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      記錄設(shè)備和記錄介質(zhì)容納盒的制作方法

      文檔序號(hào):6752434閱讀:234來源:國知局
      專利名稱:記錄設(shè)備和記錄介質(zhì)容納盒的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及用于將數(shù)據(jù)記錄到諸如容納作為記錄介質(zhì)的磁帶的磁帶盒的盒的記錄設(shè)備,以及為此使用的記錄介質(zhì)容納盒。
      本發(fā)明特別涉及用于區(qū)別兩種類型盒(cassette)的記錄介質(zhì),這些盒用于以不同格式在記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)以及根據(jù)所區(qū)別的盒執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄處理,以及為此使用的記錄介質(zhì)容納盒。
      背景技術(shù)
      在用于在容納于記錄介質(zhì)容納盒(以后簡單稱為盒)中的諸如磁帶的記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)和從記錄介質(zhì)上再現(xiàn)數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)設(shè)備中,當(dāng)開發(fā)以新格式在記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)和通過使用該記錄/再現(xiàn)設(shè)備使得能夠記錄和再現(xiàn)以當(dāng)前使用格式記錄的磁帶時(shí),最好是根據(jù)開發(fā)成本盡可能轉(zhuǎn)用記錄/再現(xiàn)設(shè)備和當(dāng)前使用格式的盒。
      例如,當(dāng)用于容納以新格式記錄的磁帶的盒尺寸被做成與用于容納以當(dāng)前使用格式記錄的磁帶的盒尺寸相同時(shí),能夠降低有關(guān)開發(fā)用于容納以新格式記錄的記錄磁帶的盒的成本,并且能夠降低開發(fā)新記錄/再現(xiàn)設(shè)備的工作量。
      當(dāng)在能夠記錄和再現(xiàn)兩種盒的記錄/再現(xiàn)設(shè)備中,當(dāng)前使用盒(第一盒)和新盒(第二盒)被做成相同尺寸時(shí),用于將新盒與當(dāng)前使用盒區(qū)分開的機(jī)構(gòu)在新記錄/再現(xiàn)設(shè)備中變成是必須的。因此,用于該區(qū)分機(jī)構(gòu)的空間變成必要,其在轉(zhuǎn)用當(dāng)前使用記錄/再現(xiàn)設(shè)備方面易于成為一個(gè)障礙。
      而且,當(dāng)新盒具有與當(dāng)前使用盒相同尺寸時(shí),必須確保防止用于在當(dāng)前使用盒中容納的記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)和從記錄介質(zhì)上再現(xiàn)數(shù)據(jù)的當(dāng)前使用記錄/再現(xiàn)設(shè)備導(dǎo)致錯(cuò)誤地擦除在新盒中容納的記錄介質(zhì)上記錄的數(shù)據(jù)。因此,要求新記錄/再現(xiàn)設(shè)備能夠區(qū)分新盒,由此,記錄介質(zhì)上記錄的數(shù)據(jù)才不會(huì)被當(dāng)前使用的記錄/再現(xiàn)設(shè)備錯(cuò)誤地擦除。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明目的是提供一種記錄設(shè)備,其能夠?qū)⒌谝缓信c具有與第一盒相同形狀和尺寸的第二盒區(qū)分開、以第一格式將數(shù)據(jù)記錄在容納于第一盒的第一記錄介質(zhì)上,以及以第二格式將數(shù)據(jù)記錄在容納于第二盒的第二記錄介質(zhì)上。
      本發(fā)明另一個(gè)目的是提供一種記錄設(shè)備,其能夠使用上述的第一盒和第二盒,其中在記錄介質(zhì)上以一種格式記錄的數(shù)據(jù)不被另外的格式錯(cuò)誤地擦除。
      本發(fā)明又一個(gè)目的是使這種記錄設(shè)備緊湊。
      而且,本發(fā)明提供能夠適用于上述記錄設(shè)備的記錄介質(zhì)容納盒。
      根據(jù)本發(fā)明第一方面,提供一種記錄設(shè)備,其用于區(qū)分容納記錄介質(zhì)的一組盒是用于以第一格式記錄數(shù)據(jù)的第一盒還是用于以第二格式記錄數(shù)據(jù)第二盒,檢測(cè)是否有可能在容納于所區(qū)分盒的所述記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù),以及當(dāng)可記錄時(shí),在所述記錄介質(zhì)上以根據(jù)所區(qū)分盒的格式記錄數(shù)據(jù);該記錄設(shè)備包括盒類型檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)是所述第一盒還是所述第二盒;第一寫入禁止檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)是否允許在容納于所述第一盒或所述第二盒中的所述記錄介質(zhì)上以第一格式記錄數(shù)據(jù);第二寫入禁止檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)是否在容納于所述第一盒或所述第二盒中的所述記錄介質(zhì)上以第二格式記錄數(shù)據(jù);以及數(shù)據(jù)記錄裝置。
      控制裝置從所述盒類型檢測(cè)裝置的檢測(cè)信號(hào)中區(qū)分記錄設(shè)備中設(shè)置的盒是所述第一盒還是所述第二盒,在當(dāng)設(shè)置所述第一盒而所述第一寫入禁止裝置的檢測(cè)信號(hào)允許在所述記錄介質(zhì)上寫入數(shù)據(jù)的情況下,通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置將數(shù)據(jù)以第一格式記錄在所述記錄介質(zhì)上,以及在當(dāng)設(shè)置所述第二盒而所述第二寫入禁止裝置的檢測(cè)信號(hào)允許在所述記錄介質(zhì)上寫入數(shù)據(jù)的情況下,通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置將數(shù)據(jù)以第二格式記錄在所述記錄介質(zhì)上。
      根據(jù)本發(fā)明第二方面,提供了一種記錄介質(zhì)容納盒,其具有與用于容納以第一格式記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的第一記錄介質(zhì)容納盒的相同尺寸,其特征在于包括在與提供給所述第一盒的寫入禁止設(shè)置裝置的相同位置上提供了第一區(qū)分孔,其具有寫入禁止?fàn)顟B(tài);以及區(qū)分裝置,用于區(qū)分所述第一盒并指示允許和禁止向所述記錄介質(zhì)容納盒的寫入。


      圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備示意結(jié)構(gòu)的視圖。
      圖2A和圖2B是在本發(fā)明第一實(shí)施例中作為容納其中以當(dāng)前使用格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶的磁帶盒(當(dāng)前使用磁帶盒)的部分截面與接觸該當(dāng)前使用磁帶盒的檢測(cè)開關(guān)的關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖2A是表示允許數(shù)據(jù)在當(dāng)前使用磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖,以及圖2B是表示禁止數(shù)據(jù)在當(dāng)前使用磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖。
      圖3A和圖3B是作為容納其中以新(第二)格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒(新磁帶盒)的部分截面與接觸該新磁帶盒的檢測(cè)開關(guān)的關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖3A是表示允許數(shù)據(jù)在新磁帶盒中寫入的狀態(tài),以及圖3B是表示禁止數(shù)據(jù)在新磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖。
      圖4是本發(fā)明第一實(shí)施例的操作的流程圖。
      圖5是表示根據(jù)第二實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意結(jié)構(gòu)的視圖。
      圖6A和圖6B是表示新磁帶盒部分截面、寫入禁止檢測(cè)開關(guān)、光發(fā)射元件和光接收元件的配置關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖6A是表示允許數(shù)據(jù)在新磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖,以及圖6B是表示禁止數(shù)據(jù)在新磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖。
      圖7A和圖7B是表示新磁帶盒部分截面、寫入禁止檢測(cè)開關(guān)、光發(fā)射元件和光接收元件的配置關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖7A是表示允許數(shù)據(jù)寫入到當(dāng)前使用磁帶盒中的狀態(tài)的視圖,以及圖7B是表示禁止數(shù)據(jù)寫入到當(dāng)前使用磁帶盒中的狀態(tài)的視圖。
      圖8是本發(fā)明第二實(shí)施例的操作的流程圖。
      圖9是表示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意結(jié)構(gòu)的視圖。
      圖10是在本發(fā)明第三實(shí)施例中容納其中數(shù)據(jù)以新格式(第一格式)寫入的磁帶的新磁帶盒的外觀與寫入禁止檢測(cè)開關(guān)的配置的例子的剖面圖。
      圖11是表示在本發(fā)明第三實(shí)施例中在IC存儲(chǔ)器上的制造者選擇區(qū)域的特定地址中的數(shù)據(jù)的視圖。
      圖12是本發(fā)明第三實(shí)施例的操作的流程圖。
      具體實(shí)施例方式
      下面,參考

      實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的最佳模式。
      第一實(shí)施例參考圖1、圖2A、圖2B、圖3A、圖3B和圖4說明本發(fā)明記錄/再現(xiàn)設(shè)備的第一實(shí)施例。
      圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備示意結(jié)構(gòu)的視圖。
      圖2A和圖2B是作為容納其中以當(dāng)前使用(第一)格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒50B(當(dāng)前使用磁帶盒50B)的部分截面與接觸該當(dāng)前使用磁帶盒50B的檢測(cè)開關(guān)10、11和12的關(guān)系的例子的剖面圖。圖2A是表示允許數(shù)據(jù)在當(dāng)前使用磁帶盒50B中寫入的狀態(tài)的視圖,以及圖2B是表示禁止數(shù)據(jù)在當(dāng)前使用磁帶盒中寫入的狀態(tài)的視圖。
      容納以當(dāng)前使用格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒50B將被稱為當(dāng)前使用磁帶盒50B。
      圖3A和圖3B是作為表示容納以新(第二)格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒50A(新磁帶盒50A)的部分截面與接觸該新磁帶盒50A的檢測(cè)開關(guān)10、11和12的關(guān)系的例子的剖面圖。圖3A是表示在新磁帶盒50A中允許寫入數(shù)據(jù)的狀態(tài),以及圖3B是表示在新磁帶盒50A中禁止寫入數(shù)據(jù)的狀態(tài)的視圖。
      圖1中表示的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1安裝有磁帶盒50,該磁帶盒50容納兩個(gè)纏繞了磁帶51的卷軸50a和50b,并且記錄/再現(xiàn)設(shè)備1通過運(yùn)行磁帶51執(zhí)行在磁帶51上的數(shù)據(jù)記錄或者從磁帶51的數(shù)據(jù)讀出(再現(xiàn))。
      另外,假設(shè)記錄/再現(xiàn)設(shè)備1在磁帶51上記錄數(shù)據(jù),從磁帶51上讀出的數(shù)據(jù)包括彼此不同的第一格式數(shù)據(jù)和第二格式數(shù)據(jù)。第一格式是傳統(tǒng)存在的當(dāng)前使用格式,第二格式是新創(chuàng)立的新格式。
      容納其中以當(dāng)前使用格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒50B(當(dāng)前使用磁帶盒50B)和容納其中以新格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的磁帶盒50A(新磁帶盒50A)對(duì)應(yīng)于磁帶盒50。當(dāng)前使用磁帶盒50B和新磁帶盒51A具有相同的外觀和相同的尺寸。
      圖1中,記錄/再現(xiàn)設(shè)備1包括旋轉(zhuǎn)鼓2、磁記錄/再現(xiàn)電路3、控制電路5、第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10、盒類型檢測(cè)開關(guān)11和第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12。
      旋轉(zhuǎn)鼓2安裝有兩個(gè)磁頭2a和2b,它們沿著相互遠(yuǎn)離180°的圓周配置并由未示出的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)。磁帶51在運(yùn)行時(shí)接觸旋轉(zhuǎn)鼓的外部圓周,根據(jù)從磁記錄/再現(xiàn)電路3輸出的驅(qū)動(dòng)電流,通過磁頭2a和2b將數(shù)據(jù)寫入到磁帶51上,或者在磁帶51上記錄的數(shù)據(jù)通過磁頭2a和2b被讀出并通過磁記錄/再現(xiàn)電路3被再現(xiàn)。
      磁記錄/再現(xiàn)電路3根據(jù)在磁帶51上要記錄的數(shù)據(jù)輸出驅(qū)動(dòng)電流或者從通過磁頭2a和2b檢測(cè)的信號(hào)再現(xiàn)在磁帶51上記錄的數(shù)據(jù)。
      檢測(cè)開關(guān)10、11和12被配置成使得能夠接觸磁帶盒50的側(cè)表面和以預(yù)定間隔被放置在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的基體15上。檢測(cè)開關(guān)10、11和12被分別安裝有檢測(cè)銷10a、11a和12a,使得能夠被從檢測(cè)開關(guān)10、11和12中放入和取出,并且根據(jù)檢測(cè)銷10a、11a和12a的入(in)/出(out)狀態(tài)將檢測(cè)信號(hào)10s、11s和12s輸出到控制電路5。
      在細(xì)節(jié)將在后面說明的同時(shí),第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12是用于檢測(cè)允許或者禁止數(shù)據(jù)以當(dāng)前使用格式寫入容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51的開關(guān)。第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10是用于檢測(cè)允許或者禁止數(shù)據(jù)以新格式寫入容納于新磁帶盒50A中的磁帶51的開關(guān)。盒類型檢測(cè)開關(guān)11是用于檢測(cè)盒是新磁帶盒50A還是當(dāng)前使用磁帶盒50B的開關(guān)。
      控制電路5整體控制記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的操作。例如,控制電路5控制磁記錄/再現(xiàn)電路3、磁帶51的運(yùn)行系統(tǒng)和旋轉(zhuǎn)鼓2的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)等的工作。而且,控制電路5接收檢測(cè)開關(guān)10、11和12的檢測(cè)信號(hào)10s、11s和12s作為輸入,并且基于檢測(cè)信號(hào)10s、11s和12s的狀態(tài)控制允許或者禁止數(shù)據(jù)寫入在容納于磁帶盒50(當(dāng)前使用磁帶盒50B或者新磁帶盒50A)中的磁帶51上。
      如圖2A和圖2B中表示,其中數(shù)據(jù)以當(dāng)前使用格式記錄在磁帶51上的磁帶盒50B(當(dāng)前使用磁帶盒50B)在接觸(被定位)第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的側(cè)表面上安裝有寫入禁止區(qū)分孔50Bh。
      寫入禁止區(qū)分孔50Bh具有用于打開和關(guān)閉寫入禁止區(qū)分孔50Bh的帽50Bf。在用于禁止數(shù)據(jù)寫入到容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上(以后為簡單稱為“寫入到當(dāng)前使用磁帶盒的數(shù)據(jù)”)的禁止數(shù)據(jù)寫入的情況下,帽50Bf打開寫入禁止區(qū)分孔50Bh,如圖2B中表示,而在允許數(shù)據(jù)寫入到當(dāng)前使用磁帶盒50B的情況下,帽50Bf關(guān)閉寫入禁止區(qū)分孔50Bh,如圖2A中表示。帽50Bf可以是任何東西,只要它禁止第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的銷12a插入到寫入禁止區(qū)分孔50Bh即可,并且例如可以是帶子、用于堵塞寫入禁止區(qū)分孔50Bh的油灰或者塑料塞子。
      如圖2A中表示,在當(dāng)前使用磁帶盒50B處于允許寫入的狀態(tài)時(shí),第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的檢測(cè)銷12a接觸帽50Bf并被按壓,以便處于不從第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12突出的狀態(tài)(退回狀態(tài))。如圖2B中表示,在寫入禁止?fàn)顟B(tài),第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的檢測(cè)銷12a伸展到插入寫入禁止區(qū)分孔50Bh,并且檢測(cè)銷12a變成從第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12凸出的狀態(tài)(突出狀態(tài))。
      接觸第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10和盒類型檢測(cè)開關(guān)11的當(dāng)前使用磁帶盒50B的側(cè)表面是平的。因此,第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10的檢測(cè)銷10a和盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)銷11a處于退回狀態(tài),而不管是允許或者是禁止寫入當(dāng)前使用磁帶盒50B。
      如圖3A和圖3B中表示,容納以新格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的新磁帶盒50A在位于(接觸)第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的側(cè)表面上安裝有第三區(qū)分孔50Ah3,在接觸盒類型檢測(cè)開關(guān)11的側(cè)表面上安裝有第二區(qū)分孔50Ah2,以及在接觸第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10的側(cè)表面上安裝有第一區(qū)分孔50Ah1。
      新磁帶盒50A的外觀、尺寸和材料與50B的相同。例如,50B和新磁帶盒50A是由塑料樹脂制成的。
      第三區(qū)分孔50Ah3被形成在與圖2A和圖2B表示的當(dāng)前使用磁帶盒50B的寫入禁止區(qū)分孔50Bh的相同位置。由于新磁帶盒50A的第三區(qū)分孔50Ah3總是打開的,新磁帶盒50A以與當(dāng)前使用磁帶盒50B的數(shù)據(jù)寫入禁止?fàn)顟B(tài)的相同方式處于數(shù)據(jù)寫入禁止?fàn)顟B(tài)。因此,當(dāng)新磁帶盒50A被安裝在用于記錄和再現(xiàn)當(dāng)前使用磁帶盒50B的當(dāng)前使用記錄/再現(xiàn)設(shè)備中時(shí),在當(dāng)前使用記錄/再現(xiàn)設(shè)備中的控制電路5總是識(shí)別出新磁帶盒50A處于寫入禁止?fàn)顟B(tài)。
      盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)銷11a被插到第二區(qū)分孔50Ah2。因此,當(dāng)盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)信號(hào)11s在控制電路5中被識(shí)別時(shí),可能區(qū)分出當(dāng)前使用磁帶盒50B和新磁帶盒50A。
      第一區(qū)分孔50Ah1是用于識(shí)別禁止數(shù)據(jù)寫到新磁帶盒50A的孔。如圖3A中表示,當(dāng)禁止將數(shù)據(jù)寫到新磁帶盒50A時(shí),第一區(qū)分孔50Ah1是用帽50Af關(guān)閉的。因此,第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10的檢測(cè)銷10a接觸帽50Af并被按壓在第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10中處于退回狀態(tài)。如圖3B中表示,當(dāng)禁止向新磁帶盒50A中寫入時(shí),因?yàn)槊?0Af不存在,第一區(qū)分孔50Ah1是打開的。因此,第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10的檢測(cè)銷10a變成插到第一區(qū)分孔50Ah1的狀態(tài)。帽50Af是用與帽50Bf的相同材料制造的。
      參考圖4,將解釋第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12、第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10、盒類型檢測(cè)開關(guān)11和控制電路5的操作。
      步驟1例如,如圖2A和圖2B中表示,當(dāng)盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)銷11a處于退回狀態(tài)和盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)信號(hào)11s為“1”時(shí),記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的控制電路5識(shí)別出磁帶盒50為當(dāng)前使用磁帶盒50B,相反,如圖3A和圖3B中表示,當(dāng)盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)銷11a插入到第二區(qū)分孔50Ah2和盒類型檢測(cè)開關(guān)11的檢測(cè)信號(hào)11s為“0”時(shí),識(shí)別出磁帶盒50為新磁帶盒50A。
      步驟2到4當(dāng)識(shí)別出盒是當(dāng)前使用磁帶盒50B時(shí),控制電路5接收第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的檢測(cè)信號(hào)12s作為輸入,當(dāng)檢測(cè)銷12a處于退回狀態(tài)時(shí),在容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上以當(dāng)前使用(第一)格式執(zhí)行寫入處理,同時(shí),當(dāng)檢測(cè)銷12a處于相反狀態(tài)時(shí),禁止在磁帶51上寫入。
      步驟5到7當(dāng)識(shí)別出盒是新磁帶盒50A時(shí),控制電路5接收第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10的檢測(cè)信號(hào)10s作為輸入,當(dāng)檢測(cè)銷10a處于退出狀態(tài)時(shí),在容納于新磁帶盒50A中的磁帶51上以當(dāng)前使用(第二)格式執(zhí)行寫入處理,同時(shí)當(dāng)檢測(cè)銷10a的狀態(tài)相反時(shí),禁止在磁帶51上的寫入。當(dāng)然,當(dāng)檢測(cè)到新磁帶盒50A時(shí),由于第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12指示禁止將數(shù)據(jù)以當(dāng)前使用(第二)格式寫入到磁帶51上,在磁帶51上以當(dāng)前使用格式寫入的數(shù)據(jù)被禁止。因此,即使當(dāng)新磁帶盒50A被放置到當(dāng)前使用記錄/再現(xiàn)設(shè)備中時(shí),在容納于新磁帶盒50A中的磁帶51上不進(jìn)行第一格式的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)寫入。
      如上述,控制電路5控制磁記錄/再現(xiàn)電路3,使得以根據(jù)盒區(qū)分狀態(tài)的格式,即新(第二)格式或者當(dāng)前使用(第一)格式,在磁帶51上執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄。磁記錄/再現(xiàn)電路3的旋轉(zhuǎn)鼓根據(jù)控制電路5的控制被驅(qū)動(dòng),使得數(shù)據(jù)以希望的格式被記錄在磁帶51上。
      根據(jù)第一實(shí)施例,通過在新磁帶盒50A上提供第三區(qū)分孔50Ah3(其與當(dāng)前使用磁帶盒50B上形成的寫入禁止區(qū)分孔50Bh處于相同位置),在新磁帶盒50A中設(shè)置的磁帶51上記錄的內(nèi)容不會(huì)被當(dāng)前使用格式錯(cuò)誤地擦除。
      另外,除了第三區(qū)分孔50Ah3,通過提供用于能夠區(qū)分開當(dāng)前使用磁帶盒50B的第二區(qū)分孔50Ah2、用于設(shè)置在新磁帶盒50A上允許或者禁止以第二格式寫入數(shù)據(jù)的第一區(qū)分孔50Ah1、用于打開和關(guān)閉第一區(qū)分孔50Ah1的帽50Af、以及在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的基體15上提供用于檢測(cè)區(qū)分孔50Ah1、50Ah2和50Ah3的狀態(tài)的檢測(cè)開關(guān)10、11和12,有可能以當(dāng)前使用格式在當(dāng)前使用磁帶盒50B上進(jìn)行記錄和以新(第二)格式在新磁帶盒50A中記錄數(shù)據(jù)。
      第二實(shí)施例將參考圖5、圖6A、圖6B、圖7A、圖7B和圖8解釋本發(fā)明記錄/再現(xiàn)設(shè)備的第二實(shí)施例。
      圖5是表示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意結(jié)構(gòu)視圖。圖4中,相同的參考數(shù)字用作為與根據(jù)第一實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的相同元件。
      圖5中表示的第二實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1A與根據(jù)圖1所示第一實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的不同點(diǎn)是,記錄/再現(xiàn)設(shè)備1A不具有第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10和盒類型檢測(cè)開關(guān)11,而僅僅具有寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12以及安裝有光發(fā)射單元和光接收單元21和22。
      光發(fā)射單元20、光接收單元21和22、以及寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1A的基體15上被安裝在圖6A、圖6B、圖7A和圖7B中表示的位置上。
      寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12是以與第一實(shí)施例情況的相同方式用于檢測(cè)是否允許或者禁止在容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上以當(dāng)前使用格式寫數(shù)據(jù)的開關(guān)。
      光接收單元21是用于檢測(cè)是否允許或者禁止在容納于新磁帶盒50C中的磁帶51上以新格式寫入數(shù)據(jù)的單元,與第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10相同。第二光接收單元22是用于識(shí)別當(dāng)前使用磁帶盒50B和新磁帶盒50C的單元,與盒類型檢測(cè)開關(guān)11相同。即,在第二實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1A中,代替第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10和盒類型檢測(cè)開關(guān)11,以第二格式寫入數(shù)據(jù)的允許或者禁止以及盒的區(qū)分是光學(xué)檢測(cè)的。
      光發(fā)射單元20是由發(fā)光二極管和激光器等構(gòu)成的。下面,將解釋發(fā)光二極管(LED)作為光發(fā)射單元20的情況。當(dāng)然,激光器也能夠用作為光發(fā)射單元20。光發(fā)射單元20被配置在磁帶盒50(當(dāng)前使用磁帶盒50B或者新磁帶盒50C)上的預(yù)定位置,并且將LED光L發(fā)射到磁帶盒50。光發(fā)射單元20是通過控制裝置5驅(qū)動(dòng)的。
      光接收單元21和22被配置在磁帶盒50的預(yù)定位置。當(dāng)磁帶盒50具有較高格式(在新磁帶盒50C的情況)時(shí),光接收單元21和22中的一個(gè)接收從光發(fā)射單元20輸出的LED光L。光接收單元21和22中的哪一個(gè)接收LED光L是根據(jù)新磁帶盒50C的寫入禁止?fàn)顟B(tài)決定的。注意,新磁帶盒50C的結(jié)構(gòu)例子將在后面解釋。
      當(dāng)光接收單元21和22接收了LED光L時(shí),其被變換成電信號(hào),并且檢測(cè)信號(hào)21s和22s被分別輸出到控制電路5。
      圖6A和圖6B是表示新磁帶盒50C的部分剖面、寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12、光發(fā)射單元20和光接收單元21和22的配置關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖6A是表示允許數(shù)據(jù)寫入到新磁帶盒50A的狀態(tài)的視圖,圖6B是表示禁止數(shù)據(jù)寫入到新磁帶盒50A的狀態(tài)的視圖。
      如圖6A和6B中所示,新磁帶盒50C在接觸第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的側(cè)表面上安裝有區(qū)分孔50Ch3。而且,安裝有在面對(duì)光發(fā)射單元20的側(cè)表面上形成的光入射孔50Ca、在面對(duì)光接收單元21的側(cè)表面上形成的第一光發(fā)射孔50Ch1、在面對(duì)光接收單元22的側(cè)表面上形成的第二發(fā)射孔50Ch2、以及用于滑動(dòng)反射部件50Cm的滑動(dòng)部件50Cp。
      除了在新磁帶盒50C上安裝的光入射孔50Ca、第一發(fā)射孔50Ch1和第二發(fā)射孔50Ch2之外,新磁帶盒50C例如由不透明的塑料樹脂形成。
      區(qū)分孔50Ch3形成在與圖7A和圖7B中表示的當(dāng)前使用磁帶盒50B上形成的寫入禁止區(qū)分孔50Bh的相同位置,并且具有與寫入禁止區(qū)分孔50Bh近似相同的形狀。
      光入射孔50Ca將從光發(fā)射單元20輸出的LED光L引入到新磁帶盒50C,使得其照射反射部件50Cm的反射表面50Cma。
      反射部件50Cm固定到滑動(dòng)部件50Cp上。反射部件50Cm通過反射表面50Cma將入射的LED光L的方向反射為基本垂直的方向。
      滑動(dòng)部件50Cp被安裝成能夠在箭頭A1和A2的方向上移動(dòng)和具有突出到新磁帶盒50C外部的操作部分50Cpa。
      滑動(dòng)部件50Cp當(dāng)在箭頭A1方向移動(dòng)時(shí)設(shè)置成允許數(shù)據(jù)寫入到新磁帶盒50C,同時(shí)當(dāng)在箭頭A2方向移動(dòng)時(shí)設(shè)置成禁止數(shù)據(jù)寫入到新磁帶盒50C。
      發(fā)射孔50Ch1被配置在光接收單元21之上,并將在反射部件50Cm的反射表面50Cma上反射的LED光L引導(dǎo)到光接收單元21。
      發(fā)射孔50Ch2被配置在光接收單元21之上,并將在反射部件50Cm的反射表面50Cma上反射的LED光L引導(dǎo)到光接收單元22。
      如圖6A中表示,滑動(dòng)部件50Cp的操作部分50Cpa在箭頭A1方向移動(dòng)。這個(gè)位置是設(shè)置成允許寫入到新磁帶盒50C的位置。此時(shí),反射部件50Cm的反射表面50Cma位于發(fā)射孔50Ch1上。結(jié)果,LED光L照射到光接收單元21。
      如圖6B中表示,滑動(dòng)部件50Cp的操作部分50Cpa在箭頭A2方向移動(dòng)。這個(gè)位置是設(shè)置成禁止寫入到新磁帶盒50C的位置。此時(shí),反射部件50Cm的反射表面50Cma位于發(fā)射孔50Cha上。結(jié)果,LED光L照射到光接收單元22。
      圖7A和圖7B是表示當(dāng)前使用磁帶盒50B的第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12和光接收單元21和22的配置關(guān)系的例子的剖面圖,其中圖7A是表示允許數(shù)據(jù)寫入到當(dāng)前使用磁帶盒50B的狀態(tài)的視圖,圖7B是表示禁止數(shù)據(jù)寫入到當(dāng)前使用磁帶盒50B的狀態(tài)的視圖。
      注意,當(dāng)前使用磁帶盒50B的外觀結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施例中的當(dāng)前使用磁帶盒50B的結(jié)構(gòu)相同。
      如從圖7A和圖7B的表示中理解的,來自光發(fā)射單元20的LED光L被面對(duì)光發(fā)射單元20的當(dāng)前使用磁帶盒50B的側(cè)表面所遮擋,結(jié)果光接收單元21或者22都不被照射。
      圖8是第二實(shí)施例操作的流程圖。
      步驟11當(dāng)光接收單元21和22的任何一個(gè)接收了LED L時(shí),記錄/再現(xiàn)設(shè)備1A的控制電路5識(shí)別出為新磁帶盒50C。
      步驟12到13,控制電路5在光接收單元21接收了LED光L時(shí)判斷新磁帶盒50C處于允許數(shù)據(jù)寫入的狀態(tài),并控制磁記錄/再現(xiàn)電路3,使得數(shù)據(jù)以新(第二)格式被記錄在容納于新磁帶盒50C中的磁帶51上。
      步驟14到15,控制電路5在光接收單元22接收了LED光L時(shí)判斷新磁帶盒50C處于禁止數(shù)據(jù)寫入的狀態(tài),并且不執(zhí)行在容納于新磁帶盒50C中的磁帶51上的數(shù)據(jù)記錄。
      步驟16到18控制電路5在光接收單元21或者22都沒有接收到LED光L時(shí)識(shí)別出當(dāng)前使用磁帶盒50B被放置在記錄/再現(xiàn)設(shè)備中,并且當(dāng)檢測(cè)出第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12處于允許寫入狀態(tài)時(shí),控制電路5控制磁記錄/再現(xiàn)電路3在容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上以當(dāng)前使用格式執(zhí)行數(shù)據(jù)寫入。當(dāng)檢測(cè)出第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12處于禁止寫入狀態(tài)時(shí),控制電路5不執(zhí)行數(shù)據(jù)寫入。
      根據(jù)第二實(shí)施例,通過在新磁帶盒50C上提供區(qū)分孔50Ch3(其與當(dāng)前使用磁帶盒50B上形成的寫入禁止區(qū)分孔50Bh相同),在新磁帶盒50C中容納的磁帶51上記錄的內(nèi)容不會(huì)被當(dāng)前使用格式錯(cuò)誤地擦除。
      而且,新磁帶盒50C是通過光接收單元21和22是否接收光識(shí)別的,并且在磁帶盒側(cè)面形成的孔、第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10、盒檢測(cè)開關(guān)11以及用于識(shí)別在寫入禁止?fàn)顟B(tài)的新磁帶盒50C的其它機(jī)構(gòu)和可移動(dòng)部分變成不必要,使得用于區(qū)分磁帶盒和檢測(cè)寫入禁止的機(jī)構(gòu)能夠被簡化。
      第三實(shí)施例將參考圖9到圖12解釋本發(fā)明第三實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備。
      圖9是表示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意結(jié)構(gòu)視圖。
      圖9中,相同的參考數(shù)字用于與第一實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的相同元件。
      圖9中表示的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1C的結(jié)構(gòu)與根據(jù)第一實(shí)施例的記錄/再現(xiàn)設(shè)備1的不同點(diǎn)是,記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B不具有第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10和盒類型檢測(cè)開關(guān)11,但具有第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12。
      記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B包括被連接到與磁帶盒50結(jié)合的IC存儲(chǔ)器55的連接端子30和被連接到連接端子30的存儲(chǔ)器接口6。
      有公知的所謂MIC(存儲(chǔ)器結(jié)合盒),其中內(nèi)置由諸如EEPROM的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器制成的IC存儲(chǔ)器。MIC中的IC存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所記錄內(nèi)容、標(biāo)題、日期、時(shí)間、消息、記錄格式和定時(shí)器編程的索引信息等。通過讀出在IC存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的信息,在不再現(xiàn)容納于磁帶盒50中的磁帶51的情況下,在IC存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的內(nèi)容能夠被確認(rèn)。制造者選擇區(qū)域被保護(hù)在IC存儲(chǔ)器中,使用者能夠在其上自由地記錄各種數(shù)據(jù)。
      第三實(shí)施例中,以IC存儲(chǔ)器被合并于較高格式的磁帶盒中為前提來進(jìn)行解釋。
      連接端子30連接到電源線30a、串行數(shù)據(jù)輸入線30b、串行數(shù)據(jù)輸出線30c和地線30d,以及連接到存儲(chǔ)器接口6。
      用于將IC存儲(chǔ)器55接地和給IC存儲(chǔ)器55供電的存儲(chǔ)器接口6將在IC存儲(chǔ)器55中記錄的數(shù)據(jù)作為串行數(shù)據(jù)讀出到數(shù)據(jù)控制電路5,并且將要被記錄在IC存儲(chǔ)器55的數(shù)據(jù)作為串行數(shù)據(jù)從控制電路5傳輸?shù)絀C存儲(chǔ)器55。
      控制裝置5將要被寫入IC存儲(chǔ)器55的數(shù)據(jù)傳輸?shù)酱鎯?chǔ)器接口6,并通過存儲(chǔ)器接口6接收從IC存儲(chǔ)器55讀出的數(shù)據(jù)。
      圖10是表示容納以新格式(第一格式)記錄數(shù)據(jù)的磁帶51的新磁帶盒50D的部分外觀與第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的配置的例子的剖面圖。
      如圖10中表示,新磁帶盒50D在面對(duì)(接觸)第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的側(cè)表面上、以與圖2A和圖2B中作為例子表示的當(dāng)前使用磁帶盒50B上形成的寫入禁止區(qū)分孔50Bh的相同方式形成區(qū)分孔50Dh。
      除了沒有用于打開或者關(guān)閉區(qū)分孔50Dh的帽之外,新磁帶盒50D完全具有與當(dāng)前使用磁帶盒50B的相同結(jié)構(gòu)。
      將解釋在新磁帶盒50D中結(jié)合的IC存儲(chǔ)器55的記錄內(nèi)容。
      圖11是表示在IC存儲(chǔ)器55的制造者選擇區(qū)域的具體地址上的數(shù)據(jù)的視圖。
      例如,假設(shè)地址“AAAA”中最低位a0具有用于設(shè)置禁止寫入到新磁帶盒50D中的信息,當(dāng)最低位a0是“1”時(shí)禁止寫入和當(dāng)為“0”時(shí)允許寫入。
      而且,假設(shè)地址“BBBB”中最低位b0具有用于區(qū)分新磁帶盒50D和當(dāng)前使用磁帶盒50B的信息,當(dāng)最低位b0是“1”時(shí)數(shù)據(jù)以較高(第一)格式記錄在磁帶51上和當(dāng)是“0”時(shí)數(shù)據(jù)以當(dāng)前使用(第二)格式記錄。
      而且,地址“AAAA”最低位a0的信息被重新寫入在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B中,并且在用于設(shè)置成禁止擦除的新磁帶盒50D裝運(yùn)之前,地址“BBBB”最低位b0的信息被寫成“1”。
      圖12是表示第三實(shí)施例記錄設(shè)備操作的流程圖。
      步驟S21當(dāng)具有上述結(jié)構(gòu)的新磁帶盒50D被放置在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B中時(shí),IC存儲(chǔ)器55的地址“AAAA”和“BBBB”的最低位a0和b0的信息通過存儲(chǔ)器接口6被傳輸?shù)娇刂齐娐?,使得控制電路5按實(shí)際接收該信息。
      步驟22控制電路5從地址“BBBB”最低位b0的信息識(shí)別出其是新磁帶盒50D還是當(dāng)前使用磁帶盒50B。
      步驟23到25控制電路5從地址“AAAA”最低位a0的信息中檢測(cè)出其是否被禁止寫入到新磁帶盒50D。
      當(dāng)?shù)刂贰癆AAA”最低位a0的信息是“0”時(shí),其表示寫允許狀態(tài),結(jié)果控制電路5通過磁記錄/再現(xiàn)電路3和旋轉(zhuǎn)鼓2執(zhí)行將數(shù)據(jù)以新格式記錄在容納于磁帶盒50D中的磁帶51上。當(dāng)最低位a0的信息是“1”時(shí),控制電路5執(zhí)行禁止數(shù)據(jù)寫入的處理。
      步驟22、26到28在當(dāng)前使用磁帶盒50B被放置在記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B中時(shí),控制電路5從地址“BBBB”最低位b0的信息中識(shí)別出其是當(dāng)前使用磁帶盒50B。然后,控制電路5控制磁記錄/再現(xiàn)電路3和旋轉(zhuǎn)鼓2,使得根據(jù)第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)12的檢測(cè)信號(hào)的狀態(tài),以當(dāng)前使用格式在容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄。即,當(dāng)?shù)谝粚懭虢箼z測(cè)開關(guān)12的銷12a處于退出狀態(tài)時(shí),以當(dāng)前使用格式執(zhí)行數(shù)據(jù)寫入處理,同時(shí),在相反情況時(shí)禁止數(shù)據(jù)寫入。
      如上解釋,根據(jù)第三實(shí)施例,通過在與磁帶盒50(當(dāng)前使用磁帶盒50B或者新磁帶盒50D)結(jié)合的IC存儲(chǔ)器55中預(yù)先存儲(chǔ)磁帶盒區(qū)分信息和新磁帶盒50D的寫入禁止信息,以及通過記錄/再現(xiàn)設(shè)備1B的控制電路5檢測(cè)該信息,能夠執(zhí)行在容納于新磁帶盒50D的磁帶51上記錄數(shù)據(jù)或者在容納于當(dāng)前使用磁帶盒50B中的磁帶51上寫入數(shù)據(jù)。
      而且,由于新磁帶盒50D安裝有寫入禁止區(qū)分孔50Dh,通過當(dāng)前使用格式在容納于新磁帶盒50D的磁帶51上記錄的重新寫入信息不會(huì)有錯(cuò)誤擦除。
      注意,在上述實(shí)施例中解釋的記錄/再現(xiàn)設(shè)備被構(gòu)成為能夠記錄其中數(shù)據(jù)以新(第二)格式記錄的磁帶盒和數(shù)據(jù)以當(dāng)前使用(第一)格式記錄的磁帶盒這兩者上,但是,它也能夠適用于能夠僅僅記錄其中以新格式記錄數(shù)據(jù)的磁帶盒的記錄/再現(xiàn)設(shè)備。在這種情況下,當(dāng)在記錄/再現(xiàn)設(shè)備(控制電路5)中檢測(cè)到當(dāng)前使用磁帶盒50B時(shí),磁帶盒彈出機(jī)構(gòu)(沒有示出)被控制電路5驅(qū)動(dòng),并且當(dāng)前使用磁帶盒50B被自動(dòng)地從記錄/再現(xiàn)設(shè)備中彈出。
      在上述實(shí)施例中,解釋是對(duì)磁帶用作記錄介質(zhì)和磁帶盒用作為盒的情況進(jìn)行的,但是,當(dāng)將本發(fā)明施用于記錄設(shè)備時(shí),能夠采用作為記錄介質(zhì)的磁盤和用于容納磁盤的盒作為盒以及其它記錄介質(zhì)和用于容納該記錄介質(zhì)的盒。
      在本發(fā)明的記錄設(shè)備中,能夠使用具有與當(dāng)前使用盒的相同形狀和相同尺寸的盒,并且能夠在容納于用于以新格式和以當(dāng)前使用格式記錄數(shù)據(jù)的盒的任一個(gè)中的記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)。
      在本發(fā)明的記錄/再現(xiàn)設(shè)備中,用于區(qū)分盒和結(jié)構(gòu)的機(jī)構(gòu)被最小化。
      根據(jù)本發(fā)明的記錄/再現(xiàn)設(shè)備,以新格式記錄記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)不會(huì)被當(dāng)前使用記錄設(shè)備的當(dāng)前使用格式所擦除。
      權(quán)利要求
      1.一種記錄設(shè)備,用于區(qū)分一組記錄介質(zhì)是在用于以第一格式記錄數(shù)據(jù)的第一盒中還是在用于以第二格式記錄數(shù)據(jù)的第二盒中,檢測(cè)是否有可能在容納于所區(qū)分的盒中的所述記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù),以及當(dāng)可記錄時(shí)在所述記錄介質(zhì)上以根據(jù)所區(qū)分的盒的格式記錄數(shù)據(jù);包括盒類型檢測(cè)裝置(11),用于檢測(cè)是所述第一盒(50B)還是所述第二盒(50A,50C和50D);第一寫入禁止檢測(cè)裝置(12),用于檢測(cè)是否允許在容納于所述第一盒或所述第二盒中的所述記錄介質(zhì)上以第一格式記錄數(shù)據(jù);第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10),用于檢測(cè)是否在容納于所述第一盒或所述第二盒中的所述記錄介質(zhì)上以第二格式記錄數(shù)據(jù);控制裝置(5);以及數(shù)據(jù)記錄裝置(3,2);其中所述控制裝置從所述盒類型檢測(cè)裝置(11)的檢測(cè)信號(hào)中區(qū)分記錄設(shè)備中放置的盒是所述第一盒還是所述第二盒,在當(dāng)放置所述第一盒時(shí)所述第一寫入禁止裝置(12)的檢測(cè)信號(hào)允許在所述記錄介質(zhì)上寫入數(shù)據(jù)的情況下,通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置將數(shù)據(jù)以第一格式記錄在所述記錄介質(zhì)上,以及在當(dāng)放置所述第二盒時(shí)所述第二寫入禁止裝置(10)的檢測(cè)信號(hào)允許在所述記錄介質(zhì)上寫入數(shù)據(jù)的情況下,通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置將數(shù)據(jù)以第二格式記錄在所述記錄介質(zhì)上。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1的記錄設(shè)備,其中所述第一盒與所述第二盒形成有第一孔(50Bh,50Ah3,50Ch3和50Dh),用于指示所述第一寫入禁止檢測(cè)裝置是否允許在所述記錄介質(zhì)上以所述第一格式記錄數(shù)據(jù);所述第一寫入禁止檢測(cè)裝置(12)具有開關(guān),該開關(guān)帶有能夠被插入到所述第一孔的第一銷(12a),所述第一寫入禁止檢測(cè)裝置(12)根據(jù)所述第一銷是否被插入到所述第一孔而輸出“開”或“關(guān)”檢測(cè)信號(hào);當(dāng)指示允許數(shù)據(jù)以所述第一格式記錄在所述記錄介質(zhì)上時(shí),所述第一孔被關(guān)閉,使得所述第一寫入禁止檢測(cè)裝置(12)的所述第一銷(12a)被禁止插入到所述第一孔;以及當(dāng)指示禁止數(shù)據(jù)以所述第一格式記錄在所述記錄介質(zhì)上時(shí),所述第一孔被打開,使得所述第一寫入禁止檢測(cè)裝置(12)的所述第一銷(12a)被允許插入到所述第一孔。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2的記錄設(shè)備,其中所述第二盒形成有用于表示其是第二盒的第二孔(50Ah2),以及所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)形成有用于表示是否允許在所述記錄介質(zhì)上以所述第二格式記錄數(shù)據(jù)的第三孔(50Ah1);在所述第二盒上形成所述第二孔的部分上,所述第一盒不形成所述第二孔,以及在所述第二盒上形成所述第三孔的部分上,所述第一盒不形成所述第三孔;所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)具有開關(guān),該開關(guān)具有能夠被插入到所述第三孔的第三銷(10a),并且所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)根據(jù)所述第三銷是否被插入到所述第三孔而輸出“開”或“關(guān)”檢測(cè)信號(hào);當(dāng)指示允許在所述記錄介質(zhì)上以所述第二格式記錄數(shù)據(jù)時(shí),關(guān)閉所述第三孔,使得所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)的第三銷(10a)被禁止插入到所述第三孔;當(dāng)指示禁止在所述記錄介質(zhì)上以所述第二格式記錄數(shù)據(jù)時(shí),打開所述第三孔,使得所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)的第三銷(10a)被允許插入到所述第三孔;和所述控制裝置當(dāng)接收檢測(cè)到所述盒類型檢測(cè)裝置的第二銷(11a)被插入到所述第二孔的信號(hào)作為輸入時(shí),識(shí)別出在記錄設(shè)備中放置了所述第二盒,以及當(dāng)接收檢測(cè)到所述盒類型檢測(cè)裝置的所述第二銷(11a)沒有被插入到所述第二孔的信號(hào)作為輸入時(shí),識(shí)別出在記錄設(shè)備中放置了所述第一盒,以及當(dāng)放置了所述第二盒而所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)的檢測(cè)信號(hào)允許記錄數(shù)據(jù)時(shí),通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置以第二格式在所述記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2的記錄設(shè)備,其中所述盒類型檢測(cè)裝置(11)和所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)是通過留有預(yù)定空間而配置的第一和第二光接收單元(21和22);還安裝有光發(fā)射單元(20),用于發(fā)射能夠被所述第一和第二光接收單元(21和22)接收的光;所述第二盒形成有用于從所述光發(fā)射單元接收入射光的光入射孔(50Ca)以及在對(duì)應(yīng)于所述兩個(gè)光接收單元(21和22)的位置上形成的第一和第二發(fā)射孔(50Ch1和50Ch2),并且所述第二盒包括反射裝置(50Cma),用于將從所述光發(fā)射單元引入的光在所述兩個(gè)光接收單元(21和22)的方向上反射到所述光入射孔上,以及移動(dòng)裝置,用于通過移動(dòng)該反射裝置將從所述光發(fā)射單元引入的光在所述兩個(gè)光接收單元中的一個(gè)的方向上反射到所述光入射孔,所述第一盒不具有所述發(fā)射孔(50Ca)并被制造為不透明;以及所述控制裝置當(dāng)所述第一和第二光接收單元的任何一個(gè)接收了光時(shí),識(shí)別出在記錄設(shè)備中放置了第二盒;和當(dāng)所述第一光接收單元檢測(cè)到光接收時(shí),通過所述數(shù)據(jù)記錄裝置在所述記錄介質(zhì)上以第二格式記錄數(shù)據(jù)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求2的記錄設(shè)備,其中所述盒類型檢測(cè)裝置(11)和所述第二寫入禁止檢測(cè)裝置(10)是在所述第一盒和所述第二盒中安裝的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中的第一地址上記錄的第一數(shù)據(jù)和第二地址上記錄的第二數(shù)據(jù);還安裝有用于讀出所述半導(dǎo)體存儲(chǔ)器上記錄的所述第一地址和第二地址的讀出裝置;和所述控制裝置當(dāng)所述第一數(shù)據(jù)為“開”時(shí),識(shí)別出在記錄設(shè)備中放置的盒是第一盒;和當(dāng)所述第二數(shù)據(jù)為“開”時(shí),以第二格式執(zhí)行數(shù)據(jù)的記錄處理。
      6.一種記錄介質(zhì)容納盒,具有與用于容納要以第一格式記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的第一記錄介質(zhì)容納盒的相同尺寸,其特征在于包括在與提供給所述第一盒的寫入禁止設(shè)置裝置的相同位置上提供了第一區(qū)分孔,其具有寫入禁止?fàn)顟B(tài);以及區(qū)分裝置,用于區(qū)分所述第一盒并指示允許和禁止向所述記錄介質(zhì)容納盒的寫入。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6的記錄介質(zhì)容納盒,其特征在于所述區(qū)分機(jī)構(gòu)包括用于區(qū)分所述第一盒的第二區(qū)分孔;和第三區(qū)分孔,通過選擇地打開或者關(guān)閉,用于指示禁止對(duì)所述記錄介質(zhì)容納盒的寫入。
      8.根據(jù)權(quán)利要求6的記錄介質(zhì)容納盒,其特征在于所述區(qū)分裝置包括光入射孔,從記錄設(shè)備發(fā)射的光被照射在其上;反射部件,用于反射所述發(fā)射光并選擇地在第一位置和第二位置之間滑動(dòng);第一發(fā)射孔,用于當(dāng)所述反射部件被滑動(dòng)到所述第一位置時(shí),發(fā)射所述反射光;第二發(fā)射孔,用于當(dāng)所述反射部件被滑動(dòng)到所述第二位置時(shí),發(fā)射所述反射光;和通過所述光從第一和第二發(fā)射孔中的哪一個(gè)發(fā)射,表示所述第一盒的區(qū)分以及允許或者禁止對(duì)所述記錄介質(zhì)容納盒的寫入。
      全文摘要
      一種記錄器,用于在容納于當(dāng)前磁帶盒(50B)和新磁帶盒(50A)兩者中的記錄介質(zhì)上以當(dāng)前或新格式記錄數(shù)據(jù)。該記錄器具有第一寫入禁止檢測(cè)開關(guān)(12),其可被插入到在新盒(50A)中形成的識(shí)別孔50Ah3中,并根據(jù)在當(dāng)前盒上提供的寫入禁止識(shí)別孔的打開/關(guān)閉狀態(tài)退出;第二寫入禁止檢測(cè)開關(guān)10,其根據(jù)在盒(50A)中提供的寫入禁止識(shí)別孔(50Ah1)的打開/關(guān)閉狀態(tài)退出/出現(xiàn);以及盒類型檢測(cè)開關(guān)(11),其可被插入到在盒(50A)中提供的識(shí)別孔(50Ah2)中和在當(dāng)前盒的側(cè)表面退出??刂齐娐?5)根據(jù)開關(guān)的狀態(tài)區(qū)別當(dāng)前磁帶盒(50B)及新磁帶盒(50A),并根據(jù)所區(qū)分的盒記錄數(shù)據(jù)。
      文檔編號(hào)G11B15/07GK1543646SQ0380078
      公開日2004年11月3日 申請(qǐng)日期2003年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月6日
      發(fā)明者馬場信明, 辻林竜夫, 原田充, 落合睦子, 夫, 子 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社
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