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      一種用于機頂盒測試的遙控器的制作方法

      文檔序號:6700483閱讀:352來源:國知局
      專利名稱:一種用于機頂盒測試的遙控器的制作方法
      技術領域
      本實用新型涉及測試技術,尤其涉及一種用于機頂盒測試的遙控器。
      背景技術
      參見圖l,為現(xiàn)有的用于機頂盒測試的遙控器,該遙控器包括微控制器(MCU, Microprogrammed Control Unit)、鍵盤和紅外發(fā)射頭。進行某一測試項目時,測試人員需 要按照提示在遙控器的鍵盤上進行多次按鍵,才能向MCU輸入關于某一測試項目的測試命 令,MCU接收該測試指令后通過紅外發(fā)射頭發(fā)送給機頂盒,機頂盒執(zhí)行相應的測試操作。下 面以測試項目分別為左旋電壓測試和機頂盒版本號測試為例對現(xiàn)有的測試方案進行舉例 說明。 對機頂盒的左旋電壓進行測試時,測試人員先按遙控器的"MENU"鍵,再按遙控器 "I "鍵8次,再按遙控器"0K"鍵,再按"1"鍵,再按"2"鍵,再按"3"鍵,再按"4"鍵,再按 "5"鍵,再按"6"鍵,再按"0K"鍵,再按"I "鍵,再按"OK"鍵,再按"t "鍵,再按"OK"鍵, 至此,完成了通過按鍵將左旋電壓測試命令發(fā)送給MCU ;MCU接收左旋電壓測試命令后,通 過紅外發(fā)射頭將左旋電壓測試命令發(fā)送給機頂盒。機頂盒接收左旋電壓測試命令后,將左 旋電壓通過電視機顯示出來。測試人員將電視機顯示的左旋電壓與標準的左旋電壓進行比 較,便可獲知機頂盒的左旋電壓是否正常。 對機頂盒版本號進行測試時,測試人員先按遙控器的MENU鍵,再根據(jù)提示按多個 不同的按鍵,完成將機頂盒版本號測試命令輸入給MCU, MCU接收機頂盒版本號測試命令 后,通過紅外發(fā)射頭將機頂盒版本號測試命令發(fā)送給機頂盒,機頂盒接收機頂盒版本號測 試命令后,將版本號通過與該機頂盒相連的電視機顯示出來。測試人員將電視機顯示的版 本號與該機頂盒的真實版本號相對照,便可獲知該機頂盒內(nèi)記錄的版本號是否正確。 綜上,采用現(xiàn)有的遙控器對機頂盒進行測試時,測試人員需要針對各個測試項目 分別進行多次按鍵操作,其測試時間長,測試效率低。

      發(fā)明內(nèi)容本實用新型提供一種用于機頂盒測試的遙控器,該遙控器能夠提高測試機頂盒的 效率。 —種用于機頂盒測試的遙控器,該遙控器包括MCU,分別與MCU連接的鍵盤、串口 、 向機頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭,和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元; 所述MCU接收鍵盤的按鍵指令,將存儲的與該按鍵指令對應的測試內(nèi)容通過串口 發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元,所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容,將包括至少 一個測試項目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU ;所述MCU將所述測試命令 依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。 可選地,所述測試內(nèi)容處理單元還包括擦寫操作模塊,所述擦寫操作模塊通過所 述串口與所述MCU相連,并通過所述串口對MCU存儲的測試內(nèi)容進行擦寫操作。
      3[0010] 可選地,該遙控器還包括顯示測試狀態(tài)或空閑狀態(tài)的發(fā)光二極管LED,與所述MCU 連接。 可選地,所述測試內(nèi)容處理單元是一通過高級技術發(fā)動機ATE下位機實現(xiàn)的測試 內(nèi)容處理單元。 可選地,所述串口為RS232串口。 從上述方案可以看出,本實用新型在遙控器中設置串口,以及通過該串口與MCU 相連接的測試內(nèi)容處理單元,MCU中存儲了與某個按鍵指令對應的測試內(nèi)容,所述測試內(nèi)容 包括至少一個測試項目;進行測試時,MCU接收所述某個按鍵指令,獲取存儲的與該按鍵指 令對應的測試內(nèi)容,將該測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元;所述測試內(nèi)容 處理單元接收MCU發(fā)送的測試內(nèi)容后,針對測試內(nèi)容包括的各個測試項目,依次向MCU發(fā)送 測試命令;MCU接收所述測試內(nèi)容處理單元依次發(fā)送的測試命令,將測試命令通過所述紅 外發(fā)射頭依次發(fā)送給機頂盒。這樣,針對至少一個測試項目,測試人員只需輸入一個按鍵指 令,遙控器接收該按鍵指令后,便可自動完成所有測試;無需測試人員對每個測試項目分別 進行多次按鍵操作,從而,降低了測試強度,節(jié)省了測試時間,提高了測試效率。

      圖1為現(xiàn)有技術中用于機頂盒測試的遙控器的結構示意圖; 圖2為本實用新型用于機頂盒測試的遙控器的結構示意圖。
      具體實施方式為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白,下面結合實施例和附圖, 對本實用新型進一步詳細說明。 參見圖2,為本實用新型用于機頂盒測試的遙控器的結構示意圖,該遙控器不僅包 括紅外發(fā)射頭、鍵盤和MCU,還包括串口以及通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元; 所述MCU,用于存儲與某個按鍵指令對應的測試內(nèi)容,所述測試內(nèi)容包括至少一個 測試項目;接收所述某個按鍵指令,獲取存儲的與該按鍵指令對應的測試內(nèi)容,將該測試內(nèi) 容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元;接收所述測試內(nèi)容處理單元依次發(fā)送的測試命 令,將測試命令通過所述紅外發(fā)射頭依次發(fā)送給機頂盒; 所述測試內(nèi)容處理單元,用于接收所述MCU發(fā)送的測試內(nèi)容,針對測試內(nèi)容包括 的各個測試項目,依次向MCU發(fā)送測試命令。 MCU與鍵盤組成鍵盤掃描電路,按下鍵盤上的任意按鍵,MCU通過鍵盤掃描程序, 便可準確識別出按下了哪個按鍵。這樣,MCU也能識別出與測試內(nèi)容對應的按鍵指令。 可選地,所述測試內(nèi)容處理單元包括擦寫操作模塊,用于通過所述串口對MCU存 儲的測試內(nèi)容進行擦寫操作。具體地,所述擦寫操作模塊通過所述串口與所述MCU相連; 進行擦寫操作時,向所述擦寫操作模塊輸入擦寫命令,所述擦寫命令包括擦除MCU存儲的 部分或全部測試內(nèi)容,或者包括寫入指定的測試內(nèi)容,所述擦寫操作模塊接收擦寫命令后, 通過所述串口擦除MCU內(nèi)存儲的相應測試內(nèi)容,或者通過所述串口向MCU寫入相應的測試 內(nèi)容。MCU還可通過串口與網(wǎng)絡相連接,這樣,便可通過網(wǎng)絡對MCU存儲的測試內(nèi)容進行 在線升級。所述測試內(nèi)容處理單元可以通過高級技術發(fā)動機(ATE, AdvancedTechnologyEngine)下位機實現(xiàn),具體地,可以為PC中的ATE下位機??蛇x地,測試內(nèi)容處理單元與MCU 之間的串口為RS232串口。 目前,機頂盒產(chǎn)品已有幾百上千種型號,采用現(xiàn)有的測試技術,需要為每種型號的 機頂盒配置不同的遙控器,這導致現(xiàn)有的遙控器不具有通用性。采用本實用新型提供的方 案,測試內(nèi)容處理單元可以通過串口對MCU內(nèi)存儲的測試內(nèi)容進行擦寫操作,這樣,可根據(jù) 不同型號的機頂盒對測試內(nèi)容進行修改,同一遙控器可用于測試不同型號的機頂盒,從而, 使遙控器具有通用性,節(jié)省了生產(chǎn)遙控器的成本。 可選地,該遙控器進一步包括發(fā)光二級管(LED, Light-Emitting Diode);所述 MCU進一步用于在接收到所述按鍵指令時,使LED顯示為測試狀態(tài),在接收到測試內(nèi)容處理 單元發(fā)送的最后一個測試命令后,使LED顯示為空閑狀態(tài)。LED為測試指示燈,當LED亮時, 表示正在測試,當LED滅時,表示測試完畢。MCU獲知測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的測試命令為 最后一個測試命令的方法可以為測試內(nèi)容處理單元向MCU發(fā)送最后一個測試命令時,通 知MCU該測試命令為最后一個測試命令。 為簡便起見,下面以MCU內(nèi)存儲的測試內(nèi)容包括兩個測試項目為例對本實用新型 的測試方案進行舉例說明,假設該兩個測試項目為左旋電壓測試和機頂盒版本號測試,具 體地,該測試內(nèi)容包括首先進行左旋電壓測試,經(jīng)過5s后進行機頂盒版本號測試。測試人 員按下鍵盤上與該測試內(nèi)容對應的某一指定按鍵,也就是通過鍵盤向MCU輸入按鍵指令, MCU接收按鍵指令后,將存儲的該測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給測試內(nèi)容處理單元,并同時使 LED顯示為亮;測試內(nèi)容處理單元接收該測試內(nèi)容后,首先向MCU發(fā)送左旋電壓測試命令, 經(jīng)過5s后向MCU發(fā)送機頂盒版本號測試命令,并通知MCU該機頂盒版本號測試命令為最后 一個測試命令;MCU接收測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的左旋電壓測試命令后,通過紅外發(fā)射頭 發(fā)送給機頂盒;隨后,MCU接收測試內(nèi)容處理單元發(fā)送的機頂盒版本號測試命令,將機頂盒 版本號測試命令通過紅外發(fā)射頭發(fā)送給機頂盒,并使LED處理關閉狀態(tài)。 由上述實例可見,對左旋電壓和機頂盒版本號進行測試,測試人員只需按下鍵盤 上指定的一個按鍵,遙控器便可自動完成相應的測試操作;而無需測試人員進行多次按鍵 操作。從而,降低了測試強度,節(jié)省了測試時間,提高了測試效率。 以上所述的具體實施例,對本實用新型的目的、技術方案和有益效果進行了進一 步詳細說明,所應理解的是,以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已,并不用于限定本 實用新型的保護范圍,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改 進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
      權利要求一種用于機頂盒測試的遙控器,其特征在于,該遙控器包括微控制器MCU,分別與MCU連接的鍵盤、串口、向機頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭,和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元;所述MCU接收鍵盤的按鍵指令,將存儲的與該按鍵指令對應的測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元,所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容,將包括至少一個測試項目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU;所述MCU將所述測試命令依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。
      2. 如權利要求1所述的遙控器,其特征在于,所述測試內(nèi)容處理單元還包括擦寫操作模塊,所述擦寫操作模塊通過所述串口與所述MCU相連,并通過所述串口對MCU存儲的測試內(nèi)容進行擦寫操作。
      3. 如權利要求1所述的遙控器,其特征在于,該遙控器還包括顯示測試狀態(tài)或空閑狀態(tài)的發(fā)光二極管LED,與所述MCU連接。
      4. 如權利要求1所述的遙控器,其特征在于,所述測試內(nèi)容處理單元是一通過高級技術發(fā)動機ATE下位機實現(xiàn)的測試內(nèi)容處理單元。
      5. 如權利要求1所述的遙控器,其特征在于,所述串口為RS232串口。
      專利摘要本實用新型公開了一種用于機頂盒測試的遙控器,該遙控器包括微控制器MCU,分別與MCU連接的鍵盤、串口、向機頂盒發(fā)射紅外信號的紅外發(fā)射頭,和通過串口與MCU相連接的測試內(nèi)容處理單元;所述MCU接收鍵盤的按鍵指令,將存儲的與該按鍵指令對應的測試內(nèi)容通過串口發(fā)送給所述測試內(nèi)容處理單元,所述測試內(nèi)容處理單元處理所述的測試內(nèi)容,將包括至少一個測試項目的測試命令通過所述串口依次發(fā)送給所述的MCU;所述MCU將所述測試命令依次發(fā)送給所述的紅外發(fā)射頭。本實用新型方案能夠提高測試機頂盒的效率。
      文檔編號G08C23/04GK201491194SQ20092017410
      公開日2010年5月26日 申請日期2009年8月21日 優(yōu)先權日2009年8月21日
      發(fā)明者張征岑 申請人:深圳市同洲電子股份有限公司
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