專利名稱：光學(xué)拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾取裝置，用于在光記錄介質(zhì)上記錄信息或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息。
背景技術(shù)：
高輸出功率半導(dǎo)體激光器被用作光學(xué)拾取裝置的光源，特別地是被用作能夠?qū)懶畔⒌揭还庥涗浢浇榈墓庠?。在此高輸出功率半?dǎo)體激光器中，半導(dǎo)體激光器的激光芯片前后平面的每一個減反射涂層的反射比通過其厚度的改變而改變。所以，從激光芯片的前后平面發(fā)出的大量光束彼此是不相同的。這使得不可能通過提供在半導(dǎo)體激光器組件內(nèi)部的光檢測裝置來檢測從后平面發(fā)出的光，并且根據(jù)檢測結(jié)果來控制從前平面發(fā)出的光的功率。
因為上述理由，在裝有具有高輸出功率的半導(dǎo)體激光器的光學(xué)拾取裝置中，必須通過提供在半導(dǎo)體激光器組件外部和光學(xué)拾取裝置內(nèi)部的用于監(jiān)測半導(dǎo)體激光器的光輸出功率的光檢測裝置來監(jiān)測從激光芯片前平面發(fā)出的光的功率。
在傳統(tǒng)的光學(xué)拾取裝置之中，其中提供了在半導(dǎo)體激光器組件外部和光學(xué)拾取裝置內(nèi)部的用于監(jiān)測從激光芯片的前平面發(fā)出的光的功率的光檢測裝置(前端監(jiān)測)的光學(xué)拾取裝置如下所述(例如，參見日本未經(jīng)審查的專利公開JP-A8-102060(1996))。
圖33表示一種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1的光輸出功率監(jiān)測的實例，此傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置裝有具有不同波長的兩個光源。
傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1裝有一個第一光源2和一個第二個光源3，它們發(fā)出具有不同波長的光束。從第一光源2發(fā)出的光束經(jīng)過第一準(zhǔn)直透鏡4被轉(zhuǎn)換為大致的平行光束，通過光束分離器5被反射，通過向上引導(dǎo)反射鏡6被反射以致進(jìn)入物鏡7，并且通過物鏡7被聚焦在光記錄介質(zhì)8的信息記錄表面上。通過光記錄介質(zhì)8反射又穿過物鏡7的光束通過向上引導(dǎo)反射鏡6被反射，穿過光束分離器5和半反射鏡9，并且經(jīng)過定位透鏡10通過光電檢測器11被檢測。從第二個光源3發(fā)出的光束經(jīng)過第二個準(zhǔn)直透鏡12被轉(zhuǎn)換為大致的平行光束，通過半反射鏡9被反射，穿過光束分離器5，通過向上引導(dǎo)反射鏡6被反射以致進(jìn)入物鏡7，并且通過物鏡7被聚焦在光記錄介質(zhì)8的信息記錄表面上。通過光記錄介質(zhì)8被反射的光束沿著與上述從第一光源發(fā)出的光束相同的路徑傳播，并且通過光電檢測器11被檢測。
用于監(jiān)測第一光源2的光輸出功率的第一前端監(jiān)測器13被放置在對于第一光源2的光束分離器5的相對側(cè)，并且檢測從第一光源2發(fā)出，然后穿過第一個準(zhǔn)直透鏡4和光束分離器5的光束。第一前端監(jiān)測器13輸出一個檢測結(jié)果到控制裝置15，控制裝置15控制從第一光源2發(fā)出的光束的功率，此功率與第一前端監(jiān)測器13的檢測輸出一致。
另一方面，用于監(jiān)測第二光源光輸出功率的第二前端監(jiān)測器14被放置在對于第二光源3的半反射鏡9的相對側(cè)，并且檢測從第二光源3發(fā)出，然后穿過第二個準(zhǔn)直透鏡12和半反射鏡9的光束。第二前端監(jiān)測器14輸出一個檢測結(jié)果到控制裝置15?？刂蒲b置15控制從第二個光源3發(fā)出的光束的功率，此功率與第二前端監(jiān)測器14的檢測輸出一致。
在具有上述配置的傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1中，第一前端監(jiān)測器13和第二前端監(jiān)測器14位于與第一光源2和第二光源3相對的光束分離器5和半反射鏡9的另一側(cè)，這就產(chǎn)生一個問題，就是裝置1需要一個很大的安裝能力和一個很大的尺寸。
圖34表示另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置20的光輸出功率監(jiān)測的實例。傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置20與上述傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1相似，因此給予具有在光學(xué)拾取裝置1中相應(yīng)元件的光學(xué)拾取裝置20的元件相同的參考數(shù)字。在光學(xué)拾取裝置20中，全息激光被用在光束分離器5處，并且全息激光器5彼此分離具有不同波長的兩個光束。
在另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置20中，提供單一的前端監(jiān)測13，并且監(jiān)測第一光源2和第二光源3兩者的光輸出功率。從第一光源2發(fā)出的光束穿過全息激光器5，并且被第一前端監(jiān)測器13檢測。從第二光源3發(fā)出的光束被全息激光器5反射，并且被第一前端監(jiān)測器13檢測。第一前端監(jiān)測器13輸出一個檢測結(jié)果到控制裝置15。根據(jù)第一前端監(jiān)測器13的檢測輸出，控制裝置15控制第一光源2和第二光源3的光輸出功率。
雖然另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置20在部件數(shù)目上比傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1要小，因此在裝置的尺寸上也比傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置1要小，但是前者有一個問題，就是光強度控制的準(zhǔn)確度低于后者。通常，在全息激光器5中的透射光數(shù)量和反射光數(shù)量的比率被設(shè)定，以便用于記錄或者再現(xiàn)和用于光輸出功率監(jiān)測的光的數(shù)量分別變?yōu)榇蠹s90％和大約10％。用于光輸出功率監(jiān)測的光的數(shù)量，也就是說從第一光源2發(fā)出并且傳輸?shù)饺⒓す馄?的光的數(shù)量，或者從第二光源3發(fā)出并且被全息激光器5反射的光的數(shù)量依靠全息激光器5的特征從10％變?yōu)?0％。實現(xiàn)具有不會引起光通量變化的光分離特征的光束分離器實際上是不可能的，這就導(dǎo)致一個問題，就是以上述方法很難高精度地控制從光源2或者3發(fā)出的光的輸出功率。
半導(dǎo)體激光器，也就是說提供于一種光學(xué)拾取裝置的一種光源，輸出激光，它用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息。由于周圍溫度的變化、使用期的變化等，提供于半導(dǎo)體激光器并且發(fā)射光的半導(dǎo)體激光器芯片在輸出功率上發(fā)生變化。通過使用自動功率控制(APC)電路控制半導(dǎo)體激光器的激勵電流，半導(dǎo)體激光器芯片的輸出功率被保持恒定。在用于保持具有APC電路的半導(dǎo)體激光器芯片輸出功率的方法中是后端監(jiān)測方法和前端監(jiān)測方法。
在后端監(jiān)測方法中，從半導(dǎo)體激光器芯片以一個方向(以下簡稱″后端方向″)發(fā)出的少量的光被用于輸出功率控制，其中此方向與從半導(dǎo)體激光器芯片發(fā)出的光到達(dá)光記錄介質(zhì)的方向相反。以后端方向發(fā)出的光通過提供于半導(dǎo)體激光器中的能量控制光檢測裝置被檢測，并且根據(jù)能量控制光檢測裝置的檢測輸出，通過提供用于控制半導(dǎo)體激光器芯片的驅(qū)動電流的一個信號，APC電路控制半導(dǎo)體激光器的輸出功率為一個恒定值。
然而，以后端方向發(fā)出的光的數(shù)量小于以一個方向(以下簡稱″前端方向″)發(fā)出的光的數(shù)量，其中以此方向發(fā)出的光到達(dá)光記錄介質(zhì)用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息，并且不能夠有效的控制半導(dǎo)體激光器芯片的輸出功率。
以后端方向發(fā)出的光的數(shù)量與以前端方向發(fā)出的光的數(shù)量的比率沒有必要固定。結(jié)果，后端監(jiān)測方法存在一個問題，就是半導(dǎo)體激光器的光輸出功率不能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
另一方面，在前端監(jiān)測方法中，以前端方向發(fā)出的光通過監(jiān)測光電檢測器被檢測，并且根據(jù)光電檢測器的檢測輸出，通過控制半導(dǎo)體激光器的驅(qū)動電流，APC電路控制半導(dǎo)體激光器的輸出功率為一個恒定值。如上所述，由于以前端方向發(fā)出的光的數(shù)量大于以后端方向發(fā)出的光的數(shù)量，因此為了提高輸出功率控制的準(zhǔn)確度，通常主要使用前端監(jiān)測方法。
圖35是表示另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置31的配置的簡化系統(tǒng)圖。從半導(dǎo)體激光器32的半導(dǎo)體激光器芯片33發(fā)出的光通過準(zhǔn)直透鏡34被轉(zhuǎn)換為平行光，并且輸入到光束分離器35。光束分離器35在棱鏡接合面36處具有一個反射薄膜，它傳輸95％的入射光并且反射5％的入射光。所以，大部分入射光被傳輸?shù)焦庥涗浗橘|(zhì)40，并且剩余光被反射到能量控制光檢測裝置37。
已經(jīng)通過光束分離器35的光通過四分之一波片38被偏振化，通過向上引導(dǎo)反射鏡39被彎曲90°到達(dá)光記錄介質(zhì)40，并且通過物鏡41被聚焦，因此具有規(guī)定尺寸的光點被形成在光記錄介質(zhì)40的信息記錄表面上，并且執(zhí)行信息記錄或者再現(xiàn)。通過光記錄介質(zhì)40已經(jīng)被反射的光穿過物鏡41，通過向上引導(dǎo)反射鏡39被彎曲90°，通過四分之一波片38被偏振化，并且被輸入到光束分離器35。光束分離器35把從光記錄介質(zhì)40反射的光100％地反射到光檢測裝置42。結(jié)果，反射光通過聚焦透鏡43被聚焦，通過柱面透鏡44被象散，并且通過光檢測裝置42被檢測，因此讀取光記錄介質(zhì)40上的信息。
通過光束分離器35已經(jīng)被反射到能量控制光檢測裝置37的光通過聚光透鏡45被聚光，并且通過能量控制光檢測裝置37被檢測。根據(jù)能量控制光檢測裝置37的檢測輸出，通過提供用于控制半導(dǎo)體激光器芯片33的驅(qū)動電流的一個信號，APC電路46控制半導(dǎo)體激光器32的輸出功率為一個恒定值。
為了提供一個半導(dǎo)體激光器，其中半導(dǎo)體激光器芯片的加載和能量消耗被減少而且具有在光記錄介質(zhì)上記錄信息所必需的高輸出功率，用于半導(dǎo)體激光器中的輸出功率控制，必須有效地利用從半導(dǎo)體激光器芯片發(fā)出的光。
圖36是表示另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置47的配置的簡化系統(tǒng)圖。光學(xué)拾取裝置47是一種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置，為了輸出功率控制，它有效地利用從半導(dǎo)體激光器芯片發(fā)出的光。由于從半導(dǎo)體激光器芯片33發(fā)出的光是發(fā)散光，所以存在光48，它向前發(fā)送來代替輸入到準(zhǔn)直透鏡34。送出的光48的一部分通過能量控制光檢測裝置37被檢測。根據(jù)能量控制光檢測裝置37的檢測輸出，通過提供用于控制半導(dǎo)體激光器芯片33的驅(qū)動電流的一個信號，APC電路46控制半導(dǎo)體激光器32的輸出功率為一個恒定值。
然而，此另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置47具有下面的問題。由于能量控制光檢測裝置37利用從半導(dǎo)體激光器芯片33發(fā)出的光，并且向前發(fā)送來代替輸入到準(zhǔn)直透鏡34，通過能量控制光檢測裝置37被檢測的光的數(shù)量非常小。也就是說，對于APC電路46，檢測光通量太小了以至不能夠高準(zhǔn)確度地控制半導(dǎo)體激光器芯片33的輸出功率；輸出功率控制的可靠性很低。
圖37是表示使用前端控制方法的傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置51裝配的簡化側(cè)視圖。下面將描述傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置51的操作。從半導(dǎo)體激光器52發(fā)出的光通過準(zhǔn)直透鏡53被轉(zhuǎn)換為平行光，并且輸入到光束分離器54。光束分離器54被配置，以致傳輸例如從半導(dǎo)體激光器52發(fā)出并且經(jīng)過準(zhǔn)直透鏡53被接收的光的95％，并且反射剩余的光(5％)。也就是說，所接收光的95％通過光束分離器54，然后向前傳輸?shù)焦庥涗浗橘|(zhì)61，并且剩余的光(5％)通過光束分離器54被反射到監(jiān)測光檢測裝置56。
通過光束分離器54被反射的5％的光通過聚光透鏡55被聚光，并且照射到監(jiān)測光檢測裝置56。監(jiān)測光檢測裝置56輸出一個對應(yīng)于檢測光通量的電信號到APC控制電路57。根據(jù)從監(jiān)測光檢測裝置56提供的電信號，通過提供半導(dǎo)體激光器52的驅(qū)動電流，APC電路57控制半導(dǎo)體激光器52的輸出光的功率為一個恒定值。
另一方面，已經(jīng)通過光束分離器54的95％的光以通過四分之一波片56的方式被偏振化，通過向上引導(dǎo)反射鏡59被指引到光記錄介質(zhì)61，并且通過物鏡60被聚焦到光記錄介質(zhì)61的信息記錄表面，以便形成具有規(guī)定尺寸的光束點。被聚焦在光記錄介質(zhì)61的信息記錄表面的光束通過光記錄介質(zhì)61被反射，再一次穿過物鏡60，通過向上引導(dǎo)反射鏡59被反射，穿過四分之一波片58，并且輸入到光束分離器54。光束分離器54被配置，以致將近100％地反射從光記錄介質(zhì)61反射的光。從光束分離器54被反射的光通過聚焦透鏡62被聚焦，通過柱面透鏡63被散光，并且被應(yīng)用于光檢測裝置64。基于來自光記錄介質(zhì)61的通過光檢測裝置64被檢測的反射光，產(chǎn)生用于操作控制的跟蹤誤差信號和聚焦誤差信號以及信息信號(RF信號)。
為了通過光學(xué)拾取裝置記錄或者再現(xiàn)信息(特別是為了信息記錄)，需要高的光輸出功率以便獲得高準(zhǔn)確度和品質(zhì)。此外，為了減少半導(dǎo)體激光器的加載和能量消耗，必須有效地利用半導(dǎo)體激光器輸出光的能量。然而，以前端方向發(fā)出用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的數(shù)量的5％用于輸出功率控制。因而，傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置51具有一個問題，就是光的利用效率很低。
為了解決上述問題，其中從半導(dǎo)體激光器發(fā)出的光直接地被檢測(前端監(jiān)測)的傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置是可以利用的。圖38是表示使用前端監(jiān)測方法的傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置65裝配的簡化側(cè)視圖。傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置65與上述傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置51相似，因此給予具有在光學(xué)拾取裝置51中相應(yīng)元件的光學(xué)拾取裝置65的元件相同的參考數(shù)字，并且將要描述。
在另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置65中，從半導(dǎo)體激光器52發(fā)出并且離開光軸不穿過準(zhǔn)直透鏡53的光66，也就是說，不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光66，通過監(jiān)測光檢測裝置56直接地被檢測。監(jiān)測光檢測裝置56輸出一個對應(yīng)于檢測光通量的電信號到APC控制電路57。APC電路57根據(jù)從監(jiān)測光檢測裝置56提供的電信號來控制半導(dǎo)體激光器52的輸出功率為一個恒定值。在光學(xué)拾取裝置65中，沒有任何部份從半導(dǎo)體激光器52發(fā)出用于信息記錄或者再現(xiàn)的光被分開，并且被用于輸出功率控制，因此從半導(dǎo)體激光器52發(fā)出的光的使用效率就會很高。
然而，在傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置65中，由于監(jiān)測光檢測裝置56直接地檢測從準(zhǔn)直透鏡53的外周邊的外面分離出的僅有一細(xì)小部分的光，所以檢測光通量很小，并且能被用于控制半導(dǎo)體激光器52輸出功率的電信號非常的微弱。所以，不能夠以足夠準(zhǔn)確度或者穩(wěn)定性通過APC電路57執(zhí)行在半導(dǎo)體激光器52中的輸出功率控制，同時引起一個問題就是輸出功率控制的可靠性很低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目的是提供一種光學(xué)拾取裝置，其中光源的光輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制，而不增加裝置的尺寸。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種光學(xué)拾取裝置，其中從半導(dǎo)體激光器芯片發(fā)出的光的使用效率很高，并且半導(dǎo)體激光器芯片的光輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種光學(xué)拾取裝置，其中從光源發(fā)出的光的使用效率很高，并且從光源發(fā)出的光能量的控制的可靠性得到提高。
本發(fā)明提供一種在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括一個用于發(fā)射光的光源；與光記錄介質(zhì)相對的物鏡，用于把發(fā)生于光源的光聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄表面上；放置在光源和物鏡之間的光分離光學(xué)元件，用于傳輸或者反射發(fā)生于光源的光；放置在光分離光學(xué)元件和物鏡之間的準(zhǔn)直透鏡，用于把發(fā)生于光源的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光；光反射裝置，用于反射從光源發(fā)出的光的一部分；光輸出功率檢測裝置，用于檢測從光反射裝置被反射的光；和光強度控制裝置，用于根據(jù)光輸出功率檢測裝置的檢測輸出控制從光源發(fā)出的光的能量。
根據(jù)本發(fā)明，提供用于反射從光源發(fā)出光的一部分的光反射裝置。從光反射裝置被反射的光通過光輸出功率檢測裝置被檢測，并且根據(jù)最后的檢測輸出控制光源的光輸出功率。此配置使得高準(zhǔn)確度地控制光源的光輸出功率，而不改變用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者再現(xiàn)光記錄介質(zhì)上信息的光學(xué)系統(tǒng)成為可能。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置被放置在光源和光分離光學(xué)元件之間。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置被放置在光源和光分離光學(xué)元件之間。此配置使得設(shè)備容量小于在光反射裝置被放置在對于光源的光分離光學(xué)元件的相對側(cè)的情況下的設(shè)備容量成為可能，從而使裝置小型化。由于光輸出功率能夠通過光反射裝置對沒有通過或者被光分離光學(xué)元件反射的光的反射而被監(jiān)測，所以能夠高準(zhǔn)確度地控制光源的光輸出功率。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置被放置在與擴(kuò)散角中較大一個有關(guān)的軸上，這些擴(kuò)散角與形成在一個平面上的兩個各自正交軸有關(guān)，此平面垂直于從光源發(fā)出的光的光軸。
根據(jù)本發(fā)明，把光反射裝置放置在軸上使得反射大量光成為可能，并且使用光用于監(jiān)測，其中此軸與從光源發(fā)出的光的擴(kuò)散角中的較大的一個有關(guān)。所以，光源的光輸出功率能夠被高準(zhǔn)確度地控制。
在本發(fā)明中，更好的是光學(xué)拾取裝置進(jìn)一步包括被放置在準(zhǔn)直透鏡和物鏡之間的光路變化反射鏡，用于反射來自于光源的光，以便改變它們的光路，并且光反射裝置被如此放置以致垂直于反射裝置的反射面的平面不與光的光軸平行，此光從光路變化反射鏡反射到光記錄介質(zhì)。
在本發(fā)明中，更好的是提供發(fā)出具有不同波長光束的兩個光源，并且提供兩個光反射裝置以致與兩個各自的光源相聯(lián)系。
根據(jù)本發(fā)明，以此方式放置光反射裝置以致垂直于反射裝置的反射面的平面不平行于從光路變化反射鏡反射到光記錄介質(zhì)的光的光軸，這使得有效地使用從光源發(fā)出的用于輸出功率控制的光而不增加光學(xué)拾取裝置的厚度成為可能。同樣在通常所說的雙波長光學(xué)拾取裝置中，提供有發(fā)射具有不同波長光束的兩個光源，以上述方法，通過放置與兩個各自光源相關(guān)的兩個光反射裝置的每一個，能夠獲得相同的優(yōu)點。
此外，在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置被附著到光分離光學(xué)元件上。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置被附著到光分離光學(xué)元件上。對于此配置，不需要一個大容量安裝空間，因此裝置能夠被最小化。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置被附著到準(zhǔn)直透鏡上。
在本發(fā)明中，更好的是光學(xué)拾取裝置進(jìn)一步包括一個保持構(gòu)件，用于保持準(zhǔn)直透鏡，光反射裝置被附著到保持構(gòu)件上。
根據(jù)本發(fā)明，其中光反射裝置被附著到準(zhǔn)直透鏡上或者用于保持準(zhǔn)直透鏡的保持構(gòu)件上，不需要一個大容量安裝空間，因此裝置能夠被最小化。
在本發(fā)明中，更好的是光學(xué)拾取裝置進(jìn)一步包括一個被放置在準(zhǔn)直透鏡和物鏡之間的光路變化反射鏡，用于反射來自于光源的光，以便改變它的光路，和光反射裝置被附著到光路變化反射鏡上。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置被附著到光路變化反射鏡上。對于此配置，不需要一個大容量安裝空間，因此裝置能夠被最小化。
本發(fā)明提供一種在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括一個用于發(fā)射光的光源；與光記錄介質(zhì)相對的物鏡，用于把發(fā)生于光源的光聚焦在光記錄介質(zhì)的信息記錄表面上；放置在光源和物鏡之間的光分離光學(xué)元件，用于傳輸或者反射發(fā)生于光源的光；放置在光分離光學(xué)元件和物鏡之間的準(zhǔn)直透鏡，用于把發(fā)生于光源的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光；一個光路變化反射鏡，被放置在準(zhǔn)直透鏡和物鏡之間，用于反射來自于光源的光，以便改變它的光路；光輸出功率檢測裝置，用于檢測從光源發(fā)出的光的一部分，穿過準(zhǔn)直透鏡，并且通過光路變化反射鏡前進(jìn)來代替照射在上面；和光強度控制裝置，用于根據(jù)光輸出功率檢測裝置的檢測輸出控制從光源發(fā)出的光的能量。
根據(jù)本發(fā)明，由于通過光路變化反射鏡前進(jìn)來代替照射在上面的光的一部分通過光輸出功率檢測裝置被檢測，所以光輸出功率能夠不必使用光反射裝置而被監(jiān)測。所以，不但裝置能夠被小型化，而且因為部件數(shù)目的減小所以能夠增加裝置的裝配效率。
本發(fā)明提供一種通過使用光在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括用于發(fā)射光的光源；光檢測裝置，用于檢測從光源發(fā)出的光的一部分；光聚集裝置，用于把從光源發(fā)出的不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分指引到光檢測裝置；和控制裝置，用于根據(jù)光檢測裝置的輸出控制從光源發(fā)出的光的能量。
根據(jù)本發(fā)明，基于通過光檢測裝置被檢測的光通量，產(chǎn)生一個信號，并且根據(jù)所產(chǎn)生的信號，控制裝置控制從光源發(fā)出的光的能量。光檢測裝置能夠檢測兩種光，即從光源發(fā)出而不用于信息記錄或者再現(xiàn)的直接入射光和經(jīng)過光聚集裝置照射在光檢測裝置上的光。所以，能夠被用于光強度控制的所接收的光通量被增加，因此光強度控制的準(zhǔn)確度能夠被提高。
此外，由于從光源發(fā)出而不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光被用于光強度控制，所以從光源發(fā)出的并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的數(shù)量不會被減少，因此光的使用效率能夠被提高。
在本發(fā)明中，更好的是光聚集裝置是一個反光鏡，用于把從光源發(fā)出的光的一部分反射到光檢測裝置。
根據(jù)本發(fā)明，反光鏡把從光源發(fā)出的光反射到光檢測裝置，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸。由于被用于在光源上的輸出功率控制的光通量通過使用光檢測裝置接收來自反光鏡反射的光而被增加，所以光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是反光鏡是一個凹面反光鏡。
根據(jù)本發(fā)明，凹面反光鏡把從光源發(fā)出的光反射到光檢測裝置，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸，同時聚焦。由于通過凹面反光鏡被反射和聚焦的光通過光檢測裝置被接收，所以由于發(fā)散所引起的光通量的減少就很小，因此被用于在光源上輸出功率控制的光通量增加，于是光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是光聚集裝置包括一個聚焦透鏡，用于聚焦從光源發(fā)出的光，和一個反光鏡用于把通過聚焦透鏡所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置。
根據(jù)本發(fā)明，聚焦透鏡把從光源發(fā)出的光聚焦，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸，并且反光鏡把所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置。由于通過凹面反會聚光鏡被反射和聚焦的會聚光通過會聚光檢測裝置被接收，所以由于發(fā)散所引起的會聚光通量的減少就很小，因此被用于在會聚光源上輸出功率控制的會聚光通量增加，于是會聚光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是光聚集裝置包括第一和第二反光鏡，用于把從光源發(fā)出的光的各自部分反射到光檢測裝置。
根據(jù)本發(fā)明，第一和第二反光鏡把從光源發(fā)出的各自光束反射到光檢測裝置，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸。由于從第一和第二反光鏡反射的光束通過光檢測裝置被接收，從而被用于在光源上的輸出功率控制的光通量被增加，所以光源的輸出功率高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是第一和第二反光鏡的每一個都是凹面反光鏡。
根據(jù)本發(fā)明，第一和第二凹面反光鏡把從光源發(fā)出的各自光束反射到光檢測裝置，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸，同時聚焦光束。由于通過第一和第二凹面反光束鏡被反射和聚焦的光束通過光束檢測裝置被接收，所以由于發(fā)散所引起的光束通量的減少就很小，因此被用于在光束源上輸出功率控制的光束通量增加，于是光束源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是光聚集裝置包括第一聚焦透鏡，用于把從光源發(fā)出的光的一部分聚焦，反光鏡，用于把通過第一聚焦透鏡所產(chǎn)生的會聚光聚焦到光檢測裝置，和第二個聚焦透鏡，用于把從光源發(fā)出的光的另一部分光聚焦在光檢測裝置上。
根據(jù)本發(fā)明，第一聚焦透鏡把從光源發(fā)出的光聚焦，并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸，并且反光鏡把所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置。第二個聚焦透鏡把從光源發(fā)出的另一光束聚焦并且離開光軸到光檢測裝置。由于通過反光鏡被反射會聚光和通過第二聚焦透鏡被聚焦的光通過光檢測裝置被接收，所以由于發(fā)散所引起的光通量的減少就很小，并且被用于在光源上輸出功率控制的光通量增加，因此光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是光聚集裝置包括第一和第二聚焦透鏡，用于把從光源發(fā)出的光的各自部分聚焦到光檢測裝置，第一反光鏡，用于把通過第一聚焦透鏡所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置，第二反光鏡，用于把通過第二聚焦透鏡所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置。
根據(jù)本發(fā)明，第一和第二聚焦透鏡把從光源發(fā)出的光束聚焦并且以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸，以及第一和第二反光鏡分別地把通過第一和第二聚焦透鏡所產(chǎn)生的會聚光束反射到光檢測裝置。由于通過第一和第二反光鏡被反射的會聚光束和通過第二聚焦透鏡被聚焦的光通過光檢測裝置被接收，所以由于發(fā)散所引起的光通量的減少就很小，并且被用于在光源上輸出功率控制的光通量增加，因此光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
本發(fā)明提供一種通過使用光在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括用于發(fā)射光的光源；光檢測裝置，用于檢測從光源發(fā)出的光的一部分；光分離裝置，用于分離從光源發(fā)出的被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分，并且用于把光的一部分指引到光檢測裝置；和控制裝置，用于根據(jù)光檢測裝置的輸出控制從光源發(fā)出的光的能量。
根據(jù)本發(fā)明，基于通過光檢測裝置被檢測的光通量，產(chǎn)生一個信號，并且根據(jù)所產(chǎn)生的信號，控制裝置控制從光源發(fā)出的光的能量。光檢測裝置能檢測從光源發(fā)出的不被用來信息記錄或者再現(xiàn)的直接入射光，和被用于信息記錄或者再現(xiàn)的部分光。所以，能夠被用于光強度控制的所接收的光通量被增加，因此光強度控制的準(zhǔn)確度能夠被提高。此外，由于從光源發(fā)出的不被用來信息記錄或者再現(xiàn)的光被用于輸出功率控制，所以光的使用效率能夠被增加。
在本發(fā)明中，更好的是光分離裝置包括一個具有光分離面的光束分離器，其中光分離面的特定部分和其它部分具有不同的反射比。
根據(jù)本發(fā)明，光束分離器把從光源發(fā)出的光的一部分反射到光檢測裝置，并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)。由于從光束分離器反射的光通過光檢測裝置被接收，并且被用于在光源上的輸出功率控制的光通量被增加，所以光源的輸出功率高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是其中特定部分與其它部分具有不同反射比的光束分離器的分離面通過涂上具有不同反射率值的涂層材料而形成。
根據(jù)本發(fā)明，光分離面是通過涂上具有不同反射率值的涂層材料而形成的，并且特定部分與其它部分具有不同的反射比。這使得很容易地提供其中特定部分與其它部分具有不同的反射比的光分離面成為可能。所以，被用于控制光源的輸出功率的光能夠以預(yù)期的比率從光源發(fā)出的光中被提取。
在本發(fā)明中，更好的是光分離裝置進(jìn)一步包括聚焦透鏡，用于聚焦從光束分離器被反射的光。
根據(jù)本發(fā)明，由于光分離裝置包括聚焦透鏡，所以已經(jīng)被反射并且通過光束分離器被分離的光被輸入到光檢測裝置，同時被聚焦。所以，通過光束分離器被反射的光被輸入到光檢測裝置而由于發(fā)散不減少光通量，因此被用于在光源上的輸出功率控制的光通量能夠進(jìn)一步的被增加，所以光源的輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
在本發(fā)明中，更好的是光檢測裝置包括光檢測元件，用于檢測光，把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號，并且輸出此信號，和信號放大裝置，用于放大從光檢測元件輸出的信號，其中光檢測元件和信號放大裝置被集成為一個單一部分。
根據(jù)本發(fā)明，光檢測裝置和信號放大裝置有助于光學(xué)拾取裝置的小型化，其中光檢測裝置是通過集成光檢測元件例如光電二極管而形成的單一部分。
根據(jù)本發(fā)明，光檢測裝置能夠檢測從光源發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的直接入射光，和以不同于朝著光檢測裝置方向的方向離開光軸的光或者被用于信息記錄或者再現(xiàn)的部分光。所以，能夠被用于光強度控制的所接收的光通量被增加，因此光強度控制的準(zhǔn)確度能夠被提高。此外，由于光強度控制能夠執(zhí)行而不減少從光源發(fā)出的并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的數(shù)量，所以光的使用效率能夠被提高。
本發(fā)明提供一種通過使用光在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括用于發(fā)射光的光源；光反射裝置，用于反射從光源發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分；監(jiān)測光檢測裝置，用于檢測從光反射裝置被反射的光；控制裝置，用于根據(jù)監(jiān)測光檢測裝置的檢測輸出控制從光源發(fā)出的光的能量；聚焦裝置，用于把來自光源的光聚焦到光記錄介質(zhì)的信息記錄表面，并且用于信息記錄或者再現(xiàn)；和光檢測裝置，用于檢測從光記錄介質(zhì)被反射的光。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置反射從光源發(fā)出的不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分，監(jiān)測光檢測裝置檢測被反射的光，并且控制裝置根據(jù)監(jiān)測光檢測裝置的檢測輸出控制從光源發(fā)出的光的能量。由于從光源發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光被用于輸出功率控制，所以從光源發(fā)出的光能夠高效率地被利用。光反射裝置增加不用于信息記錄或者再現(xiàn)的反射光的數(shù)量，因此監(jiān)測光檢測裝置所接收的光通量被增加。因而，由于通過控制裝置的光強度控制的強度被增加，所以光強度控制的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性能夠被增加。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置包括多個光反射部分，并且每一個光反射部分根據(jù)從光源發(fā)出的光的光軸對稱地被放置，和監(jiān)測光檢測裝置，在與光反射部分等距的位置處被放置。
根據(jù)本發(fā)明，由于光反射裝置包括多個光反射部分，所以從光源發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的反射光的數(shù)量能夠被增加。由于多個光反射部根據(jù)從光源發(fā)出的光的光軸對稱地被放置，并且監(jiān)測光檢測裝置在與光反射部分等距離的位置處被放置，所以監(jiān)測光檢測裝置能夠以一個均衡的方式接收來自各自光反射部分的反射光束。這就抑制了由于從光源發(fā)出的光束的扭曲強度分布而引起的在接收光通量上變化因此光強度控制的準(zhǔn)確性能夠得到改善。此外，上述布置實現(xiàn)了對于光反射裝置和監(jiān)測光檢測裝置設(shè)置的最有效率的空間應(yīng)用(他們爭奪空間)。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置是一個在縱向伸展的平行六面體形狀，并且其中光反射層形成在縱向上的一個端面上。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置具有一個在縱向伸展的平行六面體形狀，并且其中光反射層形成在縱向上的一個端面上。此結(jié)構(gòu)有利于光反射裝置的放置，并且防止操作工錯誤地認(rèn)為另外一個面是在其上形成光反射層的面。在裝置中光反射裝置的錯誤裝配能夠被防止。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置是一個在縱向伸展的平行六面體形狀，并且其中光反射層被形成在縱向上的兩個彼此相對的各自端面上。
根據(jù)本發(fā)明，在光反射裝置中，光反射層被形成在縱向上的兩個彼此相對的各自端面上。此結(jié)構(gòu)允許兩個端面的任何一個被用作光反射面。所以，通過僅僅準(zhǔn)備一種光反射裝置，多個光反射裝置能夠被放置在根據(jù)光軸對稱的位置處，并且允許監(jiān)測光檢測裝置接收反射光束。部件的數(shù)量能夠被減少，這有助于制造成本的減少。
在本發(fā)明中，更好的是光學(xué)拾取裝置進(jìn)一步包括光分支裝置，用于傳達(dá)和反射從光源發(fā)出的并且用于信息記錄或者再現(xiàn)的光，并且與縱向平行的光反射裝置的一個側(cè)面被直接附著在與光源相對的光分支裝置的一個面上。
根據(jù)本發(fā)明，與縱向平行的光反射裝置的一個側(cè)面直接被附著在與光源相對的光分支裝置的一個面上。在裝置的裝配期間，此配置簡單化光反射裝置的位置調(diào)整，這有助于增加生產(chǎn)效率。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置是一個凹面鏡。
根據(jù)本發(fā)明，光反射裝置是一個凹面鏡。具有聚焦功能的凹面鏡反射聚焦從光源發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光，從而通過監(jiān)測光檢測裝置使光被接收。這就允許監(jiān)測光檢測裝置的光接收和檢測部分更有效地接收反射光，這就增加了光強度控制的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
在本發(fā)明中，更好的是光反射裝置包括與所裝載的光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)軸垂直或者平行布置的兩個光反射部分，以致面對著聚焦裝置，并且被放置在根據(jù)從光源發(fā)出的光的光軸對稱的位置處。
根據(jù)本發(fā)明，兩個光反射部分可以與光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)軸垂直或者平行放置。這就提供某一邊緣，用于光反射裝置的設(shè)置(安裝)，因此有利于其他光學(xué)部分的安裝位置的設(shè)置(它們爭奪空間)。
在本發(fā)明中，更好的是光源和光檢測裝置被集成為一個單一部分。
根據(jù)本發(fā)明，光源和光檢測裝置被集成為一個單一部分。這就減少了使用在裝配裝置中的部件的數(shù)量，因此增加了裝配工作的效率。
在本發(fā)明中，更好的是包括多個光源。
根據(jù)本發(fā)明，裝置裝備有例如能夠發(fā)射具有不同波長光束的多個光源。提供一種光學(xué)拾取裝置，能夠適應(yīng)兩種光記錄介質(zhì)例如具有不同波長的壓縮光盤(CD)和數(shù)字萬用盤(DVD)，用于信息記錄和再現(xiàn)。
在本發(fā)明中，更好的是監(jiān)測光檢測裝置包括一個光電二極管，用于把所檢測的光轉(zhuǎn)換為一個電流或電壓信號。
在本發(fā)明中，更好的是監(jiān)測光檢測裝置包括一個光電二極管，用于把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號，和信號放大裝置，用于放大通過光電二極管被轉(zhuǎn)換的電流或電壓信號，其中光電二極管和信號放大裝置被集成為一個單一部分。
根據(jù)本發(fā)明，監(jiān)測光檢測裝置包括一個光電二極管(PD)，用于把光轉(zhuǎn)換為一個電流或電壓信號。有選擇的，監(jiān)測光檢測裝置可以包含一個光電二極管集成電路(PDIC)，其中，PD用于把光轉(zhuǎn)換為一個電流或電壓信號，例如一個具有信號放大裝置的集成電路(IC)，用于放大通過光電二極管所產(chǎn)生的電流或電壓信號，它們彼此被集成在一起。對于此配置，通過PD例如監(jiān)測光檢測裝置被接收的用于光強度控制的反射光被有效地轉(zhuǎn)換為一個電信號。此外，作為例如監(jiān)測光檢測裝置的PDIC，其是一個整體部件，的使用使得在裝配裝置中所使用的部件的數(shù)目減少成為可能，因此提高了裝配工作的效率。


通過下面參考附圖的詳細(xì)描述，本發(fā)明的目的、特征和優(yōu)點將會更加明顯，其中圖1是表示根據(jù)本發(fā)明第一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖2表示相對于從光源發(fā)出的光，光反射裝置怎么放置；圖3是表示根據(jù)本發(fā)明第二個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖4是表示根據(jù)本發(fā)明第三個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖5是表示根據(jù)本發(fā)明第四具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖6是表示根據(jù)本發(fā)明第五具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖7是表示根據(jù)本發(fā)明第六具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖8是表示根據(jù)本發(fā)明第七具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖9是表示根據(jù)本發(fā)明第六具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖10是表示根據(jù)本發(fā)明第九具體實施方式
或者一種光學(xué)拾取裝置配置或者簡化系統(tǒng)圖；圖11是表示根據(jù)本發(fā)明第十個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置的簡化透視圖；圖12是表示根據(jù)本發(fā)明第十一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖13是表示根據(jù)本發(fā)明第十二個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；
圖14是表示根據(jù)本發(fā)明第十三個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖15是表示根據(jù)本發(fā)明第十四個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖16是表示根據(jù)本發(fā)明第十五個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖17是表示根據(jù)本發(fā)明第十六個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖18是表示根據(jù)本發(fā)明第十七個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖19是表示根據(jù)本發(fā)明第十八個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖20是表示根據(jù)本發(fā)明第十九個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖；圖21是表示根據(jù)本發(fā)明第二十個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置布置的簡化側(cè)視圖；圖22和23是分別表示圖21的光學(xué)拾取裝置一個重要部分布置的一個側(cè)視圖和一個平面圖；圖24是表示光反射部分結(jié)構(gòu)的透視圖；圖25A和25B是分別表示光反射部分結(jié)構(gòu)的平面圖和側(cè)視圖；圖26A和26B是表示其光反射層形成在兩個各自端面上的光反射部分結(jié)構(gòu)的平面圖；圖27是表示根據(jù)本發(fā)明第二十一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置重要部分布置的簡化側(cè)視圖；圖28是表示根據(jù)本發(fā)明第二十二個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置重要部分布置的簡化側(cè)視圖；圖29是表示圖28的光學(xué)拾取裝置重要部分布置的平面圖；圖30是表示在圖28的光學(xué)拾取裝置中所提供的光束分離器、準(zhǔn)直透鏡和光反射部分布置的前視圖；圖31是表示根據(jù)本發(fā)明第二十三個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置重要部分布置的簡化側(cè)視圖；圖32是表示根據(jù)本發(fā)明第二十四個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置重要部分布置的簡化側(cè)視圖；圖33是表示一種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置的光輸出功率監(jiān)測的實例，此傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置裝有具有不同波長的兩個光源。
圖34表示另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置的光輸出功率監(jiān)測的實例。
圖35是表示另一傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置配置的簡化系統(tǒng)圖；圖36是表示另一個傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置的配置的簡化系統(tǒng)圖。
圖37是表示使用前端監(jiān)測方法的一種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置布置的簡化側(cè)視圖；和圖38是表示使用前端監(jiān)測方法的另一種傳統(tǒng)光學(xué)拾取裝置裝配的簡化側(cè)視圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在參考附圖，在下面將描述本發(fā)明最佳實施方案。
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明第一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置121的簡化系統(tǒng)圖。光學(xué)拾取裝置121在光記錄介質(zhì)122上記錄或者從光記錄介質(zhì)122上再現(xiàn)信息。光學(xué)拾取裝置121裝備有作為光源的第一光源123和第二個光源124；一物鏡125；一個光分離光學(xué)元件126；一個準(zhǔn)直透鏡127；一個光路變化反射鏡128；作為光反射裝置的第一光反射裝置129和第二光反射裝置130；作為光強度檢測裝置的第一光輸出功率檢測裝置131和第二光輸出功率檢測裝置132；和作為光輸出功率控制裝置的一個光輸出功率控制裝置133。
第一光源123和第二光源124發(fā)出具有不同波長的光束。與光記錄介質(zhì)122相對的物鏡125，用于把來自第一光源123或者第二光源124的光聚焦到光記錄介質(zhì)122的信息記錄表面。被放置在物鏡125與第一和第二光光源123和124之間的光分離光學(xué)元件126傳輸或者反射來自第一光源123或者第二光源124的光。被放置在光分離光學(xué)元件126和物鏡125之間的準(zhǔn)直透鏡127，用于把來自于第一光源123或者第二光源124的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光。光路變化反射鏡128被放置在準(zhǔn)直透鏡127和物鏡125之間，并且反射來自于第一光源123或者第二光源124的光，以便改變它們的光路。
第一光反射裝置129反射從第一光源123發(fā)出的部分光束。第二光反射裝置130反射從第二光源124發(fā)出的部分光束。第一光輸出功率檢測裝置131檢測從第一光反射裝置129反射的光。第二光輸出功率檢測裝置132檢測從第二光反射裝置130反射的光。光輸出功率控制裝置133根據(jù)第一光輸出功率檢測裝置131或者第二光輸出功率檢測裝置132的檢測輸出控制從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的光的能量。
例如，第一光源123是一個發(fā)出具有波長為780nm的紅外線激光的半導(dǎo)體激光器，并且用于在一個壓縮光盤(CD)上記錄和從一個壓縮光盤(CD)再現(xiàn)信息。例如，第二光源124是一個發(fā)出具有波長為650nm的紅光激光的半導(dǎo)體激光器，并且用于在一個數(shù)字萬用盤(DVD)上記錄和從一個數(shù)字萬用盤(DVD)再現(xiàn)信息。光分離光學(xué)元件126是一個光束分離器例如Clan-Thompson棱鏡。光分離光學(xué)元件126反射來自于第一光源123的入射光，并且傳輸來自于第二光源124的入射光，從而使光進(jìn)入準(zhǔn)直透鏡127。被稱為″向上引導(dǎo)反射鏡″的光路變化反射鏡128把通過準(zhǔn)直透鏡127的光的光路經(jīng)過反射彎曲90°，因此使反射光進(jìn)入與光記錄介質(zhì)122相對的物鏡125。
從第一光源123發(fā)出的光通過光分離光學(xué)元件126被反射，通過準(zhǔn)直透鏡127被轉(zhuǎn)換為大致的平行光，并且通過光路變化反射鏡129被反射，因此光的光路被彎曲90°。反射光進(jìn)入物鏡125，并且通過物鏡125被聚焦在光記錄介質(zhì)122的信息記錄表面上。從第二光源124發(fā)出的光穿過光分離光學(xué)元件126，并且進(jìn)入準(zhǔn)直透鏡127。其后從準(zhǔn)直透鏡127輸出的光以來自于第一光源123的光的相同的方法被聚焦在光記錄介質(zhì)122的信息記錄表面上。如此，光學(xué)拾取裝置121能夠在光記錄介質(zhì)122上記錄信息。
為了從光記錄介質(zhì)122再現(xiàn)信息，通過光記錄介質(zhì)122已經(jīng)被反射的光沿著與在信息記錄中的相反的方向相同的光路前進(jìn)，并且通過沒有表示出以及分別接近于第一光源123和第二光源124的光電檢測器被檢測。檢測信號包括作為信息再現(xiàn)信號的RF信號，被用于光束點聚焦控制的聚焦誤差信號，和被用于光束點跟蹤控制的跟蹤誤差信號。
在上述每一個信息記錄和再現(xiàn)中，從光源123或124發(fā)出的光的能量的穩(wěn)定對于信號處理準(zhǔn)確性的提高是必需的。通過監(jiān)測從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的光并且反饋監(jiān)測結(jié)果，實現(xiàn)用于穩(wěn)定光輸出功率的控制。在光學(xué)拾取裝置121中所提供的第一和第二光反射部分129和130、第一和第二光輸出功率檢測部分131和132、光強度控制部分133都是用于穩(wěn)定從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的光的能量的裝置。
第一光反射部分129和第二光反射部分130是反射鏡。第一光反射部分129和第二光反射部分130的每一個被放置在第一光源123或者第二光源124和光分離光學(xué)元件126之間，并且反射從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的部分光，并且使它進(jìn)入第一光輸出功率檢測部分131或者第二光輸出功率檢測部分132。圖2表示光反射裝置(特別是第一光反射部分129)相對于從光源(特別是第一光源123)發(fā)出的光如何放置。
從第一光源123發(fā)出的光具有與兩個各自正交軸136和137相關(guān)聯(lián)的擴(kuò)散角，此兩個各自正交軸136和137形成在垂直于從第一光源123發(fā)出的光的光軸134的虛平面135上。第一光反射部分129被放置在與兩個擴(kuò)散角中較大一個擴(kuò)散角θ1相關(guān)聯(lián)的軸137上。第二光反射部分130以第一光反射部分129相同的方法被放置。由于第一光反射部分129和第二光反射部分130以上述方法被放置，所以第一光反射部分129或者第二光反射部分130能夠反射從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的部分大量光，并且允許這些光被用于監(jiān)測。所以，第一光源123和第二光源124的每一個的光輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。
作為光接收單元例如光電二極管的第一光輸出功率檢測部分131和第二光輸出功率檢測部分132檢測通過第一光反射部分129或者第二光反射部分130被反射的光，并且提供一個檢測輸出到光強度控制部分133。作為控制電路的光強度控制部分133，根據(jù)第一光輸出功率檢測部分131或者第二光輸出功率檢測部分132的檢測輸出來控制從第一光源123或者第二光源124發(fā)出的光的能量。
上述配置的光學(xué)拾取裝置121能夠高準(zhǔn)確度地控制光源123或者124的光輸出功率而不改變用于在光記錄介質(zhì)122上記錄和/或再現(xiàn)信息的光學(xué)系統(tǒng)。由于第一光反射部分129或者第二光反射部分130分別提供在光分離光學(xué)元件126以及第一和第二光源123和124之間，所以安裝容量能夠變得更小，并且裝置還可以比在它們被放置在相對于光源123和124的光分離光學(xué)元件的相對側(cè)的情況下還要小。此外，由于光輸出功率能夠通過第一光反射部分129或者第二光反射部分130反射的沒有穿過或者沒有通過光分離光學(xué)元件126被反射的光而被監(jiān)測，所以123或者124的光輸出功率能夠高準(zhǔn)確度地被控制。雖然上述具體實施方式
被用于具有兩個光源的光學(xué)拾取裝置121，但是本發(fā)明還可以被用于具有單一光源、單一光反射裝置、和單一光輸出功率檢測裝置的光學(xué)拾取裝置。
圖3是表示根據(jù)本發(fā)明第二個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置140配置的簡化系統(tǒng)圖；根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置140相似于根據(jù)第一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置121。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。在光學(xué)拾取裝置140中，作為光反射裝置的反射鏡141經(jīng)過附著構(gòu)件142被附著在光分離光學(xué)元件126的準(zhǔn)直儀透鏡127一側(cè)。
在光學(xué)拾取裝置140中，從第一光源123發(fā)出的并且通過光分離光學(xué)元件126被反射的部分光和從第二光源124發(fā)出的并且傳輸?shù)焦夥蛛x光學(xué)元件126的部分光這兩部分能夠通過單一的光反射裝置，也就是說反射鏡141被反射，并且輸入到第一光輸出功率檢測部分131。如此，對于單一的反射鏡141和單一的第一光輸出功率檢測部分131，兩個光源，也就是說第一光源123和第二光源124的每一個的光輸出功率經(jīng)過光強度控制部分133通過監(jiān)測而被控制。所以，部件的數(shù)目被減少，并且裝置的裝配工作被簡化，因此生產(chǎn)效率得到了提供。
圖4是表示根據(jù)本發(fā)明第三個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置143配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置143相似于根據(jù)第二個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置140。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。在光學(xué)拾取裝置143中，作為光反射裝置的反射鏡141經(jīng)過附著構(gòu)件142被附著在光分離光學(xué)元件126的第二光源124一側(cè)。在光學(xué)拾取裝置143中，從第二光源124發(fā)出的部分光通過反射鏡141被反射，并且輸入到第二光輸出功率檢測部分132。如此，對于反射鏡141，第二光源124的光輸出功率能夠經(jīng)過光強度控制部分133通過監(jiān)測而被控制。
圖5是表示根據(jù)本發(fā)明第四具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置144配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置144相似于根據(jù)第二個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置140。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。在光學(xué)拾取裝置144中，作為光反射裝置的反射鏡141被直接附著在光分離光學(xué)元件126的第二個光能源124的一側(cè)。在光學(xué)拾取裝置144中，從第二光源124發(fā)出的部分光通過反射鏡141被反射，并且輸入到第二光輸出功率檢測部分132。如此，對于反射鏡141，第二光源124的光輸出功率能夠經(jīng)過光強度控制部分133通過監(jiān)測而被控制。
在上述根據(jù)第二個到第四個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置140、143、和144中，由于作為光反射裝置的反射鏡141被附著在光分離光學(xué)元件126上，所以不需要一個很大容量的空間用于設(shè)置反射鏡141，這有助于裝置的小型化。
圖6是表示根據(jù)本發(fā)明第五具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置145配置的簡化系統(tǒng)圖，并且圖7是表示根據(jù)本發(fā)明第六具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置146配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)第五個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置145和146相似于根據(jù)第一具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置121。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。在根據(jù)那第五具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置145中，作為光反射裝置的反射鏡147被附著在準(zhǔn)直透鏡127上。在根據(jù)那第六具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置146中，作為光反射裝置的反射鏡147被附著在保持準(zhǔn)直器透鏡127的保持構(gòu)件148上。
在根據(jù)第五個和第六個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置145和146中，從第一光源123發(fā)出的并且通過光分離光學(xué)元件126被反射的部分光和從第二光源124發(fā)出的并且穿過到光分離光學(xué)元件126的部分光這兩部分光能夠通過單一的光反射裝置147被反射，并且輸入到第一光輸出功率檢測部分131。如此，對于單一的反射鏡147和單一的第一光輸出功率檢測部分131，兩個光源，也就是說第一光源123和第二光源124的每一個的光輸出功率經(jīng)過光強度控制部分133通過監(jiān)測而被控制。
所以，部件的數(shù)目被減少，并且裝置的裝配工作被簡化，因此生產(chǎn)效率得到了提高。此外，由于反射鏡147被附著在準(zhǔn)直透鏡127或者保持準(zhǔn)直透鏡127的保持構(gòu)件148上，所以不需要一個大容量的空間用于設(shè)置反射鏡147，這有助于裝置的小型化。
圖8是表示根據(jù)本發(fā)明第七具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置149配置的簡化系統(tǒng)圖，并且圖9是表示根據(jù)本發(fā)明第六具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置配置150的簡化系統(tǒng)圖；根據(jù)第七個和第八個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置149和150相似于根據(jù)第一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置121。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。在圖6和9中，作為光路變化反射鏡128的向上引導(dǎo)反射鏡是從物鏡125所在側(cè)面觀看的。為了防止圖6和9的過分復(fù)雜，物鏡125和光記錄介質(zhì)122在這些圖中省略掉了。
在根據(jù)第七個和第八個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置149和150中，作為光反射裝置的反射鏡151被附著在向上引導(dǎo)反射鏡128上。從第一光源123發(fā)出的并且通過光分離光學(xué)元件126被反射的部分光和從第二光源124發(fā)出的并且穿過光分離光學(xué)元件126的部分光穿過準(zhǔn)直透鏡127，通過反射鏡151被反射，并且輸入到第一光輸出功率檢測部分131。
如此，采用單一的反射鏡151和單一的第一光輸出功率檢測部分131，兩個光源，也就是說第一光源123和第二光源124的每一個的光輸出功率經(jīng)過光強度控制部分133通過監(jiān)測而被控制。所以，部件的數(shù)目被減少，并且裝置的裝配工作被簡化，因此生產(chǎn)效率得到了提高。此外，由于反射鏡151被附著在向上引導(dǎo)反射鏡128上，所以不需要一個大容量的空間用于設(shè)置反射鏡151，這有助于裝置的小型化。
圖10是表示根據(jù)本發(fā)明第九個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置152配置的簡化系統(tǒng)圖；根據(jù)第九個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置152相似于根據(jù)第一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置121。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。
根據(jù)第九個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置152不裝備任何光反射裝置。從第一光源123發(fā)出的并且通過光分離光學(xué)元件126被反射的部分光和從第二光源124發(fā)出的并且穿過光分離光學(xué)元件126的部分光穿過準(zhǔn)直透鏡127，并且輸入到第一光輸出功率檢測部分131，而不照射到向上引導(dǎo)反射鏡128(例如，它們經(jīng)過(平行)向上引導(dǎo)反射鏡128的側(cè)面153)。
如此，沒有采用任何光反射裝置，兩個光源，也就是第一光源123和第二光源124的每一個的光輸出功率能夠經(jīng)過光強度控制部分133僅僅通過單一的第一光輸出功率檢測部分131監(jiān)測而被控制。所以，部件的數(shù)目被減少，并且裝置的裝配工作被簡化，因此生產(chǎn)效率得到了提高。此外，由于部件的數(shù)目被減少，用于設(shè)置部件的空間容量被減小，這有助于裝置的小型化。
圖11是表示根據(jù)本發(fā)明第十個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置155配置的簡化透視圖。根據(jù)第十個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置155相似于根據(jù)第一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置121。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置155的一個重要特征是垂直于第一光反射部分129的反射面129a的正交軸156不平行于從向上引導(dǎo)反射鏡128反射到光記錄介質(zhì)122的光軸157。
為了滿足小型化和厚度減小的需要，在光學(xué)拾取裝置155中，布置獨立構(gòu)件以致減少光記錄介質(zhì)122的底面和向上引導(dǎo)反射鏡123的底面之間的距離TH，也就是裝置的厚度。通過設(shè)置不平行于光軸157，更好的是垂直于光軸157的第一光反射部分129的正交軸156，裝置的厚度能夠被減小。
由于光源123被取向以致從光源123發(fā)出的光的散布面158在裝置厚度TH的方向上具有上述更大的散布角θ1，所以在準(zhǔn)直透鏡127的位置處，對應(yīng)于更大擴(kuò)散角θ1的發(fā)散光的直徑大于準(zhǔn)直透鏡127的直徑。所以，從光源123發(fā)出的部分光不輸入到圓形準(zhǔn)直透鏡127。在光學(xué)拾取裝置155中，第一光反射部分129被設(shè)置在軸上，在此軸上從光源123發(fā)出的光形成更大的擴(kuò)散角θ1以致如上所述垂直于反射面129a的正交軸156不平行于光軸157。并且不輸入到準(zhǔn)直透鏡127的光，也就是不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光通過第一光反射部分129的反射而被用于光強度控制，以致照射到第一光輸出功率檢測部分131。如此，能夠獲得從光源123發(fā)出的光的有效使用和裝置的厚度減小。
雖然圖11表示提供了一種具有單一的第一光源123和單一的第一光反射部分129的配置，但是裝有發(fā)出具有不同波長光束的第一和第二光源的光學(xué)拾取裝置也能夠提供與根據(jù)第十實施例的光學(xué)拾取裝置155相同的優(yōu)點，這通過以一種方式設(shè)置相對于各自光源的第一和第二光反射部分來實現(xiàn)，此方式為垂直于各自反射面的正交軸不平行于從向上引導(dǎo)反射鏡被反射到光記錄介質(zhì)的光的光軸。
圖12是表示根據(jù)本發(fā)明第十一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置220的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。光學(xué)拾取裝置220是一種用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的裝置，它裝備有用于發(fā)射光的光源221；光檢測裝置222，用于檢測從光源221發(fā)出的部分光；光聚集裝置223，用于把從光源221發(fā)出的不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分指引到光檢測裝置222；控制裝置224，用于根據(jù)光檢測裝置222的輸出控制從光源221發(fā)出的光的能量；光接收部分，用于通過接收來自光記錄介質(zhì)的反射光讀取信息；和被放置在光記錄介質(zhì)和光源221之間的聚焦光學(xué)系統(tǒng)225，用于把來自于光源221的光聚焦到光記錄介質(zhì)，并且聚焦從光記錄介質(zhì)反射的光。
光源221是一個半導(dǎo)體激光器221，并且提供于半導(dǎo)體激光器221中的半導(dǎo)體激光器芯片226把光發(fā)射到光記錄介質(zhì)。從光源221發(fā)出的大部分光輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225，并且用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息。不輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225并且不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的剩余光向外發(fā)送。
光檢測裝置222具有一個光電二極管和作為信號放大裝置的信號放大部分。作為光電檢測元件的光電二極管接收并且檢測從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的光的一部分(為了方便起見，以下成為″支出光″)，并向外發(fā)送，代替輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225，并且把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號，以便輸出信號。信號放大部分放大從光電二極管輸出的信號。光電二極管和信號放大部分被集成為一個單一部分的結(jié)構(gòu)有助于光學(xué)拾取裝置220的小型化。換句話說，光電二極管和信號放大部分可以是獨立的部分。
控制裝置224是一個ARC電路224。基于分別用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息所必需的光的數(shù)量，被用于控制半導(dǎo)體激光器芯片226輸出功率的電流信號(或者電壓信號)被設(shè)置并且被預(yù)先存儲在APC電路224的存儲器中。通過比較從光檢測裝置222輸出的電流信號和依靠光學(xué)拾取裝置220的工作狀態(tài)用于控制的作為一個參考的電流信號，APC電路224判斷半導(dǎo)體激光器芯片226的輸出功率是否足夠，并且通過向半導(dǎo)體激光器221提供用于控制半導(dǎo)體激光器芯片226的驅(qū)動電流的信號，控制半導(dǎo)體激光器芯片226的輸出功率。作為反光鏡223的光聚集裝置223把支出光的一部分反射到光檢測裝置222，其中此支出光以不同于朝著光檢測裝置222方向的方向前進(jìn)并且不輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225以及不被用于信息記錄或者再現(xiàn)。
光接收部分接收從光記錄介質(zhì)反射的光并且對應(yīng)于接收光的數(shù)量把光轉(zhuǎn)換為一個電流信號(例如反射光的檢測信號)。聚焦光學(xué)系統(tǒng)225包括一個準(zhǔn)直透鏡227、一個向上引導(dǎo)反射鏡、一個物鏡，和一個聚焦透鏡，并且把來自于半導(dǎo)體激光器芯片226的光聚焦到光記錄介質(zhì)上，并且把從光記錄介質(zhì)反射的光聚焦到光接收部分。光接收部分可以與半導(dǎo)體激光器221一起被集成為一個光發(fā)射/接收單元或者可以是從半導(dǎo)體激光器221分離出來的獨立部分。
從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的大部分光輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225，并且用于在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息。以不同于朝著光檢測裝置222方向的方向前進(jìn)的支出光的一部分通過反光鏡223被反射到光檢測裝置222，并且通過光檢測裝置222與直接照射到光檢測裝置222的支出光的另一部分一起被接收。通過光檢測裝置222被接收的光通過光電二極管被檢測，并且被轉(zhuǎn)換為一個電流信號以便輸出電流信號。因此從光電二極管輸出的電流信號通過信號放大部分被放大，并且輸出到APC電路224。
APC電路224從存儲器讀取預(yù)置電流信號來用作用于控制的參考，并且比較從光檢測裝置222輸出的電流信號與讀出電流信號。根據(jù)比較結(jié)果，APC電路224通過把用于控制半導(dǎo)體激光器芯片226驅(qū)動電流的信號提供給半導(dǎo)體激光器221來控制半導(dǎo)體激光器221的輸出功率為一個恒定值。
圖13是表示根據(jù)本發(fā)明第十二個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置228的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置228相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置226的一個重要特征是光聚集裝置229是一個凹面反光鏡229。
凹面反光鏡229是一個反射鏡，它反射入射光同時使用它的凹面聚焦入射光。以不同于朝著光檢測裝置222方向的方向前進(jìn)的支出光的一部分照射到凹面反光鏡229的凹面上，并且通過凹面被反射到光檢測裝置222同時被聚焦。已經(jīng)被反射和聚焦的光以及直接照射到光檢測裝置222的支出光的另一個部分通過光檢測裝置222被接收，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖14是表示根據(jù)本發(fā)明第十三個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置230的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置230相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置230的一個重要特征是光聚集裝置231由一個聚焦透鏡232和一個反光鏡233組成，其中聚焦透鏡232用于聚焦從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的支出光的一部分，反光鏡233用于把通過聚焦透鏡232產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置222。
以不同于朝著光檢測裝置222方向的方向前進(jìn)的支出光的一部分通過聚焦透鏡232被聚焦，并且通過反光鏡233被反射到光檢測裝置222。在匯聚狀態(tài)的反射光和直接地照射到光檢測裝置222的支出光的另一個部分通過光檢測裝置222被接收，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖15是表示根據(jù)本發(fā)明第十四個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置234的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置234相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置234的一個重要的特征是光聚集裝置235由第一反光鏡236和第二反光鏡237組成，其用于把從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的光的一部分反射到光檢測裝置222。
支出光的一部分通過第一反光鏡236和第二個反光鏡237被反射到光檢測裝置222。反射光光束通過光檢測裝置222被接收，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖16是表示根據(jù)本發(fā)明第十五個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置238的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置238相似于根據(jù)第十四個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置224。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置238的一個重要特征是光聚集裝置239由第一凹面反光鏡240和第二個凹面反光鏡241組成。
支出光的一部分通過第一凹面反光鏡240和第二個凹面反光鏡241被反射和聚焦到光檢測裝置222。反射光光束處于匯聚狀態(tài)，因此通過光檢測裝置222被接收而不減小光通量，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖17是表示根據(jù)本發(fā)明第十六個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置242的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。光學(xué)拾取裝置242相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置242的一個重要特征是光聚集裝置243由第一聚焦透鏡244、反光鏡245和第二聚焦透鏡246組成，其中第一聚焦透鏡244用于聚焦從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的支出光的一部分，反光鏡245用于把通過第一聚焦透鏡244所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置222，第二聚焦透鏡246用于把從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的支出光的一部分聚焦到光檢測裝置222。
以不同于朝著光檢測裝置222方向的方向前進(jìn)的支出光的一部分通過第一聚焦透鏡244被聚焦，并且通過反光鏡245被反射到光檢測裝置222。向光檢測裝置222傳送的支出光的另一部分通過第二聚焦透鏡246被聚焦到光檢測裝置222上。從反光鏡245反射的光和通過第二聚焦透鏡246被聚焦的光通過光檢測裝置222被接收而不減小光通量，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖18是表示根據(jù)本發(fā)明第十七個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置247的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置247相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置247的一個重要特征是光聚集裝置248由第一聚焦透鏡249、第二聚焦透鏡250、第一反光鏡251和第二反光鏡252組成，其中第一聚焦透鏡249和第二聚焦透鏡250用于聚焦從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的支出光的一部分，第一反光鏡251用于把通過第一聚焦透鏡249所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置222，第二反光鏡252用于把通過第二聚焦透鏡250所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置222。
支出光的一部分通過第一聚焦透鏡249被聚焦，并且通過第一反光鏡251被反射到光檢測裝置222。以不同于支出光的上述部分傳輸方向的方向傳輸?shù)闹С龉獾牧硪徊糠滞ㄟ^第二聚焦透鏡250被聚焦，并且通過第二反光鏡252被反射到光檢測裝置222。從第一反光鏡251和第二反光鏡252反射的光束通過光檢測裝置222被接收而不減小光通量，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的第十一個到第十七個具體實施方式
，光檢測裝置222接收直接照射到其上并且不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光和通過光聚集裝置223、229、231 235 239、243或者248被指引到其上的光。所以，用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制的光的數(shù)量能夠得到提高，這使得高準(zhǔn)確度地控制半導(dǎo)體激光器芯片226的輸出功率成為可能。此外，由于從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出而不用于信息記錄或者再現(xiàn)的支出光被用于輸出功率控制，所以從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的數(shù)量不會被減少，因此光的使用效率能夠被提高。
圖19是表示根據(jù)本發(fā)明第十八個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置253的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置253相似于根據(jù)第十一個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置220與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置253的一個重要特征是它具有光分離裝置254，用于分離從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的并且輸入到聚焦光學(xué)系統(tǒng)225以致被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分，并且被用于指引所分離的光到光檢測裝置222。
光分離裝置254是具有光分離面255的光束分離器254，其中光分離面255的某一部分的反射比不同于其它部分的反射比。光分離面255的反射率分布被確定在一個范圍內(nèi)，以致穿過光分離面255的光的數(shù)量大于用于信息記錄和再現(xiàn)所必需的一個值。在根據(jù)此具體實施方式
的光束分離器254中，以致入射到光分離面255的中心部分256的光(大約2％)被反射，并且入射到除了中心部分256之外的部分的剩余光(大約98％)被傳輸，中心部分256表面鍍有例如涂層材料比如氟化鎂(MgFa)的單一層薄膜，并且其它部分鍍有例如多層薄膜，其中多種具有各種折射率的涂層材料彼此疊放。此結(jié)構(gòu)使光分離面255容易形成，其中光分離面的某一部分的反射比不同于其它部分的反射比。
如上所述，其中某一部分的反射比不同于其它部分反射比的光分離面255被具有不同反射率值的涂層材料覆蓋。由于以此種方式，光分離面255能夠容易地被形成，所以被用于控制半導(dǎo)體激光器芯片226的輸出功率的光以預(yù)期的比率從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的光中被提取。
入射到光束分離器254的光，也就是說從半導(dǎo)體激光器芯片226發(fā)出的部分光中，入射到光分離面255的中心部分256的光(大約2％)被反射到光檢測裝置222，并且入射到除了中心部分256之外的部分的剩余光被傳輸?shù)焦庥涗浗橘|(zhì)，并且被用于或者信息記錄或者再現(xiàn)。朝著光檢測裝置222傳送的支出光的一部分和從光束分離器254反射的光通過光檢測裝置222被接收，并且導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
圖20是表示根據(jù)本發(fā)明第十九個具體實施方式
的一個光學(xué)拾取裝置257的一個重要部分配置的簡化系統(tǒng)圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置257相似于根據(jù)第十八個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置253。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置257的一個重要特征是光束分離器254裝備有一個聚光透鏡258。
聚光透鏡258被放置在光檢測裝置222和光束分離器254之間，并且與光束分離器254一起被集成。從半導(dǎo)體激光器芯片256發(fā)出的光的一部分通過光束分離器254被反射，并且反射光通過聚光透鏡256被聚集，并且通過光檢測裝置222與直接照射在光檢測裝置222上的支出光的一部分一起被接收，而不減少經(jīng)過發(fā)散的光通量。導(dǎo)致的電流信號被用于在半導(dǎo)體激光器芯片226上的輸出功率控制。
雖然在此具體實施方式
中聚光透鏡258與光束分離器254一起被集成，但是聚光透鏡可以與光束分離器254分開。
根據(jù)本發(fā)明第十八和第十九具體實施方式
，光檢測裝置222能夠接收從半導(dǎo)體激光器226發(fā)出而不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的直接入射光和被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分。此增加了能夠被用于光強度控制的所接收的數(shù)量，因此光強度控制的準(zhǔn)確度能夠被提高。此外，由于從半導(dǎo)體激光器226發(fā)出的不被用來信息記錄或者再現(xiàn)的光也被用于輸出功率控制，所以光的使用效率能夠被增加。
圖21是表示根據(jù)本發(fā)明第二十個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置320布置的簡化側(cè)視圖。圖22和23是分別表示圖21的光學(xué)拾取裝置320一個重要部分布置的一個側(cè)視圖和一個平面圖。
光學(xué)拾取裝置320裝備有一個光源321；作為光反射裝置的兩個光反射部分322a和322b；作為監(jiān)測光檢測裝置的一個監(jiān)測光檢測部分323；作為控制裝置的一個APC電路324；一個準(zhǔn)直透鏡325；作為光分支裝置的一個光束分離器326；四分之一波片327；一個向上引導(dǎo)反射鏡328；作為聚焦裝置的一個物鏡329；一個聚焦透鏡331；一個柱面透鏡332；和作為光檢測裝置的一個光檢測部分333。
光源321發(fā)射光線。兩個光反射部分322a和322b反射從光源321發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分。監(jiān)測光檢測部分323檢測各自從光反射裝置322a和322b反射的光束。根據(jù)監(jiān)測光檢測裝置323的檢測輸出，APC電路324控制從光源321發(fā)出的光的能量。
準(zhǔn)直透鏡325把來自于光源321的被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光。光束分離器326傳輸和反射被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光。向上引導(dǎo)反射鏡328反射被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光，以便改變它們的光路大約90°。物鏡329把被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光聚焦到作為信息記錄媒介的光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面上。聚焦透鏡331聚焦從光記錄介質(zhì)330反射的光。柱面透鏡332使通過聚焦透鏡331所產(chǎn)生的會聚光發(fā)散。光檢測檢測部分333檢測從光記錄介質(zhì)330反射的光。
光源321是由在周期表中的III元素群和V元素群的化合物半導(dǎo)體制成的半導(dǎo)體激光器321。從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出的大部分光輸入到準(zhǔn)直透鏡325，并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)(在后面描述)。然而，由于從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出的發(fā)散光在準(zhǔn)直透鏡325處具有大于準(zhǔn)直透鏡325直徑的直徑，所以存在向準(zhǔn)直透鏡325的外圓周的外側(cè)傳輸。支出光束334a和334b不被用于信息記錄或者再現(xiàn)。所以，使用用于在半導(dǎo)體激光器321上的光強度控制的支出光束334a和334b能夠使防止光的使用效率減少成為可能，其中此光輸入到準(zhǔn)直透鏡325并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)。
圖24是表示光反射部分322a結(jié)構(gòu)的透視圖。圖25A和25B是分別表示光反射部分322a結(jié)構(gòu)的平面圖和側(cè)視圖。光反射部分322a是由例如玻璃組成，并且是一個具有在一個方向(縱向)上是長為平行六面體形狀的微反射鏡，并且其中光反射層被形成在縱向上的一個端部表面上。
下面將參考圖24描述作為光反射部分322a的微反射鏡。提供了例如由玻璃制成并且測量尺寸為0.9mm×0.9mm×2mm一個四角棱柱體。四角棱柱體的與縱向(用箭頭335表示)平行的一個側(cè)平面被稱為一個基準(zhǔn)面336(在圖24中，底平面)。通過切開四角棱柱體而形成一個端平面338，以致通過箭頭方向335和邊緣337所形成的角θ11變?yōu)?10°(補角為70°)，其中邊緣337通過基準(zhǔn)面336和末端平面338而形成，并且通過基準(zhǔn)面336和末端平面338而形成的角θ12(傾斜角)變?yōu)?5°。然后，通過切開與末端平面338相對的末端部分形成其它端平面339，以致末端平面339變?yōu)榕c末端平面338平行。光反射層340通過使用例如電介質(zhì)多層薄膜覆蓋末端平面339而形成。
如上所述，具有平行六面體形狀的光反射裝置322a能夠通過切開四角棱柱體并且在一個末端平面338上形成光反射層340而形成，其中相互對立的平面是相同的平行四邊形并且在箭頭方向335上是長的。其它的光反射裝置322b能夠通過提供如上所述的相同的玻璃四角棱柱體并且切開四角棱柱體而獲得，以致當(dāng)最終的結(jié)構(gòu)和光反射裝置322a被并排設(shè)置時，根據(jù)垂直于基準(zhǔn)面336的一個中間的中心平面，它們會變得對稱，并且在一個末端平面上形成光反射層?；氐綀D21，光反射裝置322a和322b以平行于所安裝的光記錄介質(zhì)330的旋轉(zhuǎn)軸以面對物鏡329的方向被放置，其位于根據(jù)從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出的光的光軸所對稱的位置。
向準(zhǔn)直透鏡325外周圍的外側(cè)面?zhèn)鬏數(shù)闹С龉馐?34a和334b通過兩個各自光反射部分322a和322b被反射到監(jiān)測光檢測部分323。結(jié)果，通過監(jiān)測光檢測部分323所接收的光的數(shù)量比在單一的監(jiān)測光檢測部分323直接接收來自于半導(dǎo)體激光器321的支出光束的情況下要大。由于通過監(jiān)測光檢測部分323被接收的光的數(shù)量被增加，所以在半導(dǎo)體激光器321上的光強度控制的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性能夠得到提高。
光反射層可以形成在每一個光反射裝置的兩個末端平面上。圖26A和26B是表示其光反射層形成在兩個各自端面上的作為光反射裝置的光反射部分342結(jié)構(gòu)的平面圖。光反射部分342以與如上所述的除了光反射層345和346形成在兩個各自端平面343和344上之外的形成光反射部分322a的方法相同的方法而被形成。圖26B(平面圖)表示光反射部分342，它通過關(guān)于在圖26B紙表面上的頂-底方向伸展的軸線旋轉(zhuǎn)圖26A所示的光反射部分342 180°而獲得。
在光反射部分342的兩個各自端平343和344面上形成光反射層345和346使得使用端平面343和344的任何一個作為光反射面用于反射支出光束334a或者334b成為可能。所以，僅僅提供一種類型的光反射部分342使得在位置處放置兩個光反射部分342成為可能，其中此位置是根據(jù)從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出的光的光軸347對稱的，并且允許監(jiān)測光檢測部分323接收反射光束。因此部件種類的數(shù)目能夠被減少。
把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號的光電二極管(PD)被用作監(jiān)測光檢測部分323。監(jiān)測光檢測部分323可以是一個光電二極管集成電路(PDIC)，其中PD和具有用于放大由PD所產(chǎn)生的信號的信號放大裝置的集成電路(IC)彼此被集成在一起。監(jiān)測光檢測部分323被放置在與光反射部分322a和322b等距離的位置處，并且接收通過光反射部分322a和322b分別反射支出光束344a和344b所產(chǎn)生的反射光束348a和348b，其中支出光束344a和344b向準(zhǔn)直透鏡325的外周圍的外邊傳輸。
作為控制裝置的APC電路324根據(jù)從監(jiān)測光檢測部分323輸出的檢測信號(電流或電壓信號)，通過提供一個驅(qū)動電流到半導(dǎo)體激光器321來控制半導(dǎo)體激光器321的光輸出功率為一個恒定值。APC電路324比較從監(jiān)測光檢測部分323輸出的檢測信號與在APC電路324中預(yù)先設(shè)定的一個參考值，并且對應(yīng)于檢測信號和參考值直接的差別提供給半導(dǎo)體激光器321一個驅(qū)動電流。APC電路324執(zhí)行一個反饋操作，以致檢測信號和參考值之間的差值接近于零，因此半導(dǎo)體激光器321的光輸出功率被控制為一個恒定值。
下面將描述光學(xué)拾取裝置320的信息記錄或者再現(xiàn)操作。已經(jīng)從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出并且通過準(zhǔn)直透鏡325被轉(zhuǎn)換為大致平行光的被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光輸入到光束分離器326。光束分離器326傳輸將近100％的入射光。已經(jīng)通過光束分離器326的光通過四分之一波片327被偏振化，通過向上引導(dǎo)反射鏡328被指引到光記錄介質(zhì)330，并且通過物鏡329被聚焦到光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面。已經(jīng)被聚焦在光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面的光通過光記錄介質(zhì)330被反射，再一次穿過物鏡329，通過向上引導(dǎo)反射鏡328被反射，穿過四分之一波片327，并且輸入到光束分離器326。光束分離器326反射將近100％的來自于光記錄介質(zhì)330的反射光。從光束分離器326被反射的光通過聚焦透鏡331被聚焦，通過柱面透鏡332被散光，并且被應(yīng)用于光檢測部分333?；趤碜怨庥涗浗橘|(zhì)330的通過光檢測部分333被檢測的反射光，產(chǎn)生用于操作控制的跟蹤誤差信號和聚焦誤差信號以及RF信號。
圖27是表示根據(jù)本發(fā)明第二十一個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置350重要部分布置的簡化側(cè)視圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置350相似于根據(jù)第二十個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置320。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置350的一個重要特征是作為光反射裝置的、通過在光反射部分351a和351b的一個端平面上形成光反射層而獲得的光反射面352a和352b分別是凹面鏡。
由于光反射面352a和352b是凹面鏡，所以光反射部分351a和351b具有聚焦功能。所以，從半導(dǎo)體激光器321發(fā)出的而不用于信息記錄或者再現(xiàn)的光束在被反射和聚焦之后，能夠通過監(jiān)測光檢測部分323被接收。這就允許監(jiān)測光檢測部分323的光接收和檢測部分353更有效地接收反射光束348a和348b，并且提高接收光通量，這就增加了光強度控制的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
圖28是表示根據(jù)本發(fā)明第二十二個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置355重要部分布置的簡化側(cè)視圖。圖29是表示圖28的光學(xué)拾取裝置355重要部分布置的平面圖。圖30是表示在圖28的光學(xué)拾取裝置355中所提供的光束分離器326、準(zhǔn)直透鏡325、和光反射部分322a和322b布置的前視圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置355相似于根據(jù)第二十個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置320。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置355的一個重要特征是在縱向伸展的光反射部分322a和322b側(cè)平面的基準(zhǔn)面336直接地被附著在光束分離器326的半導(dǎo)體激光321側(cè)面356上。
在光學(xué)拾取裝置355中，如下是光束分離器326和準(zhǔn)直透鏡325的相關(guān)布置。光束分離器326的半導(dǎo)體激光321側(cè)面356在前視圖中具有一個正方形形狀，并且平面356的重心和準(zhǔn)直透鏡325的中心都位于光軸347上。對于此布置，準(zhǔn)直透鏡325被直接地附著在光束分離器326的平面356上。
光反射部分322a和322b的基準(zhǔn)面336是平面，并且光束分離器326的半導(dǎo)體激光器321側(cè)面356也是平面。所以，在光反射部分322a和322b的基準(zhǔn)面326與光束分離器326的平面356接觸的狀態(tài)下，通過在光反射部分322a和322b的末端平面338上形成光反射層340而獲得的光反射面的位置能夠被自由地改變，而不改變根據(jù)平面356的光反射面的傾斜角。
光反射部分322a和322b能夠在光反射部分322a和322b的基準(zhǔn)面與光束分離器326的平面356接觸的狀態(tài)下，執(zhí)行一個簡單的操作而被附著在光束分離器326的平面356上而不使用一個專門的測量儀器、調(diào)整夾具等等，其中簡單的操作是設(shè)置垂直于基準(zhǔn)面336的光反射部分322a和322b的側(cè)平面與光束分離器326的關(guān)聯(lián)側(cè)面齊平，并且設(shè)置光反射部分322a和322b的光反射面的近似中心點在軸線357上，此軸線垂直于光軸347并且平行于被投射到光束分離器326的平面356上的光記錄介質(zhì)330的旋轉(zhuǎn)軸。
以上述方式集成光反射部分322a和322b與光束分離器326大大地簡化了在裝配裝置中光反射部分322a和322b與監(jiān)測光檢測部分323相互之間的定位所必需的距離/角度調(diào)整工作，因此生產(chǎn)的效率得到提高。
圖31是表示根據(jù)本發(fā)明二十三個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置360布置的簡化側(cè)視圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置360相似于根據(jù)第二十個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置320。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置360的一個重要特征是作為光源的半導(dǎo)體激光器和用于接收來自于光記錄介質(zhì)330的反射光的光檢測裝置被彼此集成為一個單一部分，即為一個光發(fā)射和接收部分361。
在光學(xué)拾取裝置360中，從光發(fā)射和接收部分361發(fā)出的光通過準(zhǔn)直透鏡325被轉(zhuǎn)換為大致的平行光，通過向上引導(dǎo)反射鏡328被指引到光記錄介質(zhì)330，并且通過物鏡329聚焦到光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面。由光記錄介質(zhì)330已經(jīng)反射的光以相反的方向沿著與朝著光記錄介質(zhì)330前進(jìn)的相同的光路傳輸，并且通過光發(fā)射和接收單元361被接收。所以，不需要用于指引來自光記錄介質(zhì)330的反射光到光檢測部分的光束分離器。由于部件的數(shù)目通過把半導(dǎo)體激光器和光檢測裝置集成為單一部分的優(yōu)點被減少，所以不但光強度控制的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性能夠被提高，而且光學(xué)拾取裝置360能夠被壓縮。此外，由于使用在裝配裝置中的部件的數(shù)目被減少，因此裝配工作效率能夠得到提高。
圖32是表示根據(jù)本發(fā)明二十四個具體實施方式
的一種光學(xué)拾取裝置365布置的簡化側(cè)視圖。根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置365相似于根據(jù)第二十三個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置360。與后者具有相應(yīng)構(gòu)件的前者的構(gòu)件被給予與后者相同的參考數(shù)字，并且不再描述。光學(xué)拾取裝置365的一個重要特征是裝備有發(fā)射具有不同波長的光束的兩個半導(dǎo)體激光器。
在根據(jù)此具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置365中，兩個半導(dǎo)體激光器與檢測部分被集成為單一的部分，它們分別是兩個光發(fā)射和接收部分361和361a。
例如，兩個光發(fā)射和接收部分361和361a發(fā)射具有780nm波長的紅外激光和具有650nm波長的紅光激光。從光發(fā)射和接收單元361發(fā)出的光的能量以與在根據(jù)第二十三個具體實施方式
的光學(xué)拾取裝置360中的方法相同的方法被控制，并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)。
從其它的光發(fā)射和接收單元361a發(fā)出的并且向準(zhǔn)直透鏡325a的外周圍的外側(cè)傳輸因此不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的支出光束通過一對光反射部分322c被反射，并且通過其它其它光檢測部分323a被接收。監(jiān)測光檢測部分323a提供對應(yīng)于接收光通量的電信號給其它的APC電路324a。APC電路324a根據(jù)監(jiān)測光檢測部分323a的輸出，提供用于半導(dǎo)體激光器的一個驅(qū)動電流給光發(fā)射和接收單元361a。驅(qū)動電流用來控制光發(fā)射和接收單元361a的半導(dǎo)體激光器的光輸出功率為一個恒定值。
從光發(fā)射和接收單元361a發(fā)出的并且輸入到準(zhǔn)直透鏡325a的光通過光束分離器366被反射到向上引導(dǎo)反射鏡328。照射到向上引導(dǎo)反射鏡328的光被指引到光記錄介質(zhì)330，并且通過物鏡329被聚焦到光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面上。被聚焦在光記錄介質(zhì)330的信息記錄表面的光通過光記錄介質(zhì)330被反射，再一次穿過物鏡329，通過向上引導(dǎo)反射鏡328被反射，并且輸入到光束分離器366。光束分離器366反射將近100％的來自于光記錄介質(zhì)330的反射光到光發(fā)射和接收單元361a，以致通過具有光檢測部分的光發(fā)射和接收單元361a被接收。
光學(xué)拾取裝置365的光束分離器366被裝配，以致傳輸從光發(fā)射和接收單元361的光和從光發(fā)射和接收單元361發(fā)出的光，通過光記錄介質(zhì)330被反射，并且輸入到光束分離器366。
在上述裝配的光學(xué)拾取裝置365中，在壓縮光盤(CD)上的信息記錄或者再現(xiàn)通過使用發(fā)射具有780nm波長的紅外激光的光發(fā)射和接收單元361被執(zhí)行，并且在數(shù)字萬用盤(DVD)的信息記錄或者再現(xiàn)通過使用發(fā)射具有650nm波長的紅光激光的光發(fā)射和接收單元361a被執(zhí)行。也就是說，光學(xué)拾取裝置365能夠適應(yīng)兩種光記錄介質(zhì)，其中信息記錄或者再現(xiàn)通過使用具有不同波長光束被執(zhí)行。
如上所述，在此具體實施方式
中，光反射部分322a和1322b以平行于光記錄介質(zhì)330的旋轉(zhuǎn)軸的方向被布置。然而，本發(fā)明不局限于此情況；光反射部分322a和322b可以以垂直于旋轉(zhuǎn)軸的方向被布置。此外，雖然那兩個光反射部分被放置在接近于準(zhǔn)直透鏡323的外周圍，但是本發(fā)明不局限于此情況；可以提供三個或者更多個光反射裝置。
本發(fā)明可以在不違背其精神或者主要特征的情況下包括其它的特殊的形成。所以本具體實施方式
在各方面被認(rèn)為是例證性的而不是限制性的，本發(fā)明的范圍是通過所附的權(quán)利要來表示的，而不是通過上述描述，所以在權(quán)利要求相等的含義和范圍內(nèi)的所有改變被意為包含在其中。
權(quán)利要求
1.一種在光記錄介質(zhì)(122)上記錄或者從光記錄介質(zhì)(122)上再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括光源(123，124)，用于發(fā)射光；與光記錄介質(zhì)(122)相對的物鏡125，用于把來自光源(123，124)的光聚焦到光記錄介質(zhì)(122)的信息記錄表面；被放置在光源(123，124)和物鏡(125)之間的光分離光學(xué)元件(126)，用于傳輸或者反射來自于光源(123，124)的光；被放置在光分離光學(xué)元件(126)和物鏡(125)之間的準(zhǔn)直透鏡(127)，用于把來自于光源(123，124)的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光；光反射裝置(129，130，141，147，151)，用于反射從光源(123，124)發(fā)出的光的一部分；光輸出功率檢測裝置(131，132)，用于檢測從光反射裝置(129，130，141，147，151)反射的光；和光強度控制裝置(133)，用于根據(jù)光輸出功率檢測裝置(131，132)的檢測輸出來控制從光源(123，124)發(fā)出的光的能量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(129，130)被放置在光源(123，124)和光分離光學(xué)元件(126)之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置被放置在與擴(kuò)散角中較大一個有關(guān)的軸上，這些擴(kuò)散角與形成在一個平面上的兩個各自正交軸有關(guān)，此平面垂直于從光源發(fā)出的光的光軸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，進(jìn)一步包括一個被放置在準(zhǔn)直透鏡(127)和物鏡(125)之間的光路變化反射鏡(128)，用于反射來自于光源(123，124)的光，以便改變它的光路，并且其中光反射裝置(129，130，141，147，151)以正交于反射裝置(129，130，141，147，151)的反射面的正交軸(156)不平行于從光路變化反射鏡(128)反射到光記錄介質(zhì)(122)的光的光軸的方式被放置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)拾取裝置，其中提供發(fā)射具有不同波長的光的兩個光源(123，124)，并且提供兩個光反射裝置(129，130)，以致分別與兩個光源(123，124)相聯(lián)系。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(141)被附著在光分離光學(xué)元件(126)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(147)被附著在準(zhǔn)直透鏡(127)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，進(jìn)一步包括一個保持構(gòu)件(148)，用于保持準(zhǔn)直透鏡(127)，并且其中光反射裝置(147)被附著在保持構(gòu)件(148)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)拾取裝置，進(jìn)一步包括一個被放置在準(zhǔn)直透鏡(127)和物鏡(125)之間的光路變化反射鏡(128)，用于反射來自于光源(123，124)的光，以便改變它的光路，并且其中光反射裝置(151)被附著在光路變化反射鏡(128)上。
10.一種在光記錄介質(zhì)(122)上記錄或者從光記錄介質(zhì)(122)上再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括光源(125，124)，用于發(fā)射光；與光記錄介質(zhì)(122)相對的物鏡125，用于把來自光源(123，124)的光聚焦到光記錄介質(zhì)(122)的信息記錄表面；被放置在光源(123，124)和物鏡(125)之間的光分離光學(xué)元件(126)，用于傳輸或者反射來自于光源(123，124)的光；被放置在光分離光學(xué)元件(126)和物鏡(125)之間的準(zhǔn)直透鏡(127)，用于把來自于光源(123，124)的光轉(zhuǎn)換為大致的平行光；一個被放置在準(zhǔn)直透鏡(127)和物鏡(125)之間的光路變化反射鏡(128)，用于反射來自于光源(123，124)或者光，以便改變它的光路；光輸出功率檢測裝置(131)，用于檢測從光源(123，124)發(fā)出的光的一部分，穿過準(zhǔn)直透鏡(127)，并且沿著光路變化反射鏡(123)前進(jìn)而用來代替照射在上面；和光強度控制裝置(133)，用于根據(jù)光輸出功率檢測裝置(131)的檢測輸出來控制從光源(123，124)發(fā)出的光的能量。
11.一種通過使用光在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括光源(221)，用于發(fā)射光；光檢測裝置(222)，用于檢測從光源(221)發(fā)出的部分光；光聚集裝置(223，229，231，235，239，243，248)，用于把從光源(221)發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分指引到光檢測裝置(222)；和控制裝置(224)，用于根據(jù)光檢測裝置(222)的輸出控制從光源(221)發(fā)出的光的能量。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光聚集裝置(223，229)是一個反光鏡，用于把從光源(221)發(fā)出的一部分光反射到光檢測裝置(222)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的光學(xué)拾取裝置，其中反光鏡是一個凹面反光鏡(229)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光聚集裝置(231)包括一個聚焦透鏡(232)，用于聚焦從光源(221)發(fā)出的光；和一個反光鏡(233)，用于把通過聚焦透鏡(232)所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置(222)。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光聚集裝置(235，239)包括第一和第二反光鏡(236，237，240，241)，用于分別把從光源(221)發(fā)出的一部分光反射到光檢測裝置(222)。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的光學(xué)拾取裝置，其中第一和第二反光鏡是一個凹面反光鏡(240，241)。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光聚集裝置(243)包括第一聚焦透鏡(244)，用于聚焦從光源(221)發(fā)出的一部分光；一個反光鏡(245)，用于把通過第一聚焦透鏡(244)所產(chǎn)生的會聚光聚焦到光檢測裝置(222)；和第二聚焦透鏡(246)，用于把從光源(221)發(fā)出的另一部分光聚焦到光檢測裝置(222)上。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光聚集裝置(248)包括第一和第二聚焦透鏡(249，250)，用于分別聚焦從光源(221)發(fā)出的一部分光；第一反光鏡(251)，用于把通過第一聚焦透鏡(249)所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置(222)；和第二反光鏡(252)，用于把通過第二聚焦透鏡(250)所產(chǎn)生的會聚光反射到光檢測裝置(222)。
19.一種通過使用光在光記錄介質(zhì)上記錄或者從光記錄介質(zhì)上再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括光源(221)，用于發(fā)射光；光檢測裝置(222)，用于檢測從光源(221)發(fā)出的部分光；光分離裝置(254)，用于分離從光源(221)發(fā)出的被用于信息記錄或者再現(xiàn)的一部分光，并且用于把光的一部分指引到光檢測裝置(222)；和控制裝置(224)，用于根據(jù)光檢測裝置(222)的輸出控制從光源(221)發(fā)出的光的能量。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光學(xué)拾取裝置，其中光分離裝置(254)包括一個具有光分離面(255)的光束分離器，在光分離面中一個特定部分與其它部分具有不同的反射比。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的光學(xué)拾取裝置，其中特定部分與其它部分具有不同反射比的光束分離器的光分離面(255)通過覆蓋具有不同反射率值的涂層材料而形成。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所示的光學(xué)拾取裝置，其中光分離裝置(254)進(jìn)一步包括一個聚焦透鏡(258)，用于聚焦從光束分離器反射的光。
23.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光學(xué)拾取裝置，其中光檢測裝置(222)包括光檢測元件，用于檢測光，把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號，并且輸出此信號，和信號放大裝置，用于放大從光檢測元件輸出的信號，其中光檢測元件和信號放大裝置被集成為一個單一部分。
24.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光學(xué)拾取裝置，其中光檢測裝置(222)包括光檢測元件，用于檢測光，把所檢測的光轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號，并且輸出此信號，和信號放大裝置，用于放大從光檢測元件輸出的信號，其中光檢測元件和信號放大裝置被集成為一個單一部分。
25.一種通過使用光在光記錄介質(zhì)(330)上記錄或者從光記錄介質(zhì)(330)上再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取裝置，包括光源(321)，用于發(fā)射光；光反射裝置(322a，322b，322c，342，352a，352b)，用于反射從光源(321)發(fā)出的不被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光的一部分；監(jiān)測光檢測裝置(323)，用于檢測從光反射裝置(322a，322b，322c，342，352a，352b)反射的光；控制裝置(324)，用于根據(jù)監(jiān)測光檢測裝置(323)的檢測輸出來控制從光源(321)發(fā)出的光的能量；聚焦裝置(329)，用于把來自光源(321)的并且用于信息記錄或者再現(xiàn)的光聚焦到光記錄介質(zhì)(330)的信息記錄表面上；和光檢測裝置(333)，用于檢測從光記錄介質(zhì)(330)反射的光。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置包括多個光反射部分(322a，322b)，并且每一個光反射部分(322a，322b)相對從光源(321)發(fā)出的光的光軸被對稱地放置。并且其中監(jiān)測光檢測裝置(323)被放置在與光反射部分(332a，322b)等距離的位置處。
27.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(322a，322b)是一個在縱向伸展的平行六面體形狀，并且其中光反射層(340)形成在縱向上的一個末端平面上(339)。
28.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(342)是一個在縱向伸展的平行六面體形狀，并且其中光反射層(345，346)形成在縱向上的彼此相對的兩個各自末端平面上(343，344)。
29.根據(jù)權(quán)利要求28所述的光學(xué)拾取裝置，進(jìn)一步包括光分支裝置(326，366)，用于傳輸并反射從光源(321)發(fā)出的并且被用于信息記錄或者再現(xiàn)的光。并且其中光反射裝置(322a，322b)的與縱向平行的一個側(cè)平面(338)被直接地附著在光分支裝置(326，366)的與光源(321)相對的一個平面上。
30.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(352a，352b)是一個凹面鏡。
31.根據(jù)權(quán)利要求26所述的光學(xué)拾取裝置，其中光反射裝置(322a，322b，322c)包括兩個光反射部分(322a，322b，322c)，它們被垂直或者平行于被安裝的光記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)軸放置，以致面對聚焦裝置(329)，并且被放置在根據(jù)從光源(321)發(fā)出的光的光軸對稱的位置處。
32.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中光源和光檢測裝置被集成為一個單一部分。
33.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中包括多個光源(321)。
34.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中監(jiān)測光檢測裝置(323)包括一個光電二極管，用于把所檢測的光轉(zhuǎn)換為一個電流或電壓信號。
35.根據(jù)權(quán)利要求25所述的光學(xué)拾取裝置，其中監(jiān)測光檢測裝置(323)包括一個光電二極管，用于把所檢測的光轉(zhuǎn)換為一個電流或電壓信號；和信號放大裝置，用于放大通過光電二極管被轉(zhuǎn)換的電流或電壓信號，其中光電二極管和信號放大裝置被集成為一個單一部分。
全文摘要
一種光學(xué)拾取裝置(121)裝備有兩個光源(123，124)；一個物鏡(125)，用于把來自于每個光源(123，124)的光聚焦到光記錄介質(zhì)(122)上；一個光分離光學(xué)元件(126)，用于傳輸或者反射來自于每個光源(123，124)的光；一個準(zhǔn)直透鏡(127)，用于把來自于每個光源的光轉(zhuǎn)換為一個大致的平行光束；一個向上引導(dǎo)反射鏡(128)，用于通過反射改變來自于每個光源的光的光路；被放置在光分離光學(xué)元件(126)和各自光源(123，124)之間的反射鏡(129，130)，用于分別地傳輸從光源(123，124)發(fā)出的光束的一部分；光電檢測器(131，132)，用于分別檢測從反射鏡129，130)反射的光束；和一個APC電路(133)，用于根據(jù)每個光電檢測器(131，132)的檢測輸出來控制從每個光源(123，124)發(fā)出的光的能量。
文檔編號G11B7/125GK1455398SQ0312438
公開日2003年11月12日 申請日期2003年4月17日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月17日
發(fā)明者三宅浩二, 山本雄大, 小野信正, 中村匡宏 申請人:夏普株式會社