專利名稱：盤形記錄介質(zhì)、記錄方法和盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及諸如光盤的盤形記錄介質(zhì)、盤形記錄介質(zhì)采用的記錄方法，以及用于驅(qū)動(dòng)盤形記錄介質(zhì)的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備。
背景技術(shù)：
作為向記錄介質(zhì)記錄數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)或從記錄介質(zhì)再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的技術(shù)，已經(jīng)提供了應(yīng)用于作為記錄介質(zhì)的光盤的數(shù)據(jù)記錄技術(shù)。數(shù)據(jù)記錄技術(shù)所應(yīng)用到的光盤包括了磁光盤。這種光盤的例子有CD(壓縮盤)、MD(迷你盤)以及DVD(數(shù)字多用盤)。光盤是記錄介質(zhì)的統(tǒng)稱，激光光束輻射到這種記錄介質(zhì)上并得到反射光，以便讀出代表反射光束變化的信號(hào)。光盤是盤形記錄介質(zhì)，由金屬薄板制成，并被塑料封裝保護(hù)起來。
光盤被分成兩種類型，也就是只再現(xiàn)型和允許用戶數(shù)據(jù)記錄于盤片上的可記錄型。屬于只再現(xiàn)型光盤的例子包括熟知的CD、CD-ROM和DVD-ROM。另一方面，屬于可記錄型光盤的例子包括熟知的MD、CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+RW和DVD-RAM。通過采用諸如磁光記錄方法、相變記錄方法和色素膜變記錄方法等記錄技術(shù)可以將用戶數(shù)據(jù)記錄到屬于可記錄型的光盤上。色素膜變記錄方法也被稱為一次寫入記錄方法，它只允許記錄數(shù)據(jù)一次并且不允許新數(shù)據(jù)覆蓋已記錄的數(shù)據(jù)。色素膜變記錄方法適于保護(hù)數(shù)據(jù)等的應(yīng)用場合。另一方面，磁光記錄方法和相變記錄方法允許新數(shù)據(jù)寫在已記錄的數(shù)據(jù)上，因此，在記錄各種內(nèi)容如音樂數(shù)據(jù)、視頻數(shù)據(jù)、游戲軟件和應(yīng)用程序等的各種應(yīng)用中被采用。
另外，最近幾年已開發(fā)出如熟知的DVR(數(shù)據(jù)和視頻記錄)這樣的高密度光盤，極大增加了存儲(chǔ)容量。
為了采用諸如磁光記錄方法、相變記錄方法和色素膜變記錄方法等記錄技術(shù)將數(shù)據(jù)記錄到屬于可記錄型光盤上，就需要提供一種指導(dǎo)方法來實(shí)現(xiàn)跟蹤盤片上的數(shù)據(jù)軌跡。為此，在光盤上形成一種凹槽(groove)作為預(yù)凹槽(pre-groove)。然后將凹槽或陸地(land)作為數(shù)據(jù)軌跡。陸地是光盤上由兩個(gè)相鄰凹槽夾起來形成的區(qū)。陸地與一個(gè)類似高原的形狀具有交叉部分。
另外，為了能夠在數(shù)據(jù)軌跡任何希望的位置上記錄數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)軌跡上每個(gè)位置的地址需要嵌入到軌跡中。這些地址一般是通過使用作軌跡的凹槽擺動(dòng)而嵌入到數(shù)據(jù)軌跡中的。
也就是說，用于保存數(shù)據(jù)的軌跡是通過利用其側(cè)面使得正面擺動(dòng)，從而在盤片上預(yù)先形成預(yù)凹槽來代表地址的。
通過在盤片上預(yù)先形成這樣的凹槽，就可以從由反射光束傳送的擺動(dòng)信息中獲取地址，這樣，即使沒有將地址作為例如凹陷數(shù)據(jù)等記錄在軌跡上，也可以在軌跡希望位置上記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
這樣，如上所述，例如通過在擺動(dòng)凹槽中嵌入附加的地址信息，就不再需要在軌跡上提供離散的地址區(qū)來記錄象凹陷數(shù)據(jù)這樣的地址信息，這樣地址區(qū)就可以保存實(shí)際數(shù)據(jù)，從而可以將記錄實(shí)際數(shù)據(jù)的容量增加了地址區(qū)的大小。
注意到，由凹槽的這種擺動(dòng)形狀所表達(dá)的絕對時(shí)間(地址)信息稱為ATIP(預(yù)凹槽中絕對時(shí)間)或ADIP(預(yù)凹槽中地址)。
通過這種方法來執(zhí)行光盤上的缺陷管理。這種管理簡稱為缺陷管理。
缺陷管理是為每個(gè)缺陷區(qū)的地址編制目錄的管理。如果在光盤上提供備用記錄區(qū)，每個(gè)都作為缺陷區(qū)的替代區(qū)，則缺陷管理也是用于管理備用記錄區(qū)地址的管理。缺陷區(qū)是由于在其上存在損傷或其它缺陷，使得數(shù)據(jù)不再可以記錄在其上和從其上再現(xiàn)的區(qū)。缺陷管理是為了防止這樣的損傷或缺陷導(dǎo)致在系統(tǒng)中發(fā)生失敗的重要技術(shù)。
在缺陷管理中，數(shù)據(jù)不再記錄其中或從中再現(xiàn)的缺陷區(qū)的地址以及備用記錄區(qū)的地址都被編制目錄在缺陷列表中。因此，缺陷列表是對缺陷管理很重要的用于編制信息目錄的列表。
如最近幾年開發(fā)的DVR高密度盤片，在其物理結(jié)構(gòu)上具有一個(gè)覆蓋層(襯底)，該覆蓋層在盤片厚度方向厚0.1mm。在這樣的結(jié)構(gòu)中，通過結(jié)合使用所謂的藍(lán)色激光和0.85NA的物鏡所設(shè)置的條件下，記錄和再現(xiàn)相變標(biāo)記。藍(lán)色激光是波長為405nm的激光光束。假定數(shù)據(jù)被在軌跡上記錄為相變標(biāo)記，軌跡間距為0.32微米，線密度為0.12微米/位，并且64KB數(shù)據(jù)塊被用作記錄/再現(xiàn)單元，盤片被格式化成具有82％的格式化效率，那么，直徑為12cm的光盤允許大約23.3GB(十億字節(jié))總量的數(shù)據(jù)記錄在光盤上和從光盤上再現(xiàn)。
在光盤上的數(shù)據(jù)區(qū)(zone)是用戶數(shù)據(jù)記錄其上和從中再現(xiàn)的區(qū)。作為光盤格式化處理的結(jié)果，半徑為24mm的區(qū)和半徑為58mm的圓周變成可用的數(shù)據(jù)區(qū)(zone)。在光盤上由半徑為24mm的圓周所包圍的內(nèi)側(cè)區(qū)用作導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)。
用來保存缺陷管理信息的缺陷管理區(qū)是在導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)中預(yù)定位置上形成的?？梢蕴峁﹥蓚€(gè)缺陷管理區(qū)域。在這種情況下，兩個(gè)缺陷管理區(qū)是在導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)中預(yù)定的相鄰位置上形成。
一般地，需要被形成多個(gè)管理區(qū)域，如兩個(gè)缺陷管理區(qū)，這是因?yàn)椋绻捎谀撤N原因缺陷管理信息不再能被從兩個(gè)缺陷管理區(qū)中的一個(gè)中讀出，那么缺陷管理信息仍可以從另一個(gè)缺陷管理區(qū)中讀出。但是，由于兩個(gè)缺陷管理區(qū)是在導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)中相鄰位置上形成的，當(dāng)在分配給兩個(gè)缺陷管理區(qū)的盤片部分上產(chǎn)生損傷時(shí)，缺陷管理信息不再能向兩個(gè)缺陷管理區(qū)記錄和從兩個(gè)區(qū)中再現(xiàn)，仍然完全在可能的限度內(nèi)。這就是說，缺陷管理的可靠性是不夠的。
在光盤典型旋轉(zhuǎn)速度下，在光盤旋轉(zhuǎn)一周的情況下，大約有1.9個(gè)數(shù)據(jù)塊，每塊具有64KB數(shù)據(jù)大小，是可以記錄在半徑為24mm的圓周的軌跡上的。
用作記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)(zone)具有較大的記錄容量23.3GB。在數(shù)據(jù)區(qū)(zone)中，18432個(gè)簇可被分配作為備用記錄區(qū)域。由于這些簇具有大約1.207959552GB大小，它們的大小只是用作記錄用戶數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)(zone)大小的5％。每個(gè)項(xiàng)目8個(gè)字節(jié)大小的缺陷列表將會(huì)具有147.456KB的長度，并且將占用3個(gè)簇。
如上所述，缺陷管理區(qū)包括其中保存的缺陷列表，并形成由多個(gè)簇構(gòu)成的區(qū)。在這種情況下，由于光盤旋轉(zhuǎn)一周大約有1.9個(gè)數(shù)據(jù)塊，而每塊具有64KB數(shù)據(jù)大小可以記錄在半徑為24mm的圓周的軌跡上，并且在位于導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)的相鄰位置上形成了兩個(gè)缺陷管理區(qū)，所以，如上所述，當(dāng)在分配給兩個(gè)缺陷管理區(qū)的盤片部分上產(chǎn)生損傷時(shí)，缺陷管理信息不再能向兩個(gè)缺陷管理區(qū)記錄和從兩個(gè)區(qū)中再現(xiàn)，仍然完全在可能的限度內(nèi)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是致力于解決對于上述問題，以提高在盤形記錄介質(zhì)上所執(zhí)行的缺陷管理的可靠性。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，通過將管理數(shù)據(jù)區(qū)放置在盤形記錄介質(zhì)徑向彼此分開的位置上，并將至少記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間，在本發(fā)明提供的盤形記錄介質(zhì)上，在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中，形成一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和每個(gè)都包含一個(gè)缺陷管理區(qū)的多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)。
另外，缺陷管理區(qū)具有多個(gè)用于記錄缺陷管理信息的記錄區(qū)，這些記錄區(qū)包括了備用記錄區(qū)。
依據(jù)本發(fā)明提供的記錄方法，通過在盤形記錄介質(zhì)上完成記錄操作，在盤形記錄介質(zhì)上，在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中，形成一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和每個(gè)都包含一個(gè)缺陷管理區(qū)的多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)的處理當(dāng)中，這些管理數(shù)據(jù)區(qū)被放置在盤形記錄介質(zhì)徑向彼此分開的位置上，并將至少記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間。
另外，缺陷管理區(qū)具有多個(gè)用于記錄缺陷管理信息的記錄區(qū)，這些記錄區(qū)包括備用記錄區(qū)。
更進(jìn)一步，依據(jù)本發(fā)明提供的記錄方法，在將缺陷管理信息記錄到盤形記錄介質(zhì)的操作中，確定當(dāng)前使用的記錄區(qū)的更新計(jì)數(shù)或這個(gè)當(dāng)前使用的記錄區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)，以給出確定的結(jié)果，用作確定缺陷管理信息是否應(yīng)該被記錄到備用記錄區(qū)的一個(gè)區(qū)中的基礎(chǔ)，而該備用記錄區(qū)不是當(dāng)前使用的記錄區(qū)，如果缺陷管理信息是記錄在另一個(gè)備用記錄區(qū)，則該備用記錄區(qū)被設(shè)置為代替當(dāng)前使用的記錄區(qū)的記錄區(qū)。
作為將信息記錄到由本發(fā)明提供的盤形記錄介質(zhì)或從本發(fā)明提供的介質(zhì)中再現(xiàn)信息的本發(fā)明提供的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備，包括記錄裝置，用于將信息記錄到盤形記錄介質(zhì)中；控制裝置，用于確定當(dāng)前使用的記錄區(qū)的更新計(jì)數(shù)或當(dāng)前使用的記錄區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)，確定在將缺陷管理信息記錄到盤形記錄介質(zhì)的操作中，用作確定缺陷管理信息是否應(yīng)該被記錄在備用記錄區(qū)的一個(gè)區(qū)中的基礎(chǔ)，而該備用記錄區(qū)不是當(dāng)前使用的記錄區(qū)；以及如果記錄裝置將缺陷管理信息記錄在另一個(gè)備用記錄區(qū)中，則記錄信息以將另一個(gè)備用記錄區(qū)設(shè)置為代替當(dāng)前使用的記錄區(qū)的記錄區(qū)。
這就是說，依據(jù)本發(fā)明，通過在盤形記錄介質(zhì)上，在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中提供多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)區(qū)包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，這樣就可以獲得可靠的缺陷管理。另外，通過將這些缺陷管理區(qū)(從而是管理數(shù)據(jù)區(qū))放置在盤形記錄介質(zhì)徑向彼此分開的位置上，并將具有相對較大尺寸的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間，就可以進(jìn)一步提高缺陷管理區(qū)的可靠性。
進(jìn)一步，通過為每個(gè)缺陷管理區(qū)提供包括備用記錄區(qū)的多個(gè)記錄區(qū)，來記錄缺陷管理信息，那么，依據(jù)缺陷管理區(qū)的更新計(jì)數(shù)或這個(gè)缺陷管理區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)就可以改變記錄區(qū)。


圖1是表示在由本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的盤片上形成凹槽的示意圖；圖2是表示在由本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的盤片上形成擺動(dòng)形狀凹槽的示意圖；圖3是表示依據(jù)本實(shí)施例，作為MSK和HMW調(diào)制結(jié)果而得到的擺動(dòng)信號(hào)的示意圖；圖4是表示由實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的盤片布局的示意圖；圖5A是表示在由本實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的RW區(qū)(zone)中擺動(dòng)狀態(tài)的示意圖；圖5B是表示在由本實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的PB區(qū)(zone)中擺動(dòng)狀態(tài)的示意圖；圖6是表示依據(jù)本實(shí)施例為預(yù)記錄信息提供的調(diào)制方法的示意圖；圖7A，7B，7C和7D是表示在本實(shí)施例中使用的相變標(biāo)記的ECC結(jié)構(gòu)的示意圖；圖8A，8B，8C和8D是表示在本實(shí)施例中使用的預(yù)記錄信息的ECC結(jié)構(gòu)的示意圖；圖9A是表示依據(jù)本實(shí)施例，記錄為相變標(biāo)記信息的幀結(jié)構(gòu)示意圖。
圖9B是表示依據(jù)本實(shí)施例，預(yù)記錄信息的幀結(jié)構(gòu)示意圖。
圖10是表示依據(jù)本實(shí)施例的導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖11A和11B每個(gè)圖是表示依據(jù)本實(shí)施例信息區(qū)的示意圖；圖12是表示依據(jù)本實(shí)施例的DMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的示意圖；圖13是表示依據(jù)本實(shí)施例的DMA的DDS的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的示意圖；圖14是表示在依據(jù)本實(shí)施例的DMA中所保存的缺陷列表的示意圖；圖15是表示在依據(jù)本實(shí)施例的DMA中所保存的缺陷列表的項(xiàng)目的示意圖；圖16表示依據(jù)本實(shí)施例的數(shù)據(jù)區(qū)的ISA和OSA的示意圖；圖17是表示由本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備的方框圖；圖18是一個(gè)流程圖，表示由本實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備所完成的處理過程。
具體實(shí)施例方式
下面的說明解釋了由本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤、在光盤上記錄數(shù)據(jù)和從光盤上再現(xiàn)數(shù)據(jù)的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備(記錄/再現(xiàn)設(shè)備)，以及將數(shù)據(jù)記錄到光盤上缺陷管理區(qū)中的方法。說明被劃分成按下面順序排列的段落。
1盤片結(jié)構(gòu)2數(shù)據(jù)的ECC格式3缺陷管理區(qū)3-1包含DMA的信息區(qū)3-2具有備用區(qū)的DMA結(jié)構(gòu)3-3數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)4盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備1盤片結(jié)構(gòu)首先，解釋由本實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤。該光盤可以由高密度光盤如熟知的所謂DVR(數(shù)據(jù)和視頻記錄)來實(shí)現(xiàn)。
如圖1所示，由本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤1在其上形成一個(gè)凹槽GV，用作記錄軌跡。凹槽GV是從最內(nèi)圓周側(cè)向最外圓周側(cè)擴(kuò)展以螺旋線形式形成的。圖2是表示在光盤1的徑向上交叉部分的示意圖。如圖所示，交叉部分具有每個(gè)都是突出形狀的陸地L，以及每個(gè)都是凹痕形狀的凹槽GV。陸地L和凹槽GV是交替布置的。
如圖2所示，光盤1的凹槽GV關(guān)于切線具有擺動(dòng)形狀。凹槽GV的擺動(dòng)形狀是依據(jù)擺動(dòng)信號(hào)形成的形狀。這樣，光盤驅(qū)動(dòng)器就能夠再現(xiàn)該擺動(dòng)信號(hào)，其中，依據(jù)該擺動(dòng)信號(hào)已經(jīng)形成了凹槽GV的擺動(dòng)形狀。詳細(xì)地說，光盤驅(qū)動(dòng)器從在凹槽GV上存在的激光點(diǎn)LS而反射的激光光束中，檢測凹槽GV兩個(gè)邊緣的位置，其中，激光點(diǎn)LS作為原始激光光束輻射到的點(diǎn)。當(dāng)激光點(diǎn)LS沿著用作記錄軌跡的凹槽GV移動(dòng)時(shí)，被檢測的位置發(fā)生變化，產(chǎn)生了位置上的變化。于是，光盤驅(qū)動(dòng)器提取出在光盤1的徑向的變化來再現(xiàn)擺動(dòng)信號(hào)。
擺動(dòng)信號(hào)是調(diào)制處理的結(jié)果，該調(diào)制處理完成包含關(guān)于擺動(dòng)信號(hào)中記錄軌跡上記錄位置地址的信息。該信息包括記錄位置的地址和其它的附加數(shù)據(jù)。這樣，通過解調(diào)該擺動(dòng)信號(hào)以提取出關(guān)于地址的信息，光盤驅(qū)動(dòng)器就能夠執(zhí)行對這些地址的控制，而這些地址是在將數(shù)據(jù)記錄到光盤1或從光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)的操作中訪問的地址。
如上所述，通過完成凹槽記錄處理，本發(fā)明的實(shí)施例使用光盤1來保存這樣的信息。但是注意到，本發(fā)明的范圍不局限于采用這種凹槽記錄技術(shù)的光盤1。例如，本發(fā)明還可應(yīng)用于通過完成陸地記錄操作以將數(shù)據(jù)保存到陸地上的光盤。另外，本發(fā)明還可應(yīng)用于通過完成凹槽/陸地記錄操作以將數(shù)據(jù)保存到凹槽和陸地上的光盤。
對于由該實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤1，在調(diào)制處理中采用了兩種調(diào)制方法，該調(diào)制處理產(chǎn)生傳送關(guān)于擺動(dòng)信號(hào)中地址信息的擺動(dòng)信號(hào)。一種方法是MSK(最小位移鍵控)調(diào)制方法。另一種調(diào)制方法是這樣一種技術(shù)，依據(jù)這種技術(shù)，偶數(shù)階次的較高次諧波信號(hào)被加到正弦載波信號(hào)中，并且較高次諧波信號(hào)的極性依賴于調(diào)制數(shù)據(jù)的代碼而改變。在以下的說明中，技術(shù)術(shù)語“HMW(諧波)調(diào)制方法”用來表示這種技術(shù)，如上所述，即依據(jù)該技術(shù)，偶數(shù)階次的較高次諧波信號(hào)被加到正弦載波信號(hào)中，并且較高次諧波信號(hào)的極性依賴于調(diào)制數(shù)據(jù)的代碼而改變。
由該實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤1經(jīng)過一個(gè)再現(xiàn)操作，完成產(chǎn)生具有一個(gè)塊的擺動(dòng)信號(hào)，該塊包括如圖3中所示MSK調(diào)制部分和HMW解調(diào)部分。擺動(dòng)信號(hào)是處理的結(jié)果，該處理完成調(diào)制具有預(yù)定頻率的正弦參考載波信號(hào)。載波信號(hào)的波形具有與該頻率響應(yīng)的周期，該塊形成該波形的預(yù)定數(shù)量的連續(xù)周期。MSK調(diào)制部分傳送關(guān)于用作MSK調(diào)制碼的地址信息，而HMW調(diào)制部分傳送關(guān)于用作HMW調(diào)制碼的地址信息。這就是說，在該塊中，關(guān)于用作MSK調(diào)制碼的地址信息被插入到的位置不同于關(guān)于用作HMW調(diào)制碼的地址信息的位置。另外，在MSK調(diào)制中使用的兩個(gè)正弦載波信號(hào)之一和在HMW調(diào)制中使用的載波信號(hào)被用作上述提到的參考載波信號(hào)。更進(jìn)一步，在該塊中，MSK調(diào)制和HMW調(diào)制部分被放置在彼此分開并相差至少一個(gè)周期的參考載波信號(hào)的位置上。
注意到，圖中所示的單調(diào)擺動(dòng)形成其長度等于幾個(gè)周期參考載波信號(hào)的部分，其中單調(diào)擺動(dòng)不進(jìn)行依據(jù)調(diào)制數(shù)據(jù)的調(diào)制處理。參考載波信號(hào)的周期被稱為擺動(dòng)周期。另外，在從最內(nèi)圓周到最外圓周的整個(gè)存儲(chǔ)區(qū)中，參考載波信號(hào)的頻率是固定的。從激光點(diǎn)沿記錄軌跡移動(dòng)的線速度來確定恒定值的頻率。
以下的說明解釋本實(shí)施例提供的稱為所謂DVR(數(shù)據(jù)或視頻記錄)光盤的高密度光盤的典型物理參數(shù)。
由本實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的熟知的DVR的光盤是一種采用相變方法在其上記錄數(shù)據(jù)的光盤。作為盤片尺寸，DVR盤片的直徑為120mm。另外，DVR盤的厚度為1.2mm，覆蓋層的厚度為0.1mm。這樣，從盤片尺寸的角度來看，DVR盤片的外觀與采用CD(壓縮盤)方法的盤片或采用DVD(數(shù)字多用盤)的盤片具有相似的外觀。
一種熟知的所謂藍(lán)色激光的激光被用于完成記錄和再現(xiàn)操作。藍(lán)色激光的波長為405nm。光學(xué)系統(tǒng)的NA被設(shè)置在0.85。
在其上記錄了相變標(biāo)記的軌跡，它們之間的軌跡間距被設(shè)置在0.32微米。這些軌跡具有每位0.12微米的線記錄密度。64KB的數(shù)據(jù)塊用作記錄/再現(xiàn)單元。DVR盤片的格式化效率為82％。這種具有12cm直徑的DVR盤片實(shí)現(xiàn)了23.3GB的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量。如上所述，通過采用凹槽記錄方法數(shù)據(jù)被記錄到了DVR盤片上。
圖4表示整個(gè)盤片的布局(或區(qū)結(jié)構(gòu))。
盤片表面上的區(qū)包括導(dǎo)入?yún)^(qū)，數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)，它們被布局在從內(nèi)圓周邊到外圓周邊方向上。
從記錄/再現(xiàn)的角度而言，盤片的表面包括熟知的PB區(qū)的只再現(xiàn)區(qū)，以及稱為RW區(qū)的記錄/再現(xiàn)區(qū)。PB區(qū)位于導(dǎo)入?yún)^(qū)的內(nèi)圓周，而RW區(qū)是從導(dǎo)入?yún)^(qū)的最外圓周伸展到導(dǎo)出區(qū)的區(qū)。
導(dǎo)入?yún)^(qū)是一個(gè)由半徑為24mm的圓周包圍的圓形區(qū)。半徑21mm到22.2mm的環(huán)區(qū)被稱為BCA(突發(fā)切割區(qū))。BCA是通過完成一個(gè)燃燒處理，采用在記錄層上雕刻標(biāo)記的記錄方法，特別為盤形記錄介質(zhì)記錄唯一ID的區(qū)。具體地說是形成每個(gè)具有圓形形狀的記錄標(biāo)記，并且將它們彼此同心地放置，以形成象條形碼的記錄數(shù)據(jù)。半徑22.2mm到23.1mm的環(huán)區(qū)被稱為預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)。
預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)是通過擺動(dòng)在盤片上形成的類似螺旋狀的凹槽，預(yù)先記錄數(shù)據(jù)的區(qū)。這些數(shù)據(jù)包括關(guān)于盤片的信息和預(yù)記錄的信息。關(guān)于盤片的信息的例子是記錄和再現(xiàn)功率條件，而預(yù)記錄的信息的例子是用于復(fù)制保護(hù)的信息。
唯一ID，關(guān)于盤片的信息和預(yù)記錄信息是只再現(xiàn)信息。也就是說，BCA和預(yù)記錄區(qū)是上述的PB區(qū)(或只再現(xiàn)區(qū))。
如上所述，預(yù)記錄信息包括復(fù)制保護(hù)信息，該信息用作完成如下的保護(hù)。
利用這個(gè)實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的光盤系統(tǒng)，登記的盤片驅(qū)動(dòng)器制造商或登記的盤片制造商每個(gè)均被提供了一個(gè)用作從事商業(yè)業(yè)務(wù)的介質(zhì)密鑰或驅(qū)動(dòng)密鑰。分配給制造商的介質(zhì)或驅(qū)動(dòng)器密鑰是表示該制造商已被登記的密鑰。
為了避免黑客問題，介質(zhì)或驅(qū)動(dòng)器密鑰作為復(fù)制保護(hù)的信息記錄在盤片上。包括介質(zhì)或驅(qū)動(dòng)器密鑰或盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備的盤形記錄介質(zhì)能使記錄和再現(xiàn)操作不能發(fā)生。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)最外的環(huán)，也就是半徑23.1mm到24.0mm的環(huán)，除了用作測試寫入?yún)^(qū)OPC外，還用作信息區(qū)Info1和Info2。
測試寫入操作區(qū)OPC用在寫操作中，該寫操作是完成試驗(yàn)的基礎(chǔ)，以便設(shè)置相變標(biāo)記的記錄和再現(xiàn)條件。記錄和再現(xiàn)條件的例子是用在記錄和再現(xiàn)操作中的激光光束的功率。也就是說，測試寫入?yún)^(qū)OPC是用作調(diào)節(jié)記錄和再現(xiàn)條件的區(qū)。
信息區(qū)Info1和Info2包括缺陷管理區(qū)(DMA)。缺陷管理區(qū)DMA記錄和再現(xiàn)管理關(guān)于盤片缺陷信息的信息。
半徑23.1mm到24.0mm用作導(dǎo)入?yún)^(qū)中RW區(qū)部分的最外環(huán)，是管理信息和其它信息被記錄到其中并作為以后要再現(xiàn)的相變標(biāo)記的區(qū)。在導(dǎo)入?yún)^(qū)中，這個(gè)最外環(huán)的結(jié)構(gòu)隨后將參考圖10和相繼的圖例詳細(xì)地說明。
半徑24.0mm到58.0mm的區(qū)是數(shù)據(jù)區(qū)。數(shù)據(jù)區(qū)是數(shù)據(jù)被實(shí)際記錄在其中并作為以后再現(xiàn)的相變標(biāo)記的區(qū)。
半徑58.0mm到58.5mm的區(qū)是導(dǎo)出區(qū)。導(dǎo)出區(qū)除了允許在搜索操作中發(fā)生溢出的緩沖區(qū)外，還包括與導(dǎo)入?yún)^(qū)中相似的缺陷管理區(qū)。
該區(qū)從導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)中間的半徑23.1mm的圓周開始，而以導(dǎo)出區(qū)結(jié)束，是相變標(biāo)記被記錄在其中并從中再現(xiàn)相變標(biāo)記的RW區(qū)(或記錄/再現(xiàn)區(qū))。
圖5A和5B包括了表示RW和PB區(qū)中記錄軌跡狀態(tài)的示意圖。更具體地說，圖5A是表示RW區(qū)中凹槽擺動(dòng)狀態(tài)的示意圖，而圖5B是表示PB區(qū)的預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)中凹槽擺動(dòng)狀態(tài)的示意圖。
在RW區(qū)，通過擺動(dòng)凹槽而在盤片上形成的類似螺旋狀的凹槽當(dāng)中，預(yù)先嵌入地址信息(ADIP)，用于跟蹤目的。
數(shù)據(jù)被記錄到在其中嵌入了地址信息的凹槽中，作為以后將被再現(xiàn)的相變標(biāo)記。
如圖5A所示，為在RW區(qū)形成的凹槽設(shè)置0.32微米的軌跡間距TP，以作為嵌入了ADIP地址信息的凹槽軌跡。
在軌跡上，記錄標(biāo)記被記錄成相變標(biāo)記。通過采用如RLL(1，7)PP調(diào)制方法的記錄技術(shù)，以每位0.12微米或每信道位0.08微米的線記錄密度將相變標(biāo)記記錄在軌跡上，其中RLL是有限運(yùn)行長度(Run Length Limited，有限游程長度)的縮寫，而PP是奇偶保留/禁止rmtr(重復(fù)的最小轉(zhuǎn)換游程長度)的縮寫。
標(biāo)記長度在范圍2T到8T內(nèi)，于是最小標(biāo)記長度是2T，其中1T是1個(gè)信道位的長度。
地址信息以69T擺動(dòng)周期和20nm(峰-峰值)擺動(dòng)幅值WA的擺動(dòng)形式嵌入到軌跡中。
地址信息具有與相變記的頻帶不重迭的頻帶，這樣地址信息的檢測和相變標(biāo)記的檢測就不會(huì)相互影響。
對于30KHz帶寬，以擺動(dòng)形式嵌入到軌跡中的地址信息的后記錄CNR(載波噪聲比)是30dB。包括由盤片變形、散焦?fàn)顟B(tài)和外部干擾這些擾所產(chǎn)生的影響的地址誤差率不大于1×10-3。
另一方面，由圖5B所示PB區(qū)中形成的凹槽所實(shí)現(xiàn)的軌跡，其間距和擺動(dòng)幅值比由圖5A所示的RW區(qū)中形成的凹槽所實(shí)現(xiàn)的軌跡的軌跡間距和擺動(dòng)幅值更大。
具體地說，在PB區(qū)，軌跡間距TP是0.35微米、擺動(dòng)周期是36T、而擺動(dòng)幅值WA是40nm(p-p)。更小的擺動(dòng)周期36T意味著預(yù)記錄信息的線記錄密度比嵌入到RW區(qū)凹槽中的ADIP信息的線記錄密度更高。另外，由于記錄在RW區(qū)的相變標(biāo)記具有如上所述的最小長度2T，所以，預(yù)記錄信息的線記錄密度比相變標(biāo)記的線記錄密度更低。相變標(biāo)記沒有被記錄到PB區(qū)的軌跡上。
在RW區(qū)的擺動(dòng)波形可以是正弦波，而在PB區(qū)可以是正弦波或者矩形波。
對于30KHz的帶寬，如果相變標(biāo)記的信號(hào)質(zhì)量是50dB的CNR，那么，通過ECC(糾錯(cuò)碼)添加到數(shù)據(jù)中而將數(shù)據(jù)記錄到盤片上，并且隨后可從盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)。在這種情況下，在糾錯(cuò)之后的符號(hào)誤差率可以被抑制在不大于10-16的值，以便在向盤片記錄數(shù)據(jù)和從盤片再現(xiàn)數(shù)據(jù)的操作中可以使用相變標(biāo)記。
對于30KHz的帶寬，ADIP信息的擺動(dòng)CNR是35dB。這種35dB的擺動(dòng)CNR是與前面引述的30dB的后記錄CNR相反，是沒有記錄相變標(biāo)記的擺動(dòng)CNR。
假定根據(jù)所謂的連續(xù)性辨別完成了插值保護(hù)，那么，對于地址信息，具有該階次值的信號(hào)質(zhì)量被認(rèn)為足夠的。但是，對于記錄在PB區(qū)的預(yù)先記錄信息，象相變標(biāo)記的信號(hào)質(zhì)量情況中的那樣，還希望確保由至少50dB的CNR所代表的信號(hào)質(zhì)量。為此，如圖5B中所示的，PB區(qū)包括一個(gè)凹槽，該凹槽是作為在物理上不同于在RW區(qū)中形成的凹槽而形成的凹槽。
具體地說，在預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)中，首先，通過增加軌跡間距，可以減少串?dāng)_量，通過加倍擺動(dòng)幅值WA，可以將CNR提高+6dB。
其次，通過使用矩形作為擺動(dòng)波，CNR還能增大+2dB以得到改進(jìn)的43dB的CNR。
在預(yù)記錄區(qū)中相變標(biāo)記和擺動(dòng)之間的記錄頻帶的差別在于，一個(gè)擺動(dòng)的長度是18T，它等于擺動(dòng)周期36T的一半，而在相同情況下相變標(biāo)記的長度被設(shè)置在2T上，在這種情況下，可以獲得CNR進(jìn)一步增加了9.5dB的結(jié)果。
這樣，預(yù)記錄信息的CNR可以增加到約52.5dB，即使對于估計(jì)的-2dB的串?dāng)_量，也可以實(shí)現(xiàn)50.5dB的CNR。也就是說，得到了與相變標(biāo)記大約為相同階次的信號(hào)質(zhì)量。結(jié)果，在記錄和再現(xiàn)預(yù)記錄信息的操作中，使用擺動(dòng)信號(hào)是十分正確的。
圖6是表示使用預(yù)記錄信息以在預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)中形成擺動(dòng)凹槽方法的示意圖。調(diào)制處理是產(chǎn)生FM碼的FM調(diào)制處理。
圖6(a)表示數(shù)據(jù)位，圖6(b)表示信道時(shí)鐘信號(hào)。圖6(c)表示FM碼，圖6(d)表示擺動(dòng)波。
1的數(shù)據(jù)位值是2ch(2個(gè)信道時(shí)鐘信號(hào))，以產(chǎn)生頻率等于信道時(shí)鐘信號(hào)頻率一半的FM碼。0的數(shù)據(jù)位值是頻率等于1的數(shù)據(jù)位值產(chǎn)生的FM碼頻率的一半的FM碼。
記錄在凹槽上的擺動(dòng)波形可以是沒有變化的FM碼的矩形波形。但是，在圖6(d)所示擺動(dòng)波形的情況下，F(xiàn)M碼的矩形波形被轉(zhuǎn)換為正弦波形。
注意到可以對圖6(c)和圖6(d)中分別表示的FM碼和擺動(dòng)波形進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以產(chǎn)生圖6(e)和6(f)分別表示的FM碼和擺動(dòng)波形。
假定上述說明的FM碼調(diào)制規(guī)則應(yīng)用到圖6(g)所示的數(shù)據(jù)位流‘10110010’上。在這種情況下，分別得到圖6(h)和6(i)所示的FM碼波形和正弦擺動(dòng)波形。
注意到，當(dāng)模式分別對應(yīng)于圖6(e)和6(f)時(shí)，分別得到圖6(j)和6(k)所示的FM碼波形和正弦擺動(dòng)波形。
2ECC格式的數(shù)據(jù)參考圖7、8和9，下面的說明解釋ECC格式的相變標(biāo)記和預(yù)記錄信息。
首先，參考圖7A到7D，這些圖包括了表示作為相變標(biāo)記而記錄和再現(xiàn)的ECC格式的主數(shù)據(jù)(或用戶數(shù)據(jù))和管理數(shù)據(jù)。
對于ECC(糾錯(cuò)碼)，使用兩種不同碼。一種碼是為64KB(＝32扇區(qū)×每扇區(qū)2048個(gè)字節(jié))的主數(shù)據(jù)提供的LDC(長距離碼)。另一種碼是BIS(突發(fā)指示符子碼)。
圖7A所示的64KB的主數(shù)據(jù)經(jīng)過圖7B所示的ECC編碼處理。在ECC編碼處理中，4B的EDC(檢錯(cuò)碼)被加到主數(shù)據(jù)的每2048B的扇區(qū)上。LDC是為主數(shù)據(jù)的32個(gè)扇區(qū)編碼的。LDC是RS(248，216，33)。意思是碼長248、數(shù)據(jù)216、距離33的RS(里德-索羅蒙)碼。有304個(gè)碼字。
另一方面，如圖7D所示，BIS經(jīng)過對圖7所示的720B個(gè)數(shù)據(jù)的ECC編碼處理。BIS是RS(62，30，33)。意思是碼長62、數(shù)據(jù)30，距離33的RS(里德-索羅蒙)碼。有24個(gè)碼字。
圖9A是表示在RW區(qū)中記錄的主數(shù)據(jù)的幀結(jié)構(gòu)的示意圖。
包括LDC和BIS的數(shù)據(jù)具有圖中所示的幀結(jié)構(gòu)。如圖中所示，該幀包括38B的數(shù)據(jù)，1B的BIS，38B的數(shù)據(jù)，1B的BIS，38B的數(shù)據(jù)，1B的BIS以及38B的數(shù)據(jù)，這樣，幀長度為155B。也就是說，該幀形成總量為152B(＝4片×38B)的數(shù)據(jù)，并且在每兩個(gè)連續(xù)的38B片的數(shù)據(jù)之間插入1B的BIS。
一個(gè)幀信宿FS用作幀同步信號(hào)，放在155B幀結(jié)構(gòu)前面的位置上。一個(gè)塊包括496個(gè)幀。
至于包含在數(shù)據(jù)中的LDC，具有偶數(shù)0，2等的碼字分別位于偶數(shù)的幀上，而具有奇數(shù)1，3等的碼字分別位于具有奇數(shù)1，3等的幀上。
BIS是糾錯(cuò)能力遠(yuǎn)優(yōu)于LDC的碼，可以糾正幾乎所有的錯(cuò)。這是因?yàn)锽IS對于碼長62的距離為33。
這樣，可以如下使用已經(jīng)檢出錯(cuò)的BIS符號(hào)。
在解碼ECC的處理中，首先解碼BIS。假定，在圖9A所示的幀結(jié)構(gòu)中，在兩個(gè)連續(xù)BIS所夾的38B數(shù)據(jù)中，或在幀同步FS和BIS之間檢測出了兩個(gè)錯(cuò)。在這種情況下，兩個(gè)錯(cuò)被認(rèn)為一個(gè)突發(fā)錯(cuò)誤。錯(cuò)誤指針被分配給每片的38B數(shù)據(jù)。在LDC中，有一個(gè)錯(cuò)誤指針被用于完成指針消除處理。采用這種方法，只用根據(jù)LDC與糾錯(cuò)處理進(jìn)行比較，就可以提高糾錯(cuò)能力。
BIS包括諸如地址信息。地址可以用在如不使用嵌入在擺動(dòng)凹槽中地址信息的ROM類型盤片的應(yīng)用中。
接下來，圖8A到8B表示了預(yù)記錄信息的ECC格式。而且在這種情況下，有兩種不同的碼用作ECC。一種碼是為4KB(＝2個(gè)扇區(qū)×每個(gè)扇區(qū)2048字節(jié))主數(shù)據(jù)提供的LDC(長距離碼)。另一種碼是BIS(突發(fā)指示符子碼)。
圖8A中所示的4KB預(yù)記錄信息的主數(shù)據(jù)經(jīng)過圖8B所示的ECC編碼處理。在ECC編碼處理中，4B的EDC(檢錯(cuò)碼)被加到主數(shù)據(jù)的每個(gè)2048B扇區(qū)中。為兩個(gè)扇區(qū)的主數(shù)據(jù)進(jìn)行LDC編碼。LDC是RS(248，216，33)。意思是碼長248、數(shù)據(jù)216、距離33的RS(里德-索羅蒙)碼。有19個(gè)碼字。
另一方面，如圖8D所示，BIS經(jīng)過對圖8C所示的120B個(gè)數(shù)據(jù)的ECC編碼處理。BIS是RS(62，30，33)。意思是碼長62、數(shù)據(jù)30、距離33的RS(里德-索羅蒙)碼。有24個(gè)碼字。
圖9B是表示在PB區(qū)記錄的預(yù)記錄信息的幀結(jié)構(gòu)的示意圖。
包括LDC和BIS的數(shù)據(jù)具有圖中所示的幀結(jié)構(gòu)。如圖中所示，一個(gè)幀形成1B的幀同步FS，10B的數(shù)據(jù)，1B的BIS，以及9B的數(shù)據(jù)，這樣長度為21B，也就是說，一幀包括19B的數(shù)據(jù)和插入到數(shù)據(jù)中的1B的BIS。
用作幀同步信號(hào)的幀信宿FS位于21B的幀結(jié)構(gòu)之前的位置上。一塊包括248個(gè)幀。
而且在這種情況下，BIS是糾錯(cuò)能力遠(yuǎn)優(yōu)于LDC的碼，幾乎可以糾正所有的錯(cuò)誤。這樣，可以如下使用已經(jīng)檢查出錯(cuò)的BIS符號(hào)。
在解碼ECC的處理中，首先解碼BIS。假定在兩個(gè)連續(xù)BIS所夾的圖10B或9B的數(shù)據(jù)中，或在幀同步FS和BIS之間檢測出兩個(gè)錯(cuò)。在這種情況下，兩個(gè)錯(cuò)被認(rèn)為一個(gè)突發(fā)錯(cuò)誤。錯(cuò)誤指針被分配給圖10B或9B的數(shù)據(jù)的每片。在LDC中，有一個(gè)錯(cuò)誤指針被用于完成指針消除處理。
采用這種方法，只根據(jù)LDC與糾錯(cuò)處理進(jìn)行比較，就可以提高糾錯(cuò)能力。
BIS包括諸如地址的信息。在預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)，預(yù)記錄信息已經(jīng)被記錄在擺動(dòng)凹槽中。這樣，由于擺動(dòng)凹槽不包括嵌入的地址，所以包括在BIS中的地址被用來訪問預(yù)記錄信息。
從圖7和圖8明顯看出，被記錄為相變標(biāo)記的數(shù)據(jù)和預(yù)記錄信息在ECC格式上具有相同的編碼和相同的結(jié)構(gòu)。
在再現(xiàn)被記錄為相變標(biāo)記的數(shù)據(jù)中，由于預(yù)記錄信息的ECC解碼處理可以通過使用一個(gè)完成ECC解碼處理的電路來實(shí)現(xiàn)，所以，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備的硬件結(jié)構(gòu)可以做得更有效。
3缺陷管理區(qū)3-1包括DMA的信息區(qū)以下的說明解釋糾錯(cuò)管理區(qū)的結(jié)構(gòu)，糾錯(cuò)管理區(qū)包含在導(dǎo)入?yún)^(qū)與RW區(qū)重疊的區(qū)域中。
如前面參考圖4所說明的，導(dǎo)入?yún)^(qū)是由半徑為24mm的圓周包圍的盤片的內(nèi)側(cè)圓周。在導(dǎo)入?yún)^(qū)中的最外環(huán)，也就是其半徑為23.1mm到24mm的環(huán)是與RW區(qū)相公共的部分。
圖10是表示RW區(qū)范圍的示意圖。如圖中所示，RW區(qū)包括前面提到的在導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的環(huán)。對于在RW區(qū)中的每個(gè)環(huán)帶區(qū)(zone)和區(qū)(area)，表示出了簇的數(shù)量。
注意到，一簇是包括32個(gè)扇區(qū)的64KB的數(shù)據(jù)單元，其中每個(gè)扇區(qū)具有2048個(gè)字節(jié)長度。
如圖10所示的，在導(dǎo)入?yún)^(qū)中的環(huán)包括信息區(qū)Info2、測試寫入?yún)^(qū)OPC、保留區(qū)和信息區(qū)Info1。信息區(qū)Info2是半徑為23.235mm到23.278mm的環(huán)形段。測試寫入?yún)^(qū)OPC是半徑為23.278mm到23.621mm的環(huán)形段。保留區(qū)是半徑為23.621mm到23.958mm的環(huán)形段。信息區(qū)Info1是半徑為23.958mm到24.000mm的環(huán)形段。
信息區(qū)Info1和Info2每個(gè)都包括缺陷管理區(qū)DMA和控制數(shù)據(jù)區(qū)。缺陷管理區(qū)DMA是一個(gè)用于保存缺陷管理信息的區(qū)，而控制數(shù)據(jù)區(qū)域是一個(gè)用于記錄控制信息的區(qū)。
測試寫入?yún)^(qū)OPC是一個(gè)對記錄和再現(xiàn)條件進(jìn)行測試的區(qū)。更具體地說，為了優(yōu)化諸如記錄激光功率的條件，在試驗(yàn)基礎(chǔ)上將數(shù)據(jù)寫入測試寫入?yún)^(qū)OPC。
保留區(qū)是在以后使用的備用區(qū)。
數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)密度包括0.32微米的軌跡間距和0.12微米/位的線密度。如果64KB的數(shù)據(jù)量作為一簇被記錄到盤片和從盤片再現(xiàn)，那么，信息區(qū)Info2具有256簇的存儲(chǔ)容量，測試寫入?yún)^(qū)OPC具有2048簇的存儲(chǔ)容量，保留區(qū)具有2048簇的存儲(chǔ)容量，并且信息區(qū)Info1具有256簇的存儲(chǔ)容量。
數(shù)據(jù)區(qū)是被在其上記錄和從其中再現(xiàn)用戶數(shù)據(jù)的區(qū)。數(shù)據(jù)區(qū)具有355603簇的存儲(chǔ)容量。因此，大約23.3GB(＝64KB×335603簇)的用戶數(shù)據(jù)可以被記錄到數(shù)據(jù)區(qū)和從數(shù)據(jù)區(qū)中再現(xiàn)。
導(dǎo)入?yún)^(qū)具有7429簇的存儲(chǔ)容量。導(dǎo)出區(qū)是用于存儲(chǔ)與記錄在信息區(qū)Info1和Info2中數(shù)據(jù)相似數(shù)據(jù)的區(qū)。因此，保存在導(dǎo)出區(qū)中的數(shù)據(jù)包括記錄在缺陷管理區(qū)DMA和控制數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)。
圖11A和11B是分別表示信息區(qū)Info1和Info2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
如圖11A所示，信息區(qū)Info1包括第一緩沖區(qū)、驅(qū)動(dòng)區(qū)、保留區(qū)、缺陷管理區(qū)DMA1、控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1和第二緩沖區(qū)。
第一緩沖區(qū)是將圖11A中所示的驅(qū)動(dòng)區(qū)與圖10中所示的保留區(qū)分開的區(qū)。第一緩沖區(qū)區(qū)具有32簇的大小。
驅(qū)動(dòng)區(qū)是將盤片的最優(yōu)記錄和再現(xiàn)條件作為數(shù)據(jù)保存的區(qū)域。從根據(jù)試驗(yàn)將數(shù)據(jù)寫入到測試寫入?yún)^(qū)OPC的操作的結(jié)果發(fā)現(xiàn)，最優(yōu)記錄和再現(xiàn)條件包括了最優(yōu)值。驅(qū)動(dòng)區(qū)具有32簇的存儲(chǔ)容量。
保留區(qū)是將來用到的備用區(qū)。保留區(qū)具有96簇的大小。
缺陷管理區(qū)DMA1是用來記錄和再現(xiàn)缺陷管理信息的區(qū)，該缺陷管理信息與記錄在缺陷管理區(qū)DMA2中的信息相同。缺陷管理區(qū)DMA1具有32簇的存儲(chǔ)容量。
控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1是一個(gè)記錄和再現(xiàn)信息的區(qū)，該信息與記錄在控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA2中的信息相同。控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1具有32簇的存儲(chǔ)容量。
第二緩沖區(qū)是將控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1與數(shù)據(jù)區(qū)分開的區(qū)。第二緩沖區(qū)具有32簇的大小。
如圖11B中所示，信息區(qū)Info2包括保留區(qū)、缺陷管理區(qū)DMA2、控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA2和一個(gè)緩沖區(qū)。
保留區(qū)是將來使用的備用區(qū)。保留區(qū)具有160簇的大小。缺陷管理區(qū)DMA2具有32簇的存儲(chǔ)容量?？刂茢?shù)據(jù)區(qū)CDA2是用于記錄控制信息的區(qū)?？刂茢?shù)據(jù)區(qū)CDA2具有32簇的存儲(chǔ)容量。
緩沖區(qū)是用于將控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA2與測試寫入?yún)^(qū)OPC分開的區(qū)。緩沖區(qū)具有32簇的大小。
從圖10可見，包括缺陷管理區(qū)DMA1的信息區(qū)Info1在是這樣的區(qū)域上形成的，該區(qū)域在盤片的徑向上，同提供給包含缺陷管理區(qū)DMA2的信息區(qū)Info2的區(qū)域是分開的。另外，信息區(qū)Info1和Info2在盤片的徑向上被夾在中間的測試寫入?yún)^(qū)OPC和保留區(qū)而彼此分開。在該實(shí)施例中，信息區(qū)Info1和Info2在盤片徑向上被大約0.7mm的距離彼此分開。
于是，即使信息區(qū)Info1和Info2當(dāng)中具體的一個(gè)缺陷管理區(qū)DMA被損傷或缺陷所損壞，也不會(huì)出現(xiàn)這種可能，即該損壞對信息區(qū)Info1和Info2中另一個(gè)區(qū)的缺陷管理區(qū)DMA產(chǎn)生影響。這就是說，幾乎不存在兩個(gè)缺陷管理區(qū)DMA1和DMA2被同時(shí)損壞以致記錄和再現(xiàn)操作不可能在兩個(gè)區(qū)上完成的情況。按照這種方式，可以提供缺陷管理區(qū)DMA的可靠性。
缺陷管理區(qū)DMA1和DMA2彼此分開的效果還保持了控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1和CDA2的真實(shí)性。這就是說，幾乎沒有兩個(gè)控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA1和CDA2被同時(shí)損壞以致記錄和再現(xiàn)操作不可能在兩個(gè)區(qū)上完成的情況。于是，還可以提高控制數(shù)據(jù)區(qū)CDA的可靠性。
從圖10中顯而易見，測試寫入?yún)^(qū)OPC是除了保留區(qū)外包含在導(dǎo)入?yún)^(qū)的部分中最大的區(qū)。于是，通過設(shè)計(jì)布局，在其中信息區(qū)Info1和Info2至少將測試寫入?yún)^(qū)OPC夾在其中，信息區(qū)Info1和Info2在盤片的徑向上被彼此有效地分開。信息區(qū)Info1和Info2彼此之間被有意分開是為了提供希望的布局，在這種布局中一個(gè)信息區(qū)的損壞不會(huì)影響另一個(gè)信息區(qū)。
3-2具有備用區(qū)的DMA結(jié)構(gòu)以下的說明解釋缺陷管理區(qū)DMA也就是分別包含在信息區(qū)Info1和Info2中的DMA1和DMA2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
圖12是表示缺陷管理區(qū)DMA也就是DMA1和DMA2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
如圖11A和11B中所示的，缺陷管理區(qū)DMA也就是DMA1和DMA2每個(gè)都具有32簇的存儲(chǔ)容量。在圖12中所示的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中，從范圍1到32的簇序號(hào)被分配給指示保存在缺陷管理區(qū)DMA中每片信息(piece)數(shù)據(jù)位置的每個(gè)簇。每片信息(piece)的大小被表示成簇?cái)?shù)量。
缺陷管理區(qū)DMA包括一個(gè)由標(biāo)識(shí)為簇序號(hào)1到4的四個(gè)簇組成的段。每個(gè)簇被用來保存一個(gè)DDS(盤片定義結(jié)構(gòu))。
DDS的內(nèi)容將參考圖13來進(jìn)行說明。于是一個(gè)DDS具有一個(gè)簇的大小。因此，在由四個(gè)簇構(gòu)成的段中，四個(gè)連續(xù)的盤片定義結(jié)構(gòu)DDS被記錄在四個(gè)連續(xù)的位置上。
由標(biāo)識(shí)為簇序號(hào)5到8的四個(gè)簇所構(gòu)成的段被用作缺陷列表DL的第一位置。
由標(biāo)識(shí)為簇序號(hào)9到12的四個(gè)簇所構(gòu)成的段被用作缺陷列表DL的第二位置。
在此之后，由四個(gè)簇構(gòu)成的段每個(gè)被提供給缺陷列表DL的第三位置和后續(xù)位置。最后，由標(biāo)識(shí)為簇序號(hào)29到32的四個(gè)簇所構(gòu)成的段被用作缺陷列表DL的第七位置。
也就是說，在具有32簇大小的缺陷管理區(qū)DMA中，七個(gè)位置，也就是從第一到第七個(gè)位置，被分別提供用作缺陷列表DL。
如后面將說明的，缺陷列表DL被用來記錄四個(gè)簇?cái)?shù)量的數(shù)據(jù)，這將參考圖14進(jìn)行說明。開始時(shí)，缺陷列表DL被記錄在第一位置。第二到第七位置被分別作為缺陷列表DL位置的備用區(qū)。
圖13是表示DDS的內(nèi)容的示意圖。
如前面所述，DDS具有一個(gè)簇(＝32扇區(qū))大小。在圖13中表示的每個(gè)數(shù)據(jù)幀占據(jù)一個(gè)具有2048字節(jié)的扇區(qū)。于是，一個(gè)簇大小的DDS有數(shù)據(jù)幀0到31。
在數(shù)據(jù)幀中的字節(jié)位置在數(shù)據(jù)幀的第一字節(jié)。數(shù)據(jù)項(xiàng)目的字節(jié)計(jì)數(shù)是字節(jié)的數(shù)量。
第一數(shù)據(jù)幀或數(shù)據(jù)幀0被用來定義每個(gè)數(shù)據(jù)項(xiàng)目。
從字節(jié)位置0開始的兩個(gè)字節(jié)被用來記錄表示該簇是DDS簇的DDS識(shí)別符。
在字節(jié)位置2的一個(gè)字節(jié)被用來表示DDS格式的版本。
從字節(jié)位置4開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄DDS更新計(jì)數(shù)。
從字節(jié)位置16開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄驅(qū)動(dòng)區(qū)的第一PSN(物理扇區(qū)序號(hào))。用來代表驅(qū)動(dòng)區(qū)的開始位置，該第一PSN是驅(qū)動(dòng)區(qū)的第一扇區(qū)的扇區(qū)物理地址。
從字節(jié)位置24開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄缺陷列表DL的第一PSN。用來代表缺陷列表DL的開始位置，該第一PSN是該缺陷列表DL的第一扇區(qū)的扇區(qū)物理地址。
從字節(jié)位置32開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄PSN，該P(yáng)SN代表數(shù)據(jù)區(qū)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中LSN(邏輯扇區(qū)序號(hào))0的位置。后面將參考圖16來說明用戶數(shù)據(jù)區(qū)。
從字節(jié)位置36開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄PSN，該P(yáng)SN代表數(shù)據(jù)區(qū)中用戶數(shù)據(jù)區(qū)最后一個(gè)LSN的位置。
從字節(jié)位置40開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄數(shù)據(jù)區(qū)中ISA(內(nèi)部備用區(qū))的大小。
從字節(jié)位置44開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄數(shù)據(jù)區(qū)中OSA(外部備用區(qū))的大小。
在字節(jié)位置52的一個(gè)字節(jié)被用來保存內(nèi)部備用區(qū)ISA和外部備用區(qū)OSA的滿標(biāo)記。滿標(biāo)記是指示備用區(qū)是否滿的標(biāo)記。
在字節(jié)位置54的一個(gè)字節(jié)被用來保存盤片驗(yàn)證標(biāo)記，通過在盤片上完成如校驗(yàn)處理的檢查操作，該標(biāo)記用來指示該盤片是否已經(jīng)驗(yàn)證。
從字節(jié)位置56開始的四個(gè)字節(jié)被用來記錄在盤片上完成的校驗(yàn)處理中的最后一個(gè)地址的指針。
除上述說明外的其它字節(jié)和數(shù)據(jù)幀1到31在數(shù)據(jù)幀0中是保留的。
接著，參考圖14來說明缺陷列表DL的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。如前面參考圖12所說明的，缺陷列表DL被保存在具有4簇存儲(chǔ)容量的記錄區(qū)中。
在圖14所示數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中的簇序號(hào)/數(shù)據(jù)幀指示具有4個(gè)簇大小的缺陷列表DL中數(shù)據(jù)項(xiàng)目的位置。注意到，1簇＝32數(shù)據(jù)幀，且一個(gè)數(shù)據(jù)幀＝2048字節(jié)。
在數(shù)據(jù)幀中的字節(jié)位置是數(shù)據(jù)幀中數(shù)據(jù)項(xiàng)目的開頭位置。
字節(jié)計(jì)數(shù)是字節(jié)數(shù)量，也就是數(shù)據(jù)項(xiàng)目大小。
缺陷列表DL的第一64字節(jié)是數(shù)據(jù)項(xiàng)目，如熟知的缺陷列表DL的引導(dǎo)頭。
缺陷列表DL的引導(dǎo)頭包括數(shù)據(jù)，比如這些簇是缺陷列表DL的簇、版本、缺陷列表DL更新的次數(shù)以及缺陷列表DL中項(xiàng)目的數(shù)量這些信息。
被用來保存缺陷列表的區(qū)緊隨缺陷列表DL引導(dǎo)頭之后。缺陷列表包括缺陷列表DL的項(xiàng)目。
每個(gè)項(xiàng)目具有下面參考圖15所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。用于保存缺陷列表的區(qū)在簇0/幀0的字節(jié)64開始。
長度8字節(jié)的缺陷列表終止符直接跟隨該缺陷列表。
缺陷列表終止符的前4個(gè)字節(jié)是識(shí)別符‘FF FF FF FFh’，表示這4個(gè)字節(jié)是缺陷列表終止符。
之后的4個(gè)字節(jié)用于保存缺陷列表更新數(shù)量。缺陷列表更新數(shù)量與記錄在缺陷列表DL引導(dǎo)頭中的缺陷列表更新數(shù)量具有相同的值。這4個(gè)字節(jié)被識(shí)別為缺陷列表DL的結(jié)束。剩余的字節(jié)是保留字節(jié)。
圖15是表示在缺陷列表中記錄的每個(gè)DL項(xiàng)目的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
DL項(xiàng)目具有8個(gè)字節(jié)(＝64位)長度，從字節(jié)0到字節(jié)7。每個(gè)字節(jié)包括位0到位7。
項(xiàng)目(i)的字節(jié)0的位7到4用作項(xiàng)目的記錄狀態(tài)信息(狀態(tài)1)。
在由這個(gè)項(xiàng)目代替的另一個(gè)項(xiàng)目上，狀態(tài)1信息包括每個(gè)可以用作這個(gè)項(xiàng)目備用項(xiàng)目的項(xiàng)目，以及每個(gè)不能用作這個(gè)項(xiàng)目備用項(xiàng)目的項(xiàng)目。
由這個(gè)項(xiàng)目字節(jié)0的位3到位0，以及字節(jié)1到3的位組成的30位用于保存缺陷簇的第一個(gè)PSN。缺陷簇的第一個(gè)PSN是該缺陷簇的第一個(gè)扇區(qū)的物理地址。也就是說，由備用簇代替并被認(rèn)為是缺陷簇的簇，是由作為該缺陷簇第一個(gè)扇區(qū)物理地址的第一個(gè)PSN來代表的。
該項(xiàng)目的字節(jié)2的位7到4用于記錄該項(xiàng)目的其它狀態(tài)信息(狀態(tài)2)。該狀態(tài)信息(狀態(tài)2)被保留。
由字節(jié)4的位3到位0，以及字節(jié)5到7的位組成的這30位組成用于保存?zhèn)溆么氐牡谝粋€(gè)PSN。備用簇的第一個(gè)PSN是該備用簇的第一個(gè)扇區(qū)的物理地址。也就是說，如果缺陷由備用簇代替，那么，用作缺陷簇替代簇的該備用簇就由作為該備用簇的第一個(gè)扇區(qū)物理地址的這個(gè)第一個(gè)PSN來代表。
如上所述，DL項(xiàng)目表示被認(rèn)為是缺陷簇的簇，如果完成了由備用簇代替該缺陷簇的替換簇處理，那么，用作一個(gè)區(qū)并作為該缺陷簇替代簇的備用簇，也被表示在缺陷列表DL項(xiàng)目中。
然后，利用圖14所示的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，在缺陷列表DL(或一個(gè)列表缺陷)中，給這樣一個(gè)項(xiàng)目編制目錄。
如前面在圖12中解釋的那樣，缺陷管理區(qū)DMA有七個(gè)區(qū)，其中每一個(gè)都可用來保存圖14中所示的缺陷列表DL。
依據(jù)缺陷簇的狀態(tài)，一般地，通過添加新項(xiàng)目來更新缺陷列表DL。當(dāng)缺陷列表DL被更新后，將完成伴隨更新缺陷列表DL操作的處理。該處理包括更新包含在缺陷列表DL引導(dǎo)頭中的更新計(jì)數(shù)，作為缺陷列表更新的次數(shù)。也就是說，保存在缺陷管理區(qū)中的信息在需要時(shí)是時(shí)常更新的。
開始時(shí)，缺陷列表DL被記錄在缺陷管理區(qū)DMA中DL的第一位置上。此時(shí)，將缺陷列表更新的初始次數(shù)編目在缺陷列表DL引導(dǎo)頭中，并在以后更新。
例如，假設(shè)在某個(gè)時(shí)間點(diǎn)上，缺陷列表更新次數(shù)達(dá)到1000，或者因?yàn)槟撤N原因所記錄的缺陷列表DL不能被再現(xiàn)。在這種情況下，記錄缺陷列表DL的區(qū)需要由備用記錄區(qū)代替。具體地說，缺陷列表DL隨后被記錄在缺陷列表DL的第二個(gè)位置上。
利用相同的記號(hào)，如果缺陷列表更新次數(shù)達(dá)到1000，或者所記錄的缺陷列表DL不能在其后被再現(xiàn)，提供給缺陷列表DL的備用記錄區(qū)，也就是，缺陷列表DL的第三個(gè)到第七個(gè)位置的每一個(gè)都被一個(gè)區(qū)接一個(gè)區(qū)地使用，作為替代區(qū)。
通過在缺陷管理區(qū)DMA中提供多個(gè)記錄區(qū)，也就是，缺陷列表DL的第一個(gè)到第七個(gè)位置，作為保存實(shí)際缺陷管理信息的缺陷列表DL的當(dāng)前使用活動(dòng)區(qū)，并且，將每個(gè)備用區(qū)用作上述當(dāng)前使用區(qū)的替代區(qū)，那么，依據(jù)如缺陷列表更新次數(shù)和/或誤差狀態(tài)等參數(shù)，目前被使用的區(qū)就可以被一個(gè)備用區(qū)代替。也就是說，由于缺陷列表更新次數(shù)指示改寫操作的次數(shù)，所以，當(dāng)缺陷列表更新次數(shù)達(dá)到預(yù)定的限制時(shí)，保存缺陷列表DL的當(dāng)前使用活動(dòng)區(qū)就可以被一個(gè)備用區(qū)代替。
通過采用已知改寫操作次數(shù)限制的相變記錄方法，信息被記錄到缺陷管理區(qū)DMA中。如上所述，通過利用一個(gè)備用區(qū)代替當(dāng)前使用的活動(dòng)區(qū)，就可以解決超過改寫操作次數(shù)限制的問題。從而可能向可靠的缺陷管理區(qū)DMA記錄信息和從該DMA再現(xiàn)信息。
另外，如前面參考圖11A和11B所解釋的那樣，在導(dǎo)入?yún)^(qū)中，實(shí)際有兩個(gè)缺陷管理區(qū)DMA，也就是DMA1和DMA2。此外，在某些情況下，在導(dǎo)出區(qū)提供另一個(gè)缺陷管理區(qū)。
相同的信息被連續(xù)地記錄到缺陷管理區(qū)DMA1、DMA2和另一個(gè)缺陷管理區(qū)，一個(gè)區(qū)接一個(gè)區(qū)的，按照這些區(qū)被列出順序。
通過對記錄在缺陷管理區(qū)DMA的DDS中的更新計(jì)數(shù)進(jìn)行記錄，并通過對在具體缺陷管理區(qū)DMA中保存的缺陷列表DL引導(dǎo)頭中記錄的更新計(jì)數(shù)進(jìn)行記錄，就有可能確定保存在具體缺陷管理區(qū)DMA中的信息是否與保存在另一個(gè)缺陷管理區(qū)DMA中的信息相同。
如果發(fā)現(xiàn)保存在具體缺陷管理區(qū)DMA中的信息與保存在另一個(gè)缺陷管理區(qū)DMA中的信息不相同時(shí)，通過按照以下的優(yōu)先順序DMA1、DMA2、等等，將保存在前一個(gè)中的信息復(fù)制到后一個(gè)中，保存在這些缺陷管理區(qū)DMA中這些片的信息就一致了。
3-3數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)以下的說明解釋包含在數(shù)據(jù)區(qū)中作為備用區(qū)并通過使用缺陷列表DL來管理的區(qū)。
圖16是表示包括在數(shù)據(jù)區(qū)中分配的備用區(qū)的盤片布局。
數(shù)據(jù)區(qū)包括用戶數(shù)據(jù)被記錄在和從中再現(xiàn)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)。除了用戶數(shù)據(jù)區(qū)外，數(shù)據(jù)區(qū)還包括以下的備用區(qū)。
ISA(內(nèi)部備用區(qū))是在內(nèi)側(cè)的備用區(qū)。ISA包括2048簇，具有128 MB的存儲(chǔ)容量。另一方面，OSA包括16384簇，具有1024 MB的存儲(chǔ)容量。ISA具有固定的大小而OSA具有可變的大小。
首先，在圖12中所示的缺陷管理區(qū)DMA的DDS經(jīng)過初始化格式化處理，以將包括固定的內(nèi)部備用區(qū)大小以及可變的外部備用區(qū)大小的初始值這些信息記錄到DDS中。這樣，在初始化格式處理之后，ISA大小不會(huì)改變。
另一方面，即使在初始化格式化處理之后，OSA大小是可以改變的。在盤片用在如個(gè)人電腦的這樣設(shè)備的情況下，例如，希望有較長持續(xù)時(shí)間的操作以將AV流(或音頻/視頻流數(shù)據(jù))記錄到盤片上，并且有較長持續(xù)時(shí)間的操作以從盤片再現(xiàn)AV流。為了具有較長的持續(xù)時(shí)間，需要減少備用區(qū)的大小。但是，為了提高向盤片保存PC數(shù)據(jù)和從盤片再現(xiàn)PC數(shù)據(jù)的操作可靠性，卻希望有較大的備用區(qū)。
為了滿足上述兩種要求，在初始化格式化處理之后的盤片應(yīng)用過程中，當(dāng)盤片從向盤片保存PC數(shù)據(jù)和從盤片再現(xiàn)PC數(shù)據(jù)的操作切換到向盤片記錄AV流和從盤片再現(xiàn)AV流的操作時(shí)，在尺寸減小的方向改變OSA的尺寸是合適的。另一方面，當(dāng)盤片從向盤片保存AV流和從盤片再現(xiàn)AV流的操作切換到向盤片記錄PC數(shù)據(jù)和從盤片再現(xiàn)PC數(shù)據(jù)的操作時(shí)，在尺寸增大的方向改變OSA的尺寸是合適的。
注意到，在盤片專用來向盤片保存AV流和從盤片再現(xiàn)AV流的操作的情況下，備用區(qū)ISA和OSA的大小都被設(shè)置成0。具體地說，在DDS中ISA尺寸(內(nèi)部備用區(qū)尺寸)和OSA尺寸(外部備用區(qū)尺寸)都被設(shè)置為0。
在這種情況下，數(shù)據(jù)區(qū)被全部用作用戶數(shù)據(jù)區(qū)。另外，如果檢查到缺陷簇，只將缺陷簇編目在缺陷列表DL的項(xiàng)目中。但是，替換簇不編目在該項(xiàng)目中。
也就是說，在這種情況下，不對缺陷簇完成簇替換處理。相反，缺陷的簇只被編目為不可用的簇。
于是，在這種情況下，在記錄或再現(xiàn)操作中就不需要花費(fèi)時(shí)間來完成尋找備用簇的處理。結(jié)果，這種方案適合于實(shí)時(shí)地向盤片記錄AV流和從盤片再現(xiàn)AV流的操作。
另外，由于沒有備用區(qū)分配給代替的簇，就有可能增加可使用的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的尺寸，并且增加記錄和再現(xiàn)操作的持續(xù)時(shí)間。
4盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備以下的說明解釋用于向如前所述的光盤1記錄數(shù)據(jù)和從該光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備。
這種盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備通過在光盤1上完成格式化處理，將光盤1格式化成具有象參考圖4和圖10到16所說明的布局。采用相變記錄方法，并通過向光盤1記錄信息來完成這種格式化處理，其中在光盤1上已形成擺動(dòng)凹槽，用作前面所述的PB區(qū)和RW區(qū)。
然后，通過采用相變記錄方法，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備向格式化的光盤1記錄數(shù)據(jù)和從該光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
不必說，在格式化處理過程中或當(dāng)需要時(shí)，盤片管理區(qū)DMA也會(huì)被更新和/或信息也被記錄到盤片管理區(qū)DMA上。
圖17是表示盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備結(jié)構(gòu)方框圖。光盤1被安放在轉(zhuǎn)盤上，圖中未示出。在記錄和再現(xiàn)操作中，主軸電機(jī)52驅(qū)動(dòng)光盤1以恒定的線速度(CLV)旋轉(zhuǎn)。
然后，光學(xué)拾取器(或光學(xué)頭)51讀取嵌入在光盤1的RW區(qū)中作為擺動(dòng)凹槽軌跡的ADIP信息。光學(xué)拾取器(或光學(xué)頭)51還讀取嵌入在光盤1的PB區(qū)中作為擺動(dòng)形狀凹槽軌跡的預(yù)記錄信息。
在初始化格式化處理中或在將用戶數(shù)據(jù)記錄到光盤1的操作中，光學(xué)拾取51分別將管理信息或用戶數(shù)據(jù)作為相變標(biāo)記保存到RW區(qū)的軌跡中。另一方面，在再現(xiàn)操作中，光學(xué)拾取器51從RW區(qū)的軌跡中讀取所記錄的相變標(biāo)記。
光學(xué)拾取器51包括激光二極管、光探測器、物鏡和光學(xué)系統(tǒng)，這些在圖中未示出。激光二極管作為產(chǎn)生激光光束的激光源。光探測器探測反射的光束。物鏡是激光源產(chǎn)生的激光光束的輸出終端。光學(xué)系統(tǒng)通過物鏡使激光光束照射到光盤1的記錄面上，并將反射光束導(dǎo)引到光探測器上。
激光二極管產(chǎn)生具有405nm波長的所謂藍(lán)色激光。光學(xué)系統(tǒng)的NA是0.85。
物鏡以這樣的方式支撐在光學(xué)拾取器51的內(nèi)部，使得兩軸機(jī)構(gòu)在跟蹤和聚焦方向上能夠移動(dòng)物鏡。
另外，螺紋機(jī)構(gòu)53可在光盤1的徑向上移動(dòng)整個(gè)光學(xué)拾取器51。
在光學(xué)拾取器51中使用的激光二極管，在由激光驅(qū)動(dòng)器63所輸出的作為驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)電流驅(qū)動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生激光光束。
光探測器檢測被光盤1反射的光束所傳送的信息。也就是說，光探測器依據(jù)反射光束的光數(shù)量的產(chǎn)生電信號(hào)，并將該電信號(hào)提供給矩陣電路54。
光探測器包括多個(gè)光接收元件，這些接收元件向包括電流—電壓轉(zhuǎn)換電路和矩陣處理/放大電路的矩陣電路54輸出作為電信號(hào)的電流。矩陣電路54對該電信號(hào)完成矩陣操作處理以產(chǎn)生需要的輸出信號(hào)。
這些輸出信號(hào)包括代表再現(xiàn)數(shù)據(jù)的高頻信號(hào)(或再現(xiàn)數(shù)據(jù)信號(hào))，還有聚焦誤差信號(hào)，以及跟蹤誤差信號(hào)，這些信號(hào)被用來執(zhí)行伺服控制。
另外，作為擺動(dòng)形狀的檢測結(jié)果，矩陣電路54還輸出與擺動(dòng)形狀的凹槽相關(guān)的推拉信號(hào)。
矩陣電路54向讀取器/寫入器55提供再現(xiàn)的數(shù)據(jù)信號(hào)，向伺服電路61提供聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)，向擺動(dòng)電路58提供推拉信號(hào)。
讀取器/寫入器電路55通過PLL對再現(xiàn)數(shù)據(jù)信號(hào)完成二進(jìn)制轉(zhuǎn)換處理和再現(xiàn)時(shí)鐘產(chǎn)生處理，以便從光盤1讀出的數(shù)據(jù)，作為相變標(biāo)記。然后讀取器/寫入器電路55向調(diào)制器/解調(diào)器電路56提供再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
調(diào)制器/解調(diào)器電路56在再現(xiàn)操作中具有用作解碼器的功能部件，以及在記錄操作中用作編碼器的功能部件。
如在再現(xiàn)操作中完成的解碼處理那樣，解碼器根據(jù)再現(xiàn)的時(shí)鐘信號(hào)執(zhí)行解調(diào)處理，以產(chǎn)生有限游程長度碼。
ECC編碼器/解碼器57完成ECC編碼處理，以在記錄操作中向要記錄到光盤1中的數(shù)據(jù)添加糾錯(cuò)碼，還完成ECC解碼處理，以在再現(xiàn)操作中糾正包含在從光盤1再現(xiàn)的數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤。
在再現(xiàn)操作中，ECC編碼器/解碼器57在內(nèi)部存儲(chǔ)器中，保存由調(diào)制/解調(diào)電路56完成解調(diào)處理結(jié)果所得到的數(shù)據(jù)。然后，ECC編碼器/解碼器57對保存的數(shù)據(jù)完成各種處理，如檢錯(cuò)/糾錯(cuò)處理以及解交織處理，以產(chǎn)生再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
由ECC編碼器/解碼器57完成的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，這些再現(xiàn)數(shù)據(jù)完成解碼處理并被讀出，然后依據(jù)系統(tǒng)控制器60發(fā)出的命令，被傳遞給AV(音頻—視頻)系統(tǒng)120。
擺動(dòng)電路58處理從矩陣電路54接收的推拉信號(hào)，作為與凹槽的擺動(dòng)形狀相關(guān)的信號(hào)。更具體地說，擺動(dòng)電路58對傳送ADIP信息的推拉信號(hào)完成MSK和HMW解調(diào)處理，以產(chǎn)生代表ADIP的數(shù)據(jù)流。然后擺動(dòng)電路58向地址解碼器59提供該數(shù)據(jù)流。
地址解碼器59解碼提供給其的數(shù)據(jù)流，以產(chǎn)生地址，然后將這些地址提供給系統(tǒng)控制器60。
另外，為了產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)，地址解碼器59利用從擺動(dòng)電路8接收的擺動(dòng)信號(hào)完成PLL處理。然后地址解碼器59向其它元件輸出時(shí)鐘信號(hào)，例如在記錄操縱中完成解碼處理的時(shí)鐘信號(hào)。
由矩陣電路54產(chǎn)生的作為與凹槽擺動(dòng)形狀相關(guān)信號(hào)的推拉信號(hào)，可以是傳送PB區(qū)中記錄的預(yù)記錄信號(hào)的推拉信號(hào)。在擺動(dòng)電路58中，這樣的推拉信號(hào)在被提供給讀取器/寫入器電路55之前經(jīng)過帶通濾波處理。讀取器/寫入器電路55按照于相變標(biāo)記相同的方式對帶通濾波處理結(jié)果得到的數(shù)據(jù)完成二進(jìn)制轉(zhuǎn)換處理，以產(chǎn)生數(shù)據(jù)位流。讀取器/寫入器電路55向ECC編碼器/解碼器57輸出這些數(shù)據(jù)位流。然后ECC編碼器/解碼器57對這些數(shù)據(jù)位流完成ECC解碼處理和解交織處理以提取出要提供給系統(tǒng)控制器60的預(yù)記錄信息。
系統(tǒng)控制器60能夠在其它處理當(dāng)中，根據(jù)提取出的預(yù)記錄信息完成包括復(fù)制保護(hù)處理的各種處理。
另一方面，在記錄操作中，從AV系統(tǒng)120中接收要記錄的數(shù)據(jù)。這些要記錄的數(shù)據(jù)被保存到在ECC編碼器/解碼器57中作為緩沖區(qū)使用的存儲(chǔ)器中。
在這種情況下，ECC編碼器/解碼器57完成對保存在緩沖區(qū)中數(shù)據(jù)的ECC編碼處理。ECC編碼處理包括添加糾錯(cuò)碼的處理、交織處理和其它處理。
完成ECC編碼處理的數(shù)據(jù)被提供給調(diào)制/解調(diào)電路56，以采用RLL(1-7)PP方法執(zhí)行調(diào)制處理。調(diào)制處理的結(jié)果被提供給讀取器/寫入器電路55。
在記錄操作中完成這些編碼處理所使用的參考時(shí)鐘信號(hào)，如上所示，是從擺動(dòng)信號(hào)中產(chǎn)生的時(shí)鐘信號(hào)。
由這些編碼處理產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，象將要被記錄的數(shù)據(jù)那樣，在作為激光驅(qū)動(dòng)脈沖被輸出到激光驅(qū)動(dòng)器63之前要經(jīng)過由讀取器/寫入器55完成的記錄補(bǔ)償處理。記錄補(bǔ)償處理包括精細(xì)調(diào)節(jié)記錄功率和調(diào)節(jié)激光驅(qū)動(dòng)脈動(dòng)的波形。調(diào)節(jié)記錄功率以使對諸如記錄層特性、激光光束的點(diǎn)斜率和記錄線速度這樣的參數(shù)達(dá)到幅值最優(yōu)值。
激光驅(qū)動(dòng)器63向在光學(xué)拾取器51中使用的激光二極管提供這樣接收的激光驅(qū)動(dòng)脈沖。激光驅(qū)動(dòng)脈沖驅(qū)動(dòng)激光二極管發(fā)射激光光束。依據(jù)要被記錄的數(shù)據(jù)，激光光束在光盤1上形成凹坑(或相變標(biāo)記)。
注意到激光驅(qū)動(dòng)器63具有所謂的APC(自動(dòng)功率控制)電路，通過監(jiān)視從光盤拾取器51提供的檢測器的輸出，即作為檢測激光光束輸出功率的一種方法，來控制激光光束的輸出功率獨(dú)立于溫度和其它條件為恒定值。激光驅(qū)動(dòng)器63從系統(tǒng)控制器60接收記錄和再現(xiàn)操作的目標(biāo)值。這樣，在記錄和再現(xiàn)操作中，APC電路將激光光束的輸出功率分別控制到這些目標(biāo)值上。
伺服電路61從矩陣電路54接收的聚焦誤差和跟蹤誤差信號(hào)產(chǎn)生多種驅(qū)動(dòng)信號(hào)，向聚焦、跟蹤和螺紋機(jī)構(gòu)輸出伺服驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)它們的伺服操作。
詳細(xì)地說，伺服電路61根據(jù)聚焦誤差驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)產(chǎn)生聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，向光學(xué)拾取器51輸出聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以便驅(qū)動(dòng)在光學(xué)拾取器51中提供的兩軸機(jī)構(gòu)中所使用的聚焦線圈和跟蹤線圈。采用這種方法，光學(xué)拾取器51、矩陣電路54、伺服電路61和兩軸機(jī)構(gòu)形成跟蹤伺服回路和聚焦伺服回路。
伺服電路61可以依據(jù)從系統(tǒng)控制器60接收的跟蹤跳轉(zhuǎn)命令，關(guān)斷跟蹤回路。由于伺服回路關(guān)斷了，伺服電路61輸出跳轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)信號(hào)來完成跟蹤跳轉(zhuǎn)操作。
另外，激光驅(qū)動(dòng)器63海輸出螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)來驅(qū)動(dòng)線螺紋機(jī)構(gòu)53。伺服電路61依據(jù)螺紋誤差信號(hào)或依據(jù)由系統(tǒng)控制器60執(zhí)行的訪問執(zhí)行控制產(chǎn)生螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)。作為跟蹤誤差信號(hào)的低頻成分，獲得了螺紋誤差信號(hào)。螺紋機(jī)構(gòu)53是根據(jù)如傳送齒輪、螺紋電機(jī)或支撐光學(xué)拾取器51主軸等元件的機(jī)構(gòu)。注意到這些元件沒有在圖中表示出來。螺紋驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)螺紋電機(jī)按預(yù)定的滑動(dòng)運(yùn)動(dòng)來移動(dòng)光學(xué)拾取器51。
主軸伺服電路62執(zhí)行使主軸電機(jī)52以CLV旋轉(zhuǎn)的控制。
詳細(xì)地說，主軸伺服電路62獲得時(shí)鐘信號(hào)的頻率，作為主軸電機(jī)52當(dāng)前的旋轉(zhuǎn)速度，并且將當(dāng)前的旋轉(zhuǎn)速度與預(yù)定的CLV參考速度相比較以產(chǎn)生主軸誤差信號(hào)。時(shí)鐘信號(hào)是由為擺動(dòng)信號(hào)完成的PLL處理所產(chǎn)生的信號(hào)。
利用相同的記號(hào)，在從光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)的操作中，主軸伺服電路62得到再現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)的頻率作為主軸電機(jī)52的當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度，并且將當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度與預(yù)定CLV參考速度比較，以產(chǎn)生主軸誤差信號(hào)。再現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)是由讀取器/寫入器電路55內(nèi)部的PLL產(chǎn)生的，該再現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)用作解碼處理參考信號(hào)的信號(hào)。
然后，主軸伺服電路62向主軸電機(jī)52輸出依據(jù)主軸誤差信號(hào)所產(chǎn)生的軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)52以CLV旋轉(zhuǎn)。
依據(jù)從系統(tǒng)控制器60接收的主軸偏距和主軸制動(dòng)信號(hào)，主軸伺服電路62還產(chǎn)生軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)。主軸伺服電路62向主軸電機(jī)52輸出這樣的軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)以對主軸電機(jī)52進(jìn)行啟動(dòng)、停止、加速或減速操作。
由伺服系統(tǒng)和記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)完成的各種操作是由基于微機(jī)算計(jì)的系統(tǒng)控制器60來控制的。系統(tǒng)控制器60依據(jù)從AV系統(tǒng)120接收的命令完成各種處理。
例如假定AV系統(tǒng)120向系統(tǒng)控制器60發(fā)出寫命令。在這種情況下，首先，系統(tǒng)控制器60將光學(xué)拾取器51移動(dòng)到從AV系統(tǒng)120接收的數(shù)據(jù)要寫入的地址上。然后，ECC編碼/解碼器57和調(diào)制/解調(diào)電路56對數(shù)據(jù)完成前述的編碼處理。數(shù)據(jù)的例子是依據(jù)各種方法包括MPEG2技術(shù)而產(chǎn)生的音頻數(shù)據(jù)和視頻數(shù)據(jù)。最后，讀取器/寫入器電路55向激光驅(qū)動(dòng)器63提供激光驅(qū)動(dòng)脈沖，以便象前面所解釋的那樣將數(shù)據(jù)記錄到光盤1中。
另一個(gè)例子，假定AV系統(tǒng)120向系統(tǒng)控制器60發(fā)出讀命令，請求記錄的數(shù)據(jù)如MPEG2數(shù)據(jù)從光盤1中再現(xiàn)。在這種情況下，首先，完成對讀命令中具體指明的地址上目標(biāo)位置的搜索操作。詳細(xì)地說，主軸伺服電路62向伺服電路61發(fā)出搜索命令，請求伺服電路61驅(qū)動(dòng)光學(xué)拾取器51移動(dòng)，訪問搜索命中具體指明的地址上的目標(biāo)。
然后，執(zhí)行控制來完成必要的操作，向AV系統(tǒng)120傳送在具體指明地址上的段中保存的請求數(shù)據(jù)。詳細(xì)地說，在傳送給AV系統(tǒng)120之前，在讀取器/寫入器55、調(diào)制/解調(diào)電路56和ECC編碼器/解碼器57中，要從光盤1中讀出數(shù)據(jù)并對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼和緩沖處理。
注意到，在將數(shù)據(jù)記錄到光盤1和從光盤1中再現(xiàn)數(shù)據(jù)的操作中，這些數(shù)據(jù)如相變標(biāo)記，系統(tǒng)控制器60利用擺動(dòng)電路58檢測的ADIP地址和地址解碼器59，控制記錄和再現(xiàn)操作，以及伴隨著這些操作的訪問。
另外，在光盤1安裝到盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備的時(shí)間點(diǎn)上，系統(tǒng)控制器讀出記錄在光盤1的BCA中的唯一ID，以及保存在光盤1的預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)PR中作為嵌入在擺動(dòng)凹槽中信息的預(yù)記錄信息。
在這種情況下，首先，利用BCA和用作目標(biāo)的預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)PR來完成搜索操作。也就是說，系統(tǒng)控制器60向伺服電路61發(fā)出命令，要求伺服電路61，光學(xué)拾取器51移動(dòng)到光盤1的內(nèi)圓周側(cè)，以便訪問BCA和預(yù)記錄數(shù)據(jù)區(qū)(zone)PR。
然后，驅(qū)動(dòng)光學(xué)拾取器51來完成再現(xiàn)跟蹤操作，產(chǎn)生反射束，該反射光束帶傳送由推拉信號(hào)代表的信息。然后，驅(qū)動(dòng)擺動(dòng)電路58，讀取器/寫入器55以及ECC編碼器/解碼器57完成解碼處理，以產(chǎn)生BCA信息和預(yù)記錄信息，作為再現(xiàn)信息。
然后，系統(tǒng)控制器60根據(jù)從上述光盤1讀出的BCA信息和預(yù)記錄信息，設(shè)置激光功率并存完成復(fù)制保護(hù)處理。
注意到，在從光盤1再現(xiàn)預(yù)記錄信息的操作中，系統(tǒng)控制器60利用包含在BIS簇中的地址信息，作為從光盤1中讀出的預(yù)記錄信息，來控制再現(xiàn)操作以及伴隨該操作的訪問。
順便說一下，雖然在圖1 7中所示的實(shí)施例實(shí)現(xiàn)與AV系統(tǒng)120連接的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備，但本發(fā)明提供的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備還可以與如個(gè)人電腦等連接。
另外，本發(fā)明提供的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備可以是不與任何設(shè)備連接的獨(dú)立的設(shè)備。在這種情況下，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備中被提供了操作單元和顯示單元?？蛇x擇地，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備還可以這樣設(shè)計(jì)，使得同數(shù)據(jù)輸入和輸出接口的元件構(gòu)成不同于圖17中所示的結(jié)構(gòu)。也就是說，最好將盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備構(gòu)造在這樣的結(jié)構(gòu)，即在這種結(jié)構(gòu)中，是依據(jù)用戶完成的操作而將數(shù)據(jù)記錄到光盤1中和從光盤1中再現(xiàn)數(shù)據(jù)，并且為輸入和輸出各種類型的數(shù)據(jù)提供終端單元。
當(dāng)然，還有可能想象很多其它典型的結(jié)構(gòu)，如只記錄設(shè)備和只再現(xiàn)設(shè)備。
順便說一下，光盤1就可能以在初始格式化處理之前的狀態(tài)中，從工廠中發(fā)貨。如圖4所示，在這種預(yù)格式化狀態(tài)中，PB區(qū)包含了BCA和在擺動(dòng)凹槽中嵌入的預(yù)記錄數(shù)據(jù)，而RW區(qū)包含嵌入在擺動(dòng)凹槽中的記錄的ADIP地址。
在使用這樣的光盤1之前，需要對光盤1完成初始化格式化處理，以象圖10所示的那樣在導(dǎo)入?yún)^(qū)上形成數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。此時(shí)，通過在缺陷管理區(qū)DMA中適當(dāng)?shù)卦O(shè)置信息來確定在數(shù)據(jù)區(qū)中的備用區(qū)ISA和OSA。
在初始化格式化處理中，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備形成前面參考圖10到15所解釋的導(dǎo)入結(jié)構(gòu)(也就是缺陷管理區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu))，從而使光盤1具有如前所述的可靠缺陷管理區(qū)。
注意到，在光盤1從工廠發(fā)貨之前，盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備可用來完成初始化格式化處理。
參考圖18，以下的說明解釋由盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備完成的記錄/更新盤片管理信息(或缺陷列表DL)的處理。
圖18是一個(gè)流程圖，表示由系統(tǒng)控制器60執(zhí)行控制來完成的處理。
記錄/更新缺陷列表DL的處理從步驟F101開始，以確定是否能取回指向缺陷列表的DL指針。DL指針是缺陷列表DL的第一PSN。缺陷列表DL的第一PSN被記錄在圖13所示DDS中，并且如前所述，是缺陷列表DL的開始位置。該確定是通過從DDS中實(shí)際讀出DL指針來形成的。
注意到，DL指針由0到6值范圍的指針序號(hào)來識(shí)別，這些序號(hào)分別與缺陷列表DL的第一到第七個(gè)位置分別對應(yīng)，這已在前面參考圖12進(jìn)行了解釋。
如果DL指針不能從DDS中讀出，表示指針值沒有被記錄在DDS中，處理的流程轉(zhuǎn)到步驟F102，在該步驟中缺陷列表DL被記錄在缺陷列表DL的第一個(gè)位置上。缺陷列表DL的第一個(gè)位置對應(yīng)于DL指針＝0。另外，DL指針＝0的值或指向缺陷列表DL的開始位置的指針值被記錄在分配給缺陷列表DL的第一個(gè)PSN的DDS項(xiàng)目。
當(dāng)盤片驅(qū)動(dòng)器完成初始化格式化處理或在以后的處理中第一次記錄缺陷列表時(shí)，通過在盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備中使用的系統(tǒng)控制器60來完成步驟F101和F102的操作，以將缺陷列表DL記錄在分配給缺陷列表DL的第一個(gè)位置上。
另一方面，在步驟F101中，如果從DDS中可以讀出指向缺陷列表DL已記錄位置的DL指針，并且取回的DL指針是數(shù)字值“n”，那么處理流程轉(zhuǎn)到步驟F103。DL指針n，這里n是整數(shù)1、2、3、4、5、6或7，是分別指向缺陷列表DL的第一、第二、第三、第四、第五、第六或第七個(gè)位置的指針。
在步驟F103中，系統(tǒng)控制器60執(zhí)行控制來訪問由指針(DL指針)所指向的記錄區(qū)，并且讀出記錄在該區(qū)中的缺陷列表DL。
然后，在下一個(gè)步驟F104中，從缺陷列表DL的引導(dǎo)頭中讀出DL更新的次數(shù)或DL的改寫操作次數(shù)，并將其與預(yù)定的限制值典型是1000的“m”進(jìn)行比較，以確定DL更新的次數(shù)是否已超過該限制值“m”?？蛇x擇地，將在讀出缺陷列表DL的操作中檢測的SER(符號(hào)誤差率)與預(yù)先確定的限制j進(jìn)行比較，以確定SER是否已經(jīng)超過該限制值j。
如果判定的結(jié)果表示出DL更新的次數(shù)沒有超過限制值m或者SER沒有超過限制值j，那么處理的流程轉(zhuǎn)到步驟F105，在該步驟中，更新的DL被保存在由當(dāng)前指針(DL指針n)指向的記錄區(qū)中。
另一方面，如果在步驟F104中形成的判定結(jié)果指示出DL更新的次數(shù)已超過限制值m或SER已超過限制值j，那么由當(dāng)前的DL指針指向的記錄區(qū)被確定為已經(jīng)被徹底用盡。在這種情況下，處理的流程轉(zhuǎn)到步驟F106，在該步驟中由當(dāng)前指針(DL指針n)指向的記錄區(qū)被下一個(gè)指針(DL指針)＝(n+1)指向的下一個(gè)備用記錄區(qū)代替，并且更新的DL被保存在該下一個(gè)備用記錄區(qū)。
另外，指向缺陷列表DL的第一個(gè)位置的指針的值被從指針(DL指針)＝n的值更新為指針(DL指針)＝n+1的值，并被記錄在分配給缺陷列表DL第一個(gè)PSN的DDS項(xiàng)目。如上所述，DL指針＝(n+1)指向下一個(gè)備用記錄區(qū)。
于是，在由盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備完成的記錄和更新缺陷列表DL的處理中，如上所述，使用缺陷列表DL的第一到第七個(gè)位置之一，或者如果需要，被下一個(gè)備用記錄區(qū)代替，該備用記錄區(qū)也是在第一到第七個(gè)位置的剩余位置中選擇的。
因此，缺陷列表DL可被可靠地更新超過改寫操作最大次數(shù)的很多次。結(jié)果，就可能提高向光盤1記錄數(shù)據(jù)和從和光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)操作的可靠性。
以上說明解釋了由實(shí)施例實(shí)現(xiàn)的盤片以及由另一個(gè)實(shí)施例為盤片提供的盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備。但是，本發(fā)明的范圍并不局限于這些實(shí)施例。在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)范圍內(nèi)，只要是有變化的，可以對本實(shí)施例想象出各種各樣的變化。
例如，盤片可以是具有如兩層或三層的多個(gè)記錄層的多層盤片。在這種多層盤片的情況下，可能是提供多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，它們被布置在每個(gè)記錄層上形成的導(dǎo)入?yún)^(qū)當(dāng)中，徑向上彼此分開的區(qū)域中。管理數(shù)據(jù)區(qū)包括缺陷管理區(qū)DMA。每個(gè)缺陷管理區(qū)DMA包括記錄缺陷列表DL的區(qū)和備用區(qū)，其中每個(gè)備用區(qū)能用作記錄缺陷列表DL的區(qū)的替代區(qū)。
另外，還可能在盤片的外圓周上形成多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)包括缺陷管理區(qū)DMA。在這種情況下，管理數(shù)據(jù)區(qū)還被安排在徑向上彼此分開的區(qū)域上。而且在這種情況下，比較好的是，提供缺陷管理區(qū)DMA，而每個(gè)缺陷管理區(qū)DMA包括一個(gè)記錄缺陷列表DL的區(qū)以及每個(gè)都能作為記錄缺陷列表DL區(qū)的替代區(qū)的備用區(qū)。
本發(fā)明的工業(yè)應(yīng)用性說明如下從前面的說明顯而易見，本發(fā)明表示了以下的效果。
通過在盤形記錄介質(zhì)上，在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域的導(dǎo)入?yún)^(qū)中，提供多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)一般包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，可以獲得可靠的缺陷管理。另外，通過將多個(gè)缺陷管理區(qū)(信息區(qū)Info1和Info2)放置在盤形記錄介質(zhì)徑向彼此分開的位置上，并將一個(gè)具有相對較大尺寸的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)OPC夾在中間，可以進(jìn)一步提高缺陷管理區(qū)的可靠性。這是因?yàn)?，即使在缺陷管理區(qū)的一個(gè)區(qū)上存在缺陷、損傷等，該缺陷、損傷等也不會(huì)影響另外的缺陷管理區(qū)。結(jié)果，就可能形成可靠的缺陷管理區(qū)，并且通過使用缺陷管理區(qū)來執(zhí)行缺陷管理。
更進(jìn)一步，通過為每個(gè)缺陷管理區(qū)提供多個(gè)記錄區(qū)，它們包括當(dāng)前使用的記錄缺陷管理信息的記錄區(qū)以及每個(gè)都能用作當(dāng)前使用的記錄區(qū)的替代區(qū)的備用，依據(jù)當(dāng)前使用的記錄區(qū)的更新計(jì)數(shù)或這個(gè)當(dāng)前使用的記錄區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)，當(dāng)前使用的記錄區(qū)可以由一個(gè)備用區(qū)來代替。
這樣，更新計(jì)數(shù)是改寫保存在當(dāng)前使用的記錄區(qū)中缺陷管理信息的數(shù)據(jù)的次數(shù)。典型地，更新計(jì)數(shù)被記錄在盤片上，因此可以從該盤片讀出以與預(yù)定的限制值進(jìn)行比較。如果更新計(jì)數(shù)大于預(yù)定的限制值，那么在此之后，更新缺陷列表就被記錄在一個(gè)備用區(qū)上，其中該備用區(qū)是被選擇作為當(dāng)前使用的記錄區(qū)的代替區(qū)。
因此，即使在強(qiáng)加了改寫操作計(jì)數(shù)限制值的光盤上，其中改寫操作計(jì)數(shù)是已改寫保存的缺陷管理信息的數(shù)據(jù)次數(shù)，也能以超過該限制值的次數(shù)來改寫已保存信息的數(shù)據(jù)。結(jié)果，可以以很高的可靠性向缺陷管理區(qū)記錄信息和從缺陷管理區(qū)再現(xiàn)信息。強(qiáng)加了改寫操作計(jì)數(shù)限制值的光盤例子是通過采用如上所述的相變記錄方法來在其上記錄數(shù)據(jù)的光盤。
依據(jù)本發(fā)明，通過將一個(gè)備用缺陷管理區(qū)作為當(dāng)前使用的缺陷管理區(qū)的替代區(qū)，其中當(dāng)前使用的缺陷管理由于在其上存在損傷、缺陷等而變得有缺陷了，就可能消除損傷、缺陷等的影響。由于可以消除這樣的影響，并且可以以超過關(guān)于改寫操作計(jì)數(shù)的限制值的次數(shù)來改寫已保存的信息，所以可以以極高的可靠性向缺陷管理區(qū)記錄信息和從缺陷管理區(qū)再現(xiàn)信息。
權(quán)利要求
1.一種盤形記錄介質(zhì)，包括一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)都包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，其中記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和管理數(shù)據(jù)區(qū)是在所述盤形記錄介質(zhì)上，在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中形成的，其中，所述管理數(shù)據(jù)區(qū)被放置的位置在所述盤形記錄介質(zhì)上徑向彼此分開、并將至少所述的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間。
2.依據(jù)權(quán)利要求1的盤形記錄介質(zhì)，其中所述缺陷管理區(qū)具有多個(gè)記錄區(qū)以及多個(gè)備用記錄區(qū)，所述記錄區(qū)包括一個(gè)用于記錄缺陷管理信息的當(dāng)前使用的記錄區(qū)，以及每個(gè)所述備用記錄區(qū)均可用作所述當(dāng)前使用記錄區(qū)的替代區(qū)。
3.一種盤片記錄方法，用于在盤形記錄介質(zhì)上、在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域形成一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)都包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，其中記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和管理數(shù)據(jù)區(qū)的形成是通過將所述管理數(shù)據(jù)區(qū)放置在所述盤形記錄介質(zhì)上徑向彼此分開、并且將至少所述的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間的位置上來實(shí)現(xiàn)的。
4.依據(jù)權(quán)利要求3的盤片記錄方法，其中所述缺陷管理區(qū)具有多個(gè)記錄區(qū)以及多個(gè)備用記錄區(qū)，所述記錄區(qū)包括一個(gè)用于記錄缺陷管理信息的當(dāng)前使用的記錄區(qū)，以及每個(gè)所述備用記錄區(qū)均可用作所述當(dāng)前使用記錄區(qū)的替代區(qū)。
5.一種盤片記錄方法，用于將信息記錄到盤形記錄介質(zhì)上，該盤形記錄介質(zhì)包括一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)都包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，其中記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和管理數(shù)據(jù)區(qū)是在所述盤形記錄介質(zhì)上、在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中形成的，其中所述管理數(shù)據(jù)區(qū)被放置在所述盤形記錄介質(zhì)上徑向彼此分開、并將至少所述的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間的位置上；所述缺陷管理區(qū)是作為一個(gè)具有多個(gè)記錄區(qū)和多個(gè)備用記錄區(qū)的區(qū)域而形成的，所述記錄區(qū)包括一個(gè)記錄缺陷管理信息的當(dāng)前使用的記錄區(qū)，以及每個(gè)所述備用記錄區(qū)均可用作所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的替代區(qū)，所述盤片記錄方法包括步驟在將所述缺陷管理信息記錄到所述盤形記錄介質(zhì)上的操作中，確定所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的更新計(jì)數(shù)或所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)，以給出確定的結(jié)果，以用作確定所述缺陷管理信息是否應(yīng)該被記錄到所述備用記錄區(qū)的任何指定的一個(gè)區(qū)中的基礎(chǔ)；如果所述缺陷管理信息記錄在所述指定的備用記錄區(qū)，則將所述指定的備用記錄區(qū)設(shè)置為所述當(dāng)前使用記錄區(qū)的所述替代區(qū)。
6.一種盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備，用于將信息記錄到盤形記錄介質(zhì)上，該盤形記錄介質(zhì)包括一個(gè)記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)，每個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)都包括一個(gè)缺陷管理區(qū)，其中記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)和管理數(shù)據(jù)區(qū)是在所述盤形記錄介質(zhì)上、在由預(yù)定半徑圓周所包圍的盤片內(nèi)側(cè)區(qū)域中形成的，其中所述管理數(shù)據(jù)區(qū)被放置在所述盤形記錄介質(zhì)上徑向彼此分開、并將至少所述的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)夾在中間的位置上；所述缺陷管理區(qū)具有多個(gè)記錄區(qū)和多個(gè)備用記錄區(qū)，所述記錄區(qū)包括一個(gè)用于記錄缺陷管理信息的當(dāng)前使用的記錄區(qū)，以及每個(gè)所述備用記錄區(qū)均可用作所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的替代區(qū)，所述盤片驅(qū)動(dòng)設(shè)備包括用于將所述信息記錄到所述盤形記錄介質(zhì)和從所述盤形記錄介質(zhì)再現(xiàn)所述信息的記錄裝置，以及控制裝置，該控制裝置用于在將所述缺陷管理信息記錄到所述盤形記錄介質(zhì)上的操作中，確定所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的更新計(jì)數(shù)或所述當(dāng)前使用的記錄區(qū)的錯(cuò)誤狀態(tài)，以給出確定的結(jié)果，以用作確定所述缺陷管理信息是否應(yīng)該被記錄到所述備用記錄區(qū)的任何指定的一個(gè)區(qū)中的基礎(chǔ)；記錄管理數(shù)據(jù)，如果所述缺陷管理信息記錄在所述指定的備用記錄區(qū)，則將所述指定的備用記錄區(qū)設(shè)置為所述當(dāng)前使用記錄區(qū)的所述替代區(qū)。
全文摘要
本發(fā)明能夠提高缺陷管理的可靠性。在盤片內(nèi)圓周預(yù)定徑向部分的區(qū)如導(dǎo)入?yún)^(qū)(zone)中，提供包括缺陷管理區(qū)的多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)以便得到可靠的缺陷管理。進(jìn)一步，包括缺陷管理區(qū)(信息區(qū)Info1，Info2)的多個(gè)管理數(shù)據(jù)區(qū)是在盤片徑向彼此分開的位置上形成的，以便將作為相對較大部分的記錄/再現(xiàn)條件調(diào)節(jié)區(qū)(OPC)夾在中間。而且，在缺陷管理區(qū)中，提供包括交換區(qū)的多個(gè)記錄區(qū)作為記錄缺陷管理信息的區(qū)，這樣，依據(jù)缺陷管理區(qū)更新數(shù)量和錯(cuò)誤狀態(tài)，就可以改變記錄區(qū)。
文檔編號(hào)G11B7/0045GK1554092SQ0380101
公開日2004年12月8日 申請日期2003年6月4日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月11日
發(fā)明者小林昭榮 申請人:索尼株式會(huì)社