專利名稱：糾錯方法、糾錯電路及信息記錄再生裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及使用了循環(huán)碼的糾錯技術(shù)，特別是訂正再生數(shù)據(jù)中發(fā)生了2事件錯誤的糾錯方法及電路，還有搭載了糾錯電路的信息記錄再生裝置。
背景技術(shù)：
為檢測再生數(shù)據(jù)發(fā)生的錯誤，廣泛采用了循環(huán)碼。圖2所示是循環(huán)碼的編碼的次序。把記錄數(shù)據(jù)列21輸入除法電路22，再除以生成多項式(未圖示)。其結(jié)果所得的余數(shù)作為數(shù)據(jù)列23從除法電路22輸出。把數(shù)據(jù)列23稱之為循環(huán)冗余校驗(CRC-Cyclic Redundancy Check)數(shù)據(jù)。CRC數(shù)據(jù)23被附加在記錄數(shù)據(jù)21的后面，成為被編碼的記錄數(shù)據(jù)列24。由于被編碼的記錄數(shù)據(jù)列24顯然能夠被生成多項式除盡，將被編碼的記錄數(shù)據(jù)列24記錄·再生后，通過校驗用除法電路22進(jìn)行除法運(yùn)算時的CRC數(shù)據(jù)，就能夠檢測再生數(shù)據(jù)是否發(fā)生了錯誤。
作為使用循環(huán)碼進(jìn)行糾錯的現(xiàn)有技術(shù)有專利文獻(xiàn)1(日本特開2000-57709號公報的第3-4頁、圖1、圖5)記載的技術(shù)。以下用圖7對將該技術(shù)應(yīng)用于磁盤裝置的信號處理的例子加以說明。磁盤裝置1(HDD)是由磁盤2、裝有磁盤2并轉(zhuǎn)動的主軸電機(jī)6、磁頭3、支承磁頭3使其定位在磁盤2的任意半徑的位置上的托架4、由安裝在托架4上的R/W-IC5等組成的磁頭·磁盤組件7(HAD)、讀·寫通道8、1事件CRCC訂正電路15、硬盤控制器9(HDC)、伺服控制電路10、微處理器11(MPU)、ROM12、RAM13等組成的插件板14(PCB)所構(gòu)成的。
讀·寫通道8是由進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的寫通道和進(jìn)行數(shù)據(jù)再生的讀通道構(gòu)成的。讀通道的信號處理技術(shù)為部分響應(yīng)極大似然(PRML-PartialResponse Maximum Likelihood)方式。對于通過PRML的再生數(shù)據(jù)，已知會單次發(fā)生短缺數(shù)比特左右的錯誤。在專利文獻(xiàn)1記載的現(xiàn)有技術(shù)中，為了能夠訂正這樣單次發(fā)生的錯誤(1事件錯誤)，在讀·寫通道8和HDC9之間附加了構(gòu)成循環(huán)碼的1事件CRCC訂正電路15?？梢约m錯的循環(huán)碼稱之為循環(huán)冗余校驗碼(CRCC-Cyclic Redundancy Check Code)，使用CRCC糾錯的方式稱之為CRCC訂正。1事件CRCC訂正電路15進(jìn)行CRCC的編碼和1事件的糾錯。
另一方面，作為使用以PRML再生數(shù)據(jù)的解調(diào)過程得到的可靠性信息而通過CRCC以提高糾錯能力的技術(shù)有專利文獻(xiàn)2(日本特開2000-134114號公報的第6-9頁、圖1、圖4、圖5)記載的技術(shù)。它是通過在再生數(shù)據(jù)的可靠性低于某一閾值時、判斷為發(fā)生了消失錯誤而在該位置建立消失標(biāo)志，根據(jù)消失標(biāo)志對再生數(shù)據(jù)已進(jìn)行初步判定(軟判定)地臨時訂正的系列進(jìn)行CRCC訂正，從而訂正2事件以上的錯誤。
根據(jù)可靠性信息的消失標(biāo)志對于判定閾值的設(shè)定很敏感，閾值過高時消失標(biāo)志就不能建立，而過低時消失標(biāo)志建立過多。因此，要以比特單位穩(wěn)定地得到正確的消失標(biāo)志實(shí)際上是困難的。另外，在實(shí)施CRCC訂正之際，由于每個被臨時訂正的數(shù)據(jù)系列都需要一個訂正處理電路，所以電路規(guī)模就不可避免地增大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是，提供一種糾錯方法和電路，它在容許消失標(biāo)志不正確的同時，與現(xiàn)有技術(shù)相比能以少的電路規(guī)模實(shí)現(xiàn)對2事件錯誤的CRCC訂正。
本發(fā)明的另一目的是提供一種搭載上述糾錯電路的可靠性高的信息記錄再生裝置。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，在本發(fā)明中通過使用以下的裝置，實(shí)現(xiàn)可訂正2事件錯誤的CRCC訂正。
第1，以2事件錯誤為發(fā)生頻率高的訂正對象，利用循環(huán)置換依次算出上述被限定的錯誤事件發(fā)生于上述再生數(shù)據(jù)的任意比特位置時的CRC數(shù)據(jù)，然后將其對再生數(shù)據(jù)的CRC數(shù)據(jù)通過或運(yùn)算(排他的加算)對第1處的1事件錯誤進(jìn)行假想臨時訂正，進(jìn)而通過算出臨時訂正之后的CRC數(shù)據(jù)檢測出第2處的1事件錯誤，再對臨時訂正后的第1處的1事件錯誤和第2處的1事件錯誤進(jìn)行訂正。
第2，根據(jù)可靠性信息確定發(fā)生錯誤可能性高的比特范圍，針對該范圍根據(jù)假想的臨時訂正后的CRC數(shù)據(jù)對2事件錯誤并行地進(jìn)行CRCC訂正。


圖1是本發(fā)明的實(shí)施例的磁盤裝置的構(gòu)成圖。
圖2是說明利用循環(huán)碼編碼的方法圖。
圖3是表示線性反饋移位寄存器(LFSR)結(jié)構(gòu)的構(gòu)成圖。
圖4是表示本發(fā)明的實(shí)施例的訂正1事件錯誤及2事件錯誤的糾錯電路的結(jié)構(gòu)圖。
圖5是說明本發(fā)明的第1實(shí)施例的效果圖。
圖6是說明本發(fā)明的第2實(shí)施例的效果圖。
圖7是表示利用現(xiàn)有技術(shù)的磁盤裝置結(jié)構(gòu)的構(gòu)成圖。
具體實(shí)施例方式
用圖1對將本發(fā)明應(yīng)用于磁盤裝置的信號處理的第1實(shí)施例進(jìn)行說明。磁盤裝置1(HDD)由磁盤2、裝有磁盤2并轉(zhuǎn)動的主軸電機(jī)6、磁頭3、支承磁頭3并定位在磁盤2的任意的半徑位置上的托架4、由安裝在托架4上的R/W-IC5等組成的磁頭或者磁盤組件7(HDA)、讀·寫通道8、1事件CRCC訂正電路15、2事件CRCC訂正電路15、硬盤控制器9(HDC)、伺服控制電路10、微處理器11(MPU)、ROM12、RAM13等組成的插件板14(PCB)所構(gòu)成。
讀·寫通道8由進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的寫通道8a和進(jìn)行數(shù)據(jù)再生的讀通道8b構(gòu)成。作為讀通道8b的信號處理技術(shù)采用的是PRML(2，1，-1，-1，-1)。磁記錄方式為面內(nèi)記錄方式，線記錄密度以標(biāo)準(zhǔn)化線密度計為2.75。
HDC9向針對1事件錯誤的CRCC訂正電路15供給記錄數(shù)據(jù)，記錄數(shù)據(jù)在那里實(shí)行CRCC的編碼后，通過寫通道8a、R/W-IC5、磁頭3被記錄在磁盤2上。
再生信號通過磁頭3、R/W-IC5、由讀通道8進(jìn)行b數(shù)據(jù)解調(diào)后成為再生數(shù)據(jù)。再生數(shù)據(jù)供給1事件CRCC訂正電路15，進(jìn)行1事件錯誤的訂正。至于不能作為1事件訂正的錯誤，被供給2事件CRCC訂正電路16，進(jìn)行2事件錯誤的訂正。1事件錯誤與2事件錯誤分別被訂正過的再生數(shù)據(jù)被送到HDC9。
HDC9把訂正后的再生數(shù)據(jù)傳送到計算機(jī)等的上位裝置。MPU11掌管整個HDD1的控制。伺服控制電路10在MPU11的控制下進(jìn)行主軸電機(jī)6的轉(zhuǎn)動控制和磁頭3的定位控制。ROM12儲存MPU11和HDC9的程序，RAM13是記錄·再生數(shù)據(jù)的緩沖區(qū)。
為了CRCC編碼，用圖3所示的線性反饋移位寄存器LFSR(LinearFeedback shift Register)31實(shí)行除以生成多項式的運(yùn)算。生成多項式是從15次的原始多項式中，系數(shù)表示用1111000111100001。LFSR31與該生成多項式的系數(shù)為‘1’所對應(yīng)的位置的寄存器通過或運(yùn)算電路(排他的加算回路)連接?？刂祁A(yù)置端口35(PS)，作為預(yù)置數(shù)據(jù)34預(yù)置了‘000000000000000’(以后，表示為0)之后，由MSB側(cè)的IN端口輸入數(shù)據(jù)32時，在把所有數(shù)據(jù)輸入完的時刻，除法的結(jié)果就出現(xiàn)在各寄存器。一旦把它們由輸出(OUT)端口輸出，就得到15位(比特)的CRC數(shù)據(jù)33。把CRC數(shù)據(jù)附加在輸入數(shù)據(jù)上就得到編碼數(shù)據(jù)。在本實(shí)施例中被CRCC編碼的記錄數(shù)據(jù)的長度為100位。
其次，就利用CRCC訂正電路15及16糾錯的具體處理用圖4來加以說明。在圖4中為了便于說明，把1事件CRCC訂正電路15及2事件CRCC訂正電路16合在一起記載。另外，作為本實(shí)施例中訂正的1事件錯誤為3比特連續(xù)錯誤和5比特連續(xù)錯誤兩種。其根據(jù)是，根據(jù)對白噪音為主要的磁記錄通道中通過模擬調(diào)查錯誤事件產(chǎn)生的分布的結(jié)果，全體中約95％為3比特連續(xù)錯誤，5比特連續(xù)錯誤占1％。根據(jù)同樣的理由，在2事件錯誤的訂正中，限定于對發(fā)生頻率高的3比特連續(xù)錯誤在再生數(shù)據(jù)中發(fā)生2處的錯誤進(jìn)行訂正。還有，在本實(shí)施例中，因再生數(shù)據(jù)的長度短至100比特，錯誤事件跨越其邊界的頻率比較高?？紤]到這種現(xiàn)象，就3比特連續(xù)錯誤及5比特連續(xù)錯誤被邊界分開的錯誤事件來說也通過模式匹配來進(jìn)行訂正。
通過SW1把作為預(yù)置數(shù)據(jù)(PS-D)的0從LFSR42的預(yù)置輸入端口PS預(yù)置到各寄存器中之后，由設(shè)置在讀通道8b內(nèi)的PRML解調(diào)器41輸出的再生數(shù)據(jù)列就通過SW2供給LFSR42的IN端口。在100位的再生數(shù)據(jù)輸入完的時刻，CRC數(shù)據(jù)43被輸出。CRC數(shù)據(jù)43為0的場合沒有發(fā)生錯誤。在CRC數(shù)據(jù)43為非0的場合，由于知道再生數(shù)據(jù)發(fā)生了錯誤，因而就嘗試以下說明的對1事件錯誤以及2事件錯誤的檢測。
為了檢測1事件錯誤，必須通過對CRC數(shù)據(jù)43進(jìn)行反復(fù)循環(huán)置換，使再生數(shù)據(jù)中產(chǎn)生的CRC數(shù)據(jù)43移動到LSB位置。在本實(shí)施例中使用的CRCC的周期為215-1＝32767比特。因此，為了檢測100比特中被編碼的再生數(shù)據(jù)里發(fā)生的錯誤事件，就必須預(yù)先進(jìn)行32767-(100-15)＝32682次的循環(huán)置換。關(guān)于實(shí)時進(jìn)行該處理的方法在專利文獻(xiàn)1中已有記載。首先，將1次循環(huán)置換的操作表示為15行15列的矩陣。其次，預(yù)先計算該矩陣相乘32682次的矩陣(以下，為β矩陣)45。由于β矩陣45的各要素為0或1，很容易把它們儲存進(jìn)寄存器。β矩陣45與CRC數(shù)據(jù)43用乘法器44相乘的話，可得到進(jìn)行了32682次循環(huán)置換之后的CRC數(shù)據(jù)。該CRC數(shù)據(jù)通過SW1預(yù)置到LFSR42中，同時通過關(guān)閉SW3而供給檢測電路46。
在錯誤檢測電路46中，檢查CRC數(shù)據(jù)與成為訂正對象的錯誤事件是否一致。此時，在例如與3比特連續(xù)錯誤一致時，錯誤檢測電路46就記住循環(huán)置換0次檢測出的3比特連續(xù)錯誤。另外，在不一致時，切換SW2將數(shù)據(jù)‘0’輸入LFSR42的IN端口進(jìn)行循環(huán)置換，把得到的CRC數(shù)據(jù)供給錯誤檢測電路46并重復(fù)進(jìn)行模式匹配。這樣，把直到CRC數(shù)據(jù)43與作為訂正對象的錯誤事件一致所需要的循環(huán)置換的次數(shù)及錯誤事件儲存起來。還有，即使進(jìn)行100次巡回置換也不一致的場合，就沒有發(fā)生可以訂正的1事件錯誤。
其次，在2事件錯誤的檢測中，把第1處的1事件錯誤的臨時訂正與第2處的1事件錯誤檢測這2個處理并列進(jìn)行。在臨時訂正處理中，將3比特連續(xù)錯誤發(fā)生于再生數(shù)據(jù)的任意位置時的CRC數(shù)據(jù)全部進(jìn)行計算?，F(xiàn)在，假定3比特連續(xù)錯誤存在于再生數(shù)據(jù)的LSB，其余全部是為0的數(shù)據(jù)系列。預(yù)先計算其除以生成多項式并乘以β矩陣45后的CRC數(shù)據(jù)(表示為‘p14p13……p1p0’)。一旦將結(jié)果預(yù)置在LFSR49中，被預(yù)置的CRC數(shù)據(jù)‘p14p13……p1p0’就被供給多級寄存器50。隨后，從LFSR49的IN端口輸入數(shù)據(jù)‘0’、進(jìn)行1次循環(huán)置換。在從LFSR49的OUT端口供給寄存器50新的CRC數(shù)據(jù)的同時，寄存器50的CRC數(shù)據(jù)移動到寄存器51。重復(fù)進(jìn)行這種動作的結(jié)果，最初的CRC數(shù)據(jù)‘p14p13……p1p0’移至寄存器52，最終從寄存器50至寄存器52存儲97個CRC數(shù)據(jù)。
為了容易確認(rèn)，這些CRC數(shù)據(jù)就成為3比特錯誤由再生數(shù)據(jù)的MSB至LSB發(fā)生時的CRC數(shù)據(jù)。假如將其與從再生數(shù)據(jù)求出的CRC數(shù)據(jù)進(jìn)行或運(yùn)算的話，就得到把再生數(shù)據(jù)在假想的可靠判斷(硬判定)的臨時訂正之后的CRC數(shù)據(jù)。還有，這些CRC數(shù)據(jù)既可以在每次計算再生數(shù)據(jù)的CRC數(shù)據(jù)之際進(jìn)行計算，若寄存器有空的話也可以作為固定值預(yù)儲存。
從再生數(shù)據(jù)計算出的CRC數(shù)據(jù)(乘以β矩陣之后)關(guān)閉SW4并存入寄存器53。利用或運(yùn)算電路54、55…、56，多級寄存器50、51、…52的CRC數(shù)據(jù)與寄存器53的CRC數(shù)據(jù)進(jìn)行或運(yùn)算并分別被預(yù)置在LFSR57、58、…59中。
同時，從LFSR57、58、…59的OUT端口把各自的CRC數(shù)據(jù)送至錯誤檢測電路46。以與1事件錯誤的檢測相同的次序把數(shù)據(jù)‘0’輸入LFSR57、58、…59的IN端口并反復(fù)進(jìn)行循環(huán)置換。
對于LFSR57、58、…59任何一個CRC數(shù)據(jù)最初檢測出3比特連續(xù)錯誤時，糾錯電路46把檢測所需要的循環(huán)置換的次數(shù)與臨時訂正過的錯誤的位置儲存起來。在本實(shí)施例中，由于錯誤事件限定于3比特連續(xù)錯誤所以不必儲存。臨時訂正過的錯誤的位置，可以根據(jù)從哪一個LFSR的CRC數(shù)據(jù)可以檢測出來確定。例如，假如其為來自LFSR58的CRC數(shù)據(jù)的話，通過追溯多級寄存器50、51、…至52，就清楚從最高有效位(MSB-Most Significant Bit)至最低有效位(LSB-Least Significant Bit)一側(cè)移位了1比特的位置。
其次，就訂正被檢測出的1事件及2事件錯誤的順序加以說明。與循環(huán)置換的處理并行，將再生數(shù)據(jù)依次輸入糾錯電路48。糾錯電路48連接相當(dāng)于再生數(shù)據(jù)長度的個數(shù)的移位寄存器和或運(yùn)算電路而構(gòu)成，在每個或運(yùn)算電路連接有來自錯誤檢測電路46的糾錯信號47。除糾錯時以外，糾錯信號47為數(shù)據(jù)‘0’，糾錯電路48只作為移位寄存器進(jìn)行動作。在檢測出可以訂正的錯誤時，等待100比特的再生數(shù)據(jù)全部被儲存到糾錯電路48以后，根據(jù)已儲存的循環(huán)置換的次數(shù)與其錯誤事件，將數(shù)據(jù)‘1’輸出到糾錯信號47。結(jié)果，通過糾錯電路48的或運(yùn)算電路，被檢測出的1事件錯誤及2事件錯誤的比特被反轉(zhuǎn)而結(jié)束訂正。
而且，在上述訂正處理中，往往利用錯誤檢測同時檢測出1事件錯誤與2事件錯誤。這時，只根據(jù)CRC數(shù)據(jù)檢測錯誤，就不能確定錯誤究竟是1事件錯誤還是2事件錯誤。在這種情況下，錯誤檢測電路46就放棄這些檢測結(jié)果，以防止伴隨誤檢側(cè)的誤訂正。
圖5表示利用以上說明的第1實(shí)施例通過模擬實(shí)施的糾錯的性能評價的結(jié)果。橫軸是相對的信噪比SNR(dB)，縱軸是位誤碼率Log(BER)。糾錯前的位誤碼率為10-1，SNR為0dB。(A)是糾錯前的位誤碼率的SNR特性，(B)是1事件糾錯后的位誤碼率的SNR特性。與此相對，(C)是1事件及2事件錯誤訂正后的位誤碼率的SNR特性?？梢钥闯?，與僅訂正過1事件錯誤的(B)的場合相比，位誤碼率降低0.5個左右。
在本實(shí)施例中，就使用線性反饋移位寄存器進(jìn)行CRC數(shù)據(jù)的運(yùn)算與循環(huán)置換處理的情況進(jìn)行了說明。在對應(yīng)于高速傳送時，例如接收數(shù)據(jù)以8比特并行數(shù)據(jù)收發(fā)時，對其可進(jìn)行并行的處理。若將線性反饋移位寄存器展開為邏輯運(yùn)算電路，就能并行處理。
本實(shí)施例中使用的β矩陣是以1次循環(huán)置換的操作為基礎(chǔ)構(gòu)成的。使用表示了直到8次的循環(huán)置換操作的8種β矩陣，能夠用邏輯運(yùn)算電路并行實(shí)施對于8比特的并列數(shù)據(jù)的循環(huán)置換操作。
另外，作為接收數(shù)據(jù)，假如預(yù)先計算與MSB比特數(shù)據(jù)對應(yīng)的CRC數(shù)據(jù)的話，就能夠利用循環(huán)置換的反操作逐次運(yùn)算與至LSB的比特數(shù)據(jù)對應(yīng)的CRC數(shù)據(jù)。這樣使用表示8次逆循環(huán)置換操作的β矩陣，將從MSB與8位的數(shù)據(jù)相對應(yīng)的CRC作為初始值，就能并行逐次運(yùn)算至LSB的與全部比特數(shù)據(jù)對應(yīng)的CRC。
通過把這些CRC數(shù)據(jù)在接收數(shù)據(jù)只為「1」時進(jìn)行或運(yùn)算，就得到與線性反饋移位寄存器相同的CRC數(shù)據(jù)。另外，表示1次逆循環(huán)置換操作的β矩陣，與表現(xiàn)1次循環(huán)置換操作的β矩陣相互具有逆矩陣的關(guān)系。
其次，用圖1及圖4對本發(fā)明應(yīng)用于磁盤裝置的信號處理的第2實(shí)施例加以說明。在第2實(shí)施例中，被編碼的記錄數(shù)據(jù)的長度定為561比特。編碼效率與第1實(shí)施例相比提高5倍以上。
如圖1所示，通過1事件CRCC訂正處理電路15對1事件的錯誤進(jìn)行訂正。由于這些與第1實(shí)施例相同而省略其說明。對于不能作為1事件錯誤進(jìn)行訂正的錯誤，由2事件CRCC訂正電路16進(jìn)行訂正。此時，參照可靠性信息17，限定進(jìn)行臨時訂正處理的范圍。
有關(guān)使用可靠性信息來限定臨時訂正處理范圍的方法用圖4加以說明。關(guān)于獲得可靠性信息的具體方法，由于專利文獻(xiàn)2中有詳細(xì)描述，這里就省略其說明。得到作為臨時訂正的事件錯誤的3比特連續(xù)錯誤發(fā)生的可能性高的比特位置，其作為圖1的可靠性信息17被供給2事件錯誤的CRCC訂正電路16。
假定由可靠性信息17指定的比特位置m及其前后8位一起17個比特位置的任何一個位置發(fā)生了3比特連續(xù)錯誤，并按下面那樣計算各CRC數(shù)據(jù)。圖4的多級寄存器50、51、…、52的個數(shù)準(zhǔn)備了17個，從預(yù)置值‘p14p13……p1p0’出發(fā)計算CRC數(shù)據(jù)。到比特位置(m-8)計算結(jié)束的階段，一旦停止LFSR49的輸出，所需的CRC數(shù)據(jù)就被儲存到上述17個寄存器中。
另外，在數(shù)個比特位置作為候補(bǔ)時，除了被錯誤檢測電路46檢測出的1處以外，都可以指定為臨時訂正范圍。例如指定達(dá)到3處時準(zhǔn)備51個寄存器。通過控制在被指定的范圍的比特位置將LFSR49的輸出定為ON，而其以外為OFF，就能夠僅把所需的CRC數(shù)據(jù)儲存到上述51個寄存器。
關(guān)于從1事件錯誤及2事件錯誤的檢測到訂正的處理，由于與第1實(shí)施例相同而省略其說明。
圖6表示以上說明的第2實(shí)施例的利用模擬來實(shí)施糾錯的性能評價的結(jié)果。橫軸是相對的SNR(dB)，縱軸是位誤碼率。糾錯前的位誤碼率為10-1，SNR為0dB。(A)是糾錯前的位誤碼率的SNR特性，(B)是1事件錯誤訂正后的位誤碼率的SNR特性。與此相應(yīng)，(C)是訂正1事件及2事件錯誤后的位誤碼率的SNR特性。與僅訂正1事件錯誤的(B)的場合相比，很明顯位誤碼率降低0.5個左右。還有，在模擬中，將臨時訂正范圍定為+-8比特，假定最壞的情況是通過可靠性信息17獲得的臨時訂正位置通常僅偏置+4比特。即使在這樣的狀況下，采用本發(fā)明的2事件糾錯，與只訂正1事件錯誤相比具有降低位誤碼率的效果。
在上述的第1、第2實(shí)施例中，以白噪音為支配的磁記錄通路為例進(jìn)行了說明。但是，本發(fā)明并不僅限定于白噪音，也可以應(yīng)用于其他的噪音。作為其中一例，源于磁化遷移點(diǎn)的位置隨機(jī)變化的位置不穩(wěn)定性噪音為支配的場合，由于95％為1比特連續(xù)錯誤，3％為2比特連續(xù)錯誤，因而可將1比特連續(xù)及2比特連續(xù)的1事件錯誤，和1比特連續(xù)的2事件錯誤分別作為訂正對象。
再有，在實(shí)際的磁記錄通道中，白噪音和位置不穩(wěn)定性噪音以各種不同比例混合而成。對于這樣的噪音方式應(yīng)用本發(fā)明時，最好設(shè)計從1比特、2比特、3比特、5比特連續(xù)錯誤的各種錯誤事件之中選擇最佳錯誤事件的學(xué)習(xí)功能。為了實(shí)現(xiàn)該學(xué)習(xí)功能，準(zhǔn)備只實(shí)行1事件糾錯的處理模式，求出用該處理模式實(shí)際被訂正的錯誤事件的發(fā)生頻率，從其上位選擇1事件錯誤及2事件錯誤的訂正對象即可。
另外，有關(guān)3事件以上的錯誤，將通過LFSR49生成的有關(guān)1事件錯誤的CRC數(shù)據(jù)全部組合、可得到臨時訂正后的CRC數(shù)據(jù)。從該CRC數(shù)據(jù)利用錯誤檢測電路46進(jìn)行檢測，用糾錯電路48進(jìn)行訂正可以用與第1、第2實(shí)施例相同的方法實(shí)施。
采用以上說明的發(fā)明，相對于與現(xiàn)有的1事件錯誤相應(yīng)的CRCC訂正方式，通過附加經(jīng)可靠判斷的臨時訂正處理，則可經(jīng)可靠判斷地進(jìn)行2事件錯誤的訂正。
權(quán)利要求
1.一種糾錯方法，它是使用循環(huán)碼對接收數(shù)據(jù)在1處以上發(fā)生的錯誤事件進(jìn)行訂正的糾錯方法，其特征在于求出將該接收的數(shù)據(jù)除以生成多項式后的剩余數(shù)據(jù)、和該接收數(shù)據(jù)中包含假想發(fā)生了的錯誤事件的數(shù)據(jù)除以生成多項式后剩余的數(shù)據(jù)，通過或運(yùn)算而臨時訂正了上述假想發(fā)生了的錯誤事件后的剩余數(shù)據(jù)，根據(jù)該臨時訂正后的剩余數(shù)據(jù)能夠檢測出上述接收數(shù)據(jù)中發(fā)生了的第2處的錯誤事件時，對該臨時訂正的錯誤事件和第2處的錯誤事件進(jìn)行訂正。
2.一種糾錯方法，其特征在于從將接收數(shù)據(jù)除以生成多項式的剩余數(shù)據(jù)中檢測出發(fā)生了1事件錯誤時，通過對上述剩余數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)置換檢查是否為訂正對象的錯誤事件，為訂正對象時，就根據(jù)上述循環(huán)置換的次數(shù)及其錯誤事件來訂正上述接收數(shù)據(jù)的1事件錯誤，在作為1事件錯誤不能訂正時，求出將上述接收的數(shù)據(jù)除以生成多項式后的剩余的數(shù)據(jù)、和該接收數(shù)據(jù)中包含假想發(fā)生了的錯誤事件的數(shù)據(jù)除以生成多項式后剩余的數(shù)據(jù)，通過或運(yùn)算而臨時訂正了上述假想發(fā)生了的錯誤事件后的剩余數(shù)據(jù)，根據(jù)該臨時訂正后的剩余數(shù)據(jù)能夠檢測出上述接收數(shù)據(jù)中發(fā)生了的第2處的錯誤事件時，對該臨時訂正的錯誤事件和第2處的錯誤事件進(jìn)行訂正。
3.如權(quán)利要求1或2所述的糾錯方法，其特征在于使用通過上述接收數(shù)據(jù)的解調(diào)過程獲得的可靠性信息指定上述臨時訂正的范圍。
4.一種糾錯電路，其特征在于，具備對解調(diào)后的再生數(shù)據(jù)的1事件錯誤進(jìn)行訂正的1事件錯誤的糾錯電路；輸入該1事件錯誤的糾錯電路的輸出對由該1事件錯誤的糾錯電路不能訂正的2事件錯誤進(jìn)行訂正的2事件錯誤的糾錯電路。
5.一種糾錯電路，其特征在于，具備將接收數(shù)據(jù)除以生成多項式后對其剩余的數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)置換的第1線性反饋移位寄存器；輸入將上述接收數(shù)據(jù)中包含假想發(fā)生了的錯誤事件的數(shù)據(jù)除以生成多項式后剩余的數(shù)據(jù)進(jìn)行了循環(huán)置換的數(shù)據(jù)并進(jìn)行循環(huán)置換的第2線性反饋移位寄存器；輸入該第2線性反饋移位寄存器的輸出數(shù)據(jù)并依次移動的多級寄存器；對從上述第1線性反饋移位寄存器輸出的剩余數(shù)據(jù)和上述多級寄存器的輸出分別進(jìn)行或運(yùn)算并對上述接收數(shù)據(jù)進(jìn)行假想的臨時訂正的多個或運(yùn)算電路；分別輸入該多個或運(yùn)算電路的輸出并進(jìn)行循環(huán)置換的多個第3線性反饋移位寄存器；錯誤檢測電路，用于輸入上述第1線性反饋移位寄存器進(jìn)行循環(huán)置換后的數(shù)據(jù)、檢查是否可作為1事件錯誤進(jìn)行定正，可以訂正的話、就根據(jù)檢測需要的循環(huán)置換的次數(shù)及其錯誤事件輸出第1糾錯信號，輸入上述數(shù)個第3線性反饋移位寄存器進(jìn)行循環(huán)置換后的剩余數(shù)據(jù)并檢測是否為訂正對象的錯誤事件，檢測出了訂正對象的錯誤事件時，根據(jù)檢測出所需要的循環(huán)置換的次數(shù)及臨時訂正了的錯誤事件輸出第2糾錯信號；輸入上述接收數(shù)據(jù)并在由上述錯誤檢測電路接收到上述第1及第2糾錯信號時訂正該接收數(shù)據(jù)的糾錯電路。
6.如權(quán)利要求5所述的糾錯電路，其特征在于使用在上述接收數(shù)據(jù)的解調(diào)過程中獲得的可靠性信息指定由上述第2線性反饋移位寄存器及上述多級寄存器進(jìn)行臨時訂正的范圍。
7.一種信息記錄再生裝置，其特征在于，具備記錄媒體；在該記錄媒體上記錄·再生數(shù)據(jù)的磁頭；對供給該磁頭的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制、對從該磁頭輸出的再生信號進(jìn)行解調(diào)的讀·寫通道；將記錄到上述記錄媒體的數(shù)據(jù)附加了循環(huán)碼的記錄數(shù)據(jù)輸出到上述讀·寫通道，并對在該讀·寫通道解調(diào)的再生數(shù)據(jù)的1事件錯誤進(jìn)行訂正的1事件錯誤的糾錯電路；輸入該1事件錯誤糾錯電路的輸出并對用該1事件錯誤糾錯電路不能訂正的2事件錯誤進(jìn)行訂正的2事件錯誤的糾錯電路；輸入該2事件錯誤糾錯電路的輸出并作為再生數(shù)據(jù)傳送至上位裝置的控制電路；以及控制上述各部位的處理器。
8.一種信息記錄再生裝置，其特征在于，具備記錄媒體；在該記錄媒體上記錄·再生數(shù)據(jù)的磁頭；對供給該磁頭的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制、對從該磁頭輸出的再生信號進(jìn)行解調(diào)的讀·寫通道；將記錄到上述記錄媒體的數(shù)據(jù)附加了循環(huán)碼的記錄數(shù)據(jù)輸出到上述讀·寫通道，接收在該讀·寫通道解調(diào)后的再生數(shù)據(jù)并除以生成多項式，將其剩余的數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)置換的第1線性反饋移位寄存器；輸入將上述再生數(shù)據(jù)中包含假想發(fā)生了的錯誤事件的數(shù)據(jù)除以生成多項式后剩余的數(shù)據(jù)進(jìn)行了循環(huán)置換的數(shù)據(jù)而進(jìn)行循環(huán)置換的第2線性反饋移位寄存器；輸入該第2線性反饋移位寄存器的輸出數(shù)據(jù)并依次移動的多級寄存器；把從上述第1線性反饋移位寄存器輸出的剩余數(shù)據(jù)和上述多級寄存器的輸出分別進(jìn)行或運(yùn)算并對上述接收數(shù)據(jù)進(jìn)行假想的臨時訂正的多個或運(yùn)算電路；分別輸入該多個或運(yùn)算電路的輸出并進(jìn)行循環(huán)置換的多個第3線性反饋移位寄存器；錯誤檢測電路，其用于輸入上述第1線性反饋移位寄存器進(jìn)行循環(huán)置換后的剩余數(shù)據(jù)、檢查是否可作為1事件錯誤進(jìn)行訂正，若可以訂正的話、就根據(jù)檢測出所需要的循環(huán)置換的次數(shù)及其錯誤事件輸出第1糾錯信號，輸入上述數(shù)個第3線性反饋移位寄存器進(jìn)行循環(huán)置換后的剩余數(shù)據(jù)并檢測是否為訂正對象的錯誤事件，若檢測出了訂正對象的錯誤事件時，根據(jù)檢測出所需要的循環(huán)置換的次數(shù)及臨時訂正了的錯誤事件輸出第2糾錯信號；輸入上述再生數(shù)據(jù)并在由上述錯誤檢測電路接收到上述第1及第2糾錯信號時訂正該接收數(shù)據(jù)的糾錯電路；輸入該糾錯歸路的輸出、作為再生數(shù)據(jù)傳送到上位裝置的控制電路；以及控制上述各部位的處理器。
9.如權(quán)利要求8所述的信息記錄再生裝置，其特征在于使用在上述再生數(shù)據(jù)的解調(diào)過程中獲得的可靠性信息指定由上述第2線性反饋移位寄存器與上述多級寄存器進(jìn)行臨時訂正的范圍。
全文摘要
本發(fā)明涉及使用了循環(huán)碼的糾錯技術(shù)，特別是訂正再生數(shù)據(jù)中發(fā)生了2事件錯誤的糾錯方法及電路，還有搭載了糾錯電路的信息記錄再生裝置。在容許消失標(biāo)志不正確的同時，與現(xiàn)有技術(shù)相比能以更少的電路實(shí)現(xiàn)對2事件錯誤進(jìn)行CRCC訂正處理。將2事件錯誤作為發(fā)生頻率高的訂正對象，通過循環(huán)置換依次算出被限定的錯誤事件在再生數(shù)據(jù)的任意比特位置發(fā)生時的CRC數(shù)據(jù)，將其對再生數(shù)據(jù)的CRC數(shù)據(jù)通過或運(yùn)算對第1處的1事件錯誤進(jìn)行假想的臨時訂正，然后，通過算出臨時訂正后的CRC數(shù)據(jù)檢測第2處的1事件錯誤，再對臨時訂正后的第1處的1事件錯誤和第2處的1事件錯誤進(jìn)行訂正。
文檔編號G11B20/18GK1519845SQ20031011574
公開日2004年8月11日 申請日期2003年11月28日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月30日
發(fā)明者土永浩之 申請人:株式會社日立制作所