專利名稱：檢測再現(xiàn)信號的方法和電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及再現(xiàn)信號的檢測，并且特別涉及在光記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)中只檢測具有最小失真或劣變的光檢測器件的某些輸出的方法，以及相應(yīng)電路。
在如光盤(CD)和數(shù)字通用盤那樣的光記錄介質(zhì)的記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)以在襯底或記錄膜層的變體上的凹坑的形式記錄在盤上。通過用激光照射該盤，并且檢測反射光，來檢測盤上的數(shù)據(jù)。在記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)中，由于數(shù)據(jù)凹坑和記錄范圍的幾何尺寸(例如，寬度，長度，深度和角度)引起光檢測器件的輸出之間的時間延遲，并且還由于切線方向上數(shù)據(jù)之間的干擾引起的時間延遲，引起信號劣化。當(dāng)光檢測器件的輸出之間引起時間延遲時，再現(xiàn)信號失真。當(dāng)再現(xiàn)信號的幅值未被合適地檢測到時，系統(tǒng)的性能下降。
光盤正在被開發(fā)用于高密度記錄和高速度再現(xiàn)，以記錄和/或再現(xiàn)高清晰度(HD)圖像。隨著用于高密度和高速度記錄/再現(xiàn)的記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)的開發(fā)，符號間干擾增加，導(dǎo)致相鄰數(shù)據(jù)間時間延遲和信號失真，引起信號的劣變。相應(yīng)地，再現(xiàn)信號的性能下降，在系統(tǒng)實現(xiàn)期間，需要相當(dāng)大的努力和額外的花費。
傳統(tǒng)再現(xiàn)信號檢測的原理示于

圖1中。首先，為了檢測記錄在盤100上的信息，拾取器單元(P/U)102向盤100輻射從光源(例如，激光二極管)發(fā)射的光束，并且通常由光電檢測器(PD)構(gòu)成的多區(qū)段光檢測器件104(也叫做檢測傳感器)接收由盤100反射的光信號，并且將該光信號分成多個信號。
第一、第二、第三和第四電流/電壓(I/V)轉(zhuǎn)換器106、108、110和112轉(zhuǎn)換光檢測器件104輸出的電流信號A、B、C和D成為電壓信號。運算單元114將第一、第二、第三和第四I/V轉(zhuǎn)換器106、108、110和112輸出的電壓信號相加，并且將該和作為射頻再現(xiàn)信號RF SUM輸出。
在現(xiàn)有技術(shù)中，采用通過簡單相加I/V轉(zhuǎn)換器106、108、110和112的輸出來檢測再現(xiàn)信號的方法，使得由于記錄在盤上的數(shù)據(jù)情況、串?dāng)_、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和其它系統(tǒng)問題(例如散焦、失跟蹤和傾斜)，導(dǎo)致再現(xiàn)信號劣變。因此，再現(xiàn)信號的質(zhì)量和系統(tǒng)的性能下降。
如上所述，隨著使用光記錄介質(zhì)的記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)被設(shè)計用于高密度和高速度記錄/再現(xiàn)，由于記錄在盤上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和其它系統(tǒng)問題(例如散焦、失跟蹤和傾斜)，信號的劣變變得嚴(yán)重，這導(dǎo)致系統(tǒng)實現(xiàn)期間的很多問題。
為了解決上述問題，本發(fā)明的第一目的是提供一種檢測再現(xiàn)信號的方法，通過該方法，根據(jù)數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或系統(tǒng)狀態(tài)，只再現(xiàn)光檢測器件的最小劣變的某些輸出。
本發(fā)明的第二目的是提供一種在克服由數(shù)據(jù)情況、串?dāng)_、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾引起問題的同時，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第三目的是提供一種在克服散焦的同時，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第四目的是提供一種在克服失跟蹤的同時，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第五目的是提供一種在克服徑向傾斜的同時，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第六目的是提供一種在克服切線傾斜的同時，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第七目的是提供一種通過自適應(yīng)補償由數(shù)據(jù)情況引起的信號干擾、串?dāng)_、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、散焦、失跟蹤、徑向傾斜和/或切向傾斜，檢測最佳再現(xiàn)信號的方法。
本發(fā)明的第八目的是提供一種檢測再現(xiàn)信號的電路，其中，根據(jù)數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或系統(tǒng)狀態(tài)，只再現(xiàn)光檢測器件的最小劣變的某些輸出。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，提供了一種使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的方法，該光檢測器件用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將接收的信號劃分成對應(yīng)于光檢測器件的區(qū)段的多個信號，該光檢測器件區(qū)段以矩陣排列，該矩陣具有光記錄介質(zhì)的切線方向上的行和徑向方向上的列，該方法包括步驟(a)根據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)，從光檢測器件的輸出信號中選擇比其它信號有更小劣變的某些信號；和(b)基于檢測結(jié)果，通過補償由于數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)引起的信號干擾量，從選擇的信號中獲得再現(xiàn)信號。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的第八目的，提供使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的設(shè)備，該光檢測器件包括光電檢測裝置，用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將所接收的信號劃分成多個信號，該設(shè)備包括檢測器，控制單元和補償器。檢測器檢測對應(yīng)于一些信號的組合的光檢測器件的輸出，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；和/或檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。控制單元根據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)的檢測結(jié)果，提供選擇控制信號和補償信號。補償器根據(jù)選擇控制信號選擇通過檢測器提供的光檢測器件的某些輸出，并且根據(jù)補償信號自適應(yīng)地補償選擇的輸出。
通過參照附圖詳細(xì)描述優(yōu)選實施例，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點將變得更清楚，其中圖1是傳統(tǒng)再現(xiàn)信號檢測的原理方框圖；圖2是按照本發(fā)明實施例的再現(xiàn)信號檢測電路的電路圖；圖3示出了可用作圖2所示的光檢測器件的8區(qū)段光電檢測器的例子；圖4是顯示在失跟蹤期間再現(xiàn)信號的檢測結(jié)果，以便解釋本發(fā)明效果的圖；圖5是顯示在切線傾斜期間再現(xiàn)信號的檢測結(jié)果，以便用于解釋本發(fā)明效果的圖。
參照圖2，該圖示出了本發(fā)明實施例的再現(xiàn)信號檢測電路，拾取單元(P/U)202移動到一位置，從該位置檢測記錄在盤200上的信息，并且拾取單元將從光源(激光二極管)發(fā)射的光束投射到盤200上。n區(qū)段光檢測器件204接收從盤200反射回的光信號，并且將光信號分成多個信號。在此，光檢測器件204通過根據(jù)數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、或系統(tǒng)的狀態(tài)(例如聚焦、跟蹤或傾斜的問題)組合在徑向、光道方向或?qū)巧系亩鄠€輸出，將多個輸出劃分成兩個部分。因此，光檢測器件204的多個輸出被分組成劣變輸出信號和較少劣變輸出信號。使用該特性，根據(jù)系統(tǒng)的狀態(tài)、數(shù)據(jù)情況或從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，僅能夠再現(xiàn)光檢測器件204輸出中的一組輸出，即較少劣變輸出信號組。在此，用作再現(xiàn)信號的信號由系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226自動選擇，該系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226用于檢測系統(tǒng)的狀態(tài)(例如聚焦或散焦、跟蹤或失跟蹤、和傾斜)、數(shù)據(jù)情況、或從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾。自適應(yīng)均衡光檢測器件204的某些檢測信號，這些信號被選擇補償異常操作情況、檢測的數(shù)據(jù)情況或檢測的從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，這樣，檢測最佳再現(xiàn)信號。
即，第一、第二、第三和第四電流/電壓(I/V)轉(zhuǎn)換器206、208、210和212轉(zhuǎn)換由光檢測器件204輸出的電流信號A、B、C和D成為電壓信號。第一加法器214將與光檢測器件204的輸出A對應(yīng)的從第一I/V轉(zhuǎn)換器206輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出B對應(yīng)的從第二I/V轉(zhuǎn)換器208輸出的電壓信號相加，并且輸出和(A+B)作為信號R1。第二加法器216將與光檢測器件204的輸出C對應(yīng)的從第三I/V轉(zhuǎn)換器210輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出D對應(yīng)的從第四I/V轉(zhuǎn)換器212輸出的電壓信號相加，并且輸出和(C+D)作為信號R2。在此，光檢測器件204的輸出A和B具有離盤中心相同的距離，光檢測器件204的輸出C和D具有離盤中心相同的距離。第三加法器218將與光檢測器件204的輸出A對應(yīng)的從第一I/V轉(zhuǎn)換器206輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出D對應(yīng)的從第四I/V轉(zhuǎn)換器212輸出的電壓信號相加，并且輸出和(A+D)作為信號T1。第四加法器220將與光檢測器件204的輸出B對應(yīng)的從第二I/V轉(zhuǎn)換器208輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出C對應(yīng)的從第三I/V轉(zhuǎn)換器210輸出的電壓信號相加，并且輸出和(B+C)作為信號T2。在此，光檢測器件204的輸出A和D是在光道方向上同一層上，而光檢測器件204的輸出B和C是在光道方向上的同一層上。相應(yīng)地，由于數(shù)據(jù)情況、串?dāng)_、或從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，在光道方向上，在通過第三加法器218提供的光檢測器件204的輸出和通過第四加法器220提供的光檢測器件204的輸出之間產(chǎn)生時間延遲。第五加法器222將與光檢測器件204的輸出A對應(yīng)的從第一I/V轉(zhuǎn)換器206輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出C對應(yīng)的從第三I/V轉(zhuǎn)換器210輸出的電壓信號相加，并且輸出和(A+C)作為信號X1。第六加法器224將與光檢測器件204的輸出B對應(yīng)的從第二I/V轉(zhuǎn)換器208輸出的電壓信號，和與光檢測器件204的輸出D對應(yīng)的從第四I/V轉(zhuǎn)換器212輸出的電壓信號相加，并且輸出和(B+D)作為信號X2。在此，當(dāng)散焦發(fā)生時，使用第五和第六加法器222和224的輸出，因為它們是通過相加光檢測器件204的輸出中對角排列的輸出獲得的。
系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226不僅檢測系統(tǒng)狀態(tài)(例如，散焦，失跟蹤和傾斜)而且檢測數(shù)據(jù)情況和從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，并且提供選擇信號給選擇器228，以便根據(jù)檢測的系統(tǒng)狀態(tài)、檢測的數(shù)據(jù)情況和/或檢測的從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，從第一到第六加法器214到224的輸出中至少選擇一個性能良好的信號。此外，系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226計算用于補償檢測的系統(tǒng)狀態(tài)、檢測的數(shù)據(jù)情況和/或檢測的數(shù)據(jù)之間的干擾的自適應(yīng)均衡量，并且向第一到第六均衡器230到240提供自適應(yīng)均衡量。
選擇器228根據(jù)系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226的選擇控制信號，從第一到第六加法器214到224的輸出中至少選擇一個信號，并且將選擇的信號提供給相應(yīng)的第一到第六均衡器230到240。第一到第六均衡器230到240(EQ1到EQ6)按照從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的自適應(yīng)均衡量，均衡由選擇器228選擇的光檢測器件204的輸出，由此檢測最優(yōu)再現(xiàn)信號。
在此，第一到第四I/V轉(zhuǎn)換器206到212、第一到第六加法器214到224稱為檢測器，用于檢測在光道方向上組合的光檢測器件204的輸出、在徑向組合的輸出和對角組合的輸出。系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226稱為控制單元，用于檢測數(shù)據(jù)情況、從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾，和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)，選擇器228和第一到第六均衡器230到240可稱為補償器，用于根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的補償信號(自適應(yīng)均衡量)，補償從檢測器提供的光檢測器件的某些輸出的非均等電平。
在本發(fā)明中，選擇器228可安裝在第一到第六均衡器230到240的后面，以便從通過使用第一到第六均衡器230到240均衡由第一到第六加法器214到224檢測的信號R1、R2、T1、T2、X1和X2獲得的均衡結(jié)果RFR1、RF2、RFT1、RFT2、RFX1和RFX2中，選擇具有最好質(zhì)量的信號作為最優(yōu)再現(xiàn)信號。
現(xiàn)在將根據(jù)選擇器228的操作和第一到第六均衡器230到240，描述當(dāng)系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測數(shù)據(jù)情況或從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾時，檢測散焦時，檢測失跟蹤時，檢測徑向傾斜時，和檢測切線傾斜時再現(xiàn)信號的檢測。
(1)根據(jù)數(shù)據(jù)情況或在從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾期間，再現(xiàn)信號的檢測。
根據(jù)數(shù)據(jù)情況或在從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間干擾的狀態(tài)，對于從盤上數(shù)據(jù)再現(xiàn)的信號，圖2所示的光檢測器件204的一個輸出信號T1和T2比另一信號較少劣變。
選擇器228根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的選擇控制信號，選擇檢測的信號T1和T2中的一個。接收選擇的檢測信號的第三或第四均衡器234或236按照自適應(yīng)均衡量均衡選擇的檢測信號，自適應(yīng)均衡量可補償由于數(shù)據(jù)情況或從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間干擾(由系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測的)引起的信號干擾量。用此方法，提供最優(yōu)RF再現(xiàn)信號。
在圖2中使用的光檢測器件204的情況下，光檢測器件204是四區(qū)段光電檢測器，光道方向的和信號A+D及B+C表示為T1和T2。然而，本發(fā)明不限于四區(qū)段光電檢測器。在另一實施例中，當(dāng)使用圖3中所示的八區(qū)段光電檢測器時，T1可表示B1、B2、B3和B4的和，T2可表示A1、A2、A3和A4的和。
(2)散焦時再現(xiàn)信號的檢測對于從盤上數(shù)據(jù)再現(xiàn)的信號，由于散焦方向由光檢測器件204輸出的檢測信號X1和X2之一比另一個好。選擇器228根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的選擇控制信號，從檢測信號X1和X2中選擇較好質(zhì)量的信號。接收被選擇檢測信號的第五或第六均衡器238或240按照自適應(yīng)均衡量均衡被選擇的檢測信號，該自適應(yīng)均衡量可補償由于系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測的散焦引起的信號干擾量。用此方法，提供最優(yōu)RF再現(xiàn)信號。
(3)失跟蹤時再現(xiàn)信號的檢測對于從盤上數(shù)據(jù)再現(xiàn)的信號，由于失跟蹤的方向由光檢測器件204輸出的檢測信號R1和R2之一比另一個好。選擇器228根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的選擇控制信號，選擇檢測信號R1和R2之一。接收被選擇檢測信號的第一或第二均衡器230或232按照自適應(yīng)均衡量均衡被選擇的檢測信號，該自適應(yīng)均衡量可補償由于系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測的失跟蹤引起的信號干擾量。用此方法，提供最優(yōu)RF再現(xiàn)信號。
(4)徑向傾斜時再現(xiàn)信號的檢測對于從盤上數(shù)據(jù)再現(xiàn)的信號，由于徑向傾斜由光檢測器件204輸出的檢測信號R1和R2之一比另一個的好。選擇器228根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的選擇控制信號，選擇檢測信號R1和R2之一。接收被選擇檢測信號的第一或第二均衡器230或232按照自適應(yīng)均衡量均衡被選擇的檢測信號，該自適應(yīng)均衡量可補償由于系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測的徑向傾斜引起的信號干擾量。用此方法，提供最優(yōu)RF再現(xiàn)信號。
(5)切線傾斜時再現(xiàn)信號的檢測對于從盤上數(shù)據(jù)再現(xiàn)的信號，由于切線傾斜由光檢測器件204輸出的檢測信號R1和R2之一比另一個的好。選擇器228根據(jù)從系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226提供的選擇控制信號，選擇檢測信號T1和T2之一。接收被選擇檢測信號的第三或第四均衡器234或236按照自適應(yīng)均衡量均衡被選擇的檢測信號，該自適應(yīng)均衡量可補償由于系統(tǒng)狀態(tài)檢測器226檢測的切線傾斜引起的信號干擾量。用此方法，提供最優(yōu)RF再現(xiàn)信號。
如上所述，可以是n區(qū)段光電檢測器的光檢測器件的n個輸出根據(jù)記錄在盤上的數(shù)據(jù)情況、從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間干擾的狀態(tài)或系統(tǒng)狀態(tài)，組合并且分組成兩個部分。當(dāng)比較通過組合獲得的兩個信號時，一個檢測信號比另一個更少劣變。如果簡單組合具有相反特性的兩個檢測信號，在結(jié)果中包括較劣信號特性，這阻止了好的再現(xiàn)信號的獲得。
更具體地說，當(dāng)在盤的正方向發(fā)生徑向傾斜時，檢測信號R1比檢測信號R2好，檢測信號R1是具有離盤中心相同距離的光電檢測器的區(qū)段的輸出之一，檢測信號R2是從具有離盤中心相同距離的光電檢測器的區(qū)段輸出的另一個信號。相反，當(dāng)在盤的負(fù)方向發(fā)生徑向傾斜時，檢測信號R1比檢測信號R2有更多劣變。從兩個檢測信號中選擇改善再現(xiàn)信號的檢測信號，以防止再現(xiàn)信號的劣變，使得在再現(xiàn)方面得到改善。
現(xiàn)在將參照圖4和圖5描述以上所述的本發(fā)明的效果。在表示了在失跟蹤期間再現(xiàn)信號的檢測結(jié)果的圖4中，按照本發(fā)明的再現(xiàn)信號的抖動值與現(xiàn)有技術(shù)的進(jìn)行了比較。當(dāng)負(fù)向失跟蹤時，檢測信號R2比現(xiàn)有技術(shù)和檢測信號R1具有更小的抖動。于是，在此情況下，檢測信號R2用作再現(xiàn)信號最好。當(dāng)正向失跟蹤時，檢測信號R1比現(xiàn)有技術(shù)和檢測信號R2具有更小的抖動。于是，在此情況下，檢測信號R1用作再現(xiàn)信號最好。
于是，在現(xiàn)有技術(shù)中，若在范圍±0.08μm內(nèi)失跟蹤時，使用4區(qū)段光電檢測器的輸出的和檢測再現(xiàn)信號，則抖動約為15.6％(數(shù)據(jù)對數(shù)據(jù))。然而，若在-0.08μm的失跟蹤時，使用檢測信號R2，則獲得約9.22％的抖動。若在+0.08μm的失跟蹤時，使用檢測信號R1，則獲得約9.22％的抖動。因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明可獲得具有好的特性和寬的裕度的再現(xiàn)信號。
在圖5中，表示了在切線傾斜期間，再現(xiàn)信號的檢測結(jié)果，按照本發(fā)明的再現(xiàn)信號的抖動值與現(xiàn)有技術(shù)的進(jìn)行了比較。當(dāng)負(fù)向傾斜時，檢測信號T1比現(xiàn)有技術(shù)和檢測信號R2具有更小的抖動。于是，在此情況下，檢測信號T1用作再現(xiàn)信號最好。當(dāng)正向傾斜時，檢測信號T2比現(xiàn)有技術(shù)和檢測信號T1具有更小的抖動。于是，在此情況下，檢測信號T2用作再現(xiàn)信號最好。
在本發(fā)明中，根據(jù)系統(tǒng)狀態(tài)、數(shù)據(jù)情況和/或從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間干擾，只有最小劣變的光檢測器件的某些輸出用來再現(xiàn)一信號。于是，改善檢測信號的抖動，并且能夠改善系統(tǒng)的性能。
此外，在本發(fā)明中，改善信號的解調(diào)程度，這是信號處理中最重要的因數(shù)。因此，減少信號失真和信號劣變，可以改善系統(tǒng)性能。
此外，使用本發(fā)明的再現(xiàn)信號增加了散焦裕度、失跟蹤裕度、徑向傾斜裕度和切線傾斜裕度，這樣可改善系統(tǒng)性能。
權(quán)利要求
1.一種使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的方法，該光檢測器件用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將接收的信號劃分成對應(yīng)于光檢測器件的區(qū)段的多個信號，該光檢測器件區(qū)段以矩陣排列，該矩陣具有光記錄介質(zhì)的切線方向上的行和徑向方向上的列，該方法包括步驟(a)根據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)，從光檢測器件的輸出信號中選擇比其它信號有更小劣變的某些信號；和(b)基于檢測結(jié)果，通過補償由于數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)引起的信號干擾量，從選擇信號中獲得再現(xiàn)信號。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(a)中，根據(jù)由于數(shù)據(jù)情況或從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾引起的信號干擾，選擇與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件輸出中的一個，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(a)中，根據(jù)由于散焦引起的信號干擾，選擇與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件輸出中的一個，所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(a)中，根據(jù)由于失跟蹤引起的信號干擾，選擇與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件輸出中的一個，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(a)中，根據(jù)由于徑向傾斜引起的信號干擾，選擇與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件輸出中的一個，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(a)中，根據(jù)由于切線傾斜引起的信號干擾，選擇與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件輸出中的一個，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在步驟(b)中，按照由于數(shù)據(jù)情況或從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾引起的信號干擾量，自適應(yīng)均衡光檢測器件的被選擇的輸出。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述再現(xiàn)信號用來增加系統(tǒng)的散焦裕度。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述再現(xiàn)信號用來增加系統(tǒng)的失跟蹤裕度。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述再現(xiàn)信號用來增加系統(tǒng)的徑向傾斜裕度。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述再現(xiàn)信號用來增加系統(tǒng)的切線傾斜裕度。
12.一種使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的方法，該光檢測器件包括光電檢測裝置，用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將所接收的信號劃分成多個信號，該方法包括下列步驟(a)檢測與一些信號的組合對應(yīng)的光檢測器件的輸出，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；和/或檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；和(b)檢測通過再現(xiàn)在步驟(a)中檢測的輸出獲得的輸出信號中的一個好的信號作為再現(xiàn)信號。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，還包括步驟(c)，通過檢測記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)，控制一個好的信號將被檢測為步驟(b)中的再現(xiàn)信號。
14.一種使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的設(shè)備，該光檢測器件包括光電檢測裝置，用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將所接收的信號劃分成多個信號，該設(shè)備包括檢測器，檢測對應(yīng)于一些信號的組合的光檢測器件的輸出，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；和/或檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；控制單元，根據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)的檢測結(jié)果，提供選擇控制信號和補償信號；補償器，根據(jù)選擇控制信號選擇通過檢測器提供的光檢測器件的某些輸出，并且根據(jù)補償信號自適應(yīng)補償選擇的輸出。
15.如權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中所述補償器包括選擇器，根據(jù)選擇控制信號選擇通過檢測器提供的光檢測器件的某些輸出；和均衡器，根據(jù)補償信號自適應(yīng)均衡光檢測器件的被選擇輸出。
16.一種使用光檢測器件檢測再現(xiàn)信號的設(shè)備，該光檢測器件包括光電檢測裝置，用于接收從光記錄介質(zhì)反射的光信號，并且將所接收的信號劃分成多個信號，該設(shè)備包括檢測器，檢測對應(yīng)于一些信號的組合的光檢測器件的輸出，所述一些信號與在光道方向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與在徑向排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；和/或檢測與一些信號的組合對應(yīng)的輸出，所述一些信號與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段相對應(yīng)；均衡器，用于均衡和再現(xiàn)檢測器的每一個輸出；和控制單元，根據(jù)記錄在光記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近的凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、和/或各種系統(tǒng)狀態(tài)的檢測結(jié)果，自適應(yīng)控制均衡器的均衡量，并且提供均衡器輸出信號中的一個好的信號作為再現(xiàn)信號。
全文摘要
一種檢測再現(xiàn)信號的方法和電路,該電路包括檢測器,控制單元和補償器。檢測器檢測對應(yīng)于一些信號的組合的光檢測器件的輸出,這些信號分別與在光道方向排列、與在徑向排列,與對角排列的光電檢測裝置的區(qū)段對應(yīng);控制單元根據(jù)記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)情況、從相近凹坑和從記錄介質(zhì)上相鄰光道反射/衍射的光信號之間的干擾、系統(tǒng)狀態(tài)檢測結(jié)果,提供選擇控制信號和補償信號;補償器自適應(yīng)補償選擇的輸出。因而只有光檢測器件的最小劣變的輸出被用作再現(xiàn)信號。
文檔編號G11B20/10GK1289115SQ00128779
公開日2001年3月28日 申請日期2000年9月21日 優(yōu)先權(quán)日1999年9月21日
發(fā)明者朱盛晨, 大塚達(dá)宏, 李坰根 申請人:三星電子株式會社