專利名稱：檢驗(yàn)光盤上的缺陷管理區(qū)信息的方法及測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤記錄和再現(xiàn)技術(shù)，特別涉及到一種在利用驗(yàn)證初始化時(shí)檢驗(yàn)可記錄和可再現(xiàn)光盤的缺陷管理區(qū)信息的方法，和用于執(zhí)行該方法的測(cè)試設(shè)備。
數(shù)字多用盤-隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DVD-RAM)具有用正?？捎涗泤^(qū)取代缺陷區(qū)的缺陷管理功能，并在其上的被稱作缺陷管理區(qū)(DMA)的部分存儲(chǔ)用于缺陷管理所必需的信息。這個(gè)DMA被反復(fù)記錄在光盤的四個(gè)部分兩部分在引入?yún)^(qū)，兩部分在引出區(qū)。DMA信息由盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)組成。
DMA信息除了包括在光盤被初始化時(shí)執(zhí)行檢驗(yàn)期間或使用光盤期間檢測(cè)的缺陷的信息以外，還包括在空閑區(qū)(spare area)的信息和在每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)中的重要信息。
在中包括的某些DMA信息可以立即讀出和使用。另一方面，DMA包括隨位置在盤上的缺陷數(shù)而改變的信息。即，一些信息，例如每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)的位置信息或第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置信息，只有通過根據(jù)給定的、基于登錄在DMA中的缺陷信息的算法執(zhí)行復(fù)雜的計(jì)算才能得到。
由于這樣的DMA信息與物理數(shù)據(jù)的記錄位置密切相關(guān)，因此諸如光盤之類的可取下記錄介質(zhì)在該DMA信息出錯(cuò)時(shí)，不可能與記錄和再現(xiàn)設(shè)備都順應(yīng)，其中光盤即使在其上的DMA信息是在另外的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中生成或更新的情況下，也可以在指定的記錄再現(xiàn)設(shè)備上使用。為了克服這種問題，期望一種檢驗(yàn)從盤中正確讀出DMA信息并在該盤上正確記錄DMA信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的設(shè)備和方法。
為了解決上述問題，本發(fā)明的第一個(gè)目的是提供一種檢驗(yàn)方法，用來檢驗(yàn)在光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中、在利用驗(yàn)證初始化時(shí)正確生成缺陷管理區(qū)(DMA)信息。
本發(fā)明的第二個(gè)目的是提供一種檢驗(yàn)方法，用來檢驗(yàn)在適用于可重復(fù)記錄和再現(xiàn)的DVD-RAM盤的光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中、在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)正確生成DMA信息。
本發(fā)明的第三個(gè)目的是提供一種測(cè)試設(shè)備，用來在光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中、在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)正確生成DMA信息。
本發(fā)明的其他目的和優(yōu)點(diǎn)將部分地在以下的描述中提出，并且部分地將會(huì)從該描述中明顯看出，或者可以通過本發(fā)明的實(shí)踐而明了。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其它目的，提供一種檢驗(yàn)在光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中適當(dāng)生成DMA信息的方法，其中該光盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有DMA信息的光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息。該方法包括步驟生成作為測(cè)試信息的缺陷管理信息，這是在一測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之后生成的，而這種測(cè)試盤是通過在空白盤上形成能識(shí)別的物理缺陷而獲得的；以及使用用于利用驗(yàn)證初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)該測(cè)試信息，以提供測(cè)試結(jié)果。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其它目的，本發(fā)明還提供一種用于測(cè)試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的設(shè)備，其中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有DMA信息的光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息，以檢查是否適當(dāng)生成DMA信息。該設(shè)備包括改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器單元，用于從包含在該測(cè)試盤中的DMA信息生成測(cè)試信息，而這種測(cè)試盤是通過在空白盤上形成能識(shí)別的物理缺陷而獲得的；以及檢驗(yàn)器，用于通過使用用于利用驗(yàn)證的初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)該測(cè)試信息，來檢驗(yàn)該測(cè)試結(jié)果。
通過參考附圖詳細(xì)地描述其優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)將變得更加明顯，其中

圖1是本發(fā)明的用于在利用驗(yàn)證初始化時(shí)執(zhí)行檢驗(yàn)光盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法的方框圖；圖2是表示為在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目的表。
圖3是表示為在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)檢驗(yàn)盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)所安排的檢查項(xiàng)目的表。
圖4是表示為在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)檢驗(yàn)主缺陷列表結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目的表。
圖5是表示為在利用驗(yàn)證的初始化時(shí)檢驗(yàn)次缺陷列表結(jié)構(gòu)所安排的檢查項(xiàng)目的表。
圖6是圖1所示的將被測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器的方框圖。
現(xiàn)在將詳細(xì)參考本發(fā)明的在該附示了其示例的本優(yōu)選實(shí)施例。以下通過參考這些附圖來描述本實(shí)施例，以解釋本發(fā)明。
本發(fā)明使用的光盤為具有4.7千兆字節(jié)(GB)大小的相變記錄DVD-RAM。這種DVD-RAM以可重寫盤版本2.0的DVD規(guī)格定義。
圖1是本發(fā)明的用于在利用驗(yàn)證初始化時(shí)執(zhí)行檢驗(yàn)光盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法的方框圖。
測(cè)試盤(以下稱為C-1盤)11是只有在空白盤的預(yù)定位置有意形成能識(shí)別的物理缺陷的盤。只要沒有記錄任何“信息”并只在C-1盤11上出現(xiàn)能識(shí)別的物理缺陷，就可以將該C-1盤11認(rèn)為是空白盤。要測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器110在C-1盤11上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成DMA信息并且將所生成DMA信息記錄在該C-1盤11上。將從要測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器110抽出的利用驗(yàn)證初始化了的C-1盤11，裝入能夠讀取DMA信息的改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器120。
改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器120是專門為進(jìn)行測(cè)試而制造的驅(qū)動(dòng)器，可以被稱為基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器。改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器120只能從利用驗(yàn)證12所初始化的C-1盤中讀取DMA信息，并且在文件系統(tǒng)中生成針對(duì)利用驗(yàn)證12所初始化的C-1所讀取的DMA信息的DMA鏡像文件(mirror file)50。要測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器110作為例如，DVD-RAM記錄和再現(xiàn)設(shè)備實(shí)現(xiàn)，并設(shè)計(jì)成不生成DMA信息的鏡像文件。
當(dāng)DVD-RAM記錄和再現(xiàn)設(shè)備的記錄和再現(xiàn)結(jié)構(gòu)被分成文件系統(tǒng)層、用于將主計(jì)算機(jī)與記錄和再現(xiàn)設(shè)備相連的主接口層、用于記錄和再現(xiàn)物理信號(hào)的物理驅(qū)動(dòng)層以及記錄介質(zhì)層時(shí)，由于由記錄介質(zhì)和物理驅(qū)動(dòng)器分配盤的邏輯扇區(qū)號(hào)，以及由主接口和文件系統(tǒng)分配盤的邏輯扇區(qū)號(hào)，因此在物理驅(qū)動(dòng)層及其以下的各個(gè)層中執(zhí)行DMA信息的寫入和讀取。
一般來說，當(dāng)數(shù)據(jù)記錄在計(jì)算機(jī)中的記錄介質(zhì)上時(shí)，記錄位置基于由文件系統(tǒng)所分配的邏輯扇區(qū)號(hào)確定。由邏輯扇區(qū)號(hào)所指示的文件位置是邏輯和相對(duì)位置信息。當(dāng)在驅(qū)動(dòng)器中執(zhí)行記錄操作時(shí)，考慮到盤的例如缺陷狀態(tài)的物理狀態(tài)，邏輯扇區(qū)號(hào)需要換算成指示一個(gè)數(shù)據(jù)實(shí)際上記錄在盤上的位置的物理扇區(qū)號(hào)。但是，當(dāng)用戶數(shù)據(jù)實(shí)際上由文件系統(tǒng)記錄時(shí)，該用戶數(shù)據(jù)僅僅使用邏輯扇區(qū)號(hào)傳輸?shù)接涗浐驮佻F(xiàn)設(shè)備，并且該記錄和再現(xiàn)設(shè)備使用缺陷管理信息將該邏輯扇區(qū)號(hào)換算成物理扇區(qū)號(hào)，其中物理扇區(qū)號(hào)指示數(shù)據(jù)實(shí)際記錄的位置。因此，當(dāng)包含在盤中的缺陷管理信息錯(cuò)誤地讀出和寫入給定的記錄和再現(xiàn)設(shè)備時(shí)，不能精確地從在其它記錄和再現(xiàn)設(shè)備中的盤上讀出數(shù)據(jù)，或者不能精確地寫入到其它記錄和再現(xiàn)設(shè)備中的盤上。
另外，在使用DVD-RAM盤的情況下，假定每個(gè)缺陷管理過程由驅(qū)動(dòng)器執(zhí)行，從而使得文件系統(tǒng)或主接口可以不使用與完成的物理缺陷管理過程相關(guān)的信息記錄或再現(xiàn)一個(gè)文件。因此，大多數(shù)驅(qū)動(dòng)器沒有提供記錄到DMA上或從DMA再現(xiàn)信息的功能，另外，沒有提供用于記錄到DMA上或從DMA再現(xiàn)信息的標(biāo)準(zhǔn)命令。然而，必須以任何方式準(zhǔn)備一個(gè)環(huán)境，以使得計(jì)算機(jī)可以讀取數(shù)據(jù)，該計(jì)算機(jī)可以分析DMA信息，以確定DMA信息是否被適當(dāng)?shù)貥?gòu)成，它必須能夠記錄與DMA相應(yīng)的精確的信息，以形成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試盤。為了有效地執(zhí)行這樣的操作，提供一個(gè)用于記錄到DMA上或從DMA再現(xiàn)信息的改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器。這種改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器可以很容易由本領(lǐng)域的熟練人員設(shè)計(jì)或獲得，因此這里省略關(guān)于它的描述。
檢驗(yàn)器130將利用驗(yàn)證12所初始化的C-1盤的DMA鏡像文件13與用于C-1盤11的基準(zhǔn)DMA鏡像文件比較，其中的DMA鏡像文件13是由改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器120從含有DMA信息的、由將被測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器110驅(qū)動(dòng)的盤中生成，檢驗(yàn)器130通知制造商或用戶執(zhí)行檢查DMA信息在利用驗(yàn)證初始化之后是否已被適當(dāng)?shù)厣傻臏y(cè)試的結(jié)果?；鶞?zhǔn)DMA鏡像文件被預(yù)先存儲(chǔ)或從外部提供(用于產(chǎn)生DMA鏡像文件的控制器)，盡管這里沒有顯示。該DMA鏡像文件可被稱作測(cè)試信息，而基準(zhǔn)DMA鏡像文件可被稱作預(yù)定測(cè)試信息。另外，該基準(zhǔn)DMA鏡像文件可被稱作包含沒有錯(cuò)誤的理想數(shù)據(jù)的DMA信息文件，其中的錯(cuò)誤是指當(dāng)一個(gè)驅(qū)動(dòng)器正常執(zhí)行整個(gè)操作時(shí)可能發(fā)生的錯(cuò)誤。
根據(jù)本發(fā)明的檢驗(yàn)方法包括從DMA信息中生成作為測(cè)試信息的DMA鏡像文件的步驟，其中的DMA信息是在測(cè)試盤上利用驗(yàn)證進(jìn)行初始化之后生成的，而測(cè)試盤是通過在一個(gè)空白盤上形成能識(shí)別的物理缺陷獲得的，檢驗(yàn)方法還包括以用于利用驗(yàn)證初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)測(cè)試信息以提供測(cè)試結(jié)果的步驟。該DMA鏡像文件包括用于測(cè)試目的的特殊信息和所有DMA信息。該改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器120可以將DMA鏡像文件中的DMA信息寫入到一個(gè)盤中的DMA存儲(chǔ)區(qū)，也可以將該盤中的DMA信息存儲(chǔ)到DMA鏡像文件中。在利用驗(yàn)證初始化時(shí)將要檢驗(yàn)的DMA信息的測(cè)試項(xiàng)目將參考圖2到5進(jìn)行描述。
如圖2所示，用于檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)的檢驗(yàn)項(xiàng)目是DMA1到DMA4、在DDS1到DDS4和SDL1到SDL4中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、SDL1到SDL4中的SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA1到DMA4的內(nèi)容的錯(cuò)誤狀態(tài)。
DMA錯(cuò)誤狀態(tài)的項(xiàng)目是用于檢驗(yàn)是否在DMAs中存在錯(cuò)誤，它們中的兩個(gè)位于引入?yún)^(qū)，兩個(gè)位于引出區(qū)。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA4這四個(gè)DMAs中必需沒有無法修復(fù)的錯(cuò)誤。如果在這個(gè)DMAs的任何一個(gè)中檢出任何無法修復(fù)的錯(cuò)誤，則斷定相關(guān)的檢驗(yàn)是失敗的，必須使用一張新的測(cè)試盤再次進(jìn)行測(cè)試。
在利用驗(yàn)證的初始化的情況下，檢查指示在四個(gè)DDSs即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，和在四個(gè)SDLs即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值的值M是否為“0”，和指示代表DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在測(cè)試前和后的差的計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。還檢驗(yàn)八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。這里，每個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值指示在DDS/PDL模塊上執(zhí)行的更新和重寫操作的總次數(shù)。每個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值在初始化開始時(shí)必需設(shè)置為“0”，并且DDS/PDL模塊每被更新或重寫一次就增加1。當(dāng)初始化完成后，DDS/PDL和SDL模塊必需具有相同的更新計(jì)數(shù)器值。同樣，還檢查指示在四個(gè)SDLs即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“0”，以及指示代表SDL更新計(jì)數(shù)器在測(cè)試前和后的差的SDL計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。還檢查四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
記錄在用于檢測(cè)盤的開始處的缺陷的驗(yàn)證之前的DMA的基本結(jié)構(gòu)。在DMA的DDS內(nèi)的盤的驗(yàn)證標(biāo)志中指示“正在進(jìn)行”的位值被設(shè)置為“1”的狀態(tài)下，每個(gè)更新計(jì)數(shù)器的值在驗(yàn)證開始時(shí)被設(shè)置成初始值為“0”。當(dāng)DMA在驗(yàn)證結(jié)束后通過在DMA中記錄關(guān)于缺陷的信息進(jìn)行更新時(shí)，更新計(jì)數(shù)器的值按1遞增。
為了檢驗(yàn)DMA的內(nèi)容，要檢查四個(gè)DMAs即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的內(nèi)容是否相同。
如圖3所示，用于檢驗(yàn)DMA中的DDS的檢查項(xiàng)目包括DDS識(shí)別符、盤驗(yàn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、存儲(chǔ)區(qū)數(shù)、主空閑區(qū)(primary spsreerea)的位置、第一邏輯扇區(qū)的位置(LSN0)、每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的開始的LSN等。
檢驗(yàn)DDS識(shí)別符是“0A0Ah”。檢查指示盤驗(yàn)證標(biāo)志的一個(gè)字節(jié)正在進(jìn)行/不在進(jìn)行的該位的位置b7的值是否為“0b”。如果位位置b7的值是“0b”，這指示格式化完成。如果該位位置b7的值是“1b”，這指示正在進(jìn)行格式化。因此，當(dāng)該位位置b7的值是“1b”時(shí)，這指示格式化失敗。另外，檢查是否在盤的驗(yàn)證標(biāo)志中的保留的位位置b6到b2都是“0b”，并且檢查指示用戶驗(yàn)證標(biāo)志的位位置的值b1是否為“0b”。還檢查指示盤制造商驗(yàn)證標(biāo)志的位位置的值b0是否為“0b”。
為了檢驗(yàn)對(duì)應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，要檢查指示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的值M是否為“0”，以及指示該計(jì)數(shù)器的增量的值k是否為“1”。還要檢查組號(hào)數(shù)值是否為“0001h”,“0001h”指示組號(hào)數(shù)是1，以及存儲(chǔ)區(qū)號(hào)數(shù)是否為“0023h”,“0023h”指示存儲(chǔ)區(qū)號(hào)數(shù)是35。
另外，檢查主空閑區(qū)的第一扇區(qū)的號(hào)數(shù)是否為“031000h”，以及主空閑區(qū)的最后一個(gè)扇區(qū)的號(hào)數(shù)是否為“0341FFh”。檢查L(zhǎng)SN0的位置是否是根據(jù)登錄在PDL中的缺陷數(shù)來確定的，和每一存儲(chǔ)區(qū)的開始LSD(即第二存儲(chǔ)區(qū)(存儲(chǔ)區(qū)1)，至第35存儲(chǔ)區(qū)(存儲(chǔ)區(qū)34)的開始LSD)是否是基于登錄在PDL中的缺陷數(shù)量確定的。這里，登錄在PDL中的缺陷是C-1盤上的能識(shí)別的物理缺陷。即使在C-1盤上存在其它未知缺陷，在對(duì)于測(cè)試盤的利用驗(yàn)證初始化時(shí)，也不考慮它們。在C-1盤上含有能識(shí)別的缺陷的每個(gè)扇區(qū)必須作為缺陷扇區(qū)登錄在PDL中。換句話說，通過測(cè)試，能夠檢查PDL結(jié)構(gòu)是否正確，并且還能夠檢查要測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器是否適當(dāng)?shù)貦z測(cè)了缺陷。
檢查在DDS結(jié)構(gòu)中剩余的保留區(qū)(字節(jié)位置396到2047)都是“00h”。
另外，將一個(gè)盤中用于缺陷管理的空閑區(qū)分成主空閑區(qū)、次級(jí)空閑區(qū)和輔助空閑區(qū)。當(dāng)一個(gè)盤被初始化以用于置換缺陷時(shí)被首先賦值的主空閑區(qū)，是主要用于平移置換的(slipping replacement)。剩余空閑區(qū)可被用作線性置換的次級(jí)空閑區(qū)。用于在一個(gè)盤的使用過程中發(fā)生的缺陷的線性置換的次級(jí)空閑區(qū)，被定義為在初始化期間主空閑區(qū)被用于平移置換后剩余的空閑區(qū)?；蛘撸摯渭?jí)空閑區(qū)可被個(gè)別賦值。輔助空閑區(qū)用于在一個(gè)盤的使用過程中發(fā)生的缺陷的線性置換。該輔助空閑區(qū)在盤初始化之后在使用過程中另外賦值。
當(dāng)在初始化之后使用一個(gè)盤的過程中缺乏用于線性置換的空閑區(qū)時(shí)，用于線性置換的輔助空閑區(qū)以這樣的方式被賦值，即該輔助空閑區(qū)以從文件系統(tǒng)中的邏輯卷區(qū)的末端開始的反方向，以預(yù)定大小逐漸遞增。該輔助空閑區(qū)還在線性置換期間從邏輯卷區(qū)的末端開始的反向使用。
如圖4所示，用于檢驗(yàn)DMA中的PDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括PDL識(shí)別符、PDL中的項(xiàng)數(shù)、PDL項(xiàng)的完整性和未使用的存儲(chǔ)區(qū)。
檢查PDL識(shí)別符是否為“0001h”。在PDL中的項(xiàng)數(shù)指示能識(shí)別的物理缺陷和在制造期間在每張盤上以不同方式發(fā)生的缺陷數(shù)。為了檢驗(yàn)PDL項(xiàng)的完整性，要檢查項(xiàng)類型和缺陷扇區(qū)的數(shù)。檢查PDL項(xiàng)類型是否為“10b”，“10b”指示在用戶驗(yàn)證期間檢測(cè)的缺陷扇區(qū)的G1-列表。按上升順序?qū)懭朐赑DL中的缺陷扇區(qū)號(hào)。在對(duì)應(yīng)于能識(shí)別的物理缺陷數(shù)的PDL項(xiàng)全部寫入后，以及在制造期間在每個(gè)盤上不同發(fā)生的缺陷扇區(qū)上的所有信息都被寫入后，檢查剩余的未使用存儲(chǔ)區(qū)是否為“FFh”。
如圖5所示，用于檢驗(yàn)DMA中的SDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括SDL識(shí)別符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次級(jí)空閑區(qū)(SSA)的開始扇區(qū)號(hào)數(shù)、邏輯扇區(qū)的總數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、空閑區(qū)滿標(biāo)志、SDL中項(xiàng)數(shù)、SDL項(xiàng)的完整性、未使用區(qū)、保留區(qū)等等。
檢查SDL識(shí)別符是否是“0002h”。為了檢驗(yàn)對(duì)應(yīng)的SDL更新計(jì)數(shù)器，需要檢查指示該SDL更新計(jì)數(shù)器的值N是否是“0”，以及指示該SDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否是“1”。為了檢驗(yàn)對(duì)應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，需要檢查指示該DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值M是否是“0”，以及指示該DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量的值k是否是“1”。
在利用驗(yàn)證初始化的情況下，根據(jù)在初始化時(shí)由用戶指定的次空閑區(qū)的大小，檢查SSA的起始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)總數(shù)是否具有適當(dāng)?shù)闹??？臻e區(qū)的滿標(biāo)志必須指示次空閑區(qū)不滿。SDL中的項(xiàng)目數(shù)必須設(shè)置成“00h”，它是通常指示什么也沒有的值。此外，因?yàn)榧褐猄DL的總已使用區(qū)，所以，如果檢查SDL中的項(xiàng)目數(shù)，則能夠確定SDL的未使用區(qū)的大小。因此，檢查C-1盤13的鏡像文件區(qū)的大小是否是等于SDL的未使用區(qū)的大小，而后者可以基于SDL中的項(xiàng)目數(shù)知道，并且還檢查未使用區(qū)是否設(shè)置成“FFh”。此外，檢查所有保留區(qū)的期望值是否是“00h”。但是當(dāng)用于測(cè)試的C-1盤的狀態(tài)十分差時(shí)，可能生成SDL項(xiàng)。因此，最好使用狀態(tài)足夠好的C-1盤。
圖6表示了這樣的要測(cè)試的驅(qū)動(dòng)器110，它具有用以發(fā)光的光源22、用以將來自光源的光聚焦在盤D上的聚焦元件24以及控制光源22的控制器26。上述驗(yàn)證過程搜索以檢驗(yàn)控制器26的適當(dāng)操作。
如上所述，使用含有能識(shí)別的物理缺陷的測(cè)試盤，本發(fā)明容易適當(dāng)?shù)貦z驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備解釋和處理在利用驗(yàn)證初始化后生成的DMA信息。
雖然表示和描述了本發(fā)明的少數(shù)幾個(gè)最優(yōu)實(shí)施例，但本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該清楚，可以對(duì)這個(gè)實(shí)施例在不脫離本發(fā)明的原理和構(gòu)思、權(quán)利要求書所限定的范圍及其等效的前提下，進(jìn)行多種改變。
權(quán)利要求
1．一種檢驗(yàn)在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中適當(dāng)生成DMA信息的方法，其中該記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有DMA信息的光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息，該方法包括步驟生成缺陷管理信息作為測(cè)試信息，它是在一測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之后生成的，而該測(cè)試盤是通過在空白盤上形成能識(shí)別的物理缺陷而獲得的；以及使用對(duì)于利用證的初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)該測(cè)試信息，以提供測(cè)試結(jié)果。
2．如權(quán)利要求1所述的方法，其中測(cè)試信息是一DMA鏡像文件。
3．如權(quán)利要求1所述的方法，其中生成步驟包括直接從在利用驗(yàn)證初始化過的測(cè)試盤上的DMA區(qū)中讀出測(cè)試信息。
4．如權(quán)利要求1所述的方法，還包括顯示測(cè)試結(jié)果。
5．如權(quán)利要求1所述的方法，其中檢驗(yàn)步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)，并且檢查是否存在通過驗(yàn)證所知道的物理缺陷的G1-列表的各PDL項(xiàng)。
6．如權(quán)利要求1所述的方法，其中檢驗(yàn)步驟包括檢驗(yàn)測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)；檢驗(yàn)DMA中的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)；檢驗(yàn)DMA中的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)；以及檢驗(yàn)DMA中的次缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)。
7．如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)步驟包括檢查錯(cuò)誤狀態(tài)、DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA的內(nèi)容。
8．如權(quán)利要求7所述的方法，其中檢查錯(cuò)誤狀態(tài)步驟包括檢查在四個(gè)DMA的任何一個(gè)中是否存在錯(cuò)誤，其中的四個(gè)DMA是在測(cè)試盤上的四個(gè)位置寫入的DMA，其中的兩個(gè)位于該測(cè)試盤上引入?yún)^(qū)，而另外兩個(gè)位于該測(cè)試盤上的導(dǎo)出區(qū)；檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的步驟包括檢查四個(gè)DDS和四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，以及檢查這八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；檢查SDL更新計(jì)數(shù)器的步驟包括檢查四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后、SDL更新計(jì)數(shù)器中的差的SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，以及檢查這四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；和檢查DMA的內(nèi)容的步驟包括檢查四個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。
9．如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)DDS的步驟包括檢查DDS識(shí)別符、盤驗(yàn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、存儲(chǔ)區(qū)數(shù)、主空閑區(qū)位置和第一邏輯扇區(qū)號(hào)以及每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)的位置。
10．如權(quán)利要求9所述的方法，其中檢查DDS識(shí)別符的步驟包括檢查DDS識(shí)別符是否是預(yù)定值；檢查盤驗(yàn)證標(biāo)志的步驟包括檢查在盤驗(yàn)證標(biāo)志中，指示正在進(jìn)行的位的值和指示盤制造商驗(yàn)證的位的值是否均為“0b”，以及檢查指示用戶驗(yàn)證的位的值是否是“1b”；檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”；檢查組數(shù)的步驟包括檢查組數(shù)是否是預(yù)定數(shù)；檢查存儲(chǔ)區(qū)數(shù)的步驟包括檢查存儲(chǔ)區(qū)數(shù)是否是預(yù)定數(shù)；檢查主空閑區(qū)的位置的步驟包括檢查主空閑區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)是否分別是預(yù)定扇區(qū)號(hào)；檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)的步驟包括檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置是否是基于登錄在PDL中的缺陷數(shù)進(jìn)行確定的；檢查起始邏輯扇區(qū)號(hào)的步驟包括檢查每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)是否是基于登錄在PDL中的缺陷數(shù)進(jìn)行確定的；
11．如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查PDL識(shí)別符、PDL中的項(xiàng)數(shù)以及PDL項(xiàng)的完整性。
12．如權(quán)利要求11所述的方法，其中檢查PDL識(shí)別符的步驟包括檢查PDL識(shí)別符是否是預(yù)定值；檢查項(xiàng)數(shù)的步驟包括檢查PDL中的項(xiàng)數(shù)是否與登錄在PDL中的缺陷數(shù)相同；以及檢查PDL的完整性的步驟包括檢查PDL項(xiàng)的類型是否指示在用戶驗(yàn)證期間所檢測(cè)缺陷扇區(qū)的G1-列表，并檢查對(duì)應(yīng)的缺陷扇區(qū)號(hào)。
13．如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查SDL識(shí)別符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次空閑區(qū)的起始扇區(qū)號(hào)、邏輯扇區(qū)的總數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、空閑區(qū)滿標(biāo)志、SDL中的項(xiàng)數(shù)、SDL項(xiàng)的完整性、未使用的區(qū)以及保留區(qū)。
14．如權(quán)利要求13所述的方法，其中檢查SDL識(shí)別符的步驟包括檢查SDL識(shí)別符是否是預(yù)定值；檢查SDL更新計(jì)數(shù)器的步驟包括檢查SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后、SDL更新計(jì)數(shù)器中的差的SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”；檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”；檢查SSA的起始扇區(qū)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)的步驟包括檢查SSA的起始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否根據(jù)用戶指定的SSA的大小適當(dāng)設(shè)置；檢查空閑區(qū)滿標(biāo)志、SDL中的項(xiàng)數(shù)、SDL項(xiàng)的完整性的步驟包括檢查空閑區(qū)滿標(biāo)志是否指示次空閑區(qū)不滿，檢查SDL中的項(xiàng)數(shù)是否設(shè)置成指示不存在任何項(xiàng)的“00h”，以及檢查是否不存在關(guān)于SDL項(xiàng)的信息；和檢查未使用區(qū)和保留區(qū)的步驟包括檢查SDL的未使用區(qū)的大小和未使用區(qū)是否是預(yù)定值，以及保留區(qū)是否是預(yù)定值。
15．如權(quán)利要求1所述的方法，其中記錄和再現(xiàn)設(shè)備是數(shù)字多用盤-隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。
16．如權(quán)利要求2所述的方法，其中基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
17．如權(quán)利要求16所述的方法，其中基準(zhǔn)DMA鏡像文件包含無錯(cuò)誤的理想數(shù)據(jù)。
18．如權(quán)利要求8所述的方法，其中檢查四個(gè)DMA的任何一個(gè)中是否存在錯(cuò)誤的步驟包括檢查四個(gè)DMA中是否存在無法糾正的錯(cuò)誤；和如果發(fā)現(xiàn)任何無法糾正的錯(cuò)誤，則確定為不能檢驗(yàn)。
19．如權(quán)利要求10所述的方法，其中在盤驗(yàn)證標(biāo)志中指示正在進(jìn)行的位是b7，指示用戶驗(yàn)證的位是b1，指示制造商驗(yàn)證的位是b0，和盤驗(yàn)證標(biāo)志的b6至b2是保留位，其中檢查盤驗(yàn)證標(biāo)志的步驟還包括檢查每個(gè)保留位的值是否是“0b”。
20．如權(quán)利要求12所述的方法，其中檢驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)的步驟還包括檢查PDL的未使用區(qū)是否是預(yù)定值。
21．如權(quán)利要求14所述的方法，其中檢驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)的步驟還包括檢查SDL的未使用區(qū)是否是預(yù)定值。
22．一種檢驗(yàn)在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當(dāng)生成或更新DMA信息的方法，其中該記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有DMA信息的光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息，該方法包括步驟從DMA信息中生成測(cè)試信息，其中DMA信息是在執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之后生成的；以及使用基準(zhǔn)測(cè)試信息執(zhí)行用于檢驗(yàn)該測(cè)試信息的測(cè)試。
23．如權(quán)利要求22所述的方法，其中測(cè)試信息是一DMA鏡像文件，和基準(zhǔn)測(cè)試信息是一基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
24．如權(quán)利要求22所述的方法，其中執(zhí)行測(cè)試步驟還包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
25．如權(quán)利要求10所述的方法，其中檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)的步驟還包括檢查DDS中剩下的保留區(qū)是否都具有預(yù)定值。
26．一種用于測(cè)試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的設(shè)備，其中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有DMA信息的可記錄和可再現(xiàn)的光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息，以檢查是否適當(dāng)生成DMA信息，該設(shè)備包括改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器單元，用于從測(cè)試盤所生成的DMA信息生成測(cè)試信息，它是該記錄和再現(xiàn)設(shè)備在該測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化后獲得的；以及檢驗(yàn)器，用于將該測(cè)試信息與利用驗(yàn)證的初始化的預(yù)定測(cè)試信息比較，以檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。
27．如權(quán)利要求26所述的設(shè)備，其中測(cè)試信息是一DMA鏡像文件并且預(yù)定測(cè)試信息是一基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
28．如權(quán)利要求26所述的設(shè)備，其中改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器單元從測(cè)試盤上DMA區(qū)中讀取該測(cè)試信息，并將該測(cè)試信息提供給檢驗(yàn)器。
29．如權(quán)利要求26所述的設(shè)備，其中該測(cè)試盤是在執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前在一空盤上形成能識(shí)別的物理缺陷的盤。
30．如權(quán)利要求26所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、盤定義結(jié)構(gòu)、主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)，將該測(cè)試信息與該預(yù)定測(cè)試信息比較。
31．一種檢驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)信息的方法，包括在包含預(yù)定的能識(shí)別的物理缺陷信息的測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成測(cè)試信息；和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
32．如權(quán)利要求31所述的方法，其中執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化步驟包括讓記錄和再現(xiàn)設(shè)備在該測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成含有該DMA信息的盤。利用一基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器從該盤僅讀出DMA信息，以便產(chǎn)生DMA鏡像文件作為測(cè)試信息；其中該基準(zhǔn)測(cè)試信息是一基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
33．如權(quán)利要求31所述的方法，其中比較步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
34．一種檢驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)信息的方法，包括使用該記錄和再現(xiàn)設(shè)備，在包含預(yù)定的能識(shí)別的物理缺陷信息的測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成測(cè)試信息；從所生成的DMA信息中生成該測(cè)試信息；和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
35．如權(quán)利要求34所述的方法，其中比較步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
36．一種由記錄和再現(xiàn)設(shè)備適當(dāng)生成的DMA信息，利用下列過程、使用該記錄和再現(xiàn)設(shè)備，在測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成DMA信息；從所生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
37．如權(quán)利要求36所述的DMA信息，其中該DMA信息包括該DMA的結(jié)構(gòu)、該DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、該DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)，其中比較步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
38．一種記錄和再現(xiàn)設(shè)備，根據(jù)下列過程檢驗(yàn)在測(cè)試盤上利用重新初始化執(zhí)行驗(yàn)證，以生成DMA信息；從所生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
39．如權(quán)利要求38所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中比較該測(cè)試的步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
40．一種記錄和再現(xiàn)設(shè)備，根據(jù)下列過程檢驗(yàn)在包含預(yù)定缺陷信息的測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化，以生成測(cè)試信息；將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
41．如權(quán)利要求40所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中比較該測(cè)試的步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
42．一種用于測(cè)試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的設(shè)備，其中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備在含有缺陷管理區(qū)信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤記錄信息，或從該光盤再現(xiàn)信息，以檢查DMA信息是否被適當(dāng)?shù)厣桑撛O(shè)備包括改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器，基于通過一個(gè)再現(xiàn)設(shè)備在測(cè)試盤上利用驗(yàn)證執(zhí)行初始化生成的測(cè)試盤的DMA信息生成測(cè)試信息；和檢驗(yàn)器，將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
43．如權(quán)利要求42所述的設(shè)備，其中改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器從測(cè)試盤僅讀取DMA信息以生成作為測(cè)試信息的DMA鏡像文件。其中該測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
44．如權(quán)利要求42所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器從外部信源接收該基準(zhǔn)測(cè)試信息，以在該測(cè)試信息和該基準(zhǔn)測(cè)試信息之間進(jìn)行比較。
45．如權(quán)利要求42所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)，將該測(cè)試信息與預(yù)定的測(cè)試信息比較。
46．一個(gè)制造順應(yīng)性的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的方法，包括制造一個(gè)更新和生成缺陷管理區(qū)信息的未驗(yàn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備；和檢驗(yàn)未驗(yàn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備是順應(yīng)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，所述的檢驗(yàn)步驟包括在測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化以生成測(cè)試信息，和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)，指示未驗(yàn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備順應(yīng)該標(biāo)準(zhǔn)的檢驗(yàn)。
47．如權(quán)利要求46所述的方法，其中比較步驟包括檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
48．一種用于在光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光源，用以發(fā)光；聚焦元件，用以將該光線聚焦到光盤上以便記錄信息或由其再現(xiàn)信息；和控制器，用以控制所述的光源，通過下列過程檢驗(yàn)所述控制器以更新和生成缺陷管理區(qū)信息在盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化以生成測(cè)試信息，和將該測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息比較，以確定該記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
49．如權(quán)利要求48所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中控制器檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
50．一種用于在光盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備光源，用以發(fā)光；聚焦元件，用以將該光線聚焦到用以記錄信息或由其再現(xiàn)信息的光盤上；和控制器，用以控制所述的光源，和在光盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化后更新和生成缺陷管理區(qū)信息，以使得該缺陷管理區(qū)信息順應(yīng)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。
51．如權(quán)利要求50所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中控制器檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)。
52．一種用于測(cè)試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的設(shè)備，其中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備記錄信息到含有缺陷管理區(qū)信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤、或從這種光盤再現(xiàn)信息，以檢查DMA信息是否被適當(dāng)?shù)厣?，該設(shè)備包括改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器單元，用以從記錄在該盤上的信息中生成測(cè)試信息，該測(cè)試信息是在該記錄和再現(xiàn)設(shè)備通過在空盤上形成能識(shí)別的物理缺陷所獲得的測(cè)試盤上執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化后獲得的；和檢驗(yàn)器，用以通過使用關(guān)于利用驗(yàn)證的初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)該測(cè)試信息來檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。
53．如權(quán)利要求52所述的設(shè)備，其中測(cè)試信息是DMA鏡像文件。
54．如權(quán)利要求53所述的設(shè)備，其中所述改進(jìn)型驅(qū)動(dòng)器將直接來自DMA區(qū)的測(cè)試信息記錄在利用驗(yàn)證初始化過的測(cè)試盤上。
55．如權(quán)利要求52所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器檢查構(gòu)成該測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)、DMA的主缺陷列表結(jié)構(gòu)以及次缺陷列表結(jié)構(gòu)，并檢查PDL是否存在通過驗(yàn)證能識(shí)別的物理缺陷的G1列表的PDL項(xiàng)。
56．如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過檢查DMA的錯(cuò)誤狀態(tài)、DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA的內(nèi)容來檢查DMA結(jié)構(gòu)。
57．如權(quán)利要求56所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器檢查在四個(gè)DMA的任何一個(gè)中是否存在錯(cuò)誤，其中的四個(gè)DMA是在測(cè)試盤上的四個(gè)位置寫入的DMA，其中的兩個(gè)位于該測(cè)試盤上引入?yún)^(qū)，而另外兩個(gè)位于該測(cè)試盤上的導(dǎo)出區(qū)，檢查四個(gè)DDS和四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，檢查這八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，檢查四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后的SDL更新計(jì)數(shù)器中的差的SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，檢查這四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，和檢查四個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。
58．如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過包括DDS識(shí)別符、盤驗(yàn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、存儲(chǔ)區(qū)數(shù)、主空閑區(qū)位置和第一邏輯扇區(qū)號(hào)以及每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)的位置，來檢查該DDS。
59．如權(quán)利要求58所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器檢查DDS識(shí)別符是否是預(yù)定值，檢查在盤驗(yàn)證標(biāo)志中，指示正在進(jìn)行的位的值和指示盤制造商驗(yàn)證的位的值是否均為“0b”，以及檢查指示用戶驗(yàn)證的位的值是否是“1b”，檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，分別檢查組數(shù)和存儲(chǔ)區(qū)數(shù)是否是預(yù)定數(shù)，檢查主空閑區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)是否是預(yù)定扇區(qū)號(hào)，檢查第一邏輯扇區(qū)號(hào)是否基于登錄在PDL中的缺陷數(shù)確定，以及對(duì)于每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)的起始邏輯扇區(qū)號(hào)是否是基于登錄在PDL中的缺陷數(shù)確定。
60．如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過檢查PDL識(shí)別符、PDL中的項(xiàng)數(shù)以及PDL項(xiàng)的完整性檢查PDL結(jié)構(gòu)。
61．如權(quán)利要求60所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器檢查PDL識(shí)別符是否是預(yù)定值，檢查PDL中的項(xiàng)數(shù)是否與登錄在PDL中的缺陷數(shù)相同，以及檢查PDL項(xiàng)的類型是否指示在用戶驗(yàn)證期間所檢測(cè)缺陷扇區(qū)的G1-列表，并檢查對(duì)應(yīng)的缺陷扇區(qū)號(hào)。
62．如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器通過檢查SDL識(shí)別符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次空閑區(qū)的起始扇區(qū)號(hào)、邏輯扇區(qū)的總數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、空閑區(qū)滿標(biāo)志、SDL中的項(xiàng)數(shù)、和SDL項(xiàng)的完整性來檢查SDL結(jié)構(gòu)。
63．如權(quán)利要求62所述的設(shè)備，其中檢驗(yàn)器檢查SDL識(shí)別符是否是預(yù)定值，檢查SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證初始化之前和之后的SDL更新計(jì)數(shù)器中的差的SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“0”，以及檢查代表執(zhí)行利用驗(yàn)證的初始化之前和之后的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，檢查SSA的起始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)是否根據(jù)用戶指定的SSA的大小適當(dāng)設(shè)置，檢查空閑區(qū)滿標(biāo)志是否指示次空閑區(qū)不滿，檢查SDL中的項(xiàng)數(shù)是否設(shè)置成指示不存在任何項(xiàng)的“00h”，和檢查關(guān)于SDL項(xiàng)的信息是否不存在。
全文摘要
一種檢驗(yàn)在利用驗(yàn)證初始化的光盤上的缺陷管理區(qū)信息的方法,和用于執(zhí)行該檢驗(yàn)的測(cè)試設(shè)備。該方法包括生成缺陷管理信息作為測(cè)試信息,其在對(duì)通過在空白盤上形成能識(shí)別的物理缺陷獲得的測(cè)試盤,執(zhí)行利用驗(yàn)證初始化之后,及為提供測(cè)試結(jié)果而使用關(guān)于利用驗(yàn)證初始化的基準(zhǔn)測(cè)試信息檢驗(yàn)該測(cè)試信息生成。因此,使用含有能識(shí)別的物理缺陷的測(cè)試盤,可容易地檢驗(yàn)一記錄和再現(xiàn)設(shè)備適當(dāng)?shù)亟忉尯吞幚砝抿?yàn)證的初始化之后生成的DMA信息。
文檔編號(hào)G11B20/10GK1321981SQ01116268
公開日2001年11月14日 申請(qǐng)日期2001年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2000年4月8日
發(fā)明者高禎完, 鄭鉉權(quán) 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社