專利名稱:光學(xué)記錄媒體及記錄測試信號的光學(xué)信息記錄裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及例如光盤等以光學(xué)方式進行信息的記錄和再生的光學(xué)記錄媒體及為使記錄條件最佳化而在記錄信息信號之前進行測試記錄的信息記錄方法和信息記錄再生裝置。
近年來,作為以光學(xué)方式記錄信息的媒體,提出并開發(fā)了光盤、光卡、光帶等。其中的光盤,作為能以大容量且高密度進行信息的記錄和再生的媒體,最為引人注目。
作為可重寫型光盤的一種方式,有相變型光盤。在相變型光盤中使用的記錄膜,根據(jù)激光的加熱條件和冷卻條件可變?yōu)榉蔷B(tài)和結(jié)晶態(tài)中的任何一種狀態(tài)。而在非晶態(tài)和結(jié)晶態(tài)之間具有可逆性。在上述的非晶態(tài)和結(jié)晶態(tài)下,記錄膜的光學(xué)常數(shù)(折射率和衰減系數(shù))不同。在相變型光盤中,在記錄膜上根據(jù)信息信號有選擇地形成兩種狀態(tài),并利用由此而產(chǎn)生的光學(xué)變化(透射率或反射率的變化)進行信息信號的記錄和再生。
為獲得上述兩種狀態(tài),可用如下的方法記錄信息信號。在將由光頭聚焦后的激光(功率電平為Pp)以脈沖形式照射在光盤的記錄膜上(將其稱作記錄脈沖)并使記錄膜的溫度上升到超過熔點時,使熔融部分在激光通過的同時急速冷卻而變成非晶態(tài)的記錄標(biāo)記。另外,當(dāng)聚焦并照射其強度為能使記錄膜的溫度上升到結(jié)晶溫度以上、熔點以下的激光(功率電平為Pb,Pb<Pp)時,照射部的記錄膜變?yōu)榻Y(jié)晶態(tài)。該功率電平Pb,稱為擦除功率。
按照如上方式,在光盤的光道上,形成與記錄數(shù)據(jù)信號對應(yīng)的由非晶區(qū)域構(gòu)成的記錄標(biāo)記及由結(jié)晶區(qū)域構(gòu)成的非標(biāo)記部(將其稱作間隔區(qū))的記錄圖案。并且,通過利用結(jié)晶區(qū)域與非晶區(qū)域的光學(xué)特性的不同,可以對信息信號進行再生。
另外,最近以來,代替標(biāo)記位置記錄(也稱PPM記錄)方式,越來越多地采用了標(biāo)記邊緣記錄(也稱PWM記錄)方式。在標(biāo)記位置記錄中,僅在記錄標(biāo)記本身位置上具有信息,與此不同,在標(biāo)記邊緣記錄中,在記錄標(biāo)記的前端邊緣和后端邊緣兩個邊緣位置上具有信息,所以具有使記錄線密度提高的優(yōu)點。
進一步,作為在增大光盤記錄容量的同時使記錄再生裝置的主軸電機旋轉(zhuǎn)控制易于進行的方法,提出了一種Z-CLV(Zoned ConstantLinear Velocity區(qū)位恒定線速度)格式。Z-CLV格式的光盤,是將記錄區(qū)域劃分為由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加的光盤。
對這種Z-CLV盤進行記錄再生的裝置,通過使盤的轉(zhuǎn)速隨著從盤的內(nèi)周到外周逐級降低(這里,假定各區(qū)上的轉(zhuǎn)速恒定)并使盤片的所有各周的線速度基本保持恒定,進行記錄再生。
在無線技術(shù)公司的「光盤技術(shù)」(1988年)第223頁上,以M-CLV(Modified Constant Linear Velocity修正恒定線速度)格式的名稱記述著這種Z-CLV格式。
可是,由于光盤是可交換的記錄媒體,所以,要求光盤的記錄再生裝置能穩(wěn)定地對不同的多個光盤進行記錄再生。但是,即使是按相同條件制成的光盤,由于制造時的偏差或隨時間的老化,記錄再生時的最佳激光功率電平也是互不相同的。此外,由于光盤襯底表面的贓污、記錄再生裝置光學(xué)系統(tǒng)傳送效率的降低、或動作狀態(tài)的變化,也可能使照射到光盤記錄膜的激光功率發(fā)生變化。
除此以外,特別是在標(biāo)記邊緣記錄方式的情況下,光盤熱特性的偏移,也會對記錄標(biāo)記本身的形成狀態(tài)或記錄標(biāo)記間的熱干擾程度造成影響。因此,記錄脈沖的最佳邊緣位置,在每個光盤上有可能不同。
在特開平4-137224號公報中公開了一種能夠穩(wěn)定地對信息信號進行記錄再生而對如上所述的激光最佳功率電平的變化及記錄脈沖最佳邊緣位置的變化沒有影響的方法的例。該方法是在記錄信息信號之前先根據(jù)特定的數(shù)據(jù)模式(將其稱作測試信號)進行測試記錄,然后對所記錄的測試信號進行再生,并通過測定該再生信號而求得記錄標(biāo)記的邊緣位置,從而進行控制以使記錄脈沖的邊緣位置為最佳位置。
另外,作為其他例,在特開平6-195713號公報中,公開了在求得記錄標(biāo)記的邊緣位置后對記錄脈沖邊緣位置或記錄功率中的至少一個進行控制的技術(shù)。此外,在特開平9-63056號公報中,公開了根據(jù)誤碼率與功率的相關(guān)性決定最佳記錄功率的方法。進一步,在特開平7-129959號公報中,公開了根據(jù)記錄標(biāo)記的長度及其前后的間隔長度控制記錄脈沖邊緣位置的方法。
另一方面,在在特開平9-219022號公報中,提出了提高光盤的可重寫次數(shù)的方法。在該方法中,通過使記錄數(shù)據(jù)信號的極性(1或0)隨機地反轉(zhuǎn),防止記錄膜上的損傷集中在特定部位,從而抑制記錄膜的惡化。
但是,在上述的現(xiàn)有方法中,存在著有時因記錄標(biāo)記邊緣位置的測定值發(fā)生偏差而使記錄脈沖邊緣位置的決定產(chǎn)生誤差的問題。以下,參照圖11~圖14對該問題進行說明。
在圖11~圖14中,示出由以前記錄的記錄標(biāo)記與重寫后的記錄標(biāo)記的位置關(guān)系引起的標(biāo)記畸變的例。在圖11~圖14的各圖中,上邊的圖表示對記錄標(biāo)記進行重寫前的光盤的光道狀態(tài),中間的圖表示進行重寫的測試信號的(作為記錄數(shù)據(jù)信號的)模式,下邊的圖表示上述記錄標(biāo)記被重寫后的上述光道的狀態(tài)。
通常,作為對測試記錄用的記錄標(biāo)記進行記錄的光道,經(jīng)常是分配規(guī)定的光道。在這種情況下,在上述規(guī)定的光道上反復(fù)重寫記錄標(biāo)記。因此,當(dāng)在應(yīng)進行測試記錄的光道上已記錄著任何測試信號(或信息信號)時,通過重寫記錄的記錄標(biāo)記的形狀將會受到已記錄著的記錄標(biāo)記的影響而發(fā)生畸變。
在相變型光盤的情況下,在非晶區(qū)域(即存在記錄標(biāo)記的區(qū)域)和結(jié)晶區(qū)域上光學(xué)的吸收特性不同。因此,即使照射能量相同的激光,在非晶區(qū)域和結(jié)晶區(qū)域上光盤記錄膜中的升溫速度也不相同。由此,當(dāng)光盤結(jié)構(gòu)為使非晶區(qū)域上的光學(xué)吸收大于結(jié)晶區(qū)域時,重寫后的記錄標(biāo)記在非晶區(qū)域上易于變大。其結(jié)果是,記錄標(biāo)記的邊緣位置如圖11~圖14中帶陰影線的部分所示,記錄標(biāo)記向延伸方向移動。將其稱作標(biāo)記畸變。而當(dāng)光盤結(jié)構(gòu)為使非晶區(qū)域上的光學(xué)吸收小于結(jié)晶區(qū)域時,也可能變成與上述相反的情況。
因此,記錄標(biāo)記的形狀將隨測試記錄中應(yīng)記錄的記錄標(biāo)記與以前的記錄標(biāo)記的重疊情況而變化。其結(jié)果是,使記錄標(biāo)記的邊緣位置發(fā)生變化。當(dāng)已在光道上記錄著的測試信號與要重寫的測試信號相同或類似時,只要光盤的旋轉(zhuǎn)變化不大,則以前記錄的標(biāo)記與重寫后的記錄標(biāo)記的重疊情況始終相同。因此,將由于以前的數(shù)據(jù)模式與重寫后的數(shù)據(jù)模式的相位關(guān)系而使所測得的邊緣位置測定值產(chǎn)生偏差。
例如,當(dāng)在如圖11的上圖所示的已存在著記錄標(biāo)記113的光道111上用該圖的中圖所示的模式的測試信號進行記錄標(biāo)記的重寫時,如該圖的下圖所示,如將重寫后的記錄標(biāo)記112與以前的記錄標(biāo)記113重疊,則將發(fā)生標(biāo)記畸變114。
這里,當(dāng)通過測定記錄標(biāo)記112與記錄標(biāo)記115的前端間隔x而決定3T(T為記錄數(shù)據(jù)信號的時鐘周期)的記錄脈沖的前端邊緣的位置時,如圖11所示,如僅在已重寫的記錄標(biāo)記112的后端部發(fā)生標(biāo)記畸變114,則標(biāo)記畸變114對前端間隔x不產(chǎn)生影響。但是,如圖12所示,在將進行重寫的3T的記錄脈沖的記錄標(biāo)記115的前端與以前的記錄標(biāo)記113重疊時,在記錄標(biāo)記115的前端發(fā)生標(biāo)記畸變116,因而所測定的前端間隔為x-Δ1。
另外,如圖13所示,在將10T的記錄脈沖的記錄標(biāo)記112的前端與以前的記錄標(biāo)記113重疊時,在記錄標(biāo)記112的前端發(fā)生標(biāo)記畸變114,因而所測定的前端間隔為x+Δ2。
另外,如圖14所示,在將3T的記錄脈沖的記錄標(biāo)記115的前端及10T的記錄脈沖的記錄標(biāo)記112的前端兩者與以前的記錄標(biāo)記113重疊時,所測定的前端間隔為x-Δ1+Δ2。
在現(xiàn)有的方法中,還存在著將記錄脈沖控制為最佳邊緣位置后記錄功率不一定是最佳的問題。以下,用圖15對該問題進行說明。
圖15示出通過改變記錄脈沖寬度記錄最短標(biāo)記(例如,8-16調(diào)制時3T的記錄脈沖的記錄標(biāo)記,以下,稱為3T標(biāo)記)的周期信號時的記錄峰值功率Pp與誤碼率(或也可以是抖動)的關(guān)系。
當(dāng)通過測試記錄調(diào)整記錄脈沖的邊緣位置時,將使記錄脈沖(或記錄脈沖串)的長度發(fā)生變化。因此,記錄脈沖為形成記錄標(biāo)記所提供的能量,受到邊緣位置調(diào)整的影響。在形成像最短標(biāo)記那樣的短標(biāo)記時,這種影響尤為顯著。其結(jié)果是,最佳記錄功率也發(fā)生變化。
例如,當(dāng)在8-16調(diào)制中用于形成最短標(biāo)記即3T標(biāo)記的記錄脈沖長度因邊緣位置的調(diào)整而減小時,用于形成3T標(biāo)記的能量減少,所以,誤碼率與峰值功率的相關(guān)性,從圖15所示的g1改變?yōu)間2。其結(jié)果是,最佳記錄功率(該功率經(jīng)常是通過將誤碼率達到規(guī)定的閾值Bth時的功率Pth1或Pth2乘以一定的值決定),將比邊緣位置調(diào)整以前高。
另外,與上述問題相反,在現(xiàn)有的方法中,還存在著調(diào)整記錄功率后記錄脈沖的邊緣位置不一定是最佳的問題。以下,對該問題進行說明。
當(dāng)通過測試記錄調(diào)整記錄功率時,將使由激光對光盤記錄膜提供的能量發(fā)生變化。因此,即使記錄脈沖或記錄脈沖串的長度相同,當(dāng)記錄功率改變時,在光盤的光道上形成的記錄標(biāo)記的長度即邊緣位置也會發(fā)生變化。這種變化在形成短標(biāo)記時尤為顯著。其結(jié)果是,用于使記錄標(biāo)記的邊緣位置為最佳的記錄脈沖的最佳邊緣位置發(fā)生變化。例如,當(dāng)通過測試記錄使記錄功率增大時,3T標(biāo)記的邊緣位置的前端向前延伸,而邊緣位置的后端向后延伸,所以用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的邊緣位置就變得不是最佳了。
另外,Z-CLV格式,以在各區(qū)內(nèi)為恒定轉(zhuǎn)速的方式使光盤旋轉(zhuǎn),所以線速度和線密度隨各區(qū)內(nèi)的半徑而不同。即,在各區(qū)內(nèi)越靠近外周線速度和記錄線密度越低。因此,在現(xiàn)有的方法中,存在著當(dāng)對Z-CLV格式的光盤進行測試記錄時在各區(qū)內(nèi)的整個區(qū)域范圍上不一定能求得最佳記錄功率或記錄脈沖的最佳邊緣位置的問題。
另外,例如在特開平9-219022號公報所公開的方法中,即使在通過測試記錄決定記錄脈沖的邊緣位置時也要使數(shù)據(jù)模式的極性隨機地反轉(zhuǎn),所以,即使是記錄相同的數(shù)據(jù)模式,記錄標(biāo)記與間隔的關(guān)系(即,記錄標(biāo)記的前端邊緣與后端邊緣的關(guān)系)有時也會因極性而變成相反的。在這種情況下,將發(fā)生不能區(qū)分記錄標(biāo)記的前端邊緣和后端邊緣的問題。
本發(fā)明的目的在于,為解決上述現(xiàn)有的問題,提供一種通過測試記錄適當(dāng)?shù)貨Q定記錄功率和記錄脈沖的邊緣位置等記錄條件從而能進行精密的信息信號記錄的光學(xué)信息記錄裝置、光學(xué)信息記錄方法及光學(xué)信息記錄媒體。
為達到上述目的,本發(fā)明的第1光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成測試信號;記錄裝置,將測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;記錄起始點移動裝置,用于將上述光學(xué)記錄信息媒體的測試記錄的起始點按每個扇區(qū)隨機地移動;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;及記錄條件決定裝置,將上述測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置,并對上述光學(xué)信息記錄媒體的多個扇區(qū)進行測試記錄,然后,根據(jù)由上述再生裝置從上述多個扇區(qū)再生上述測試信號后的結(jié)果的平均值,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的脈沖邊緣位置。
按照這種結(jié)構(gòu),可將在光學(xué)信息記錄媒體的多個扇區(qū)上分別記錄的測試信號的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動,所以,使已記錄在進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記與對該記錄標(biāo)記進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記的重疊情況在每個扇區(qū)內(nèi)都變?yōu)殡S機的。由此,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的標(biāo)記畸變所引起的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化。因此,使根據(jù)再生后的測試信號計算出的邊緣間隔值不會發(fā)生由已記錄在光學(xué)信息記錄媒體上的記錄標(biāo)記與測試信號的記錄標(biāo)記的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以提供能精確地計算出測試信號的記錄標(biāo)記的邊緣間隔并能通過使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化而對信息信號進行精密記錄的光學(xué)信息記錄裝置。
為達到上述目的,本發(fā)明的第2光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成測試信號;記錄裝置,將測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;數(shù)據(jù)模式生成裝置,用于生成與上述測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;及記錄條件決定裝置,將數(shù)據(jù)模式從上述數(shù)據(jù)模式生成裝置供給上述記錄裝置并將其記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi),然后,將測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置并對上述區(qū)域進行重寫,根據(jù)由上述再生裝置從上述區(qū)域再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
按照這種結(jié)構(gòu),在對光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄前,在將要進行測試記錄的區(qū)域上記錄與測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,所以,使對該區(qū)域進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記的重疊情況變?yōu)殡S機的。由此,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的標(biāo)記畸變所引起的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化。因此,使根據(jù)再生后的測試信號計算出的邊緣間隔值不會發(fā)生由已記錄在光學(xué)信息記錄媒體上的記錄標(biāo)記與測試信號的記錄標(biāo)記的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以提供能精確地計算出測試信號的記錄標(biāo)記的邊緣間隔并能通過使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化而對信息信號進行精密記錄的光學(xué)信息記錄裝置。
上述第2光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于將光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機移動的記錄起始點移動裝置,并至少對上述測試信號隨機地移動記錄的起始點。
按照這種結(jié)構(gòu),可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差進一步平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第2光學(xué)信息記錄裝置中,上述數(shù)據(jù)模式,最好是隨機模式。
按照這種結(jié)構(gòu),由于在將要進行測試記錄的區(qū)域上記錄隨機模式,所以,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差進一步平均化,并能以更精確的方式?jīng)Q定記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第3光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成測試信號;記錄和擦除裝置,將測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源而以在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄的記錄模式及驅(qū)動上述光源而用規(guī)定的擦除功率使光照射在上述光學(xué)信息記錄媒體上從而將信息從上述光學(xué)信息記錄媒體擦除的擦除模式中的任何一種模式進行操作;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;及記錄條件決定裝置,使上述記錄和擦除裝置以上述擦除模式操作并將上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域的信息擦除,然后,由上述測試信號生成裝置使上述記錄和擦除裝置以記錄模式操作并將由上述測試信號生成裝置供給的測試信號記錄在上述區(qū)域內(nèi),根據(jù)由上述再生裝置從上述區(qū)域再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
按照這種結(jié)構(gòu),能使上述光學(xué)信息記錄媒體中將要進行測試記錄的區(qū)域以與已記錄著的記錄標(biāo)記的狀態(tài)無關(guān)的方式進入初始化狀態(tài),所以,不存在測試信號的邊緣間隔偏差,因而能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
為達到上述目的,本發(fā)明的第1光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),生成測試信號;步驟(b),將所生成的上述測試信號在上述光學(xué)記錄信息媒體上的測試記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動;步驟(c),將上述隨機移動后的測試信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在上述光學(xué)信息記錄媒體的多個扇區(qū)上進行測試記錄;步驟(d),從上述光學(xué)信息記錄媒體的上述多個扇區(qū)再生在上述步驟(c)中記錄的測試信號;步驟(e),計算再生上述測試信號后的結(jié)果的平均值;及步驟(f),根據(jù)所算出的上述平均值,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置。
按照這種方法,可將光學(xué)信息記錄媒體的多個扇區(qū)所記錄的測試信號的記錄起始點分別按每個扇區(qū)隨機地移動,所以,使已記錄在進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記與對該記錄標(biāo)記進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記的重疊情況在每個扇區(qū)內(nèi)都變?yōu)殡S機的。由此,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的標(biāo)記畸變所引起的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化。因此,使根據(jù)再生后的測試信號計算出的邊緣間隔值不會發(fā)生由已記錄在光學(xué)信息記錄媒體上的記錄標(biāo)記與測試信號的記錄標(biāo)記的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以提供能精確地計算出測試信號的記錄標(biāo)記的邊緣間隔并能通過使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化而對信息信號進行精密記錄的光學(xué)信息記錄方法。
為達到上述目的,本發(fā)明的第2光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),生成與在上述測試記錄中使用的上述測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式;步驟(b),將所生成的上述數(shù)據(jù)模式變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體中進行上述測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行記錄;步驟(c),生成上述測試信號;步驟(d),將所生成的上述測試信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在上述光學(xué)信息記錄媒體中對上述區(qū)域進行重寫;步驟(e),從上述光學(xué)信息記錄媒體的上述區(qū)域再生在上述步驟(d)中重寫后的測試信號;及步驟(f),根據(jù)再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
按照這種方法,在對光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄前,在將要進行測試記錄的區(qū)域上記錄與測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,所以,使對該區(qū)域進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記的重疊情況變?yōu)殡S機的。由此,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的標(biāo)記畸變所引起的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化。因此,使根據(jù)再生后的測試信號計算出的邊緣間隔值不會發(fā)生由已記錄在光學(xué)信息記錄媒體上的記錄標(biāo)記與測試信號的記錄標(biāo)記的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以提供能精確地計算出測試信號的記錄標(biāo)記的邊緣間隔并能通過使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化而對信息信號進行精密記錄的光學(xué)信息記錄方法。
上述第2光學(xué)信息記錄方法,最好還包括將光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機移動的步驟,在該步驟中,至少對上述測試信號隨機地移動記錄起始點。
按照這種方法,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差進一步平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第2光學(xué)信息記錄方法中,上述數(shù)據(jù)模式,最好是隨機模式。
按照這種方法,由于在將要進行測試記錄的區(qū)域上記錄隨機模式,所以,可以將因在已記錄著的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差進一步平均化,并能以更精確的方式?jīng)Q定記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置的最佳值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第3光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),驅(qū)動光源而以規(guī)定的擦除功率使光照射在上述光學(xué)信息記錄媒體上,從而將進行上述測試記錄的區(qū)域的信息從上述光學(xué)信息記錄媒體擦除;步驟(b),生成測試信號;步驟(c),將所生成的上述測試信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行記錄;步驟(d),從上述光學(xué)信息記錄媒體的上述區(qū)域再生在上述步驟(c)中記錄的測試信號;步驟(e),根據(jù)再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
按照這種方法,能使上述光學(xué)信息記錄媒體中將要進行測試記錄的區(qū)域以與已記錄著的記錄標(biāo)記的狀態(tài)無關(guān)的方式進入初始化狀態(tài),所以,不存在測試信號的邊緣間隔偏差,因而能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
為達到上述目的,本發(fā)明的第4光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成邊緣測試信號及功率測試信號;記錄裝置,將上述邊緣測試信號、功率測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置,用于調(diào)整上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;第1記錄條件決定裝置,將邊緣測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置,并對上述光學(xué)信息記錄媒體進行記錄,根據(jù)由上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生邊緣測試信號后的結(jié)果,對上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置決定上述記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定值;及第2記錄條件決定裝置,將功率測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置,并對上述光學(xué)信息記錄媒體進行記錄,根據(jù)由上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生功率測試信號后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率設(shè)定值;上述第1記錄條件決定裝置,根據(jù)對以使設(shè)定值為初始值的記錄功率記錄的邊緣測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置決定上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值,上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)對在使由上述第1記錄條件決定裝置決定的設(shè)定值為上述適當(dāng)值的記錄脈沖邊緣位置上記錄的功率測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率的適當(dāng)值。
按照這種結(jié)構(gòu),在決定了記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值后,進一步由按該適當(dāng)值設(shè)定的記錄脈沖進行測試記錄以便進行記錄功率的最佳化,從而使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能最佳化,所以,能夠更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
上述第4光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有記錄起始點移動裝置,在進行上述邊緣測試信號的測試記錄時,用于將光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
按照這種結(jié)構(gòu),可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第4光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于生成與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的數(shù)據(jù)模式生成裝置,在上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄上述邊緣測試信號及功率測試信號的區(qū)域內(nèi),在進行上述邊緣測試信號的測試記錄之前,由上述記錄裝置記錄上述數(shù)據(jù)模式。
按照這種結(jié)構(gòu),能使在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記之間的相關(guān)性進一步降低,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第4光學(xué)信息記錄裝置中,上述第1記錄條件決定裝置,最好備有比較裝置,用于將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較,以便決定上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值。
上述第4光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的裝置,上述第1記錄條件決定裝置,將由上述測定裝置測定的結(jié)果為最小的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值。
上述第4光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的裝置,上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
在上述第4光學(xué)信息記錄裝置中,上述第2記錄條件決定裝置,最好根據(jù)對在使由上述第1記錄條件決定裝置決定的設(shè)定值為規(guī)定值的記錄脈沖邊緣位置上記錄的功率測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率的上述初始值。
按照這種結(jié)構(gòu),使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都可以更精確地最佳化,并能更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
進一步,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的裝置,上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值,并將該適當(dāng)值用作記錄功率的上述初始值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第4光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),將光源的記錄功率設(shè)定為初始值,并將邊緣測試信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上;步驟(b),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(a)中記錄的邊緣測試信號的結(jié)果,決定記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值;步驟(c),將記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定為在上述步驟(b)中決定的適當(dāng)值,并將功率測試信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上;步驟(d),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(c)中記錄的功率測試信號的結(jié)果,決定記錄功率的適當(dāng)值。
在該方法中,在決定了記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值后,進一步由按該適當(dāng)值設(shè)定的記錄脈沖進行測試記錄,以便進行記錄功率的最佳化。因此,使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能最佳化,所以,能夠更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
在上述第4光學(xué)信息記錄方法中,在上述步驟(a)中,最好是將上述光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
按照這種方法,可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第4光學(xué)信息記錄方法,在步驟(a)之前,最好是包括在上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)記錄與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的步驟。
按照這種方法,能使在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記之間的相關(guān)性進一步降低,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第4光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好包括比較步驟,將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較。
在上述第4光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并將測定的結(jié)果為最小的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值。
在上述第4光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(d),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
上述第4光學(xué)信息記錄方法,在上述步驟(a)之前,最好還包括步驟(e-1),將記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定為規(guī)定值,并將上述功率測試信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上;及步驟(e-2),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(e-1)中記錄的功率測試信號后的結(jié)果,決定記錄功率的適當(dāng)值;并將在上述步驟(e-2)中決定的記錄功率的適當(dāng)值在上述步驟(a)中用作記錄功率的初始值。
按照這種方法,可以使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能精密地進行最佳化,并能更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
進一步,上述步驟(e-2),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第5光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成邊緣測試信號及功率測試信號;記錄裝置,將上述邊緣測試信號、功率測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置,用于調(diào)整上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖的邊緣位置;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;第1記錄條件決定裝置,將上述邊緣測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置,并對上述光學(xué)信息記錄媒體進行記錄,根據(jù)由上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生邊緣測試信號后的結(jié)果,對上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置決定上述記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定值;及第2記錄條件決定裝置,將功率測試信號從上述測試信號生成裝置供給上述記錄裝置,并對上述光學(xué)信息記錄媒體進行記錄,根據(jù)由上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生功率測試信號后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率設(shè)定值;上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)對在使設(shè)定值為初始值的記錄脈沖邊緣位置上記錄的邊緣測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率的適當(dāng)值,上述第1記錄條件決定裝置,根據(jù)對以使由上述第2記錄條件決定裝置決定的設(shè)定值為上述適當(dāng)值的記錄功率記錄的邊緣測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置決定上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值。
按照這種結(jié)構(gòu),在決定了記錄功率的適當(dāng)值后,進一步由按該適當(dāng)值設(shè)定的記錄功率進行測試記錄,以便進行記錄脈沖邊緣位置的最佳化,從而使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能最佳化,所以,能夠更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
上述第5光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有記錄起始點移動裝置,在進行上述邊緣測試信號的測試記錄時,用于將光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
按照這種結(jié)構(gòu),可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第5光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于生成與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的數(shù)據(jù)模式生成裝置,在上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄上述邊緣測試信號及功率測試信號的區(qū)域內(nèi),在進行上述邊緣測試信號的測試記錄之前,由上述記錄裝置記錄上述數(shù)據(jù)模式。
按照這種結(jié)構(gòu),能使在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記之間的相關(guān)性進一步降低,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第5光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的測定裝置,上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
在上述第5光學(xué)信息記錄裝置中,上述第1記錄條件決定裝置,最好備有比較裝置,用于將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較,以便決定上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值。
上述第5光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的測定裝置,上述第1記錄條件決定裝置,將由上述測定裝置測定的結(jié)果為最小的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值。
在上述第5光學(xué)信息記錄裝置中,上述第1記錄條件決定裝置,最好根據(jù)對以使由上述第2記錄條件決定裝置決定的設(shè)定值為規(guī)定值的記錄功率記錄的上述邊緣測試信號進行再生后的結(jié)果,對上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置決定上述記錄脈沖的邊緣位置的上述初始值。
按照這種結(jié)構(gòu),使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都可以更精確地最佳化,并能更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
進一步,最好還備有記錄起始點移動裝置,在進行上述邊緣測試信號的測試記錄時,用于將光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
另外,最好還備有用于生成與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的數(shù)據(jù)模式生成裝置,在上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄上述邊緣測試信號及功率測試信號的區(qū)域內(nèi),在進行上述邊緣測試信號的測試記錄之前,由上述記錄裝置記錄上述數(shù)據(jù)模式。
另外,上述第1記錄條件決定裝置,最好備有比較裝置,用于將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較。
另外,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的測定裝置,上述第1記錄條件決定裝置,將由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值,并將所決定的上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值用作上述初始值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第5光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),將記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定為初始值,并將功率測試信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上;步驟(b),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(a)中記錄的功率測試信號的結(jié)果,決定光源的記錄功率的適當(dāng)值;步驟(c),根據(jù)在上述步驟(b)中決定的記錄功率,將邊緣測試信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上;步驟(d),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(c)中記錄的邊緣測試信號的結(jié)果,決定記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值。
在該方法中,在決定了記錄功率的適當(dāng)值后,進一步由按該適當(dāng)值設(shè)定的記錄功率進行測試記錄,以便進行記錄脈沖的邊緣位置的最佳化。因此,使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能最佳化,所以,能夠更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
在上述第5光學(xué)信息記錄方法中,在上述步驟(c)中,最好是將上述光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
按照這種方法,可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第5光學(xué)信息記錄方法,在步驟(c)之前,最好包括在上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)記錄與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的步驟。
按照這種方法,能使在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記之間的相關(guān)性進一步降低,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第5光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述功率測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
上述第5光學(xué)信息記錄方法,上述步驟(d),最好包括比較步驟,將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較。
在上述第5光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(d),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并將測定的結(jié)果為最小的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值。
上述第5光學(xué)信息記錄方法,在上述步驟(a)之前,最好還包括步驟(e-1),將記錄功率設(shè)定為規(guī)定值,并將邊緣測試信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上;及步驟(e-2),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(e-1)中記錄的邊緣測試信號后的結(jié)果,決定記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值;并將在上述步驟(e-2)中決定的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值在上述步驟(a)中用作記錄脈沖的邊緣位置的初始值。
按照這種方法,可以使記錄脈沖的邊緣位置和記錄功率兩者都能最佳化,并能更精密地將信息信號記錄在光學(xué)信息記錄媒體上。
進一步,在上述步驟(e-1)中,最好是將上述光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
另外,在步驟(e-1)之前,最好包括在上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)記錄與上述邊緣測試信號及功率測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的步驟。
另外,上述步驟(e-2),最好包括比較步驟,將上述邊緣測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較。
另外,上述步驟(e-2),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述邊緣測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并將測定結(jié)果為最小的記錄脈沖的邊緣位置決定為適當(dāng)值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第6光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成測試信號;記錄裝置,將測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;極性反轉(zhuǎn)裝置,用于使上述記錄數(shù)據(jù)信號的極性反轉(zhuǎn);極性反轉(zhuǎn)控制裝置,當(dāng)進行上述測試記錄時,僅將從上述測試信號變換的記錄數(shù)據(jù)信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個供給上述記錄裝置,并當(dāng)記錄上述信息信號時,以按每個扇區(qū)隨機選擇的方式僅將從上述信息信號變換的記錄數(shù)據(jù)信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個供給上述記錄裝置;記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置,用于調(diào)整上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖的邊緣位置;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;及記錄條件決定裝置,根據(jù)由上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號后的結(jié)果,決定記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值,并供給上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置。
按照這種結(jié)構(gòu),可以提供使光學(xué)信息記錄媒體的可重寫次數(shù)提高并可以在通過測試記錄取得的最佳記錄條件下對信息信號進行精密記錄的光學(xué)信息記錄再生裝置。
上述第6光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有記錄起始點移動裝置,用于在上述光學(xué)記錄信息媒體上按每個扇區(qū)隨機地移動記錄數(shù)據(jù)信號的記錄起始點。
按照這種結(jié)構(gòu),可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第6光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于產(chǎn)生與上述測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的數(shù)據(jù)模式產(chǎn)生裝置,在進行測試記錄之前,在進行測試記錄的光道上記錄上述數(shù)據(jù)模式。
按照這種結(jié)構(gòu),在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記的重疊情況變?yōu)殡S機的,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第6光學(xué)信息記錄裝置中,上述記錄條件決定裝置,最好備有比較裝置,用于將上述測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較,以便決定上述記錄脈沖的邊緣位置的適當(dāng)值。
上述第6光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的測定裝置,上述記錄條件決定裝置,將由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄脈沖的邊緣位置決定為適當(dāng)值。
上述第6光學(xué)信息記錄裝置,最好備有第2測試信號生成裝置,用于生成第2測試信號;及第2記錄條件決定裝置,由上述記錄脈沖邊緣調(diào)整裝置將記錄脈沖邊緣位置設(shè)定為上述適當(dāng)值,將從上述第2測試信號生成裝置供給并由上述極性反轉(zhuǎn)控制裝置按每個扇區(qū)隨機選定的第2測試信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上,根據(jù)上述再生裝置從上述光學(xué)信息記錄媒體再生第2測試信號后的結(jié)果,對上述記錄裝置決定上述光源的記錄功率的適當(dāng)值。
在決定記錄功率的測試記錄中,與進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試記錄或通常信息信號的記錄時相比,在多數(shù)情況下可能以更高的記錄功率進行記錄。按照這種結(jié)構(gòu),當(dāng)進行決定記錄功率的測試記錄時,由于可以通過使第2測試信號的極性隨機地反轉(zhuǎn)進行測試記錄,所以能夠防止光學(xué)信息記錄媒體中的進行測試記錄的區(qū)域的記錄膜的惡化。
進一步,上述第6光學(xué)信息記錄裝置,最好還備有用于測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述第2測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的測定裝置,上述第2記錄條件決定裝置,根據(jù)由上述測定裝置測定的結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的上述適當(dāng)值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第6光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),隨機地決定是否使第1測試信號的極性反轉(zhuǎn),并僅將上述第1測試信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個在上述光學(xué)信息記錄媒體的規(guī)定光道上進行測試記錄;步驟(b),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(a)中記錄的第1測試信號的結(jié)果,決定記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值;及步驟(c),按每個扇區(qū)隨機選擇在上述光學(xué)信息記錄媒體上記錄的信息信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個并將記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定為在上述步驟(b)中決定的適當(dāng)值,從而在上述光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄。
按照這種方法,可以使光學(xué)信息記錄媒體的可重寫次數(shù)提高、且可以在通過進行測試記錄取得的最佳記錄條件下對信息信號進行精密的記錄。
在上述第6光學(xué)信息記錄方法中,在上述步驟(a)中,最好將上述光學(xué)記錄信息媒體的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機地移動。
按照這種方法,可以將因在已記錄在光學(xué)信息記錄媒體中的將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)的記錄標(biāo)記上重寫測試信號的記錄標(biāo)記而發(fā)生的測試信號的邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
上述第6光學(xué)信息記錄方法,在上述步驟(a)之前,最好包括在上述規(guī)定的光道上記錄與測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的步驟。
按照這種方法,能使在將要進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行重寫的測試信號的記錄標(biāo)記與已記錄著的記錄標(biāo)記之間的重疊情況變?yōu)殡S機的,所以,可以將測試信號邊緣間隔的偏差平均化,并能以更精確的方式使記錄數(shù)據(jù)信號的邊緣位置最佳化。
在上述第6光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好包括比較步驟,將上述第1測試信號的邊緣間隔與從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述第1測試信號后得到的再生信號的邊緣間隔進行比較。
在上述第6光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述第1測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并將使測定結(jié)果為最小的記錄脈沖邊緣位置決定為適當(dāng)值。
上述第6光學(xué)信息記錄方法,在上述步驟(b)結(jié)束之后、上述步驟(c)之前,最好包括步驟(b-1),按每個扇區(qū)隨機選擇第2測試信號的反轉(zhuǎn)信號和非反轉(zhuǎn)信號中的任何一個并將記錄脈沖的邊緣位置設(shè)定為在上述步驟(b)中決定的適當(dāng)值,從而在上述光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄;及步驟(b-2),根據(jù)從上述光學(xué)信息記錄媒體再生在上述步驟(b-1)中記錄的第2測試信號的結(jié)果,決定記錄功率的適當(dāng)值。
在決定記錄功率的測試記錄中,與進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試記錄或通常信息信號的記錄時相比,在多數(shù)情況下可能以更高的記錄功率進行記錄。按照這種方法,在進行決定記錄功率的測試記錄的步驟(b-1)中,由于可以通過使第2測試信號的極性隨機地反轉(zhuǎn)進行測試記錄,所以能夠防止光學(xué)信息記錄媒體中的進行測試記錄的區(qū)域的記錄膜的惡化。
進一步,上述步驟(b-2),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述第2測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
為達到上述目的,本發(fā)明的第7光學(xué)信息記錄方法,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度越低的Z-CLV格式的光學(xué)信息記錄媒體,在上述光學(xué)信息記錄媒體上記錄信息信號之前,對上述光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄,該光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),以與上述各區(qū)的最內(nèi)周光道的信息信號的記錄線密度大致相等的記錄線密度,對測試信號進行測試記錄;及步驟(b),從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號,并根據(jù)再生結(jié)果決定記錄脈沖邊緣位置和記錄功率中的任何一個的適當(dāng)值。
按照這種方法,從各區(qū)的內(nèi)周到外周都能得到容許的抖動(或誤碼率),并可以對信息信號進行精密的記錄。
在上述第7光學(xué)信息記錄方法中,上述步驟(b),最好還包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
在上述第7光學(xué)信息記錄方法中,在上述步驟(a)內(nèi),進行測試記錄的光道,最好至少大致是一個區(qū)內(nèi)的最內(nèi)周。
在上述第7光學(xué)信息記錄方法中,在上述步驟(a)內(nèi),進行測試記錄的光道,最好是自光學(xué)信息記錄媒體的記錄區(qū)域起的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)的光道。
為達到上述目的,本發(fā)明的第1光學(xué)信息記錄媒體,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度越低的Z-CLV格式的光學(xué)信息記錄媒體中,該光學(xué)信息記錄媒體的特征在于在至少一個上述區(qū)內(nèi)的大致的最內(nèi)周上,具有用于測試記錄的區(qū)域。
為達到上述目的,本發(fā)明的第2光學(xué)信息記錄媒體,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度越低的Z-CLV格式的光學(xué)信息記錄媒體中,該光學(xué)信息記錄媒體的特征在于在自上述記錄區(qū)域起的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)具有測試記錄區(qū)域,上述測試記錄區(qū)域的記錄線密度,與上述記錄區(qū)域內(nèi)的各區(qū)的最內(nèi)周光道的信息信號的記錄線密度大致相等。
在上述第1和第2光學(xué)信息記錄媒體中,記錄膜由相變材料構(gòu)成。
另外,上述第1~第6光學(xué)信息記錄裝置,在結(jié)構(gòu)上,最好是在調(diào)整上述光學(xué)信息記錄裝置時、上述光學(xué)信息記錄裝置起動時、從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換上述光學(xué)信息記錄媒體時、上述光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時、及上述光學(xué)信息記錄裝置的使用環(huán)境溫度變化時的至少任何一個時刻,執(zhí)行測試記錄和記錄條件的設(shè)定。
按照這種結(jié)構(gòu),通過在調(diào)整光學(xué)信息記錄裝置時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄裝置間的變動因素。通過在光學(xué)信息記錄裝置起動時及從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄裝置本身的變動因素。通過在更換光學(xué)信息記錄媒體時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄媒體間的變動因素。通過在光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄媒體本身的變動因素。通過在使用環(huán)境溫度變化時進行測試記錄,可以補償由光學(xué)信息記錄裝置及光學(xué)信息記錄媒體與溫度的相關(guān)性引起的變動因素。
另外,利用上述第1~第7光學(xué)信息記錄方法在光學(xué)信息記錄媒體上進行信息記錄的光學(xué)信息記錄裝置,其特征在于在調(diào)整上述記錄再生裝置時、上述記錄再生裝置起動時、從上述起動時刻經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換上述光學(xué)信息記錄媒體時、上述光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時、及上述光學(xué)信息記錄裝置的使用環(huán)境溫度變化時的至少任何一個時刻,執(zhí)行測試記錄和記錄條件的設(shè)定。
按照這種結(jié)構(gòu),通過在調(diào)整記錄再生裝置時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄裝置間的變動因素。通過在光學(xué)信息記錄裝置起動時及從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄裝置本身的變動因素。通過在更換光學(xué)信息記錄媒體時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄媒體間的變動因素。通過在光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時進行測試記錄,可以補償光學(xué)信息記錄媒體本身的變動因素。通過在使用環(huán)境溫度變化時進行測試記錄,可以補償由光學(xué)信息記錄裝置及光學(xué)信息記錄媒體與溫度的相關(guān)性引起的變動因素。
另外,在上述第1~第6光學(xué)信息記錄裝置中,光學(xué)信息記錄媒體的記錄膜最好由相變材料構(gòu)成。
另外,在上述第1~第7光學(xué)信息記錄方法中,光學(xué)信息記錄媒體的記錄膜最好由相變材料構(gòu)成。
圖1是表示本發(fā)明第1和第6實施形態(tài)的記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖2是說明上述第1實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖3是表示本發(fā)明第2實施形態(tài)的記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖4是說明上述第2實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖5是表示本發(fā)明第3和第4實施形態(tài)的記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖6是說明上述第3實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖7是說明上述第4實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖8是表示本發(fā)明第5實施形態(tài)的記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖9是說明上述第5實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖10是說明上述第6實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作的流程圖。
圖11是表示在現(xiàn)有的光盤中進行測試記錄前的光道狀態(tài)、測試記錄用的測試信號、根據(jù)該測試信號進行測試記錄時的上述光道狀態(tài)的一例的說明圖。
圖12是表示在現(xiàn)有的光盤中進行測試記錄前的光道狀態(tài)、測試記錄用的測試信號、根據(jù)該測試信號進行測試記錄時的上述光道狀態(tài)的另一例的說明圖。
圖13是表示在現(xiàn)有的光盤中進行測試記錄前的光道狀態(tài)、測試記錄用的測試信號、根據(jù)該測試信號進行測試記錄時的上述光道狀態(tài)的其他例的說明圖。
圖14是表示在現(xiàn)有的光盤中進行測試記錄前的光道狀態(tài)、測試記錄用的測試信號、根據(jù)該測試信號進行測試記錄時的上述光道狀態(tài)的其他例的說明圖。
圖15是表示在現(xiàn)有的光盤中通過改變記錄脈沖寬度記錄最短標(biāo)記的周期信號時的記錄峰值功率Pp與誤碼率的關(guān)系的曲線圖。
以下,參照
本發(fā)明的實施形態(tài)。
(第1實施形態(tài))圖1是表示本發(fā)明第1實施形態(tài)的記錄再生裝置(光學(xué)信息記錄裝置)的簡略結(jié)構(gòu)的框圖。
本記錄再生裝置,是一種用光盤1進行信息記錄再生的裝置,備有使光盤1旋轉(zhuǎn)的主軸電機10和激光源(圖中未示出),并備有將激光聚焦在光盤1的預(yù)期部位上的光頭9。該記錄再生裝置的總體動作由系統(tǒng)控制電路2(記錄條件決定裝置)控制。作為光盤1,最好使用記錄膜由相變材料構(gòu)成的相變型光盤。
該記錄再生裝置,為了對光盤1進行信息記錄,備有按每個扇區(qū)隨機地移動記錄起始點的記錄起始點移動電路3(記錄起始點移動裝置)及生成用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的邊緣測試信號生成電路4(邊緣測試信號生成裝置)。
上述記錄再生裝置,作為記錄裝置,備有根據(jù)所要記錄的信息信號產(chǎn)生二進制記錄數(shù)據(jù)信號的調(diào)制電路5、根據(jù)記錄數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生用于驅(qū)動激光器的記錄脈沖的記錄信號生成電路6、對該記錄信號生成電路6輸出的記錄脈沖的邊緣位置進行調(diào)整的記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7。另外,還設(shè)有用于根據(jù)記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7輸出的記錄脈沖對驅(qū)動光頭9內(nèi)的激光源的電流進行調(diào)制的激光器驅(qū)動電路8。
另外,上述記錄再生裝置,作為從光盤1進行信息再生的再生裝置,備有根據(jù)來自光盤1的反射光對再生信號進行波形處理的再生信號處理電路11、檢測再生信號的邊緣時刻的邊緣時刻檢測電路12、用于獲得再生信息的解調(diào)電路13。
其次,用圖2的流程圖說明本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行測試記錄時,首先,由光頭9對光盤1上的規(guī)定光道進行查找(步驟1,以下,簡記為S1),并由系統(tǒng)控制電路2決定激光器驅(qū)動電路8的記錄功率設(shè)定值(S2)。然后,邊緣測試信號生成電路4,生成測試信號,并作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S3)。
記錄信號生成電路6,檢測記錄數(shù)據(jù)信號的信號反轉(zhuǎn)間隔是信道時鐘周期T的幾倍。然后,根據(jù)記錄標(biāo)記的長度在規(guī)定的時刻產(chǎn)生規(guī)定個數(shù)和規(guī)定寬度的記錄脈沖。
這里,記錄起始點移動電路3,按扇區(qū)隨機地移動記錄選通信號的起始位置并輸出到記錄信號生成電路6。該所謂的記錄選通信號是「1」或「0」的數(shù)字信號,僅當(dāng)在光盤1進行信息記錄時為「1」,在除此以外的時間里是「0」信號。與此相反,也可以是記錄時為「0」而其他時間為「1」的信號。
這樣,通過隨機地移動記錄選通信號的起始位置,可以按每個扇區(qū)隨機地移動在光盤1的扇區(qū)上記錄的一連串的記錄數(shù)據(jù)信號的記錄起始點(S4)。在這之后,記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7,將用于驅(qū)動激光源的記錄脈沖輸入到激光器驅(qū)動電路8。
激光器驅(qū)動電路8,根據(jù)記錄脈沖對驅(qū)動激光源的電流進行調(diào)制,并進行對該扇區(qū)的記錄(S5)。反復(fù)進行上述S3~S5的記錄動作,直到完成規(guī)定扇區(qū)數(shù)的記錄(S6中為“是”)為止。
其結(jié)果是,即使是對相同光道重寫模式相同的測試信號,也能按每個扇區(qū)隨機地改變新記錄標(biāo)記與老記錄標(biāo)記的相位關(guān)系。因此,能使圖11~圖14所示的各種狀態(tài)的標(biāo)記畸變以同等的概率存在。
在記錄了測試信號后,由光頭9對該扇區(qū)進行再生(S7),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,通過對二進制化后的再生信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S8),測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔。所測定的邊緣間隔,被存儲在系統(tǒng)控制電路2中的存儲器(圖中未示出)內(nèi)(S9)。對進行過測試記錄的所有扇區(qū)反復(fù)進行上述S7~S9的處理(直到S10中為“是”為止)。
在這之后,系統(tǒng)控制電路2,計算存儲器所存儲著的邊緣間隔測定值的平均值(S11)。如上所述,在S4中,將測試信號的記錄起始點按每個扇區(qū)隨機移動后進行記錄,所以,由于如圖11~圖14所示的各種標(biāo)記畸變的影響造成的邊緣間隔的偏差(即,圖11~圖14的Δ1和Δ1的影響)被平均化了。因此,使在S 11中計算出的邊緣間隔的平均值不會發(fā)生因與以前的數(shù)據(jù)模式的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以求得與重寫實際信息信號時的狀態(tài)相同的理想邊緣間隔。
接著,求出根據(jù)對測試記錄結(jié)果進行再生后的再生信號計算出的邊緣間隔與測試信號的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S12)。然后,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S13),在由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣的校正量(S14)后,結(jié)束測試記錄。以后,當(dāng)實際記錄信息信號時,由于可根據(jù)由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定好的記錄脈沖邊緣位置進行記錄,所以能夠在理想的邊緣位置上形成記錄標(biāo)記。
在如上所述的本實施形態(tài)中,通過按每個扇區(qū)隨機地移動測試信號的記錄起始點后而對多個扇區(qū)進行記錄并求出根據(jù)其再生信號求得的記錄標(biāo)記邊緣間隔的平均值,可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄,因而能進行更精密的信息信號記錄。
(第2實施形態(tài))圖3是表示本發(fā)明第2實施形態(tài)的記錄再生裝置的簡略結(jié)構(gòu)的框圖。
該記錄再生裝置,是一種用光盤1進行信息記錄再生的裝置,備有使光盤1旋轉(zhuǎn)的主軸電機10和激光源(圖中未示出),并備有將激光聚焦在光盤1的預(yù)期部位上的光頭9。該記錄再生裝置的總體動作由系統(tǒng)控制電路22控制。
該記錄再生裝置,作為記錄裝置(或記錄和擦除裝置),備有生成用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的邊緣測試信號生成電路4、根據(jù)所要記錄的信息信號產(chǎn)生二進制記錄數(shù)據(jù)信號的調(diào)制電路5、根據(jù)記錄數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生用于驅(qū)動激光器的記錄脈沖的記錄信號生成電路6、對該記錄信號生成電路6輸出的記錄脈沖的邊緣位置進行調(diào)整的記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7。另外,還設(shè)有用于根據(jù)記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7輸出的記錄脈沖對驅(qū)動光頭9內(nèi)的激光源的電流進行調(diào)制的激光器驅(qū)動電路8。
另外,上述記錄再生裝置,為從光盤1進行信息的再生,備有根據(jù)來自光盤1的反射光對再生信號進行波形處理的再生信號處理電路11、檢測再生信號的邊緣時刻的邊緣時刻檢測電路12、用于獲得再生信息的解調(diào)電路13。
本實施形態(tài)的記錄再生裝置,設(shè)有在想要記錄測試信號的光道上進行測試信號的記錄之前生成所要記錄的數(shù)據(jù)模式的數(shù)據(jù)模式生成電路21,用以代替第1實施形態(tài)中的記錄起始點移動電路3。而作為該數(shù)據(jù)模式,采用與測試信號不相關(guān)的數(shù)據(jù)。
其次,用圖4的流程圖說明由系統(tǒng)控制電路22控制的本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行信號記錄時,首先,由光頭9對光盤1上的規(guī)定光道進行查找(S21),并由系統(tǒng)控制電路22決定激光器驅(qū)動電路8的記錄功率設(shè)定值(S22)。然后,數(shù)據(jù)模式生成電路21,生成與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,并作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S23)。由記錄信號生成電路6將該記錄數(shù)據(jù)信號變換為記錄脈沖,并由激光器驅(qū)動電路8對激光器的驅(qū)動電流進行調(diào)制,然后,對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S24)。
在這之后,由邊緣測試信號生成電路4將測試信號作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S25)。同樣由記錄信號生成電路6將該記錄數(shù)據(jù)信號變換為記錄脈沖,由激光器驅(qū)動電路8對激光器的驅(qū)動電流進行調(diào)制,并對在上述S24中已將來自數(shù)據(jù)模式生成電路21的數(shù)據(jù)模式進行了記錄的扇區(qū)進行重寫(S26)。
這里,在S26中進行重寫的以前已在步驟S24中記錄的數(shù)據(jù)模式,是與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,所以,由測試信號產(chǎn)生的記錄標(biāo)記與以前的記錄標(biāo)記的重疊情況為隨機的,因此使圖11~圖14所示的各種狀態(tài)的標(biāo)記畸變以同等的概率存在。
在記錄了測試信號后,由光頭9對在S26中重寫后的扇區(qū)進行再生(S27),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,通過對二進制化后的信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S28),測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔。所測定的邊緣間隔,被存儲在系統(tǒng)控制電路2中的存儲器內(nèi)(S29)。
然后,由系統(tǒng)控制電路22計算邊緣間隔測定值的平均值(S30)。如上所述,由于進行重寫的以前已記錄的數(shù)據(jù)模式是與測試信號的模式不相關(guān)的模式,所以,由圖11~圖14所示的各種標(biāo)記畸變的影響造成的邊緣間隔的偏差(即,圖11~圖14的Δ1和Δ1的影響)被平均化了。因此,使計算出的邊緣間隔的平均值不會發(fā)生因與以前的數(shù)據(jù)模式的相位關(guān)系引起的偏差。其結(jié)果是,可以求得精確的記錄標(biāo)記邊緣間隔。
接著,求出根據(jù)進行了測試記錄的測試信號的再生信號計算出的邊緣間隔與測試信號原有的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為與所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S31)。然后,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S32),在由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣的校正量(S33)后,結(jié)束測試記錄。以后,當(dāng)實際記錄信息信號時,由于可根據(jù)由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定好的記錄脈沖邊緣位置進行記錄,所以能夠在理想的邊緣位置上形成記錄標(biāo)記。
如上所述,在本實施形態(tài)中,通過在測試記錄之前在想要記錄測試信號的光道上記錄與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄,因而能進行更精密的信息信號記錄。
另外,如果在本實施形態(tài)中同時并用設(shè)置隨機移動記錄起始點的記錄起始點移動電路3并對多個扇區(qū)記錄再生測試信號的結(jié)構(gòu)和方法,則在使測試記錄前的數(shù)據(jù)模式與測試信號的數(shù)據(jù)模式的相關(guān)性進一步降低因而在能更精確地決定記錄脈沖邊緣位置這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,是使記錄測試信號之前記錄的數(shù)據(jù)模式為與測試信號的模式不相關(guān)的模式,但在結(jié)構(gòu)上作為該數(shù)據(jù)模式也可以采用隨機模式。在這種情況下,如在結(jié)構(gòu)上使系統(tǒng)控制電路22預(yù)先具有隨機的記錄信息并由調(diào)制電路5對該記錄信息進行調(diào)制,則可以將數(shù)據(jù)模式生成電路21省略,因而在使記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)簡化這一點上是更為理想的?;蛘撸捎脧呐c本記錄再生裝置連接的外部裝置(例如計算機等)向系統(tǒng)控制電路22輸出隨機記錄信息并由調(diào)制電路5對該記錄信息進行調(diào)制的結(jié)構(gòu),也可以取得同樣的效果。
另外,在記錄測試信號之前記錄的不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,也可以是模式周期不同的其他測試信號數(shù)據(jù)模式。在這種情況下,也可以將數(shù)據(jù)模式生成電路21省略因而使記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)簡化,所以是更為理想的。
另外,也可以不是在記錄測試信號之前記錄不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式,而是使激光以一定電平的擦除功率(Pb)照射光盤1,從而將在想要記錄測試信號的光道上記錄著的所有信號擦除。當(dāng)光盤1為相變型光盤時,由于受擦除功率為Pb的激光連續(xù)照射的部分的記錄膜變成結(jié)晶狀態(tài),所以可將所記錄著的信號擦除。在這種情況下,也可以將數(shù)據(jù)模式生成電路21省略,因而在使記錄再生裝置簡化這一點上是更為理想的。
(第3實施形態(tài))圖5是表示本發(fā)明第3實施形態(tài)的記錄再生裝置的簡略結(jié)構(gòu)的框圖。
該記錄再生裝置,是一種用光盤1進行信息記錄再生的裝置,備有使光盤1旋轉(zhuǎn)的主軸電機10和激光源(圖中未示出),并備有將激光聚焦在光盤1的預(yù)期部位上的光頭9。該記錄再生裝置的總體動作由系統(tǒng)控制電路32控制。
該記錄再生裝置,備有生成用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號(邊緣測試信號)的邊緣測試信號生成電路4、根據(jù)所要記錄的信息信號產(chǎn)生二進制記錄數(shù)據(jù)信號的調(diào)制電路5、根據(jù)記錄數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生用于驅(qū)動激光器的記錄脈沖的記錄信號生成電路6、對該記錄信號生成電路6輸出的記錄脈沖的邊緣位置進行調(diào)整的記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7。另外,還設(shè)有用于根據(jù)記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7輸出的記錄脈沖對驅(qū)動光頭9內(nèi)的激光源的電流進行調(diào)制的激光器驅(qū)動電路8。
另外,上述記錄再生裝置,為從光盤1進行信息的再生,備有根據(jù)來自光盤1的反射光對再生信號進行波形處理的再生信號處理電路11、檢測再生信號的邊緣時刻的邊緣時刻檢測電路12、用于獲得再生信息的解調(diào)電路13。
以上,與第1實施形態(tài)中由圖1示出的結(jié)構(gòu)基本相同。本實施形態(tài)的記錄再生裝置與第1實施形態(tài)的特有的不同之處在于,不具備記錄起始點移動電路3,而是備有決定記錄功率的誤碼率(圖中,簡記為BER)測定電路31、生成用于決定記錄功率的測試信號(功率測試信號)的功率測試信號生成電路33。
其次,用圖6的流程圖說明由系統(tǒng)控制電路32控制的本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行測試記錄時,首先,由光頭9對光盤1上的規(guī)定光道進行查找(S41),并由系統(tǒng)控制電路32將激光器驅(qū)動電路8的記錄功率設(shè)定值作為初始值(S42)。然后,由邊緣測試信號生成電路4將用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號(邊緣測試信號)作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S43)。記錄信號生成電路6,將該記錄數(shù)據(jù)信號變換為記錄脈沖,并由激光器驅(qū)動電路8根據(jù)該記錄脈沖對激光器的驅(qū)動電流進行調(diào)制,從而對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S44)。
在記錄了測試信號后,由光頭9對在S44中進行了記錄的扇區(qū)進行再生(S45),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,通過對二進制化信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S46),測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔,并將測定值存儲在系統(tǒng)控制電路32中的存儲器內(nèi)(S47)。
在這之后,系統(tǒng)控制電路32(第1記錄條件決定裝置),計算邊緣間隔測定值的平均值(S48)。接著,求出根據(jù)測試記錄后的測試信號的再生信號計算出的邊緣間隔與測試信號原有的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S49比較裝置)。然后,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S50),并由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣校正量(S51)。
接著,將記錄功率設(shè)定為功率調(diào)整范圍的最小值(S52),并由功率測試信號生成電路33向記錄信號生成電路6輸出用于決定功率的測試信號(功率測試信號)(S53)。然后,根據(jù)由該測試信號生成的記錄脈沖,對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S54)。在這之后,對所記錄的測試信號進行再生(S55),并由再生信號處理電路11進行均衡和二進制化。
接著,誤碼率測定電路(測定裝置)31,通過將測試信號的模式與再生后的數(shù)據(jù)模式進行比較而測定誤碼率(S56),并將測定值存儲于系統(tǒng)控制電路32。逐級增加記錄功率(S58)并反復(fù)進行上述S53~S56,直到記錄功率達到功率調(diào)整范圍內(nèi)的最大值(S57中為“是”)為止。
然后,系統(tǒng)控制電路32(第2記錄條件決定裝置),參照存儲在存儲器內(nèi)的測定值,計算當(dāng)誤碼率達到一定的閾值(圖15中的Bth)時的記錄功率的值(S59)。根據(jù)該值進行例如將該值乘以一定的系數(shù)等的處理,從而決定記錄功率的適當(dāng)值(S60),由激光器驅(qū)動電路8將記錄功率設(shè)定為適當(dāng)值后(S61),結(jié)束測試記錄。按照這種方法,即使是通過調(diào)整記錄脈沖邊緣位置而改變了脈沖寬度時,也能以最佳的記錄功率記錄信息信號。
如上所述,在本實施形態(tài)中,在進行了決定記錄脈沖邊緣位置最佳值的測試記錄后,可以在將記錄脈沖邊緣位置設(shè)定為上述最佳值的狀態(tài)下進行決定記錄功率最佳值的測試記錄。因此,即使是通過調(diào)整記錄脈沖的邊緣位置而改變了脈沖寬度時也能使記錄功率最佳化,能以最佳邊緣位置和記錄功率記錄信息信號,所以在能夠進行更為精密的信息信號記錄這一點上可取得優(yōu)良的效果。
在本實施形態(tài)中,在步驟S42中將決定邊緣位置時的記錄功率設(shè)定為規(guī)定值,但是,如果在S42之前追加一個進行用于決定該記錄功率值的測試記錄的步驟,則因可以更精確地決定記錄脈沖的最佳邊緣位置及記錄功率,所以是更理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如果進一步同時并用設(shè)置如第1實施形態(tài)所述的記錄起始點移動電路3以便隨機地移動記錄起始點并從多個扇區(qū)對測試信號進行記錄再生從而決定記錄脈沖的最佳邊緣位置的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第2實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置數(shù)據(jù)模式生成電路21并在記錄用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的光道上預(yù)先記錄與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如后文所述的第5實施形態(tài)所示如果進一步同時并用設(shè)置極性反轉(zhuǎn)控制電路53、極性反轉(zhuǎn)電路54和選擇電路55并僅在進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的記錄時以禁止記錄數(shù)據(jù)信號的隨機極性反轉(zhuǎn)的方式進行記錄的結(jié)構(gòu)和方法,則在提高光盤的可重寫次數(shù)且可以精密地記錄信息信號這一點上是更理想的。
(第4實施形態(tài))本發(fā)明第4實施形態(tài)的記錄再生裝置的結(jié)構(gòu),與第3實施形態(tài)中圖5所示的結(jié)構(gòu)相同,但由系統(tǒng)控制電路32進行的控制不同。這里,用圖7的流程圖和圖5說明由系統(tǒng)控制電路32控制的本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行測試記錄時,首先,由光頭9對光盤1上的規(guī)定光道進行查找(S71),并由系統(tǒng)控制電路32將記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7的記錄脈沖邊緣位置設(shè)定為規(guī)定的位置(S72)。
接著,將記錄功率設(shè)定為功率調(diào)整范圍的最小值(S73),并由功率測試信號生成電路33向記錄信號生成電路6輸出用于決定功率的測試信號(功率測試信號)(S74),對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S75)。
然后,對所記錄的測試信號進行再生(S76),并由再生信號處理電路11進行均衡和二進制化。誤碼率測定電路(測定裝置)31,通過將測試信號的模式與再生后的數(shù)據(jù)模式進行比較而測定誤碼率(S77),并將測定值存儲于系統(tǒng)控制電路32。逐級增加記錄功率(S79),并反復(fù)進行上述S74~S77的處理,直到記錄功率達到功率調(diào)整范圍內(nèi)的最大值(S78中為“是”)為止。
接著,系統(tǒng)控制電路(第2記錄條件決定裝置)32,根據(jù)所存儲的測定值,計算當(dāng)誤碼率達到一定的閾值(圖15中的Bth)時的記錄功率(S80)。根據(jù)該功率決定記錄功率(S81),并由激光器驅(qū)動電路8設(shè)定記錄功率(S82)。
然后,由邊緣測試信號生成電路4將用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號(邊緣測試信號)作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S83)。記錄信號生成電路6,將該記錄數(shù)據(jù)信號變換為記錄脈沖,并由激光器驅(qū)動電路8根據(jù)來自記錄信號生成電路6的記錄脈沖對激光器的驅(qū)動電流進行調(diào)制,從而對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S84)。
在記錄了測試信號后,由光頭9對該扇區(qū)進行再生(S85),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,通過對二進制信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S86),測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔,并將測定值存儲在系統(tǒng)控制電路32中的存儲器內(nèi)(S87)。
在這之后,系統(tǒng)控制電路(第1記錄條件決定裝置)32,計算存儲在存儲器內(nèi)的邊緣間隔測定值的平均值(S88)。接著,求出根據(jù)測試記錄后的測試信號的再生信號計算出的邊緣間隔與測試信號原有的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S89比較裝置)。然后,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S90),由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣的校正量(S91),并結(jié)束測試記錄。按照這種方法,也能在調(diào)整了記錄功率后按最佳的記錄脈沖邊緣位置記錄信息信號。
如上所述,在本實施形態(tài)中,在進行了用于將記錄功率決定為適當(dāng)值的測試記錄后,可以在將記錄功率設(shè)定為上述適當(dāng)值的狀態(tài)下,進行決定記錄脈沖邊緣位置的測試記錄。因此,即使是通過調(diào)整記錄功率而改變了激光的照射能量時也能按最佳的記錄脈沖邊緣位置記錄信息信號。其結(jié)果是,在能夠進行更為精密的信息信號記錄這一點上可取得優(yōu)良的效果。
在本實施形態(tài)中,在步驟S72中將決定記錄功率時的邊緣位置時設(shè)定為規(guī)定值,但是,如果在S72之前追加一個進行用于決定該邊緣位置測試記錄的步驟,則因可以更精確地決定記錄脈沖的最佳邊緣位置及記錄功率,所以是更理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第1實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置記錄起始點移動電路3以便隨機地移動記錄起始點并從多個扇區(qū)進行測試信號的記錄再生從而決定記錄脈沖的最佳邊緣位置的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第2實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置數(shù)據(jù)模式生成電路21并在記錄用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的光道上預(yù)先記錄與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如后文所述的第5實施形態(tài)所示如果進一步同時并用設(shè)置極性反轉(zhuǎn)控制電路53、極性反轉(zhuǎn)電路54和選擇電路55并僅在進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的記錄時以禁止記錄數(shù)據(jù)信號的隨機極性反轉(zhuǎn)的方式進行記錄的結(jié)構(gòu)和方法,則在提高光盤的可重寫次數(shù)且可以精密地記錄信息信號這一點上是更理想的。
當(dāng)進行決定最佳記錄功率及記錄脈沖最佳邊緣位置的測試記錄時采用本實施形態(tài)的結(jié)構(gòu)和方法、或采用上述第3實施形態(tài)的結(jié)構(gòu)和方法,可根據(jù)要進行記錄的光盤的結(jié)構(gòu)、記錄密度、調(diào)制方式等選擇。例如,在抖動或誤碼率的變化對邊緣位置變化敏感的光盤的情況下,最好采用本實施形態(tài),而在抖動或誤碼率的變化對記錄功率變化敏感的光盤的情況下,最好采用第3實施形態(tài)。
另外,一般來說,用于決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄,與用于決定記錄功率的測試記錄相比,記錄再生裝置所需的結(jié)構(gòu)更為復(fù)雜。因此,例如,在調(diào)整記錄再生裝置時(出廠時),在采用例如時間間隔分析器等外部的測定器進行決定邊緣位置的測試記錄、然后只進行決定記錄功率的測試記錄的情況下,可以使記錄再生裝置的結(jié)構(gòu)簡化,在這一點上,第3實施形態(tài)更好一些。
(第5實施形態(tài))圖8是表示本發(fā)明第5實施形態(tài)的記錄再生裝置的簡略結(jié)構(gòu)的框圖。
本記錄再生裝置,是一種用光盤1進行信息記錄再生的裝置,備有使光盤1旋轉(zhuǎn)的主軸電機10和激光源(圖中未示出),并備有將激光聚焦在光盤1的預(yù)期部位上的光頭9。該記錄再生裝置的總體動作由系統(tǒng)控制電路52控制。
該記錄再生裝置,備有生成用于測試記錄的測試信號的邊緣測試信號生成電路4、根據(jù)所要記錄的信息信號產(chǎn)生二進制記錄數(shù)據(jù)信號的調(diào)制電路5、根據(jù)記錄數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生用于驅(qū)動激光器的記錄脈沖的記錄信號生成電路6、對該記錄信號生成電路6輸出的記錄脈沖的邊緣位置進行調(diào)整的記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7。另外,還設(shè)有用于根據(jù)記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7輸出的記錄脈沖對驅(qū)動光頭9內(nèi)的激光源(圖中未示出)的電流進行調(diào)制的激光器驅(qū)動電路8。
另外,上述記錄再生裝置,為從光盤1進行信息的再生,備有根據(jù)來自光盤1的反射光對再生信號進行波形處理的再生信號處理電路11、檢測再生信號的邊緣時刻的邊緣時刻檢測電路12、用于獲得再生信息的解調(diào)電路13。
上述記錄再生裝置,還備有用于使記錄數(shù)據(jù)信號的極性反轉(zhuǎn)的極性反轉(zhuǎn)電路54、內(nèi)部裝有用于在記錄信號生成電路6和極性反轉(zhuǎn)電路54之間切換從調(diào)制電路5或邊緣測試信號生成電路4輸出的信號的輸出端的開關(guān)的選擇電路55、進行隨機極性反轉(zhuǎn)的禁止和解禁的極性反轉(zhuǎn)控制電路53。
以下,用圖9的流程圖說明本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行測試記錄時,首先,由極性反轉(zhuǎn)控制電路53進行使選擇電路55的輸出固定在記錄信號生成電路6側(cè)的控制,使來自邊緣測試信號生成電路4的所有數(shù)據(jù)不能通過極性反轉(zhuǎn)電路54(S101)。由此,可禁止記錄測試信號的極性反轉(zhuǎn)。
接著,由光頭9對光盤1上的規(guī)定光道進行查找(S102),并由系統(tǒng)控制電路52將激光器驅(qū)動電路8的記錄功率設(shè)定為規(guī)定值(S103)。然后,邊緣測試信號生成電路4,將測試信號作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到選擇電路55(S104)。這里,由于在S101中已切換到記錄信號生成電路6側(cè),所以,選擇電路55使由邊緣測試信號生成電路4輸出的所有測試信號不能通過極性反轉(zhuǎn)電路54,而是輸入到記錄信號生成電路6。
記錄信號生成電路6,按照與上述實施形態(tài)同樣的方式,將所輸入的測試信號變換為用于驅(qū)動激光器的記錄脈沖。激光器驅(qū)動電路8,根據(jù)該記錄脈沖對激光器的驅(qū)動電流進行調(diào)制,并對進行測試記錄的該扇區(qū)進行記錄(S105)。
在記錄了測試信號后,由光頭9對進行了測試記錄的扇區(qū)進行再生(S106),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,對二進制信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S107)。系統(tǒng)控制電路52,根據(jù)已檢出的反轉(zhuǎn)間隔,測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔,并將測定值存儲在系統(tǒng)控制電路52中的存儲器內(nèi)(S108)。
然后,系統(tǒng)控制電路(記錄條件決定裝置)52,計算存儲在存儲器內(nèi)的邊緣間隔測定值的平均值(S109)。系統(tǒng)控制電路52,求出在S109中算出的邊緣間隔與測試信號原有的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S110比較裝置)。接著,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S111),并由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣的校正量(S112)。
最后,極性反轉(zhuǎn)控制電路53,將在S101中設(shè)定的極性反轉(zhuǎn)禁止解除,以便按每個扇區(qū)隨機地進行選擇電路55的開關(guān)的切換(S113),并結(jié)束測試記錄。
在該測試記錄后,當(dāng)實際記錄信息信號時,按每個扇區(qū)隨機地切換選擇電路55的開關(guān)。由此,信息信號,可按每個扇區(qū)隨機地選擇從調(diào)制電路5經(jīng)由極性反轉(zhuǎn)電路54后以反轉(zhuǎn)后的狀態(tài)輸出到記錄信號生成電路6的反轉(zhuǎn)狀態(tài)、及不經(jīng)由極性反轉(zhuǎn)電路54而從調(diào)制電路5直接輸出到記錄信號生成電路6的非反轉(zhuǎn)狀態(tài)中的任何一種狀態(tài)。其結(jié)果是,即使是在同一扇區(qū)反復(fù)記錄類似的信息信號,也可以避免對光盤1的記錄膜的特定位置的損傷。記錄信息信號時的選擇電路55的開關(guān)的切換,不限于按每個扇區(qū),也可以按每一次重寫進行。
如上所述,在本實施形態(tài)中,僅當(dāng)進行測試記錄時進行將記錄數(shù)據(jù)信號的隨機極性反轉(zhuǎn)禁止的控制,所以,當(dāng)決定記錄標(biāo)記的邊緣位置時,可以區(qū)分記錄標(biāo)記的前端邊緣和后端邊緣,并能進行精密的信息信號記錄。而且,當(dāng)實際記錄信息信號時,按每個扇區(qū)或每次重寫進行使記錄數(shù)據(jù)信號的極性隨機反轉(zhuǎn)的控制,從而在可以提高光盤的可重寫次數(shù)這一點上取得優(yōu)良的效果。
另外,在S101中,也可以與上述相反,由極性反轉(zhuǎn)控制電路53對選擇電路55的開關(guān)進行切換控制,使由邊緣測試信號生成電路4輸出的所有測試信號輸入到極性反轉(zhuǎn)電路54,進行極性反轉(zhuǎn)。關(guān)鍵是,只要在一連串的測試記錄中使記錄數(shù)據(jù)信號的極性始終相同即可。
在本實施形態(tài)中,說明了備有邊緣測試信號生成電路4并通過測試記錄決定記錄脈沖最佳邊緣位置的結(jié)構(gòu)和方法,但與第3實施形態(tài)一樣,也可以同時并用在結(jié)構(gòu)上進一步備有功率測試信號生成電路(第2測試信號生成裝置)33并由系統(tǒng)控制電路(第2記錄條件決定裝置)52決定記錄功率的結(jié)構(gòu)和方法。在這種情況下,在決定記錄功率的過程中,最好是進行控制以便將極性反轉(zhuǎn)的禁止解除。其原因是,在用于決定記錄功率的測試記錄中,與進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試記錄或通常信息信號的記錄時相比,在多數(shù)情況下可能以更高的記錄功率進行記錄,所以通過進行極性反轉(zhuǎn),可以抑制在測試光道上反復(fù)進行記錄時的記錄膜惡化。
另外,在本實施形態(tài)中,如第1實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置記錄起始點移動電路3以便隨機地移動記錄起始點并從多個扇區(qū)進行測試信號的記錄再生從而決定記錄脈沖的最佳邊緣位置的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第2實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置數(shù)據(jù)模式生成電路21并在記錄用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的光道上預(yù)先記錄與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
(第6實施形態(tài))本發(fā)明的第6實施形態(tài),采用在上述第1實施形態(tài)中圖1所示結(jié)構(gòu)的記錄再生裝置,但作為光盤1,采用Z-CLV格式的光盤。以下,用圖10的流程圖和圖1說明本實施形態(tài)的記錄再生裝置的動作。
當(dāng)進行測試記錄時,首先,由光頭9對光盤1上的記錄區(qū)域的任何一個區(qū)的最內(nèi)周附近的光道進行查找(步驟121),并由系統(tǒng)控制電路2將激光器驅(qū)動電路8的記錄功率設(shè)定為規(guī)定值(S122)。然后,邊緣測試信號生成電路4,將測試信號作為記錄數(shù)據(jù)信號輸出到記錄信號生成電路6(S123)。記錄信號生成電路6,將該記錄數(shù)據(jù)信號變換為記錄脈沖,并通過由激光器驅(qū)動電路8對光頭9的激光源(圖中未示出)的驅(qū)動電流進行調(diào)制,對該扇區(qū)進行測試記錄(S124)。
在記錄了測試信號后,由光頭9對進行了記錄的扇區(qū)進行再生(S125),再生信號處理電路11,進行再生信號的均衡和二進制化。然后,邊緣時刻檢測電路12,通過對二進制信號進行限幅并檢測信號反轉(zhuǎn)間隔(S126),測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔,并將測定值存儲在系統(tǒng)控制電路2中的存儲器(圖中未示出)內(nèi)(S127)。進一步,系統(tǒng)控制電路2,根據(jù)存儲在存儲器內(nèi)的測定值計算邊緣間隔的平均值(S128)。
然后,系統(tǒng)控制電路2,求出在S128中算出的邊緣間隔與測試信號原有的邊緣間隔的差分(例如,在如圖11~圖14所示的測試信號的情況下,為所算出的邊緣間隔的相應(yīng)時間與15T之差)(S129)。接著,按照根據(jù)上述差分校正后的位置決定記錄脈沖的邊緣位置(例如,在如圖11~圖14所示的例中,為用于記錄3T標(biāo)記的記錄脈沖的前端邊緣)(S130),并由記錄脈沖邊緣調(diào)整電路7設(shè)定該邊緣的校正量(S131)。
其次,說明為確認本實施形態(tài)的效果而進行的比較實驗。在本實驗中,不是測定誤碼率,而是利用時間間隔分析器測定了再生信號的抖動。此外,在再生信號的邊緣時刻檢測中也使用了時間間隔分析器。
將本實驗中采用的光盤1的襯底的區(qū)格式,示于表1。該格式為將半徑25.0mm~50mm的記錄區(qū)域(即,實際記錄信息信號的區(qū)域)劃分為10個區(qū)并使各區(qū)中的轉(zhuǎn)速保持恒定的Z-CLV格式。在整個記錄區(qū)域上時鐘周期相同。在本實施形態(tài)中,采用了使各區(qū)最內(nèi)周上的線速度相同的格式,但線速度在各區(qū)的最內(nèi)周上也不一定相同。
表1
對光盤1的襯底,采用了直徑120mm、厚0.6mm的聚碳酸酯樹脂。在該樹脂襯底上,對凸凹形狀的相位坑點按地址信息進行了預(yù)格式化,并在扇區(qū)區(qū)域上形成了記錄用光道。光道間距為1.2μm。在襯底上用濺射法形成保護膜、相變記錄膜、保護膜、及反射膜。并在其上粘合保護襯底。
作為保護膜,采用了ZnS-SiO2,作為相變記錄膜,采用了Te-Sb-Ge,作為反射膜,采用了Al。并且,在主軸電機10的帶動下使該光盤1以表1所列出的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn),并由數(shù)值孔徑(NA)為0,6的物鏡將波長660nm的激光聚焦,從而進行記錄再生。整個光點尺寸的半值寬度為0.62μm。
測試記錄時的激光功率,為Pp=11mW、Pb=5mW、Pr=1mW。記錄信息的調(diào)制方式,采用了在DVD中使用的(8-16)脈寬調(diào)制。最短的3T標(biāo)記的長度。為0.42μm。
在記錄信息信號之前,在第0區(qū)最內(nèi)周附近的光道上進行測試記錄,并決定了記錄脈沖的邊緣位置。決定方法,依照第1實施形態(tài)中圖2的流程圖所示的步驟。
其中,對記錄脈沖的邊緣位置的前端,分別決定了記錄標(biāo)記長度(3T標(biāo)記、4T標(biāo)記、5T以上的標(biāo)記)及緊靠在標(biāo)記前面的間隔的長度(3T間隔、4T間隔、5T以上的間隔)共9種組合。對記錄脈沖的邊緣位置后端決定了記錄的標(biāo)記長度(3T標(biāo)記、4T標(biāo)記、5T以上標(biāo)記)和緊靠其后的間隔長度(3T間隔、4T間隔、5T以上間隔)共9種組合。邊緣位置的調(diào)整精度為0.5ns。
之所以按3T標(biāo)記、4T標(biāo)記及5T以上的標(biāo)記各自分別規(guī)定邊緣位置的調(diào)整值,其原因是,在3T標(biāo)記和4T標(biāo)記的情況下,在變成所謂的筆尖記錄狀態(tài)后標(biāo)記長度比光點尺寸小,所以必須使邊緣位置與5T以上的標(biāo)記長度時不同。之所以按3T間隔、4T間隔、5T以上的間隔改變邊緣位置的調(diào)整值,是因為在3T間隔和4T間隔的情況下,不能將標(biāo)記間的熱干擾忽略。
接著,根據(jù)由該測試記錄決定了的記錄脈沖邊緣位置,在第0區(qū)的最內(nèi)周(即,半徑25.0mm)附近的光道及最外周附近的光道上將(8-16)脈寬調(diào)制的隨機信息信號重寫記錄10次,并測定了再生信號的抖動。
然后,按照與上述同樣的方式,在第0區(qū)的最外周(即,半徑27.5mm)附近的光道上進行測試記錄,并決定了記錄脈沖的邊緣位置。接著,根據(jù)在該測試記錄中記錄的記錄脈沖邊緣位置,在第0區(qū)最內(nèi)周附近的光道及最外周附近的光道上將(8-16)脈寬調(diào)制的隨機信息信號重寫記錄10次,并測定了再生信號的抖動。以上的抖動測定結(jié)果,示于表2。
表2
從表2可以看出,無論在區(qū)最內(nèi)周附近還是在區(qū)最外周附近的光道上進行測試記錄,隨機信息信號的抖動都是在區(qū)最外周附近變得正常。這是因為在區(qū)的最外周線記錄密度低的緣故。例如,如表1所示,在第0區(qū)中,最外周的最短標(biāo)記長度為最內(nèi)周的1.1倍。
另外,在源區(qū)最內(nèi)周進行測試記錄而在最外周記錄隨機信息信號時的抖動,與在區(qū)最外周進行測試記錄并在最外周記錄隨機信息信號時的抖動基本相等。另一方面,在區(qū)最外周進行測試記錄而在最內(nèi)周記錄隨機信息信號時的抖動,則比在最內(nèi)周進行測試記錄并在最內(nèi)周記錄隨機信息信號時的抖動增加了大約1%。
對其原因討論如下。由于在區(qū)最外周記錄線密度低,所以,當(dāng)進行了測試記錄時,與記錄脈沖邊緣位置的偏差對應(yīng)的抖動值的變化程度小。因此,可以推測出當(dāng)通過測試記錄調(diào)整邊緣位置時易于產(chǎn)生調(diào)整誤差,其影響則表現(xiàn)為在最內(nèi)周進行記錄時的抖動值增加。
在如上所述的本實施形態(tài)中,通過以與Z-CLV盤的各區(qū)最內(nèi)周光道的信息信號記錄線密度大致相等的記錄線密度記錄測試信號,決定記錄脈沖的邊緣位置,從而在各區(qū)的從最內(nèi)周到最外周的整個范圍上都能得到容許的抖動(或誤碼率),因而在可以進行精密的信息信號記錄這一點上可取得優(yōu)良的效果。
在本實施形態(tài)中,在光盤的記錄區(qū)域、即記錄信息信號的區(qū)域的各區(qū)內(nèi)的最內(nèi)周附近進行了測試記錄,但也可以將光盤的至少一個區(qū)的最內(nèi)周附近的區(qū)域作為用于測試記錄的區(qū)域,并在該區(qū)域內(nèi)進行測試記錄。
另外,如表3所示,在光盤上的從記錄區(qū)域起的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)設(shè)置用于測試記錄的區(qū)域,并使該區(qū)域的記錄線密度為與各區(qū)最內(nèi)周的記錄線密度大致相等的記錄線密度,也可以取得同樣的效果。
表3
另外,在本實施形態(tài)中,說明了用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試記錄,但如果對用于決定記錄功率的測試記錄也以與記錄區(qū)域的各區(qū)最內(nèi)周光道的信息信號記錄線密度大致相等的記錄線密度進行測試記錄,則可以在各區(qū)的從最內(nèi)周到最外周的整個范圍上都能設(shè)定最佳的記錄功率,并能取得可以進行精密的信息信號記錄的效果。
另外,在本實施形態(tài)中,如第1實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置記錄起始點移動電路3以便隨機地移動記錄起始點并從多個扇區(qū)進行測試信號的記錄再生從而決定記錄脈沖的最佳邊緣位置的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第2實施形態(tài)所述如果進一步同時并用設(shè)置數(shù)據(jù)模式生成電路21并在記錄用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的光道上預(yù)先記錄與測試信號的模式不相關(guān)的數(shù)據(jù)模式的結(jié)構(gòu)和方法,則在可以進行無偏差地精確決定記錄標(biāo)記邊緣位置的測試記錄這一點上是更為理想的。
另外,在本實施形態(tài)中,如第5實施形態(tài)所示如果進一步同時并用設(shè)置極性反轉(zhuǎn)控制電路53、極性反轉(zhuǎn)電路54和選擇電路55并僅在進行用于決定記錄脈沖邊緣位置的測試信號的記錄時以禁止記錄數(shù)據(jù)信號的隨機極性反轉(zhuǎn)的方式進行記錄的結(jié)構(gòu)和方法,則在提高光盤的可重寫次數(shù)且可以精密地記錄信息信號這一點上是更理想的。
在上述第1~第6實施形態(tài)中,要求進行測試記錄的時刻,至少是調(diào)整記錄再生裝置時、記錄再生裝置起動時、從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換光盤時、光盤的誤碼率超過規(guī)定值時、及使用環(huán)境溫度變化時。
通過在調(diào)整記錄再生裝置時進行測試記錄,可以補償記錄再生裝置間的變動因素。通過在記錄再生裝置起動時及從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時進行測試記錄,可以補償記錄再生裝置本身的變動因素。通過在更換光盤時進行測試記錄,可以補償光盤間的變動因素。通過在光盤的誤碼率超過規(guī)定值時進行測試記錄,可以補償光盤本身的變動因素。通過在使用環(huán)境溫度變化時進行測試記錄,可以補償由記錄再生裝置及光盤與溫度的相關(guān)性引起的變動因素。
另外,在上述第1~第6實施形態(tài)中,為決定記錄脈沖的邊緣位置,采用了記錄特定測試信號并測定再生信號的邊緣間隔的結(jié)構(gòu)和方法,但采用通過記錄使邊緣位置改變的多種測試信號(例如多種隨機信號)而測定誤碼率(或抖動)并將由使誤碼率(抖動)為最小的測試信號設(shè)定的記錄脈沖邊緣位置決定為最佳值的結(jié)構(gòu)和方法,也可以取得同樣的效果。
另外,在上述第1~第6實施形態(tài)中,為決定記錄脈沖的邊緣位置,還采用了由邊緣位置調(diào)整電路對通過記錄某一個特定的測試信號而測定出的記錄標(biāo)記邊緣間隔與最佳邊緣間隔的差分進行校正的結(jié)構(gòu)和方法。但是,采用通過記錄逐級改變記錄脈沖邊緣位置的多種測試信號而對各測試信號測定記錄標(biāo)記的邊緣間隔并由邊緣位置調(diào)整電路將測得最佳邊緣間隔的測試信號的記錄脈沖邊緣位置設(shè)定為最佳值的結(jié)構(gòu)和方法,也可以取得同樣的效果。
另外,在上述第1~第6實施形態(tài)中,由邊緣時刻檢測電路進行記錄標(biāo)記邊緣間隔的測定并由系統(tǒng)控制電路對所測定的邊緣間隔進行了存儲和平均值計算,但這些處理也可以用例如時間間隔分析器等本記錄再生裝置以外的測定器進行。
另外,在上述第1~第6實施形態(tài)中,為產(chǎn)生測試信號而設(shè)置了測試信號生成電路,但也可以由系統(tǒng)控制電路產(chǎn)生特定的信息信號并將調(diào)制后的信號作為測試信號。因此,不需要另外設(shè)置測試信號生成電路,所以可實現(xiàn)裝置的小型化。另外,也可以對該測試信號附加糾錯碼或進行交錯處理,因而也可以在解調(diào)和糾錯后測定誤碼率。
另外,上述光盤的層數(shù)、結(jié)構(gòu)和材料,不限于以上所述,只要是光磁材料或色素材料等在記錄標(biāo)記部和非標(biāo)記部光學(xué)特性不同的媒體,就可以應(yīng)用上述方法。但是,如果是采用了相變材料作為記錄膜的光盤,則由于結(jié)晶-非晶之間光學(xué)吸收不同,上述測試記錄方法將能取得特別顯著的效果。
另外,上述的記錄功率、線速度、調(diào)制方式、記錄密度、各脈沖的長度和位置、測試信號的模式等,當(dāng)然并不一定限于本實施形態(tài)中所給出的情況,可以根據(jù)記錄條件和媒體進行適當(dāng)?shù)脑O(shè)定。此外,誤碼率的測定,可以換成抖動的測定,而抖動的測定也可以換成誤碼率的測定。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)信息記錄裝置,采用可重寫的光學(xué)信息記錄媒體,在將信息信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上之前,對上述光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄,該光學(xué)信息記錄裝置的特征在于,備有測試信號生成裝置,用于生成測試信號;記錄和擦除裝置,將測試信號和信息信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源而以在光學(xué)信息記錄媒體上進行記錄的記錄模式及驅(qū)動上述光源而用規(guī)定的擦除功率使光照射在上述光學(xué)信息記錄媒體上從而將信息從上述光學(xué)信息記錄媒體擦除的擦除模式中的任何一種模式進行操作;再生裝置,用于從上述光學(xué)信息記錄媒體再生信號;及記錄條件決定裝置,使上述記錄和擦除裝置以上述擦除模式操作并將上述光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域的信息擦除,然后,由上述測試信號生成裝置使上述記錄和擦除裝置以記錄模式操作并將由上述測試信號生成裝置供給的測試信號記錄在上述區(qū)域內(nèi),根據(jù)由上述再生裝置從上述區(qū)域再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息記錄裝置,其特征在于在調(diào)整上述光學(xué)信息記錄裝置時、上述光學(xué)信息記錄裝置起動時、從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換上述光學(xué)信息記錄媒體時、上述光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時、及上述光學(xué)信息記錄裝置的使用環(huán)境溫度變化時的至少任何一個時刻,執(zhí)行測試記錄和記錄條件的設(shè)定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息記錄裝置,其特征在于上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄膜由相變材料構(gòu)成。
4.一種光學(xué)信息記錄方法,采用可重寫的光學(xué)信息記錄媒體,在將信息信號記錄在上述光學(xué)信息記錄媒體上之前,對上述光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄,該光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),驅(qū)動光源而以規(guī)定的擦除功率使光照射在上述光學(xué)信息記錄媒體上,從而將進行上述測試記錄的區(qū)域的信息從上述光學(xué)信息記錄媒體擦除;步驟(b),生成測試信號;步驟(c),將所生成的上述測試信號變換為記錄數(shù)據(jù)信號,并根據(jù)上述記錄數(shù)據(jù)信號驅(qū)動光源從而在光學(xué)信息記錄媒體中進行測試記錄的區(qū)域內(nèi)進行記錄;步驟(d),從上述光學(xué)信息記錄媒體的上述區(qū)域再生在上述步驟(c)中記錄的測試信號;及步驟(e),根據(jù)再生上述測試信號后的結(jié)果,決定上述記錄數(shù)據(jù)信號的記錄脈沖邊緣位置的適當(dāng)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)信息記錄方法,其特征在于上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄膜由相變材料構(gòu)成。
6.一種光學(xué)信息記錄裝置,利用權(quán)利要求20所述的光學(xué)信息記錄方法,對光學(xué)信息記錄媒體進行信息記錄,該光學(xué)信息記錄裝置的特征在于在調(diào)整上述記錄再生裝置時、上述記錄再生裝置起動時、從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換上述光學(xué)信息記錄媒體時、上述光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時、及上述光學(xué)信息記錄裝置的使用環(huán)境溫度變化時的至少任何一個時刻,執(zhí)行測試記錄和記錄條件的設(shè)定。
7.一種光學(xué)信息記錄方法,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度越低的Z-CLV格式的光學(xué)信息記錄媒體,在上述光學(xué)信息記錄媒體上記錄信息信號之前,對上述光學(xué)信息記錄媒體進行測試記錄,該光學(xué)信息記錄方法的特征在于,包括步驟(a),以與上述各區(qū)的最內(nèi)側(cè)光道的信息信號的記錄線密度大致相等的記錄線密度,對測試信號進行測試記錄;及步驟(b),從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號,并根據(jù)再生結(jié)果決定記錄脈沖邊緣位置和記錄功率中的任何一個的適當(dāng)值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)信息記錄方法,其特征在于上述步驟(b),包括測定從上述光學(xué)信息記錄媒體再生上述測試信號后得到的再生信號的誤碼率和抖動中的任何一個的步驟,并根據(jù)使測定結(jié)果為規(guī)定值以下的記錄功率值決定記錄功率的適當(dāng)值。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)信息記錄方法,其特征在于在上述步驟(a)內(nèi),進行測試記錄的光道,至少大致是一個區(qū)內(nèi)的最內(nèi)周。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)信息記錄方法,其特征在于在上述步驟(a)內(nèi),進行測試記錄的先道,是自光學(xué)信息記錄媒體的記錄區(qū)域起的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)的光道。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)信息記錄方法,其特征在于上述光學(xué)信息記錄媒體的記錄膜由相變材料構(gòu)成。
12.一種光學(xué)信息記錄裝置,利用權(quán)利要求87所述的光學(xué)信息記錄方法,對光學(xué)信息記錄媒體進行信息記錄,該光學(xué)信息記錄裝置的特征在于在調(diào)整上述記錄再生裝置時、上述記錄再生裝置起動時、從上述起動時起經(jīng)過了規(guī)定的時間時、更換上述光學(xué)信息記錄媒體時、上述光學(xué)信息記錄媒體的誤碼率超過規(guī)定值時、及上述光學(xué)信息記錄裝置的使用環(huán)境溫度變化時的至少任何一個時刻,執(zhí)行測試記錄和記錄條件的設(shè)定。
13.一種光學(xué)信息記錄媒體,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度有越低的Z-CLV格式,該光學(xué)信息記錄媒體的特征在于在至少一個上述區(qū)內(nèi)的大致的最內(nèi)周,具有用于測試記錄的區(qū)域。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光學(xué)信息記錄媒體,其特征在于記錄膜由相變材料構(gòu)成。
15.一種光學(xué)信息記錄媒體,采用在記錄區(qū)域內(nèi)包含由規(guī)定數(shù)量的光道構(gòu)成的多個區(qū)、并使每1周的扇區(qū)數(shù)隨著從內(nèi)周的區(qū)到外周的區(qū)而增加、且在同一區(qū)內(nèi)越靠外周記錄線密度有越低的Z-CLV格式,該光學(xué)信息記錄媒體的特征在于在自上述記錄區(qū)域起的內(nèi)周側(cè)和外周側(cè)具有測試記錄區(qū)域,上述測試記錄區(qū)域的記錄線密度,與上述記錄區(qū)域內(nèi)的各區(qū)最內(nèi)周側(cè)的光道的信息信號的記錄線密度大致相等。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的光學(xué)信息記錄媒體,其特征在于記錄膜由相變材料構(gòu)成。
全文摘要
提供在記錄信息信號前通過測試記錄適當(dāng)?shù)貨Q定記錄功率和記錄脈沖邊緣位置等記錄條件從而可以進行精密的信息信號記錄的光學(xué)信息記錄裝置、光學(xué)信息記錄方法、及光學(xué)信息記錄媒體。為了抑制因重寫時的標(biāo)記畸變引起的邊緣間隔偏差,對該測試信號按每個扇區(qū)隨機地移動其記錄起始點后在光學(xué)信息記錄媒體(1)的多個扇區(qū)上進行測試記錄。系統(tǒng)控制電路(2),計算從多個扇區(qū)再生后的測試信號的邊緣間隔平均值,并求出該平均值與測試信號原有的邊緣間隔的差分,從而決定對邊緣位置的校正量。
文檔編號G11B7/125GK1501356SQ0312499
公開日2004年6月2日 申請日期1999年9月28日 優(yōu)先權(quán)日1998年9月28日
發(fā)明者鳴海建治, 宮川直康, 康 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社