專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種光盤裝置，且特別是有關(guān)于一種對(duì)可重復(fù)記錄式光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置。
光盤記錄時(shí)的激光束其最佳記錄功率Pw與最佳擦除功率Pe，依照個(gè)別的光盤種類、記錄裝置、記錄速度而相異。因此，為了以實(shí)際進(jìn)行記錄時(shí)的光盤種類、記錄裝置、記錄速度的組合以設(shè)定最佳記錄功率Pw與最佳擦除功率Pe，在記錄情報(bào)數(shù)據(jù)之前進(jìn)行稱為功率控制最佳化(Optimum Power Control，OPC)的記錄功率分類動(dòng)作。
接著對(duì)公知可擦寫式光盤裝置的功率控制最佳化動(dòng)作進(jìn)行說明。在光盤的記錄面上如圖6所示，設(shè)置有作為測(cè)試記錄區(qū)域的功率分類區(qū)域(Power Calibration Area，PCA)，借以設(shè)定記憶各種數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)域以及激光束的最佳記錄功率。功率分類區(qū)域設(shè)置于光盤的最內(nèi)周，由測(cè)試區(qū)域(Test Area)與計(jì)算區(qū)域(Count Area)所構(gòu)成，測(cè)試區(qū)域由100個(gè)分割區(qū)(Partition)所構(gòu)成。而且，個(gè)別的分割區(qū)由15個(gè)圖框(Frame)所構(gòu)成。進(jìn)行一次的功率控制最佳化動(dòng)作使用一個(gè)分割區(qū)，對(duì)構(gòu)成分割區(qū)的15個(gè)圖框，以15階段的激光功率記錄測(cè)試信號(hào)。此測(cè)試信號(hào)為具有基準(zhǔn)時(shí)間幅寬T(T為在標(biāo)準(zhǔn)速度(1倍速)頻率4.32MHz的1周期約230nsec)的3倍～11倍時(shí)間幅寬的脈沖列所構(gòu)成的EFM調(diào)變信號(hào)，于圖框以9程度的長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記加以記錄。
以激光束照射對(duì)此些圖框，并通過檢測(cè)來自光盤的反射光，于再生測(cè)試信號(hào)的同時(shí)，測(cè)定個(gè)別的作為再生信號(hào)的振幅大小表示指針的調(diào)變度m。
m＝I11/I top此處如圖7所示，I11是由11T以及地面(Land，記錄標(biāo)記與記錄標(biāo)記之間的部分)形成檢測(cè)信號(hào)振幅，I3是由3T記錄標(biāo)記與地面構(gòu)成檢測(cè)信號(hào)振幅，I top為地面部分的光反射率。且調(diào)變度m因應(yīng)記錄功率Pw而變化。
尚且在記錄功率低時(shí)，再生信號(hào)的振幅小，調(diào)變度m也變小，隨著記錄功率變大，調(diào)變度m也隨之變大。當(dāng)記錄功率變大至某程度時(shí)則使得調(diào)變度m飽和。由于此開始產(chǎn)生飽和所對(duì)應(yīng)的記錄功率Pw在記錄時(shí)具有最少的跳動(dòng)(Jitter)或錯(cuò)誤(Error)，因此此時(shí)的記錄功率值能夠判定為最佳記錄功率Pwo。
然后，設(shè)定此些信號(hào)記錄時(shí)的記錄功率并加以使用。而且，最佳擦除功率Peo，是使用絕對(duì)信息時(shí)間(Absolute Time In Pregroove，ATIP)內(nèi)已記錄的系數(shù)εo(擦除/記錄功率比)，并由最佳記錄功率Pwo設(shè)定。
Peo＝εo×Pwo擦寫的方法有先擦除記錄的信號(hào)再記錄的方法與直接復(fù)寫(Direct Overwrite)的方式。在實(shí)際使用上幾乎不使用完全擦除再記錄的方式，通常是使用直接復(fù)寫的方式，然而直接復(fù)寫的方式具有以下的問題。
通常記錄功率的選擇是使用功率控制最佳化，以選擇光盤裝置或光盤(媒體)的最佳記錄功率，考慮適當(dāng)?shù)男盘?hào)振幅(調(diào)變度)、復(fù)寫性能、適度擦寫耐久性等最佳記錄功率條件以選擇記錄功率，并僅在任意的同一光盤裝置內(nèi)進(jìn)行記錄與再生的復(fù)寫的話，通常并不會(huì)產(chǎn)生任何問題。
然而，由于CD-RW等擦寫式光盤為互換式媒體，也可能會(huì)發(fā)生在其它公司的光盤裝置記錄數(shù)據(jù)，然后在不同的光盤裝置上復(fù)寫的情形。此時(shí)，如果完成記錄功率以高記錄功率(調(diào)變度強(qiáng))進(jìn)行記錄的話，在復(fù)寫時(shí)的擦除功率時(shí)會(huì)發(fā)生擦除殘余的情形。
也即是在復(fù)寫時(shí)，以將記錄標(biāo)記寫入的記錄功率與形成無記錄標(biāo)記部分(Space)的擦除功率兩種功率的光進(jìn)行照射，以于既存的記錄區(qū)域上進(jìn)行復(fù)寫，然而在軌上既存的記錄狀態(tài)過強(qiáng)的情形下，由于此擦除功率無法完全的將其擦除，在擦除區(qū)域會(huì)顯現(xiàn)既存的信號(hào)。此些會(huì)使得復(fù)寫后的再生信號(hào)的載體/噪聲比(Carrier to Noise Ratio，C/NRatio)惡化，并使錯(cuò)誤率增大。
為了避免上述情形，也考慮使用將記錄功率與擦除功率一并提高的方法，然而會(huì)使得光盤擦寫耐久性變差而縮短盤片壽命，并且記錄后的光盤加載其它光盤裝置中記錄時(shí)，會(huì)產(chǎn)生復(fù)寫特性惡化而在讀取信號(hào)之際使錯(cuò)誤率增大等問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的第1種光盤裝置，其在對(duì)光盤照射光束以進(jìn)行記錄以及/或是再生的光盤裝置中，具有一檢測(cè)手段，于信息記錄時(shí)，評(píng)價(jià)于前述光盤記錄的信號(hào)的信號(hào)品質(zhì)，一功率控制手段，于信息記錄時(shí)，基于前述檢測(cè)手段的信號(hào)品質(zhì)的評(píng)價(jià)結(jié)果，控制照射于前述光盤的光束的功率。
本發(fā)明提供的第2種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，基于以擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)其峰值與谷值所得擦除殘余調(diào)變度，評(píng)價(jià)前述信號(hào)品質(zhì)，通過前述功率控制手段變更前述光束的功率，以使前述檢測(cè)手段所檢測(cè)出的前述擦除殘余調(diào)變度接近預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度。
本發(fā)明提供的第3種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段檢測(cè)出對(duì)前述光盤預(yù)先記錄的信號(hào)，并基于此檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)信號(hào)品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第4種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，檢測(cè)出前述信號(hào)的循環(huán)重復(fù)檢查(Cyclic Redundancy Check，CRC)的結(jié)果，并基于此檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)前述信號(hào)的品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第5種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，通過檢測(cè)用以識(shí)別前述光盤上掃描位置的地址的錯(cuò)誤存在與否，并基于此檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)前述信號(hào)的品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第6種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，檢測(cè)出前述信號(hào)中的同步圖案的檢測(cè)其有無，并基于此檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)前述信號(hào)品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第7種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，檢測(cè)出前述檢測(cè)結(jié)果的錯(cuò)誤次數(shù)，并基于前述錯(cuò)誤次數(shù)評(píng)價(jià)前述信號(hào)品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第8種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，檢測(cè)出前述檢測(cè)結(jié)果的錯(cuò)誤發(fā)生率，并基于前述錯(cuò)誤發(fā)生率評(píng)價(jià)前述信號(hào)品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第9種光盤裝置，其為通過前述檢測(cè)手段，檢測(cè)出作為前述信號(hào)的波動(dòng)信號(hào)，并基于前述波動(dòng)信號(hào)的周期，評(píng)價(jià)前述信號(hào)的品質(zhì)。
本發(fā)明提供的第10種光盤裝置，其為通過前述功率控制手段，預(yù)先求得且成為基準(zhǔn)的光束功率做為基準(zhǔn)以變更光束功率。
依本發(fā)明的話，評(píng)價(jià)記錄時(shí)的信號(hào)品質(zhì)，并基于評(píng)價(jià)結(jié)果變更光束功率的最佳值。依此，即使在例如于進(jìn)行復(fù)寫時(shí)，之前記錄的標(biāo)記為過記錄功率時(shí)或是偏軌(off-track)記錄的場(chǎng)合，通過增加擦除功率，以能夠確實(shí)的進(jìn)行擦除。依此，能夠避免地址錯(cuò)誤等以正確的記錄新的標(biāo)記。而且，由于能夠通過正確的記錄標(biāo)記以降低復(fù)寫時(shí)的擦除功率，能夠提高媒體的壽命。
本發(fā)明提供的第11種光盤裝置，其為在對(duì)可復(fù)寫式光盤進(jìn)行記錄的光盤裝置中，具有一功率控制最佳化手段，此功率控制最佳化手段在加載光盤時(shí)，以可變的光束記錄功率，在前述光盤的測(cè)試記錄區(qū)域進(jìn)行記錄，并通過前述測(cè)試記錄區(qū)域的再生信號(hào)求得最佳記錄功率，一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度計(jì)算手段，以前述功率控制最佳化手段所得的最佳記錄功率，在前述光盤的測(cè)試記錄區(qū)域上進(jìn)行復(fù)寫測(cè)試記錄，通過擦除功率光束所擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)求取峰值與谷值，且由前述峰值與谷值計(jì)算出并保持抹基準(zhǔn)除殘余調(diào)變度，一擦除功率變更手段，于記錄情報(bào)數(shù)據(jù)時(shí)，求取由擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)其峰值與谷值，由峰值與谷值算出擦除殘余調(diào)變度，并通過變更擦除功率以使計(jì)算出的擦除殘余調(diào)變度接近基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度。
依本發(fā)明的話，通過將擦除功率接近至適當(dāng)?shù)闹?，在擦除功率弱的?chǎng)合提高擦除功率，以能夠確保復(fù)寫記錄部分的信號(hào)讀取錯(cuò)誤率維持良好數(shù)值，并且在擦除功率強(qiáng)的場(chǎng)合降低擦除功率，以能夠不損及可擦寫式光盤的壽命。
本發(fā)明提供的第12種光盤裝置，其為在上述第11種光盤裝置中的擦除功率變更手段，求取對(duì)基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度的計(jì)算出的擦除殘余調(diào)變度的增加量，并求取此擦除殘余調(diào)變度對(duì)前述基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度的增加量所對(duì)應(yīng)擦除/記錄功率比的增加量，并且由前述擦除/記錄功率比的增加量求取變更的擦除功率，依本發(fā)明的話，能夠使擦除功率接近適當(dāng)?shù)臄?shù)值。
30主軸馬達(dá)32光盤34線程馬達(dá)36光讀取頭38激光驅(qū)動(dòng)器40前方監(jiān)視器42自動(dòng)激光功率控制(ALPC)43功率控制電路44波動(dòng)信號(hào)處理部46信號(hào)再生電路48聚焦/尋軌伺服電路50傳送伺服電路52主軸伺服電路54光盤(CD)編碼/譯碼電路56記錄補(bǔ)償電路58只讀式光盤(CD-ROM)編碼/譯碼電路60接口/緩沖控制器62CPU66模擬/數(shù)字(D/A)轉(zhuǎn)換器68音頻信號(hào)放大器70取樣保持電路72峰值保持電路74谷值保持電路76模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器S10、S12、S14、S16、S20、S22、S24、S26、S28、S31、S32、S33、S34、S35、S41、S42、S43、S44、S45、S51、S52、S53、S54、S55、S61、S62、S63、S64、S65、S71、S72、S73、S74、S75、S76、S77步驟激光驅(qū)動(dòng)器38使激光二極管發(fā)光以輸出激光，并以前方監(jiān)視器40檢測(cè)激光束的光強(qiáng)度以輸出。自動(dòng)激光功率控制(Automatic LaserPower Control，ALPC)42是由CPU(Central Processing Unit，CPU)62控制，并基于前方監(jiān)視器(Front Monitor)40的輸出控制激光驅(qū)動(dòng)器，以使激光束的功率最佳化。
功率控制電路43是基于工廠出貨時(shí)所算出的功率射出光量對(duì)激光驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電壓的關(guān)系，計(jì)算出對(duì)應(yīng)激光驅(qū)動(dòng)器電壓的功率射出光量，并重疊至記錄用激光功率的記錄功率。
波動(dòng)信號(hào)處理器44進(jìn)行絕對(duì)信息時(shí)間(ATIP)信號(hào)的解調(diào)處理。尚且，在記錄式光盤上設(shè)置有導(dǎo)引用的溝(Pregroove)。溝以中心頻率22.05kHz于半徑(Radial)方向波動(dòng)(Wobble)，稱為絕對(duì)信息時(shí)間(Absolute Time In Pregroove，ATIP)記錄時(shí)的地址信息，是以最大偏移±1kHz的移頻鍵控(Frequency Shift Keying，F(xiàn)SK)變頻多重記錄。
信號(hào)再生電路46將光讀取頭36所供給的再生信號(hào)放大并且再生。此信號(hào)再生電路46包含矩陣放大器(Matrix Amp)，以將主信號(hào)的其它各種伺服信號(hào)取出并輸出至各伺服電路。聚焦/尋軌伺服電路48驅(qū)動(dòng)促動(dòng)器，以進(jìn)行聚焦伺服與尋軌伺服的控制。傳送電路50驅(qū)動(dòng)控制線程馬達(dá)34。主軸伺服電路52驅(qū)動(dòng)控制主軸馬達(dá)30。
光盤(CD)編碼/譯碼電路54進(jìn)行交錯(cuò)插入六線讀取碼(CrossInterleaved Read-solomon Code，CIRC)的編碼/譯碼、8到14調(diào)變(Eightto Fourteen Modulation，EFM)的調(diào)變/解調(diào)以及同步檢測(cè)等處理。記錄補(bǔ)償電路對(duì)于由光盤編碼/譯碼電路54所送至的記錄數(shù)據(jù)，進(jìn)行符合媒體記錄時(shí)特性的數(shù)據(jù)補(bǔ)正處理。此時(shí)的補(bǔ)正量依照記錄層的特性，記錄激光的輪廓(Profile)、記錄的進(jìn)行線速度等而變化。
只讀式光盤(CD-ROM)編碼/譯碼電路58是進(jìn)行只讀式光盤固有的錯(cuò)誤校正碼(Error Correct Code，ECC)的編碼/譯碼以及表頭(Header)的檢測(cè)等處理。接口/緩沖控制器60是控制與主計(jì)算機(jī)之間的數(shù)據(jù)傳送接收以及數(shù)據(jù)緩沖。隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(Random Access Memory，RAM)59、61為暫時(shí)儲(chǔ)存進(jìn)行數(shù)據(jù)處理用數(shù)據(jù)的輔助存儲(chǔ)器。
取樣保持電路70是由光盤編碼/譯碼電路54所供給的記錄數(shù)據(jù)辨認(rèn)擦除功率(Space)的時(shí)序(Timing)，并取樣擦除功率的時(shí)序中由光讀取頭36供給的反射光的檢測(cè)信號(hào)(為2分割面受光面的光電變換信號(hào)相加的信號(hào)，在再生時(shí)為再生信號(hào))。
此處圖2A、圖2B所示的波形圖，是個(gè)別為第一次記錄時(shí)的取樣脈沖(擦除功率的時(shí)序)以及由光讀取頭36供給的反射光的檢測(cè)信號(hào)(為2分割面受光面的光電變換信號(hào)相加的信號(hào)，在再生時(shí)為再生信號(hào))的波形圖。而且圖3A、圖3B所示的波形圖，是個(gè)別為復(fù)寫時(shí)的取樣脈沖與檢測(cè)信號(hào)的波形圖。
峰值保持電路72保持由取樣保持電路70所供給的檢測(cè)信號(hào)的峰值電平(Peak Level，最大值)。而且，谷值保持電路74保持由取樣保持電路70所供給的檢測(cè)信號(hào)的谷值電平(Bottom Level，最小值)。上述的峰值電平與谷值電平以模擬/數(shù)字變換器(A/D Converter)76數(shù)字化并供給至CPU62。
也即是，將擦除功率的時(shí)序中所取樣的峰值電平與谷值電平供給至CPU62。CPU62則由此擦除功率時(shí)序的峰值電平(P)與谷值電平(B)，以得到擦除區(qū)域的擦除殘余調(diào)變度mw[mw＝(P-B)/P]。
CPU62內(nèi)藏有CPU62的存儲(chǔ)器(ROM、RAM以及非揮發(fā)性RAM)，為負(fù)責(zé)控制包含機(jī)械動(dòng)作CD-R/RW驅(qū)動(dòng)全體的控制的微電腦。數(shù)字/模擬變換器66將只讀式光盤編碼/譯碼電路58所送出的音頻信號(hào)數(shù)據(jù)變換為模擬信號(hào)。并由音頻信號(hào)放大器68將經(jīng)模擬變換的音頻信號(hào)放大、輸出。
而且，CPU62在擦除功率以及記錄功率變更的場(chǎng)合對(duì)自動(dòng)激光功率控制42進(jìn)行控制。尚且，CPU62的存儲(chǔ)器(ROM)預(yù)先登錄調(diào)變度增加量x[％]對(duì)應(yīng)擦除記錄功率比ε(＝擦除功率/記錄功率)的增加量[％]的對(duì)應(yīng)表。
圖4為CPU62進(jìn)行功率控制最佳化動(dòng)作時(shí)處理的一實(shí)施例的流程圖。
在圖4中，CPU62于步驟S10，在光盤加載后判別是否有最初的寫入動(dòng)作，如果有最初的寫入動(dòng)作，則于步驟S12中進(jìn)行功率控制最佳化動(dòng)作，對(duì)構(gòu)成功率分類區(qū)域的測(cè)試區(qū)域中的一個(gè)分割區(qū)的15個(gè)圖框，以15階段的激光功率記錄測(cè)試信號(hào)以決定最佳記錄功率。其后于步驟S14對(duì)測(cè)試區(qū)域其它的分隔區(qū)以最佳記錄功率進(jìn)行記錄，更于當(dāng)該分割區(qū)以最佳記錄功率進(jìn)行復(fù)寫記錄，于步驟16計(jì)算出復(fù)寫記錄時(shí)擦除區(qū)域的擦除殘余調(diào)變度mw(15圖框的平均值)，以此擦除殘余調(diào)變度mw作為基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度mwo并儲(chǔ)存于CPU62的內(nèi)藏存儲(chǔ)器(非揮發(fā)性RAM)。
尚且，也可以在功率分類區(qū)域的計(jì)算區(qū)域中的一個(gè)圖框上進(jìn)行復(fù)寫記錄，以取代在步驟S14時(shí)對(duì)測(cè)試區(qū)域其它的分隔區(qū)進(jìn)行復(fù)寫記錄。在此場(chǎng)合不需耗費(fèi)在測(cè)試區(qū)域的其它部分進(jìn)行測(cè)試，因此進(jìn)行復(fù)寫記錄的時(shí)間能夠縮短，然而由于所檢測(cè)出的擦除殘余調(diào)變度mw僅有1圖框的檢測(cè)值，因此擦除殘余調(diào)變度mw的精確度較低。
圖5為CPU62進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)(Running)功率控制最佳化動(dòng)作處理的一實(shí)施例的流程圖。尚且，運(yùn)轉(zhuǎn)功率控制最佳化動(dòng)作是指記錄情報(bào)數(shù)據(jù)時(shí)的來自記錄標(biāo)記的反射光強(qiáng)度，與前述功率控制最佳化時(shí)的最佳記錄功率的來自記錄標(biāo)記的反射光強(qiáng)度做比較，并基于比較結(jié)果，以功率控制最佳化所求得的最佳記錄功率為目標(biāo)，隨時(shí)對(duì)現(xiàn)在的記錄進(jìn)行補(bǔ)正并進(jìn)行記錄情報(bào)數(shù)據(jù)的動(dòng)作。
在圖5中，CPU62于步驟S20判別是否在進(jìn)行記錄動(dòng)作中，在記錄動(dòng)作中則計(jì)算出步驟S22記錄部分其擦除區(qū)域的擦除殘余調(diào)變度mw，然后于步驟S24求取此擦除殘余調(diào)變度mw，并與儲(chǔ)存于CPU62的內(nèi)藏存儲(chǔ)器(非揮發(fā)性RAM)的基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度mwo做比較。依此比較在mw＞mwo+α的場(chǎng)合。于步驟S26計(jì)算出擦除殘余調(diào)變度mw對(duì)基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度mwo的增加量x，由登錄于CPU62的存儲(chǔ)器(ROM)中的對(duì)應(yīng)表，求取前述擦除殘余調(diào)變度mw的增加量x所對(duì)應(yīng)的擦除/記錄功率比的增加量y，由此擦除/記錄功率比的增加量y與現(xiàn)在的記錄功率，求取新的擦除功率并加以更新。
另一方面，于步驟S24中，在mw＜mwo-α的場(chǎng)合。于步驟S28計(jì)算出擦除殘余調(diào)變度mw對(duì)基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度mwo的增加量-x，由登錄于CPU62的存儲(chǔ)器(ROM)中的對(duì)應(yīng)表，求取前述擦除殘余調(diào)變度mw的增加量x所對(duì)應(yīng)的擦除/記錄功率比的增加量-y，由此擦除/記錄功率比的增加量-y與現(xiàn)在的記錄功率，求取新的擦除功率并加以更新。前述擦除功率的更新是以CPU62控制自動(dòng)激光功率控制42以進(jìn)行。
依此將擦除功率的值接近至適當(dāng)?shù)闹担诓脸β嗜醯膱?chǎng)合提高擦除功率，以能夠確保復(fù)寫記錄部分的信號(hào)讀取錯(cuò)誤率維持良好數(shù)值，并且在擦除功率強(qiáng)的場(chǎng)合降低擦除功率，而能夠不損及可擦寫式光盤的壽命。
尚且，步驟S12對(duì)應(yīng)功率控制最佳化手段，步驟S14、S16對(duì)應(yīng)基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度計(jì)算手段，步驟S20～步驟S28對(duì)應(yīng)擦除功率變更手段。
尚且，于本實(shí)施例計(jì)算出擦除殘余調(diào)變度mw，并基于擦除殘余調(diào)變度mw變更擦除功率，然而也可以基于所取得的記錄動(dòng)作時(shí)地址的錯(cuò)誤發(fā)生次數(shù)，以變更擦除功率。
圖8為本發(fā)明第二實(shí)施例的擦除功率變更處理的流程圖。
尚且，由于本實(shí)施例的構(gòu)成與

圖1相同，故省略其說明。
本實(shí)施例的擦除功率變更處理動(dòng)作，是在記錄動(dòng)作中進(jìn)行。
首先，CPU62于步驟S31中判別是否于記錄動(dòng)作中。CPU62于步驟S31中判別為進(jìn)行記錄動(dòng)作的場(chǎng)合，不變更擦除功率。而且，CPU62于步驟S31判定進(jìn)行記錄的場(chǎng)合，以步驟S32檢測(cè)ATIP信號(hào)。
CPU62基于ATIP信號(hào)，于步驟S33進(jìn)行第1擦除功率變更處理，于步驟S34進(jìn)行第2擦除功率變更處理，于步驟S35進(jìn)行第3擦除功率變更處理。尚且，擦除功率于每次記錄開始時(shí)返回基準(zhǔn)擦除功率。尚且，基準(zhǔn)擦除功率是媒體插入時(shí)，通過OPC所預(yù)先得到的擦除功率。
首先，對(duì)第1擦除功率變更處理進(jìn)行說明。第1擦除功率變更處理系基于ATIP信號(hào)中的循環(huán)重復(fù)檢查(Cyclic Redundancy Check，CRC)的結(jié)果以變更擦除功率。
圖9為第1擦除功率變更處理的流程圖。
CPU62于步驟S41進(jìn)行CRC檢查，其次CPU62于步驟S42判斷CRC的檢查結(jié)果為“不佳(NG)”或是“良好(OK)”。
CPU62于步驟S42的CRC的檢查結(jié)果為“不佳”時(shí)，于步驟S43判定是否連續(xù)兩次檢測(cè)出“不佳”。此判定結(jié)果即成為信號(hào)品質(zhì)的評(píng)價(jià)結(jié)果。CPU62未連續(xù)兩次檢測(cè)出“不佳”的話，則結(jié)束第1擦除功率變更處理。
而且，CPU62于步驟S43連續(xù)兩次檢測(cè)出“不佳”的場(chǎng)合，于步驟S44判定擦除功率的增加量是否為已知基準(zhǔn)擦除功率的10％。
CPU62于步驟S44擦除功率的增加量超過已知基準(zhǔn)擦除功率10％的場(chǎng)合，結(jié)束第1擦除功率變更處理。而且，CPU62于步驟S44擦除功率的增加量未到達(dá)已知基準(zhǔn)擦除功率10％的話，于步驟S45將擦除功率增加一階段。尚且，若將連續(xù)錯(cuò)誤次數(shù)的限度訂為10次的話，則一階段設(shè)定為基準(zhǔn)消去功率的2％。
通過以上CRC的檢查結(jié)果以檢測(cè)出信號(hào)品質(zhì)，在信號(hào)品質(zhì)不佳時(shí)，通過增加擦除功率以變更擦除功率。
其次說明第2擦除功率變更處理。第2擦除功率變更處理為基于ATIP信號(hào)中的地址的錯(cuò)誤以變更擦除功率。
圖10為第2擦除功率變更處理的流程圖。
CPU62于步驟S51檢測(cè)出ATIP地址。其次CPU62于步驟S52判定ATIP的檢測(cè)結(jié)果是否為“不佳”。CPU62于步驟S52判定為正常檢測(cè)的場(chǎng)合，結(jié)束第2擦除功率變更處理。
CPU62于步驟S52判定為檢測(cè)出“不佳”的場(chǎng)合，其次于步驟S53判定是否為過去20次的檢測(cè)結(jié)果中的第二次檢測(cè)出“不佳”。此判定結(jié)果即相當(dāng)于信號(hào)品質(zhì)的評(píng)價(jià)結(jié)果，通過此判定結(jié)果能夠判定ATIP地址的錯(cuò)誤發(fā)生率是否為10％。
CPU62在此次檢測(cè)出的“錯(cuò)誤”不是過去20次中的第二次的話，結(jié)束第2擦除功率變更處理。而且，CPU62于步驟53連續(xù)2次檢測(cè)出“不佳”的場(chǎng)合，于步驟S54判斷擦除功率增加量是否為基準(zhǔn)擦除功率的10％。
CPU62于步驟S54判定擦除功率增加量超過已知基準(zhǔn)擦除功率的10％時(shí)，結(jié)束第二擦除變更處理。而且，CPU62于步驟S54判定擦除功率增加量超過已知基準(zhǔn)擦除功率的10％時(shí)，于步驟S55將擦除功率增加一階段。尚且，若將連續(xù)錯(cuò)誤次數(shù)的限度訂為10次的話，則一階段設(shè)定為基準(zhǔn)消去功率的2％。
通過以上ATIP地址的檢測(cè)結(jié)果以檢測(cè)出信號(hào)品質(zhì)，在信號(hào)品質(zhì)不佳時(shí)，通過增加擦除功率以變更擦除功率。尚且，擦除功率的控制系通過與第一實(shí)施例相同的方法進(jìn)行。
其次說明第3擦除功率變更處理。第3擦除功率變更處理是基于ATIP信號(hào)中的同步檢測(cè)結(jié)果以變更擦除功率。
圖11為第3擦除功率變更處理的流程圖。
CPU62于步驟S61檢測(cè)同步圖案。其次CPU62于步驟S62判定是否未檢測(cè)出同步圖案。
CPU62于步驟S62正常檢測(cè)出同步圖案的場(chǎng)合，結(jié)束第3擦除功率變更處理。而且，CPU62于步驟S62未檢測(cè)出同步圖案的場(chǎng)合，于步驟S63判定是否連續(xù)兩次未檢測(cè)出同步圖案。
CPU62于步驟S63判定未連續(xù)兩次未檢測(cè)出同步圖案的場(chǎng)合，結(jié)束第三擦除功率處理。而且，CPU62于步驟S63判定連續(xù)兩次未檢測(cè)出同步圖案的場(chǎng)合，于步驟S64判定擦除功率增加量是否為增加基準(zhǔn)擦除功率的10％。
CPU62于步驟S64判定擦除功率增加量超過基準(zhǔn)擦除功率的10％時(shí)，結(jié)束第三擦除變更處理。而且，CPU62于步驟S54判定擦除功率增加量超過基準(zhǔn)擦除功率的10％時(shí)，于步驟S65將擦除功率增加一階段。
通過以上的同步圖案檢測(cè)結(jié)果以檢測(cè)信號(hào)品質(zhì)，在信號(hào)品質(zhì)不佳時(shí)，通過增加擦除功率以變更擦除功率。
尚且，第1擦除功率變更處理，是在CRC檢查結(jié)果兩次連續(xù)“不佳”時(shí)，將擦除功率增加一階段，然而也可以如同ATIP地址在過去20次中第2次“不佳”時(shí)，將擦除功率增加一階段。而且，第2擦除功率變更處理，是在ATIP地址的錯(cuò)誤在過去20次中產(chǎn)生第2次時(shí)，將擦除功率增加一階段，然而也可以與同步圖案相同，于連續(xù)兩次發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，將擦除功率增加一階段。再者，第1擦除功率變更處理，是在連續(xù)兩次未檢測(cè)出同步圖案的場(chǎng)合將擦除功率增加一階段，然而也可以如同ATIP地址在過去20次中第2次未檢測(cè)出時(shí)，將擦除功率增加一階段。
尚且，于本實(shí)施例是基于ATIP信號(hào)的品質(zhì)變更擦除功率，然而也可以基于波動(dòng)信號(hào)的品質(zhì)變更擦除功率。
圖12為本發(fā)明第三實(shí)施例的擦除功率變更處理的流程圖。
尚且，由于本實(shí)施例的構(gòu)成與第一實(shí)施例相同，故省略其說明。
CPU62供給2值化的波動(dòng)信號(hào)。首先CPU62于步驟S71判定是否于記錄動(dòng)作中。CPU62于步驟S71判定未在記錄動(dòng)作中的場(chǎng)合，不進(jìn)行擦除功率的變更。而且，CPU62于步驟S71判定在記錄動(dòng)作中的場(chǎng)合，于步驟S72判定是否檢測(cè)出2值化波動(dòng)信號(hào)。于步驟S72判定檢測(cè)出2值化波動(dòng)信號(hào)的場(chǎng)合，于步驟S73激活內(nèi)藏定時(shí)器。
CPU62于定時(shí)器激活后，于步驟S74計(jì)算2值化的波動(dòng)信號(hào)。CPU62于步驟S75判定是否到達(dá)波動(dòng)信號(hào)的100脈沖份量的周期τ100。步驟S74在內(nèi)藏定時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間到達(dá)波動(dòng)信號(hào)的100脈沖份量的周期τ100為止，計(jì)算2值化的波動(dòng)信號(hào)。
記錄再生速度為1倍速的場(chǎng)合，波動(dòng)信號(hào)的頻率為22.05kHz。依此，其周期τ0成為45.3μs。而且，2值化波動(dòng)信號(hào)的100脈沖的周期成為τ100＝100*τ0＝453μs依此，若為品質(zhì)良好的波動(dòng)信號(hào)，453μs則應(yīng)為略100脈沖。
CPU62于步驟S75當(dāng)內(nèi)藏定時(shí)器的計(jì)時(shí)時(shí)間到達(dá)波動(dòng)信號(hào)的100脈沖周期的τ100時(shí)，則于步驟S76判定波動(dòng)信號(hào)的計(jì)算值是否在96～104計(jì)數(shù)的范圍內(nèi)。CPU62于步驟S76當(dāng)波動(dòng)信號(hào)的計(jì)算值在96～104計(jì)數(shù)的范圍時(shí)，由于能夠判斷波動(dòng)信號(hào)的品質(zhì)沒有問題，返回步驟S71續(xù)行記錄動(dòng)作。
而且，CPU62于步驟S76判定波動(dòng)信號(hào)的計(jì)算值未在96～104計(jì)數(shù)的范圍內(nèi)時(shí)，由于波動(dòng)信號(hào)的品質(zhì)產(chǎn)生問題，于步驟S77增加一階段的擦除功率。
尚且，本實(shí)施例通過2值化波動(dòng)信號(hào)的周期是否為預(yù)定的周期以評(píng)價(jià)信號(hào)品質(zhì)，然而也可以通過檢測(cè)出波動(dòng)信號(hào)所包含的跳動(dòng)(Chattering)以評(píng)價(jià)信號(hào)品質(zhì)。而能夠以跳動(dòng)多的話信號(hào)品質(zhì)差，跳動(dòng)少的話信號(hào)品質(zhì)良好以進(jìn)行評(píng)價(jià)。
但是，波動(dòng)信號(hào)供給CPU62時(shí)，會(huì)通過信號(hào)處理去除跳動(dòng)。依此需取得去除跳動(dòng)之前的波動(dòng)信號(hào)以檢測(cè)跳動(dòng)。
將包含跳動(dòng)的波動(dòng)信號(hào)脈沖化，并計(jì)算其邊界。邊界的計(jì)算值多的話能夠判斷為跳動(dòng)多，計(jì)算值少的話能夠判斷為跳動(dòng)少。依此計(jì)算值評(píng)價(jià)信號(hào)品質(zhì)，當(dāng)信號(hào)品質(zhì)差，也即是計(jì)算值較預(yù)先設(shè)定的一定值大的話，將擦除功率增加一階段。
依上述實(shí)施例的話，由于基于記錄時(shí)的信號(hào)品質(zhì)變更擦除功率，于復(fù)寫時(shí)，即使之前的記錄標(biāo)記為過記錄功率時(shí)或是偏軌記錄時(shí)的場(chǎng)合，能夠通過增加擦除功率確實(shí)的進(jìn)行擦除。依此，能夠避免地址錯(cuò)誤等以記錄新的標(biāo)記。
而且，由于上述實(shí)施例是在記錄時(shí)由信號(hào)品質(zhì)檢測(cè)出媒體狀態(tài)，增加擦除功率，因此擦除功率不會(huì)成為不必要的過大設(shè)定。依此，記錄時(shí)對(duì)光盤的傷害少，能夠提高復(fù)寫的耐久性。
尚且，上述實(shí)施例于檢測(cè)出擦除功率的錯(cuò)誤時(shí)，由基準(zhǔn)擦除功率一階段一階段的逐漸增加，然而也可以于檢測(cè)出擦除功率的錯(cuò)誤時(shí)一次至最大擦除功率，其后通過未檢測(cè)出錯(cuò)誤，一階段一階段的逐漸減少。
尚且，上述實(shí)施例僅變更擦除功率，也可以同時(shí)變更記錄功率。
依本發(fā)明的話，評(píng)價(jià)記錄時(shí)的信號(hào)品質(zhì)，并基于評(píng)價(jià)結(jié)果變更光束功率的最佳值。依此，即使在例如于進(jìn)行復(fù)寫時(shí)，之前記錄的標(biāo)記為過記錄功率時(shí)或是偏軌記錄的場(chǎng)合，通過增加擦除功率以能夠確實(shí)的進(jìn)行擦除。依此，能夠避免地址錯(cuò)誤等以正確記錄新的標(biāo)記。而且，由于能夠通過正確的記錄標(biāo)記以降低復(fù)寫時(shí)的擦除功率，而能夠提高媒體的壽命。
而且，依本發(fā)明的話，在加載光盤時(shí)，通過一功率控制最佳化手段，此功率控制最佳化手段在加載光盤時(shí)，以可變的光束記錄功率，在光盤的測(cè)試記錄區(qū)域進(jìn)行記錄，并通過測(cè)試記錄區(qū)域的再生信號(hào)求得最佳記錄功率。一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度計(jì)算手段，以功率控制最佳化手段所得的最佳記錄功率，在光盤的測(cè)試記錄區(qū)域上進(jìn)行復(fù)寫測(cè)試記錄。以擦除功率光束所擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)求取峰值與谷值，且由峰值與谷值計(jì)算出并保持擦除殘余調(diào)變度。一擦除功率變更手段，于記錄情報(bào)數(shù)據(jù)時(shí)，求取由擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)其峰值與谷值，由峰值與谷值算出擦除殘余調(diào)變度，通過變更擦除功率以使計(jì)算出的擦除殘余調(diào)變度接近基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度，通過將擦除功率接近至適當(dāng)?shù)闹担诓脸β嗜醯膱?chǎng)合提高擦除功率，以能夠確保復(fù)寫記錄部分的信號(hào)讀取錯(cuò)誤率維持良好數(shù)值，并且在擦除功率強(qiáng)的場(chǎng)合降低擦除功率，以能夠不損及可擦寫式光盤的壽命。
再者，依本發(fā)明的話，擦除功率變更手段求取對(duì)基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度的計(jì)算出的擦除殘余調(diào)變度的增加量，并求取此擦除殘余調(diào)變度的增加量所對(duì)應(yīng)擦除/記錄功率比的增加量，并且由擦除/記錄功率比的增加量求取變更的擦除功率，以使擦除功率能夠接近適當(dāng)?shù)臄?shù)值。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，該光盤裝置是對(duì)一光盤照射一光束以進(jìn)行記錄以及/或是再生，其特征是，該裝置具有一檢測(cè)手段，于信息記錄時(shí)，評(píng)價(jià)于該光盤記錄的一信號(hào)的一信號(hào)品質(zhì)；以及一功率控制手段，于信息記錄時(shí)，基于該檢測(cè)手段的該信號(hào)品質(zhì)的評(píng)價(jià)結(jié)果，控制照射于該光盤的該光束的功率。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征是，其中該檢測(cè)手段基于由擦除區(qū)域之反射光的檢測(cè)信號(hào)之峰值與谷值所得的一擦除殘余調(diào)變度，以評(píng)價(jià)該信號(hào)品質(zhì)；以及該功率控制手段變更該光束的功率，以使該檢測(cè)手段所檢測(cè)出的該擦除殘余調(diào)變度接近預(yù)先設(shè)定的一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征是，其中該檢測(cè)手段檢測(cè)對(duì)該光盤預(yù)先記錄的該信號(hào)，并基于檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)信號(hào)品質(zhì)。
4.如權(quán)利要求3所述的光盤裝置，其特征是，其中該檢測(cè)手段檢測(cè)出該信號(hào)的一循環(huán)重復(fù)檢查(Cyclic Redundancy Check，CRC)的結(jié)果，并基于檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)該信號(hào)的品質(zhì)。
5.如權(quán)利要求3所述的光盤裝置，其特征是，其中該檢測(cè)手段，通過檢測(cè)用以識(shí)別該光盤上掃描位置的地址的錯(cuò)誤是否存在，并基于檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)該信號(hào)的品質(zhì)。
6.如權(quán)利要求3所述的光盤裝置，其特征是，其中該檢測(cè)手段檢測(cè)出該信號(hào)中的同步圖案檢測(cè)其有無，并基于檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)該信號(hào)品質(zhì)。
7.如權(quán)利要求1、2、3、4、5或6所述的光盤裝置，其特征是，該檢測(cè)手段檢測(cè)出該檢測(cè)結(jié)果的一錯(cuò)誤次數(shù)，并基于該錯(cuò)誤次數(shù)評(píng)價(jià)該信號(hào)品質(zhì)。
8.如權(quán)利要求1、2、3、4、5或6所述的光盤裝置，其特征是，該檢測(cè)手段檢測(cè)出該檢測(cè)結(jié)果的一錯(cuò)誤發(fā)生率，并基于該錯(cuò)誤發(fā)生率評(píng)價(jià)該信號(hào)品質(zhì)。
9.如權(quán)利要求3所述的光盤裝置，其特征是，該檢測(cè)手段檢測(cè)出作為該信號(hào)的一波動(dòng)信號(hào)，并基于該波動(dòng)信號(hào)的周期評(píng)價(jià)該信號(hào)的品質(zhì)。
10.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征是，該功率控制手段以預(yù)先求得且成為基準(zhǔn)的一光束功率作為基準(zhǔn)以變更光束功率。
11.一種光盤裝置，能夠進(jìn)行可擦寫式光盤的記錄，其特征是，該光盤裝置具備有一功率控制最佳化(Optimum Power Control，OPC)手段，該功率控制最佳化手段在加載一光盤時(shí)，以可變的一光束記錄功率，在該光盤的一測(cè)試記錄區(qū)域進(jìn)行記錄，并通過該測(cè)試記錄區(qū)域的一再生信號(hào)求得一最佳記錄功率；一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度計(jì)算手段，以該功率控制最佳化手段所得的該最佳記錄功率，在該光盤的該測(cè)試記錄區(qū)域上進(jìn)行復(fù)寫的測(cè)試記錄，并由以一擦除功率光束所擦除的擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)，求取一峰值與一谷值，且由該峰值與該谷值計(jì)算出并保持一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度；以及一擦除功率變更手段，于記錄情報(bào)數(shù)據(jù)時(shí)，求取由擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)其該峰值與該谷值，由該峰值與該谷值算出該擦除殘余調(diào)變度，并通過變更該擦除功率以使計(jì)算出的該擦除殘余調(diào)變度接近一基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度。
12.如權(quán)利要求11所述的光盤裝置，其特征是，其中的該擦除功率變更手段，是對(duì)該基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度求取計(jì)算出的該擦除殘余調(diào)變度的增加量，并求取該擦除殘余調(diào)變度對(duì)該基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度的增加量所對(duì)應(yīng)一擦除/記錄功率比的增加量，并且由該擦除/記錄功率比的增加量求取變更的該擦除功率。
全文摘要
提供一種光盤裝置,能夠以適當(dāng)?shù)牟脸β蔬M(jìn)行復(fù)寫,以確保信號(hào)讀取時(shí)的良好錯(cuò)誤率,并且不會(huì)損及可擦寫式光盤的壽命。在測(cè)試記錄區(qū)域進(jìn)行記錄,并通過擦除功率光束所擦除的擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào),計(jì)算出并保持基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度,于記錄情報(bào)數(shù)據(jù)時(shí),求取由擦除區(qū)域的反射光的檢測(cè)信號(hào)其峰值與谷值,由峰值與谷值算出擦除殘余調(diào)變度,并通過變更擦除功率以使計(jì)算出的擦除殘余調(diào)變度接近基準(zhǔn)擦除殘余調(diào)變度,在擦除功率弱的場(chǎng)合提高擦除功率,以能夠確保復(fù)寫記錄部分的信號(hào)讀取錯(cuò)誤率維持良好數(shù)值,并且在擦除功率強(qiáng)的場(chǎng)合降低擦除功率,以能夠不損及可擦寫式光盤的壽命。
文檔編號(hào)G11B7/125GK1389858SQ02120228
公開日2003年1月8日 申請(qǐng)日期2002年5月20日 優(yōu)先權(quán)日2001年5月21日
發(fā)明者清水俊樹, 真下著明 申請(qǐng)人:提阿克株式會(huì)社