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      光記錄介質(zhì)的反射層形成用的銀合金濺射靶的制作方法

      文檔序號(hào):6772438閱讀:301來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:光記錄介質(zhì)的反射層形成用的銀合金濺射靶的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種銀合金濺射靶,用于通過(guò)濺射法形成使用半導(dǎo)體激光等的激光束而對(duì)聲音、圖像、文字等的情報(bào)信號(hào)進(jìn)行播放或記錄·播放·消去的光記錄磁盤(CD-RW、DVD-RAM)等的光記錄介質(zhì)的全反射層以及半透明反射層(以下,包含兩者總稱為反射層)。
      背景技術(shù)
      在光記錄磁盤等的光記錄介質(zhì)中,具有激光入射側(cè)的第一的記錄層和與第一的記錄層相比在距激光源遠(yuǎn)處存在的第二的記錄層這兩個(gè)記錄層,此記錄層中使用相變記錄材料,反復(fù)進(jìn)行記錄·播放·消去。在上述光記錄介質(zhì)中,為了達(dá)到記錄高密度化,使用作為激光束的短波長(zhǎng)的青紫激光的研究廣泛進(jìn)行。此光記錄介質(zhì),為了在第二的記錄層對(duì)記錄信號(hào)進(jìn)行記錄·播放·消去,有必要使激光高效地透過(guò)與上述第二的記錄層相比設(shè)于激光入射側(cè)的半透明反射層。另外,為了在激光入射側(cè)的第一的記錄層對(duì)記錄信號(hào)進(jìn)行記錄·播放·消去,付與半透明反射層充分的冷卻效果,并且具有充分的反射率十分必要。
      作為滿足所述條件的光記錄磁盤(CD-RW、DVD-RAM)等的光記錄介質(zhì)的全反射層以及半透明反射層等的反射層,以往,使用的是Ag或Ag合金層,此Ag或Ag合金層在400~830nm的寬幅的波長(zhǎng)區(qū)域中的反射率高,特別是因?yàn)閷?duì)于用于光記錄介質(zhì)的高密度化記錄的短波長(zhǎng)的激光反射率大,所以適于使用。在上述Ag或Ag合金層的形成中,Ag、或Ag-Zn合金、Ag-Cu合金、Ag-Ni合金等的Ag合金構(gòu)成的靶,通過(guò)濺射而形成,這為大家所熟識(shí)(參照特開(kāi)昭57-186244號(hào)公報(bào),以及特開(kāi)2001-35014號(hào)公報(bào))。
      但是,現(xiàn)有的Ag或Ag合金層作為全反射層進(jìn)行使用時(shí),隨著記錄·播放·消去的反復(fù)進(jìn)行的次數(shù)的增加,其反射率下降,不能得到長(zhǎng)時(shí)間的充分的記錄播放耐性。此原因之一被認(rèn)為是對(duì)光記錄介質(zhì)反復(fù)進(jìn)行記錄·播放·消去,則受激光照射的全反射層的加熱、冷卻反復(fù)進(jìn)行,由此Ag或Ag合金層再結(jié)晶化,晶粒粗大化,所以反射率下降。
      此外,現(xiàn)有的Ag或Ag合金層作為半透明反射層進(jìn)行使用時(shí),還有激光的透過(guò)、反射效率不充分,半透明反射層消耗激光能的問(wèn)題。還有,隨著記錄·播放·消去的反復(fù)進(jìn)行的次數(shù)的增加,反射率·透過(guò)率發(fā)生變化,不能得到充分的記錄播放耐性。作為此原因之一被認(rèn)為是對(duì)光記錄介質(zhì)反復(fù)進(jìn)行記錄·播放·消去,則受激光照射的半透明反射層的加熱、冷卻反復(fù)進(jìn)行,由此半透明反射層的晶粒之間伴有擴(kuò)散的凝集使得再結(jié)晶化進(jìn)行,此外由于半透明反射層的膜厚很薄,所以由擴(kuò)散原子移動(dòng),因?yàn)樵記](méi)有了提供源,所以膜發(fā)生欠損、出現(xiàn)孔洞。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的第一的形態(tài),光記錄介質(zhì)的反射層形成用的銀合金濺射靶,由以下所示(1)~(4)的任一種的銀合金構(gòu)成。
      (1)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (2)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,此外還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (3)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (4)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,此外還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      還有,使用上述第一的形態(tài)中所記載的銀合金濺射靶,則能夠形成光記錄介質(zhì)的反射膜,但是在光記錄介質(zhì)的特別是形成全反射膜中,優(yōu)選使用調(diào)整為含有Zn為1質(zhì)量%以上,含有Al為0.5質(zhì)量%以上的銀合金濺射靶。
      因此還有,本發(fā)明的第二的形態(tài),形成光記錄介質(zhì)的全反射層用的銀合金濺射靶,由以下所示(6)~(9)的任一種的銀合金構(gòu)成。
      (6)含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (7)含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (8)含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (9)含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      另外,在形成光記錄介質(zhì)的半透明反射膜中,優(yōu)選使用調(diào)整為含有Zn為低于1質(zhì)量%,含有Al為低于0.5質(zhì)量%,此外根據(jù)必要,含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%的銀合金濺射靶。
      因此還有,本發(fā)明的第三的形態(tài),形成光記錄介質(zhì)的半透明反射層用的銀合金濺射靶,由以下所示(11)或(12)的任一種的銀合金構(gòu)成。
      (11)含有Zn0.1~低于1質(zhì)量%、Al0.1~低于0.5質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (12)含有Zn0.1~低于1質(zhì)量%、Al0.1~低于0.5質(zhì)量%,此外還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      本發(fā)明的濺射靶由以下方法制造而成,作為原料準(zhǔn)備了哪一個(gè)都是純度為99.99質(zhì)量%以上的高純度Ag、Zn以及Al,還有任一純度為99.9質(zhì)量%以上的Dy、La、Tb以及Gd,這些原料在高真空或惰性氣體氛圍中溶解,所得到的熔融金屬在真空或惰性氣體氛圍中進(jìn)行鑄造制成鑄錠,對(duì)這些鑄錠進(jìn)行熱加工后進(jìn)行機(jī)械加工。
      在基本不向Ag固溶的Ca、Be以及Si中,各元素的濃度分別為0.20質(zhì)量%與Ag進(jìn)行配合后,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后向爐內(nèi)填充Ar氣體使?fàn)t內(nèi)壓力達(dá)到大氣壓為止,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,預(yù)制成含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金,將此母合金通過(guò)在Ag中添加Zn以及Al進(jìn)行溶解鑄造制成鑄錠,對(duì)所得到的鑄錠通過(guò)熱加工,機(jī)械加工制造而成。
      此外,本發(fā)明的第四的形態(tài),光記錄介質(zhì)的反射層形成用的銀合金濺射靶,由以下所示(13)~(16)的任一種的銀合金構(gòu)成。
      (13)含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (14)含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (15)含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      (16)含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      形成本發(fā)明的銀合金反射層用的濺射靶由以下方法制造而成,作為原料準(zhǔn)備了哪一個(gè)都是純度為99.99質(zhì)量%以上的高純度Ag以及Cu,還有任一純度為99.9質(zhì)量%以上的Ni、Dy、La、Tb以及Gd,這些原料在高真空或惰性氣體氛圍中溶解,所得到的熔融金屬在真空或惰性氣體氛圍中進(jìn)行鑄造制成鑄錠,對(duì)這些鑄錠進(jìn)行熱加工后進(jìn)行機(jī)械加工。
      在基本不向Ag固溶的Ca、Be以及Si中,各元素的濃度分別為0.20質(zhì)量%與Ag進(jìn)行配合后,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后向爐內(nèi)填充Ar氣體使?fàn)t內(nèi)壓力達(dá)到大氣壓為止,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,制成含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金,還有同樣在基本不向Ag固溶的Ni中,使Ni的濃度為5~95質(zhì)量%與Cu進(jìn)行配合后,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后在真空氛圍中,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,制成含有Ni的Cu的母合金,將這些母合金根據(jù)必要通過(guò)與Cu進(jìn)行添加溶解鑄造制成鑄錠,對(duì)所得到的鑄錠通過(guò)熱加工,機(jī)械加工制造而成。
      具體實(shí)施例方式
      本發(fā)明者們?yōu)榱说玫郊词乖龃蠓磸?fù)進(jìn)行記錄·播放·消去的次數(shù)也很少有全反射層的反射率下降,還有即使增大反復(fù)進(jìn)行記錄·播放·消去的次數(shù)也很少有半透明反射層的透過(guò)·反射的效率下降的銀合金層,而進(jìn)行了研究,得出如下的結(jié)果。
      (A)使用在Ag中添加Zn0.1~20質(zhì)量%,還有添加Al0.1~3質(zhì)量%的Ag-Zn合金構(gòu)成組成的銀合金濺射靶通過(guò)濺射所得到的銀合金層,與使用現(xiàn)有的Ag或Ag-Zn合金構(gòu)成的靶通過(guò)濺射所得到的銀或銀合金層相比,即使隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化也很少,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降。
      (B)使用在Ag中添加Zn0.1~20質(zhì)量%,還有添加Al0.1~3質(zhì)量%的Ag-Zn合金中,此外還使其含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%的組成的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金層,與使用現(xiàn)有的Ag或Ag-Zn合金構(gòu)成的靶通過(guò)濺射所得到的銀或銀合金層相比,隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化進(jìn)一步減少,因此,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降。
      (C)使用在Ag中添加Zn0.1~20質(zhì)量%,還有添加Al0.1~3質(zhì)量%的Ag-Zn合金中,此外還使其含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%的組成的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金層,與使用現(xiàn)有的Ag或Ag-Zn合金構(gòu)成的靶通過(guò)濺射所得到的銀或銀合金層相比,隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化進(jìn)一步減少,因此,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降。
      (D)使用在Ag中添加Zn0.1~20質(zhì)量%,還有添加Al0.1~3質(zhì)量%的Ag-Zn合金中,此外還使其含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%和Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%的組成的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金層也可以得到相同效果。
      (E)使用在Ag中共同添加Cu以及Ni的銀合金構(gòu)成的靶通過(guò)濺射所得到的銀合金反射層,與現(xiàn)有的Ag、Ag-Cu合金或Ag-Ni合金構(gòu)成的靶通過(guò)濺射所得到的銀或銀合金層相比,由激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化進(jìn)一步減少,此共同含有Cu以及Ni的銀合金反射層的成分組成優(yōu)選為含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,剩余部為Ag。
      (F)使用含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金反應(yīng)層,隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化進(jìn)一步減少,因此,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降。
      (G)使用含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金反應(yīng)層,隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化進(jìn)一步減少,因此,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降。
      (H)使用在含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金中,還共同含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%和Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%的銀合金靶通過(guò)濺射所得到的銀合金層也可以得到相同效果。
      接著,對(duì)形成本發(fā)明的合金層用的濺射靶的成分組成、進(jìn)行如上所述的限定的理由進(jìn)行說(shuō)明。
      ZnZn,在Ag中固溶,提高晶粒的強(qiáng)度,防止晶粒的再結(jié)晶化,具有抑制由濺射所形成的反射層的反射率的下降的效果,但是因?yàn)楹衂n低于0.1質(zhì)量%則不能夠防止充分的晶粒的再結(jié)晶化所以也不能夠抑制反射層的反射率的下降,另外,含有Zn超過(guò)20質(zhì)量%,則由濺射所形成的Ag合金反射層的內(nèi)部應(yīng)力變大,在制靶時(shí)在晶內(nèi)及/或晶界形成金屬間化合物,由于容易發(fā)生破裂,所以為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些Zn的含量定為0.1~20質(zhì)量%。特別是形成全反射層用的Zn含量的優(yōu)選范圍為1~20質(zhì)量%(進(jìn)一步優(yōu)選范圍為5~15質(zhì)量%),特別是形成半透明反射層用的Zn含量的優(yōu)選范圍為0.1~低于1質(zhì)量%(進(jìn)一步優(yōu)選的范圍為0.5~0.9質(zhì)量%)。
      AlAl,在Ag中固溶,提高晶粒的強(qiáng)度,防止晶粒的再結(jié)晶化,具有抑制由濺射所形成的反射層的反射率的下降的效果,但是含有Al低于0.1質(zhì)量%,因?yàn)椴荒軌蚍乐钩浞值木Я5脑俳Y(jié)晶化所以也不能夠抑制反射層的反射率的下降,另外,含有Al超過(guò)3質(zhì)量%,則由濺射所形成的Ag合金反射層的內(nèi)部應(yīng)力變大,由于反射層容易剝離,所以為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些Al含量定為0.1~3質(zhì)量%。特別是形成全反射層用的Al含量的優(yōu)選范圍為0.5~3質(zhì)量%(進(jìn)一步優(yōu)選范圍為1.0~2.0質(zhì)量%),特別是形成半透明反射層用的Al含量的優(yōu)選范圍為0.1~低于1質(zhì)量%(進(jìn)一步優(yōu)選的范圍為0.1~0.5質(zhì)量%)。
      CuCu,在Ag中固溶,提高晶粒的強(qiáng)度,防止晶粒的再結(jié)晶化,具有抑制由濺射所形成的反射層的反射率的下降的效果,但是含有Cu低于0.5質(zhì)量%,因?yàn)椴荒軌蚍乐钩浞值木Я5脑俳Y(jié)晶化所以也不能夠抑制反射層的反射率的下降,另外,含有Cu超過(guò)5質(zhì)量%,則由濺射所形成的Ag合金反射層的內(nèi)部應(yīng)力變大,由于反射層容易剝離,所以為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些Cu的含量定為0.5~5質(zhì)量%(優(yōu)選為1.0~3質(zhì)量%)。
      NiNi,基本上不與Ag固溶,通過(guò)晶界析出防止相同晶粒的結(jié)合,防止反射層的晶粒的再結(jié)晶化,具有抑制由濺射所形成的反射層的反射率的下降的效果,但是含有Ni低于0.05質(zhì)量%則不能夠得到如此的效果,另外,含有Ni超過(guò)2質(zhì)量%,膜應(yīng)力變大,因?yàn)闉R射后膜上有裂紋,所謂為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些Ni的含量定為0.05~2質(zhì)量%(優(yōu)選為0.1~1.5質(zhì)量%)。
      Ca、Be、Si這些成分,基本上不與Ag固溶,通過(guò)晶界析出防止相同晶粒的結(jié)合,是進(jìn)一步促進(jìn)防止Ag合金反應(yīng)層的再結(jié)晶化的成分,但是含有這些成分的一種或兩種以上合計(jì)低于0.005質(zhì)量%則不能得到如此的效果,另外,含有這些成分的一種或兩種以上合計(jì)超過(guò)0.05質(zhì)量%,則靶顯著硬化,因?yàn)榘械闹谱骼щy,所以為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些成分的含量定為0.005~0.05質(zhì)量%(優(yōu)選為0.010~0.035質(zhì)量%)。
      Dy、La、Nd、Tb、Gd這些成分與Ag反應(yīng)在晶界形成金屬間化合物防止相同晶粒的結(jié)合,是進(jìn)一步促進(jìn)防止Ag合金反應(yīng)層的再結(jié)晶化的成分,但是含有這些成分的一種或兩種以上合計(jì)低于0.1質(zhì)量%則不能得到如此的效果,另外,含有這些成分的一種或兩種以上合計(jì)超過(guò)3質(zhì)量%,則靶顯著硬化,因?yàn)榘械闹谱骼щy,所以為不佳。因此,包括Ag合金反射層以及形成此Ag合金反射層用的濺射靶,這些成分的含量定為0.1~3質(zhì)量%(優(yōu)選為0.2~1.5質(zhì)量%)。
      使用形成本發(fā)明的光記錄介質(zhì)的反射層用的銀合金濺射靶制作的反射層,與使用現(xiàn)有的光記錄介質(zhì)的反射層形成用的銀合金濺射靶制作的反射層相比,由時(shí)效的惡化少,能夠制造能夠長(zhǎng)時(shí)間使用的光記錄介質(zhì),對(duì)介質(zhì)工業(yè)的發(fā)展作出了很大貢獻(xiàn)。
      實(shí)施例[實(shí)驗(yàn)1]作為原料準(zhǔn)備了哪一個(gè)都是純度均在99.99質(zhì)量%以上的高純度Ag、Zn以及Al。將這些原料通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后向爐內(nèi)填充Ar氣體使?fàn)t內(nèi)壓力達(dá)到大氣壓為止,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,制成鑄錠(ingot),所得的鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表1所示成分組成的實(shí)施例1~10、比較例1~2以及以往例1~2。
      將這些實(shí)施例1~10、比較例1~2以及以往例1~2分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度100nm的Ag以及Ag合金全反射膜。
      如此形成的Ag以及Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的Ag以及Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表1中表示,對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表1

      *標(biāo)表示實(shí)施例的范圍之外的值從表1所示的結(jié)果可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例1~10進(jìn)行濺射而得到的全反射層,與使用以往例1~2進(jìn)行濺射而得到的全反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率的下降少。但是,可以得知,實(shí)施例的范圍之外的含有Zn以及Al的比較例1~2,發(fā)生了破裂,并且作為光記錄介質(zhì)的反射膜記錄再生耐性下降,因此不理想。
      準(zhǔn)備了純度99.9質(zhì)量%以上的Ca、Be以及Si。因?yàn)镃a、Be以及Si基本上不向Ag固溶,所以各元素的濃度分別為0.20質(zhì)量%與Ag進(jìn)行配合后,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后向爐內(nèi)填充Ar氣體使?fàn)t內(nèi)壓力達(dá)到大氣壓為止,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,預(yù)制成含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金。
      這些母合金通過(guò)共同添加實(shí)驗(yàn)1中所準(zhǔn)備的高純度Ag、Zno以及Al,經(jīng)溶解鑄造,制成鑄錠,所得鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表2~3所示成分組成的實(shí)施例11~28以及比較例3~5。
      將這些實(shí)施例11~28以及比較例3~5分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4Pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度100nm的Ag以及Ag合金全反射膜。
      如此形成的Ag以及Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的Ag以及Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表2~3中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表2

      表3

      *標(biāo)表示實(shí)施例的范圍之外的值從表2~3所示的結(jié)果可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例11~28進(jìn)行濺射而得到的全反射層,與使用實(shí)驗(yàn)1的表1所示的以往例1~2進(jìn)行濺射而得到的全反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率的下降少。但是,可以得知,本發(fā)明的范圍之外的含有大量Ca、Be以及Si的比較例3~5變硬不能成形。
      準(zhǔn)備了純度99.9質(zhì)量%以上的Dy、La、Nd、Tb以及Gd,將此原料共同添加至實(shí)驗(yàn)1中準(zhǔn)備的高純度Ag、Zn以及Al中,由高頻真空溶解爐溶解,所得熔融金屬在Ar氣體氛圍中在石墨鑄模中鑄造,制成鑄錠,所得鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表4~6所示成分組成的實(shí)施例29~53以及比較例6~11。
      將這些實(shí)施例29~53以及比較例6~11分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4Pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度100nm的Ag以及Ag合金全反射膜。
      如此形成的各Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的Ag以及Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表4~6中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表4

      表5

      表6

      從表4~6所示的結(jié)果可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例29~53進(jìn)行濺射而得到的全反射層,與使用實(shí)驗(yàn)1的表1所示的以往例1~2進(jìn)行濺射而得到的全反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率的下降少。但是,從比較例6~11可以得知,含有Dy、La、Nd、Tb以及Gd的合計(jì)多于3質(zhì)量%,則軋制中發(fā)生破裂等,不能夠成形。
      實(shí)驗(yàn)1中準(zhǔn)備的高純度Ag、Zn以及Al,實(shí)驗(yàn)2中準(zhǔn)備的含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金,和實(shí)驗(yàn)3中準(zhǔn)備的Dy、La、Nd、Tb以及Gd,在高頻真空溶解爐中溶解,所得熔融金屬在Ar氣體氛圍中在石墨鑄模中鑄造,制成鑄錠,所得鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表7所示成分組成的實(shí)施例54~65。對(duì)這些靶與實(shí)驗(yàn)1同樣在玻璃基板表面形成厚度100nm的Ag合金全反射層,各Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的各Ag合金全反射膜,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表7中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表7

      從表7所示的結(jié)果可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例54~65進(jìn)行濺射而得到的全反射層,與使用表1的以往例1~2進(jìn)行濺射而得到的全反射層相比,在波長(zhǎng)400nm以及650nm的溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率的下降少。
      與實(shí)驗(yàn)1以及實(shí)驗(yàn)2同樣,制作成具有表8~10所示成分組成的實(shí)施例66~93以及比較例12~14。還準(zhǔn)備了實(shí)驗(yàn)1中制作的以往例1~2。
      將這些實(shí)施例66~93、比較例12~14以及以往例1~2分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4Pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度10nm的Ag以及Ag合金半透明反射膜。
      在如此形成的Ag以及Ag合金半透明反射膜中,對(duì)成膜后的反射率以及透過(guò)率在波長(zhǎng)范圍300~800nm的范圍內(nèi)通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定,從此分光反射率曲線以及分光透過(guò)率曲線,求出波長(zhǎng)405nm的反射率以及透過(guò)率,其結(jié)果在表8~10中表示。
      其后,形成的Ag以及Ag合金半透明反射膜,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件求出了反射率以及透過(guò)率,其結(jié)果在表8~10中表示。從所得的反射率以及透過(guò)率的數(shù)據(jù),求出成膜后的波長(zhǎng)405nm的激光的半透明反射膜的吸收率,此外從在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率以及透過(guò)率,求出經(jīng)過(guò)200小時(shí)后的波長(zhǎng)405nm的激光的半透明反射膜的吸收率,這些結(jié)果在表8~10中表示。
      表8

      表9

      表10

      從表8~10中所示結(jié)果,使用本發(fā)明的實(shí)施例66~93進(jìn)行濺射而得到的半透明反射層,與使用以往例1~2進(jìn)行濺射而得到的半透明反射層相比,可以得知,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率以及透過(guò)率的下降少,并且在從反射率以及透過(guò)率求出的膜的激光吸收率中也同樣,可以得知,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的吸收率的增加少。但是,本發(fā)明的范圍之外的含有Zn以及Al的比較例12~14,可以得知,作為光記錄介質(zhì)的半透明反射膜的反射率以及透過(guò)率記錄播放耐性下降,為不理想,此外在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的吸收率的增加顯著。
      作為原料,準(zhǔn)備了哪一個(gè)都是純度99.99質(zhì)量%以上的高純度Ag以及高純度Cu。此外因?yàn)镹i基本上沒(méi)有向Ag的固溶,所以將Ni與Cu共同通過(guò)高頻真空溶解爐溶解,在石墨鑄模中進(jìn)行鑄造,制成含有Ni的Cu的母合金,以此為原料進(jìn)行了準(zhǔn)備。將這些準(zhǔn)備好的含有Ag、Cu以及Ni的Cu的母合金晶高頻真空溶解爐溶解,所得到的熔融金屬在Ar氣體氛圍中在石墨鑄模中鑄造,制成鑄錠,這些鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表11所示成分組成的實(shí)施例94~102、比較例15~17以及以往例3~4。
      將這些實(shí)施例94~102、比較例15~17以及以往例3~4分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4Pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度100nm的Ag以及Ag合金全反射膜。
      如此形成的各Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的各Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表11中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表11

      *標(biāo)表示實(shí)施例的范圍之外的值從表11所示的結(jié)果可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例94~102進(jìn)行濺射而得到的全反射層,與使用比較例15~17以及以往例3~4進(jìn)行濺射而得到的全反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率的下降少。
      作為原料,準(zhǔn)備了純度99.9質(zhì)量%以上的Ca、Be以及Si。因?yàn)镃a、Be以及Si基本上不向Ag固溶,所以各元素的濃度分別為0.20質(zhì)量%與Ag進(jìn)行配合后,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,溶解后向爐內(nèi)填充Ar氣體使?fàn)t內(nèi)壓力達(dá)到大氣壓為止,在石墨制鑄模中進(jìn)行鑄造,預(yù)制成含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金。
      通過(guò)將這些母合金與實(shí)驗(yàn)6準(zhǔn)備的含有Cu以及Ni的Cu的母合金共同添加至Ag中,溶解鑄造,制成鑄錠,所得鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表12~13所示成分組成的實(shí)施例103~120。
      在這些如此得到的實(shí)施例103~120中,與實(shí)驗(yàn)6同樣,在玻璃基板上形成厚度100nm的Ag合金反射膜,對(duì)Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的各Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表12~13中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表12

      表13

      *標(biāo)表示實(shí)施例的范圍之外的值從表12~13中所示結(jié)果,可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例103~120進(jìn)行濺射而得到的反射層,與使用表11所示的以往例3~4進(jìn)行濺射而得到的反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率以及透過(guò)率的下降少。但是,從比較例18~21中可以得知,含有Ca、Be以及Si合計(jì)多于0.05質(zhì)量%,則軋制中發(fā)生破裂等,不能成形。
      作為原料,準(zhǔn)備了純度99.9質(zhì)量%以上的Dy、La、Nd、Tb以及Gd,將這些原料與實(shí)驗(yàn)6準(zhǔn)備的含有Cu以及Ni的Cu的母合金,和實(shí)驗(yàn)7準(zhǔn)備的含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金共同添加至Ag中,通過(guò)高頻真空溶解進(jìn)行溶解,所得到的熔融金屬在Ar氣體氛圍中在石墨鑄模中鑄造,制成鑄錠,所得鑄錠在600℃經(jīng)2小時(shí)的加熱后,進(jìn)行軋制,接著通過(guò)機(jī)械加工制造成具有直徑125mm、厚度5mm的尺寸,具有如表14~16所示成分組成的實(shí)施例121~145以及比較例22~27。
      將這些實(shí)施例121~145以及比較例22~27分別在無(wú)氧銅制的墊模板(backing plate)上進(jìn)行焊接,將此安裝到直流磁控管(magnetron)濺射裝置上,通過(guò)真空排氣裝置將直流磁控管濺射裝置內(nèi)排氣至1×10-4Pa為止后,輸入Ar氣作為1.0Pa的濺射氣壓,接著通過(guò)直流電源對(duì)靶施加100W的直流濺射電功率,并且在與靶相對(duì)且設(shè)置70mm的間隔而與靶平行配置的直徑30mm、厚度0.5mm的玻璃基板和靶之間產(chǎn)生等離子體,形成厚度100nm的Ag以及Ag合金全反射膜。
      如此形成的各Ag合金反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的各Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650m的各反射率,其結(jié)果在表14~16中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表14

      表15

      表16

      從表14~16中所示結(jié)果,可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例121~145進(jìn)行濺射而得到的反射層,與使用表11所示的以往例3~4進(jìn)行濺射而得到的反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率以及透過(guò)率的下降少。但是,從比較例22~27中可以得知,含有Dy、La、Nd、Tb以及Gd合計(jì)多于3質(zhì)量%,則軋制中發(fā)生破裂等,不能成形。
      使用實(shí)驗(yàn)6準(zhǔn)備的含有Cu以及Ni的Cu的母合金、實(shí)驗(yàn)7準(zhǔn)備的含有Ca、Be以及Si的Ag的母合金,和實(shí)驗(yàn)8準(zhǔn)備的Dy、La、Nd、Tb以及Gd,制成具有表17所示成分組成的實(shí)施例146~157,這些靶中與實(shí)驗(yàn)6同樣在玻璃基板上形成厚度100nm的Ag合金反射膜,對(duì)Ag合金全反射膜的成膜后的反射率通過(guò)分光光度計(jì)進(jìn)行了測(cè)定。其后,將形成的各Ag合金全反射膜在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后,再次以相同的條件測(cè)定了反射率。從所得到的反射率數(shù)據(jù),求出波長(zhǎng)400nm以及650nm的各反射率,其結(jié)果在表17中表示對(duì)作為光記錄介質(zhì)的反射膜的記錄播放耐性進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
      表17

      從表17中所示結(jié)果,可以得知,使用本發(fā)明的實(shí)施例146~157進(jìn)行濺射而得到的反射層,與使用表11所示的以往例3~4進(jìn)行濺射而得到的反射層相比,在溫度80℃、相對(duì)濕度85%的恒溫恒濕槽內(nèi)保持200小時(shí)后的反射率以及透過(guò)率的下降少。
      工業(yè)上的利用可能性根據(jù)本發(fā)明,使用在Ag中添加Zn0.1~20質(zhì)量%,還添加Al0.1~3質(zhì)量%的Ag-Zn合金構(gòu)成組成的銀合金靶進(jìn)行濺射而得到的銀合金層,與使用現(xiàn)有的Ag或Ag-Zn合金構(gòu)成組成的靶進(jìn)行濺射而得到的銀或銀合金層相比,具有隨激光束的反復(fù)照射受到反復(fù)的加熱·冷卻,晶粒的粗大化減少,進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間使用也極少有反射率的下降的效果。
      此外,使用在Ag中共同添加Cu以及Ni的銀合金構(gòu)成的靶進(jìn)行濺射而得到的銀合金反射層,與現(xiàn)有的Ag、Ag-Cu合金或Ag-Ni合金構(gòu)成的靶進(jìn)行濺射而得到的銀合金反射層相比,具有與上述相同的效果。
      權(quán)利要求
      1.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的全反射層以及半透明反射層,以下,包含兩者總稱為反射層,其特征在于,由具有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      2.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,還含有選自Ca、Be、Si中的一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      3.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      4.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      5.一種光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由使用權(quán)利要求1、2、3或4所述的銀合金濺射靶制作而成的蒸鍍膜構(gòu)成。
      6.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的全反射層,其特征在于,由含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      7.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的全反射層,其特征在于,由含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      8.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的全反射層,其特征在于,由含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      9.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的全反射層,其特征在于,由含有Zn1~20質(zhì)量%、Al0.5~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      10.一種光記錄介質(zhì)的全反射層,其特征在于,由使用權(quán)利要求6、7、8或9所述的銀合金濺射靶制作而成的蒸鍍膜構(gòu)成。
      11.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的半透明反射層,其特征在于,由含有Zn0.1~低于1質(zhì)量%、Al0.1~低于0.5質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      12.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的半透明反射層,其特征在于,由含有Zn0.1~低于1質(zhì)量%、Al0.1~低于0.5質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      13.一種光記錄介質(zhì)的半透明反射層,其特征在于,由使用權(quán)利要求11或12所述的銀合金濺射靶制作而成的蒸鍍膜構(gòu)成。
      14.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      15.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      16.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      17.一種銀合金濺射靶,用于形成光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,此外還含有Dy、La、Nd、Tb、Gd中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金構(gòu)成。
      18.一種光記錄介質(zhì)的反射層,其特征在于,由使用權(quán)利要求14、15、16或17所述的銀合金濺射靶制作而成的蒸鍍膜構(gòu)成。
      全文摘要
      本發(fā)明提供的銀合金濺射靶由以下銀合金構(gòu)成,(1)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金,(2)含有Zn0.1~20質(zhì)量%、Al0.1~3質(zhì)量%,還含有Ca、Be、Si中任選一種或兩種以上的合計(jì)0.005~0.05質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金,或者,(3)含有Cu0.5~5質(zhì)量%、Ni0.05~2質(zhì)量%,剩余部為Ag的組成的銀合金。
      文檔編號(hào)G11B7/24GK1771547SQ0382645
      公開(kāi)日2006年5月10日 申請(qǐng)日期2003年5月16日 優(yōu)先權(quán)日2003年5月16日
      發(fā)明者三島昭史, 藤田悟史, 小路雅弘 申請(qǐng)人:三菱麻鐵里亞爾株式會(huì)社
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