專(zhuān)利名稱(chēng)：不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是一種不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，尤指應(yīng)用于一光學(xué)讀取裝置對(duì)一待讀取光盤(pán)片的處理過(guò)程。
背景技術(shù)：
一般市售的光盤(pán)片，除了其中記錄數(shù)據(jù)的一面須將數(shù)據(jù)以電鍍等方式記錄在此數(shù)據(jù)面上之外，另外一面通常為加以涂裝或圖記該光盤(pán)片的標(biāo)題或公司名稱(chēng)的設(shè)計(jì)，然而對(duì)于不同的光盤(pán)片制片廠牌就有不同的涂裝和制成方式，不同的生產(chǎn)方式對(duì)光盤(pán)片本身就產(chǎn)生不同程度的重量分布的影響，而在同一面光盤(pán)片上可能便因此產(chǎn)生分布不均的結(jié)果，甚至有些光盤(pán)片的造型設(shè)計(jì)本身就是不為對(duì)稱(chēng)的非圓形光盤(pán)片，因此光學(xué)讀取裝置在對(duì)該光盤(pán)片進(jìn)行讀取時(shí)就會(huì)造成程度不一的徑向方向上的晃動(dòng)，若晃動(dòng)到一定程度的話(huà)便會(huì)影響光學(xué)讀取裝置對(duì)該光盤(pán)片上數(shù)據(jù)判斷的正確性，對(duì)于此種緣故使得數(shù)據(jù)無(wú)法被光學(xué)讀取裝置作正確判讀的光盤(pán)片，我們稱(chēng)為不平衡盤(pán)片(unbalance disk)。
請(qǐng)參閱圖1(a)(b)，是為在現(xiàn)有光盤(pán)片制造技術(shù)下所產(chǎn)生的一不平衡盤(pán)片(unbalance disk)10在一光學(xué)讀取裝置內(nèi)部的現(xiàn)有運(yùn)作情形，由圖1(a)(b)所示可知在該不平衡盤(pán)片10上存在一涂裝不平均部分S，在圖1(a)中顯示為該光學(xué)讀取裝置中的一旋轉(zhuǎn)軸20和一光學(xué)讀取頭21仍在靜止?fàn)顟B(tài)，而在圖1(b)中則顯示該旋轉(zhuǎn)軸20已開(kāi)始轉(zhuǎn)動(dòng)但該光學(xué)讀取頭21仍保持靜止，此是因?yàn)樵摴鈱W(xué)讀取裝置在進(jìn)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)，由于在該不平衡盤(pán)片10上重量分布不均勻的關(guān)系，造成該涂裝不平均部分S在一徑向方向r上有一向心力的作用而使得該不平衡盤(pán)片10整體產(chǎn)生晃動(dòng)，另外由圖1(a)(b)可知在該光學(xué)讀取頭21保持靜止的情況下，該不平衡盤(pán)片10上的一軌道11在該旋轉(zhuǎn)軸20轉(zhuǎn)動(dòng)開(kāi)始之后亦有偏離其被讀取的軌道的現(xiàn)象。
所以現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)便是以光學(xué)讀取裝置進(jìn)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)，使光學(xué)讀取頭在靜止?fàn)顩r下(即光學(xué)讀取頭并不伴隨不平衡盤(pán)片所產(chǎn)生的晃動(dòng)而晃動(dòng)，對(duì)光盤(pán)片以一高轉(zhuǎn)速檢測(cè)其循軌誤差信號(hào)(tracking error，簡(jiǎn)稱(chēng)TE)的跨軌數(shù)大于一門(mén)坎值時(shí)，判斷為不平衡盤(pán)片(unbalance disk)。而目前光學(xué)讀取裝置的測(cè)試方式是設(shè)定一組因涂裝而造成光盤(pán)片的徑向方向上輕重不一的測(cè)試用光盤(pán)片，分別為3g、5g和6g，此數(shù)字愈大即代表將造成讀取時(shí)的晃動(dòng)程度會(huì)愈大。
請(qǐng)參閱圖2，是以現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)在高轉(zhuǎn)速下并且光學(xué)讀取頭為靜止時(shí)，用不同的測(cè)試用光盤(pán)片3g、5g和6g以不同的置放方式來(lái)檢測(cè)其TE的跨軌數(shù)，由圖所示可知，縱軸表TE的跨軌數(shù)，數(shù)字愈大代表TE的跨軌數(shù)亦愈多且相對(duì)的測(cè)試用光盤(pán)片晃動(dòng)的程度也愈大，橫軸的部分則代表對(duì)測(cè)試用光盤(pán)片3g、5g和6g的分類(lèi)，由圖所示可知測(cè)試用光盤(pán)片在現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)中的置放方式有三種，分別為平放、朝左側(cè)放(LSB)和朝右側(cè)放(RSB)，而圖中每一種測(cè)試用光盤(pán)片的置放方式所得到TE的跨軌數(shù)其結(jié)果是以一直線(xiàn)區(qū)段來(lái)表現(xiàn)。在此圖中存在一橫線(xiàn)R，是標(biāo)示出了在該光學(xué)讀取裝置以高轉(zhuǎn)速檢測(cè)之下，得到TE的跨軌數(shù)約為225的數(shù)值，因此如前所述的現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)中，得到TE的跨軌數(shù)大于一門(mén)坎值時(shí)，判斷為不平衡盤(pán)片，我們便定義該門(mén)坎值約為該橫線(xiàn)R所標(biāo)示出的數(shù)值225，便是判斷為正常片的最大極限，換句話(huà)說(shuō)在該橫線(xiàn)R以上皆判斷為不平衡盤(pán)片，而在該橫線(xiàn)R以下皆判斷為正常片。然而以此方式所作的判片機(jī)制是將測(cè)試用光盤(pán)片3g以朝左側(cè)放(LSB)方式作TE的跨軌數(shù)檢測(cè)所定下的一預(yù)設(shè)基準(zhǔn)，并把此基準(zhǔn)以下的其它結(jié)果皆判斷為正常片，所以，如此的設(shè)計(jì)可能會(huì)造成部分不平衡盤(pán)片被當(dāng)成是正常片而以高轉(zhuǎn)速的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，造成后續(xù)讀取動(dòng)作的困擾。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明發(fā)明的主要目的便是為了降低不平衡盤(pán)片(unbalance disk)發(fā)生檢測(cè)錯(cuò)誤的機(jī)率，以確保光學(xué)讀取裝置的保護(hù)機(jī)制能正確運(yùn)作，并提高光學(xué)讀取裝置的判片成功率，在使用上使3g的光盤(pán)片能夠必定被讀取到且能以高轉(zhuǎn)速的方式來(lái)讀取。
本發(fā)明是為一種不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，應(yīng)用于一光學(xué)讀取裝置對(duì)一待讀取光盤(pán)片的處理過(guò)程，該不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法包含下列步驟對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第一檢測(cè)過(guò)程，該第一檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；當(dāng)該第一檢測(cè)過(guò)程中未能判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片時(shí)，對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第二檢測(cè)過(guò)程，該第二檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；以及在該第一檢測(cè)過(guò)程與該第二檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一正常片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第一讀取模式進(jìn)行讀取，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一不平衡盤(pán)片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第二讀取模式進(jìn)行讀取。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速是大于該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第一檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一第一門(mén)坎值以及一第二門(mén)坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第二門(mén)坎值是小于該第一門(mén)坎值。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)是指對(duì)該待讀取光盤(pán)片上的一軌道作檢測(cè)時(shí)，偏離該軌道而跨越過(guò)的一軌道數(shù)量，當(dāng)該軌道數(shù)量大于該第一門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該軌道數(shù)量小于該第二門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第二檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一第三門(mén)坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第三門(mén)坎值是小于該第二門(mén)坎值。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)是指對(duì)該待讀取光盤(pán)片上的一軌道作檢測(cè)時(shí)，偏離該軌道而跨越過(guò)的一軌道數(shù)量，當(dāng)該軌道數(shù)量大于該第三門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該軌道數(shù)量小于該第三門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。
根據(jù)上述構(gòu)想，本發(fā)明所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其中該第二檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一門(mén)坎值作比較，當(dāng)該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)大于該門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)小于該門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。


本發(fā)明得通過(guò)由下列圖式及詳細(xì)說(shuō)明，以便得一更深入的了解圖1(a)(b)，是為一不平衡盤(pán)片在一光學(xué)讀取裝置的現(xiàn)有運(yùn)作情形示意圖；圖2，是以現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)在高轉(zhuǎn)速下用不同的測(cè)試用光盤(pán)片以不同的置放方式來(lái)檢測(cè)其TE的跨軌數(shù)；圖3，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，在高轉(zhuǎn)速下用不同的測(cè)試用光盤(pán)片以不同的置放方式來(lái)檢測(cè)其TE的跨軌數(shù)；圖4，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，在低轉(zhuǎn)速下用不同的測(cè)試用光盤(pán)片以不同的置放方式來(lái)檢測(cè)其TE的跨軌數(shù)；圖5，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，其不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法的流程圖。
本發(fā)明圖式中所包含的各組件列示如下不平衡盤(pán)片10 軌道11旋轉(zhuǎn)軸20 光學(xué)讀取頭21涂裝不平均部分S徑向方向r橫線(xiàn)R 第一基線(xiàn)L1第二基線(xiàn)L2 第三基線(xiàn)L具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖3，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，光學(xué)讀取裝置以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速(此實(shí)施例中約為每分鐘3000轉(zhuǎn))并且采開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)下即光學(xué)讀取頭為靜止時(shí)，用不同的測(cè)試用光盤(pán)片3g、5g和6g以三種不同的置放方式分別為平放、朝左側(cè)放(LSB)和朝右側(cè)放(RSB)，進(jìn)行一第一檢測(cè)過(guò)程，即檢測(cè)該測(cè)試用光盤(pán)片的循軌誤差信號(hào)(tracking error，簡(jiǎn)稱(chēng)TE)的跨軌數(shù)。由圖所示可知縱軸表TE的跨軌數(shù)，數(shù)字愈大代表TE的跨軌數(shù)亦愈多且相對(duì)的測(cè)試用光盤(pán)片晃動(dòng)的程度也愈大，橫軸則代表對(duì)測(cè)試用光盤(pán)片3g、5g和6g的分類(lèi)，而各測(cè)試用光盤(pán)片所得到TE的跨軌數(shù)其結(jié)果是以一直線(xiàn)區(qū)段來(lái)表現(xiàn)。
由圖3所示可知，是為一第一檢測(cè)過(guò)程的檢測(cè)結(jié)果的示意圖，在圖中存在一第一基線(xiàn)L1和一第二基線(xiàn)L2，分別對(duì)應(yīng)于縱軸上的TE的跨軌數(shù)而各得到一第一門(mén)坎值和一第二門(mén)坎值，標(biāo)示出了在光學(xué)讀取裝置以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)之下設(shè)定該第一門(mén)坎值約為225的數(shù)值，而該第二門(mén)坎值約為175的數(shù)值，因此，首先我們除了利用先前所述的現(xiàn)有的檢測(cè)技術(shù)中，將檢測(cè)結(jié)果(即TE的跨軌數(shù))大于該第一門(mén)坎值的部分，判斷為不平衡盤(pán)片，進(jìn)而在本發(fā)明較佳實(shí)施例中，我們將檢測(cè)結(jié)果小于該第二門(mén)坎值的部分，判斷為正常片。因此由圖所示可知，測(cè)試用光盤(pán)片中的5g的朝左側(cè)放(LSB)、5g的朝右側(cè)放(RSB)、6g的朝左側(cè)放(LSB)和6g的朝右側(cè)放(RSB)便因此判斷為不平衡盤(pán)片，而平放6g的測(cè)試用光盤(pán)片在檢測(cè)過(guò)程中其結(jié)果若部分是落于該第一基線(xiàn)L1以上時(shí)，我們也判斷是不平衡盤(pán)片，另一方面，圖中的平放3g的測(cè)試用光盤(pán)片因?yàn)槭窃谠摰诙€(xiàn)L2以下，故判斷為正常片，而3g的朝右側(cè)放(RSB)的檢測(cè)結(jié)果若部分是落于該第二基線(xiàn)L2以下時(shí)，亦判斷是正常片。然而在該第一檢測(cè)過(guò)程中若當(dāng)檢測(cè)結(jié)果是在該第一門(mén)坎值與該第二門(mén)坎值之間時(shí)，即所得到T E的跨軌數(shù)小于等于225并且大于等于175的時(shí)，我們便以低于該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速的一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速并且采開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)下即光學(xué)讀取頭為靜止時(shí)，進(jìn)行一第二檢測(cè)過(guò)程，所以由圖3所示可知，需要再作判斷的有3g的朝左側(cè)放(LSB)、3g的朝右側(cè)放(RSB)、平放5g以及平放6g。
請(qǐng)參閱圖4，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，光學(xué)讀取裝置以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速(此實(shí)施例中約為每分鐘2000轉(zhuǎn))并且采開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)下，即光學(xué)讀取頭為靜止時(shí)，用不同的測(cè)試用光盤(pán)片，以不同的置放方式，進(jìn)行一第二檢測(cè)過(guò)程來(lái)檢測(cè)該測(cè)試用光盤(pán)片的TE的跨軌數(shù)。由于一般現(xiàn)有的光學(xué)讀取裝置在高轉(zhuǎn)速時(shí)側(cè)放會(huì)比平放測(cè)得的TE的跨軌數(shù)大，而在低轉(zhuǎn)速時(shí)側(cè)放會(huì)比平放測(cè)得的TE的跨軌數(shù)小，因此，我們便可通過(guò)此一現(xiàn)象來(lái)作為是否為不平衡盤(pán)片的進(jìn)一步判斷方式。
由圖4所示可知，是為該第二檢測(cè)過(guò)程的檢測(cè)結(jié)果的示意圖，在圖中存在一第三基線(xiàn)L3，對(duì)應(yīng)于縱軸上的TE的跨軌數(shù)而得到一第三門(mén)坎值，標(biāo)示出了在光學(xué)讀取裝置以低轉(zhuǎn)速檢測(cè)的下設(shè)定該第三門(mén)坎值約為72的數(shù)值，因此我們將該第三門(mén)坎值的大小，作為判斷是否為正常片的基準(zhǔn)，換句話(huà)說(shuō)在該第三基線(xiàn)L3以上者皆判斷為不平衡盤(pán)片，而TE的跨軌數(shù)小于等于該第三門(mén)坎值者皆判斷為正常片。此判斷方式的目的是在于，若一般的不平衡盤(pán)片其晃動(dòng)的程度若只有達(dá)到如本發(fā)明較佳實(shí)施例中的測(cè)試用光盤(pán)片3g的程度的話(huà)，在我們所設(shè)定的基準(zhǔn)與判斷的機(jī)制上就要能夠使之被判斷成為正常片而作進(jìn)一步讀取的動(dòng)作，因而定義出該第三基線(xiàn)L3的位置。由圖所示可知，被圈出的部分便是在該第一檢測(cè)過(guò)程中，TE的跨軌數(shù)是在該第一門(mén)坎值與該第二門(mén)坎值的間未能判斷是否為不平衡盤(pán)片或正常片的檢測(cè)結(jié)果，因此在該第二檢測(cè)過(guò)程中就可以被決定，由圖所示可知，平放6g和大部分的平放5g以及部分6g的朝左側(cè)放(LSB)的測(cè)試用光盤(pán)片，便被判斷為不平衡盤(pán)片，而若平放5g的檢測(cè)結(jié)果在該第三基線(xiàn)L3以下時(shí)則判斷為正常片，但6g的朝左側(cè)放(LSB)在該第一檢測(cè)過(guò)程中就已被確認(rèn)為不平衡盤(pán)片了，所以在該第二檢測(cè)過(guò)程中就不會(huì)再被判斷為正常片，而3g的朝左側(cè)放(LSB)與3g的朝右側(cè)放(RSB)則因此判斷為正常片，是故經(jīng)由該第二檢測(cè)過(guò)程的判斷方式與檢測(cè)結(jié)果，符合了我們對(duì)于晃動(dòng)程度若只有達(dá)到測(cè)試用光盤(pán)片3g的程度時(shí)視為正常片的要求。
請(qǐng)參閱圖5，是為本發(fā)明較佳實(shí)施例中，其不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法的流程圖，當(dāng)該第一檢測(cè)過(guò)程和該第二檢測(cè)過(guò)程皆檢測(cè)完畢之后，結(jié)束開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)并將被判斷為正常片的部分以一第一讀取模式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，而被判斷為不平衡盤(pán)片的部分則以一第二讀取模式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，該第一讀取模式以及該第二讀取模式可各自于不同的讀取速度間切換，以最佳化伺服系統(tǒng)及讀取盤(pán)片的效率，且該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度，以便使讀取不平衡片時(shí)能以平均較低于讀取正常片時(shí)的讀取速度進(jìn)行讀取操作。如此，使得3g的光盤(pán)片能夠必定被讀取到且能以高轉(zhuǎn)速的方式來(lái)讀取，同時(shí)，部分重量分布不平均情況大于3g的光盤(pán)片若無(wú)法以高轉(zhuǎn)速來(lái)讀取的話(huà)，亦可用降低轉(zhuǎn)速的方式來(lái)進(jìn)行讀取，因而提高了光學(xué)讀取裝置的判片成功率和降低不平衡盤(pán)片發(fā)生檢測(cè)錯(cuò)誤的機(jī)率，故成功地達(dá)成了發(fā)展本發(fā)明的主要目的，但本發(fā)明得由熟習(xí)此技藝的人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所欲保護(hù)。
權(quán)利要求
1.一種不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，應(yīng)用于一光學(xué)讀取裝置對(duì)一待讀取光盤(pán)片的處理過(guò)程，其特征在于，該不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法包含下列步驟對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第一檢測(cè)過(guò)程，該第一檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；當(dāng)該第一檢測(cè)過(guò)程中未能判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片時(shí)，對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第二檢測(cè)過(guò)程，該第二檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；以及在該第一檢測(cè)過(guò)程與該第二檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一正常片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第一讀取模式進(jìn)行讀取，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一不平衡盤(pán)片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第二讀取模式進(jìn)行讀取。
2.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速是大于該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速。
3.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第二讀取模式的最高讀取速度是小于該第一讀取模式的最高讀取速度。
4.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第一檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一第一門(mén)坎值以及一第二門(mén)坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片。
5.如權(quán)利要求4所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第二門(mén)坎值是小于該第一門(mén)坎值。
6.如申權(quán)利要求4所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)是指對(duì)該待讀取光盤(pán)片上的一軌道作檢測(cè)時(shí)，偏離該軌道而跨越過(guò)的一軌道數(shù)量，當(dāng)該軌道數(shù)量大于該第一門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該軌道數(shù)量小于該第二門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。
7.如權(quán)利要求4所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第二檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一第三門(mén)坎值作比較，用以判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片。
8.如權(quán)利要求7所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第三門(mén)坎值是小于該第二門(mén)坎值。
9.如權(quán)利要求7所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)是指對(duì)該待讀取光盤(pán)片上的一軌道作檢測(cè)時(shí)，偏離該軌道而跨越過(guò)的一軌道數(shù)量，當(dāng)該軌道數(shù)量大于該第三門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該軌道數(shù)量小于該第三門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。
10.如權(quán)利要求1所述的不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，其特征在于所述該第二檢測(cè)過(guò)程包含下列步驟執(zhí)行一開(kāi)回路控制的檢測(cè)狀態(tài)；以及以該第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速檢測(cè)該待讀取光盤(pán)片的一循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)，并和一門(mén)坎值作比較，當(dāng)該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)大于該門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一不平衡盤(pán)片，當(dāng)該循軌誤差信號(hào)的跨軌數(shù)小于該門(mén)坎值時(shí)便判斷該待讀取光盤(pán)片為一正常片。
全文摘要
本發(fā)明是一種不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法，應(yīng)用于一光學(xué)讀取裝置對(duì)一待讀取光盤(pán)片的處理過(guò)程，該不平衡盤(pán)片檢測(cè)方法包含下列步驟對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第一檢測(cè)過(guò)程，該第一檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；當(dāng)該第一檢測(cè)過(guò)程中未能判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片時(shí)，對(duì)該待讀取光盤(pán)片以一第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速進(jìn)行一第二檢測(cè)過(guò)程，該第二檢測(cè)過(guò)程包含判斷該待讀取光盤(pán)片是否為一不平衡盤(pán)片；以及在該第一檢測(cè)過(guò)程與該第二檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一正常片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第一讀取模式進(jìn)行讀取，當(dāng)該待讀取光盤(pán)片被判斷為一不平衡盤(pán)片時(shí)，結(jié)束檢測(cè)并以一第二讀取模式進(jìn)行讀取。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1728244SQ20041005898
公開(kāi)日2006年2月1日 申請(qǐng)日期2004年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月28日
發(fā)明者謝仁貴, 潘怡全 申請(qǐng)人:建興電子科技股份有限公司