(N+1)I1(N為QN11、QN13的電流鏡電流比)。
在輸出級(jí)電路33中,R1·(N+1)·I1>Vbe(QN15)時(shí),QN15導(dǎo)通,Iout2=Is·exp{R1·(N+1)·I1/Vt},從而Iout=m·Is·exp{R1·(N+1)·I1/Vt}......(12)(Is晶體管的飽和電流Vt=kT/qk波爾茲曼常數(shù)q電子的基本電荷T絕對(duì)溫度m電流鏡QN5、QN6的電流比),即Vo=Hi。
在滯后電壓發(fā)生電路31中,變成Vth_H=Vcc-{Vbe(D1)+I2·R3......(13)。I1·(R2+R3)變成滯后電壓。
此時(shí),驅(qū)動(dòng)電流由算式(12)決定。
根據(jù)算式(12),通過本方式的結(jié)構(gòu),可以將驅(qū)動(dòng)電路放大N+1項(xiàng)部分。即,指數(shù)部分(exp)內(nèi)的(N+1)項(xiàng)的部分,驅(qū)動(dòng)電流被放大exp(R1·N·I1/Vt)倍。此外,QN13僅在信號(hào)輸入時(shí)動(dòng)作,因此待機(jī)時(shí)消耗電流為I1。從而,使驅(qū)動(dòng)電流一定時(shí),待機(jī)時(shí)消耗電流可降低為I1/(N+1)。即,將待機(jī)電流(恒流I1)從I1變更為I1/(N+1)(換言之,降低待機(jī)電流)時(shí),算式(12)變成Iout=m·Is·exp{R1·(N+1)·I1/(N+1)/Vt}=m·Is·exp(R1·I1/Vt),與算式(2)相同,可以供給與現(xiàn)有例相同的驅(qū)動(dòng)電流。從而,可以維持與現(xiàn)有例相同的驅(qū)動(dòng)電流(Iout一定),同時(shí)降低待機(jī)時(shí)的消耗電流。
此時(shí),光漏泄電流在QP11集電極發(fā)生,成為hfe(npn)·hfe(pnp)倍。QN11、QN13集電極中發(fā)生的部分不影響R1。即Ileak=hfe(npn)·hfe(pnp)·Ipd(pnp)......(14)
hfe(npn)NPNTr的晶體管的電流放大率hfe(pnp)PNPTr的晶體管的電流放大率Ipd(pnp)PNPTr基極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流。由于Ileak,在R1中發(fā)生電壓降R1·Ileak。即R1·Ileak=R1·hfe(npn)·hfe(pnp)·Ipd(pnp)。
該壓降超過Vbe(QP5),即R1·Ileak>Vbe(QP5),換言之,變成R1·hfe(pnp)·hfe(pnp)·Ipd(pnp)>Vbe(QP5)......(15)時(shí),QP5導(dǎo)通,Vo產(chǎn)生誤動(dòng)作。
從而,恒流I1原樣為I1,電阻R1的值設(shè)定為R1/(N+1)(即降低電阻值)時(shí),算式(12)變成Iout=m·Is·exp{R1/(N+1)·(N+1)·I1/Vt}=m·Is·exp(R1·I1/Vt),可以將驅(qū)動(dòng)電流值設(shè)定為與現(xiàn)有例的驅(qū)動(dòng)電流值(算式(2))相同的值。
將電阻R1降低為R1/(N+1)時(shí),通過由前述的表示R1·Ileak的算式將R1置換為R1/(N+1),光漏泄電流而在電阻中發(fā)生的電壓降變成R1/(N+1)·Ileak=R1·hfe(npn)·hfe(pnp)·Ipd(pnp)/(N+1),在現(xiàn)有例中與通過光漏泄電流而在電阻中發(fā)生壓降比較時(shí),變成R1·Ileak-R1/(N+1)·Ileak=R1·Ileak·N/(N+1)=R1·hfe(pnp)·Ipd(npn)·N/(N+1),可知電壓降僅降低了這部分。從而,由于某一照度的干擾光而發(fā)生了光漏泄電流Ipd(npn)、Ipd(pnp)的情況下,與現(xiàn)有例相比,難以達(dá)到QP5導(dǎo)通而開始誤動(dòng)作的電壓,因此可以降低光漏泄電流的影響。
下面敘述另一個(gè)結(jié)構(gòu)例。圖8表示本方式的比較電路。這是在圖2的結(jié)構(gòu)中,將QP1、QP2、QP3設(shè)為縱向型(vertical)PNP結(jié)構(gòu)(以下VPNP)的結(jié)構(gòu)。關(guān)于電路動(dòng)作,與圖2的情況同樣。
這里,敘述光漏泄電流的影響。
圖9表示VPNPTr的結(jié)構(gòu),圖10表示VPNPTr的等效電路。BS、EM、CL分別是基極、發(fā)射極、集電極。以下同樣。S1是N型外延層的面積。S2是發(fā)射極面積。N型外延層和P型襯底層之間存在作為寄生PD的PDa,但在VPNPTr結(jié)構(gòu)的情況下,N型外延層僅提供電位(一般為Vcc),光漏泄電流不影響Tr動(dòng)作?;鶚O擴(kuò)散(N)和發(fā)射極擴(kuò)散(P)之間也存在寄生PD,但由于基極擴(kuò)散面積小,因此與LPNPTr相比,非常小。從而,本結(jié)構(gòu)的光漏泄電流為Ileak=hfe(pnp)·Ipd(npn)......(16)hfe(pnp)PNPTr的晶體管的電流放大率Ipd(npn)NPNTr集電極擴(kuò)散中發(fā)生的光漏泄電流,可以降低光漏泄電流的發(fā)生,并可以降低誤動(dòng)作。
下面敘述另一個(gè)結(jié)構(gòu)例。圖11表示本結(jié)構(gòu)的比較電路。這是在圖5的結(jié)構(gòu)中,將QP11、QP12設(shè)為VPNP結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)。關(guān)于電路動(dòng)作,與圖2的情況同樣。
QP11由于是VPNP結(jié)構(gòu)而不發(fā)生光漏泄電流。QN11、QN13集電極中發(fā)生的部分不影響R1。從而,本結(jié)構(gòu)的光漏泄電流為Ileak=0......(17),可以降低光漏泄電流的發(fā)生,并可以降低誤動(dòng)作。
下面敘述另一個(gè)結(jié)構(gòu)例。圖12表示本結(jié)構(gòu)的比較電路。這是在圖2的結(jié)構(gòu)中,設(shè)有與作為差動(dòng)對(duì)的反側(cè)的第二PNPTr的QP2進(jìn)行電流鏡連接的第四PNPTr——QP4,使各個(gè)電流鏡電流比相等。
在圖2的情況下,僅差動(dòng)對(duì)的一側(cè),PNPTr被放大N+1倍,因此,差動(dòng)對(duì)QN1、QN2中發(fā)生偏移電壓Vos。即Vbe=Vt·ln(Ic/Is)(Vbe晶體管的基極-發(fā)射極電壓Vt=kT/qk波爾茲曼常數(shù)q電子的基本電荷T絕對(duì)溫度Is晶體管的飽和電流
Ic晶體管的集電極電流),各晶體管的Is、hfe(pnp)相等時(shí),偏移電壓Vos為Vos=Vbe(QN1)-Vbe(QN2)=Vt·ln{(N+1)·I1/(hfe(pnp)·Is)}-Vt·ln{I1/(hfe(pnp)·Is)}=Vt·ln(N+1)......(18),發(fā)生偏移電壓。
另一方面,在圖12的情況下,為Vos=Vbe(QN1)-Vbe(QN2)=Vt·ln{(N+1)·I1/(hfe(pnp)·Is)}-Vt·ln{(N+1)·I1/(hfe(pnp)·Is)}=Vt·ln1=0......(19),在沒有元件的不匹配的情況下,在理想上不發(fā)生偏移電壓(offset voltage)。
下面敘述另一個(gè)結(jié)構(gòu)例。圖13表示本結(jié)構(gòu)的比較電路。這是在圖5的結(jié)構(gòu)中,設(shè)有與作為差動(dòng)對(duì)的反側(cè)的第二NPNTr的QN12進(jìn)行電流鏡連接的第四PNPTr——QN14,使各個(gè)電流鏡電流比相等。
偏移電壓Vos成為Vos=Vbe(QP11)-Vbe(QP12)=Vt·ln{(N+1)·I1/(hfe(npn)·Is)}-Vt·ln{(N+1)·I1/(hfe(npn)·Is)}=Vt·ln1=0.......(20),在沒有元件的不匹配的情況下,在理想上不發(fā)生偏移電壓。
此外,本實(shí)施方式的比較電路在輸入電壓上升時(shí)被輸入小于等于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在輸入電壓下降時(shí)被輸入小于等于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為待機(jī)模式,在上述輸入電壓上升時(shí)被輸入大于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)被輸入大于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為通常模式。
根據(jù)上述,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以以簡單的結(jié)構(gòu),降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以在輸入電壓上升時(shí)被輸入大于等于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在輸入電壓下降時(shí)被輸入大于等于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為待機(jī)模式,在上述輸入電壓上升時(shí)被輸入小于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)被輸入小于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為通常模式。
根據(jù)上述,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以以簡單的結(jié)構(gòu),降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為,上述放大電路具有與上述第二差動(dòng)對(duì)的第二PNP晶體管電流鏡連接的第四PNP晶體管,使上述第一、第二差動(dòng)對(duì)的電流鏡電流比相等。
根據(jù)上述,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以降低差動(dòng)對(duì)的偏移電壓。
此外,本實(shí)施方式的比較電路中,放大電路也可以包括第一差動(dòng)對(duì),輸入輸入電流,具有與第一PNP晶體管和第一NPN晶體管的達(dá)林頓連接;第二差動(dòng)對(duì),輸入比較電路的閾值,具有與第二PNP晶體管和第二NPN晶體管的達(dá)林頓連接;以及第三NPN晶體管,與上述第一NPN晶體管電流鏡連接。
根據(jù)上述,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以以簡單的結(jié)構(gòu),降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為,上述放大電路具有與上述第二差動(dòng)對(duì)的第二NPN晶體管進(jìn)行電流鏡連接的第四NPN晶體管,使上述第一、第二差動(dòng)對(duì)的電流鏡電流比相等。
根據(jù)上述,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以降低差動(dòng)對(duì)的偏移電壓。
此外,本實(shí)施方式的比較電路中,上述PNP晶體管也可以為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。
根據(jù)上述,上述PNP晶體管為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。從而,除了本實(shí)施方式的比較電流起到的效果之外,還可以降低光漏泄電流的影響。
以上,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為在本身的電流輸出級(jí)設(shè)置(連接)電流緩沖電路。由此,可以降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為,將本身的輸入級(jí)設(shè)為具有與NPNTr和PNPTr的達(dá)林頓連接的差動(dòng)對(duì),并設(shè)置與第一PNPTr進(jìn)行電流鏡連接的第三PNPTr,從而設(shè)為電流緩沖電路。由此,可以以簡單的結(jié)構(gòu),降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,也可以構(gòu)成為設(shè)置與上述差動(dòng)對(duì)的反側(cè)的第二PNPTr電流鏡電解的第四PNPTr,使各個(gè)電流鏡電流比相等。由此,可以降低差動(dòng)對(duì)的偏移電壓。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為,將本身的輸入級(jí)設(shè)為具有與PNPTr和NPNTr的達(dá)林頓連接的差動(dòng)對(duì),并設(shè)置與第一NPNTr進(jìn)行電流鏡連接的第三NPNTr,從而形成電流緩沖電路。由此,可以以簡單的結(jié)構(gòu),降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響。
此外,也可以構(gòu)成為設(shè)置與上述差動(dòng)對(duì)的反側(cè)的第二NPNTr進(jìn)行電流鏡連接的第四NPNTr,使各個(gè)電流鏡電流比相等。由此,可以降低差動(dòng)對(duì)的偏移電壓。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為將上述電流鏡的電流比設(shè)為1∶N。由此,可以使上述效果為N+1倍。
此外,本實(shí)施方式的比較電路也可以構(gòu)成為使上述PNPTr形成為VPNPTr結(jié)構(gòu)。由此,可以降低光漏泄電流的影響。
此外,也可以由本實(shí)施方式的比較電路、電流電壓變換用電阻R、輸出級(jí)電路、滯后電壓發(fā)生電路構(gòu)成滯后比較電路。由此,可以提供一種降低待機(jī)時(shí)消耗電流、增大驅(qū)動(dòng)電流、降低光漏泄電流的影響的滯后比較電路。
發(fā)明的詳細(xì)的說明項(xiàng)中進(jìn)行的具體的實(shí)施方式或?qū)嵤├吘褂糜谑贡景l(fā)明的技術(shù)內(nèi)容明確,不應(yīng)僅限定于這樣的具體例來狹義地解釋,但在本發(fā)明的精神和記載的發(fā)明權(quán)利要求的范圍內(nèi),可以各種變更來實(shí)施。
權(quán)利要求
1.一種比較電路,根據(jù)輸入電壓和閾值的比較結(jié)果,取通常模式以及待機(jī)模式的其中一個(gè),具有與各模式對(duì)應(yīng)的輸出電流值,其特征在于,該電路包括比較單元,在將待機(jī)模式時(shí)流過比較電路內(nèi)部的電流稱作待機(jī)電流時(shí),比較上述輸入電壓和閾值,在其結(jié)果為待機(jī)模式時(shí),輸出上述待機(jī)電流;以及放大電路,在通常模式時(shí),放大并輸出從上述比較單元輸出的上述待機(jī)電流。
2.如權(quán)利要求1所述的比較電路,其特征在于,在上述輸入電壓上升時(shí)被輸入小于等于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)被輸入小于等于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為待機(jī)模式,在上述輸入電壓上升時(shí)被輸入比上升用的閾值Vth_H大的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)被輸入比下降用的閾值Vth_L大的輸入電壓時(shí)為通常模式。
3.如權(quán)利要求1所述的比較電路,其特征在于,在上述輸入電壓上升時(shí)被輸入大于等于上升用的閾值Vth_H的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)被輸入大于等于下降用的閾值Vth_L的輸入電壓時(shí)為待機(jī)模式,在上述輸入電壓上升時(shí)輸入比上升用的閾值Vth_H小的輸入電壓時(shí),以及在上述輸入電壓下降時(shí)輸入比下降用的閾值Vth_L小的輸入電壓時(shí)為通常模式。
4.如權(quán)利要求1所述的比較電路,其特征在于,上述放大電路包括第一差動(dòng)對(duì),被輸入上述輸入電壓,具有與第一NPN晶體管和第一PNP晶體管的達(dá)林頓連接;第二差動(dòng)對(duì),被輸入比較電路的閾值,具有與第二NPN晶體管和第二PNP晶體管的達(dá)林頓連接;以及第三PNP晶體管,與上述第一PNP晶體管進(jìn)行電流鏡連接。
5.如權(quán)利要求4所述的比較電路,其特征在于,上述放大電路構(gòu)成為包括與上述第二差動(dòng)對(duì)的第二PNP晶體管進(jìn)行電流鏡連接的第四PNP晶體管,使上述第一、第二差動(dòng)對(duì)的電流鏡電流比相等。
6.如權(quán)利要求1所述的比較電路,其特征在于,上述放大電路包括第一差動(dòng)對(duì),被輸入了輸入電壓,具有與第一PNP晶體管和第一NPN晶體管的達(dá)林頓連接;第二差動(dòng)對(duì),被輸入比較電路的閾值,具有與第二PNP晶體管和第二NPN晶體管的達(dá)林頓連接;以及第三NPN晶體管,與上述第一NPN晶體管進(jìn)行電流鏡連接。
7.如權(quán)利要求6所述的比較電路,其特征在于,上述放大電路構(gòu)成為包括與上述第二差動(dòng)對(duì)的第二NPN晶體管進(jìn)行電流鏡連接的第四NPN晶體管,使上述第一、第二差動(dòng)對(duì)的電流鏡電流比相等。
8.如權(quán)利要求4所述的比較電路,其特征在于,上述PNP晶體管為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求5所述的比較電路,其特征在于,上述PNP晶體管為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。
10.如權(quán)利要求6所述的比較電路,其特征在于,上述PNP晶體管為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。
11.如權(quán)利要求7所述的比較電路,其特征在于,上述PNP晶體管為縱向型PNP結(jié)構(gòu)。
12.一種紅外線遙控接收機(jī),具有比較電路,該電路根據(jù)輸入電壓和閾值的比較結(jié)果,取通常模式以及待機(jī)模式的其中一個(gè),具有與各模式對(duì)應(yīng)的輸出電流值,其特征在于,該接收機(jī)具有權(quán)利要求1~11的任何一項(xiàng)所述的比較電路。
全文摘要
本發(fā)明的比較電路包括比較單元以及電流緩沖電路,通常模式時(shí),從上述比較單元輸出的待機(jī)電流由上述電流緩沖電路放大規(guī)定倍,在待機(jī)模式時(shí),不放大從上述比較單元輸出的上述待機(jī)電流。
文檔編號(hào)G08C23/04GK1848680SQ20061007364
公開日2006年10月18日 申請(qǐng)日期2006年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月14日
發(fā)明者竹內(nèi)升, 井上高廣 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社