專利名稱：用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及的是用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置，特別是涉及一種使用預(yù)定的光學(xué)系統(tǒng)識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置。
背景技術(shù)：
通常，光學(xué)記錄介質(zhì)，即光學(xué)盤片，依據(jù)它們是否能進行記錄及能夠記錄的次數(shù)，被分成ROM-型光學(xué)盤片，只寫一次的光學(xué)盤片，和可重寫的光學(xué)盤片。
另外，依據(jù)其存儲的容量，這樣的光學(xué)盤片通常被分成致密盤(CD)、數(shù)字通用盤(DVD)和下一代DVD。CD具有650MB的存儲容量，DVD具有4.7GB的存儲容量，與DVD的存儲容量相比，下一代DVD具有更大的存儲容量。
依據(jù)其存儲容量不同，光學(xué)盤片具有不同的尺寸。CD和DVD具有相同的直徑，即120mm，但具有不同的厚度。CD厚1.2mm，而DVD厚0.6mm。已知的下一代DVD厚度是0.1mm。0.4數(shù)值孔徑(NA)和780nm波長的激光束通常用于CD，而0.6NA和650nm波長的光束用于DVD。已知的0.85NA的激光束(屬于藍波長帶)用于下一代DVD。
圖1是表示與DVD厚度相比較的CD厚度圖。參考圖1，如上所述，當(dāng)CD的厚度DC大約是1.2mm時，DVD的厚度DD大約是0.6mm。換句話說，CD的上表面31和可寫入表面35之間的距離大約是DVD上表面31和可寫入表面33之間距離的兩倍。因此，如圖2所述，在表面反射信號SS和可寫入表面反射信號S1R之間的時間間隔DTD與表面反射信號SS和可寫入表面反射信號S2R之間的時間間隔DTC之間存在差值。
圖2是表示傳統(tǒng)的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法圖。參考圖2，CD的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號S2R之間的時間間隔DTC比DVD的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號S1R之間的時間間隔DTD長。因此，在已有技術(shù)中，預(yù)先設(shè)定某個參考時間差值T0，以具有DTD和DTC的中間值，然后在預(yù)先確定的光學(xué)記錄介質(zhì)中的時間間隔DTP與T0相比較。這里，將DTP定義成在當(dāng)檢測到從光學(xué)盤片的可寫入表面反射的信號時的時間與當(dāng)檢測到從光學(xué)盤片表面反射的信號時的時間之間的時間差。如果DTP大于T0，預(yù)先確定的光學(xué)盤片識別為CD。另一方面，如果DTP小于T0，預(yù)先確定的光學(xué)盤片識別為DVD。
圖3是表示在使用傳統(tǒng)的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法的情況下、DTP值相對于已經(jīng)進行的用于獲得這樣DTP值的試驗次數(shù)的變化圖。參考圖3，對于CD或DVD所獲得的DT值隨試驗的次數(shù)顯著變化。特別是，在CD的情況下，第4次試驗的DT值是80s，第5次試驗的DT值是130s。因此，在DT值之間存在最大的50s的差值。此外，在第12次試驗中，CD的DT值和DVD的DT值分別是80s和95s，它們彼此非常接近，因此基于其DT值不容易判斷光學(xué)記錄介質(zhì)的類型。
然而，在幾乎不能維持傳動裝置線性度的光學(xué)盤片中存在非線性驅(qū)動區(qū)域的情況下，使用傳統(tǒng)的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法難以判斷光學(xué)盤片是什么類型。在這樣非線性驅(qū)動區(qū)域中，在計算DTD和DTC期間更可能出現(xiàn)誤差，而且，如果出現(xiàn)了誤差，DTD和DTC可能接近于T0。特別是，在識別諸如偏斜盤片之類的特殊光學(xué)盤片類型的情況下，依據(jù)光學(xué)盤片的位置和傾斜方向，這樣的誤差可能變得更大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于通過補償光學(xué)拾取器傳動裝置的非線性識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法。該方法包括在使用第一光學(xué)系統(tǒng)執(zhí)行聚焦搜索時檢測光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR，計算表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間差DTS，計算表面反射信號的高峰和可寫入表面反射信號SR的高峰之間的時間差DTR，將DTR和DTS代入下列等式獲得DT∶DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)，并且將DT與參考時間T相比較，如果DT大于T，驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)，如果DT不大于T，驅(qū)動第二光學(xué)系統(tǒng)。
最好，第一光學(xué)系統(tǒng)的DTR大于第二光學(xué)系統(tǒng)的DTR。
最好，第一光學(xué)系統(tǒng)是CD光學(xué)系統(tǒng)。
最好，第二光學(xué)系統(tǒng)是DVD光學(xué)系統(tǒng)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置。該裝置包括信號檢測裝置，在光學(xué)記錄介質(zhì)插入時，在使用第一光學(xué)系統(tǒng)執(zhí)行聚焦搜索時檢測光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR；計算器，計算表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間差DTS，與可寫入表面反射信號SR的高峰與表面反射信號的高峰之間的時間差DTR，將DTR和DTS代入下列等式獲得DT∶DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)；和光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元，通過將DT與預(yù)先存儲的參考時間T相比較識別光學(xué)記錄介質(zhì)的類型，輸出用于驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)或第二光學(xué)系統(tǒng)的信號。
最好，第一光學(xué)系統(tǒng)的DTR大于第二光學(xué)系統(tǒng)的DTR。
最好，如果DT大于T，光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)，如果DT不大于T，驅(qū)動第二光學(xué)系統(tǒng)。
最好，第一光學(xué)系統(tǒng)是CD光學(xué)系統(tǒng)。
最好，第二光學(xué)系統(tǒng)是DVD光學(xué)系統(tǒng)。
如上所述，本發(fā)明提供了一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置，既使當(dāng)傳動裝置缺少線性度時，通過使用表面反射信號的S曲線的斜率及表面反射信號的S曲線和可寫入表面反射信號的S曲線之間的時間差，能夠識別光學(xué)記錄介質(zhì)的類型。


通過參考附圖詳細描述示例性的實施例，本發(fā)明的上述特點和優(yōu)點將會變得更加清楚，其中圖1是表示CD的厚度與DVD厚度相比較的剖視圖；圖2是表示傳統(tǒng)的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法圖；圖3是用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置的方框圖；圖4是表示在使用傳統(tǒng)的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法的情況下、DT值相對于已經(jīng)進行的用于獲得這樣DT值的試驗次數(shù)的變化；
圖5是表示在用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置中、在聚焦方向上傳動裝置的位移量相對于輸入電壓的圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置的方框圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型方法的流程方框圖；圖8是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型方法的圖；圖9是表示在使用根據(jù)本發(fā)明的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法的情況下、DT值相對于已經(jīng)進行的用于獲得這樣DT值的試驗次數(shù)的變化。
具體實施例方式
下面，將參考附圖更全面地描述本發(fā)明。首先，在下面的段落中將描述根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)先實施例用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)先實施例用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置的方框圖。參考圖3，響應(yīng)來自伺服控制器16輸出的控制信號，光學(xué)拾取器12在信號軌道上將光束聚焦，這些光束已經(jīng)通過物鏡聚光，然后為了檢測聚焦信號和跟蹤誤差信號TE，將聚光后的光束傳送到光學(xué)檢測器(沒有示出)，這些聚光后的光束是使用物鏡從光學(xué)盤片20的可寫入表面反射的。
光學(xué)檢測器包括多個光學(xué)檢測裝置，并向射頻和伺服誤差計算器14輸出具有一幅度的電信號，該信號與從每個光學(xué)檢測裝置獲得的光的數(shù)量成正比。射頻和伺服計算器14基于從光學(xué)檢測器輸出的電信號計算用于從光學(xué)盤片20再現(xiàn)數(shù)據(jù)的射頻信號RF及用于控制伺服的誤差信號FE和跟蹤誤差信號TE。之后，光學(xué)檢測器向解碼器15輸出用于從光學(xué)盤片20再現(xiàn)數(shù)據(jù)的射頻信號RF，向伺服控制器16輸出諸如FE和TE之類的伺服誤差信號，并向編碼器13輸出用于在光學(xué)盤片20上記錄數(shù)據(jù)的控制信號。
編碼器13將要在光學(xué)盤片20上記錄的數(shù)據(jù)編碼成具有適合于光學(xué)盤片20格式的寫入脈沖，然后使用光學(xué)拾取器12在光學(xué)盤片20上記錄所編碼的數(shù)據(jù)。解碼器15基于射頻信號RF檢索來自光學(xué)盤片20的原始數(shù)據(jù)。
能夠?qū)⒂糜谠诠鈱W(xué)盤片上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置連接到諸如個人計算機(PC)之類的主機。然后，主機向微計算機(micom)11傳送命令以在光學(xué)盤片20上記錄數(shù)據(jù)或從光學(xué)盤片20再現(xiàn)數(shù)據(jù)，通過使用用于在光學(xué)盤片上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置的接口10，將要被記錄在光學(xué)盤片20上的數(shù)據(jù)傳送到編碼器13，接受來自解碼器15的要從光學(xué)盤片20再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
這里，高級技術(shù)附屬數(shù)據(jù)包接口(ATAPI)可用作接口10。ATAPI是在用于在光學(xué)盤片上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置和主機之間的標準的連接接口，以便將來自用于在光學(xué)盤片上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置的所解碼的數(shù)據(jù)傳送到主機。換句話說，ATAPI將所解碼的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成能夠由主機進行處理的數(shù)據(jù)包類型的協(xié)議，并將數(shù)據(jù)包類型協(xié)議傳送到主機。
伺服控制器16處理用于控制聚焦到伺服驅(qū)動器17的聚焦誤差信號FE和驅(qū)動信號。此外，伺服控制器16處理跟蹤誤差信號TE，然后輸出用于控制跟蹤到跟蹤伺服驅(qū)動器18的驅(qū)動信號。
當(dāng)在光學(xué)拾取器12中驅(qū)動跟蹤傳動裝置時，跟蹤伺服驅(qū)動器18調(diào)整光束的位置，并通過移動光學(xué)拾取器12的物鏡，在輻射方向上跟隨光學(xué)盤片20的軌道。
當(dāng)在光學(xué)盤片12中驅(qū)動聚焦傳動裝置時，聚焦伺服驅(qū)動器17通過移動光學(xué)盤片12，在垂直于光學(xué)盤片20的方向上跟隨光學(xué)盤片20的軌道。在該操作期間，重要的是保持物鏡和光學(xué)盤片20之間預(yù)定的距離。這里，可以用根據(jù)本發(fā)明優(yōu)先實施例的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置的聚焦伺服控制器代替聚焦伺服驅(qū)動器17。
當(dāng)光學(xué)盤片20插入到用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置時，必須判斷光學(xué)盤片20是CD或DVD，之后，能夠執(zhí)行適合于光學(xué)盤片20類型的伺服操作。
圖5是當(dāng)在聚焦方向上(即垂直于光學(xué)記錄介質(zhì)表面的方向上)驅(qū)動傳動裝置時、傳動裝置的位移與施加到傳動裝置的輸入電壓曲線圖。參考圖5，在B區(qū)域中傳動裝置的位移與輸入電壓成比例變化，因此B區(qū)域能夠被看成是保持線性度的線性區(qū)域。然而，在A和C區(qū)域中，傳動裝置的位移與輸入電壓并不成比例變化。因此，A和C區(qū)域可看作是非線性區(qū)域。所以，如果傳動裝置放置在諸如A或C區(qū)域之類的非線性區(qū)域，由于傳動裝置的位移不總是隨輸入電壓成比例變化，可能出現(xiàn)聚焦誤差。
因此，需要分別使用根據(jù)圖6和7所示的本發(fā)明的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置和方法，準確地判斷光學(xué)記錄介質(zhì)的類型。如圖6和7所示，用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置和方法，分別使用能夠相對于輸入電壓補償傳動裝置位移變化量中非線性的一種算法。
參考圖6，根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置包括具有激光二極管的拾取裝置101，和輸出用于響應(yīng)來自拾取裝置101輸入信號、控制聚焦伺服的信號的聚焦伺服控制器109。
聚焦伺服控制器109包括信號檢測器103，在從包括第一激光二極管的第一光學(xué)系統(tǒng)輸出的信號中，檢測表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR；計算器105，通過將下面的表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間間隔DTS以及可寫入表面反射信號SR的高峰和表面反射信號SS的高峰之間的時間間隔DTR代入等式(1)，計算檢測到表面反射信號SS的時間與檢測到可寫入表面反射信號SR的時間之間的時間間隔DT；和光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元107，通過將DT與預(yù)先存儲的參考時間T相比較，識別光學(xué)記錄介質(zhì)的類型。
在識別光學(xué)記錄介質(zhì)的類型之后，光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元107輸出適合于該光學(xué)記錄介質(zhì)類型的聚焦伺服控制信號，使用該聚焦伺服控制信號驅(qū)動第一或第二光學(xué)系統(tǒng)。這里，第一和第二光學(xué)系統(tǒng)分別驅(qū)動第一和第二光學(xué)記錄介質(zhì)。
第一光學(xué)記錄介質(zhì)比第二光學(xué)記錄介質(zhì)厚。因此，第一光學(xué)記錄介質(zhì)的DTR大于第二光學(xué)記錄介質(zhì)的DTR。如果在預(yù)定的光學(xué)記錄介質(zhì)中，DT大于T，光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元107將預(yù)定的光學(xué)記錄介質(zhì)識別為第一光學(xué)記錄介質(zhì)，然后輸出用于驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)的信號，以便判斷預(yù)定光學(xué)記錄介質(zhì)是什么類型的第一光學(xué)記錄介質(zhì)。另一方面，如果DT不大于T，光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元107將預(yù)定的光學(xué)記錄介質(zhì)識別為第二光學(xué)記錄介質(zhì)，并輸出用于驅(qū)動第二光學(xué)系統(tǒng)的信號，以便第二激光二極管能夠?qū)ā?br> 這里，第一和第二光學(xué)系統(tǒng)可以分別表示CD光學(xué)系統(tǒng)和DVD光學(xué)系統(tǒng)，或分別是DVD光學(xué)系統(tǒng)和下一代DVD光學(xué)系統(tǒng)。第一和第二光學(xué)系統(tǒng)的每一個包括具有適合于驅(qū)動CD、DVD或下一代DVD的波長帶的激光二極管。
圖7是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法的流程圖，圖8是表示表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR的S曲線圖。在圖7中，第一光學(xué)系統(tǒng)和第二光學(xué)系統(tǒng)分別表示CD光學(xué)系統(tǒng)和DVD光學(xué)系統(tǒng)。然而，第一和第二光學(xué)系統(tǒng)可以分別表示DVD光學(xué)系統(tǒng)和下一代DVD光學(xué)系統(tǒng)。
參考圖7，當(dāng)光學(xué)記錄介質(zhì)插入到用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置時，第一光學(xué)系統(tǒng)(即CD光學(xué)系統(tǒng))的激光二極管導(dǎo)通，在步驟211中在光學(xué)記錄介質(zhì)上照射激光束。之后，在步驟213中執(zhí)行聚焦搜索。
在步驟215中，從從光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射的光束中檢測表面反射信號SS，然后如圖8所示，計算表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間間隔DTS。
在步驟217中，以預(yù)定時間量的間隔，從光學(xué)記錄介質(zhì)的可寫入表面反射的光束中檢測可寫入表面反射信號SR，然后如圖8所示，計算可寫入表面反射信號SR的高峰和表面反射信號SS的高峰之間的時間間隔DTR。這里，在同相位狀態(tài)，可寫入表面反射信號SR和表面反射信號SS之間的時間間隔總是與DTR相同。然而，為了計算的精確，計算可寫入表面反射信號SR的高峰和表面反射信號SS的高峰之間的時間差。
在步驟219中，通過分別將等式(1)中的變量a和b設(shè)定成1和1/2獲得等式(2)，通過將在步驟215和217中獲得的DTR和DTS分別代入等式(2)獲得DT，然后將DT與已經(jīng)預(yù)先確定的參考時間T相比較，如果DT大于T，DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)…(1)DT=DTR/DTS···(2)]]>通過改變等式(1)中變量a和b的值能夠補償傳動裝置線性度的不足。通過分別將變量a和b設(shè)定成2和1獲得下列的等式(3)。
DT＝DT2R/DTS…(3)當(dāng)傳動裝置傾斜于聚焦方向時，表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間間隔DTS與傳動裝置的斜率成反比而下降。因此，在本發(fā)明中，提供一種通過在DT的等式中引進DTS作為分母的補償傳動裝置非線性的方法。
圖9是表示在使用根據(jù)本發(fā)明的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法的情況下、DT值相對于已經(jīng)進行的用于獲得這樣DT值的試驗次數(shù)的變化圖。通過使用等式(2)獲得在圖9中的DT值。
參考圖9，在使用用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置和方法的情況下，在圖9的圖中DT值均勻分布。CD的大多數(shù)DT值在60和70范圍內(nèi)，DVD的DT值通常在30和40范圍內(nèi)。因此，通過將參考時間T設(shè)定為大約50，能夠清楚地判斷光學(xué)記錄介質(zhì)的類型。
根據(jù)本發(fā)明的用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置，通過利用表面反射信號的高峰和低谷補償傳動裝置線性度的不足，能夠更準確地判斷光學(xué)記錄介質(zhì)類型，因此，通常能夠改善用于在光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)/從光學(xué)記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置的性能。
參考示例性的實施例已經(jīng)特別表示和描述了本發(fā)明，顯然，在不超出下列權(quán)利要求限定的本發(fā)明的實質(zhì)和范圍內(nèi)，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以在形式和細節(jié)上作出各種不同的改變。
權(quán)利要求
1.一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法，當(dāng)使用第一光學(xué)系統(tǒng)執(zhí)行聚焦搜索時，檢測光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR；計算表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間差DTS；計算表面反射信號的高峰和可寫入表面反射信號SR的高峰之間的時間差DTR；通過將DTR和DTS代入下列等式獲得DTDT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)，并且將DT與參考時間T相比較；和如果DT大于T，驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)，如果DT不大于T，驅(qū)動第二光學(xué)系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中第一光學(xué)系統(tǒng)的DTR大于第二光學(xué)系統(tǒng)的DTR。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中第一光學(xué)系統(tǒng)是CD光學(xué)系統(tǒng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中第二光學(xué)系統(tǒng)是DVD光學(xué)系統(tǒng)。
5.一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的裝置，包括信號檢測裝置，在光學(xué)記錄介質(zhì)插入時，在使用第一光學(xué)系統(tǒng)執(zhí)行聚焦搜索時，檢測光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射信號SS和可寫入表面反射信號SR，計算器，計算表面反射信號SS的高峰和低谷之間的時間差DTS以及表面反射信號的高峰與可寫入表面反射信號SR的高峰之間的時間差DTR，將DTR和DTS代入下列等式獲得DT∶DT＝(DTR)a/(DTS)b(a-b≥1/2)；和光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元，通過將DT與預(yù)先存儲的參考時間T相比較，識別光學(xué)記錄介質(zhì)的類型，輸出用于驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)或第二光學(xué)系統(tǒng)的信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其中第一光學(xué)系統(tǒng)的DTR大于第二光學(xué)系統(tǒng)的DTR。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其中如果DT大于T，光學(xué)記錄介質(zhì)識別單元驅(qū)動第一光學(xué)系統(tǒng)，如果DT不大于T，則驅(qū)動第二光學(xué)系統(tǒng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其中第一光學(xué)系統(tǒng)是CD光學(xué)系統(tǒng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其中第二光學(xué)系統(tǒng)是DVD光學(xué)系統(tǒng)。
全文摘要
提供一種用于識別光學(xué)記錄介質(zhì)類型的方法和裝置。該方法包括在使用第一光學(xué)系統(tǒng)執(zhí)行聚焦搜索時檢測光學(xué)記錄介質(zhì)的表面反射信號S
文檔編號G11B19/12GK1455405SQ0312308
公開日2003年11月12日 申請日期2003年4月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月30日
發(fā)明者金鐘烈, 成平庸, 郭魯俊, 全喆浩, 尹麒鳳, 崔奉渙 申請人:三星電子株式會社